KR20070032485A - 원장 단위 검사가 가능한 유기 이엘 어레이 기판 - Google Patents

원장 단위 검사가 가능한 유기 이엘 어레이 기판 Download PDF

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KR20070032485A
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Abstract

원장 단위 검사가 가능한 유기 EL 어레이 기판이 개시된다. 상기 유기 EL 어레이 기판은 다수의 유기 EL 패널들 및 다수의 배선 그룹을 가진다. 제1 방향으로 신장된 제1 배선 그룹은 양의 전원 전압을 공급하기 위한 양의 전원 라인을 가지고, 상기 제1 방향과 수직으로 교차하는 제2 방향으로 배치된 제2 배선 그룹은 음의 전원 전압을 공급하기 위한 음의 전원 라인을 가진다. 양의 전원 전압과 음의 전원 전압이 동시에 공급되는 유기 EL 패널은 선택되고, 각각의 배선 그룹에 구비된 신호 라인들을 이용하여 선택된 유기 EL 패널에 대한 검사가 수행된다.

Description

원장 단위 검사가 가능한 유기 이엘 어레이 기판{Organic Electroluminescence Array Substrate for performing Sheet Unit Test}
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 유기 EL 어레이 기판을 도시한 평면도이다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 상기 도 1에서 도시된 유기 EL 패널 및 배선 그룹들을 도시한 블록도이다.
도 3a 및 도 3b는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 점등 검사의 수행을 설명하기 위한 회로도들이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 점등 검사를 설명하기 위한 다른 회로도이다.
도 5a 내지 도 5f는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 원장 단위의 검사를 수행하는 방법을 도시한 블록도들이다.
도 6a 내지 도 6f는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 원장 단위의 검사를 수행하는 다른 방법을 도시한 블록도들이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
110 : 유기 EL 패널 130 : 제1 배선 그룹
131 : 양의 전원 라인 150 : 제2 배선 그룹
151 : 음의 전원 라인 310 : 점등 회로부
430 : 데이터 분배기
본 발명은 다수의 유기 EL 패널들을 검사하기 위한 회로에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 원장 단위(sheet unit)로 다수의 유기 EL 패널들을 검사하기 위한 회로에 관한 것이다.
유기 EL 패널들은 하나의 기판에 형성된다. 즉, 공통된 하나의 기판 상에 동일한 제조 공정을 통해 다수의 유기 EL 패널들이 제조된다. 하나의 기판상에 제조된 다수의 유기 EL 패널들의 불량 유무를 검사하는 방법은 크게 2가지로 나누어진다.
첫째는 기판을 스크라이빙(scribing)하여 각각의 유기 EL 패널들을 분할하고, 분할된 각각의 유기 EL 패널에 대한 검사를 수행하는 것이다. 즉, 별도의 배선 구조를 가지지 않고, 분할된 유기 EL 패널에 대한 검사가 수행된다. 상기 방법은 패널 단위로 검사 장비에서 검사가 수행되어야 한다. 만일, 패널의 모델이 변경되어 패널을 구성하는 회로 배선이 변경되거나, 패널의 크기가 변경되는 경우, 검사 장비를 변경하거나, 검사를 위해 요구되는 지그(zig)가 변경되어야 하는 문제가 발 생한다.
둘째는 기판을 스크라이빙하되 하나의 칼럼 또는 하나의 로우 단위로 스크라이빙하여 스틱 단위(stick unit)로 검사를 수행하는 것이다. 대한민국 공개특허 제2002-41674호 및 대한민국 공개특허 제1999-3277호에는 액정 표시 장치에 대해 스틱 단위로 검사를 수행하는 방법이 개시된다. 상기 공개특허들은 각각의 패널이 액정으로 구성된 것을 전제로 하고 있으며, 스틱 단위의 검사를 수행하기 위해 스틱의 양측면에 검사용 패드를 구비하는 것을 특징으로 하고 있다. 특히, 스틱 단위의 검사 공정은 육안 검사를 수행하기 위해 구비되는 것으로 기술되어 있다.
액정 표시 장치의 경우, 액정이 상부 기판과 하부 기판 사이에 주입되는 공정이 필수적으로 개재되고, 특성 검사의 항목이 육안 검사에 집중되므로 스틱 단위로 검사가 수행되어도 검사시간(Turn Around Time; TAT)이 길어지는 문제는 발생하지 않는다. 그러나, 유기 EL 패널의 경우, 유기 발광층이 이미 형성된 상태에서 육안 검사 외에 다수의 검사 항목이 요구되므로, 스틱 단위의 검사가 이루어지는 경우, 검사시간이 길어지는 문제점을 가진다.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은 원장 단위로 유기 EL 패널을 검사할 수 있는 다배열 유기 EL 기판을 제공하는데 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 동일한 기판상에 형성된 다수의 유기 EL 패널들; 인접하는 상기 유기 EL 패널들 사이의 이격 공간에 형성되고 제1 방향으로 형성된 제1 배선 그룹; 및 상기 이격 공간에 형성되고, 상기 제1 방향과 교차되는 제2 방향으로 형성된 제2 배선 그룹을 포함하되, 상기 제1 배선 그룹은 상기 제1 방향으로 배열된 유기 EL 패널에 연결된 양의 전원 전압을 인가하며, 상기 제2 배선 그룹은 상기 제2 방향으로 배열된 유기 EL 패널에 음의 전원 전압을 인가하는 것을 특징으로 하는 유기 EL 어레이 기판을 제공한다.
또한, 본 발명의 상기 목적은, 동일한 기판상에 형성된 다수의 유기 EL 패널들; 인접하는 상기 유기 EL 패널들 사이의 이격 공간에 형성되고 제1 방향으로 형성되고, 상기 제1 방향으로 배열된 유기 EL 패널에 제1 전원 전압을 전달하기 위한 제1 전원 라인 및 주사 발생 신호를 공급하기 위한 주사 발생 라인을 가지는 제1 배선 그룹; 및 상기 이격 공간에 형성되고, 상기 제1 방향과 교차되는 제2 방향으로 형성되고, 상기 제2 방향으로 배열된 유기 EL 패널에 제1 전원 전압을 공급하기 위한 제2 전원 라인 및 점등 신호를 공급하기 위한 점등 검사 라인을 가지는 제2 배선 그룹을 포함하는 유기 EL 어레이 기판의 제공을 통해서도 달성될 수 있다.
이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.
실시예
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 유기 EL 어레이 기판을 도시한 평면도이다.
도 1을 참조하면, 유기전계발광소자가 구비된 유기 EL 패널(110)들이 기판 상에 배치된다. 상기 유기전계발광소자는 적어도 유기발광층을 구비한다. 또한, 하나의 화소는 적어도 레드, 그린 및 블루 부화소를 가진다. 각각의 부화소는 유기전계발광소자 및 상기 유기전계발광소자의 발광 동작을 제어하기 위한 능동 회로를 구비한다. 또한, 실시의 형태에 따라 각각의 화소는 화이트 부화소를 더 포함할 수 있다.
상기 유기 EL 패널(110)들은 기판상에 규칙적인 패턴으로 반복하여 배치된다. 즉, 제1 방향인 수직 방향으로 일정한 이격 공간을 가지며 배열되며, 제2 방향인 수평 방향으로도 일정한 이격 공간을 가지고 배열된다. 기판에 배열되는 유기 EL 패널(110)들의 수는 기판의 크기 및 유기 EL 패널(110)에 따라 얼마든지 변경 가능하다. 즉, 상기 도 1에서는 수평 방향으로 4개의 유기 EL 패널들이 배치되고, 수직 방향으로는 3개의 유기 EL 패널들이 배치되는 것으로 도시하였으나, 유기 EL 패널들의 수는 기판의 크기 및 유기 EL 패널의 종류/크기에 따라 변경 가능한 수치이다.
유기 EL 패널(110)들 사이의 이격 공간에는 다수의 라인들이 배치된다. 제1 배선 그룹(130)은 수직 방향으로 배치된다. 상기 제1 배선 그룹(130)에는 양의 전원 라인(131), 주사 발생 라인(133) 또는 데이터 선택 라인(135) 등이 있다.
양의 전원 라인(131)은 각각의 유기 EL 패널(110)에 양의 전원 전압 ELVDD를 공급한다.
또한, 유기 EL 패널(110)이 주사 신호를 발생하는 주사 구동부를 내장하는 경우, 주사 발생 라인(131)은 주사 구동부에 주사 발생 신호를 공급한다. 상기 주사 발생 신호로는 주사 구동부의 전원 전압, 개시펄스 및 클럭 신호들이 있다.
주사 구동부의 동작에 필요한 전원 전압이 인가되고, 개시 펄스 및 클럭 신호가 인가되면, 주사 구동부는 상기 클럭 신호에 동기되어 주사 신호를 발생한다. 발생된 주사 신호는 유기 EL 패널(110)에 구비된 화소를 선택하는데 사용된다. 또한, 주사 구동부의 전원 전압, 개시펄스 및 클럭 신호의 전송을 위해 상기 주사 발생 라인(133)은 다수개로 구비됨이 바람직하다. 따라서, 주사 구동부가 유기 EL 패널(110)에 내장되는 경우, 주사 발생 라인(133)은 하나의 라인이 아니며, 다수의 라인으로 구성된다.
데이터 선택 라인(135)은 데이터 라인을 활성화하기 위한 데이터 선택 신호를 공급한다. 예컨대, 유기 EL 패널(135)에 점등 검사만이 수행되는 경우, 상기 데이터 선택 라인은 사용되지 않을 수도 있다.
제2 배선 그룹(150)은 수평 방향으로 배치된다. 상기 제2 배선 그룹(150)에는 음의 전원 라인(151) 및 점등 검사 라인(153) 등이 포함된다.
음의 전원 라인(151)은 유기 EL 패널(110)에 음의 전원 전압 ELVSS를 공급한다.
또한, 점등 검사 라인(153)은 유기 EL 패널(110)의 점등 검사에 사용되는 점등 신호들을 공급한다. 즉, 점등 검사 라인(153)을 통해 점등 제어 신호 TEST_GATE 및 점등 검사 신호 TEST_DATA가 공급된다. 따라서, 상기 점등 검사 라인(153)은 적어도 2개의 라인으로 구성된다.
제1 배선 그룹(130)에 속하는 양의 전원 라인(131) 및 제2 배선 그룹(150)에 속하는 음의 전원 라인(151)은 이격 공간에서 서로 교차된다. 또한, 양의 전원 라인(131)은 수직 방향으로 배치되고, 인접하고 수직 방향으로 배열된 다수의 유기 EL 패널(110)에 양의 전원 전압 ELVDD를 공급한다. 음의 전원 라인(151)은 수평 방향으로 배치되고, 상기 음의 전원 라인(151)에 인접하고 수평 방향으로 배열된 다수의 유기 EL 패널(110)에 음의 전원 전압 ELVSS를 공급한다.
또한, 제1 배선 그룹(130)의 양의 전원 라인(131)은 패드를 통해 기판의 외부와 전기적으로 연결될 수 있으며, 제2 배선 그룹(150)의 음의 전원 라인(151)도 패드를 통해 기판의 외부와 전기적으로 연결될 수 있다. 따라서, 제1 배선 그룹(130) 및 제2 배선 그룹(150)의 라인들은 기판의 외곽에 형성된 다수의 패드들을 통해 기판 외부와 전기적으로 연결될 수 있다.
예컨대, 다수개의 양의 전원 라인(131)들중 특정의 양의 전원 라인에 양의 전원 전압 ELVDD가 공급되고, 다수개의 음의 전원 라인(151)들중 특정의 음의 전원 라인에 음의 전원 전압 ELVSS가 공급되는 경우, 규칙적으로 배열된 다수의 EL 패널들중 양의 전원 전압 ELVDD 및 음의 전원 전압 ELVSS가 함께 인가되는 특정의 EL 패널만이 선택되고, 선택된 EL 패널(110)에 대한 검사가 수행될 수 있다.
또한, 점등 검사 라인(153)은 음의 전원 라인(151)과 수평으로 형성될 수도 있으며, 이외에도, 양의 전원 라인(131)과 수평으로 형성될 수도 있다. 즉, 점등 검사 라인(153)은 제1 배선 그룹(130)에 속할 수도 있다.
또한, 상기 도 1에서 도시된 유기 EL 패널(110)들의 크기, 제1 배선 그룹 (130) 및 제2 배선 그룹(150)의 위치와 라인의 수는 본 발명의 용이한 이해를 위해 다소 과장되어 표현된 것이다. 상기 도 1에서 제1 배선 그룹(130)은 2개의 라인으로 도시되어 있지만, 양의 전원 라인(131) 및 유기 EL 패널들의 검사에 사용되는 다수의 라인들이 배치될 수 있다.
마찬가지로 제2 배선 그룹(150)은 2개의 라인으로 구성된 것으로 도시되어 있지만, 음의 전원 라인(151) 및 유기 EL 패널들의 검사에 사용되는 다수의 라인들이 배치될 수도 있다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 상기 도 1에서 도시된 유기 EL 패널 및 배선 그룹들을 도시한 블록도이다.
도 2를 참조하면, 유기 EL 패널(210) 주위의 이격 공간에 제1 배선 그룹(230) 및 제2 배선 그룹(250)을 형성하는 다수의 라인들이 배치된다.
제1 배선 그룹(230)은 수직 방향으로 상기 유기 EL 패널(210)의 좌우에 배치된다. 또한, 제1 배선 그룹(230)은 양의 전원 라인(231), 주사 발생 라인(233) 및 데이터 선택 라인들(235)을 가진다. 상기 양의 전원 라인(231)은 상기 유기 EL 패널(210)을 중심으로 주사 발생 라인(231) 및 데이터 선택 라인들(235)과 대향한다. 이외에도 양의 전원 라인(231)은 유기 EL 패널(210)의 좌측 또는 우측에 주사 발생 라인(233) 및 데이터 선택 라인(235)과 함께 배치될 수도 있다.
상기 양의 전원 라인(231)은 유기 EL 패널(210)에 양의 전원 전압 ELVDD를 공급한다.
주사 발생 라인(233)은 상기 유기 EL 패널(210)이 주사 구동부를 내장하는 경우에 배치된다. 즉, 유기 EL 패널(210)이 주사 구동부를 내장하는 경우, 주사 구동부의 주사 신호 발행을 위해 개시 펄스 및 클럭 신호들이 사용된다. 따라서, 주사 발생 라인(233)을 통해 상기 주사 구동부의 전원 전압, 개시 펄스 및 클럭 신호들이 공급된다. 상기 도 2에서는 주사 발생 라인(233)이 하나의 라인으로 구성된 것으로 도시되었으나, 상기 주사 발생 라인(233)은 다수의 라인으로 구성될 수 있다. 즉, 주사 발생 라인(233)은 다수의 라인으로 구성되고, 주사 구동부의 전원 전압을 전송하는 라인, 개시 펄스를 공급하는 라인 및 클럭 신호들을 공급하는 라인들로 구성될 수 있다.
데이터 선택 라인(235)은 상기 유기 EL 패널(210)에 구비된 데이터 분배기를 제어하는 데이터 선택 신호를 공급한다. 상기 데이터 분배기가 유기 EL 패널에 구비되지 않는 경우, 상기 데이터 선택 라인(235)은 배치되지 않을 수도 있다.
또한, 상기 주사 발생 라인(233)과 데이터 선택 라인(235)은 제2 배선 그룹(250)에 배치될 수도 있다. 주사 발생 라인(233) 또는 데이터 선택 라인(235)이 제1 배선 그룹(230) 또는 제2 배선 그룹(250)에 속하는 지의 여부는 이격 공간의 크기에 따라 적절히 결정된다.
제2 배선 그룹(250)은 수평 방향으로 유기 EL 패널(210)의 하부 이격 공간에 배치된다. 또한, 상기 제2 배선 그룹(250)은 음의 전원 라인(251) 및 점등 검사 라인(253)을 가진다. 상기 도 2에서 제2 배선 그룹(250)은 유기 EL 패널(210)의 하부 이격 공간에 배치되는 것으로 도시 도었으나, 상기 제2 배선 그룹(250)은 유기 EL 패널(210)의 상부 이격 공간 및 유기 EL 패널(210)의 상하에 분리되어 배치될 수 있다.
제2 배선 그룹(250)의 음의 전원 라인(251)은 유기 EL 패널(210)에 음의 전원 전압 ELVSS를 공급한다. 또한, 상기 점등 검사 라인(253)은 유기 EL 패널(210)에 점등 검사에 요구되는 신호들을 공급한다. 상기 도 2에서 점등 검사 라인(253)은 하나의 라인으로 구성된 것으로 도시되었으나, 이는 용이한 이해를 위한 것이며, 점등 검사에 요구되는 신호의 종류에 따라 다수개로 구비될 수 있다. 점등 검사에 요구되는 신호는 점등 제어 신호 TEST_GATE 및 점등 검사 신호 TEST_DATA로 나누어진다.
또한, 제2 배선 그룹(250)에 속하는 점등 검사 라인(253)은 제1 배선 그룹(230)에 속할 수도 있다. 즉, 양의 전원 라인(231)과 평행하게 배치될 수도 있다.
다만, 상기 도 2에서 양의 전원 라인(231)과 음의 전원 라인(251)은 수직으로 교차하며, 양의 전원 전압 ELVDD 및 음의 전원 전압 ELVSS가 유기 EL 패널(210)에 공급되는 경우에만, 유기 EL 패널(210)에 대한 검사가 수행된다.
도 3a 및 도 3b는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 점등 검사의 수행을 설명하기 위한 회로도들이다.
도 3a를 참조하면, 점등 회로부(310) 및 상기 점등 회로부에 연결된 다수의 데이터 라인(315)이 도시된다. 상기 점등 회로부(310)는 유기 EL 패널에 내장됨이 바람직하다.
점등 회로부(310)는 병렬 연결된 다수의 스위칭 소자들로 구성된다. 스위칭 소자는 상기 도 3a에서 도시된 바와 같은 트랜지스터일 수도 있으며, 실시의 형태 에 따라 전송 게이트일 수도 있다. 따라서, 다수의 스위칭 소자는 점등 제어 신호 TEST_GATE에 따라 점등 검사 신호 TEST_DATA를 데이터 라인(315)에 전달하는 기능을 수행한다면, 어느 것이라도 사용 가능하다. 다만, 상기 도 3a에서는 스위칭 소자가 PMOS인 것으로 도시하였으므로, PMOS의 동작에 따라 수행되는 점등 검사에 관하여 설명하기로 한다.
먼저, 점등 검사가 수행되는 유기 EL 패널에 양의 전원 전압 ELVDD 및 음의 전원 전압 ELVSS가 공급된다.
점등 제어 신호 TEST_GATE가 로우 레벨인 경우, 트랜지스터들은 턴온된다. 턴온된 트랜지스터들을 통해 점등 검사 신호 TEST_DATA는 데이터 라인들(315)로 인가된다. 점등 검사 신호 TEST_DATA의 인가에 따라 유기 EL 패널은 발광 동작을 개시한다. 유기 EL 패널을 구성하는 다수의 화소들 중 특성 불량을 가지는 화소가 존재하는 경우, 점등 검사 신호 TEST_DATA의 인가에도 불구하고, 특성 불량을 가지는 화소는 발광 동작을 수행하지 않는다. 따라서, 점등 검사 신호 TEST_DATA의 인가에 의해 불량 화소의 존재 여부를 알 수 있다.
또한, 점등 검사시에는 동일 레벨의 점등 검사 신호 TEST_DATA가 유기 EL 패널을 구성하는 다수의 화소들에 공급되므로, 화소들의 화이트 밸런싱을 알 수 있으며, 진행성 불량도 감지될 수 있다.
도 3b를 참조하면, 상기 도 3a에서 도시된 점등 회로부(330)는 데이터 라인의 종류에 따라 다수개의 점등 회로부들로 나누어진다. 즉, 레드 점등 회로부(331), 그린 점등 회로부(333), 블루 점등 회로부(335) 및 상기 3개의 점등 회로부 들(331,333,335)에 연결된 다수의 데이터 라인들(332,334,336)이 도시된다.
레드 점등 회로부(331)는 다수의 트랜지스터들로 구성되며, 상기 트랜지스터들은 레드 점등 제어 신호 TEST_GATE_R에 의해 온/오프 동작을 수행한다. 또한, 레드 점등 회로부(331)의 트랜지스터의 일단에는 점등 검사 신호 TEST_DATA가 인가되며, 타단은 레드 데이터 라인(332)에 연결된다. 상기 레드 데이터 라인(332)은 레드 부화소에 점등 검사 신호 TEST_DATA를 전송한다. 예컨대 레드 점등 제어 신호 TEST_GATE_R이 로우 레벨인 경우, 레드 점등 회로부(331)의 트랜지스터들은 턴온되고, 레드 점등 검사 신호 TEST_DATA는 다수의 레드 데이터 라인(332)들에 인가된다.
또한, 그린 점등 회로부(333)는 다수의 트랜지스터들로 구성되며, 상기 트랜지스터들은 그린 점등 제어 신호 TEST_GATE_G에 의해 동시에 온/오프된다. 따라서, 그린 점등 제어 신호 TEST_GATE_G가 로우 레벨인 경우, 그린 데이터 라인(334)들에는 점등 검사 신호 TEST_DATA가 인가된다.
또한, 블루 점등 회로부(335)는 다수의 트랜지스터들로 구성되며, 상기 트랜지스터들은 블루 점등 제어 신호 TEST_GATE_B에 의해 동시에 온/오프된다. 따라서, 블루 점등 제어 신호 TEST_GATE_B가 로우 레벨인 경우, 블루 데이터 라인(336)들에는 점등 검사 신호 TEST_DATA가 인가된다.
상기 레드 점등 제어 신호 TEST_GATE_R, 그린 점등 제어 신호 TEST_GATE_G 및 블루 점등 제어 신호 TEST_GATE_B는 동시에 인가될 수 있으며, 순차적으로 인가될 수 있다.
또한, 상기 도 3b에서 도시되지 아니하였지만, 각각의 화소는 레드, 그린, 블루 부화소들외에 화이트 부화소를 가질 수 있다. 따라서, 레드, 그린, 블루 점등 회로부외에 화이트 점등 회로부가 더 포함될 수도 있다.
또한, 상기 도 3a 및 도 3b에 도시된 회로도는 유기 EL 패널의 점등 검사를 설명하기 위해 도시된 것이나, 상기 도 3a 및 상기 도 3b에 도시된 회로도는 다양한 검사에 사용될 수 있다.
예컨대, 유기전계발광소자에 높은 바이어스 전압 또는 바이어스 전류를 인가하여, 유기전계발광소자가 가지는 진행성 불량을 검출하는 에이징 검사(Aging Test) 및 열처리 검사 등에 사용될 수 있다. 상기 열처리 검사는 급속으로 온도 변화가 가해지는 상태에서 유기전계발광소자의 정상 동작 여부를 검출하는 것이다. 또한, 상기 열처리 검사는 저온 또는 고온에서 유기전계발광소자의 정상 동작 여부를 검출하는 형태일 수도 있다.
또한, 상기 도 3a 및 상기 도 3b에 도시된 회로도는 누설 전류 검사에도 사용될 수 있다. 즉, 양의 전원 전압 ELVDD 및 음의 전원 전압 ELVSS가 인가된 상황에서 양의 전원 라인 또는 음의 전원 라인에 흐르는 전류를 감지하여 유기 EL 패널에 누설전류의 존재 여부를 검사할 수 있다. 상기 누설 전류 검사시, 양의 전원 전압 ELVDD 및 음의 전원 전압 ELVSS가 인가된 상태에서, 점등 회로부는 전체적으로 오프된 상태에서 양의 전원 라인 또는 음의 전원 라인에 흐르는 전류를 감지할 수 있다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 점등 검사를 설명하기 위한 다른 회로도이다.
도 4를 참조하면, 점등 회로부(410), 데이터 분배기(430) 및 데이터 라인들(451,453,455)이 도시된다. 또한, 상기 도 4에 도시된 회로는 유기 EL 패널에 내장됨이 바람직하다.
점등 회로부(410)는 상기 도 3a에서 도시된 바와 동일한 구성을 가진다.
또한, 데이터 분배기(430)는 상기 점등 회로부(410)와 데이터 라인들(451,453,455) 사이에 연결된다. 데이터 분배기(430)는 데이터 선택 신호들 SLR, SLG, SLB의 제어에 따라 데이터 분배기(430)에 입력되는 신호를 레드 데이터 라인(451), 그린 데이터 라인(453) 또는 블루 데이터 라인(455)에 공급한다. 상기 데이터 선택 신호들은 레드 데이터 선택신호 SLR, 그린 데이터 선택신호 SLG 및 블루 데이터 선택신호 SLB로 나누어진다.
예컨대, 레드 데이터 선택신호 SLR이 로우 레벨이고, 점등 제어 신호 TEST_GATE가 로우 레벨인 경우, 상기 레드 데이터 선택신호 SLR에 연결된 트랜지스터들은 턴온되고, 턴온된 트랜지스터를 통해 점등 검사 신호 TEST_DATA는 레드 데이터 라인(451)에 인가된다. 레드 데이터 라인(451)에 인가되는 점등 검사 신호 TEST_DATA는 유기 EL 패널의 레드 부화소들을 점등한다.
또한, 그린 데이터 선택신호 SLG가 로우 레벨이고, 점등 제어 신호 TEST_GATE가 로우 레벨인 경우, 상기 그린 데이터 선택신호 SLG에 연결된 트랜지스터들은 턴온된다. 턴온된 트랜지스터들은 통해 점등 검사 신호 TEST_DATA는 그린 데이터 라인(453)에 인가된다. 그린 데이터 라인(453)에 인가되는 점등 검사 신호 TEST_DATA는 유기 EL 패널의 그린 부화소들을 점등한다.
블루 데이터 선택신호 SLB가 로우 레벨이고, 점등 제어 신호 TEST_GATE가 로우 레벨인 경우, 점등 검사 신호 TEST_DATA는 블루 데이터 라인(455)에 인가되며, 상기 점등 검사 신호 TEST_DATA는 유기 EL 패널의 블루 부화소들을 점등한다.
또한, 상기 도 4에 도시되지 아니하였으나, 상기 데이터 선택 신호는 화이트 데이터 선택신호를 더 가질 수 있다. 즉, 화이트 데이터 선택신호에 의해 점등 검사 신호 TEST_DATA는 화이트 데이터 라인을 통해 화이트 부화소들을 점등할 수 있다.
또한, 상기 도 4에 도시된 회로도는 유기 EL 패널의 다양한 검사에 사용될 수 있다.
즉, 유기전계발광소자에 높은 바이어스 전압 또는 바이어스 전류를 인가하여, 유기전계발광소자가 가지는 진행성 불량을 검출하는 에이징 검사(Aging Test) 및 열처리 검사 등에 사용될 수 있다. 상기 열처리 검사는 급속으로 온도 변화가 가해지는 상태에서 유기전계발광소자의 정상 동작 여부를 검출하는 것이다. 또한, 상기 열처리 검사는 저온 또는 고온에서 유기전계발광소자의 정상 동작 여부를 검출하는 형태일 수도 있다.
또한, 상기 도 4에 도시된 회로도는 누설 전류 검사에도 사용될 수 있다. 즉, 양의 전원 전압 ELVDD 및 음의 전원 전압 ELVSS가 인가된 상황에서 양의 전원 라인 또는 음의 전원 라인에 흐르는 전류를 감지하여 유기 EL 패널에 누설전류의 존재 여부를 검사할 수 있다.
또한, 데이터 분배기와 점등 회로부 사이에는 다수의 패드(460)가 개재될 수 있다. 상기 패드(460)는 점등 회로부(410)와 데이터 분배기(430)를 연결하는 라인 사이에 배치된다. 상기 패드(460)는 유기 EL 패널의 다양한 화질 검사를 위해 사용될 수 있다. 즉, 패드(460)에 프로브 팁(probe tip)이나 스프링 핀(spring pin) 등을 이용하여 데이터 분배기(430)에 다양한 신호가 인가될 수 있다.
도 5a 내지 도 5f는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 원장 단위의 검사를 수행하는 방법을 도시한 블록도들이다.
도 5a를 참조하면, 기판상의 제1행에 배치된 유기 EL 패널에 양의 전원 전압 ELVDD가 공급된다. 또한, 기판상의 제1열에 배치된 유기 EL 패널에는 음의 전원 전압 ELVSS가 공급된다. 따라서, 기판상의 제1행 1열에 배치된 유기 EL 패널에 양의 전원 전압 ELVDD 및 음의 전원 전압 ELVSS가 공급되어 다수의 검사가 수행된다. 선택된 유기 EL 패널에 대해 에이징 검사, 누설 전류 검사 및 점등 화질 검사가 순차적으로 수행된다. 이외에도, 선택된 유기 EL 패널에 대해 검사의 순서는 변경될 수 있으며, 유기 EL 패널의 정상 동작 여부를 확인하기 위한 다양한 검사가 실시될 수 있음은 당업자에게 자명한 사실이다.
도 5b를 참조하면, 기판상의 제2행에는 양의 전원 전압 ELVDD가 인가되고, 제1열에는 상기 도 5a와 동일하게 음의 전원 전압 ELVSS가 인가된다. 따라서, 제2행 1열에 배치된 유기 EL 패널이 선택되고, 선택된 유기 EL 패널에 대한 검사가 수행된다. 제2행 1열에 배치된 유기 EL 패널에 대해 에이징 검사, 누설 전류 검사 및 점등 화질 검사가 순차적으로 수행된다.
도 5c를 참조하면, 기판상의 제3행에는 양의 전원 전압 ELVDD가 인가되고, 제1열에는 음의 전원 전압 ELVSS가 인가된다. 즉, 제3행 1열에 배치된 유기 EL 패널이 선택되고, 선택된 유기 EL 패널에 대한 검사가 수행된다.
상기 도 5a 내지 도 5c에 도시된 바대로 수평 방향으로 유기 EL 패널들은 순차적으로 선택되고, 선택된 유기 EL 패널에 대한 검사가 진행된다.
도 5d 내지 도 5f를 참조하면, 제2행에 배치된 유기 EL 패널들에 대한 선택 및 검사 동작이 순차적으로 수행된다. 제2행에 배치된 유기 EL 패널들을 순차적으로 선택하기 위해 제2행에 위치한 음의 전원 라인에 음의 전원 전압 ELVSS를 공급한다. 또한, 제1열에 양의 전원 전압 ELVDD를 인가하고, 수평 방향으로 순차적으로 양의 전원 전압 ELVDD를 공급한다.
상술한 상기 도 5a 내지 도 5f에 개시된 검사 방법은 검사의 진행 방향을 달리하여 진행될 수 있다. 즉, 먼저 수직 방향으로 양의 전원 전압 ELVDD를 인가하고, 수평 방향으로 인가되는 음의 전원 전압 ELVSS를 순차적으로 행을 바꾸어가며 인가할 수도 있다.
도 6a 내지 도 6f는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 원장 단위의 검사를 수행하는 다른 방법을 도시한 블록도들이다.
도 6a를 참조하면, 제1행에 음의 전원 전압 ELVSS가 인가되고, 제1열에 양의 전원 전압 ELVDD가 인가되어 제1행 1열에 배치된 유기 EL 패널이 선택된다. 선택된 유기 EL 패널에 대해 점등 검사가 실시된다. 또한, 제2행에 음의 전원 전압 ELVSS가 인가되고, 제2열에 양의 전원 전압 ELVDD가 인가되어 제2행 2열에 배치된 유기 EL 패널이 선택된다. 선택된 제2행 2열에 배치된 유기 EL 패널에 대해 누설 전류 검사가 수행된다. 또한, 제3행에 음의 전원 전압 ELVSS가 인가되고, 제3열에 양의 전원 전압 ELVDD가 인가되며, 제3행 3열에 배치된 유기 EL 패널에 대해 에이징 검사가 수행된다. 상기 점등 검사, 누설 전류 검사 및 에이징 검사는 동시에 수행될 수 있으며, 순차적으로 수행될 수 있다.
도 6b 및 도 6c를 참조하면, 상기 도 6a에 도시된 검사들이 하나의 열씩 우측으로 이동되어 수행된다. 상기 검사들은 기판상에 형성된 최우측 유기 EL 패널에 대한 검사가 완료될 때가지 진행된다.
도 6d를 참조하면, 상기 도 6a 내지 도 6c에 도시된 검사들이 행을 바꾸어 진행된다. 즉, 제2행에 음의 전원 전압 ELVSS가 인가되고, 제1열에 양의 전원 전압 ELVDD가 인가된다. 양의 전원 전압 ELVDD와 음의 전원 전압 ELVSS가 동시에 인가되는 제2행 1열의 유기 EL 패널에 대해 점등 검사가 수행된다. 또한, 제3행에 음의 전원 전압 ELVSS가 인가되고, 제2열에 양의 전원 전압 ELVDD가 인가된다. 음의 전원 전압 ELVSS 및 양의 전원 전압 ELVDD가 인가되는 제3행 2열의 유기 EL 패널에 대해 누설 전류 검사가 수행된다. 계속해서, 제4행에 음의 전원 전압 ELVSS가 인가되고, 제3열에 양의 전원 전압 ELVDD가 인가된다. 음의 전원 전압 ELVSS와 양의 전원 전압 ELVDD가 인가되는 제4행 3열의 유기 EL 패널에 대해 에이징 검사가 수행된다. 상기 점등 검사, 누설 전류 검사 및 에이징 검사는 동시에 수행될 수 있으며, 순차적으로 수행될 수 있다.
도 6e 및 도 6f를 참조하면, 상기 도 6d에 도시된 검사들이 하나의 열씩 우 측으로 이동되어 수행된다. 상기 검사들은 기판상에 형성된 최우측 유기 EL 패널에 대한 검사가 완료될 때가지 진행된다.
상기 도 5a 내지 도 5f에 도시된 검사 방법 및 상기 도 6a 내지 도 6f에 도시된 검사 방법은 본 실시예에 개시된 다수의 유기 EL 패널들 및 상기 유기 EL 패널들에 전기적 검사를 수행하기 위한 다수의 배선 그룹들을 이용하는 방법을 예시한 것이다.
즉, 하나의 기판상에 형성된 다수의 유기 EL 패널을 검사하기 위해 별도의 스크라이빙이 수행되지 않고 원장 단위(sheet unit)로 검사가 수행될 수 있음을 예시한 것이다.
따라서, 각각의 유기 EL 패널을 스크라이빙하여 분리하고, 분리된 유기 EL 패널에 대해 수행되는 전기적 검사보다 검사 시간을 단축할 수 있으며, 검사에 요구되는 지그 등의 장비의 소모를 줄일 수 있다.
상기와 같은 본 발명에 따르면, 다수의 유기 EL 패널들을 하나의 기판인 원장 단위로 검사할 수 있다. 즉, 양의 전원 전압 및 음의 전원 전압을 선택적으로 공급하여 특정의 유기 EL 패널을 선택할 수 있으며, 선택된 유기 EL 패널에 검사에 사용되는 신호들을 공급할 수 있다. 따라서, 유기 EL 패널을 검사하는데 소요되는 시간이 단축되며, 검사를 위해 사용되는 검사 장비를 준비하는데 용이하다. 또한, 원장 단위의 검사이므로, 검사 장비의 대형화 및 표준화를 꾀할 수도 있다.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

Claims (18)

  1. 동일한 기판상에 형성된 다수의 유기 EL 패널들;
    인접하는 상기 유기 EL 패널들 사이의 이격 공간에 형성되고 제1 방향으로 형성된 제1 배선 그룹; 및
    상기 이격 공간에 형성되고, 상기 제1 방향과 교차되는 제2 방향으로 형성된 제2 배선 그룹을 포함하되,
    상기 제1 배선 그룹은 상기 제1 방향으로 배열된 유기 EL 패널에 연결된 양의 전원 전압을 인가하며, 상기 제2 배선 그룹은 상기 제2 방향으로 배열된 유기 EL 패널에 음의 전원 전압을 인가하는 것을 특징으로 하는 유기 EL 어레이 기판.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1 배선 그룹은 주사 발생 신호 또는 데이터 선택 신호를 상기 유기 EL 패널에 더 공급하는 것을 특징으로 하는 유기 EL 어레이 기판.
  3. 제2항에 있어서, 상기 제2 배선 그룹은 점등 검사 신호 및 점등 제어 신호를 상기 유기 EL 패널에 더 공급하는 것을 특징으로 하는 유기 EL 어레이 기판.
  4. 제3항에 있어서, 상기 주사 발생 신호 또는 상기 데이터 선택 신호는 제2 배선 그룹을 통해 전송되고, 상기 점등 검사 신호 및 상기 점등 제어 신호는 상기 제1 배선 그룹을 통해 전송되는 것을 특징으로 하는 유기 EL 어레이 기판.
  5. 제3항에 있어서, 상기 각각의 유기 EL 패널은 주사 신호를 발생하기 위한 주사 구동부 및 발광 제어 신호를 구동하기 위한 발광 구동부를 포함하며, 상기 주사 발생 신호는 상기 주사 구동부의 입력 신호들인 것을 특징으로 하는 유기 EL 어레이 기판.
  6. 제5항에 있어서, 상기 주사 발생 신호는 상기 주사 구동부의 전원 전압, 개시 펄스 및 클럭 신호를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 EL 어레이 기판.
  7. 제6항에 있어서, 상기 각각의 유기 EL 패널은,
    점등 제어 신호에 따라 데이터 라인을 선택하고 선택된 데이터 라인에 점등 검사 신호를 인가하기 위한 점등 회로부; 및
    상기 각각의 데이터 라인에 연결된 화소를 가지는 것을 특징으로 하는 유기 EL 어레이 기판.
  8. 제7항에 있어서, 상기 점등 회로부는 다수의 트랜지스터들을 가지고,
    레드 점등 제어 신호에 따라 레드 데이터 라인을 선택하기 위한 레드 점등 회로부;
    그린 점등 제어 신호에 따라 그린 데이터 라인을 선택하기 위한 그린 점등 회로부; 및
    블루 점등 제어 신호에 따라 블루 데이터 라인을 선택하기 위한 그린 점등 회로부를 가지는 것을 특징으로 하는 유기 EL 어레이 기판.
  9. 제7항에 있어서, 상기 유기 EL 패널은,
    상기 점등 회로부와 상기 데이터 라인 사이에 상기 데이터 선택 신호에 따라 데이터 라인을 선택하기 위한 데이터 분배기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 EL 어레이 기판.
  10. 동일한 기판상에 형성된 다수의 유기 EL 패널들;
    인접하는 상기 유기 EL 패널들 사이의 이격 공간에 형성되고 제1 방향으로 형성되고, 상기 제1 방향으로 배열된 유기 EL 패널에 제1 전원 전압을 전달하기 위한 제1 전원 라인 및 주사 발생 신호를 공급하기 위한 주사 발생 라인을 가지는 제1 배선 그룹; 및
    상기 이격 공간에 형성되고, 상기 제1 방향과 교차되는 제2 방향으로 형성되고, 상기 제2 방향으로 배열된 유기 EL 패널에 제1 전원 전압을 공급하기 위한 제2 전원 라인 및 점등 신호를 공급하기 위한 점등 검사 라인을 가지는 제2 배선 그룹을 포함하는 유기 EL 어레이 기판.
  11. 제10항에 있어서, 상기 제1 전원 전압은 양의 전원 전압이며, 상기 제2 전원 전압은 음의 전원 전압인 것을 특징으로 하는 유기 EL 어레이 기판.
  12. 제11항에 있어서, 상기 주사 발생 신호 및 점등 신호는 서로 배선 그룹을 바꾸어 전달되는 것을 특징으로 하는 유기 EL 어레이 기판.
  13. 제11항에 있어서, 상기 제1 배선 그룹은 데이터 선택 신호를 전달하기 위한 데이터 선택 라인을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 EL 어레이 기판.
  14. 제12항에 있어서, 상기 각각의 유기 EL 패널은 주사 신호를 발생하기 위한 주사 구동부 및 발광 제어 신호를 구동하기 위한 발광 구동부를 포함하며, 상기 주사 발생 신호는 상기 주사 구동부의 입력 신호들인 것을 특징으로 하는 유기 EL 어레이 기판.
  15. 제14항에 있어서, 상기 주사 발생 라인은 상기 주사 구동부의 전원 전압, 개시 펄스 및 클럭 신호를 전달하는 것을 특징으로 하는 유기 EL 어레이 기판.
  16. 제15항에 있어서, 상기 각각의 유기 EL 패널은,
    상기 점등 신호중 점등 제어 신호에 따라 데이터 라인을 선택하고, 상기 점등 신호중 점등 검사 신호를 데이터 라인에 인가하기 위한 점등 회로부; 및
    상기 각각의 데이터 라인에 연결된 화소를 가지는 것을 특징으로 하는 유기 EL 어레이 기판.
  17. 제16항에 있어서, 상기 점등 회로부는 다수의 트랜지스터들을 가지고,
    레드 점등 제어 신호에 따라 레드 데이터 라인을 선택하기 위한 레드 점등 회로부;
    그린 점등 제어 신호에 따라 그린 데이터 라인을 선택하기 위한 그린 점등 회로부; 및
    블루 점등 제어 신호에 따라 블루 데이터 라인을 선택하기 위한 그린 점등 회로부를 가지는 것을 특징으로 하는 유기 EL 어레이 기판.
  18. 제16항에 있어서, 상기 유기 EL 패널은,
    상기 점등 회로부와 상기 데이터 라인 사이에 상기 데이터 선택 신호에 따라 데이터 라인을 선택하기 위한 데이터 분배기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 EL 어레이 기판.
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