KR20060088890A - 디스크 구동 장치 - Google Patents

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KR20060088890A KR1020067006080A KR20067006080A KR20060088890A KR 20060088890 A KR20060088890 A KR 20060088890A KR 1020067006080 A KR1020067006080 A KR 1020067006080A KR 20067006080 A KR20067006080 A KR 20067006080A KR 20060088890 A KR20060088890 A KR 20060088890A
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마르셀 에프. 헤에르티에
프란시스쿠스 엘. 엠. 크레메르
프랑크 비. 스퍼링
조르지 에이 엘 레엔네그트
호르스트 룸프
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코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이.
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Abstract

한가지 타입의 광학 디스크 구동장치(1)를 제어하기 위해 방법이 기재되어 있으며, 상기 장치는 광학 디스크(2)의 기록 트랙을 주사하고 판독 신호(SR)를 생성하는 주사 수단(30), 상기 디스크(2)에 대한 상기 주사 수단(30)의 적어도 하나의 판독/기록 엘리먼트(34)의 위치 지정을 제어하는 액추에이터 수단(50); 상기 판독 신호(SR)를 수신하고 상기 판독 신호(SR)의 적어도 하나의 신호 구성요소를 근거로 적어도 하나의 액추에이터 제어 신호(SCR)를 생성하며, 적어도 하나의 가변 제어 파라미터를 가진 제어 회로(90)를 포함한다. 상기 방법은 상기 판독 신호(SR)로부터 서로 다른 타입의 적어도 2개의 신호(REn; MIRn)를 유도하는 단계와; 상기 적어도 2개의 신호의 함수로서 상기 적어도 하나의 가변 제어 파라미터의 설정을 가변시키는 단계를 포함한다.
광학 디스크, 구동장치, 가변제어, 디스크 결함

Description

디스크 구동 장치{DISK DRIVE APPARATUS}
본 발명은 일반적으로 광학 저장 디스크에 대해 정보를 기록/판독하는 광학 디스크 구동장치에 관한 것이다.
통상 알려진 바와 같이, 광학 저장 디스크는 연속 나선(spiral) 또는 다중 동심원 타입으로 된 적어도 하나의 트랙(track)으로 된 저장 공간을 포함하고 있으며, 상기 저장 공간에는 데이터 패턴 형태로 정보를 저장할 수 있다. 광학 디스크에는 제조 중에 정보를 기록하고 사용자는 정보를 읽을 수만 있도록 된 판독 전용형(read-only type)이 있다. 광학 저장 디스크에는 사용자가 정보를 저장할 수 있는 기록 가능형(writeable)도 있다. 광학 저장 디스크의 저장 공간에 정보를 기록하거나 상기 디스크로부터 정보를 판독하기 위하여, 광학 디스크 구동기는 한편으로는 광학 디스크를 수용하고 회전시키는 회전 수단을 포함하고, 다른 한편으로는 레이저 빔과 같은 광학 빔을 발생시키고 상기 레이저 빔으로 저장 트랙을 주사하는 광학 수단을 포함한다. 일반적인 광학 디스크 기술, 즉 광학 디스크에 정보를 저장할 수 있는 방법과 광학 디스크로부터 광학 데이터를 판독할 수 있는 방법은 통상 알려져 있으므로, 여기서 이러한 기술에 대해서 상세하게 설명할 필요는 없을 것이다.
광학 디스크를 회전시키기 위해 광학 디스크 구동기는 일반적으로 모터를 포함하고 있으며, 이 모터는 광학 디스크의 중앙부에 맞물리는 허브(hub)를 구동한다. 보통, 상기 모터는 스핀들(spindle) 모터로 구현되며, 모터 구동 허브는 모터의 스핀들 축에 직접 설치될 수 있다.
회전 디스크를 광학적으로 주사하기 위해, 광학 디스크 구동기는 빔 발생 장치(일반적으로 레이저 다이오드)와, 광학 디스크 상에 광빔(light beam)의 초점을 맞추는 대물렌즈와, 상기 디스크로부터 반사된 반사광을 수신하고 전기 검출기 출력신호를 발생시키는 광학 검출기를 포함한다. 상기 광학 검출기는 다중 검출기 세그먼트(multiple detector segments)를 포함하고, 각 세그먼트는 개개의 세그먼트 출력신호를 제공한다.
동작 중에는 광빔이 상기 디스크에 초점이 맞추어진 상태로 있어야 한다. 이를 위해, 대물렌즈는 축 방향으로 이동 가능하게 설치되고, 광학 디스크 구동기는 상기 대물렌즈의 축 위치를 제어하는 초점 액추에이터 수단(focal actuator means)을 포함한다. 또한, 초점은 트랙과 정렬 상태로 있거나 새로운 트랙에 대해 위치를 정할 수 있어야 한다. 이를 위해, 대물렌즈는 적어도 방사상(radial)으로 이동할 수 있도록 장착되어 있고, 광학 디스크 구동기는 대물렌즈의 방사상 위치를 제어하는 방사상 액추에이터 수단을 포함한다.
여러 디스크 구동기에서, 대물렌즈는 기울일 수 있도록 설치되며, 이러한 광 학 디스크 구동기는 대물렌즈의 경사각을 제어하는 틸트(tilt) 액추에이터 수단을 포함한다.
이러한 액추에이터를 제어하기 위해, 광학 디스크 구동기는 광학 검출기로부터 출력신호를 수신하는 제어기를 포함한다. 이러한 신호로부터(이하, 판독신호라고 함), 상기 제어기는, 예를 들어 초점 에러 신호나 방사상 에러 신호와 같은 하나 이상의 에러 신호를 유도하고, 이러한 에러 신호들을 근거로 하여, 상기 제어기는 상기 액추에이터를 제어하는 액추에이터 제어 신호를 생성하여 위치 에러를 감소시키거나 제거한다.
액추에이터 제어 신호를 발생시키는 과정에서, 상기 제어기는 특정한 제어 특성을 나타낸다. 이러한 제어 특성은 제어기의 특징으로서, 위치 에러를 검출하는 것에 대한 반응으로서 제어기가 동작하는 방법으로서 설명될 수 있다. 실제로 위치 에러는 서로 다른 타입의 장해(disturbance)에 의해 야기될 수 있다.
가장 중요한 종류의 2가지 장해는 다음과 같다.
1) 디스크 결함(disc defects)
2) 외부 충격 및 (주기적) 진동
제1 카테고리는 검은 점(black dots)과 같은 내부 디스크 결함, 지문(fingerprints)과 같은 오염, 긁힘(scratches)과 같은 손상을 등을 포함한다. 제2 카테고리는 디스크 구동기에 부딪히는 물체로 인한 충격을 포함하지만, 충격과 진동은 주로 휴대형 디스크 구동기와 차량에 적용했을 경우에 예상되는 것이다. 근원적인 차이점과는 별개로, 디스크 결함 쪽과 충격 및 진동 쪽의 중요한 차이는 신 호 장해의 주파수 범위이다. 디스크 결함에 의해 발생되는 신호 장해는 일반적으로 고주파인 반면, 충격 및 진동은 일반적으로 저주파이다.
이와 관련된 문제는 제1 카테고리의 장해를 적절히 처리하기 위해서는 제2 카테고리의 장해를 적절히 처리하는 것과는 다른 제어 특성이 필요하다는 것이다. 종래에는, 디스크 구동기의 제어기가 고정된 제어 특성을 가지고 있는데, 이러한 제어 특성은, 제1 카테고리의 장해를 적절히 처리하기 위해서 특별히 적응시키는 것(이 경우에서의 에러 제어는 제2 카테고리의 장해의 경우에 대해서는 최적이 아님)과 제2 카테고리의 장해를 적절히 처리하기 위해서 특별히 적응시키는 것(이 경우에서의 에러 제어는 제1 카테고리의 장해의 경우에 대해서는 최적이 아님) 중 하나이거나, 또는 절충한 것(이 경우에서의 에러 제어는 제1 카테고리의 장해의 경우뿐만 아니라 제2 카테고리의 장해의 경우에 대해서도 최적이 아님)이다. 제어기가 선형제어 기술을 이용하는 한, 잡음 측정에 대한 저주파 장해 배제(rejection)와 고주파 장해 민감성(sensitivity) 사이에서의 절충은 항상 존재하게 된다.
최근의 기술에서, 경험으로 얻은 장해의 타입에 따라 제어기의 이득을 변경하는 것이 이미 제안되었다. 예를 들어, 미국 특허 제4,722,079호를 참조할 수 있다.
가변 이득을 갖는 제어기를 구현할 수 있도록 하기 위해서는, 어느 종류의 장해가 가까이 있는지를 판정하는 것이 필수적이다. 상기 미국 특허 제4,722,079호에서는 광학 판독 신호가 처리되어 장해 종류를 판정하는 시스템에 대해 기재하고 있으나, 이러한 시스템은 3-빔 광학 시스템을 필요로 한다.
미국 특허 제5,867,461호에서도 광학 판독 신호가 처리되어 장해 종류를 판정하는 시스템에 대해 기재되어 있다. 이와 같은 공지 시스템에서는, 고주파 신호 콘텐츠 중에서 포락선(envelope)이 판정된다. 이러한 방법에서의 한 가지 단점은 디스크에 기록된 데이터에 의존한다는 것이다. 이것은 공 디스크(blank disc)의 경우에는 적용할 수 없다. 또 다른 단점은 이러한 방법에서는 복잡한 회로, 특히 상단 피크(upper peak) 및 하단 피크(lower peak)를 검출하는 회로, 상단 포락선 및 하단 포락선을 검출하기 위해 필터링하는 회로, 이러한 포락선을 해석하는 회로, 메모리에 신호를 저장하는 회로를 필요로 한다.
일반적인 문제는 디스크 결함뿐만 아니라 기계적 충격을 처리할 수 있어야 하는 디스크 구동기에 제어 특성을 적응시키는 것에 관한 것이다. 한 타입의 장해를 더 양호하게 처리하기 위해 제어 특성을 변경시키는 것은 다른 타입의 장해를 처리하는 제어기의 성능에 심각한 영향을 줄 수 있다.
또한, 본 발명자는 단일 검출 신호가 항상 기계적 충격과 디스크 결함 사이의 판별을 위한 신뢰할 수 있는 정보 소스(source)가 아니라는 것을 알게 되었다. 다시 말해, 특정 신호가 디스크 결함의 경우뿐만 아니라 기계적 충격의 경우에도 발생될 수 있어서, 디스크 결함으로서 또는 기계적 충격으로서 사건(event)이 잘못 판정될 수 있다.
본 발명의 일반적인 목적은 사건이 기계적 충격의 발생에 대응하는 것인지 또는 디스크 결함의 발생에 대응하는 것인지를 더욱 신뢰성 있게 판정할 수 있는 방법을 제공하는 것이다.
또한, 본 발명의 목적은 상대적으로 용이하게 구현될 수 있는 장해 종류의 판정 방법을 제공하는 것이다.
또한, 본 발명의 목적은 상기한 판정의 결과를 근거로 하여 제어기의 제어 특성을 변경시키는 방법을 제공하는 것이다.
(발명의 요약)
본 발명의 첫 번째 중요한 양태에 따르면, 디스크 구동장치에서 서로 다른 타입의 장해를 판별하는 방법은 검출기 신호로부터 각각 유도된 적어도 2개의 신호를 수신하고 처리하는 것에 근거하고 있다. 제1 타입의 신호는 2개 이상의 개별 세그먼트 출력신호의 합을 근거로 한 신호이다. 제1 타입의 바람직한 신호는 모든 검출기 세그먼트의 개별 세그먼트 출력신호의 합, 아마도 가중합(weighed summation)을 발생시킴으로써 생성된다. 이러한 타입 1의 신호는 디스크의 반사력(즉, “디스크 품질”)에 대한 척도로 되고, 주로 디스크 결함에 민감하게 될 것이다.
제2 타입의 신호는 2개 이상의 개별 세그먼트 출력신호의 합을 근거로 하고 있으며, 이러한 신호 중 적어도 하나는 -1로 곱해진다. 이러한 타입 2의 신호는 단지 위치 에러의 발생을 나타낼 것이다.
제1 타입의 신호들은 디스크 결함 또는 충격을 나타내는 특정 응답을 줄 수 있으며, 마찬가지로 제2 타입의 신호들은 디스크 결함이나 충격의 경우에 특정 응답을 줄 수 있다. 본 발명의 두 번째 중요한 양태에 따르면, 디스크 결함이나 충격은 단지 제1 및 제2 타입의 신호 둘 다가 서로 일치하는 경우에 판정되어, 잘못된 판단의 가능성은 감소된다.
초점 에러 신호 또는 방사상 에러 신호를 고려함으로써, 수직 방향(즉, 디스크 회전축에 평행하는 방향)에서의 충격과 수평 방향(즉, 디스크 회전축에 대해 직교하는 방향)에서의 충격 간의 구별을 할 수 있음에 유의해야 한다.
본 발명의 양태, 특징 및 장점들은 도면을 참조하여 아래에서 더욱 상세히 설명될 것이며, 도면에서 동일한 참조 부호는 동일하거나 유사한 구성요소를 지시한다.
도 1A는 광학 디스크 구동장치의 관련 부품을 나타내는 도면.
도 1B는 광학 검출기의 실시예를 더욱 상세하게 나타내는 도면.
도 2는 액추에이터 제어회로를 나타내는 블록도.
도 3은 액추에이터 제어회로의 파라미터를 가변시키는 기능을 나타내는 그래프.
도 4는 본 발명의 작용을 나타내는 신호의 타이밍도.
도 1A는 일반적인 DVD 또는 CD와 같은 광학 디스크(2)로부터 정보를 저장하거나 정보를 판독하는 데에 적합한 광학 디스크 구동장치(1)를 도식적으로 나타내고 있다. 상기 디스크(2)를 회전시키기 위해, 상기 디스크 구동장치(1)는 회전 축(5)을 정하는, 프레임(단순명료하게 하기 위해 도시하지 않음)에 고정된 모터(4)를 포함한다.
상기 디스크 구동장치(1)는 광학 빔으로 상기 디스크(2)의 트랙(도시하지 않음)을 주사하는 광학 시스템(30)을 더 포함하고 있다. 더욱 구체적으로는, 도 1A에 나타낸 실시 형태에서, 광학 시스템(30)은 광빔(32)을 발생시키기 위해 설치된, 레이저 다이오드와 같은 전형적인 레이저로서의 광빔 발생 수단(31)을 포함하고 있다. 이하에서는 광빔(32)의 서로 다른 섹션(section)을, 광학 경로(optical path)(39)에 따라 참조번호 32에 문자 a, b, c 등을 부가하여 표시한다.
광빔(32)은 빔 스플리터(beam splitter)(33), 시준 렌즈(collimator lens)(37) 및 대물렌즈(34)를 통과하여 디스크(2)에 도달한다. 대물렌즈(34)는 상기 디스크의 기록층(단순명료하게 하기 위해 도시하지 않음) 상에서 초점(F)에 광빔(32b)의 초점이 맞도록 설계된다. 광빔(32b)은 디스크(2)로부터 반사되고[반사된 광빔(32c)], 대물렌즈(34), 시준 렌즈(37) 및 빔 스플리터(33)를 통과하여, 광학 검출기(35)에 도달한다(빔 32d). 도시한 경우에서는, 예를 들어 프리즘과 같은 광학 엘리먼트(element)(38)가 빔 스플리터(33)와 광학 검출기(35) 사이에 개재되어 있다.
상기 디스크 구동장치(1)는 디스크(2)에 대해 대물렌즈(34)를 방사상으로 이동시키는 방사상 액추에이터(radial actuator)를 포함하는 액추에이터 시스템(50)을 더 포함하고 있다. 방사상 액추에이터는 기본적으로 공지되어 있고, 본 발명은 이러한 방사상 액추에이터의 설계 및 기능에 관한 것이 아니므로, 방사상 액추에이 터의 설계 및 기능에 대해 여기서 상세하게 설명할 필요는 없을 것이다.
디스크(2)의 원하는 위치에 정확하게, 올바른 초점을 맞추고 유지하기 위해, 상기 대물렌즈(34)는 축 방향으로 이동 가능하게 장착되며, 상기 액추에이터 시스템(50)도 디스크(2)에 대해 대물렌즈(34)를 축 방향으로 이동시킬 수 있게 설치된 초점 액추에이터(52)를 포함하고 있다. 초점 액추에이터는 그 자체가 공지된 것이고, 이러한 초점 액추에이터의 기능 및 동작도 본 발명의 주제는 아니므로, 초점 액추에이터의 설계 및 동작에 대해 여기서 상세하게 설명할 필요는 없을 것이다.
대물렌즈(34)의 틸트(tilt) 위치를 정확하게 구하고 유지하기 위해, 대물렌즈(34)는 피벗(pivot) 가능하게 장착될 수 있다. 이 경우에, 도시한 바와 같이, 액추에이터 시스템(50)도 디스크(2)에 대한 대물렌즈(34)의 피벗 동작을 위해 설치된 틸트 액추에이터(53)를 포함하고 있다. 틸트 액추에이터는 그 자체가 공지된 것이고, 이러한 틸트 액추에이터의 기능 및 동작도 본 발명의 주제는 아니므로, 틸트 액추에이터의 설계 및 동작에 대해 여기서 상세하게 설명할 필요는 없을 것이다.
또한, 대물렌즈를 피벗하는 수단뿐만 아니라, 장치의 프레임에 대해 대물렌즈를 지지하는 수단과, 대물렌즈를 방사상 및 축 방향으로 이동시키는 수단도 일반적으로 공지된 것임에 유의해야 한다. 이러한 지지 및 이동 수단의 설계 및 동작이 본 발명의 주제는 아니므로, 그 설계 및 동작에 대해 여기서 상세하게 설명할 필요는 없을 것이다.
또한, 방사상 액추에이터(51), 초점 액추에이터(52) 및 틸트 액추에이터(53)는 하나의 통합 액추에이터로 구현할 수도 있음에 유의해야 한다.
디스크 구동장치(1)는 제어회로(90)를 더 포함하고 있으며, 상기 제어회로(90)는 모터(4)의 제어입력에 연결된 제1 출력(92)과, 방사상 액추에이터(51)의 제어입력에 결합된 제2 출력(93)과, 초점 액추에이터(52)의 제어입력에 결합된 제3 출력(94)과, 틸트 액추에이터(53)의 제어입력에 결합된 제4 출력(95)을 가진다. 제어회로(90)는 모터(4)를 제어하는 제어신호(SCM)를 그 제1 출력(92)에서 발생시키도록, 방사상 액추에이터(51)를 제어하는 제어신호(SCR)를 그 제2 출력(93)에서 발생시키도록, 초점 액추에이터(52)를 제어하는 제어신호(SCF)를 그 제3 출력(94)에서 발생시키도록, 틸트 액추에이터(53)를 제어하는 제어신호(SCT)를 그 제4 출력(92)에서 발생시키도록 설계된다.
제어회로(90)는 또한 광학 검출기(35)로부터 판독신호(SR)를 수신하는 판독신호 입력(91)을 가지고 있다.
도 1B는 다수의 검출기 세그먼트를 포함하는 광학 검출기(35)를 나타내고 있다. 도 1B에 나타낸 경우에서, 광학 검출기(35)는 6개의 검출기 세그먼트(35a, 35b, 35c, 35d, 35e, 35f)를 포함하고 있으며, 이들 각각은 개별적인 검출기 신호(A, B, C, D, S1, S2)를 제공할 수 있고, 6개의 검출기 세그먼트 각각에 입사(入射)되는 광의 양을 각각 표시할 수 있다. 중앙 개구(central aperture) 검출기 세그먼트로서도 표시되는 4개의 검출기 세그먼트(35a, 35b, 35c, 35d)는 사분면 구조(four-quadrant configuration)로 배치된다. 제1 및 제4 세그먼트(35a, 35d)와 제2 및 제3 세그먼트(35b, 35c)를 분리하는 중심 라인(36)은 트랙 방향에 대응하는 방향으로 있다. 위성(satellite) 검출기 세그먼트로서도 표시되는 2개의 검출기 세그먼트(35e, 35f)는 서브 세그먼트로 재분할된 그 자신일 수도 있는데, 이것은 상기 중심 라인(36)의 반대쪽에서 상기 중앙 검출기 사분면 옆에 대칭적으로 배치되어 있다. 이러한 6-세그먼트 검출기는 통상 그 자체가 공지된 것이므로, 그 설계 및 기능에 대해 여기서 상세하게 설명할 필요는 없을 것이다.
광학 검출기(35)에 대해 다른 설계도 가능하다는 점에 유의해야 할 것이다. 예를 들어, 위성 세그먼트는 공지된 것이므로 생략하였다.
도 1B는 제어 회로(9)의 판독신호 입력(91)이 모든 개별 검출기 신호를 수신하는 다수의 입력을 실제적으로 포함하고 있다는 것을 나타낸다. 따라서, 도시한 6-사분면 검출기(six-quadrant detector)의 경우에, 제어회로(90)의 판독신호 입력(91)은 상기 개별 검출기 신호(A, B, C, D, S1, S2)를 각각 수신하는 6개의 입력(91a, 91b, 91c, 91d, 91e, 91f)을 실제적으로 포함하고 있다. 본 기술 분야의 숙련자라면 명백히 알 수 있듯이, 데이터 신호와 하나 이상의 에러 신호를 유도하기 위해, 상기 개별 검출기 신호(A, B, C, D, S1, S2)를 처리하도록 상기 제어회로(90)가 설계된다. 이하에서 간단히 RE로 표시하는 방사상 에러 신호는 트랙과 초점(F) 사이의 방사상 거리를 나타낸다. 이하에서 간단히 RF로 표시하는 초점 에러 신호는 저장층(storage layer)과 초점(F) 사이의 축 방향 거리를 나타낸다. 광학 검출기의 설계에 따라, 에러 신호 계산을 위한 여러 공식이 사용될 수 있음에 유의해야 한다. 일반적으로 말하면, 이러한 에러 신호 각각은 상기 검출기(35) 상에서 특정 타입의 비대칭 중앙 광학점(optical spot)에 대한 척도(measure)이므로, 상기 디스크에 대한 광학 주사점(scanning spot)의 변위(displacement)에 민감하다.
상기 개별 검출기 신호를 처리함으로써 유도될 수 있는 특별한 신호는, 다음 식에 따라 개별 검출기 신호(A, B, C, D, S1, S2)의 가중합(weighed summation)에 의해 구해지는 미러 신호(mirror signal)(MIRn)이다.
Figure 112006022009867-PCT00001
(1)
여기서 W는 가중인자(weighing factor)를 표시하는데, 전형적으로는 약 15 차수이다. 이 신호는 상기 디스크의 반사력(reflectivity)에 대한 척도이다.
반면, 본 기술 분야의 숙련자라면 명백히 알 수 있듯이, REn과 같은 보통 에러 신호는 개별 검출기 신호(A, B, C, D, S1, S2)의 일부 또는 전부를 적절히 합해서 유도되고, 상기 신호 중 적어도 하나(전부는 아님)는 반전(invert)된다. 예로써, 방사상 에러 신호(REn)는 다음 식과 같이 정의될 수 있다.
Figure 112006022009867-PCT00002
(2)
여기서 W는 가중인자이다.
본 기술 분야의 숙련자라면 명백히 알 수 있듯이, 제어회로(90)는 에러 신호의 함수로서 제어신호를 발생하도록 설계되어, 대응하는 에러를 감소시킨다. 이 경우에, 제어회로(90)는 에러 타입에 따른 가변 제어 특성을 가지고 있다. 디스크 결함에 기인한 에러의 경우에, 디스크 결함에 맞추어 처리하기 위해 제어회로(90)의 제어 특성을 제1 전략(strategy)에 따라 적응시킨다. 외부 충격에 기인한 에러의 경우에, 외부 충격에 맞추어 처리하기 위해 제어회로(90)의 제어 특성을 제1 전략 과 다른 제2 전략에 따라 적응시킨다.
적응되는 이러한 제어 특성의 정확한 본질은 설계의 문제이다. 예를 들어, 제어회로에서의 이득을 적응시키는 것이 가능하다. 또한, 예를 들어 제어회로의 필터에 대한 차단(cut-off) 주파수를 적응시키는 것이 가능하다. 적응시키기 위한 제어회로의 파라미터를 어느 것으로 선택해야 하는가는 본 발명의 주제가 아니다. 또한, 가변 이득을 갖는 제어회로는 공지되어 있으므로, 제어 특성을 적응시키기 위해 제어 파라미터가 실제로 어떻게 변경되는 것인지에 대해 여기서 상세히 더 이상 설명할 필요는 없을 것이다.
따라서, 일반적으로 말하면, 제어회로(90)의 제어 특성은 다수의 가변 제어 파라미터를 포함한다. 이러한 가변 제어 파라미터 중 적어도 하나를 설정하는 것은, 적어도 2개의 검출기 신호, 즉 상기한 제1 및 제2 타입의 적어도 2개의 신호의 함수로서 가변되고, 이러한 함수는 디스크 결함의 경우에는 상기 제1 전략이 신뢰성 있게 구현되고, 외부 충격 또는 진동의 경우에는 상기 제2 전략이 신뢰성 있게 구현되는 것이다.
다음으로, 본 발명의 이러한 양태를 가변 이득을 갖는 제어회로의 전형적인 경우에 대해서 더욱 상세하게 설명한다.
도 2는 전형적인 제어회로(90)의 일부를 더욱 상세하게 도식적으로 나타낸 블록도이다. 설명을 위해, 제어회로(90)의 상기 부분은 방사상 액추에이터(51)의 제어와 관련된 것으로 한다. 제어회로(90)는 입력(61) 및 출력(69)을 갖는 PID 제어기(60)의 구성으로 가정한다. 방사상 에러 신호는 입력(61)에서 수신되어, 가변 이득 k1을 가진 제1 공통 증폭기(common amplifier)(71)에서 처리된다. PID 제어기(60)는 3가지 병렬 브랜치(parallel branch), 즉 P-브랜치(62), I-브랜치(63) 및 D-브랜치(64)를 포함하고 있으며, 이들 각각은 증폭된 입력 신호를 각각 수신하며, 또한 이들 각각은 가변 이득 k2, k3, k4를 각각 가진 증폭기 72, 73, 74를 각각 포함하고 있다. P-브랜치(62)는 P-프로세서(65)를 포함하고 있고, P-신호(SP)를 합점(summation point)(68)으로 보낸다. I-브랜치(63)는 I-프로세서(66)를 포함하고 있고, I-신호(SI)를 합점(68)으로 보낸다. D-브랜치(64)는 D-프로세서(67)를 포함하고 있고, D-신호(SD)를 합점(68)으로 보낸다. 합점 출력 신호(S+)는 가변 이득 k5를 가진 제2 공통 증폭기(75)에서 처리된다.
상기 이득 ki(i는 1~5를 표시) 중 적어도 하나와, 아마도 모든 상기 이득은 적어도 2가지 타입의 신호에 따라 가변되고, 광학 검출기 신호(SR)로부터 각각 유도된다. 따라서 각 이득 ki는 2개의 신호 x1 및 x2의 함수 fi(x1, x2)로 쓸 수 있으며, x1 및 x2는 2가지 타입의 신호를 각각 표시한다. 바람직한 실시예에서, 미러 신호(MIRn)은 제1 타입의 신호(x1)로서 사용되고, 정규화된 방사상 에러 신호(REn)는 제2 타입의 신호(x2)로서 사용된다.
미러 신호(MIRn)는 디스크의 반사력에 대한 척도이다. 보통, 이러한 신호는 실제로 일정값을 가지며(이하 M으로 표시함), 실제로는 충격이나 진동에 독립적이나 디스크 결함의 경우에는 급속하게 감소된다. 따라서, MIRn은 디스크 결함과 충 격 간의 구별이 가능하도록 해준다. 예를 들어, MIRn < α·M 인 경우, 디스크 결함이 발생하고 있다는 것을 간단히 판정할 수 있다. 여기서 α는 소정의 문턱인자(threshold factor)이다(예를 들어 α=0.9). 이와는 달리, 미러 신호(MIRn) 대신에, 2개 이상의 개별 세그먼트 출력 신호의 합을 근거로 한 다른 신호를 제1 타입의 신호로서 사용할 수 있다. 이러한 대안 신호의 일례로서, 본 발명과 관련하여 제1 타입 신호로 사용하기에 적합한 것은 CA = A+B+C+D 이다.
정규화된 방사상 에러 신호(REn)는 방사상 방향으로의 광학점 변위에 대한 척도이다. 이와는 달리, 정규화된 방사상 에러 신호(REn) 대신에, 2개 이상의 개별 세그먼트 출력 신호[이들 신호 중 적어도 하나(전부가 아님)는 -1로 곱해짐]의 합을 근거로 한 다른 신호를 제2 타입의 신호로서 사용할 수 있다. 이러한 대안 신호의 일례로서, 본 발명과 관련하여 제2 타입 신호로 사용하기에 적합한 것은 S1-S2, A-B, FEn 이다.
예를 들어, 도 3은 제1 이득(k1)을 가변시키는 가능성 있는 제1 함수(f1)를 나타낸다. 다른 이득 k2-k5를 가변시키는 함수들은 f1과 동일할 수도 있지만, 다른 이득 k2-k5를 가변시키는 개별 함수들은 이들 함수의 일반적인 타입이 적어도 유사하더라도 서로 다를 수도 있다는 점에 유의해야 한다.
도 3은 서로 다른 값의 MIRn에 대한 방사상 에러 REn(수평축)의 함수로서 이득 k1(수직축)을 나타내는 곡선(80)을 포함하는 그래프이다. 서로 다른 값의 REn에 대한 MIRn(수평축)의 함수로서 k1을 나타내거나, 3차원 그래프로서 k1을 나타낼 수도 있다.
도시한 본 실시예에서, 제1 이득(k1)은 명목값(nominal value)(k1, 0)을 가진다. 방사상 에러가 상대적으로 작은 한, 즉 문턱값(RT) 아래에 있는 한, 제1 이득(k1)은 그 명목값(k1, 0)[곡선 80의 수평 분기선(stem) 83]에서 일정하게 유지된다. 방사상 에러가 상기 문턱값(RT)보다 크면, 제2 타입 입력 신호(MIRn)에 따라 제1 이득(k1)은 증가하거나(곡선 80의 제1 브랜치 81) 감소한다(곡선 80의 제2 브랜치 82). MIRn이 디스크 결함을 나타내는 값이면, 제1 이득(k1)은 감소된다. 반면, MIRn이 충격 또는 진동을 나타내는 값이면, 제1 이득(k1)은 증가된다. 증가량 또는 감소량은 각각 REn의 크기에 의존한다. 따라서, 제1 이득(k1)의 값은 두 신호의 의존성으로 선택된다.
원칙적으로, 상기 이득 중 단 하나의 값이 상기한 바와 같이 적어도 2개의 신호에 따르는 경우 본 발명은 이미 구현된 것이다. 그러나 바람직하게는 상기 이득 중 하나 이상이, 더욱 바람직하게는 상기 이득 모두가 적어도 2개의 신호를 근거로 변한다. 바람직하게는 문턱값(RT)이 모든 이득에 대해 동일한 것일지라도 각각의 이득은 해당 문턱값과 관련될 수 있다. 또한, 바람직하게는 그러한 함수(곡선 80)가 모든 이득에 대해 동일한 것일지라도, 상기 이득 각각은 2개(또는 그 이상)의 개별 함수에 따라 설정될 수 있다.
도 4는 상기한 이득(k1)에 관련된 본 발명의 효과를 나타내는 그래프이다. 도 4의 좌측 부분은 (주기적) 진동의 경우(예를 들어 40Hz)를 나타내는 반면, 도 4의 우측 부분은 디스크 결함(검은 점)의 경우를 나타낸다.
점선 101 및 102는 모든 이득이 각각의 명목값에서 일정하게 유지되는 경우의 방사상 에러 신호(REn)의 동작을 각각 나타내는데, 그래서 제어회로(90)는 선형 제어를 실행한다. 곡선 101은 (주기적) 진동의 경우에 REn의 사인형(sine-shaped) 동작을 나타낸다. 검은 점의 경우에, 곡선 102는 검은 점을 드나드는 광학점에 대응하는 큰 피크를 나타낸다.
실선 103은 본 발명을 (주기적) 진동의 경우에 적용시켰을 때 방사상 에러 신호(REn)의 동작을 나타낸다. 시간 t1 이전의 초기 시간 구간에서, 방사상 에러 신호(REn)는 문턱값(RT)보다 낮아서, 이득(k1)은 명목값(k1, 0)이 된다(도 3에서 곡선 80의 분기선 83에 해당). 시간 t1에서, 방사상 에러 신호(REn)는 문턱값(RT) 위로 올라가는 반면, MIRn은 곡선 111에 표시한 바와 같은 그 명목값(M)을 갖는다. 도 3에서 곡선 80의 브랜치 81에 대응하여, 곡선 121로 나타낸 바와 같이, 이득 k1은 이 경우에 그 명목값(k1, 0)으로부터 최대값(k1MAX)에 도달하도록 올라간다. REn이 아직 문턱값(RT) 위로 올라가는 것은 사실이지만, REn이 도달한 최대값은 선형 제어의 경우보다 낮다(곡선 101).
REn이 감소할 때, 이득 k1도 감소하고, 시간 t2에서, REn이 문턱값(RT) 아래로 떨어질 때, 이득 k1은 그 명목값(k1, 0)에 다시 도달한다.
이러한 과정은, REn의 절대값이 문턱값(RT) 위로 올라갈 때의 각 시간에서 되풀이된다.
실선 104는 본 발명을 디스크 결함의 경우에 적용시켰을 때 방사상 에러 신 호(REn)의 동작을 나타낸다. 시간 t3 이전의 초기 시간 구간에서, 방사상 에러 신호 REn은 문턱값(RT)보다 낮아서, 이득(k1)은 명목값(k1, 0)이 된다(도 3에서 곡선 80의 분기선 83에 해당). 시간 t3에서, 방사상 에러 신호(REn)는 문턱값(RT) 위로 올라가는 반면, MIRn은 곡선 112에 표시한 바와 같은 그 스위칭 문턱값(αM) 아래로 떨어진다. 도 3에서 곡선 80의 브랜치 82에 대응하여, 곡선 122로 나타낸 바와 같이, 이득 k1은 이 경우에서의 그 명목값(k1, 0)으로부터 최소값(k1MIN)에 도달하도록 내려간다. REn이 아직 문턱값(RT) 위로 올라가는 것은 사실이지만, REn이 도달한 최대값은 선형 제어의 경우보다 낮다(곡선 102).
REn이 감소할 때, 이득 k1은 증가하고, 시간 t4에서, REn이 문턱값(RT) 아래로 떨어질 때, 이득 k1은 그 명목값(k1, 0)에 다시 도달한다. 광학점은 이제 검은 점 왼쪽에 있고, 미러 신호(MIRn)는 그 명목값(M)으로 돌아온다.
본 발명은 상기 설명한 바람직한 실시예로 한정되는 것이 아니며, 첨부한 청구범위에서 정해지는 본 발명의 보호 범위 내에서 여러 가지 변경 및 수정을 할 수 있다는 것은 본 기술 분야의 숙련자에게는 명백할 것이다.
위에서는 2개의 광학 신호의 의존성으로 하나 이상의 이득이 설정되는 실시예를 참조하여 본 발명을 설명하였다. 예를 들어 고역통과(high-pass) 또는 저역통과(low-pass) 필터의 차단 주파수나, 대역통과 (band-pass) 또는 대역차단(band-reject) 필터의 중심 주파수와 같은, 액추에이터 제어의 다른 파라미터를 적응시킬 수도 있다. 충격과 디스크 결함의 경우들에 대해 서로 다른 최적의 설정을 갖는 임 의의 제어 파라미터가 상기한 방식으로 적응될 수 있다는 것은 본 기술 분야의 숙련자에게는 명백할 것이다. 또한, 이러한 임의의 제어 파라미터는 3개 이상이 신호를 근거로 설정될 수도 있을 것이다. 상기한 바람직한 실시예에서, Z-방향으로의 충격을 표시하는, 제3 신호로서 초점 에러 신호를 사용하는 것이 일례로써 가능할 것이다.
위에서는 6-세그먼트 광학 검출기의 실시예를 참조하여 본 발명을 설명하였다. 에러 신호에 대한 공식이 서로 다른 경우인, 서로 다르게 설계된 검출기도 가능하다는 것은, 본 기술 분야의 숙련자에게는 명백할 것이다.
위에서는 본 발명에 따른 장치의 기능적 블록을 나타내는 블록도를 참조하여 본 발명을 설명하였다. 하나 이상의 이러한 기능적 블록은 이러한 기능적 블록의 기능이 개별 하드웨어 구성요소에 의해 실행되는 하드웨어로 구현할 수 있으며, 또한 하나 이상의 이러한 기능적 블록은 소프트웨어로도 구현할 수 있다. 따라서, 하나 이상의 프로그램 라인으로 된 컴퓨터 프로그램이나, 마이크로프로세서, 마이크로컨트롤러 등과 같은 프로그램 가능한 장치(programmable device)에 의해 실행될 수 있다.

Claims (26)

  1. 광학 디스크 구동장치(1)에서 서로 다른 타입의 장해를 판별하는 방법에 있어서,
    상기 디스크 구동장치(1)는 광학 디스크(2)의 기록 트랙을 주사하고 판독 신호(SR)를 생성하는 주사 수단(30)을 포함하고,
    상기 방법은
    상기 판독 신호(SR)로부터 서로 다른 타입의 적어도 2개의 신호(REn; MIRn)를 유도하는 단계;
    상기 신호 중 하나는 제1 범위의 값(REn>RT) 내에 있고 상기 신호 중 다른 하나는 제2 범위의 값(MIRn>α·M) 내에 있는 경우, 장해가 충격이나 진동과 같은 것에 해당하는 것으로 판정하고, 상기 신호 중 상기 하나가 상기 제1 범위의 값(REn>RT) 내에 있고 상기 신호 중 상기 다른 하나는 제3 범위의 값(MIRn<α·M) 내에 있는 경우, 장해가 디스크 결함에 해당하는 것으로 판정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 판별 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 신호(REn; FEn) 중 상기 하나는 광학점 변위에 대한 척도(measure)로 되는 신호인 것을 특징으로 하는 판별 방법.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 신호(REn; FEn) 중 상기 하나는 검출기(35) 위에서 특정 타입의 비대칭 중앙 광학점에 대한 척도로 되는 신호인 것을 특징으로 하는 판별 방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 신호(REn) 중 상기 하나는 방사상 에러 신호인 것을 특징으로 하는 판별 방법.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 신호(FEn) 중 상기 하나는 초점 에러 신호인 것을 특징으로 하는 판별 방법.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 신호 중 상기 다른 하나는 상기 디스크의 반사력에 대한 척도로 되는 신호(MIRn)인 것을 특징으로 하는 판별 방법.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 주사 수단(30)은 반사된 광빔(32d)을 수신하고 개별 검출기 신호(A, B, C, D, S1, S2)를 각각 생성하는 다중 검출기 세그먼트(35a, 35b, 35c, 35d, 35e, 35f)를 포함하는 광학 검출기(35)를 포함하고,
    상기 신호(REn; FEn) 중 상기 하나는 2개 이상의 개별 세그먼트 출력신호의 합을 근거로 한 신호이고, 상기 개별 세그먼트 출력신호 중 적어도 하나(전부는 아님)는 -1로 곱해지는 것을 특징으로 하는 판별 방법.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 주사 수단(30)은 반사된 광빔(32d)을 수신하고 개별 검출기 신호(A, B, C, D, S1, S2)를 각각 생성하는 다중 검출기 세그먼트(35a, 35b, 35c, 35d, 35e, 35f)를 포함하는 광학 검출기(35)를 포함하고,
    상기 신호(MIRn) 중 상기 다른 하나는 2개 이상의 개별 세그먼트 출력신호의 합을 근거로 한 신호인 것을 특징으로 하는 특징으로 하는 판별 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 신호 중 상기 다른 하나는, 모든 검출기 세그먼트(35a, 35b, 35c, 35d, 35e, 35f)로부터의 모든 개별 검출기 신호(A, B, C, D, S1, S2)의 합으로 된, 정규화된 미러 신호(MIRn)인 것을 특징으로 하는 판별 방법.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 신호 중 상기 다른 하나는, 사분면 구조로 배치된 4개의 중앙 개구 검출기 세그먼트(35a, 35b, 35c, 35d)로부터의 모든 개별 검출기 신호(A, B, C, D)의 합으로 된, 중앙 개구 신호(CA)인 것을 특징으로 하는 판별 방법.
  11. 광학 디스크 구동장치(1)를 제어하는 방법에 있어서,
    상기 디스크 구동장치(1)는
    광학 디스크(2)의 기록 트랙을 주사하고 판독 신호(SR)를 생성하는 주사 수단(30);
    상기 디스크(2)에 대한 상기 주사 수단(30)의 적어도 하나의 판독/기록 엘리먼트(34)의 위치 지정(positioning)을 제어하는 액추에이터 수단(50);
    상기 판독 신호(SR)를 수신하고 상기 판독 신호(SR)의 적어도 하나의 신호 구성요소를 근거로 적어도 하나의 액추에이터 제어 신호(SCR)를 생성하며, 적어도 하나의 가변 제어 파라미터를 가진 제어 회로(90)를 포함하고,
    상기 방법은
    청구항 1의 방법을 사용하여, 서로 다른 타입의 장해를 판별하는 단계와;
    디스크 결함의 경우에는 제1 전략(81)에 따라 상기 적어도 하나의 가변 제어 파라미터의 설정을 가변시키고, 충격 또는 진동의 경우에는 제2 전략(82)에 따라 상기 적어도 하나의 가변 제어 파라미터의 설정을 가변시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 제어 방법.
  12. 광학 디스크 구동장치(1)를 제어하는 방법에 있어서,
    상기 디스크 구동장치(1)는
    광학 디스크(2)의 기록 트랙을 주사하고 판독 신호(SR)를 생성하는 주사 수단(30);
    상기 디스크(2)에 대한 상기 주사 수단(30)의 적어도 하나의 판독/기록 엘리먼트(34)의 위치 지정을 제어하는 액추에이터 수단(50);
    상기 판독 신호(SR)를 수신하고 상기 판독 신호(SR)의 적어도 하나의 신호 구성요소를 근거로 적어도 하나의 액추에이터 제어 신호(SCR)를 생성하며, 적어도 하나의 가변 제어 파라미터를 가진 제어회로(90)를 포함하고,
    상기 방법은
    상기 판독 신호(SR)로부터 서로 다른 타입의 적어도 2개의 신호(REn; MIRn)를 유도하는 단계;
    상기 적어도 2개의 신호(REn; MIRn)의 함수로서 상기 적어도 하나의 가변 제어 파라미터의 설정을 가변시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 제어 방법.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 가변 제어 파라미터는 상기 제어회로(90)의 신호 처리 구성요소의 이득인 것을 특징으로 하는 제어 방법.
  14. 제12항에 있어서,
    상기 적어도 2개의 신호 중 제1 타입의 신호는 상기 디스크의 반사력에 대한 척도로 되는 신호(MIRn)인 것을 특징으로 하는 제어 방법.
  15. 제12항에 있어서,
    상기 주사 수단(30)은 반사된 광빔(32d)을 수신하고 개별 검출기 신호(A, B, C, D, S1, S2)를 각각 생성하는 다중 검출기 세그먼트(35a, 35b, 35c, 35d, 35e, 35f)를 포함하는 광학 검출기(35)를 포함하고,
    상기 적어도 2개의 신호 중 제1 타입의 신호는 2개 이상의 개별 세그먼트 출력신호의 합을 근거로 한 신호인 것을 특징으로 하는 제어 방법.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 제1 타입 신호는 모든 검출기 세그먼트(35a, 35b, 35c, 35d, 35e, 35f)로부터의 모든 개별 검출기 신호(A, B, C, D, S1, S2)의 합으로 된, 정규화된 미러 신호(MIRn)인 것을 특징으로 하는 제어 방법.
  17. 제15항에 있어서,
    상기 제1 타입 신호는, 사분면 구조로 배치된 4개의 중앙 개구 검출기 세그먼트(35a, 35b, 35c, 35d)로부터의 모든 개별 검출기 신호(A, B, C, D)의 합으로 된, 중앙 개구 신호(CA)인 것을 특징으로 하는 제어 방법.
  18. 제12항에 있어서,
    상기 적어도 2개의 신호 중 제2 타입 신호는 광학점 변위에 대한 척도로 되는 신호(REn; FEn)인 것을 특징으로 하는 제어 방법.
  19. 제12항에 있어서,
    상기 적어도 2개의 신호 중 제2 타입 신호는 검출기(35) 위에서 특정 타입의 비대칭 중앙 광학점에 대한 척도로 되는 신호(REn; FEn)인 것을 특징으로 하는 제어 방법.
  20. 제12항에 있어서,
    상기 주사 수단(30)은 반사된 광빔(32d)을 수신하고 개별 검출기 신호(A, B, C, D, S1, S2)를 각각 생성하는 다중 검출기 세그먼트(35a, 35b, 35c, 35d, 35e, 35f)를 포함하는 광학 검출기(35)를 포함하고,
    상기 적어도 2개의 신호 중 제2 타입 신호는 2개 이상의 개별 세그먼트 출력신호의 합을 근거로 한 신호이고, 상기 신호들 중 적어도 하나는 -1로 곱해지는 것을 특징으로 하는 제어 방법.
  21. 제18항에 있어서,
    상기 적어도 2개의 신호 중 상기 제2 타입 신호는 방사상 에러 신호(REn)인 것을 특징으로 하는 제어 방법.
  22. 제18항에 있어서,
    상기 적어도 2개의 신호 중 상기 제2 타입 신호는 초점 에러 신호(FEn)인 것을 특징으로 하는 제어 방법.
  23. 제12항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 가변 제어 파라미터(k1)는 상기 제2 타입 신호(REn)가 소정 문턱값(RT)보다 낮은 한에서는 명목값(k1, 0)을 가지며,
    상기 제2 타입 신호(REn)가 상기 소정의 문턱값(RT)보다 높으면서 상기 제1 타입 신호(MIRn)가 기계적 충격이나 진동에 기인한 장해를 나타내는 제1 조건(MIRn>αM)을 만족하는 경우에, 상기 적어도 하나의 가변 제어 파라미터(k1)의 값은 제1 방향으로 변경되고(증가됨; 121),
    상기 제2 타입 신호(REn)가 상기 소정의 문턱값(RT)보다 높으면서 상기 제1 타입 신호(MIRn)가 디스크 결함에 기인한 장해를 나타내는 제2 조건(MIRn<αM)을 만족하는 경우에, 상기 적어도 하나의 가변 제어 파라미터(k1)의 값은 상기 제1 방향과는 다른 제2 방향으로 변경되는(감소됨; 122) 것을 특징으로 하는 제어 방법.
  24. 제12항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 가변 제어 파라미터(k1)는 상기 제2 타입 신호(REn)가 소정 문턱값(RT)보다 낮은 한에서는 명목값(k1, 0)을 가지며,
    상기 제2 타입 신호(REn)가 상기 소정의 문턱값(RT)보다 높으면서 상기 제1 타입 신호(MIRn)가 디스크의 정규 반사력(normal reflectivity)을 나타내는 제1 조건(MIRn>αM)을 만족하는 경우에, 상기 적어도 하나의 가변 제어 파라미터(k1)의 값은 제1 방향으로 변경되고(증가됨; 121),
    상기 제2 타입 신호(REn)가 상기 소정의 문턱값(RT)보다 높으면서 상기 제1 타입 신호(MIRn)가 디스크의 감소된 반사력을 나타내는 제2 조건(MIRn<αM)을 만족하는 경우에, 상기 적어도 하나의 가변 제어 파라미터(k1)의 값은 상기 제1 방향과는 다른 제2 방향으로 변경되는(감소됨; 122) 것을 특징으로 하는 제어 방법.
  25. 광학 디스크(2)의 기록 트랙을 주사하고 판독 신호(SR)를 생성하는 주사 수단(30);
    상기 디스크(2)에 대한 상기 주사 수단(30)의 적어도 하나의 판독/기록 엘리먼트(34)의 위치 지정을 제어하는 액추에이터 수단(50);
    상기 판독 신호(SR)를 수신하고 상기 판독 신호(SR)의 적어도 하나의 신호 구성요소를 근거로 적어도 하나의 액추에이터 제어 신호(SCR)를 생성하며, 적어도 하나의 가변 제어 파라미터를 가진 제어회로(90)를 포함하고,
    상기 제어회로(90)는 청구항 1의 방법을 실행하도록 적응되는 것을 특징으로 하는 디스크 구동장치(1).
  26. 광학 디스크(2)의 기록 트랙을 주사하고 판독 신호(SR)를 생성하는 주사 수단(30);
    상기 디스크(2)에 대한 상기 주사 수단(30)의 적어도 하나의 판독/기록 엘리먼트(34)의 위치 지정을 제어하는 액추에이터 수단(50);
    상기 판독 신호(SR)를 수신하고 상기 판독 신호(SR)의 적어도 하나의 신호 구성요소를 근거로 적어도 하나의 액추에이터 제어 신호(SCR)를 생성하며, 적어도 하나의 가변 제어 파라미터를 가진 제어회로(90)를 포함하고,
    상기 제어회로(90)는 청구항 12의 방법을 실행하도록 적응되는 것을 특징으로 하는 디스크 구동장치(1).
KR1020067006080A 2003-10-02 2004-09-28 디스크 구동 장치 KR20060088890A (ko)

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