KR20080009119A - 전기화학적 스트립에서의 부분적인 채워짐의 판별 - Google Patents
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Abstract
전기화학적 테스트 스트립의 부분적인 채워짐은 샘플, 예를 들면 포도당에 대해 테스트 될 혈액 샘플을 포함하는 테스트 스트립 상의 축전 또는 방전 전하로부터 이중층 축적성분의 DC 판별을 형성함에 의하여 판별된다. 상기 측정된 이중층 축전성분은 참조값에 대하여 비교된다. 이중층 축전성분은 적분 또는 미분 축전성분으로써 판별될 수 있다. 이중층 축전성분은 또한 전극 형성, 특히 스크린 인쇄된 전극을 이용하는 스트립들에서 전극 형성의 품질을 모니터하기 위하여 품질 제어를 위하여 이용될 수 있다.
Description
본 출원은 전기화학적 테스트 스트립에서의 부분적임 채워짐을 판별하기위한 방법, 및 계측기, 및 그러한 방법에 있어서의 이용을 위한 계측기-테스트 스트립 조합에 관련된다.
소형의 사용하고 버릴 수 있는 전기화학적 테스트 스트립은 당뇨병 환자들에 의하여 혈당의 측정에 빈번하게 이용된다. 그러한 테스트 스트립은 관심 있는 다른 생리적 화학물질 및 남용 물질의 검출에 또한 이용될 수 있다. 일반적으로, 테스트 스트립은 적어도 두 개의 전극 및 수행될 테스트를 위한 적당한 시약을 포함하고, 한번 사용하는 일회용 요소로서 제작된다. 테스트 스트립은 재사용할 수 있는 계측기에 삽입하기 전 또는 후에 혈액, 침 또는 소변과 같은 샘플과 결합되고, 이는 검출 및 테스트 스트립으로부터 테스트 스트립에 의해 판별되는 분석 대상물의 존부 또는 양의 표시로 전기화학전 신호를 프로세스 하는데 이용되는 메커니즘을 포함한다.
전기화학적 테스트 스트립에서 작은 부피의 샘플을 이용하는 것이 일반적으로 바람직하다. 작은 부피의 테스트 스트립에서 대면되는 과제들 중 하나는 부분적 으로 채워짐의 상황의 발생이고, 이 경우 스트립에 도입되는 샘플의 부피는 불충분하고, 잘못된 판독을 야기한다. 부분적인 채워짐의 문제에 대한 다양한 해결책들이 제안되어 왔다.
많은 예들에서, 문제에 대한 이러한 해결책들은 부가적인 전극의 이용을 포함한다. 예를 들면, US4,929,426호는 분석 챔버(chamber)가 채워졌을 때 샘플이 흐르는 임피던스 전극의 이용을 개시하고, US5,582,697, US6,212,417, 및 US6,299,757은 모두 채워짐 검출을 위해 이용될 수 있는 제3 전극의 이용을 개시한다. US6,743,635는 제4 전극 구성을 개시하고, 이는 분리된 채워짐 검출 양극 및 음극을 포함한다. US5,997,817은 샘플이 보일 수 있는 윈도우를 갖는 테스트 스트립, 및 샘플의 충분함을 추정하기 위한 "여기까지 채움"선을 개시한다.
US특허 제6,856,125호는 샘플 부피를 판별하기위한 방법으로써 축전성분의 측정을 개시한다. 이 장치는 샘플, 전류-전압 변환기, 위상 쉬프터, 사각형파 생성기, 동기식 복조기, 및 바이오센서 셀에 걸친 실효 축전성분에 비례하는 신호를 생성하는 저역통과필터를 포함하는 바이오센서 셀에 AC 신호를 인가하기 위한 사인파(sine wave) 생성기를 포함한다. 이러한 신호는 샘플의 부피에 비례한다.
전기화학적 테스트 스트립이 일반적으로 사용하고 버릴 수 있고 복수의 스트립들이 하루이내에 당뇨병환자들에 의하여 이용될 수 있기 때문에, 각각의 아이템의 비용을 조절하는 것이 바람직하다. 그러므로 테스트 스트립 또는 계측기에서 구성요소 개수 및 그로인한 테스트 스트립 및 계측기의 제조비용의 현저한 추가 없이 샘플 부피의 충족을 확인하기 위한 시스템을 갖는 것이 바람직하다. 만일 그러한 시스템이 테스트 계측기 내에서 자동화되고, 사용자에 의해 생성된 관측 또는 판단에 의존하지 않는다면 더욱 바람직하다.
본 발명은 샘플의 첨가 이후에 테스트 스트립의 이중층 축정성분을 판별하기 위해 전극들 사이의 이중층 축전 또는 방전의 측정값을 이용하는 샘플 충분함을 판별하기 위한 개선된 방법을 제공한다. 이중층 축전성분은 샘플에 의하여 적셔진 전극들의 면적에 비례하고, 그러므로 샘플 챔버가 채워지는 정도의 직접 측정을 제공한다. 본 발명에 따르면, 부분적인 채워짐은 다음 단계들을 포함하는 방법에 의하여 전극들 및 전극들 사이에 배치된 액체 샘플을 구비하는 전기화학적 테스트 스트립에서 검출될 수 있고, 다음 단계는,
(a) 전기화학적 테스트 스트립에 샘플을 도입하는 단계;
(b) 상기 테스트 스트립의 전극들 사이에 전위차를 인가하는 단계;
(c) 상기 인가된 전위를 스위치 오프하고, 선택적으로 제2 전위를 다시 인가하는 단계;
(d) 생성된 전류를 관측하고, 전극들 사이의 이중층 축전 또는 방전을 상기 관측된 전류로부터 판별하는 단계;
(e) 상기 인가된 전위가 스위치 오프된 이후에 전압 변화를 관측하고, 상기 측정된 이중층 축전 또는 방전 및 상기 관측된 전압 변화로부터 테스트 스트립의 이중층 축전성분을 판별하는 단계; 및
(f) 참조값에 대해 상기 판별된 이중층 축전성분을 비교하는 단계를 포함하고, 여기서 참조값보다 작은 이중층 축전성분은, 액체 샘플이 상기 전극의 일부분을 덮고 상기 전기화학적 테스트 스트립이 오직 부분적으로 채워짐을 나타내는 표지이다.
본 발명의 일 실시예에서, 이중층 방전은 (1) 전극들 사이에 전위를 인가하는 단계; (2) 시간 tswitch에 상기 전극들 사이에 인가된 전위를 스위치 오프하는 단계; (3) 상기 전위가 문턱값으로 감소하는데 필요한 시간 tthreshold를 식별하기 위하여 상기 전극들 사이의 전위차에 있어서의 감소를 모니터하는 단계; 및 (4) tswitch 내지 tthreshold의 간격 동안에 방전된 이중층 전하의 양을 판별하는 단계에 의하여 측정된다.
본 발명의 다른 실시예에서, 이중층 축전은 (1) 전극들 사이의 제1 전위를 인가하는 단계; (2) 시간 tswitch에 상기 전극들 사이에 인가된 전위를 스위치 오프하는 단계; (3) 상기 전위가 문턱값으로 감소하는데 필요한 시간 tthreshold를 식별하기 위하여 상기 전극들 사이의 전위차에 있어서의 감소를 모니터하는 단계; (4) tthreshold에서 상기 전극들 사이에 제2 전위를 인가하는 단계로서, 이로부터 전류 스파이크가 생성되는 단계; (5) 상기 전류 스파이크 아래의 면적에 의하여 반영됨으로써 이중층 축전의 양을 판별하는 단계; 및 (6) 이중층 축전의 양 및 시간 tswitch에서 전류로부터 상기 이중층 축전성분을 판별하는 단계에 의하여 측정된다.
본 발명은 또한 전기화학적 테스트 스트립과 관련된 이용을 위한 계측기를 제공한다. 계측기는 전위를 전용하고, 전류는 모니터하고, 전위를 스위치 오프하고, 상기 전위의 스위치 오프를 뒤따르는 전위에 있어서의 감소를 모니터하기 위한 회로를 포함한다. 계측기는 상기 전위의 재인가를 뒤따르는 전류를 모니터하기 위한 회로를 더 포함할 수 있다. 계측기 내의 프로세서들은 이중층 축전성분을 판별하고, 만일 이중층 축전성분의 상기 값이 불충분하다면 측정 사이클을 중단하기 위해 수집된 정보를 이용한다. 부가적으로, 계측기는 샘플 내에 존재하는 분석대상물, 예를 들면 포도당의 양을 측정하기 위한 회로, 및 분석대상물의 양, 또는 사용자에게 불충분한 샘플 부피로 인한 테스트의 종료를 통신하기 위한 수단을 포함한다.
도 1은 종래의 전류측정 포도당 검출기에서 발생하는 전자 전달 반응을 도시한다.
도 2는 테스트 스트립이 마주보는 동작 및 반대 전극을 구비하는 포도당의 검출을 위한 전기화학적 테스트 스트립 내에서 전위의 인가 이후의 시간의 함수로써 전류의 이론적인 도시를 나타내고, 전극의 간격은 전극들 사이의 매개체의 재순환이 발생하도록 되어있다.
도 3은 인가된 전압 Vapp의 좌표 및 시간의 함수로써 전극들 사이의 전위차 Velect를 도시한다.
도 4는 전위가 문턱값이 도달된 이후에 전극으로 다시 인가되었을 때의 시간 의 함수로써 전류의 좌표를 도시한다.
도 5는 시간에 대한 전압의 좌표를 도시하고, 이는 전극 저항성분의 결과로써 발생하는 전압 강하를 나타낸다.
도 6은 계측기의 외부 모습을 도시한다.
도 7은 테스트 스트립의 연결 및 계측기 내의 연결부를 도시한다.
도 8은 전류측정 및 전위측정 모드 사이의 스위칭을 위한 회로도를 도시한다.
도 9는 전류측정 및 전위측정 모드 사이의 스위칭을 위한 회로도를 도시한다.
도 10은 미분 축전성분 및 전위 사이의 관계를 도시한다.
도 11은 채워진 스트립 및 부분적으로 채워진 스트립들에 대한 측정된 미분 축전성분을 도시한다.
도 12는 50mV에 대한 시간의 함수로써 미분 축전성분의 집합마다의 변화를 도시한다.
도 13a 및 b는 본 발명에 따른 이중층 축전성분을 판별하기위한 기술을 개략적으로 나타낸다.
Ⅰ. 정의
본 명세서 및 본 출원의 청구항들에서 이용되는 것으로써, 뒤따르는 정의들이 적용된다.
(a) "분석대상물"은 샘플 내에 존재할 수 있는 관심 있는 물질을 지칭한다. 본 출원에서, 예시들은 분석대상물로써 포도당을 이용하지만, 본 발명은 분석대상물의 종류 및 양 모두에 독립적이다. 따라서 포도당 검출 시스템에 대한 출원은 단지 특정적이고 제한하지 않는 실시예로써 개시되어야 한다.
(b) "분석대상물의 측정"은 정성적, 준-정량적 및 정량적인 샘플을 추정하기 위한 프로세스를 가리킨다. 정성적인 추정에서, 결과는 분석대상물이 샘플에서 검출되었는지 아닌지 여부를 나타낸다. 준-정량적인 추정에서, 결과는 분석 대상물이 어떠한 미리 지정된 문턱값을 넘어 존재하는지 아닌지 여부를 나타낸다. 정량적인 추정에서, 결과는 분석대상물 존재의 양의 수치적인 표시이다.
(c) "이중층"은 고체 표면 근처에서 형성하는 전도체 내의 미러 전하(mirror charge)를 중성화시키는 국지적인 층을 야기하는 전도체 표면상에서 이온 흡수의 결과로서 전도체/전해질 표면에 서 형성되는 대전된(charged) 층을 지칭한다. 이중층은 전위가 인가되든 인가되지 않던, 액체 샘플이 전극과의 접촉에 존재할 때 전기화학적 테스트 스트립 내의 각각의 전극에서 형성된다. 그러나 이중층 내의 전하의 양은 전극 전위의 함수이다. 이중층 구조는 축전기로써 필수적으로 기능한다.
(d) "이중층 축전성분"은 이중층의 축전성분이다. 적분 축전성분일 수 있고, 이러한 경우 이는 다음 수학식 1에 의하여 표현될 수 있고,
또는 미분 축전성분일 수 있고, 이 경우 이는 다음 수학식 2에 의하여 표현 될 수 있고,
여기서 I는 전류, t는 시간이고, V는 전압이다. 어떠한 예들에서, 측정된 이중층 축전성분은 하나의 전극에 의하여 기여될 수 있고, 예를 들면, 하나의 전극이 본질적으로 넓은 면적을 갖는 경우, 또는 한 전하의 이온 흡수가 샘플내의 나머지 전하의 이온보다 강한 경우이다. 포도당 스트립의 경우에는, 음의 이온들, 예를 들면 클로라이드 이온들이 그들의 수화(hydration) 껍질을 잃고 이중층에 편입되기 훨씬 쉽기 때문에 양의 전극이 빈번하게 우세하다. 비록 채움의 형상이 우세한 전극의 이중층 축전성분이 전기화학적 스트립의 채워진 상태를 나타내도록 한 전극이 우세한 경우 주의해야 한다 하더라도, 이러한 예들에서 측정된 이중층 축전성분은 본 발명의 범위 내에 있다.
(e) "이중층 전하축적"은 인가된 전위의 결과로써 이중층에 저장되는 전하를 증가시키는 과정이다. "전극에서의 이중층 전하축적" 상태는 두개 모두의 전극 또는 우세한 전극에서 방전하는 것을 지칭한다.
(f) "이중층 방전"은 인가된 전위를 스위치 오프하는 결과로써 이중층에 저장된 전하를 감소시키는 과정이다. "전극에서 이중층 방전" 상태는 두개 모두의 전극 또는 우세한 전극에서 방전시키는 것을 지칭한다.
(g) "전기화학적 테스트 스트립"은 적어도 두 개의 전극 및 상기 전극들 사이에 위치한 샘플 내의 분석대상물의 측정을 위한 어떠한 필요한 시약을 구비하는 스트립을 가리킨다. 바람직한 실시예에서, 전기화학적 테스트 스트립은 한번 사용한 후 버릴 수 있고, 전위를 인가하고, 신호를 분석하고, 결과를 디스플레이하기 위한 전기기기들을 포함하는 분리되고 재사용할 수 있는 계측기에 부착하기 위한 결합부를 구비한다.
(h) "마주보는 전극들"은 평행하지만 서로로부터 분리된 판에 배치된 전극의 쌍이다. 마주보는 적극들의 쌍의 대비되는 표면의 일부 또는 전부는 겹치지만, 그로인해 전극들 사이의 전위 기울기 및 전류 흐름이 본질적으로 대비되는 표면에 수직인 방향에 있다. 마주보는 전극들은 두 개의 전극 표면이 동일 평면에 놓여있고, 전위 기울기 및 전류 흐름이 전극의 표면에 본질적으로 평행한 나란한 전극들과 구별된다. 본 발명은 마주보는 또는 나란한 전극들 중 어디라도 뿐만 아니라, 다른 기하학적 배치에도 사용될 수 있다.
(i) 인가된 전위의 "스위치 오프"는 전극들 사이의 전위를 판별하기 위하여 두 개의 층 내의 강화된 화학적 농도 기울기 및 이온 흡수를 허용하도록 전류를 영(zero)이 되도록 강제하는(스위치를 열거나 회로에 높은 임피던스(impedance)를 도입함에 의하여) 개방 회로의 생성을 가리킨다. 이는 전압을 0 볼트로 설정하는 것과 같은 것은 아니다.
(j) "전극 저항성분"은 인가된 전압 및 전극에서 전기화학에 의하여 인지된 실제 전압 사이의 차이를 야기한다. 전극 저항성분은 전극 물질 및 전극과 연결된 연결부의 저항성분의 결과로써 발생하고, 이는 전극 및 유사한 인자들을 혼란시킨다.
(k) Vdrop은 인가된 전압 및 전극 저항성분의 결과로써 발생한 실제 전압 사이의 차이이다.
(l) "산소 운반 능력"은 산소를 보유하는 샘플의 능력을 지칭하고, 이는 용해된 형태 또는 적혈구 보존의 형태이다.
(m) "tmob"는 특정 테스트 셀에서 특정 샘플 내의 매개체의 이동도를 반영하는 분석 동안에 실험적으로 판별되는 시간이다. tmob는 인가된 전위가 스위치 오프된 이후의 시간이고, 이는 전극들 사이의 전위가 미리 지정된 값으로 감소하는데 걸리는 시간이다.
(n) "미리 지정된"은 특정 계측기 또는 테스트 스트립 또는 계측기/스트립 결합에 대하여 실험적으로 판별된 양 또는 값을 나타내도록 본 출원에서 이용된다. 미리 지정된 양 또는 값은 요구되는 신뢰 레벨을 고려하여 사용자의 요구에 대한 최적화를 반영하고, 최적의 가능한 결과 또는 100% 정확성을 획득할 필요는 없다.
Ⅱ. 분석대상물, 예를 들면 포도당의 판별
포도당과 같은 분석대상물의 전기화학적 검출은 일반적으로 포도당의 존재/양, 글루코오스 산화효소(glucose oxidase)와 같은 포도당을 산화시키는 효소, 및 산화환원 매개체에 대해 추정하기 위한 샘플을 포함하는 전기화학적 셀에 전위를 인가함에 의하여 얻어진다. 도 1에 도시된 바와 같이, 효소는 글루코노락톤(gluconolactone) 및 환원된 형태의 효소를 형성하기 위하여 포도당을 산화시킨다. 산화된 매개체는 활성 산화효소를 재생성하기 위하여 환원된 효소와 반응하고 환원된 매개체를 생성한다. 환원된 매개체는 전극들 중 하나에서 산화되고, 전기화학적 조화가 측정 가능한 전류를 야기하기위하여 나머지 전극에서 환원 반응에 의하여 유지된다. 측정된 전류는 샘플 내의 포도당의 양에 관련되고, 다양한 기술들이 그러한 시스템에서 포도당 농도를 판별하기 위하여 알려졌다.(예를 들면, 미국특허 제6,284,125호; 제5,942,102호, 제5,352,2,351호, 및 5,243,516호 참조, 이는 여기에서 참조로서 편입된다)
도 2는 전류의 이론적인 좌표를 도시하고, 이는 테스트 스트립이 마주보는 동작 및 반대 전극을 구비하는 포도당의 판별을 위한 전기화학적 테스트 스트립 내의 전위의 인가 이후의 시간의 함수이고, 전극들 사이의 간격은 서로 근접하고, 이는 전극들 사이의 매개체/전하 운반자의 재순환이 발생하도록, 즉, 남아있는 분석대상물의 존재에 독립적인 전극들의 매개체의 산화 및 환원으로부터 야기되는 운반 전류가 측정되도록 한다. 전류 경로는 뒤따르는 전위의 인가에 도시된 시간 스케일 상에서 즉각적인 초기 전류 21을 도시한다. 이러한 전류는 이중층의 초기 축전 및 외부의 산화환원 활성 종의 소모와 관련 있다. 그 이후에, 전류는 감소하고, 이는 전류가 매개체 용해 및 시료가 제조 시점에 배치되어 있는 동작 전극으로부터 반대 전극으로의 확산에 의존하기 때문이다. 이러한 저 전류 구간(화살표 20에 의해 표시됨)은 매개체가 용해되는 속도, 전극들 사이의 거리 및 매개체가 반대 전극에 도달하기 위하여 경유해야만 하는 실효 거리, 및 매개체의 이동도에 의존한다. 매개체 이동도는 매개체 자신의 특성, 즉, 확산 상수이지만, 또한 헤마토크릿 및 점성과 같은 다른 샘플 특성에 의존한다. 감소된 전류의 구간 20 이후에, 전류는 빠르 게 정점 전류 22로 상승하고, 그 다음에 점차적으로 안정 전류 23으로 감소한다. 포도당 측정의 다른 구성은 이러한 전류 프로필을 따라 다른 시점에서 측정을 수립한다. 예를 들면, 미국특허 제5,942,102호는 안정 영역에서 전류를 측정한다. 점 22 및 23 사이의 영역에서의 Cottrell 분석은 또한 미국특허 제5,243,516호, 제5,352,351호, 및 제6,284,125호에 묘사된 바와 같이 이용될 수 있다. 본 발명에서, 어떠한 시점이라도 전류측정법을 이용하여 포도당 또는 다른 분석대상물의 농도를 판별하는 목적으로 이용될 수 있다.
축전 전하의 측정이 전압의 두 번째 인가과 함께 이루어지는 아래 설명된 실시예에서, 포도당 또는 다른 분석대상물의 측정은 초기 전압 인가 동안에 이루어질 수 있거나, 전압의 두 번째 인가 이후에 측정된 신호에 기초할 수 있다.
샘플 내의 포도당 또는 다른 분석대상물의 판별은 또한 다른 전기화학적 기술을 이용하여 이루어질 수 있다. 이러한 것들은 예를 들면 여기에서 참조로서 편입되는 미국특허 제6,251,260호에 묘사된 바와 같은 전위측정법, 또는 예를 들면 여기에서 참조로서 편입되는 미국특허 제6,299,757호에 묘사된 바와 같은 전하측정법을 포함한다.
Ⅲ. 이중층 축전성분의 측정
본 발명은 전기화학적 테스트 스트립에 도입된 샘플 부피의 충분함을 추정하기 위하여 이중층 축전성분의 판별을 이용한다. 이중층 축전 성분의 판별은 이중층의 축전 또는 방전 중 하나 동안 획득될 수 있는 시간의 함수로써 전류 및 전압 변화의 이해를 필요로 한다. 게다가, 전압 변화는 적분 축전성분이 획득되는 경우인 전압의 큰, 단일 단계 변화로써 보일 수 있고, 또는 미분 축전성분이 획득되는 경우인 시간의 함수로써 전압의 순간적인 변화로써 보일 수 있다. 그러므로 이중층 축전성분은 도 13a 및 b에 요약된 세 가지 구성들 중 무엇이든 이용하여 판별될 수 있다. 도 13a는 방전 전하로부터 축전성분의 판별을 개괄하고, 도 13b는 축전 전하로부터 축전성분의 판별을 개괄한다.
A. 방전 전하/적분 축전성분
도 3은 시간의 함수로써 인가된 전압의 좌표 Vapp, 및 전극들 사이의 전위차 Velect를 도시한다. 초기에는, 인가된 일정한 전압 및 전극들에서 일정한 전압이 있고, 첫 번째 근사의 범위 내에서 이러한 두 개의 전압은 동일하다. 시간 tswitch에, 인가된 전압은 스위치 오프된다. 이러한 지점에서, Velect는 감소하기 시작한다. 이러한 감소는 미리 선택된 문턱 전압에 도달할 때 까지 모니터되고, 시간 tthreshold가 기록된다. 적분 축전성분은 다음 수학식 1에 의하여 주어진다.
[수학식 1]
본 발명의 일 실시예에서, 이러한 공식의 I는 tswitch 직전의 전류이고, 이는 측정된 전류가 전압 스위치 오프 직전 순간의 전류를 나타내는 tswitch에 충분히 근접하여 전압이 스위치 오프 된 이전의 시간이다. 특히 tswitch가 전류가 같은 값으로 오 직 천천히 변화하는 안정 영역으로 귀결된다면, 측정 및 tswitch 사이의 실제 시간차는 10 내지 500 밀리 세컨드의 차수 상에 있을 수 있다.
는 간단한 모델에서 Vapp 및 문턱 전압 Vthreshold 사이의 차이와 같다고 가정될 수 있는 초기 Velect 사이의 전압 강하이다. 는 tthreshold 및 tswitch 사이의 차이이다. 이러한 방법에서 판별된 축전성분은 이중층이 생성될 수 있는 것과 같은 액체 샘플에 의하여 젖은 전극들 또는 우세한 전극의 표면 면적에 관련 있다.
tswitch 직전의 전류에 기반을 둔 I에 대한 단일 값을 이용하는 것은 근사이지만, 이는 I의 변화가 작기 때문에 tswitch가 안정 영역에 도달된 이후에 발생하였을 때 본질적으로 유효하다. 그러나 더 나은 정확도가 바람직한 경우, 또는 만일 tswitch가 I가 tswitch로부터 tthreshold로의 시간 간격에 걸쳐 명확할 때의 시간이라면, 그때는 I를 판별하는 것에 대한 더욱 엄격한 접근이 바람직하다. 비록 어떠한 전류도 tswitch로부터 tthreshold로의 간격 동안에 실질적으로 흐르지 않는다 하더라도, 인가된 전압이 유지된다면 I가 tthreshold에서 갖는 값인 Ithreshold가 선형 모델, Cottrell 관계식과 같은 감소 모델로의 맞춤, 또는 tswitch 이전의 관찰된 행동으로부터 어떠한 다른 외삽법을 이용하여 추정될 수 있다. Iswitch 및 Ithreshold 사이의 중간 또는 감소 모델의 수학적 적분인 I의 값은 그 다음으로 Cint의 판별에서 적절하게 이용될 수 있다.
Vthreshold의 값은 Vapp의 값 및 감소 동안의 기대 시간 경로를 기반으로 판별된다. 만일 Vthreshold가 Vapp의 큰 부분을 나타낸다면, 측정된 차이는 작고, 에러는 크다. 나아가, 아래 논의되는 바와 같이, 탄소 전극과 같은 저항성분의 전극의 경우, 전극 저항성분과 관련 있는 초기 전압 강하 Vdrop이 있고, Vthreshold가 Vapp-Vdrop 보다 반드시 낮다. 반면에, 만일 Vthreshold가 너무 낮다면, 측정을 수행하기위한 시간이 길어지고, 이는 일반적으로 사용자의 예상으로부터 덜 채택가능하다. 이러한 두 가지 고려를 조화시키기 위하여, 탄소 전극의 경우에, Vthreshold는 적절하게 적어도 Vapp보다 30mV 낮고 60mV보다 낮지 않으며, 바람직하게는 120mV보다 낮지 않고, 더욱 바람직하게는 적어도 150mV이다. 하나의 특정 실시예에서, 포도당의 측정을 위하여 탄소 전극을 이용할 때, Vapp는 300mV이고 Vthreshold는 150 내지 240mV 사이의 전압 값으로써 선택된다.
B. 방전 전하/미분 축전성분
적분 축전성분의 판별에 대한 대안으로서, 미분 축전성분이 방전 사이클로부터 판별될 수 있다. 적분 축전성분의 판별의 경우에서와 같이, 인가된 전위는 시간 tswitch에서 스위치 오프된다. 그 이후의 측정 시간에서, 전압 감소의 기울기의 순간적인 측정이 판별된다. 측정이 이루어진 시간은 주어진 스트립 디자인의 기준 성능에 기반을 둔 tswitch 이후의 미리 정해진 간격, 예를 들면 tswitch 이후의 1 및 500msec 사이에 있을 수 있고, 또는 이는 상술된 바와 같은 Vthreshold에서 시간 측정을 수행하는 것에 대비할 만한 방법으로 이것이 이용되는 스트립의 성능에 기초하여 판별될 수 있다. 감소의 기울기의 이러한 관찰은 dV/dt 값을 제공한다. 이는 다음 수학식 2에 따라 Cdif에 대한 값을 생성하기 위하여 전류 측정과 결합된다.
[수학식 2]
이러한 식에서 I에 대한 값은 상술된 바와 같이 tswitch 직전의 전류의 값일 수 있고, 또는 상술된 어떠한 모델을 이용하여 측정 시간에서 전류에 대한 투영된 값일 수 있다.
Cint에 비교되는 Cdif의 판별에 대한 한 장점은 이중층 축전성분이 그 축전성분이 측정되는 전압에 의존하기 때문에 발생한다. Cdif를 이용하여, 순간적인 측정이 매 시간마다 동일한 전압에서 이루어질 수 있고, 그러므로 이러한 다양성의 원천을 무시할 수 있다.
C. 축전 전하/적분 축전성분
도 4는 전위가 tthreshold가 도달된 이후에 전극들에 다시 인가될 때 시간의 함수로써 전류의 좌표를 도시한다. 전위의 재인가를 뒤따라, 인가된 전위가 턴 오프되기 이전부터 투영된 전류와 반드시 동일한 전류 값으로 감소에 앞선 두 번째 전류 스파이크 41이 있다. 전류 곡선 아래의 빗금 친 영역 42는 신호의 적분, 또는 그것의 표시된 부분, 또는 삼각 근사를 이용하여 판별될 수 있고, 이중층의 축전을 나타낸다. 이론적으로, A에서 상술된 측정된 방전 전하 및 이러한 축전 영역은 동일해야 한다. 실제로는, 실험적인 차이가 측정되지만, 축전 전하는 그럼에도 불구하고 단독으로, 또는 부분적인 채워짐을 평가하여 방전 전하의 확인으로서 이용된다.
본 발명의 일 실시예에서, 다시 인가된 전압은 처음으로 인가된 전압과 동일하다. 그러나 다시 인가된 전압은 또한 처음으로 인가된 전압보다 크거나 작을 수 있고, 이는 동일한 확산 제한 조건을 다시 수립하는데 제공된다.
전류 측정이 이루어지는 시간 간격은 정적으로 수립될 수 있고, 이는 스트립 디자인에 기초하여 고정되고, 또는 동적일 수 있다. 측정 시간의 동적 정의의 경우에, 회로 응답/포화의 효과를 제거하기 위하여 전류 스파이크 이후의 시간, 예를 들면 1 내지 10 msec 이후에 전류의 측정을 개시하는 것이 바람직하다. 측정에 대한 종료 시간은 그 경우에는 미리 정의된 그 이후의 시간 이전, 예를 들면 100 내지 1000 msec이다.
완전한 동적 접근은, 측정 시간 간격이 측정된 전류의 특성에 기초하여 판별된다. 그러한 경우에, 측정은 초과 전류에 있어서 미리 지정된 감소(Iobs-Iswitch)가 얻어질 때까지, 예를 들면 50%보다 더 많게, 바람직하게는 적어도 75% 그리고 더욱 바람직하게는 적어도 90%일 때까지 이루어 질 수 있고, 이 경우 Iobs는 tswitch 이후의 어떠한 주어진 시간에서라도 측정된 전류이다. 측정은 또한 전류가 Iswitch에 접근하는 레벨, 예를 들면 1.1 Iswitch로 감소할 때까지 계속될 수 있다.
Ⅳ. 전극 트랙 저항성분에 대한 정정
탄소 전극을 갖는 전기화학적 스트립의 실제 전압 프로필이 측정될 때, 전압의 즉각적인 강하가 인가된 전위가 도 5에 도시된 바와 같이 스위치 오프된 이후에 관찰된다. 이러한 강하의 크기 Vdrop은 몇몇 인자들의 함수이고, 이는 전극 물질 및 전극들과 관련된 연결부의 저항성분, 전극의 오염, 및 유사한 인자들을 포함한다. 그러므로 강하는 탄소 전극에서 금으로 만들어진 것과 같은 낮은 저항 전극에서보다 더 크다. 본 발명의 어떠한 실시예들에서, Vdrop의 크기는 몇몇 방법들 중 어느 것에서라도 고려된다.
상술된 바와 같이 방전 전하로부터 적분 축전성분의 판별의 경우에는, Vthreshold의 선택이 Vdrop에 적절하게 의존한다. 두 번째로, 의 더욱 정확한 표시는 다음 수학식 3에 의하여 제공된다.
축전 전하로부터 적분 축전성분의 판별의 경우에는, 제1 인가된 전압 더하기 Vdrop으로 제2 인가된 전압을 설정하는 것이 계산하기에 편리하고, 이는 새로운 이중층을 야기하기 위하여 실질적으로 인가되는 전압인 가 그 경우에는 제1 인가된 전압 및 전위가 다시 인가되는 문턱 전압 사이의 차이로써 측정됨 없이 근사화될 수 있기 때문이고, 측정된 유일한 파라미터는 감소 시간 및 전류이다.
미분 축전성분을 판별하는데 있어서, 측정이 수행된 전압은 ((Vapp-Vdrop) 빼기 미리 지정된 양)으로써 표현된다.
Ⅴ. 온도에 대한 정정
본 발명의 일 실시예에서, 이중층 축전성분의 값은 샘플의 온도에 대해 정정되고, 이는 계측기 또는 테스트 스트립이 이러한 온도를 판별하는 수단과 함께 제공되도록 제공된다. 온도-정정된 이중층 축전성분 Ct-corr는 다음 수학식 4에 의한 공식에 의하여 표현된다.
여기서 CDL은 위에서 개략된 기술 중 어떠한 것에 의하여 판별되는 것과 같은 이중층 축전성분이다.
온도 정정 항 T-correction은 여기서 참조로서 편입되는 2005년 4월 15일에 출원된 공개된 미국특허출원 제10/907790호에 묘사된 바와 같은 동일한 형태이고, 비록 위 출원에서 정정 항이 분석대상물 농도 측정을 정정하기위하여 사용되었더라도 같다.
온도 정정 항은 산소 운반 능력의 측정을 제공하는 어떠한 기술에 의해서라도 평가될 수 있고, 이는 샘플에 대한 온도 측정과 결합한다. 본 발명자들은 산소 운반 능력의 측정에 대한 측정된 가공되지 않은 분석대상물 농도의 그래프는 측정이 이루어진 온도에 의존하지만, 값들의 일반적인 범위에 걸친 pO2 및 포도당 농도에는 독립적인 기울기를 갖는 선이라는 것을 발견하였다. pO2 및 포도당 농도에 있어서의 변화는 그래프 선들의 합의 오프셋을 야기하지만, 기울기에 있어서의 변화를 야기하지는 않는다. 온도의 함수로써 이러한 기울기의 도시는 기울기(S) 및 다음 수학식 5에 따라, 주어진 온도 T에 대한 온도 정정 항으로 결합되는 절편(I) 파라미터를 정의하기 위하여 이용될 수 있다.
여기서 OCC는 헤마토크릿과 같은 산소 운반 능력의 측정이고, 상수는 양 또는 음의 부호를 갖는 실험적으로 판별된 인자이다.
온도 정정 인자의 정확도는 하나의 온도에서 수집된 데이터의 큰 집합 및 측정 온도에서 수집된 데이터로부터 얻은 오직 하나의 기울기를 판별하고 이용 가능한 데이터 모두로부터의 절편을 판별함에 의하여 측정 온도에서 수집된 데이터의 제한된 집합이 있을 때 개선될 수 있다. 그러므로 기준 측정 데이터의 큰 집합의 경우, 파라미터 I는 스트립 및 계측기 결합에 대하여 일정하게 수립될 수 있고, 오직 기울기만이 실험적으로 판별될 필요가 있다.
(a) 산소 운반 능력의 측정으로서 tmob의 이용
본 발명의 일 실시예에서, tmob, 즉 매개체의 이동도의 측정은 산소 운반 능력의 측정으로서 이용된다. tmob는 전위의 스위치 오프를 뒤따르는 전위 기울기의 감소 동안에 판별된다. 전위에 있어서의 감소는 관찰된 전위가 미리 지정된 값 Vmob로 감소될 때까지 모니터 된다. 50mV 근처로의 감소는, 47mV 또는 48mV와 같은 다소 더 작은 값이 특정 실험적 구성에서 최적의 결과를 제공하는 것이 발견될 수 있다 할지라도, 인가된 전압이 300mV의 차수인 경우에 편리하다. 일반적으로, Vmob는 적절하게 0.025 내지 0.1이다. 예를 들면, 250 내지 300mV의 Vapp를 갖는 포도당 판별에서, Vmob는 적절하게 25 내지 100mV의 범위에 있고, 바람직하게는 45 내지 50mV이다. tmob는 tswitch 이후에 이러한 전압이 도달하기 위하여 걸리는 시간이다.
감소 속도의 측정값을 판별하는 다른 방법들이 또한 이용될 수 있다. 예를 들면, 전위 감소의 순간적인 기울기가 판별될 수 있고, 또는 미리 지정된 시간에 걸친 전압의 감소가 이용될 수 있다. 계측기는 또한 특정 시간 윈도우를 선택할 수 있고, 특정 전압에 대한 시간인 tmob를 찾기 위하여 log(t) 또는 ln(t)에 대한 V 상에 선형 회귀를 수행할 수 있다. 만일 Vmob가 선택된 윈도우 내에 귀결하지 않는다면, 이러한 선형 맞춤에 기초한 투영이 이용될 수 있다. 특정 방법론은 중요하지 않고, 이는 측정된 감소의 값이 정정 함수를 판별하는데 고려되도록 제공된다.
(b) 산소 운반 능력의 측정으로써 다른 기술의 이용
여기에서 참조로서 편입되는 미국특허 제6,287,451호 및 제6,475,372호는 사용하고 버릴 수 있는 테스트 스트립에서 헤마토크릿의 판별을 위한 전기화학적 방법들을 개시한다. 헤마토크릿 측정은 본 발명의 합의 정정에 대비되는 것으로써 곱의 정정에서 이용된다. 그러나 측정은 두 가지 모드 모두에서 이용될 수 있고, tmob가 상술된 바와 같은 정정의 두 가지 유형 모두에 대하여 이용되는 것과 같다. 이는 헤마토크릿이 적혈구의 측정값이고, 적혈구는 산소 운반 능력을 갖기 때문이다.
본 발명에서 산소 운반 능력의 측정값으로써 헤마토크릿 측정의 어떠한 유형을 이용하기 위하여, 눈금 측정의 시리즈들이 각각의 복수의 온도에서 정정되지 않은 분석대상물 농도 및 헤마토크릿의 데이터 점 쌍이 획득되기 위하여 채택되었다. 각각의 온도에서, 데이터 지점이 선형 모델에 맞춰지고 선의 기울기가 판별된다. 위에 언급된 바와 같이, 이러한 기울기는 이러한 파라미터들이 실험에 걸쳐서 동일하게 유지될 필요가 있는 동안, 측정값이 중요하지 않는 것과 같이 포도당 및 pO2에 독립적이다. 기울기 및 상술된 바와 같이 합의 정정 인자로 편입되는 절편을 판별하기 위하여, 결과적인 기울기/온도 데이터 점 쌍들이 그 다음으로 선형 모델에 맞춰진다.
어떠한 경우에는, 선형 모델이 데이터의 오직 좁은 범위에 대하여 적절할 수 있다. 개선된 합의 정정 인자는 항들에 대한 지수적인 이차 방정식과 같은 비선형 항들을 도입함에 의하여 더 넓은 온도 또는 산소 운반 능력 범위에 대하여 판별될 수 있다.
Ⅵ. 전류측정으로부터 전위측정 모드로의 동적 스위칭
본 출원에서, 계측기는 처음에는 전류측정 모드에서 동작하고, 그 다음으로 인가된 전위가 스위치 오프된 이후에, 전위측정 모드에서 동작한다. 전위측정 모드에서 동작할 때 형성된 측정의 품질 및 일정성을 강화하기 위하여, 오직 산화 및 환원 된 매개체의 안정한 확산 기울기가 전기화학적 테스트 셀 내에서 형성된 이후에 전위측정 모드로 스위치를 실행하는 것이 바람직하다. 일반적으로, 전위측정의 측정은 농도 기울기가 샘플의 벌크 내로 "충분히 멀리" 확장하는 안정된 프로필을 형성한 이후에 어떠한 점에서 동일한 안정된 판독을 제공할 것이다.
안정된 확산 기울기가 이루어지는 기회를 극대화하기 위하여, 스위치가 이루어질 측정 사이클의 개시 시간 이후의 시간을 단순히 수립하는 것이 가능하다. 이러한 시간은 주어진 테스트 스트립 디자인에 대하여 실험적으로 판별되지만, 일반적으로 4 내지 8 초의 차수 상에 있을 수 있다. 그러나 계측기가 다른 샘플 특성들의 다양성에 적응하도록 하기 위하여, tswitch는 동적으로 판별될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, tswitch는 시간 간격을 더함으로써 tpeak(도 2의 peak 22의 시간)의 판별된 값으로부터 동적으로 판별될 수 있고, 예를 들면 tpeak의 판별된 값에 2 내지 3 초를 더한다.
본 발명의 다른 실시예에서, tswitch는 tpeak이 작을 때는 tswitch의 고정된 값을 이용하여 동적으로 판별되고, tpeak이 더 클 때는 tpeak 더하기 미리 지정된 값을 이용하여 판별된다. 예를 들면 tswitch는 tpeak이 1.5초보다 작을 대 3.5초의 고정된 값을 갖고, tpeak이 1.5초보다 클 때 tpeak 더하기 오프셋(예를 들면 2초)과 같을 수 있다.
또 다른 실시예에서, 측정에 대한 세 번째 모드가 tpeak이 보통보다 더 긴 시간에서 발생하는 환경에 대하여 수립될 수 있다. 이러한 경우에, tpeak이 미리 지정된 문턱값 위에서 발생할 때, 예를 들면 5초일 때, tswitch는 tpeak 및 Cottrell 전류의 기울기로부터 유도된 미리 지정된 상수를 이용하는 합의 정정 인자로써 적절하게 판별될 수 있다.
나아가, tpeak의 최대값은 그 위에서 에러 메시지가 생성되도록 수립될 수 있다.
Ⅶ. 본 발명의 장치
본 발명의 방법은 마주보는 전극을 갖는 어떠한 스트립과 함께라도 이용될 수 있고, 이는 계측기 장치가 스트립을 수취하고 전압의 필요한 인가 및 신호 처리를 제공할 수 있도록 제공되는 것을 제공한다. 그러한 계측기는 또한 본 발명의 측면을 형성한다. 그러므로 본 발명은 전극들을 구비하는 전기화학적 테스트 스트립을 수취하고, 수취되었을 때 전기화학적 테스트 스트립에 적용되는 샘플 내의 분석대상물의 판별을 제공하기 위한 계측기를 제공하고, 상기 계측기는,
(a) 전기화학적 테스트 스트립을 수취하기 위한 슬롯을 구비하는 하우징;
(b) 사용자로부터 입력을 수신하고 사용자에게 결과를 통신하기 위한 통신 수단; 및
(c) 상기 계측기 내에 수취된 샘플을 포함하는 테스트 스트립 상의 이중층 축전성분의 DC 판별을 형성하고, 참조값에 대해 상기 판별된 이중층 축전성분을 비교하기 위한 수단을 포함하고, 상기 참조값보다 작은 이중층 축전성분은 액체 샘플이 전극의 일부분을 덮고 상기 전기화학적 테스트 스트립이 오직 부분적으로 채워져 있음을 나타내는 표지이다.
도 6은 본 발명에 따른 계측기의 외부 모습을 도시한다. 하우징 61은 슬롯 63을 갖고, 그곳으로 테스트 스트립이 이용을 위하여 삽입된다. 계측기는 또한 측정 사이클의 개시에 대한 신호를 보내기 위한 버튼(64)을 구비할 수 있고, 또는 테스트 스트립의 삽입 또는 샘플의 적용을 감지하기 위한 내부 메커니즘을 가질 수 있다. 그러한 메커니즘은 본 기술분야에서 알려져 있고, 예를 들면 여기서 참조로써 편입되는 미국특허 제5,266,179호, 제5,320,732호, 제5,438,271호, 및 제6,616,819호로부터 알 수 있다. 본 발명의 계측기에서, 버튼, LCD 디스플레이와 같은 디스플레이, RF, 적외선 또는 다른 무선 송신기, USB와 같은 선 연결부, 병렬 또는 직렬연결들은 사용자로부터 입력을 수신하고 사용자에게 출력을 통신하는 수단을 구성하고, 개별적이고 다양한 조합으로 이용될 수 있다.
도 7은 테스트 스트립으로의 계측기의 연결이 도시된 내부도를 도시한다. 도시된 바와 같이, 테스트 스트립(71)은 전극이 계측기의 접촉 74, 75와의 전기적인 접촉에 위치되도록 하는 접촉 72, 73을 구비한다.
이중층 축전성분의 DC 판별을 형성하기 위한 수단은 회로들을 포함하고, 이는 전류측정 및 전위측정 모드 사이의 바람직한 스위칭을 제공하고 묘사된 바와 같은 전류 및 전압을 모니터하기 위한 회로들과 상호작용 하는 프로그램 된 마이크로프로세서와 연결된 회로기반 상에 있는 것과 같은 것이다. 전류가 측정되는 동작의 전류측정 모드 및 전극들 사이의 전위차가 측정되는 동작의 전위측정 모드 사이에 스위칭에 적절한 장치가 2004년 5월 30일에 출원된 미국가출원 제60/521,592호, 및 2005년 3월 25일에 출원된 미국가출원 제 60/594,285호에서 묘사되고, 이는 여기서 참조로써 편입된다. 도 8은 본 발명의 계측기의 일 실시예의 전기적인 구조를 도시한다. 그러나 다른 구성요소들이 또한 이용될 수 있음이 인식될 것이고, 이는 전압을 인가하고 스위칭하는 것에 있어서 동일한 결과를 가져온다. 동작 전극(80)은 스위치(82)를 포함하는 연결부를 통하여 연산증폭기 81 및 연산증폭기 83에 연결된다. 반대 전극(84)은 연산증폭기 85 및 86에 연결된다. 연산증폭기 83, 85, 및 86은 고 임피던스 입력 증폭기이다. 분석대상물을 판별하기 위하여 전류측정 모드에서 동작할 때, 전압 V2는 연산증폭기 81에 인가되고, 전압 V1은 연산증폭기 85에 인가되고, V2는 V1보다 크다. 전극들 사이의 전위차를 야기하는 것은 분석대상물의 양에 관련되는 전류의 생성을 야기하고, 이러한 전류는 출력 87에서 측정되고 분석대상물의 존재 또는 양의 표지로 변환된다. 스위치 82가 개방 회로를 생성하고 전위차의 인가를 중단하기 위하여 개방될 때, 전류 흐름이 끊기고, 증폭기 83의 출력이 동작 전극 80의 전위로 가정되는 동시에 증폭기 86의 출력이 반대 전극의 전위 로 가정된다. 연산증폭기 83 및 연산증폭기 86으로부터의 출력 사이의 차이는 화학적 전위에 있어서의 감소를 나타내고, 부분적으로 채워짐의 표지를 생성하기 위하여 상술된 방법에 따라 프로세스 된다.
도 9는 오직 두 개의 연산증폭기 및 증가된 수의 스위치를 이용하는 이러한 회로의 양자택일적인 버전을 도시한다. 동작 전극(80)은 입력 전압 V2를 수신하는 연산증폭기 81에 연결된다. 반대 전극(84)는 두 개의 스위치 패스 중 하나를 통해서 높은 입력 임피던스 연산증폭기 90에 연결된다. 입력 전압 V1은 세 번째 스위치 패스를 통하여 회로에 연결된다. 스위치 91 및 93이 닫히고, 스위치 92가 열렸을 때, 회로는 전류측정 모드에서 기능하고, 참조번호 95에 있는 출력은 전극에서 전류 흐름을 반영한다. 스위치 92가 닫히고 스위치 91 및 93이 열렸을 때, 회로는 전위측정 모드에서 동작하고 참조번호 95에서의 출력은 반대 전극의 전위로 여겨진다(도 8의 증폭기 86과 유사하다). 그러므로 참조번호 95에서의 출력은 전극들 사이의 전위차를 간접적으로 반영한다. 전극들 사이의 실제 전위차는 참조번호 95에서의 출력 및 연산증폭기 81의 출력(동작 전극, 80) 사이의 차이이다.
본 발명의 계측기에서 사용자에게 완전하지 않은 채워짐을 나타내는 신호는 이중층 축전성분의 측정값이 미리 지정된 레벨보다 아래일 때 적절하게 생성된다.
Ⅷ. 본 발명을 이용하는 품질 제어 테스트
이용에서 전기화학적 테스트 스트립의 부분적인 채워짐을 나타내는 데 대한 대안으로써, 상술된 바와 같은 이중층 축전성분의 측정값이 또한 스크린 인쇄(screen printing)와 같은 과정을 이용하여 형성되는 전극들의 품질의 표지를 제 공한다. 인쇄가 좋지 않은 또는 일정하지 않은 품질인 경우, 관찰된 이중층 축전성분 가운데의 다양성은 인쇄 품질이 일정하게 좋은 집합에 대하여 것보다 크다.(도 12 및 예 4 참조) 그러므로 본 발명의 더 나아간 구성은 전기화학적 테스트 스트립의 집합의 품질 검사에 대한 방법을 제공하고, 이는,
(a) 집합으로부터 복수의 테스트 스트립을 획득하는 단계;
(b) 상기 테스트 스트립 각각에 대해 샘플을 적용하는 단계;
(c) 상기 샘플의 존재에서 상기 테스트 스트립의 이중층 축전성분을 측정하는 단계; 및
(d) 측정된 이중층 축전성분에 있어서의 변동가능성을 판별하는 단계를 포함하고, 여기서 정의된 문턱의 초과에 있어서 변동가능성은 상기 테스트 스트립 내의 품질 결핍을 나타낸다.
"복수의" 테스트 스트립들이 전체로서 상기 집합을 대표하기 위해 충분한 개수만큼 필요하지만, 집합의 중요한 부분이 경제적으로 해를 끼치는 테스트를 야기할 정도로 많을 필요는 없다. 나아가, 집합의 준비 내의 다른 시간으로부터 이러한 테스트에 대한 테스트 스트립이 취해지는 것이 바람직하고, 만일 복수의 스트립 시트가 형성된다면, 그 경우에는 상기 시트를 다른 부분으로부터 잘라 나눈다.
테스트 스트립에 적용된 샘플은 혈액 샘플일 수 있다. 그러나 이중층 축전성분의 측정이 오직 화학적 전위 기울기의 생성을 요구하므로, 전하 운반자를 포함하는 제어 용액, 예를 들면 페로시아나이드(ferrocyanide) 및 페리시아나이드(ferricyanide)의 혼합물이 바람직하다.
측정된 이중층 축전성분의 변동가능성이 어떠한 채택될 수 있는 수학적인 분석을 이용하여 판별될 수 있다. 예를 들면 변동가능성은 측정된 값의 범위 또는 측정된 값의 표준편차에 의하여 표현될 수 있다.
Ⅸ. 예시들
발명은 뒤따르는 비제한적인 예들을 참조하여 여기서 더 묘사된다. 이러한 예들에서, 측정은 마주보는 스크린 인쇄된 탄소 전극, 625 나노리터의 명시적인 샘플 부피, 및 창(viewing window)을 구비하는 테스트 스트립을 이용하여 이루어진다. 테스트 스트립은 샘플이 창을 통하여 보이지 않을 수 있을 때 부분적으로 채워졌다고 고려된다. 테스트에서 이용되는 혈액 샘플은 VacutainerTM 튜브를 이용하여 신선하게 추출(8시간 이내)되고, 혈액항응고제(anticoagulant)로써 EDTA로 안정화 된다. 다양한 헤마토크릿을 갖는 혈액 샘플은 헤마토크릿 및 포도당 농도를 알고 있는 일반적인 혈액 샘플을 원심분리하고, hct 65 샘플을 남기도록 충분한 플라즈마(plasma)를 제거하고, 그 다음으로 적절한 양에서 플라즈마와 이러한 샘플을 다시 결합함에 의하여 더 낮은 헤마토크릿을 생성함으로써 준비된다. 이러한 샘플들은 단일 혈액 샘플로부터 모두 신속하게 준비되기 때문에, 이들은 모두 동일한 플라즈마 포도당 농도를 갖는다. 다른 포도당 농도는 원심분리에 앞서 혈액에 1M 포도당 농축 용액의 양을 부가함으로써 생성된다.
- 예 1
300mV가 전기화학적 테스트 스트립에 인가되고, 안정 전류가 관찰될 때까지 유지된다. 인가된 전압이 그 다음으로 스위치 오프되고, 동작 및 반대 전극 사이의 전위차가 측정된다. 미분 축전성분이 반대 전극에 대응하는 다른 전위들에서, 포도당 농도(3.17 내지 16.5mM) 및 헤마토크릿(20, 40, 및 60)을 변화시키는 복수의 샘플들에 대하여 판별된다. 결과가 도 10에 요약되었다. x축이 전위차를 도시하기 때문에, 그래프의 오른쪽이 더 낮은 전압 강하에서 이루어진 측정을 반영함이 인지되어야 한다.
도 10에 도시된 바와 같이, 곡선이 농도 또는 헤마토크릿에 일정하게 의존하지 않는 동안, 주어진 샘플/테스트 스트립에 대한 미분 축전성분은 이것이 측정되는 전위와 함께 명확하게 변화한다. 나아가, 그래프는 전압과 함께 Cdif에 있어서의 변화가 더 작은 영역 100을 도시하고, 이는 Cdif의 판별을 위한 측정이 바람직하게 이루어지는 전압 차의 이러한 영역내에 있다.
- 예 2
300mV가 안정 전류가 관찰될 때까지 2.79mM 또는 20.2mM 포도당 중 하나를 구비하는 혈액 샘플을 갖는 전기화학적 테스트 스트립에 인가된다. 인가된 전압이 그 다음으로 스위치 오프되고, 250mV로부터 150mV까지의 이중층 방전에서 전달된 전하가 측정된다. 300mV가 그 다음으로 다시 인가되고, 이중층을 250mV로 재축전시키기 위하여 전달된 전하가 관측된다. 축전 및 방전 전류 사이의 관계가 0의 절편을 갖고 본질적으로 선형으로 관찰된다. 그러나 재축전에 대해 판별된 전하는 방전에 대한 것보다 낮고, 이는 100ms의 측정 시간이 재축전 이중층이 용액과 완전히 평형을 이루기 위해 충분하지 않음을 나타낸다. 비록 더 높은 농도가 현저히 더 빠르게 감소한다 할지라도, 전하의 관찰된 양은 포도당 농도에 독립적이다.
- 예 3
300mV는 안정 전류가 관찰될 때까지 변화하는 헤마토크릿 레벨(20, 40, 또는 60) 및 3.87mM, 10.2mM 또는 20.1mM의 포도당 농도를 갖는 혈액 샘플들을 구비하는 전기화학적 테스트 스트립에 인가된다. 인가된 전압은 그 다음으로 스위치 오프되고 미분 축전성분은 Velectrode 아래의 40mV에서 판별된다. 스트립들은 창 내의 샘플의 관찰에 기초하여 채워짐 또는 부분적으로 채워짐으로써 디자인된다. 도 11은 다양한 스트립에 대한 측정된 미분 축전성분을 도시한다. 도 11에서, 포도당 농도는 선 유형에 의하여 나타내고(실선 = 3.87mM, 파선 = 10.2mM, 및 점-파선 = 20.1mM); 헤마토크릿은 심볼 형태(다이아몬드 = 20, 삼각형 = 40, 사각형 = 60)에 의하여 나타낸다. 채워진 심볼은 채워진 테스트 스트립을 나타내고, 열린 심볼은 부분적으로 채워짐을 나타낸다. 도 11의 수평선은 샘플 충분함을 평가하는데 있어서 이러한 테스트 스트립과 함께 이용될 수 있는 1.7μF에서 설정된 미분 축전성분의 문턱 레벨이다. 도시된 바와 같이, 채워진 샘플 모두는 이러한 문턱값 위의 축전성분을 야기하는 반면에, 부분적으로 채워진 것들 중 오직 세 개만이 주어진 잘못된 채택을 갖는다.
문턱값을 설정하는 것은 부분적으로 채워짐을 채택하거나, 달리 채택 가능한 샘플들을 배제하기 위한 의지에 의존하는 것이 본 기술분야의 당업자에 의하여 인 지될 것이다.
- 예 4
본 발명의 방법의 견고성(robustness)을 추정하기 위하여, 동일한 제조자로부터 획득된 상기 묘사된 동일한 디자인의 테스트 스트립의 10개의 다른 집합들이 추정된다. 도 12는 10개의 집합들에 대한 결과를 도시하고, 이는 50mV로 감소에 대한 시간에 대한 미분 축전성분을 도시한다. 두 가지 점이 이 그래프로부터 관찰 가능하다. 첫 째, 10개의 집합 중 8개에 대하여, 비록 50mV 강하에 도달하기 위한 시간이 변화 가능하다 할지라도, 미분 축전성분은 상당히 일정하다. 이는 측정의 시간을 동적으로 판별하기 위하여 논하지만, 기술의 일반적인 견고성을 나타낸다. 다른 8개로부터 벗어난 두개의 집합은 또한 축전성분의 상당히 일정한 레벨을 나타내고, 50mV에 대한 시간에서 굉장히 작은 변화이다. 이러한 집합들에서 탄소 전극은 다른 기술을 이용하여 스크린 인쇄되었음이 판별되었다. 그러므로 부분적인 채워짐을 고려하기 위해 축전성분에 대해 수립된 끊김은 일정한 생산 기술을 갖는 매 집합마다의 변화에 대해서 설명할 수 있지만, 생산 기술들에 있어서의 변화가 변하는 경우에는 재설정될 필요가 있을 수 있다.
Claims (22)
- 전극 및 상기 전극들 사이에 배치된 액체 샘플을 구비하는 전기화학적 테스트 스트립에서 부분적으로 채워짐의 검출을 위한 방법에 있어서,(a) 전기화학적 테스트 스트립에 샘플을 도입하는 단계;(b) 상기 테스트 스트립의 전극들 사이에 일정한 전위차 Vapp를 인가하는 단계;(c) 시간 tswitch에 상기 인가된 전위를 스위치 오프하고, 선택적으로 제2 전위를 다시 인가하는 단계;(d) 생성된 전류를 관측하고, 단계 (c)의 상기 전위를 스위치 오프 또는 재인가하는 것과 관련된 전극들에서 이중층 축전 또는 방전을 상기 관측된 전류로부터 판별하는 단계;(e) 상기 인가된 전위가 스위치 오프된 이후에 전압 변화를 관측하고, 상기 측정된 이중층 축전 또는 방전 및 상기 관측된 전압 변화로부터 테스트 스트립의 이중층 축전성분을 판별하는 단계; 및(f) 참조값에 대해 상기 판별된 이중층 축전성분을 비교하는 단계를 포함하고, 여기서 참조값보다 작은 이중층 축전성분은, 액체 샘플이 상기 전극의 일부분을 덮고 상기 전기화학적 테스트 스트립이 오직 부분적으로 채워짐을 나타내는 표지인 것을 특징으로 하는 전기화학적 테스트 스트립에서 부분적으로 채워짐의 검출 을 위한 방법.
- 제3항에 있어서, 상기 전류는 tswitch에 앞서 관측된 전류로부터 외삽법에 의하여 판별되는 시간 tmeas에서 전류의 추정된 값인 것을 특징으로 하는 전기화학적 테스트 스트립에서 부분적으로 채워짐의 검출을 위한 방법.
- 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 관측된 전류는 전위의 재인가 이후에 발생하고, 상기 이중층 축전성분은 이중층 축전으로부터 판별되는 것을 특징으로 하는 전기화학적 테스트 스트립에서 부분적으로 채워짐의 검출을 위한 방법.
- 제9항에 있어서, 상기 전류 I는 시간 tswitch 직전의 전류인 것을 특징으로 하는 전기화학적 테스트 스트립에서 부분적으로 채워짐의 검출을 위한 방법.
- 제9항에 있어서, 상기 전류는 tswitch에 앞선 상기 관측된 전류로부터 외삽법에 의하여 판별되는 시간 tmeas에서의 전류의 추정된 값인 것을 특징으로 하는 전기화학적 테스트 스트립에서 부분적으로 채워짐의 검출을 위한 방법.
- 제9항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 tmeas는 동적으로 판별되는 것을 특징으로 하는 전기화학적 테스트 스트립에서 부분적으로 채워짐의 검출을 위한 방법.
- 제12항에 있어서, 상기 tmeas는 상기 관측된 전위가 미리 지정된 양에 의하여 상기 인가된 전위보다 낮은 시간인 것을 특징으로 하는 전기화학적 테스트 스트립에서 부분적으로 채워짐의 검출을 위한 방법.
- 제9항 내지 제12항에 있어서, 상기 즉각적인 전압 강하 Vdrop은 전위의 스위치 오프에 뒤따라 측정되고, 상기 tmeas는 상기 관측된 전위가 미리 지정된 양에 의하여 (Vapp-Vdrop)보다 낮은 시간인 것을 특징으로 하는 전기화학적 테스트 스트립에서 부분적으로 채워짐의 검출을 위한 방법.
- 제9항 내지 제14항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 전류 I는 시간 tswitch 직전의 전류인 것을 특징으로 하는 전기화학적 테스트 스트립에서 부분적으로 채워짐의 검출을 위한 방법.
- 제9항 내지 제14항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 전류는 tswitch에 앞서 상기 관측된 전류로부터 외삽법에 의하여 판별된 시간 tmeas에서 전류의 추정된 값인 것을 특징으로 하는 전기화학적 테스트 스트립에서 부분적으로 채워짐의 검출을 위한 방법.
- 제1항 내지 제16항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 측정된 이중층 축전성분은 상기 참조값과 비교에 앞선 온도 및 산소 운반 능력의 함수인 합의 정정 항에 의하여 정정되는 것을 특징으로 하는 전기화학적 테스트 스트립에서 부분적으로 채워짐의 검출을 위한 방법.
- 전극들을 구비하는 전기화학적 테스트 스트립을 수취하고, 수취되었을 때 상기 전기화학적 테스트 스트립에 적용되는 샘플 내의 분석대상물의 판별을 제공하기 위한 계측기에 있어서,(a) 전기화학적 테스트 스트립을 수취하기 위한 슬롯을 구비하는 하우징;(b) 사용자로부터 입력을 수신하고 사용자에게 결과를 통신하기 위한 통신 수단; 및(c) 상기 계측기 내에 수취된 샘플을 포함하는 테스트 스트립 상의 이중층 축정성분의 DC 판별을 형성하고, 참조값에 대하여 상기 판별된 이중층 축정성분을 비교하는 단계를 포함하고, 여기서 상기 참조값보다 작은 이중층 축전성분은 상기 액체 샘플이 상기 전극들의 일부분을 덮고 상기 전기화학적 테스트 스트립이 오직 부분적으로 채워짐을 나타내는 표지인 계측기.
- 제18항에 있어서, 상기 이중층 축전성분의 DC 판별을 형성하기 위한 수단은,(i) 상기 테스트 스트립의 상기 전극들 사이에 전위차 Vapp를 인가하고;(ii) 시간 tswitch에 상기 인가된 전위를 스위치 오프하고 뒤따르는 시간에 제 2 전위를 선택적으로 재인가하고;(iii) 생성된 전류를 관측하고 상기 전극들에서 이중층 축전 또는 방전을 상기 관측된 전류로부터 판별하고;(iv) 상기 인가된 전위가 스위치 오프된 이후에 전압 변화를 관측하고, 상기 측정된 이중층 축전 또는 방전으로부터 테스트 스트립의 상기 이중층 축전성분을 판별하고, 제1항 내지 제17항 중 어느 하나의 방법에 따라 상기 관측된 전압 변화를 판별하는 것을 특징으로 하는 계측기.
- 제18항 또는 제19항에 따른 계측기를 포함하며, 전기화학적 테스트 스트립이 상기 하우징 내에 배치된 측정시스템.
- 제20항에 있어서, 상기 전기화학적 테스트 스트립은 샘플 내의 포도당을 측정하는 것을 특징으로 하는 측정 시스템.
- (a) 집합으로부터 복수의 테스트 스트립들을 획득하는 단계;(b) 상기 각각의 테스트 스트립에 샘플을 적용하는 단계;(c) 상기 샘플의 존재에서 상기 테스트 스트립의 이중층 축전성분을 측정하는 단계; 및(d) 측정된 이중층 축전성분에 있어서의 변동가능성을 판별하는 단계를 포함하고, 여기서 정의된 문턱값의 초과에서 변동가능성은 상기 테스트 스트립에서 품 질 결핍을 나타내는 전기화학적 테스트 스트립들의 집합의 품질 조사를 위한 방법.
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