KR20070023457A

KR20070023457A - 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기 및 이를사용하는 자동 테스트 시스템

Info

Publication number: KR20070023457A
Application number: KR1020050078044A
Authority: KR
Inventors: 장진모; 김영부; 유두식; 안병욱
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2005-08-24
Filing date: 2005-08-24
Publication date: 2007-02-28
Also published as: JP5021981B2; US20070061656A1; US7610530B2; KR100780941B1; JP2007057533A

Abstract

고속 인터페이스 기능블록을 테스트하는데 사용되는 고속의 테스트 신호에, 적절한 잡음을 선택적으로 주입할 수 있는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기 및 이를 사용하는 자동 테스트 시스템을 개시한다. 상기 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기는, 제1잡음주입블록 및 제2잡음주입블록을 구비한다. 상기 제1잡음주입블록은, 적어도 1개의 잡음제어신호에 응답하여 제1테스트입력신호에 소정의 잡음을 인가하여 제1테스트잡음신호를 생성한다. 상기 제2잡음주입블록은, 적어도 1개의 잡음제어신호에 응답하여 제2테스트입력신호에 소정의 잡음을 인가하여 제2테스트잡음신호를 생성한다. 여기서, 상기 제1테스트입력신호 및 상기 제2테스트입력신호는 위상이 서로 반대되는 직렬 디지털신호이다. 상기 자동 테스트 시스템은, HSI 샘플 데이터 생성기 및 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기를 구비한다. 상기 HSI 샘플 데이터 생성기는, 수신한 저속의 병렬 테스트데이터를 직렬로 결합하여 고속의 제1테스트입력신호 및 제2테스트입력신호를 생성한다. 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기는, 상기 제1테스트입력신호 및 상기 제2테스트입력신호에 소정의 잡음을 인가한 제1테스트잡음신호 및 제2테스트잡음신호를 생성한다.

Description

잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기 및 이를 사용하는 자동 테스트 시스템{High speed test data generator capable of inserting noise and automatic test system using the same}

본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 간단한 설명이 제공된다.

도 1은 고속 인터페이스 기능블록을 테스트할 수 있는 테스트 회로를 나타낸다.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 잡음주입이 가능한 고속 데이터 발생기를 나타낸다.

도 3a는 HSI 제1테스트입력신호(TXP)에 잡음을 주입하는 제1잡음주입블록(220-11)의 일부 회로도이다.

도 3b는 HSI 제2테스트입력신호(TXN)에 잡음을 주입하는 제2잡음주입블록(220-21)의 일부 회로도이다.

도 3c는 도 2에 표시된 2개의 지점(AP, AN)에서의 HSI 제1테스트입력신호(TXP) 및 HSI 제2테스트입력신호(TXN)를 겹쳐놓은 파형도이다.

도 3d는 도 2에 표시된 2개의 지점(BP, BN)에서의 HSI 제1테스트입력신호(TXP) 및 HSI 제2테스트입력신호(TXN)를 겹쳐놓은 파형도이다.

도 4a는 HSI 제1테스트입력신호(TXP)에 잡음을 주입하는 제1잡음주입블록(220-11)의 일부 회로도이다.

도 4b는 HSI 제2샘플 데이터신호(TXN)에 잡음을 주입하는 제2잡음주입블록(220-21)의 일부 회로도이다.

도 4c는 도 2에 표시된 2개의 지점(AP, AN)에서의 HSI 제1테스트입력신호(TXP) 및 HSI 제2테스트입력신호(TXN)를 겹쳐놓은 파형도이다.

도 4d는 제2P잡음제어신호(NCP2) 및 제2N잡음제어신호(NCN2)의 전압준위가 제1기준전압(Vref1) 보다 높은 경우 도 2에 표시된 2개의 지점(CP, CN)에서의 HSI 제1테스트입력신호(TXP) 및 HSI 제2테스트입력신호(TXN)를 겹쳐놓은 파형도이다.

도 4e는 제2P잡음제어신호(NCP2) 및 제2N잡음제어신호(NCN2)의 전압준위가 제1기준전압(Vref1) 보다 낮은 경우 도 2에 표시된 2개의 지점(CP, CN)에서의 HSI 제1테스트입력신호(TXP) 및 HSI 제2테스트입력신호(TXN)를 겹쳐놓은 파형도이다.

도 5a는 제1레벨잡음주입블록(220-12)의 구체적인 회로의 일 실시예이다.

도 5b는 제2레벨잡음주입블록(220-22)의 구체적인 회로의 일 실시예이다.

본 발명은 데이터 통신에 관한 것으로서, 특히, 고속 데이터 통신에 사용되는 인터페이스 기능블록의 테스트에 관한 것이다.

데이터 통신에 있어서 고속으로 송수신되는 데이터는 고속 인터페이스(High Speed Interface) 기능블록을 통하여 데이터 통신 시스템에 전달되는데, 상기 고속 인터페이스 기능블록은 일반적으로 상기 데이터 통신 시스템의 해당 기능블록에 내장되는 것이 일반적인데, 시스템을 구성하는 단일소자의 형태로 존재하는 경우도 있다. 고속으로 동작하는 상기 데이터 통신 시스템의 전기적 특성을 검증하기 위해서는, 고속 인터페이스 기능블록을 경유하여 인가되는 고속의 테스트 데이터 신호에 응답하는 데이터 통신 시스템의 출력신호를 조사하여야 한다.

일반적으로 테스트의 대상이 되는 장치(Device Under Test, 이하 DUT)의 전기적 특성을 검사할 때, 자동 테스트 장치(Automatic Test Equipment, 이하 ATE)를 사용한다. ATE는 상기 DUT에 전원전압, 입력신호 및 제어신호를 인가하고, 상기 DUT로부터 출력되는 신호의 전기적 특성을 검사하여 상기 DUT의 전기적 특성을 검증한다.

ATE를 이용하여 상기 DUT에 포함된 고속 인터페이스 기능블록의 데이터 송수신능력을 검사하기 위해서는, 제일 먼저 ATE가 DUT에서 사용되는 실제 데이터와 완전히 동일하거나 등가적으로(Equivalently) 동일한 고속의 테스트 용 데이터를 생성시켜 해당 고속 인터페이스 기능블록에 전달할 수 있어야 한다. 그러나 ATE가 생성할 수 있는 테스트 데이터의 속도는 일반적으로 수백 ㎒에서 수 ㎓정도이기 때문에, 실제 사용되고 있는 수 ㎓에서 수십 ㎓사이의 데이터를 직접 생성하여 테스트에 사용할 수 없다.

도 1은 고속 인터페이스 기능블록을 테스트할 수 있는 테스트 회로(100)를 나타낸다. 도 1에는 DUT 전체를 도시하지 않고, DUT에 포함된 데이터 인터페이스 기능블록(120) 만을 따로 구분하여 표시하였다.

도 1을 참조하면, 자동테스트장치(110)가 고속 인터페이스 기능블록(120)에 저속(수백 ㎒에서 수 ㎓)의 병렬 테스트 데이터(T-data)를 전달하면, 고속 인터페이스 기능블록(120)은 상기 데이터를 고속(수 ㎓에서 수십 ㎓)의 직렬 데이터로 결합시킨 데이터(Tx1, Tx2)로 변환하여 수신 단자(Rx1, Rx2)로 피드백 시킨다.

고속 인터페이스 기능블록(120)은, 수신한 고속의 직렬 데이터(Rx1, Rx2)를 처리한 데이터(TO-data)를 자동테스트장치(110)에 전달한다. 자동테스트장치(110)는 수신한 데이터(TO-data)를 이용하여 고속 인터페이스 기능블록(120)의 점선을 기준으로 하부에 위치한 수신부의 기능을 검증할 수 있다.

그러나 상기 테스트 회로(100)는, 고속 인터페이스 기능블록(120)의 수신부에 대해서는 검증할 수 있지만, 고속 인터페이스 기능블록(120)의 점선을 기준으로 상부에 위치한 송신부에 대해서는 여전히 검증할 수 없다는 단점이 있다.

고속의 데이터 통신에서는 데이터의 송수신 속도가 상당히 빠르기 때문에, 전달되는 데이터에 잡음이 유입되는 경우 올바른 정보가 전달되기 어렵다. 고속의 데이터가 데이터 통신 시스템에 전달되기 위해서는 고속 인터페이스 기능블록을 거쳐야 하는데, 상기 고속 인터페이스 기능블록은 어느 정도의 잡음에 견딜 수 있도록 설계되어 있다. 잡음에 의한 에러의 발생여부를 생산단계에서 판단하기 위해서는, 잡음이 포함된 고속의 테스트 데이터를 인가할 수 있어야 한다.

그러나 도 1에 도시 된 테스트 방법에서는, 상술한 잡음을 임의로 조절하여 생성시킬 수 없다는 단점을 더 포함하고 있다.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 고속의 테스트 신호에 적절한 잡음을 선택적으로 주입할 수 있는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기를 제공하는데 있다.

본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는, 상기 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기를 구비하는 자동 테스트 시스템을 제공하는데 있다.

상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기는, 제1잡음주입블록 및 제2잡음주입블록을 구비한다.

상기 제1잡음주입블록은, 적어도 1개의 잡음제어신호에 응답하여 제1테스트입력신호에 소정의 잡음을 인가하여 제1테스트잡음신호를 생성한다. 상기 제2잡음주입블록은, 적어도 1개의 잡음제어신호에 응답하여 제2테스트입력신호에 소정의 잡음을 인가하여 제2테스트잡음신호를 생성한다. 여기서, 상기 제1테스트입력신호 및 상기 제2테스트입력신호는 위상이 서로 반대되는 직렬 디지털신호이다.

상기 다른 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 자동 테스트 시스템은, HSI 샘플 데이터 생성기 및 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기를 구비한다.

상기 HSI 샘플 데이터 생성기는, 수신한 저속의 병렬 테스트데이터를 직렬로 결합하여 고속의 제1테스트입력신호 및 제2테스트입력신호를 생성한다. 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기는, 상기 제1테스트입력신호 및 상기 제2테스트입 력신호에 소정의 잡음을 인가한 제1테스트잡음신호 및 제2테스트잡음신호를 생성한다.

본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 도면에 기재된 내용을 참조하여야 한다.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 잡음 주입이 가능한 고속 데이터 발생기를 나타낸다.

도 2를 참조하면, 상기 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기(200)는, HSI 샘플 데이터 발생장치(210) 및 잡음주입블록(220)을 구비한다. DUT 회로블록(250)은 테스트 될 시료(Device Under Test)의 내부 회로를 나타낸다. DUT 회로블록(250)의 출력은 자동검사장치(Automatic Test Equipment, 이하 ATE)로 전송되어 고속 인터페이스 블록을 통하여 인가된 테스트 데이터에 응답하는 DUT 회로블록(250)의 전기적 특성이 검사된다.

HSI 샘플 데이터 생성기(210)는, 병렬로 유입되는 테스트 데이터(TEST DATA)를 직렬 데이터 신호로 변환시켜 서로 위상이 반대되는 HSI 제1테스트입력신호(TXP) 및 HSI 제2테스트입력신호(TXN)를 출력한다. 상기 테스트 데이터(TEST DATA)는 수백 ㎒ 내지 수 ㎓ 정도의 속도로 입력되는데, 이들 병렬 데이터를 동일한 시 간 구간에 직렬 연결된 데이터로 변환시켜 출력되는 HSI 제1테스트입력신호(TXP) 및 HSI 제2테스트입력신호(TXN)는 수 ㎓ 내지 수십 ㎓의 속도를 가진다.

외부로부터 유입되는 데이트 데이터(TEST DATA)는 ATE로부터 생성될 수 있다. 여기서, HSI 제1테스트입력신호(TXP) 및 HSI 제2테스트입력신호(TXN)는, HSI 샘플 데이터 생성기(210)의 출력단자와 동일한 의미로 사용되기도 한다. 또한 HSI 테스트입력신호(TXP, TXN)는 HSI 테스트입력신호(TXP, TXN)로 사용되기도 한다.

잡음주입블록(220)은, HSI 제1테스트입력신호(TXP) 및 HSI 제2테스트입력신호(TXN)에 소정의 잡음을 각각 인가하여, 제1테스트잡음신호(RXP)를 생성하는 제1잡음주입블록(220-1) 및 제2테스트잡음신호(RXN)를 생성하는 제2잡음주입블록(220-2)을 구비한다. 여기서, 제1테스트잡음신호(RXP) 및 제2테스트잡음신호(RXN)는, DUT 회로블록(250)의 입력단자와 동일한 의미로 사용되기도 한다.

제1잡음주입블록(220-1)은, 제1지터잡음주입블록(220-11) 및 제1레벨잡음주입블록(220-12)을 구비한다.

제1지터잡음주입블록(220-11)은, HSI 제1테스트입력신호(TXP)의 라이징 에지(Rising Edge) 및 폴링 에지(Falling Edge)의 경사(Slope)를 조절하며, 이 기능을 수행하기 위하여 제1커플링 커패시터(CCP1), 제1저항(R1), 제1커패시터(C1), 제1연산증폭기(OP1) 및 제2커패시터(C2)를 구비한다.

제1커플링 커패시터(CCP1)는 일 단자로 제1테스트입력신호(TXP)를 수신한다. 제1저항(R1)은 일 단자가 제1커플링 커패시터(CCP1)의 다른 일 단자에 연결된다. 제1커패시터(C1)는, 일 단이 제1저항(R1)의 다른 일단과 연결되고, 다른 일단에 제 1P잡음제어신호(NCP1)가 인가된다. 제1연산증폭기(OP1)는, 제1입력단자(-)가 제1저항(R1)과 제1커패시터(C1)의 공통단자 및 출력단자(CP)에 연결되고 제2입력단자(+)로 제2P잡음제어신호(NCP2)가 인가된다. 제2커패시터(C2)는 일 단이 제1연산증폭기(OP1)의 출력단자에 연결되고 다른 일 단이 제3P잡음제어신호(NCP3)가 인가된다.

제1레벨잡음 주입회로(220-12)는, 제1지터잡음 주입회로(220-11)의 출력신호의 전압준위(Voltage Level)를 제어하며, 이 기능을 수행하기 위하여 제2저항(R2), 제1가변저항(VR1) 및 제2커플링 커패시터(CCP2)를 구비한다.

제2저항(R2)은, 일 단이 제1연산증폭기(OP1)의 출력단자에 연결된다. 제1가변저항(VR1)은, 제4P잡음제어신호(NCP4)에 응답하여 그 저항 값이 변하며, 일 단이 제2저항의 다른 일 단과 연결되고 다른 일단이 제1전압전원(VSS)에 연결된다. 제1전압전원(VSS)은 접지전압(Ground Voltage)일 수도 있다. 제2커플링 커패시터(CCP2)는, 일 단이 제2저항(R2) 및 제1가변저항(VR1)의 공통단자에 연결되고 다른 일단으로 제1테스트잡음신호(RXP)를 출력한다.

도 2에는 제1지터잡음주입회로(220-11) 및 제1레벨잡음 주입회로(220-12)가 서로 직렬 연결되어 사용되는 것으로 표시되었지만, 각각 독립적으로 사용될 수 도 있고, 직렬 연결된 블록의 순서가 반대인 경우도 가능하다.

제2잡음주입블록(220-2)은, 제2지터잡음주입회로(220-21) 및 제2레벨잡음주입회로(220-22)를 구비한다. 제2지터잡음주입회로(220-21)는, HSI 제2테스트입력신호(TXN)의 라이징 에지(Rising Edge) 및 폴링 에지(Falling Edge)의 경사(Slope)를 조절하며, 이 기능을 수행하기 위하여 제3커플링 커패시터(CCN1), 제3저항(R3), 제 3커패시터(C3), 제2연산증폭기(OP2) 및 제4커패시터(C2)를 구비한다.

제3커플링 커패시터(CCN1)는 일 단자로 제2테스트입력신호(TXN)를 수신한다. 제3저항(R3)은 일 단자가 제3커플링 커패시터(CCN1)의 다른 일 단자에 연결된다. 제3커패시터(C3)는, 일 단이 제3저항(R3)의 다른 일단과 연결되고, 다른 일단에 제1N잡음제어신호(NCN1)가 인가된다. 제2연산증폭기(OP2)는, 제1입력단자(-)가 제3저항(R3)과 제3커패시터(C3)의 공통단자 및 출력단자(CN)에 연결되고 제2입력단자(+)로 제2N잡음제어신호(NCN2)가 인가된다. 제4커패시터(C4)는 일 단이 제2연산증폭기(OP2)의 출력단자에 연결되고 다른 일 단이 제3N잡음제어신호(NCN3)가 인가된다.

제2레벨잡음 주입회로(220-22)는, 제2지터잡음주입회로(220-21)의 출력신호의 전압준위(Voltage Level)를 제어하며, 이 기능을 수행하기 위하여 제4저항(R4), 제2가변저항(VR2) 및 제4커플링 커패시터(CCN2)를 구비한다.

제4저항(R4)은, 일 단이 제2연산증폭기(OP2)의 출력단자에 연결된다. 제2가변저항(VR2)은, 제4잡음제어신호(NCN4)에 응답하여 그 저항 값이 변하며, 일 단이 제4저항의 다른 일 단과 연결되고 다른 일단이 제1전압전원(VSS)에 연결된다. 제1전압전원(VSS)은 접지전압(Ground Voltage)일 수도 있다. 제4커플링 커패시터(CCN2)는, 일 단이 제4저항(R4) 및 제2가변저항(VR2)의 공통단자에 연결되고 다른 일단으로 제2테스트잡음신호(RXN)를 출력한다.

도 3은 도 2에 도시 된 본 발명의 일 실시예에 따른 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기의 동작을 설명하기 위한 것으로, 제2P잡음제어신호(NCP2)와 제2N잡음제어신호(NCN2)의 전압 값은 동일하고, 제1P잡음제어신호(NCP1)와 제1N잡 음제어신호(NCN1)는 서로 다른 경우이다.

도 2에 도시 된 복수 개의 커플링 커패시터들(CCP1, CCP2, CCN1, CCN2)은 입력되는 신호에 포함된 DC 성분을 차단시키기 위한 것으로서 이하에서는 이들을 제외하고 설명한다. 따라서, 도 2에 도시 된 제1지점(AP) 및 제4지점(AN)은, 도 3a 및 도 3b에 도시 된 제1저항(R1) 및 제3저항(R3)의 일 단을 의미하는 것으로 가정한다.

도 3a와 도 3b의 제2P잡음제어신호(NCP2) 및 제2N잡음제어신호(NCN2)는 제1기준신호(Vref1)에 바이어스(Bias) 되었다고 가정한다. 제1기준신호(Vref1)는 제1지점(AP) 및 제4지점(AN)으로 입력되는 신호의 중간전압이므로, 네가티브(Negative) 피드백 된 연산증폭기(OP1, OP2)는 버퍼(buffer)의 기능을 수행한다.

제1P잡음제어신호(NCP1)의 전압준위와 제1N잡음제어신호(NCN1)의 전압준위가 동일한 전압 값을 가지는 경우, 도 3c와 같은 형태의 파형을 얻을 수 있다. 도 3c 의 중간에 빗금으로 표시한 부분은 아이패턴(eye pattern)의 바람직한 형태를 나타낸다.

HSI 기능블록의 응답특성은 송수신되는 실제 데이터를 이용하여 테스트하여야 하지만, 테스트를 간단하게 하기 위하여 디지털 신호를 사용해서 상기 HSI 기능블록의 응답특성을 테스트하는 것이 일반적이다. 따라서 테스트 용 디지털 신호를 이용하여 HSI 기능블록을 테스트하고, 그 결과를 실제 송수신되는 데이터에 적용시켜야 한다. 이러한 점을 감안하여 도입된 것이 바로 디지털 신호의 아이패턴이다.

도 3c에 표시된 아이패턴은, 패턴의 중심점을 관통하는 가상의 수직선 및 가상의 수평선을 그었을 때, 상기 가상의 수직선의 좌우로 그리고 상기 가상의 수평선의 상하로 대칭성이 있다. 이러한 대칭성은, HSI 기능블록이 HSI 제1테스트입력신호(TXP) 및 HSI 제2테스트입력신호(TXN)가 활성화된 시간이 동일하다는 것을 의미한다.

도 3a에 도시된 회로의 제1지점(AP)으로 입력되는 신호에 대한 제2지점(CP)에서 출력되는 신호의 응답특성은, 제1P잡음제어신호(NCP1)의 전압준위에 따라 변하게 된다. 예를 들면, 제1N잡음제어신호(NCN1)의 전압준위는 변경시키지 않고, 제1P잡음제어신호(NCP1)의 전압준위를 제1N잡음제어신호(NCN1)의 전압준위 보다 낮은 전압 값을 가지는 경우, 도 3d와 같이 HSI 제1테스트입력신호(TXP)의 에지(Edge)의 경사(Slope)가 완만하여진다. 이 경우, HSI 제2테스트입력신호(TXN)의 에지는 도 3c에 도시된 것과 동일하므로, 아이패턴의 형태가 도 3c에 도시된 아이패턴의 형태와 다르게 된다.

도 3d에 도시된 아이패턴은, 도 3c에 도시된 아이패턴과 같은 대칭성이 없다. HSI 제1테스트입력신호(TXP)가 활성화된 시간(T1)이 HSI 제2테스트입력신호(TXN)가 활성화된 시간(T2)에 비하여 짧다. 도 3d의 신호는 도 3c의 신호와 비교할 때, 지터(jitter)성분의 잡음이 포함된 것이다.

일단이 제1연산증폭기(OP1)의 출력단자(CP)에 연결된 제2커패시터(C2)는, 다른 일 단에 인가되는 제3P잡음제어신호(NCP3)의 전압 값에 따라 제2지점(CP)에서의 제1테스트입력신호(TXP)를 지연시키게 하는 기능을 수행한다.

일 단이 제2연산증폭기(OP2)의 출력단자(CN)에 연결된 제4커패시터(C4)는, 다른 일 단에 인가되는 제3N잡음제어신호(NCN3)의 전압 값에 따라 제4지점(CN)에서의 제2테스트입력신호(TXN)를 지연시키게 하는 기능을 수행한다.

도 3d에는 제1N잡음제어신호(NCN1)의 전압준위는 변경시키지 않고, 제1P잡음제어신호(NCP1)의 전압준위를 제1N잡음제어신호(NCN1)의 전압준위 보다 낮은 전압 값을 가지는 경우를 예로 들었지만, 그 반대의 경우도 가능하다. 즉, HSI 제1테스트입력신호(TXP)는 변하지 않고, HSI 제2테스트입력신호(TXN)의 에지의 경사가 완만한 경우도 가능하다.

도 3d의 테스트 디지털 신호를 상기 HSI 기능블록에 인가시킴으로써, 고속의 데이터를 송수신하는 HSI 기능블록의 지터잡음이 포함된 신호에 대한 응답특성을 테스트할 수 있게 된다.

도 4는 도 2에 도시 된 본 발명의 일 실시예에 따른 잡음 주입이 가능한 고속 데이터 발생기의 동작을 설명하기 위한 것으로, 제1P잡음제어신호(NCP1)와 제1N 잡음제어신호(NCN1)는 동일한 전압 값을 가진다. 또한 제2P잡음제어신호(NCP2)와 제2N잡음제어신호(NCN2)의 전압 값도 동일하지만, 그 절대 값이 변화되는 경우이다.

도 4d를 참조하면, 제2지점(CP)에서의 제1테스트입력신호(TXP)의 전압준위는 제1테스트입력신호(TXP)와 제2기준전압(Vref2)이 교차하는 제1교차지점(P1)에서 감소하기 시작(P1')하고, 제4교차지점(P4)에서 증가하기 시작(P4')한다. 제2테스트입력신호(TXN)의 전압준위는 제2교차지점(P2)에서 증가하기 시작(P2')하고, 제3교차지점(P3)에서 감소하기 시작(P3')한다.

도 4d와 같이 제2지점(CP)에서의 파형을 겹쳤을 때 생성되는 아이패턴(빗금 친 영역)은 도 4c에 도시된 이상적인 아이패턴(빗금 친 영역)과 다르다. 이러한 경우 도 4d의 파형에는 지터 잡음이 포함되었다고 한다.

도 4e를 참조하면, 제2지점(CP)에서의 제1테스트입력신호(TXP)의 전압준위는 제1테스트입력신호(TXP)와 제3기준전압(Vref3)이 교차하는 제6교차지점(P6)에서 감소하기 시작(P6')하고, 제7교차지점(P7)에서 증가하기 시작(P7')한다. 제2테스트입력신호(TXN)의 전압준위는 제5교차지점(P5)에서 증가하기 시작(P5')하고, 제8교차지점(P8)에서 감소하기 시작(P8')한다.

도 4e와 같이 제2지점(CP)에서의 파형을 겹쳤을 때 생성되는 아이패턴(빗금 친 영역)은 도 4c에 도시된 이상적인 아이패턴(빗금 친 영역)과 다르다. 이러한 경우 도 4e의 파형에는 지터 잡음이 포함되었다고 한다.

도 4d 및 도 4e에는 제2P잡음제어신호(NCP2) 및 제2N잡음제어신호(NCN2)의 전압 값이 동일한 것(Vref1 내지 Vref3)으로 표시되었으나, 서로 다른 전압 값을 가지는 경우도 가능하다.

도 5는 도 2에 도시한 레벨잡음주입회로의 실시예를 나타낸다.

도 5a를 참조하면, 제1레벨잡음주입블록(220-12)을 구성하는 회로는 전압 분배회로로서, 노드(CP)에서의 전압과 제1전원(VSS) 사이에 위치하는 제2저항(R2) 및 제1가변저항(VR1)의 저항 값의 비에 따라 제1테스트잡음신호(RXP)의 전압 값이 결정된다. 제2저항(R2) 및 제1가변저항(VR1)의 저항 값이 동일한 경우에 제1테스트잡 음신호(RXP)는, 노드(CP) 전압과 제1전원(VSS)의 차이의 1/2에 해당하는 전압 값을 가질 것이다. 제2저항(R2)의 저항 값이 제1가변저항(VR1)의 저항 값에 비하여 작은 경우에는 노드(CP) 전압과 제1전원(VSS)의 차이의 1/2보다 큰 전압을 출력할 것이다. 다시 말하면, 제1가변저항(VR1)의 저항 값을 조절하여 노드(CP)로 인가되는 신호의 크기를 변경시킬 수 있으며, 이렇게 변경된 신호를 여기서는 레벨잡음이 포함된 신호라고 한다.

도 5b를 참조하면, 제2레벨잡음주입블록(220-22)을 구성하는 회로는 전압 분배회로로서, 도 5a를 설명한 것과 동일한 설명이 적용될 수 있으므로, 여기서는 설명을 생략한다.

상기한 바와 같이, 본 발명의 일 실시 예에 따른 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기는, 3종류의 잡음제어신호(NCP1 내지 NCP3, NCN1 내지 NCN3)를 이용하여 지터 잡음을 추가할 수 있으며, 또 다른 잡음제어신호(NCP4, NCN4)를 이용하여 레벨잡음을 추가할 수 있다.

상기 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기는, 자동 테스트 시스템에서 유용하게 사용할 수 있는데, 이는 당업자라면 누구든지 쉽게 구현할 수 있다.

이상에서와 같이 도면과 명세서에서 최적 실시예가 개시되었다. 여기서 특정한 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.

상술한 바와 같이 본 발명에 따른 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기 및 이를 사용하는 자동 테스트 시스템은, 테스트에 사용되는 고속의 데이터에 지터 잡음 및/또는 레벨잡음을 선택적으로 주입할 수 있기 때문에 고속 인터페이스 기능블록의 잡음에 대한 전기적 응답 특성을 검증하는데 사용할 수 있다.

Claims

적어도 1개의 잡음제어신호에 응답하여 제1테스트입력신호에 잡음을 인가하여 제1테스트잡음신호를 생성하는 제1잡음주입블록; 및

적어도 1개의 잡음제어신호에 응답하여 제2테스트입력신호에 잡음을 인가하여 제2테스트잡음신호를 생성하는 제2잡음주입블록을 구비하며,

상기 제1테스트입력신호 및 상기 제2테스트입력신호는 위상이 서로 반대되는 직렬 디지털신호인 것을 특징으로 하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기.
제1항에 있어서, 상기 잡음은,

지터잡음 및/또는 전압잡음 인 것을 특징으로 하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기.
제1항에 있어서,

병렬로 인가되는 저속의 테스트 데이터 신호를 결합하여 고속의 상기 제1테스트입력신호 및 상기 제2테스트입력신호를 생성하는 HSI 샘플데이터 생성기를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기.
제3항에 있어서, 상기 병렬로 인가되는 저속의 테스트 데이터신호는,

자동테스트장치로부터 생성되는 것을 특징으로 하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기.
제1항에 있어서, 상기 제1잡음주입블록은,

적어도 1개의 잡음제어신호에 응답하여 상기 제1테스트입력신호의 위상을 변경시켜 상기 제1테스트잡음신호를 생성하는 제1지터잡음주입블록을 구비하는 것을 특징으로 하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기.
제5항에 있어서, 상기 제1지터잡음주입블록은,

일 단으로 상기 제1테스트입력신호가 인가되는 제1저항;

일 단이 상기 제1저항의 다른 일단과 연결되고, 다른 일단으로 제1P잡음제어신호가 인가되는 제1커패시터; 및

제1입력단자가 상기 제1저항과 상기 제1커패시터의 공통단자 및 출력단자에 연결되고 제2입력단자로 제2P잡음제어신호가 인가되며, 상기 출력단자를 통하여 상기 제1테스트잡음신호를 출력하는 제1연산증폭기를 구비하는 것을 특징으로 하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기.
제6항에 있어서, 상기 제1지터잡음주입블록은,

일 단이 상기 제1연산증폭기의 출력단자에 연결되고, 다른 일단에 제3P잡음제어신호가 인가되는 제2커패시터를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기.
제6항에 있어서, 상기 제1지터잡음주입블록은,

일단으로 상기 제1테스트입력신호를 수신하고 다른 일단이 상기 제1저항의 일단이 연결된 제1커플링 커패시터; 및

일단이 상기 연산증폭기의 출력단자에 연결되고 다른 일단으로 상기 제1테스트잡음신호를 출력하는 제2커플링 커패시터를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기.
제1항에 있어서, 상기 제1지터잡음주입블록은,

적어도 1개의 상기 잡음제어신호에 응답하여 상기 제1테스트입력신호의 전압준위를 변경시켜 상기 제1테스트잡음신호를 생성하는 제1레벨잡음주입블록을 구비하는 것을 특징으로 하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기.
제9항에 있어서, 상기 제1레벨잡음주입블록은,

일 단에 상기 제1테스트입력신호가 인가되는 제2저항; 및

제4P잡음제어신호에 응답하여 그 저항 값이 변하며, 일 단이 상기 제2저항의 다른 일단에 연결되고 다른 일단이 제1전압전원에 연결된 제1가변저항을 구비하며,

상기 제2저항 및 상기 제1가변저항의 공통단자를 통하여 상기 제1테스트잡음신호가 출력되는 것을 특징으로 하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생 기.
제10항에 있어서, 상기 제1레벨잡음주입블록은,

일 단으로 상기 제1테스트입력신호를 수신하고 다른 일단이 상기 제2저항의 일 단에 연결된 제1커플링 커패시터; 및

일 단이 상기 제2저항과 상기 제1가변저항의 공동 단자에 연결되고, 다른 단자를 통하여 상기 제1테스트잡음신호를 출력하는 제2커플링 커패시터를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기.
제1항에 있어서, 상기 제1잡음주입블록은,

적어도 1개의 상기 잡음제어신호에 응답하여 상기 제1테스트입력신호의 위상을 변경시킨 제1위상지연신호를 출력하는 제1지터잡음주입블록; 및

적어도 1개의 상기 잡음제어신호에 응답하여 상기 제1위상지연신호의 전압준위를 변경시켜 상기 제1테스트잡음신호를 생성하는 제1레벨잡음주입블록을 구비하는 것을 특징으로 하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기.
제1항에 있어서, 상기 제2잡음주입블록은,

적어도 1개의 상기 잡음제어신호에 응답하여 상기 제2테스트입력신호의 위상을 변경시켜 상기 제2테스트잡음신호를 생성하는 제2지터잡음주입블록을 구비하는 것을 특징으로 하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기.
제13항에 있어서, 상기 제2지터잡음주입블록은,

일 단으로 상기 제2테스트입력신호가 인가되는 제3저항;

일 단이 상기 제3저항의 다른 일단과 연결되고, 다른 일단으로 제1N잡음제어신호가 인가되는 제3커패시터; 및

제1입력단자가 상기 제3저항과 상기 제3커패시터의 공통단자 및 출력단자에 연결되고 제2입력단자로 제2N잡음제어신호가 인가되며, 상기 출력단자를 통하여 상기 제2테스트잡음신호를 출력하는 제2연산증폭기를 구비하는 것을 특징으로 하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기.
제13항에 있어서, 상기 제2지터잡음주입블록은,

일 단이 상기 제2연산증폭기의 출력단자에 연결되고, 다른 일단에 제3N잡음제어신호가 인가되는 제4커패시터를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기.
제13항에 있어서, 상기 제2지터잡음주입블록은,

일단으로 상기 제2테스트입력신호를 수신하고 다른 일단이 상기 제3저항의 일단이 연결된 제3커플링 커패시터; 및

일단이 상기 제2연산증폭기의 출력단자에 연결되고 다른 일단으로 상기 제2테스트잡음신호를 출력하는 제4커플링 커패시터를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기.
제1항에 있어서, 상기 제2잡음주입블록은,

적어도 1개의 상기 잡음제어신호에 응답하여 상기 제2테스트입력신호의 전압준위를 변경시켜 상기 제2테스트잡음신호를 생성하는 제2레벨잡음주입블록을 구비하는 것을 특징으로 하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기.
제17항에 있어서, 상기 제2레벨잡음주입블록은,

일 단에 상기 제2테스트입력신호가 인가되는 제4저항; 및

제4N잡음제어신호에 응답하여 그 저항 값이 변하며, 일 단이 상기 제4저항의 다른 일단에 연결되고 다른 일단이 제1전압전원에 연결된 제2가변저항을 구비하며,

상기 제4저항 및 상기 제2가변저항의 공통단자를 통하여 상기 제2테스트잡음신호가 출력되는 것을 특징으로 하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기.
제18항에 있어서, 상기 제2레벨잡음주입블록은,

일 단으로 상기 제2테스트입력신호를 수신하고 다른 일단이 상기 제4저항의 일 단에 연결된 제3커플링 커패시터; 및

일 단이 상기 제4저항과 상기 제2가변저항의 공동 단자에 연결되고, 다른 단자를 통하여 상기 제2테스트잡음신호를 출력하는 제4커플링 커패시터를 더 구비하 는 것을 특징으로 하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기.
제1항에 있어서, 상기 제2잡음주입블록은,

적어도 1개의 상기 잡음제어신호에 응답하여 상기 제2테스트입력신호의 위상을 변경시킨 제2위상지연신호를 출력하는 제2지터잡음주입블록; 및

적어도 1개의 상기 잡음제어신호에 응답하여 상기 제2위상지연신호의 전압준위를 변경시켜 상기 제2테스트잡음신호를 생성하는 제2레벨잡음주입블록을 구비하는 것을 특징으로 하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기.
수신한 저속의 병렬 테스트데이터를 직렬로 결합하여 고속의 제1테스트입력신호 및 제2테스트입력신호를 생성하는 HSI 샘플 데이터 생성기; 및

상기 제1테스트입력신호 및 상기 제2테스트입력신호에 소정의 잡음을 인가한 제1테스트잡음신호 및 제2테스트잡음신호를 생성하는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기를 구비하며,

상기 제1테스트잡음신호 및 상기 제2테스트잡음신호에 응답하여 동작하는 HSI 기능블록을 포함하는 데이터 통신장치(Data Communication Device)의 전기적 특성을 테스트하는 자동 테스트 시스템.
제21항에 있어서,

상기 병렬 테스트데이터는, 상기 자동 테스트 시스템에서 생성시키는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 시스템.
제21항에 있어서, 상기 제1테스트입력신호 및 상기 제2테스트입력신호는,

서로 위상이 반대되는 디지털 신호인 것을 특징으로 하는 자동 테스트 시스템.