KR20070025511A - 하드디스크 드라이브, 및 하드디스크 드라이브의 온도측정방법 - Google Patents
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Abstract
입력전압의 변동에 무관하게 온도를 측정할 수 있는 하드디스크 드라이브가 개시된다. 상기 하드디스크 드라이브는 써미스터 회로와 프로세서를 구비한다. 상기 써미스터 회로는 입력전압과 온도에 기초하여 출력전압을 발생하고, 상기 프로세서는 상기 입력전압과 상기 써미스터 회로의 출력전압을 수신하고 이들에 기초하여 상기 하드디스크 드라이브의 온도를 측정한다. 따라서 하드디스크 드라이브는 입력전압의 변동에 무관하게 상기 하드디스크 드라이브의 온도를 측정할 수 있다.
하드디스크 드라이브, 온도측정
Description
본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 상세한 설명이 제공된다.
도 1은 종래의 하드디스크 드라이브에 구현된 써미스터 회로를 나타낸다.
도 2는 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 온도 측정 장치를 개념적으로 나타낸다.
도 3은 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 온도 측정장치를 이용하여 하드디스크 드라이브의 온도측정 방법을 설명하기 위한 제1흐름도이다.
도 4는 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 온도 측정장치를 이용하여 하드디스크 드라이브의 온도측정 방법을 설명하기 위한 제2흐름도이다.
도 5는 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 온도 측정장치의 출력전압을 보상하는 방법을 개념적으로 나타낸다.
본 발명은 하드디스크 드라이브의 온도측정 방법에 관한 것으로, 보다 상세 하게는 써미스터 회로로 입력되는 입력전압의 변동에 무관하게 정확한 온도를 측정할 수 있는 온도측정 장치를 구비하는 하드디스크 드라이브와 상기 하드디스크 드라이브의 온도 측정 방법에 관한 것이다.
하드디스크 드라이브의 성능이나 신뢰도는 온도(특히, 극저온이나 고온)에 영향을 받는다. 따라서 온도에 따른 하드디스크 드라이브의 성능과 신뢰성을 보장하기 위하여 소정의 프로세서는 상기 하드디스크 드라이브의 온도를 측정하고 측정된 결과값을 이용하여 상기 하드디스크 드라이브의 각종 파라미터들을 보정한다.
하드디스크 드라이브는 온도에 따른 신뢰성을 확보하기 위하여 도 1과 같은 써미스터 회로를 사용한다. 도 1은 종래의 하드디스크 드라이브에 구현된 써미스터 회로(10)를 나타낸다. 도 1을 참조하면, 써미스터 회로(10)는 입력전압(VDD)과 접지전압(VSS)사이에 직렬로 접속된 저항(11)과 써미스터(thermistor; 12)를 구비한다. 상기 써미스터는 온도에 따라 저항값이 변하는 일종의 가변저항이다.
써미스터 회로(10)를 사용하여 하드디스크 드라이브의 온도를 측정하는 방법은 온도 측정값에 대한 신뢰도가 높지만 상기 써미스터 회로(10)로 입력되는 입력전압(VDD)이 변동하는 경우 출력전압(Vout)에 편차가 발생할 수 있다. 따라서 측정된 온도에 편차가 발생할 수 있다.
예컨대, 동일한 온도가 하드디스크 드라이브에 주어지고 입력전압(VDD)이 각각 3.3V일 때와 3.0V일 때 써미스터 회로(10)의 출력전압(Vout)은 서로 다르므로, 하드디스크 드라이브가 측정한 온도는 서로 달라질 수 있다.
따라서 온도 측정값의 편차를 줄이기 위하여 써미스터 회로(10)는 소정의 레 귤레이터(미도시)를 통하여 일정한 레벨을 갖는 입력전압(VDD)을 공급받을 수 있지만, 하드디스크 드라이브의 구성상 상기 하드디스크 드라이브가 상기 레귤레이터를 가질 수 없거나 상기 하드디스크 드라이브가 허용오차가 큰 레귤레이터를 사용할 경우, 상기 써미스터 회로(10)로 공급되는 입력전압(VDD)은 변동할 수 있다.
따라서, 상기 입력전압(VDD)이 변동하는 경우 상기 써미스터 회로(10)의 출력전압(Vout)은 써미스터(12)의 저항 값(Rt)과 상기 입력전압(VDD)에 따라 결정되므로, 상기 입력전압(VDD)이 변동할 때의 써미스터 회로(10)의 출력전압(Vout)에 대한 신뢰성은 상기 입력전압(VDD)이 일정한 레벨을 가질 때의 써미스터 회로(10)의 출력전압(Vout)에 대한 신뢰성보다 낮은 문제점이 있다.
따라서 본 발명이 이루고자 하는 기술적인 과제는 입력전압의 변동에 무관하게 온도를 측정할 수 있는 하드디스크 드라이브, 상기 하드디스크 드라이브로 입력되는 전압이 변동하는 경우라도 상기 하드디스크 드라이브의 온도를 정확하게 측정할 수 있는 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 기록매체를 제공하는 것이다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 하드디스크 드라이브는 써미스터 회로와 프로세서를 구비한다. 상기 써미스터 회로는 입력전압과 온도에 기초하여 출력전압을 발생하고, 상기 프로세서는 상기 입력전압과 상기 써미스터 회로의 출력전압을 수신하고 이들에 기초하여 상기 하드디스크 드라이브의 온도를 측정한다.
상기 써미스터 회로는 상기 입력전압을 수신하기 단자와 상기 출력전압을 출력하기 위한 출력단자사이에 접속된 저항과 상기 출력단자와 접지전원사이에 접속되어 상기 온도에 상응하는 저항값을 갖는 써미스터를 구비한다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 써미스터 회로와 프로세서를 이용하여 하드디스크 드라이브의 온도를 측정하는 방법은 상기 써미스터 회로가 입력전압과 온도에 기초하여 출력전압을 발생하는 단계와 상기 프로세서가 상기 입력전압과 상기 써미스터의 출력전압을 수신하고, 이들에 기초하여 상기 하드디스크 드라이브의 온도를 측정하는 단계를 구비한다.
본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 온도 측정방법은 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드로서 구현하는 것이 가능하다.
본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.
도 2는 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 온도 측정 장치를 개념적으로 나타낸다. 도 2를 참조하면, 하드디스크 드라이브에 구현된 온도 측정 장치(20)는 입력전압(VDD)을 수신하는 단자와 접지전원(VSS)사이에 직렬로 접속된 저항(R)과 써미스터를 구비하는 써미스터 회로(21)와 프로세서(23)를 구비한다.
도 3은 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 온도 측정장치를 이용하여 하드디스크 드라이브의 온도측정 방법을 설명하기 위한 제1흐름도이다.
도 2와 도 3을 참조하여 하드디스크 드라이브의 온도를 측정(또는 검출)하는 온도측정 장치(20)의 동작과 측정 방법을 설명하면 다음과 같다. 써미스터 회로(21)는 입력전압(VDD)과 써미스터의 저항 값(Rt)에 기초하여 출력전압(Vout)을 발생한다(S10). 프로세서(23)는 상기 입력전압(VDD)을 측정하고, 측정된 입력전압(VDD)과 상기 써미스터 회로(21)의 출력전압(Vout)에 기초하여 하드디스크 드라이브의 온도(T)를 측정한다(S20).
예컨대, 동일한 온도(T)에서 3.3V, 3.2V, 또는 3.0V와 같이 서로 다른 레벨을 갖는 입력전압(VDD)이 온도측정 장치(20)로 공급되는 경우, 상기 써미스터 회로(21)는 서로 다른 입력전압(VDD), 즉 3.3V, 3.2V, 또는 3.0V에 상응하는 출력전압(Vout)을 각각 발생한다(S10). 그러나, 본 발명에 따른 상기 프로세서(23)는 상기 입력전압(VDD)의 각 레벨을 측정하고, 측정된 입력전압(VDD)의 각 레벨과 상기 써미스터 회로(21)의 각 출력전압(Vout)에 기초하여 하드디스크 드라이브의 온도(T)를 측정할 수 있다(S20).
도 4는 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 온도 측정장치를 이용하여 하드디스크 드라이브의 온도측정 방법을 설명하기 위한 제2흐름도이다.
도 2와 도 4를 참조하여 하드디스크 드라이브의 온도를 측정하는 방법을 설명하면 다음과 같다. 프로세서(23)는 써미스터 회로(21)로 입력되는 입력전압(VDD)을 측정한다(S110). 써미스터 회로(21)는 입력전압(VDD)과 하드디스크 드라이브의 온도(T)에 기초하여 출력전압(Vout)을 발생한다(S120).
프로세서(23)는 입력전압(VDD)과 출력전압(vout)을 수신하고, 상기 입력전압(VDD)에 기초하여 상기 출력전압(Vout)을 보상하고(S130), 보상된 출력전압에 기초하여 하드디스크 드라이브의 온도(T)를 측정한다(S140).
도 5는 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 온도 측정장치의 출력전압을 보상하는 방법을 개념적으로 나타낸다.
도 2 내지 도 5를 참조하면, 하드디스크 드라이브에 구현된 프로세서(23)는 도 2에 도시된 바와 같은 써미스터 회로(10)로 입력되는 입력전압(VDD)(보다 정확하게는 입력전압의 레벨)을 측정한다(S110). 상기 프로세서(23)는 하드웨어, 소프트웨어, 또는 펌웨어(firmware)로 구현될 수 있다.
하드디스크 드라이브의 온도가 T이고 입력전압(VDD)이 Vref일 때, 본 발명에 따른 프로세서(23)는 입력되는 입력전압(VDD=Vref)을 측정하고, 써미스터 회로(10)는 입력전압(VDD=Vref)과 상기 온도(T)에 응답하여 Vout_ref인 출력전압(Vout)을 발생한다. 따라서 프로세서(23)는 Vref인 입력전압(VDD)과 Vout_ref인 출력전압(Vout)에 기초하여 수학식1을 이용하여 하드디스크 드라이브의 온도(T)를 측정한다.
여기서 T는 하드디스크 드라이브에서 측정된 온도이고, a와 b는 계수이고, X 는 써미스터 회로(10)의 출력전압(Vout_ref)이다. 이때 Vref와 Vref_out는 써미스터 회로(20)의 입/출력 기준전압으로 사용될 수 있다.
또한, 하드디스크 드라이브의 온도가 T이고 입력전압(VDD)이 VDD1일 때, 프로세서(23)는 입력전압(VDD1)을 측정하고 써미스터 회로(10)는 입력전압(VDD1)과 온도(T)에 응답하여 Vout1인 출력전압(Vout)을 발생한다.
따라서 상기 프로세서(23)는 VDD1인 입력전압(VDD)과 Vout1인 출력전압(Vout)에 기초하여 수학식2를 이용하여 하드디스크 드라이브의 온도(T)를 측정한다.
여기서, T는 하드디스크 드라이브에서 측정된 온도이고, a와 b는 계수이고, X'는 프로세서(23)에서 측정된 입력전압(VDD1)과 입력전압(VDD)이 VDD1일 때의 써미스터 회로(10)의 출력전압(Vout1)에 기초하여 보상된 써미스터 회로(10)의 출력전압을 나타낸다.
수학식 1과 수학식 2는 본 발명에 따른 온도 측정장치와 온도측정 방법의 설명의 편의를 위한 임의의 식으로서 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 온도를 측정하기 위한 일반적인 수학식은 아니다.
즉, 프로세서(23)는 Vref와 Vref_out를 기준으로 하여 입력전압이 VDD1 또는 VDD2인 경우, 상기 대응되는 입력전압(VDD1 또는 VDD2)에 기초하여 하드디스크 드 라이브의 온도에 따라 발생된 출력전압(Vout1 또는 Vout2)을 보상하고, 보상된 출력전압에 기초하여 하드디스크 드라이브의 온도를 측정한다.
따라서 본 발명에 따른 온도 측정 장치 또는 상기 온도 측정장치를 구비하는 하드디스크 드라이브는 입력전압의 변동에 무관하게 상기 하드디스크 드라이브의 온도를 측정(또는 측정)할 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 온도 측정장치 또는 상기 하드디스크 드라이브는 종래의 써미스터(10) 회로와 달리 써미스터 회로(21)로 입력되는 전압을 일정하게 유지시키기 위한 레귤레이터를 구비할 필요가 없다. 따라서 하드디스크 드라이브의 성능이나 신뢰도는 높아진다.
본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 온도 측정방법은 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드로서 구현하는 것이 가능하다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 컴퓨터 시스템에 의하여 읽혀질 수 있는 데이터가 저장되는 모든 종류의 기록장치를 포함한다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체의 예로는 ROM, RAM, CD-ROM, 자기 테이프, 플로피 디스크, 광 데이터 저장장치 등이 있으며, 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템에 분산되어, 분산방식으로 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드가 저장되고 실행될 수 있다. 그리고 본 발명을 구현하기위한 기능적인(functional) 프로그램, 코드 및 코드 세그먼트들은 본 발명이 속하는 기술분야의 프로그래머들에 의해 용이하게 추론될 수 있다.
본 발명은 도면에 도시된 일 실시 예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 등록청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 온도측정 방법과 하드디스크 드라이브는 써미스터 회로로 입력되는 전압의 변동에 무관하게 상기 하드디스크 드라이브의 온도를 정학하게 측정할 수 있는 효과가 있다.
Claims (5)
- 써미스터 회로와 프로세서를 이용하여 하드디스크 드라이브의 온도를 측정하는 방법에 있어서,상기 써미스터 회로가 입력전압과 온도에 기초하여 출력전압을 발생하는 단계; 및상기 프로세서가 상기 입력전압과 상기 써미스터의 출력전압을 수신하고, 이들에 기초하여 상기 하드디스크 드라이브의 온도를 측정하는 단계를 구비하는 하드디스크 드라이브의 온도를 측정하는 방법.
- 입력전압과 접지전압사이에 직렬로 접속된 저항과 써미스터를 구비하는 써미스터 회로를 이용하여 하드디스크 드라이브의 온도를 측정하는 방법에 있어서,상기 입력전압의 레벨을 측정하는 단계;측정된 입력전압의 레벨과 상기 써미스터의 출력전압에 기초하여 상기 써미스터 회로의 출력전압을 보상하는 단계; 및보상된 써미스터 회로의 출력전압에 기초하여 하드디스크 드라이브의 온도를 측정하는 단계를 구비하는 하드디스크 드라이브의 온도를 측정하는 방법.
- 제1항 또는 제2항에 기재된 발명을 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 기록매체.
- 하드디스크 드라이브에 있어서,입력전압과 온도에 기초하여 출력전압을 발생하는 써미스터 회로; 및상기 입력전압과 상기 써미스터 회로의 출력전압을 수신하고, 이들에 기초하여 상기 하드디스크 드라이브의 온도를 측정하는 프로세서를 구비하는 하드디스크 드라이브.
- 제4항에 있어서, 상기 써미스터 회로는,상기 입력전압을 수신하기 단자와 상기 출력전압을 출력하기 위한 출력단자사이에 접속된 저항; 및상기 출력단자와 접지전원사이에 접속되어 상기 온도에 상응하는 저항값을 갖는 써미스터를 구비하는 하드디스크 드라이브.
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| US6735035B1 (en) * | 2000-11-20 | 2004-05-11 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for enabling cold temperature performance of a disk |
| KR100443583B1 (ko) * | 2001-12-28 | 2004-08-09 | (주)한우리 전자 | 온도 검출장치 및 그 방법 |
-
2005
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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