KR20070071577A - Heater and electrostatic chuck - Google Patents

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Abstract

A heater is provided to improve the reliability of electrical connection between a connector and a conductive member and between a connector and an electrode by including a connector receiving physical force in a plate direction and by completely sealing a connection portion between the connector and the conductive member from the external surroundings. An opening(112) is formed in an insulation plate(110). A conductive member(115) is built in the insulation plate, partially exposed through the opening. A connector(130) is inserted into the insulation plate through the opening so as to transfer power to the conductive member wherein a pressurizing part(135) is formed in the outer circumferential surface of the connector. A casing(140) is inserted into the outer circumferential surface of the connector, closely attaching the connector to the conductive member while pressurizing the pressurizing part in the direction of the conductive member. Adhesive(150,260) is formed between the inner surface of the opening and the connector, between the inner surface of the opening and the casing and between the connector and the casing so as to seal the inside of the opening.

Description

히터 및 정전척{HEATER AND ELECTROSTATIC CHUCK}Heater and Electrostatic Chuck {HEATER AND ELECTROSTATIC CHUCK}

도 1은 종래에 개시된 커넥터를 포함하는 히터를 설명하기 단면도이다.1 is a cross-sectional view illustrating a heater including a connector disclosed in the related art.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 히터를 설명하기 위한 단면도이다. 2 is a cross-sectional view illustrating a heater according to an embodiment of the present invention.

도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 히터를 설명하기 위한 단면도이다.3 is a cross-sectional view illustrating a heater according to another embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 히터를 설명하기 위한 단면도이다.4 is a cross-sectional view illustrating a heater according to still another embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 히터를 설명하기 위한 단면도이다.5 is a cross-sectional view illustrating a heater according to still another embodiment of the present invention.

도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 정전척을 설명하기 위한 단면도이다.6 is a cross-sectional view for describing an electrostatic chuck according to still another embodiment of the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

100, 200, 300, 400:히터 110:절연 플레이트100, 200, 300, 400: Heater 110: Insulation plate

112:개구부 115:전도성 부재112: opening 115: conductive member

120,520:도전 패드 130, 530:커넥터120,520 : Conductive pads 130, 530 : Connector

135, 535:가압부 140, 540:케이싱135, 535: Pressure part 140, 540: Casing

150:제1 접착제 260:제2 접착제150: 1st adhesive agent 260: 2nd adhesive agent

425, 525:보조 전도성 부재 500:정전척425 and 525: auxiliary conductive member 500: electrostatic chuck

510:척킹 플레이트 515:전극510: chucking plate 515: electrode

본 발명은 히터 및 정정척에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 웨이퍼나 면광원 같은 대상물을 가열하기 위한 열을 생성하는 히터 및 가공 챔버 내부에 위치하여 웨이퍼를 척킹하기 위한 정전력을 생성하는 정전척 및 에 관한 것이다. The present invention relates to a heater and a corrective chuck. More particularly, the present invention relates to a heater for generating heat for heating an object such as a wafer or a surface light source, and an electrostatic chuck for generating an electrostatic force for chucking a wafer located inside a processing chamber.

일반적으로 반도체 장치는 반도체 기판으로 사용되는 웨이퍼 상에 전기적인 회로를 형성하는 팹(Fab) 공정과, 상기 팹 공정에서 형성된 반도체 장치들의 전기적인 특성을 검사하는 EDS(electrical die sorting)공정과, 상기 반도체 장치들을 각각 에폭시 수지로 봉지하고 개별화시키기 위한 패키지 조립 공정을 통해 제조된다.In general, a semiconductor device includes a Fab process for forming an electrical circuit on a wafer used as a semiconductor substrate, an electrical die sorting (EDS) process for inspecting electrical characteristics of semiconductor devices formed in the fab process, and Each semiconductor device is manufactured through a package assembly process for encapsulating and individualizing the epoxy resin.

상기 팹 공정은 웨이퍼 상에 막을 형성하기 위한 증착 공정과, 상기 막을 평탄화하기 위한 화학적 기계적 연마 공정과, 상기 막 상에 포토레지스트 패턴을 형성하기 위한 포토리소그래피 공정과, 상기 포토레지스트 패턴을 이용하여 상기 막을 전기적인 특성을 갖는 패턴으로 형성하기 위한 식각 공정과, 웨이퍼의 소정 영역에 특정 이온을 주입하기 위한 이온 주입 공정과, 웨이퍼 상의 불순물을 제거하기 위한 세정 공정과, 상기 세정된 웨이퍼를 건조시키기 위한 건조 공정과, 상기 막 또는 패턴의 결함을 검사하기 위한 검사 공정 등을 포함한다.The fab process includes a deposition process for forming a film on a wafer, a chemical mechanical polishing process for planarizing the film, a photolithography process for forming a photoresist pattern on the film, and the photoresist pattern using the photoresist pattern. An etching process for forming the film into a pattern having electrical characteristics, an ion implantation process for implanting specific ions into a predetermined region of the wafer, a cleaning process for removing impurities on the wafer, and a process for drying the cleaned wafer And a drying step and an inspection step for inspecting the defect of the film or pattern.

전술한 바와 같은 다양한 팹 공정에서는 반도체 기판을 가열하기 위한 히터와 반도체 기판을 고정하기 위한 정전척이 거의 기본적으로 이용되고 있다. In various fab processes as described above, a heater for heating the semiconductor substrate and an electrostatic chuck for fixing the semiconductor substrate are almost used.

반도체 제조 공정에 사용되는 히터와 정전척은 서로 유사한 구성을 갖는다. 히터는 크게 히팅 플레이트, 발열체 및 전원 공급 유닛으로 이루어질 수 있고, 정전척은 크게 척킹 플레이트, 전극 및 전원 공급 유닛으로 이루어질 수 있다. 따라서 최근에는 히터와 정전척의 기능을 모두 갖는 정전척용 히터도 개발되고 있는 실정이다. Heaters and electrostatic chucks used in semiconductor manufacturing processes have similar configurations. The heater may largely consist of a heating plate, a heating element, and a power supply unit, and the electrostatic chuck may largely consist of a chucking plate, an electrode, and a power supply unit. Therefore, in recent years, an electrostatic chuck heater having both a heater and an electrostatic chuck has been developed.

히터와 정전척이 제 기능을 발휘하기 위해서는 전기적 파워의 공급이 반드시 필요하다. 이러한 전기적 파워는 전원 공급 유닛과 플레이트를 연결하는 커넥터를 통해 공급된다. 이하 도면을 참조하여 종래에 개시된 커넥터를 포함하는 히터 및 정전척에 대하여 자세하게 설명한다.In order for the heater and the electrostatic chuck to function properly, they must be supplied with electrical power. This electrical power is supplied through a connector connecting the power supply unit and the plate. Hereinafter, a heater and an electrostatic chuck including a connector disclosed in the related art will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 종래에 개시된 커넥터를 포함하는 히터를 설명하기 위한 개략적인 단면도를 도시한 것이다.1 is a schematic cross-sectional view for explaining a heater including a connector disclosed in the prior art.

도 1을 참조하면, 히터(10)는 발열체(15), 히팅 플레이트(20) 커넥터(30) 및 케이싱(40)을 포함한다.Referring to FIG. 1, the heater 10 includes a heating element 15, a heating plate 20 connector 30, and a casing 40.

히팅 플레이트(20)의 내부에는 발열체(15)와 도전 패드(20)가 매설되고, 도전 패드(20)는 히팅 플레이트(20) 하면에 형성된 개구부(12)를 통하여 노출된다. 도전 패드(20)는 발열체(15)와 전기적으로 연결되어, 발열체(15)를 간접적으로 노출시킨다.The heating element 15 and the conductive pad 20 are embedded in the heating plate 20, and the conductive pad 20 is exposed through the opening 12 formed in the lower surface of the heating plate 20. The conductive pad 20 is electrically connected to the heating element 15 to indirectly expose the heating element 15.

커넥터(30)는 개구부(12)를 통하여 히팅 플레이트(20) 내부로 삽입된다. 커넥터(30)는 전원 공급 유닛으로부터 파워를 제공받아 도전 패드(20)에 전달하기 위한 부재로서, 도전 패드(20)와 전기적으로 연결된다. 이를 위하여 커넥터(30)는 도전 패드(20)에 물리적으로 접합된다.The connector 30 is inserted into the heating plate 20 through the opening 12. The connector 30 is a member for receiving power from the power supply unit and transferring the power to the conductive pad 20, and is electrically connected to the conductive pad 20. To this end, the connector 30 is physically bonded to the conductive pad 20.

커넥터(30)를 도전 패드(20)에 접합시키기 위해서는 일반적으로 브레이징(brazing) 방법이 많이 사용된다. 보다 자세하게 설명하면, 도전 패드(20)와 커넥터(30) 사이에 즉, 개구부(12) 저면에 필러(52)를 삽입한 다음, 필러(52)를 고온으로 가열한다. 상기 가열에 의하여 용융된 필러(52)는 도전 패드(20)와 커넥터(30) 사이에 퍼지게 되고, 이후, 냉각공정을 통하여 커넥터(30)를 도전 패드(20)에 접합시킨다. 이를 브레이징 접합이라고 한다. In order to bond the connector 30 to the conductive pad 20, a brazing method is generally used. In more detail, the filler 52 is inserted between the conductive pad 20 and the connector 30, that is, the bottom surface of the opening 12, and then the filler 52 is heated to a high temperature. The filler 52 melted by the heating is spread between the conductive pad 20 and the connector 30, and then the connector 30 is bonded to the conductive pad 20 through a cooling process. This is called brazing bonding.

상기 브레이징 방법은 커넥터(30)의 둘레에 배치되는 케이싱(40)과 커넥터(30)를 접합시킬 때에도 사용된다. 보다 자세하게 설명하면, 커넥터(30)의 외주면에는 원통 틀 형상의 케이싱(40)이 끼워진다. 케이싱(40)은 커넥터(30)와 같이 개구부(12) 내부로 삽입되어 개구부(12)의 빈 공간을 일부 매우게 된다.The brazing method is also used to join the connector 30 and the casing 40 disposed around the connector 30. In more detail, the cylindrical casing 40 is fitted to the outer peripheral surface of the connector 30. The casing 40 is inserted into the opening 12 like the connector 30 to partially fill the empty space of the opening 12.

케이싱(40)은 개구부(12)의 깊이보다 더 길어 히팅 플레이트(20) 하면으로 돌출되는데, 상기 돌출된 케이싱(40)의 단부에 커넥터(30)의 플랜지가 브레이징 접합된다. The casing 40 is longer than the depth of the opening 12 and protrudes into the bottom surface of the heating plate 20, and the flange of the connector 30 is brazed to the end of the protruding casing 40.

필러(52)는 대부분 금 또는 구리 성분으로 이루어져, 높은 용융 온도를 갖는다. 일반적인 필러(52)의 용융 온도는 700 내지 1000℃이다. 즉, 필러(52)를 이용하여 접합 공정을 수행하기 위해서는, 고온의 가열 장비가 필수적으로 요구된다. 이와 같은 이유로, 브레이징 접합 공정은 많은 공간적 제한을 받는다.The filler 52 mostly consists of a gold or copper component and has a high melting temperature. The melting temperature of the general filler 52 is 700-1000 degreeC. That is, in order to perform the bonding process using the filler 52, high temperature heating equipment is essentially required. For this reason, the brazing joining process is subject to many spatial limitations.

또한, 브레이징 접합 공정을 위하여 히터(10)를 상기 700 내지 1000℃ 라는 고온의 온도로 국부 또는 전체 가열할 경우, 히터(10)는 열적 스트레스를 받게 되고, 히터(10)를 이루는 구성 부품들은 변형 또는 변질될 수 있다. In addition, when the heater 10 is locally or totally heated to a high temperature of 700 to 1000 ° C. for the brazing bonding process, the heater 10 is subjected to thermal stress, and components constituting the heater 10 are deformed. Or may be altered.

그리고 상기와 같은 고온으로 가열된 필러(52)에는 수축 공동(shrinkage cavity)과 같은 문제가 발생할 수 있다. 보다 자세하게 설명하면, 준 용융 상태 이상의 필러(52)는 모세관 현상에 의하여 습윤성(water ability)이 좋은 도전 패드(20), 커넥터(30) 및 케이싱(40)으로 이동하려 한다. 이로써, 도전 패드(20)와 커넥터(30) 사이에 존재해야하는 필러(52)의 양이 줄어들게 되고, 도전 패드(20)와 커넥터(30) 사이에는 보이드(void,60)가 발생된다. In addition, the filler 52 heated to such a high temperature may cause a problem such as a shrinkage cavity. In more detail, the filler 52 of the quasi-melt state or more tries to move to the conductive pad 20, the connector 30, and the casing 40 having good water ability by capillary action. As a result, the amount of the filler 52 to be present between the conductive pad 20 and the connector 30 is reduced, and voids 60 are generated between the conductive pad 20 and the connector 30.

실제 히터(10)는 도 1에 도시된 바와 반대로 히팅 플레이트(20)가 커넥터(30) 상부에 위치한 상태로 사용된다. 커넥터(30)에는 자체 하중을 포함하여 히팅 플레이트(20)의 반대 방향으로의 주로 부가되고, 접합 시에는 크지 않았던 보이드(60)도 시간이 지날수록 커지게 된다. The actual heater 10 is used with the heating plate 20 positioned on the connector 30 as opposed to that shown in FIG. 1. The connector 30 is mainly added in the opposite direction of the heating plate 20 including its own load, and the void 60, which was not large at the time of joining, also becomes larger as time passes.

보이드(60)는 도전 패드(20)와 커넥터(30)의 접합력을 감소시킬 뿐만 아니라 심지어는 도전 패드(20)와 커넥터(30)를 전기적으로 단락시킬 수도 있다. 보다 자세하게 설명하면 필러(52)에서의 보이드(60)의 발생은 도전 패드(20)와 커넥터(30)의 접합 면적의 감소를 의미하며, 접합 면적의 감소는 접합력의 감소로 귀결된다. 도전 패드(20)와 커넥터(30)의 접합력이 감소할 경우, 도전 패드(20)와 커넥터(30)는 작은 힘 또는 스트레스에 의해서도 쉽게 분리된다.The void 60 not only reduces the bonding force of the conductive pad 20 and the connector 30 but may also electrically short the conductive pad 20 and the connector 30. In more detail, generation of the void 60 in the filler 52 means a reduction in the bonding area of the conductive pad 20 and the connector 30, and the reduction in the bonding area results in a reduction in the bonding force. When the bonding force of the conductive pad 20 and the connector 30 decreases, the conductive pad 20 and the connector 30 are easily separated even by small force or stress.

전술한 바와 같은 단락의 문제가 발생하였을 경우, 커넥터(30)를 히팅 플레이트(20)로부터 완전 분리시킨 다음, 다시 접착 공정을 수행하는 것이 일반적이다. 당연히 이로 인하여 많은 시간, 노력 및 비용이 소요되며, 히터(10)의 작동 신뢰성은 보장할 수 없게 된다. When the short circuit problem described above occurs, it is common to completely disconnect the connector 30 from the heating plate 20 and then perform the bonding process again. Of course, this takes a lot of time, effort and money, the operation reliability of the heater 10 is not guaranteed.

상기와 같은 히터(10)에서는 산화로 인한 도전 패드(20)와 커넥터(30)의 단락 사고도 종종 발생한다. 발열체(15), 도전 패드(20) 및 케이싱(40)은 일반적으로 금속으로 이루어져 비교적 낮은 내산화성을 갖는다. 그러나 종래의 히터(10)에서는 개구부(12)가 완벽하게 실링되지 않아 가공 공정 등에 사용되는 공정 가스가 개구부(12) 내부로 쉽게 유입될 수 있다. 상기 공정 가스는 발열체(15), 도전 패드(20) 및 케이싱(40)을 산화시켜 도전 패드(20)와 커넥터(30)를 전기적으로 단락시킨다. 당연히 이 경우에도 전술한 바와 같이 커넥터(30)를 교체하여야 한다.In the heater 10 as described above, a short circuit accident of the conductive pad 20 and the connector 30 due to oxidation often occurs. The heating element 15, the conductive pad 20 and the casing 40 are generally made of metal and have relatively low oxidation resistance. However, since the opening 12 is not completely sealed in the conventional heater 10, a process gas used for a machining process may easily flow into the opening 12. The process gas oxidizes the heating element 15, the conductive pad 20, and the casing 40 to electrically short the conductive pad 20 and the connector 30. In this case, of course, the connector 30 must be replaced as described above.

전술한 바와 같은, 전기적 단락 문제는 히터(10)와 유사한 구조를 갖는 정전척에서도 거의 동일하게 발생되고 있는 실정이다.As described above, the electric short circuit problem is almost identically occurring in the electrostatic chuck having a structure similar to that of the heater 10.

또한, 히터(10)나 정전척을 반도체 제조 장비에 장착하는 과정에서, 커넥터(30)에는 다양한 물리적 힘이 가해지고 이로 인하여, 도전 패드(20)와 커넥터(30)가 물리적으로 단락되는 사고가 종종 발생하고 있다. 이러한 종래의 커넥터(30) 구조는 케이싱(40)이 커넥터(30)를 물리적으로 고정하지 않기 때문에 더더욱 이러한 문제점이 발생된다고 판단된다.In addition, in the process of mounting the heater 10 or the electrostatic chuck on the semiconductor manufacturing equipment, various physical forces are applied to the connector 30, thereby causing an accident in which the conductive pad 20 and the connector 30 are physically shorted. It often happens. This conventional connector 30 structure is further considered that this problem occurs because the casing 40 does not physically fix the connector 30.

현재 반도체 장치는 고집적 및 고성능을 추구하는 방향으로 개발되고 있고, 엘씨디와 같은 면광원 장치는 대형화를 추구하는 방향으로 개발되고 있어 반도체 장치와 면광원 장치의 가치는 급격히 상승하고 있다. 하지만 전술한 바와 같은 문제들로 인하여 고가의 반도체 장치 및 면광원 장치가 불량하게 가공되어 재처리되고 있어 이에 대한 대책 마련이 시급한 실정이다. Currently, semiconductor devices are being developed in the direction of high integration and high performance, and surface light source devices such as LCDs are being developed in the direction of larger size, and the value of semiconductor devices and surface light source devices is rapidly increasing. However, due to the problems described above, expensive semiconductor devices and surface light source devices are poorly processed and reprocessed, so it is urgent to prepare countermeasures.

본 발명은 전술한 바와 같은 문제점들을 해소하고자 안출된 것으로서 본 발명의 목적은, 전도성 부재와 전원 공급 유닛의 전기적 연결 신뢰성을 향상시킬 수 있는 히터를 제공하는 것이다.The present invention has been made to solve the problems described above, and an object of the present invention is to provide a heater capable of improving the electrical connection reliability of the conductive member and the power supply unit.

본 발명의 다른 목적은 전극과 전원 공급 유닛의 전기적 연결 신뢰성을 향상시킬 수 있는 정전척을 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide an electrostatic chuck which can improve the electrical connection reliability of the electrode and the power supply unit.

상술한 본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 히터는, 개구부가 형성된 절연 플레이트, 절연 플레이트 내에 내장되며 개구부를 통하여 부분적으로 노출되는 전도성 부재, 전도성 부재에 파워를 전달하기 위하여 개구부를 통하여 절연 플레이트 내부로 삽입되며 외주면에 가압부가 형성된 커넥터, 및 커넥터의 외주면에 끼워지고 가압부를 전도성 부재 방향으로 가압하여 커넥터를 전도성 부재에 밀착시키는 케이싱을 포함한다.In order to achieve the above object of the present invention, a heater according to a preferred embodiment of the present invention, an insulation plate formed with an opening, a conductive member embedded in the insulation plate and partially exposed through the opening, transmits power to the conductive member. The connector includes a connector inserted into the insulating plate through the opening and having a pressing portion formed on the outer circumferential surface thereof, and a casing fitted to the outer circumferential surface of the connector and pressing the pressing portion toward the conductive member to closely contact the connector to the conductive member.

이 경우, 개구부의 내면과 커넥터 사이, 개구부의 내면과 케이싱 사이 및 커넥터와 케이싱 사이에는 개구부 내부를 밀폐하는 제1 접착제가 더 형성될 수 있다. 커넥터가 노출되는 절연 플레이트의 일면에는 개구부를 밀폐하기 위한 제2 접착제가 더 형성될 수 있다. 개구부의 내면과 커넥터의 단부 사이에는 전도성 부재와 커넥터의 전기적 연결성을 향상시키기 위한 보조 전도성 부재를 더 형성될 수 있다.In this case, a first adhesive may be further formed between the inner surface of the opening and the connector, between the inner surface of the opening and the casing, and between the connector and the casing. A second adhesive for sealing the opening may be further formed on one surface of the insulating plate to which the connector is exposed. An auxiliary conductive member may be further formed between the inner surface of the opening and the end of the connector to improve the electrical connection between the conductive member and the connector.

상술한 본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 정전척은, 개구부가 형성된 척킹 플레이트, 척킹 플레이트 상부에 정전기장을 생성하기 위하여 척킹 플레이트 내에 내장되며 개구부를 통하여 부분적으로 노출되는 전극, 전극에 파워를 전달하기 위하여 개구부를 통하여 절연 플레이트 내부로 삽입되며 외주면에 가압부가 형성된 커넥터, 및 커넥터의 외주면에 끼워지고 가압부를 전극 방향으로 가압하여 커넥터를 전극에 밀착시키는 케이싱을 포함한다.In order to achieve the above object of the present invention, an electrostatic chuck according to an exemplary embodiment of the present invention includes a chucking plate in which an opening is formed, and is embedded in the chucking plate to generate an electrostatic field on the chucking plate and partially through the opening. The electrode is exposed, the connector is inserted into the insulating plate through the opening to deliver the power to the electrode, the connector is formed on the outer peripheral surface and the casing is fitted to the outer peripheral surface of the connector and press the pressing portion toward the electrode to close the connector to the electrode do.

본 발명에 따르면, 커넥터와 전도성 부재 또는 커넥터와 전극을 용이하게 전기적으로 연결시킬 수 있으며, 전기적 연결 신뢰성도 향상시킬 수 있다. 나아가 전도성 부재, 전극 및 커넥터의 산화 문제를 효과적으로 해소할 수 있다. 결과적으로는 우수한 반도체 장치 및 면광원 장치를 제조할 수 있다.According to the present invention, the connector and the conductive member or the connector and the electrode can be easily electrically connected, and the electrical connection reliability can be improved. Furthermore, the oxidation problem of the conductive member, the electrode and the connector can be effectively solved. As a result, excellent semiconductor devices and surface light source devices can be manufactured.

이하, 본 발명의 다양한 실시예들에 따른 히터 및 정전척에 대하여 상세하게 설명하지만, 본 발명이 하기의 실시예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구현될 수도 있다. 여기서 소개되는 실시예들은 개시된 내용이 보다 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상과 특징이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공된다. 도면들에 있어서, 각 장치 또는 막(층) 및 영역들의 두께는 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 과장되게 도시되었으며, 또한 각 장치는 본 명세서에서 설명되지 아니한 다양한 부가 장치들을 구비할 수 있다.Hereinafter, a heater and an electrostatic chuck according to various embodiments of the present invention will be described in detail, but the present invention is not limited to the following embodiments and may be implemented in other forms. The embodiments introduced herein are provided to make the disclosure more complete and to fully convey the spirit and features of the invention to those skilled in the art. In the drawings, the thickness of each device or film (layer) and regions has been exaggerated for clarity of the invention, and each device may have various additional devices not described herein.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 히터을 설명하기 위한 개략적인 단면도를 도시한 것이다. 2 is a schematic cross-sectional view for describing a heater according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 히터(100)는 웨이퍼나 엘씨디 패널과 같은 대상물을 가열하기 위한 장치로서, 절연 플레이트(110), 전도성 부재(115), 커넥터(130) 및 케이싱(140)을 포함한다.Referring to FIG. 2, the heater 100 is an apparatus for heating an object such as a wafer or an LCD panel, and includes an insulating plate 110, a conductive member 115, a connector 130, and a casing 140.

절연 플레이트(110)는 피 가열체가 배치되는 부재로서, 상기 피 가열체의 형 상에 대응하는 형상을 가질 수 있다. 예를 들어, 면광원 패널을 가열하기 위한 절연 플레이트(110)는 직육면체 형상을 가질 수 있고, 웨이퍼를 가열하기 위한 절연 플레이트(110)는 원반 형상을 가질 수 있다. The insulating plate 110 is a member in which the heating body is disposed, and may have a shape corresponding to the shape of the heating body. For example, the insulating plate 110 for heating the surface light source panel may have a rectangular parallelepiped shape, and the insulating plate 110 for heating the wafer may have a disk shape.

절연 플레이트(110)는 서포팅 부재(도시되지 않음) 상에 배치될 수 있다. 상기 서포팅 부재에 대하여 보다 자세하게 설명하면, 상기 서포팅 부재는 전체적으로 봉 형상을 가지며, 절연 플레이트(110)의 하부에 배치되어 절연 플레이트(110)가 기울어지지 않도록 지지하거나 절연 플레이트(110)를 수평방향으로 회전시킨다. 상기 서포팅 부재는 스테인레스 합금, 알루미늄 합금, 또는 동 합금으로 이루어질 수 있으며, 내부에는 절연 플레이트(110)를 냉각하기 위한 냉매 이송 통로가 형성될 수도 있다.The insulating plate 110 may be disposed on the supporting member (not shown). In more detail with respect to the supporting member, the supporting member has a rod shape as a whole and is disposed under the insulating plate 110 to support the insulating plate 110 so as not to be tilted or to support the insulating plate 110 in a horizontal direction. Rotate The supporting member may be made of a stainless alloy, an aluminum alloy, or a copper alloy, and a refrigerant transport passage for cooling the insulating plate 110 may be formed therein.

절연 플레이트(110)는 세라믹으로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 절연 플레이트(110)는 알루미나(Al2O3), 산화 이트륨(Y2O3), 알루미늄 나이트라이드(Aluminum Nitride) 등으로 이루어질 수 있다. 또한, 절연 플레이트(110)는 애노다이징(anodizing) 처리, 소결 처리 등으로 제조될 수 있다. 나아가, 절연 플레이트(110)의 상면에는 유전층(도시되지 않음)이 더 형성될 수도 있다.The insulation plate 110 may be made of ceramic. For example, the insulating plate 110 may be made of alumina (Al 2 O 3 ), yttrium oxide (Y 2 O 3 ), aluminum nitride, or the like. In addition, the insulating plate 110 may be manufactured by anodizing, sintering, or the like. In addition, a dielectric layer (not shown) may be further formed on the upper surface of the insulating plate 110.

절연 플레이트(110)의 하면에는 소정의 깊이로 개구부(112)가 형성된다. 개구부(112)는 전체적으로 원통형 홈 형상을 가지며, 내주면에는 나사산이 형성된다. 개구부(112)는 전도성 부재(115)가 매설된 깊이까지 형성되어 전도성 부재(115)를 부분적으로 노출시키게 된다. The opening 112 is formed at a predetermined depth on the lower surface of the insulating plate 110. The opening 112 has a cylindrical groove shape as a whole, and threads are formed on the inner circumferential surface thereof. The opening 112 is formed to a depth at which the conductive member 115 is embedded to partially expose the conductive member 115.

전도성 부재(115)는 발열 특성이 금속으로 이루어진다. 예를 들어, 전도성 부재(115)는 텅스텐, 티타늄, 로듐, 니오브, 이리듐, 레늄, 탄탈, 몰리브덴 또는 이들의 조합을 포함하는 금속으로 이루어질 수 있다.The conductive member 115 is made of a metal having a heat generating property. For example, the conductive member 115 may be made of a metal including tungsten, titanium, rhodium, niobium, iridium, rhenium, tantalum, molybdenum, or a combination thereof.

전도성 부재(115)는 다양한 형상을 가질 수 있다. 예를 들어, 전도성 부재(115)는 바 형상(bar type), 봉 형상(rod type), 링 형상(ring type), 원반 형상(disk type) 또는 메쉬 형상(mesh type)을 가질 수 있다.The conductive member 115 may have various shapes. For example, the conductive member 115 may have a bar type, a rod type, a ring type, a disk type, or a mesh type.

전도성 부재(115)는 절연 플레이트(110) 내에 다양하게 배치될 수 있다. 예를 들어, 전도성 부재(115)는 수평 방향 나란하게 배치되거나, 사행 구조(serpentine)로 굴곡지게 배치되거나, 수직 방향으로 적층되게 배치될 수 있다. 전도성 부재(115)는 절연 플레이트(110) 전면에 걸쳐서 균일한 열이 방출되도록 절연 플레이트(110) 내에 등간격으로 고루 배치되는 것이 바람직하다. The conductive member 115 may be variously disposed in the insulating plate 110. For example, the conductive members 115 may be arranged side by side in a horizontal direction, bent in a serpentine, or may be disposed in a vertical direction. The conductive member 115 is preferably disposed evenly at equal intervals in the insulating plate 110 so that uniform heat is emitted over the entire surface of the insulating plate 110.

전도성 부재(115)는 다양한 방법으로 절연 플레이트(110)에 형성될 수 있다. 예를 들어 전도성 부재(115)는 절연 플레이트(110)에 수용 홈을 형성한 다음 금속 분말을 고열, 고압으로 분사하여 형성하거나, 금속 메쉬를 스크린 프린팅하여 형성하거나, 마스크로 금속막을 패터닝하여 형성할 수 있다.The conductive member 115 may be formed on the insulating plate 110 in various ways. For example, the conductive member 115 may be formed by forming an accommodating groove in the insulating plate 110 and then spraying the metal powder at high temperature and high pressure, by screen printing the metal mesh, or by patterning the metal film with a mask. Can be.

전술한 바와 같은 전도성 부재(115)는 일차적으로는 절연 플레이트(110)를 가열하기 위한 발열체 용도로 이용된다. 그러나 전도성 부재(115)가 정전력을 생성하기 위한 전극, 또는 고주파를 생성하기 위한 전극 용도로도 이용될 수 있다. 보다 자세하게 설명하면, 발열체, 정전력 생성 전극, 고주파 생성 전극은 전도성 금속으로 이루어진다. 전도성 금속에 공급되는 파워의 종류에 따라서 상기 전도성 금 속이 발열체, 정전력 생성 전극 또는 고주파 생성 전극으로 이용될 수 있다. 즉, 절연 플레이트(110)에 전도성 부재(115)를 복수개 배치하고, 각각의 전도성 부재(115)에 서로 다른 파워를 공급할 경우, 전도성 부재(115)는 발열체, 정전력 생성 전극 및 고주파 생성 전극의 기능을 모두 수행할 수 있다. The conductive member 115 as described above is primarily used for a heating element for heating the insulating plate 110. However, the conductive member 115 may be used as an electrode for generating electrostatic force or an electrode for generating high frequency. In more detail, the heating element, the electrostatic force generating electrode, and the high frequency generating electrode are made of a conductive metal. Depending on the type of power supplied to the conductive metal, the conductive metal may be used as a heating element, a constant power generating electrode, or a high frequency generating electrode. That is, when a plurality of conductive members 115 are disposed on the insulating plate 110 and different power is supplied to each of the conductive members 115, the conductive members 115 may be formed of the heating element, the electrostatic force generating electrode, and the high frequency generating electrode. You can do all the functions.

개구부(112)의 저면과 전도성 부재(115) 사이에는 도전 패드(120)가 형성된다. 도전 패드(120)는 전도성 부재(115)와 전기적으로 연결된다. 도전 패드(120)는 전도성 부재(115)와의 접촉 저항이 적으며 전기 전도성 또한 우수한 금속으로 제조된다. 예를 들어, 도전 패드(120)는 금속 박판으로 형성되어 절연 플레이트(110)를 소결 시 전도성 부재(115)와 같이 절연 플레이트(110) 내부에 배치될 수 있다.The conductive pad 120 is formed between the bottom of the opening 112 and the conductive member 115. The conductive pad 120 is electrically connected to the conductive member 115. The conductive pad 120 is made of a metal having low contact resistance with the conductive member 115 and excellent electrical conductivity. For example, the conductive pad 120 may be formed of a thin metal plate to be disposed inside the insulating plate 110 together with the conductive member 115 when the insulating plate 110 is sintered.

도전 패드(120)는 전도성 부재(115)를 간접적으로 노출시키기 위하여 이용된다. 따라서 도전 패드(120)가 반드시 필요한 것은 아니며, 전도성 부재(115)는 개구부(112)를 통하여 직접적으로 노출될 수도 있음을 밝혀둔다.The conductive pad 120 is used to indirectly expose the conductive member 115. Accordingly, it is noted that the conductive pad 120 is not necessarily required, and the conductive member 115 may be directly exposed through the opening 112.

도전 패드(120)가 노출된 개구부(112)에는 커넥터(130)가 삽입된다. 커넥터(130)는 전체적으로 봉 형상을 가지며, 개구부(112)에 삽입되어 도전 패드(120)와 전기적으로 연결된다.The connector 130 is inserted into the opening 112 where the conductive pad 120 is exposed. The connector 130 has a rod shape as a whole, and is inserted into the opening 112 to be electrically connected to the conductive pad 120.

커넥터(130)는 전도성 부재(115)에 파워를 전달하기 위한 부재로서, 일단은 도전 패드(120)를 통하여 전도성 부재(115)와 전기적으로 연결되고 타단은 전원 공급 유닛(도시되지 않음)과 전기적으로 연결된다. The connector 130 is a member for transmitting power to the conductive member 115, one end of which is electrically connected to the conductive member 115 through the conductive pad 120, and the other end of which is electrically connected to the power supply unit (not shown). Is connected.

커넥터(130)가 전달하는 파워는 상기 전원 공급 유닛의 종류에 따라 달라진다. 예를 들어, 커넥터(130)에 일반적인 교류 전압 공급 유닛이 연결된 경우, 커넥 터(130)는 일반적인 교류 전압을 전달하게 되고, 커넥터(130)에 직류 척킹 전압 공급 유닛가 연결된 경우, 커넥터(130)는 직류 척킹 전압을 전달하게 된다. 또는, 커넥터(130)에 고주파 바이어스 전력 공급 유닛이 연결된 경우, 커넥터(130)는 고주파 바이어스 전력을 전달하게 된다.The power delivered by the connector 130 depends on the type of the power supply unit. For example, when a general AC voltage supply unit is connected to the connector 130, the connector 130 transmits a general AC voltage, and when the DC chucking voltage supply unit is connected to the connector 130, the connector 130 is It delivers a DC chucking voltage. Alternatively, when the high frequency bias power supply unit is connected to the connector 130, the connector 130 delivers the high frequency bias power.

커넥터(130)는 비교적 접촉 저항이 적으며 전기 전도성 또한 우수한 금속으로 제조된다. 예를 들어, 커넥터(130)는 금(Au), 은(Ag), 구리(Cu), 티타늄(Ti), 텅스텐(W) 니켈(Ni)또는 이들의 조합을 포함하는 금속으로 이루어질 수 있다. 개구부(112)에 삽입된 커넥터(130)의 외주면에는 가압부(135)가 형성된다.The connector 130 is made of a metal having a relatively low contact resistance and excellent electrical conductivity. For example, the connector 130 may be made of a metal including gold (Au), silver (Ag), copper (Cu), titanium (Ti), tungsten (W) nickel (Ni), or a combination thereof. The pressing unit 135 is formed on the outer circumferential surface of the connector 130 inserted into the opening 112.

가압부(135)는 커넥터(130)의 둘레로부터 돌출되게 형성되어, 커넥터(130)와 함께 개구부(112) 내부로 삽입된다. 가압부(135)는 개구부(112)에 삽입된 커넥터(130)의 끝단 또는 중간에 형성될 수 있다. 바람직하게, 가압부(135)는 개구부(112)에 삽입되어 전도성 부재(115)를 마주보는 커넥터(130)의 일단부 둘레를 따라 링 형상으로 형성된다. 이 경우, 가압부(135)가 형성된 커넥터(130)는 도 2에 도시된 바와 같이 'T'자 형 단면을 갖는다. 가압부(135)는 커넥터(130)와 실질적으로 동일한 재질로 이루어질 수 있다. The pressing unit 135 is formed to protrude from the circumference of the connector 130 and is inserted into the opening 112 together with the connector 130. The pressing unit 135 may be formed at the end or the middle of the connector 130 inserted into the opening 112. Preferably, the pressing portion 135 is inserted into the opening 112 and is formed in a ring shape around the one end of the connector 130 facing the conductive member 115. In this case, the connector 130 having the pressing portion 135 has a 'T' shaped cross section as shown in FIG. 2. The pressing unit 135 may be made of substantially the same material as the connector 130.

가압부(135)가 형성된 커넥터(130)의 외주면에는 케이싱(140)이 끼워진다. 케이싱(140)은 커넥터(130)와 함께 개구부(112) 내부로 삽입된다.The casing 140 is fitted to the outer circumferential surface of the connector 130 on which the pressing part 135 is formed. The casing 140 is inserted into the opening 112 together with the connector 130.

케이싱(140)은 전체적으로 원통형 틀 형상을 갖는다. 케이싱(140)의 외주면에는 개구부(112)의 내주면에 형성된 나사산과 대응되는 나사산이 형성된다. 케이싱(140)은 개구부(112)에 삽입되어 절연 플레이트(110)에 나사 결합된다. 케이싱 (140)은 절연 플레이트(110)와의 나사 체결 정도에 따라 개구부(112)로의 삽입 정도가 달라진다. 일정 깊이 이상 개구부(112)에 삽입된 케이싱(140)은 가압부(135)를 전도성 부재(115) 방향으로 가압하여 커넥터(130)를 도전 패드(120)에 밀착시킨다. The casing 140 has a cylindrical frame shape as a whole. The outer circumferential surface of the casing 140 is formed with a thread corresponding to the thread formed on the inner circumferential surface of the opening 112. The casing 140 is inserted into the opening 112 and screwed to the insulating plate 110. The degree of insertion of the casing 140 into the opening 112 varies depending on the degree of screwing with the insulating plate 110. The casing 140 inserted into the opening 112 at a predetermined depth or more presses the pressing unit 135 in the direction of the conductive member 115 to bring the connector 130 into close contact with the conductive pad 120.

개구부(112)의 내면과 커넥터(130) 사이, 개구부(112)의 내면과 케이싱(140) 사이 및 커넥터(130)와 케이싱(140) 사이는 접착제(150)가 형성된다. Adhesive 150 is formed between the inner surface of the opening 112 and the connector 130, between the inner surface of the opening 112 and the casing 140, and between the connector 130 and the casing 140.

접착제(150)는 은(Ag), 백금(Pt), 금(Au), 니켈(Ni) 또는 구리(Cu)를 포함하는 금속 물질 및 유기물 에폭시로 이루어질 수 있다. 바람직하게, 접착제(150)는 은(Ag) 또는 니켈(Ni)이 대부분을 이루는 금속 물질과 유기물 에폭시로 이루어진다. 이 경우, 접착제(150)는 금속 물질을 약 50% 이상 함유하는 것이 바람직하다.The adhesive 150 may be made of a metallic material and an organic epoxy including silver (Ag), platinum (Pt), gold (Au), nickel (Ni), or copper (Cu). Preferably, the adhesive 150 is made of a metallic material and an organic epoxy, which are mostly silver (Ag) or nickel (Ni). In this case, the adhesive 150 preferably contains about 50% or more of the metallic material.

접착제(150)는 약 100~200℃의 접착 온도를 갖는다. 상기 접착 온도는 용융 온도와는 다르다. 접착 온도는 접착제(150)가 접착 특성을 갖게 되는 온도를 의미하며, 용융 온도는 접착제(150)를 이루는 금속 물질이 모두 용융되는 온도를 의미한다. 예를 들어, 은(Ag)을 포함함하는 접착제(150)는 약 150℃에서 접착 특성을 갖게 되지만, 상기 접착제(150)의 용융점은 960℃이다.The adhesive 150 has an adhesive temperature of about 100 to 200 ° C. The adhesion temperature is different from the melting temperature. The adhesion temperature refers to a temperature at which the adhesive 150 has adhesive properties, and the melting temperature refers to a temperature at which all of the metal materials forming the adhesive 150 are melted. For example, the adhesive 150 containing silver (Ag) will have adhesive properties at about 150 ° C., but the melting point of the adhesive 150 is 960 ° C.

이와 같은 접착제(150)를 이용한 접착 공정은, 종래보다는 훨씬 낮은 약 300℃의 온도, 바람직하게는 약 100~200℃의 온도, 하에서 수행된다. 상기 300℃는 접착제(150)의 물성이 실질적으로 변하지 않는 온도이다. 따라서 히터(100)의 내부 스트레스 증가 등과 같은 물성 변화 등을 최소화시킬 수 있다. 나아가, 혹시 필요할 수도 있는 재 접합 공정을 수행할 시에도 다른 연결 부위의 단락 문제도 효과적 으로 해소할 수 있다.The bonding process using such an adhesive 150 is performed at a temperature of about 300 ° C., preferably at a temperature of about 100 ° C. to 200 ° C., which is much lower than that of the prior art. The 300 ° C is a temperature at which the physical properties of the adhesive 150 do not substantially change. Therefore, changes in physical properties such as an increase in internal stress of the heater 100 may be minimized. Furthermore, the shorting problem of other connection sites can be effectively solved when performing a rejoining process that may be necessary.

보다 발전적으로, 개구부(112)의 내면과 커넥터(130) 사이, 개구부(112)의 내면과 케이싱(140) 사이 및 커넥터(130)와 케이싱(140) 사이에 형성된 접착제(150)는 유기물 에폭시 수지를 휘발시키기 위하여 소정의 온도로 가열될 수도 있다. 예를 들어, 약 1시간 이상 약 150℃의 온도로 접착제(150)를 가열할 수 있다. More developmentally, the adhesive 150 formed between the inner surface of the opening 112 and the connector 130, between the inner surface of the opening 112 and the casing 140, and between the connector 130 and the casing 140 is an organic epoxy resin. It may be heated to a predetermined temperature to volatilize. For example, the adhesive 150 may be heated to a temperature of about 150 ° C. for at least about 1 hour.

접착제(150)는 커넥터(130)와 케이싱(140)을 개구부(112) 내에 고정시킨다. 커넥터(130)와 케이싱(140)은 접착제(150)에 의하여 접착제(150) 내에서의 유동이 제한된다. 따라서 상기 유동으로 인한 커넥터(130)와 전도성 부재(115)의 전기적 단락이 방지된다. The adhesive 150 fixes the connector 130 and the casing 140 in the opening 112. The connector 130 and the casing 140 are restricted in flow in the adhesive 150 by the adhesive 150. Therefore, an electrical short between the connector 130 and the conductive member 115 due to the flow is prevented.

또한, 접착제(150)는 커넥터(130)와 케이싱(140)이 삽입된 개구부(112) 내부를 밀폐한다. 개구부(112) 내부로의 공기 유출입이 제한되고, 전도성 부재(115), 도전 패드(120), 커넥터(130) 및 케이싱(140)의 산화가 억제된다. 따라서 상기 산화로 인한 커넥터(130)와 전도성 부재(115)의 전기적 단락이 방지된다.In addition, the adhesive 150 seals the inside of the opening 112 into which the connector 130 and the casing 140 are inserted. Air flow into and out of the opening 112 is restricted, and oxidation of the conductive member 115, the conductive pad 120, the connector 130, and the casing 140 is suppressed. Therefore, an electrical short between the connector 130 and the conductive member 115 due to the oxidation is prevented.

나아가, 접착제(150)는 커넥터(130)와 전도성 부재(115)를 전기적으로 연결한다. 이를 위하여 접착제(150)가 반드시 전영역에 걸쳐서 도전 특성을 가질 필요는 없다. 예를 들어, 접착제(150)는 개구부(112)의 내면과 커넥터(130) 사이에서만 부분적으로 도전 특성을 가질 수 있다. Furthermore, the adhesive 150 electrically connects the connector 130 and the conductive member 115. For this purpose, the adhesive 150 does not necessarily have conductive properties over the entire area. For example, the adhesive 150 may have conductive properties only partially between the inner surface of the opening 112 and the connector 130.

전술한 바와 같은 본 발명에 따르면, 커넥터(130)는 케이싱(140)에 의하여 전도성 부재(115) 방향으로 가압된다. 따라서 접착제(150)에 보이드(void)가 발생하거나, 접착제(150)의 일부가 이동하여도 커넥터(130)는 접착제(150)에 계속적으 로 밀착된다. 이 결과, 커넥터(130)와 전도성 부재(115)의 전기적 연결 상태는 실질적으로 일정하게 유지된다. 그리고 커넥터(130)와 전도성 부재(115)의 전기적 연결 상태는 접착제(150)에 의하여 보다 우수하게 유지된다. According to the present invention as described above, the connector 130 is pressed in the direction of the conductive member 115 by the casing 140. Therefore, even when a void occurs in the adhesive 150 or a part of the adhesive 150 moves, the connector 130 is continuously in close contact with the adhesive 150. As a result, the electrical connection between the connector 130 and the conductive member 115 is maintained substantially constant. In addition, the electrical connection between the connector 130 and the conductive member 115 is better maintained by the adhesive 150.

도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 히터을 설명하기 위한 개략적인 단면도를 도시한 것이다.3 is a schematic cross-sectional view for describing a heater according to another embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 실시예에 따른 히터(200)는 제2 접착제(260)를 제외하고는 도 2에 도시한 히터(100)와 실질적으로 동일하다. 따라서 본 실시예에서는 중복된 설명을 생략하기 위하여 도 2와 동일한 참조 번호에 대한 설명은 생략하지만 당업자라면 용이하게 이해할 수 있을 것이다.Referring to FIG. 3, the heater 200 according to the present exemplary embodiment is substantially the same as the heater 100 illustrated in FIG. 2 except for the second adhesive 260. Therefore, in the present embodiment, the description of the same reference numerals as in FIG. 2 will be omitted in order to omit duplicate description, but will be readily understood by those skilled in the art.

개구부(112)의 내면과 커넥터(130) 사이, 개구부(112)의 내면과 케이싱(140) 사이 및 커넥터(130)와 케이싱(140) 사이에 형성된 접착제(150, 이하 '제1 접착제'라고 한다)는 개구부(112) 내의 빈 공간을 메운다. 개구부(112)는 제1 접착제(150)에 의하여 1차적으로 밀폐되지만, 제2 접착제(260)에 의하여 2차적으로도 밀폐된다.Adhesive 150 formed between the inner surface of the opening 112 and the connector 130, between the inner surface of the opening 112 and the casing 140, and between the connector 130 and the casing 140 is hereinafter referred to as 'first adhesive'. ) Fills the empty space in the opening 112. The opening 112 is primarily sealed by the first adhesive 150, but is also secondarily sealed by the second adhesive 260.

제2 접착제(260)는 커넥터(130)가 노출되는 절연 플레이트(110)의 일면 상에 커넥터(130)의 둘레를 따라서 형성되어 개구부(112)를 밀폐한다. 이 경우, 제2 접착제(260)는 개구부(112) 외부로 노출되는 케이싱(140)까지 둘러싸도록 형성된다. 제2 접착제(260)는 개구부(112)의 둘레를 밀폐하여 개구부(112) 내로의 공기 유출입을 보다 견고하게 차폐한다.The second adhesive 260 is formed along the circumference of the connector 130 on one surface of the insulating plate 110 to which the connector 130 is exposed to seal the opening 112. In this case, the second adhesive 260 is formed to surround the casing 140 exposed to the outside of the opening 112. The second adhesive 260 seals the periphery of the opening 112 to more firmly shield the air inflow into the opening 112.

제2 접착제(260)는 절연 플레이트(110)외부에서 개구부(112)를 밀폐하여 개 구부(112) 내로 공기의 유출입을 원천적으로 차폐할 뿐만 아니라, 개구부(112)에 삽입된 커넥터(130)를 보다 견고하게 고정한다. 제2 접착제(260)는 절연 플레이트(110)와 커넥터(130)의 연결부위에 형성됨으로써, 절연 플레이트(110)와 커넥터(130)의 결합력을 증대시킨다. 따라서 커넥터(130)에 반복적인 하중이 부가되더라도 커넥터(130)는 제2 접착제(260)에 의하여 유동이 제한받게 된다. 당연히, 커넥터(130)의 유동으로 인한 개구부(112) 내로 공기의 유출입이 보다 효과적으로 억제된다. The second adhesive 260 seals the opening 112 outside the insulating plate 110 to shield the inflow and outflow of air into the opening 112, as well as the connector 130 inserted into the opening 112. Fix more firmly. The second adhesive 260 is formed at the connection portion between the insulating plate 110 and the connector 130, thereby increasing the bonding force between the insulating plate 110 and the connector 130. Therefore, even when a repetitive load is applied to the connector 130, the flow of the connector 130 is limited by the second adhesive 260. Naturally, the inflow and outflow of air into the opening 112 due to the flow of the connector 130 is more effectively suppressed.

제2 접착제(260)는 이산화 실리콘(SiO2), 이산화 티타늄(TiO2) 또는 알루미나(Al2O3)로 이루어진 세라믹 물질과 유기물 에폭시 수지로 이루어질 수 있다. 이 경우, 제2 접착제(260)는 세라믹 물질을 약 50% 이상 함유하는 것이 바람직하다. 제2 접착제(260)는 제1 접착제(150)와 같이 부분적으로라도 도전 특성을 갖지 않아도 된다. 그렇다고 하여 제2 접착제(260)가 반드시 비 전도성 물질로 이루어져야하는 것은 아니며, 경우에 따라서는 전도성 물질로 이루어질 수도 있음을 밝혀둔다.The second adhesive 260 may be made of a ceramic material made of silicon dioxide (SiO 2 ), titanium dioxide (TiO 2 ) or alumina (Al 2 O 3 ) and an organic epoxy resin. In this case, the second adhesive 260 preferably contains about 50% or more of the ceramic material. The second adhesive 260 does not have to have a conductive property even partially, like the first adhesive 150. This does not necessarily mean that the second adhesive 260 is made of a non-conductive material, and may be made of a conductive material in some cases.

세라믹 물질이 대부분으로 이루어진 제2 접착제(260)는 약 1500℃의 용융점을 갖는다. 제2 접착제(260)는 약 600℃ ,바람직하게는 약 100~200℃,의 접착 온도를 갖는다. 상기 600℃는 제2 접착제(260)의 물성이 실질적으로 변하지 않는 온도이다. 따라서 제2 접착제(260)는 고온의 분위기에 노출되어도 안정적인 접합 및 실링 성능을 유지할 수 있다. 따라서 커넥터(130), 케이싱(140), 전도성 부재(115) 및 도전 패드(120)의 산화 문제를 보다 효과적으로 억제할 수 있다. The second adhesive 260, which consists mostly of ceramic material, has a melting point of about 1500 ° C. The second adhesive 260 has an adhesion temperature of about 600 ° C, preferably about 100 to 200 ° C. The temperature at 600 ° C. is a temperature at which the physical properties of the second adhesive 260 do not substantially change. Accordingly, the second adhesive 260 may maintain stable bonding and sealing performance even when exposed to a high temperature atmosphere. Accordingly, the oxidation problem of the connector 130, the casing 140, the conductive member 115, and the conductive pad 120 may be more effectively suppressed.

보다 발전적으로, 제2 접착제(260)는 유기물 에폭시 수지를 휘발시키기 위하여 소정의 온도로 가열될 수도 있다. 예를 들어, 약 2~3시간 동안 약 150℃의 온도로 제2 접착제(260)를 가열할 수 있다. In further development, the second adhesive 260 may be heated to a predetermined temperature to volatilize the organic epoxy resin. For example, the second adhesive 260 may be heated to a temperature of about 150 ° C. for about 2 to 3 hours.

전술한 바와 같은 본 발명에 따르면, 제1 및 제2 접착제(150,260)를 이용하여 개구부(112) 내부를 밀폐함으로써 전도성 부재(115), 도전 패드(120), 커넥터(130) 및 케이싱(140)의 산화를 효과적으로 억제할 수 있다. 이 결과 커넥터(130)와 전도성 부재(115)의 전기적 연결 신뢰성은 보다 향상된다. According to the present invention as described above, the conductive member 115, the conductive pad 120, the connector 130 and the casing 140 by sealing the inside of the opening 112 using the first and second adhesive (150,260). Oxidation can be effectively suppressed. As a result, the electrical connection reliability of the connector 130 and the conductive member 115 is further improved.

도 4는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 히터을 설명하기 위한 개략적인 단면도를 도시한 것이다.Figure 4 shows a schematic cross-sectional view for explaining a heater according to another embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 본 실시예에 따른 히터(300)는 제1 접착제(150)를 제외하고는 도 3에 도시한 히터(200)와 실질적으로 동일하다. 따라서 본 실시예에서는 중복된 설명을 생략하기 위하여 도 3과 동일한 참조 번호에 대한 설명은 생략하지만 당업자라면 용이하게 이해할 수 있을 것이다.Referring to FIG. 4, the heater 300 according to the present exemplary embodiment is substantially the same as the heater 200 illustrated in FIG. 3 except for the first adhesive 150. Therefore, in the present embodiment, the description of the same reference numerals as in FIG. 3 will be omitted in order to omit duplicate description, but will be readily understood by those skilled in the art.

절연 플레이트(110)의 하면에는 소정의 깊이로 개구부(112)가 형성된다. 개구부(112)의 내주면에는 나사산이 형성된다. 개구부(112)는 도전 패드(120)가 매설된 깊이까지 형성되어 전도성 부재(115)를 간접적으로 노출시킨다. The opening 112 is formed at a predetermined depth on the lower surface of the insulating plate 110. Threads are formed on the inner circumferential surface of the opening 112. The opening 112 is formed to a depth where the conductive pad 120 is embedded to indirectly expose the conductive member 115.

커넥터(130)는 개구부(112)에 삽입되어 도전 패드(120)와 전기적으로 연결된다. 개구부(112)에 삽입된 커넥터(130)의 외주면에는 가압부(135)가 형성된다.The connector 130 is inserted into the opening 112 and electrically connected to the conductive pad 120. The pressing unit 135 is formed on the outer circumferential surface of the connector 130 inserted into the opening 112.

가압부(135)가 형성된 커넥터(130)의 외주면에는 케이싱(140)이 끼워진다. 케이싱(140)은 커넥터(130)와 함께 개구부(112) 내부로 삽입된다.The casing 140 is fitted to the outer circumferential surface of the connector 130 on which the pressing part 135 is formed. The casing 140 is inserted into the opening 112 together with the connector 130.

케이싱(140)은 개구부(112)를 통해 절연 플레이트(110)에 나사 결합된다. 케이싱(140)은 가압부(135)를 전도성 부재(115) 방향으로 가압하여 커넥터(130)를 도전 패드(120)에 밀착시킨다. 이 경우, 커넥터(130)는 도전 패드(120)와 직접적으로 연결된다. The casing 140 is screwed to the insulating plate 110 through the opening 112. The casing 140 presses the pressing unit 135 in the direction of the conductive member 115 to bring the connector 130 into close contact with the conductive pad 120. In this case, the connector 130 is directly connected to the conductive pad 120.

커넥터(130)가 도 3에 도시한 바와 같은 제1 접착제(150)의 매개 없이 도전 패드(120)에 직접적으로 연결되어도, 커넥터(130)와 전도성 부재(115)의 전기적 연결 신뢰성은 실질적으로 변하지 않는다. 이는, 커넥터(130)가 케이싱(140)에 의하여 전도성 부재(115) 방향으로 계속 가압되고 있기 때문이다. Although the connector 130 is directly connected to the conductive pad 120 without the first adhesive 150 as shown in FIG. 3, the electrical connection reliability of the connector 130 and the conductive member 115 does not substantially change. Do not. This is because the connector 130 is continuously pressed toward the conductive member 115 by the casing 140.

커넥터(130)가 노출되는 절연 플레이트(110)의 일면 상에는 커넥터(130)의 둘레를 따라 제2 접착제(260)가 형성된다. 이 경우, 제2 접착제(260)는 개구부(112) 외부로 노출되는 케이싱(140)까지 둘러싸도록 형성된다. 제2 접착제(260)는 개구부(112)의 둘레를 밀폐하여 개구부(112) 내로의 공기 유출입을 견고하게 차폐한다.The second adhesive 260 is formed along the circumference of the connector 130 on one surface of the insulating plate 110 through which the connector 130 is exposed. In this case, the second adhesive 260 is formed to surround the casing 140 exposed to the outside of the opening 112. The second adhesive 260 seals the periphery of the opening 112 to tightly shield the air inflow into the opening 112.

제2 접착제(260)는 개구부(112) 내로 공기의 유출입을 차폐할 뿐만 아니라, 개구부(112)에 삽입된 커넥터(130)의 유동까지 억제한다. 제2 접착제(260)는 절연 플레이트(110)와 커넥터(130)의 연결부위에 형성됨으로써, 절연 플레이트(110)와 커넥터(130)의 결합력을 증대시킨다. 따라서 커넥터(130)에 반복적인 하중이 부가되더라도 커넥터(130)는 제2 접착제(260)에 의하여 유동이 제한받게 된다.The second adhesive 260 not only shields the inflow and outflow of air into the opening 112, but also suppresses the flow of the connector 130 inserted into the opening 112. The second adhesive 260 is formed at the connection portion between the insulating plate 110 and the connector 130, thereby increasing the bonding force between the insulating plate 110 and the connector 130. Therefore, even when a repetitive load is applied to the connector 130, the flow of the connector 130 is limited by the second adhesive 260.

본 실시예에 따른 히터(300)는, 제2 접착제(260)에 의하여 개구부(112) 내부로의 공기 유출입이 제한된다. 개구부(112)의 내면과 커넥터(130) 사이, 개구부 (112)의 내면과 케이싱(140) 사이 및 커넥터(130)와 케이싱(140) 사이에 존재하는 공기의 양은 상대적으로 미약하다. 또한, 제2 접착제(260)를 형성하기까지의 히터(300) 제조 공정을 진공 상태가 유지되는 청정 환경에서 수행할 경우, 개구부(112)에 존재하는 공기의 양은 극소량에 불과하다. 따라서 개구부(112)의 내면과 커넥터(130) 사이, 개구부(112)의 내면과 케이싱(140) 사이 및 커넥터(130)와 케이싱(140) 사이에 제1 접착제(150)를 형성하지 않더라도 제2 접착제(260)를 이용하여 커넥터(130), 케이싱(140), 전도성 부재(115) 및 도전 패드(120)의 산화를 효과적으로 억제할 수 있다.In the heater 300 according to the present exemplary embodiment, air flow into and out of the opening 112 is restricted by the second adhesive 260. The amount of air present between the inner surface of the opening 112 and the connector 130, between the inner surface of the opening 112 and the casing 140, and between the connector 130 and the casing 140 is relatively small. In addition, when the manufacturing process of the heater 300 until forming the second adhesive 260 is performed in a clean environment in which the vacuum state is maintained, the amount of air existing in the opening 112 is only a very small amount. Therefore, even if the first adhesive 150 is not formed between the inner surface of the opening 112 and the connector 130, between the inner surface of the opening 112 and the casing 140, and between the connector 130 and the casing 140, the second adhesive 150 is not formed. The adhesive 260 may be used to effectively suppress oxidation of the connector 130, the casing 140, the conductive member 115, and the conductive pad 120.

도 5는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 히터를 설명하기 위한 개략적인 단면도를 도시한 것이다.5 is a schematic cross-sectional view for describing a heater according to another embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 본 실시예에 따른 히터(400)는 보조 전도성 부재(425)를 제외하고는 도 3에 도시한 히터(200)와 실질적으로 동일하다. 따라서 본 실시예에서는 중복된 설명을 생략하기 위하여 도 3과 동일한 참조 번호에 대한 설명은 생략하지만 당업자라면 용이하게 이해할 수 있을 것이다.Referring to FIG. 5, the heater 400 according to the present exemplary embodiment is substantially the same as the heater 200 illustrated in FIG. 3 except for the auxiliary conductive member 425. Therefore, in the present embodiment, the description of the same reference numerals as in FIG. 3 will be omitted in order to omit duplicate description, but will be readily understood by those skilled in the art.

개구부(112)의 내면과 커넥터(130) 사이, 개구부(112)의 내면과 케이싱(140) 사이 및 커넥터(130)와 케이싱(140) 사이는 제1 접착제(150)가 형성된다. 개구부(112) 내면과 커넥터(130) 단부 사이의 제1 접착제(150)에는 보조 전도성 부재(425)가 개재된다. A first adhesive 150 is formed between the inner surface of the opening 112 and the connector 130, between the inner surface of the opening 112 and the casing 140, and between the connector 130 and the casing 140. An auxiliary conductive member 425 is interposed in the first adhesive 150 between the inner surface of the opening 112 and the end of the connector 130.

보조 전도성 부재(425)는 커넥터(130)와 전도성 부재(115)와 전기적으로 연결성을 향상시키기 위하여 이용된다. 보조 전도성 부재(425)는 금속으로 이루어진 다. 예를 들어, 보조 전도성 부재(425)는 철, 코발트, 니켈. 텅스텐, 티타늄, 로듐, 니오브, 이리듐, 레늄, 탄탈, 몰리브덴 또는 이들의 조합을 포함하는 금속으로 이루어질 수 있다.The auxiliary conductive member 425 is used to improve the electrical connection with the connector 130 and the conductive member 115. The auxiliary conductive member 425 is made of metal. For example, the auxiliary conductive member 425 is iron, cobalt, nickel. Metal, including tungsten, titanium, rhodium, niobium, iridium, rhenium, tantalum, molybdenum or combinations thereof.

보조 전도성 부재(425)는 다양항 형상을 가질 수 있으며, 다양하게 배치될 수 있다. 예를 들어, 보조 전도성 부재(425)는 바 형상(bar type), 봉 형상(rod type), 링 형상(ring type), 원반 형상(disk type) 또는 메쉬 형상(mesh type)을 가질 수 있다. 또한, 보조 전도성 부재(425)는 코일 형상으로 배치되거나, 사행 구조(serpentine)로 굴곡지게 배치되거나, 수평방향으로 나란하게 배치되거나, 수직방향으로 적층되게 배치될 수 있다. The auxiliary conductive member 425 may have various shapes and may be variously disposed. For example, the auxiliary conductive member 425 may have a bar type, a rod type, a ring type, a disk type, or a mesh type. In addition, the auxiliary conductive member 425 may be disposed in a coil shape, bent in a meandering structure (serpentine), side by side in a horizontal direction, or may be disposed in a vertical direction.

보조 전도성 부재(425)는 도전 패드(120)와 전도성 부재(115) 간의 전류 이동을 도와 도전 패드(120)와 전도성 부재(115)와 전기적으로 연결성을 향상시킨다. 또한, 보조 전도성 부재(425)는 개구부(112) 내에서의 서로 다른 열팽창으로 인한 문제를 완충시키는 기능도 수행한다. 나아가 보조 전도성 부재(425)는 제1 접착제(150)의 응집력도 향상시키게 된다. 결과적으로, 보조 전도성 부재(425)는 커넥터(130)와 전도성 부재(115)와 전기적 연결성을 보다 향상시킨다. The auxiliary conductive member 425 may improve current connectivity between the conductive pad 120 and the conductive member 115 by assisting current movement between the conductive pad 120 and the conductive member 115. In addition, the auxiliary conductive member 425 also serves to cushion problems caused by different thermal expansions in the opening 112. Furthermore, the auxiliary conductive member 425 also improves the cohesive force of the first adhesive 150. As a result, the auxiliary conductive member 425 further improves electrical connectivity with the connector 130 and the conductive member 115.

본 실시예에서는, 개구부(112)의 내면과 커넥터(130) 사이의 개재된 제1 접착제(150)에 보조 전도성 부재(425)가 배치된 경우에 대하여 설명하였지만, 제1 접착제(150)가 없는 경우에도 보조 전도성 부재(425)를 개구부(112)의 내면과 커넥터(130) 단부 사이에 직접적으로 배치할 수도 있다. 즉, 도 4에 도시된 히터(300)에 보조 전도성 부재(425)가 배치될 수도 있다. In the present embodiment, a case in which the auxiliary conductive member 425 is disposed on the interposed first adhesive 150 between the inner surface of the opening 112 and the connector 130 has been described. However, the first adhesive 150 is not present. In this case, the auxiliary conductive member 425 may be disposed directly between the inner surface of the opening 112 and the end of the connector 130. That is, the auxiliary conductive member 425 may be disposed in the heater 300 shown in FIG. 4.

전술한 바와 같은 본 발명의 다양한 실시예들에 따르면, 일차로 케이싱(140)을 이용하여 커넥터(130)를 전도성 부재(115) 방향으로 밀착시킴으로써, 커넥터(130)와 전도성 부재(115)의 전기적 연결성을 향상시킬 수 있다. 또한 제1 및 제2 접착제들(150,260)중 적어도 하나의 접착제를 이용하여 개구부(112)를 밀폐함으로써 커넥터(130), 케이싱(140), 전도성 부재(115) 및 도전 패드(120)가 산화되는 것을 효과적으로 억제할 수 있다. 나아가, 보조 전도성 부재(425)를 이용하여 커넥터(130)와 전도성 부재(115)의 전기적 연결성을 극대화 시킬 수 도 있다. 이 결과, 커넥터(130)와 전도성 부재(115)의 전기적 연결성이 향상되어 반도체 기판 또는 엘씨디 패널과 같은 대상물들을 우수하게 가공할 수 있다. According to various embodiments of the present invention as described above, by first contact the connector 130 in the direction of the conductive member 115 using the casing 140, the electrical connection of the connector 130 and the conductive member 115 Improved connectivity In addition, the connector 130, the casing 140, the conductive member 115, and the conductive pad 120 are oxidized by sealing the opening 112 using at least one of the first and second adhesives 150 and 260. Can be suppressed effectively. In addition, the electrical connection between the connector 130 and the conductive member 115 may be maximized using the auxiliary conductive member 425. As a result, the electrical connection between the connector 130 and the conductive member 115 is improved, so that objects such as a semiconductor substrate or an LCD panel can be excellently processed.

본 발명은 히터(100,200,300,400) 뿐만 아니라, 정전척에도 실질적으로 동일하게 적용될 수 있다. The present invention can be applied to the heaters 100, 200, 300, and 400 as well as to the electrostatic chuck substantially the same.

도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 정전척을 설명하기 위한 개략적인 단면도를 도시한 것이다.6 is a schematic cross-sectional view for describing an electrostatic chuck according to another embodiment of the present invention.

도 6을 참조하면, 정전척(500)은 웨이퍼와 같은 반도체 기판을 고정하기 위한 장치로서, 척킹 플레이트(510), 전극(515), 커넥터(130) 및 케이싱(140)을 포함한다. Referring to FIG. 6, the electrostatic chuck 500 is an apparatus for fixing a semiconductor substrate such as a wafer and includes a chucking plate 510, an electrode 515, a connector 130, and a casing 140.

척킹 플레이트(510)는 반도체 기판과 직접 접촉하는 부재로서, 절연 및 유전 특성이 우수한 재질로 이루어진다. 예를 들어, 척킹 플레이트(510)는 유전막이 형성된 세라믹 플레이트로 이루어질 수 있다. The chucking plate 510 is a member in direct contact with the semiconductor substrate and is made of a material having excellent insulation and dielectric properties. For example, the chucking plate 510 may be formed of a ceramic plate on which a dielectric film is formed.

척킹 플레이트(510)의 하면에는 소정의 깊이로 개구부(512)가 형성된다. 개 구부(512)는 이하 설명될 전극(515)을 부분적으로 노출시켜 커넥터(530)와 연결시키기 위하여 이용된다. The lower surface of the chucking plate 510 is formed with an opening 512 to a predetermined depth. The opening 512 is used to connect the connector 530 by partially exposing the electrode 515 to be described below.

전극(515)은 도전 특성이 우수한 금속으로 이루어진다. 예를 들어, 전극(515)은 텅스텐, 티타늄, 로듐, 니오브, 이리듐, 레늄, 탄탈, 몰리브덴 또는 이들의 조합을 포함하는 금속으로 이루어질 수 있다.The electrode 515 is made of a metal having excellent conductive characteristics. For example, the electrode 515 may be made of a metal including tungsten, titanium, rhodium, niobium, iridium, rhenium, tantalum, molybdenum, or a combination thereof.

전극(515)은 다양한 형상을 가질 수 있다. 예를 들어, 전극(515)은 코일 형상(coil type), 봉 형상(rod type), 링 형상(ring type), 메쉬 형상(mesh type) 또는 원반 형상(disk type)을 가질 수 있다. The electrode 515 may have various shapes. For example, the electrode 515 may have a coil shape, a rod type, a ring type, a mesh type, or a disk type.

전극(515)의 하부에는 전극(515)과 전기적으로 연결된 도전 패드(520)가 형성된다. 도전 패드(520)는 전극(515)을 간접적으로 노출시킨다. 그러나 본 발명에서 도전 패드(520)가 반드시 필요한 것은 아니며, 전극(515)이 개구부(512)를 통하여 바로 직접적으로 노출될 수도 있음을 밝혀둔다. 개구부(512)에는 커넥터(530)가 삽입된다.A conductive pad 520 electrically connected to the electrode 515 is formed under the electrode 515. The conductive pad 520 indirectly exposes the electrode 515. However, it is noted that the conductive pad 520 is not necessarily required in the present invention, and the electrode 515 may be directly exposed through the opening 512. The connector 530 is inserted into the opening 512.

커넥터(530)의 외주면에는 가압부(535)가 형성된다. 가압부(535)는 커넥터(530)의 둘레로부터 돌출되게 형성되어, 커넥터(530)와 함께 개구부(512) 내부로 삽입된다. 가압부(535)는 개구부(512)에 삽입된 커넥터(530)의 끝단 또는 중간에 형성될 수 있다. 바람직하게, 가압부(535)는 개구부(512)에 삽입되어 전도성 부재(515)를 마주보는 커넥터(530)의 일단부 둘레를 따라 링 형상으로 형성된다. The pressing portion 535 is formed on the outer circumferential surface of the connector 530. The pressing part 535 is formed to protrude from the circumference of the connector 530, and is inserted into the opening 512 together with the connector 530. The pressing unit 535 may be formed at the end or the middle of the connector 530 inserted into the opening 512. Preferably, the pressing portion 535 is inserted into the opening 512 is formed in a ring shape around the one end of the connector 530 facing the conductive member 515.

커넥터(530)의 외주면에는 케이싱(540)이 끼워진다. 케이싱(540)은 커넥터(530)의 가압부(535)에 밀착되어 커넥터(530)를 전극(515) 방향으로 가압한다. A casing 540 is fitted to the outer circumferential surface of the connector 530. The casing 540 is in close contact with the pressing portion 535 of the connector 530 to press the connector 530 toward the electrode 515.

개구부(512)의 내면과 커넥터(530) 사이, 개구부(512)의 내면과 케이싱(540) 사이 및 커넥터(530)와 케이싱(540) 사이는 제1 접착제(550)가 형성된다. A first adhesive 550 is formed between the inner surface of the opening 512 and the connector 530, between the inner surface of the opening 512 and the casing 540, and between the connector 530 and the casing 540.

보조 전도성 부재(525)는 커넥터(530)와 전극(515)의 전기적 연결성을 향상시키기 위하여 이용된다. 보조 전도성 부재(525)는 금속으로 이루어진다. 예를 들어, 보조 전도성 부재(525)는 철, 코발트, 니켈, 텅스텐, 티타늄, 로듐, 니오브, 이리듐, 레늄, 탄탈, 몰리브덴 또는 이들의 조합을 포함하는 금속으로 이루어질 수 있다.The auxiliary conductive member 525 is used to improve the electrical connection between the connector 530 and the electrode 515. The auxiliary conductive member 525 is made of metal. For example, the auxiliary conductive member 525 may be made of a metal including iron, cobalt, nickel, tungsten, titanium, rhodium, niobium, iridium, rhenium, tantalum, molybdenum, or a combination thereof.

개구부(512)에 삽입된 커넥터(530)에는 전원 공급 유닛(도시되지 않음)이 연결된다. 커넥터(530)는 상기 전원 공급 유닛으로부터 파워를 제공받아 도전 패드(520)로 전달하고, 도전 패드(520)는 상기 파워를 전극(515)에 전달한다. 상기 전원 공급 유닛은 직류 척킹 전압 공급 유닛 또는 고주파 바이어스 전력 공급 유닛일 수 있다. A power supply unit (not shown) is connected to the connector 530 inserted into the opening 512. The connector 530 receives power from the power supply unit and transfers the power to the conductive pad 520, and the conductive pad 520 transfers the power to the electrode 515. The power supply unit may be a direct current chucking voltage supply unit or a high frequency bias power supply unit.

제2 접착제(560)는 커넥터(530)가 노출되는 척킹 플레이트(510)의 일면 상에 커넥터(530)의 둘레를 따라서 형성된다. 제2 접착제(560)는 개구부(512)의 둘레를 밀폐하여 개구부(512) 내로의 공기 유출입을 보다 견고하게 차폐한다.The second adhesive 560 is formed along the circumference of the connector 530 on one surface of the chucking plate 510 to which the connector 530 is exposed. The second adhesive 560 seals the periphery of the opening 512 to more tightly shield the air inflow into the opening 512.

전술한 바와 같은 본 실시예에 따르면, 커넥터(530)를 전극(515) 방향으로 가압하고, 개구부(512) 내부로의 공기 유출입을 제한함으로써 커넥터(530)와 전극(515)의 전기적 연결 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 따라서 척킹 플레이트(510) 상에 배치되는 반도체 기판을 우수하게 척킹할 수 있다. 도면으로 도시하지는 않았지만, 본 실시예에 따른 척킹 플레이트(510)와 커넥터(530)의 연결 구조는, 도 2 내지 도 4에 도시한 절연 플레이트와 커넥터의 연결 구조와 같이 변경될 수 있음을 밝혀둔다. 이에 대한 설명은 생략하지만, 당업자라면 도 2 및 도 4의 설명으로서 이를 용이하게 이해할 수 있을 것이다. According to the present embodiment as described above, the electrical connection reliability of the connector 530 and the electrode 515 is improved by pressing the connector 530 toward the electrode 515 and restricting the air inflow into the opening 512. Can be improved. Therefore, the semiconductor substrate disposed on the chucking plate 510 can be chucked excellently. Although not shown in the drawings, the connection structure of the chucking plate 510 and the connector 530 according to the present embodiment, it will be understood that can be changed as the connection structure of the insulating plate and the connector shown in Figs. . A description thereof will be omitted, but those skilled in the art will readily understand the description of FIGS. 2 and 4.

상기와 같은 본 발명에 따르면, 커넥터는 플레이트 방향으로 물리적인 힘을 받고, 커넥터와 전도성 부재의 연결 부위는 외부 환경으로부터 완벽하게 밀폐된다. 따라서 커넥터와 전도성 부재, 커넥터와 전극의 전기적 연결 신뢰성은 향상되고, 히터 및 정전척에 파워를 안정적으로 공급할 수 있다. 즉, 히터를 이용한 가열 공정 및 정전척을 이용한 반도체 기판 가공 공정을 효과적으로 수행할 수 있다. 최종적으로는 우수한 반도체 장치 및 면광원 등을 제조할 수 있다. According to the present invention as described above, the connector is subjected to a physical force in the plate direction, the connecting portion of the connector and the conductive member is completely sealed from the external environment. Therefore, the electrical connection reliability of the connector and the conductive member, the connector and the electrode is improved, and power can be stably supplied to the heater and the electrostatic chuck. That is, the heating process using the heater and the semiconductor substrate processing process using the electrostatic chuck can be effectively performed. Finally, an excellent semiconductor device, a surface light source, and the like can be manufactured.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although described above with reference to a preferred embodiment of the present invention, those skilled in the art will be variously modified and changed within the scope of the invention without departing from the spirit and scope of the invention described in the claims below I can understand that you can.

Claims (14)

개구부가 형성된 절연 플레이트;An insulating plate having an opening formed therein; 상기 절연 플레이트 내에 내장되며, 상기 개구부를 통하여 부분적으로 노출되는 전도성 부재;A conductive member embedded in the insulating plate and partially exposed through the opening; 상기 전도성 부재에 파워를 전달하기 위하여 상기 개구부를 통하여 상기 절연 플레이트 내부로 삽입되며, 외주면에 가압부가 형성된 커넥터; 및 A connector inserted into the insulating plate through the opening to transmit power to the conductive member and having a pressing portion formed on an outer circumferential surface thereof; And 상기 커넥터의 외주면에 끼워지고, 상기 가압부를 상기 전도성 부재 방향으로 가압하여 상기 커넥터를 상기 전도성 부재에 밀착시키는 케이싱을 구비하는 것을 특징으로 하는 히터.And a casing fitted to an outer circumferential surface of the connector and pressurizing the pressing portion toward the conductive member to bring the connector into close contact with the conductive member. 제 1 항에 있어서, 상기 개구부의 내면과 상기 커넥터 사이, 상기 개구부의 내면과 상기 케이싱 사이 및 상기 커넥터와 상기 케이싱 사이에 형성되어 상기 개구부 내부를 밀폐하는 접착제를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 히터. The heater according to claim 1, further comprising an adhesive formed between the inner surface of the opening and the connector, between the inner surface of the opening and the casing, and between the connector and the casing to seal the inside of the opening. 제 2 항에 있어서, 상기 접착제는, 은(Ag), 백금(Pt), 금(Au), 니켈(Ni) 및 구리(Cu)로 이루어진 그룹 중에서 선택된 적어도 하나의 금속 물질과 유기물 에폭시 수지를 포함하는 것을 특징으로 하는 히터. 3. The organic adhesive of claim 2, wherein the adhesive comprises at least one metal material selected from the group consisting of silver (Ag), platinum (Pt), gold (Au), nickel (Ni), and copper (Cu) and an organic epoxy resin. Heater characterized in that. 제 1 항에 있어서, 상기 커넥터가 노출되는 상기 절연 플레이트의 일면에 형 성되어 상기 개구부를 밀폐하는 접착제를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 히터.The heater of claim 1, further comprising an adhesive formed on one surface of the insulating plate to which the connector is exposed to seal the opening. 제 4 항에 있어서, 상기 접착제는, 이산화 실리콘(SiO2), 이산화 티타늄(TiO2) 및 알루미나(Al2O3) 이루어진 그룹 중에서 선택된 적어도 하나의 세라믹 물질과 유기물 에폭시 수지를 포함하는 것을 특징으로 하는 히터.The method of claim 4, wherein the adhesive comprises at least one ceramic material selected from the group consisting of silicon dioxide (SiO 2 ), titanium dioxide (TiO 2 ) and alumina (Al 2 O 3 ) and an organic epoxy resin. Heater. 제 1 항에 있어서, 상기 가압부는, 상기 개구부에 삽입되어 상기 전도성 부재를 마주보는 상기 커넥터의 단부 둘레를 따라 링 형상으로 형성된 것을 특징으로 하는 히터.The heater of claim 1, wherein the pressing part is formed in a ring shape along an end portion of the connector inserted into the opening to face the conductive member. 제 1 항에 있어서, 상기 개구부의 내주면 및 상기 케이싱의 외주면에는 서로 대응되는 나사산들이 형성되어, 상기 케이싱은 상기 개구부에 나사 결합되는 것을 특징으로 하는 히터.The heater according to claim 1, wherein threads are formed on the inner circumferential surface of the opening and the outer circumferential surface of the casing so that the casing is screwed to the opening. 제 1 항에 있어서, 상기 개구부의 내면과 상기 커넥터의 단부 사이에 개재되어 상기 전도성 부재와 상기 커넥터의 전기적 연결성을 향상시키는 보조 전도성 부재를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 히터.The heater of claim 1, further comprising an auxiliary conductive member interposed between an inner surface of the opening and an end of the connector to improve electrical connection between the conductive member and the connector. 제 1 항에 있어서, 상기 개구부의 내면과 상기 전도성 부재 사이에 형성되며 상기 전도성 부재와 전기적으로 연결된 도전 패드를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 히터.The heater of claim 1, further comprising a conductive pad formed between an inner surface of the opening and the conductive member and electrically connected to the conductive member. 개구부가 형성된 척킹 플레이트;A chucking plate having an opening formed therein; 상기 척킹 플레이트 상부에 정전기장(electrostatic field)을 생성하기 위하여 상기 척킹 플레이트 내에 내장되며, 상기 개구부를 통하여 부분적으로 노출되는 전극;An electrode embedded in the chucking plate and partially exposed through the opening to create an electrostatic field on the chucking plate; 상기 전극에 파워를 전달하기 위하여 상기 개구부를 통하여 상기 척킹 플레이트 내부로 삽입되며, 외주면에 가압부가 형성된 커넥터; 및 A connector inserted into the chucking plate through the opening to transmit power to the electrode and having a pressing portion formed on an outer circumferential surface thereof; And 상기 커넥터의 외주면에 끼워지고, 상기 가압부를 상기 전극 방향으로 가압하여 상기 커넥터를 상기 전극에 밀착시키는 케이싱을 구비하는 것을 특징으로 하는 정전척.And a casing which is fitted to an outer circumferential surface of the connector and presses the pressing portion toward the electrode to bring the connector into close contact with the electrode. 제 10 항에 있어서, 상기 개구부의 내면과 상기 커넥터 사이, 상기 개구부의 내면과 상기 케이싱 사이 및 상기 커넥터와 상기 케이싱 사이에 형성되어 상기 개구부 내부를 밀폐하는 접착제를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 정전척.The electrostatic chuck of claim 10, further comprising an adhesive formed between the inner surface of the opening and the connector, between the inner surface of the opening and the casing, and between the connector and the casing to seal the inside of the opening. . 제 10 항에 있어서, 상기 커넥터가 노출되는 상기 척킹 플레이트의 일면에 형성되어 상기 개구부를 밀폐하는 접착제를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 정전척.The electrostatic chuck of claim 10, further comprising an adhesive formed on one surface of the chucking plate to which the connector is exposed to seal the opening. 제 1 항에 있어서, 상기 가압부는, 상기 개구부에 삽입되어 상기 전극을 마주보는 상기 커넥터의 단부 둘레를 따라 링 형상으로 형성된 것을 특징으로 하는 정전척.2. The electrostatic chuck of claim 1, wherein the pressing portion is formed in a ring shape around an end portion of the connector inserted into the opening and facing the electrode. 제 1 항에 있어서, 상기 개구부의 내주면 및 상기 케이싱의 외주면에는 서로 대응되는 나사산들이 형성되어, 상기 케이싱은 상기 개구부에 나사 결합되는 것을 특징으로 하는 정전척.The electrostatic chuck of claim 1, wherein threads are formed on the inner circumferential surface of the opening and the outer circumferential surface of the casing so that the casing is screwed to the opening.
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