KR20050122247A - 이동국의 장치를 테스트하는 방법 및 장치 - Google Patents

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노키아 코포레이션
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Abstract

본 발명은 이동국의 주변 장치와 같은 장치(200)를 테스트하는 방법 및 장치에 관한 것이다. 상기 장치는 테스트중인 장치에 대하여 테스트 신호를 생성하기 위한 신호 생성기(230), 테스트중인 장치(200)의 피딩 라인(210)으로부터 전기적인 양을 측정하기 위한 이동국에 통합된 측정 유닛(250), 상기 전기적인 양을 사용해서 상기 테스트 신호에 대한 상기 장치의 전기적 응답을 결정하기 위한 분석기(260)를 포함한다. 본 발명에 따르면, 테스트 신호를 생성하고 상기 장치의 전기적 응답을 결정하는 테스트 절차의 적어도 일부는 상기 이동국내에 통합된 신호 생성기(230) 또는 분석기(260)와 같은 기능 유닛을 사용해서 수행된다.

Description

이동국의 장치를 테스트하는 방법 및 장치{Method and arrangement of testing device in mobile station}
본 발명은 이동국의 장치(DEVice, DEV)를 테스트하는 방법 및 장치(ARRangement, ARR)에 관한 것이다.
이동 전화들과 같은, 이동국들을 제조하는 생산 라인들의 생산고가 증가함에 따라, 최종 제품의 결함 검출 및 테스트 절차의 성능을 개선시키기 위해 특별한 주의가 취해져야 한다. 테스트 절차의 실질적인 부분은 이동국의 키보드, 오디오 인터페이스, 진동 배터리, 디스플레이와 같은 주변 장치들 및 전기적인 구성성분들에 목표를 두고 있다.
선행 기술에서, 이동국들의 장치들의 테스트 절차는 신호 생성기 및 신호 분석기와 같은 외부의 테스트 장비를 사용해서, 테스트 신호를 생성하고, 테스트중인 장치의 응답을 결정하는 단계에 기초한다.
선행 기술인 테스트 절차들이 가진 문제점들은 다수가 있다. 외부의 테스트 장비를 사용하는 것은 복잡하고 비싼 세트의 전자 및 기계적 장치들을 필요로 하며, 외부의 테스트 장비 및 이동국간의 갈바니 접속(galvanic conection)과 같은 물리적 커플링을 얻기 위해 이동국의 테스트 플랫폼에 대한 정확한 배치를 필요로 한다. 외부의 테스트 장비 및 이동국간의 물리적 접속은 실패하기 쉬우며, 따라서 테스트의 신뢰도를 감소시키는 경향이 있다.
도 1은 블록도에 의해 이동국의 구조의 예시를 도시하고 있다.
도 2는 블록도에 의해 이동국의 장치(DEV)를 테스트하기 위한 장치(ARR)의 예시를 도시하고 있다.
도 3은 이동국의 오디오 장치(DEV)를 테스트하기 위한 장치(ARR)의 예시를 도시하고 있다.
도 4는 본 발명의 실시예들을 기술하는 흐름도를 도시하고 있다.
본 발명의 목적은 이동국의 장치를 테스트하는 개선된 장치 및 방법을 제공하는 것이다. 본 발명의 일 태양에 따르면, 이동국의 장치를 테스트하는 방법이 제공되는데, 상기 방법은 장치를 테스트하기 위한 전기적 테스트 신호를 생성하는 단계; 상기 전기적 테스트 신호를 피딩 라인에 의해 상기 장치에 공급하는 단계; 상기 이동국내에 통합된 측정 유닛에 의해 상기 피딩 라인으로부터 전기적인 양을 측정하는 단계; 상기 전기적인 양에 기초하여 상기 전기적 테스트 신호에 대한 상기 장치의 전기적 응답을 결정하는 단계; 및 상기 이동국내에 통합된 기능 유닛을 사용해서 테스트 절차 중 적어도 일부를 수행하는 단계;를 포함하며, 상기 테스트 절차는 상기 전기적 테스트 신호를 생성하고, 상기 장치의 상기 전기적 응답을 결정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 다른 태양에 따르면, 이동국의 장치를 테스트하는 장치가 제공되는데, 상기 이동국의 장치를 테스트하는 장치는 장치를 테스트하기 위한 전기적 테스트 신호를 생성하기 위한 신호 생성기; 상기 전기적 테스트 신호를 상기 장치에 공급하기 위해 상기 장치 및 상기 신호 생성기에 연결된 피딩 라인;을 포함하고, 상기 이동국은 상기 피딩 라인으로부터 전기적인 양을 측정하기 위해 상기 피딩 라인에 연결된 측정 수단;을 더 포함하고, 상기 이동국은 상기 전기적인 양에 기초하여 상기 전기적 테스트 신호에 대한 상기 장치의 전기적 응답을 결정하기 위하여 상기 측정 수단 연결된 분석기;를 더 포함하며, 테스트 장치중 적어도 일부는 상기 이동국내에 통합되며, 상기 테스트 장치는 상기 신호 생성기 및 상기 분석기를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 바람직한 실시예들은 종속항들에서 기술되어 있다.
본 발명의 방법 및 시스템은 다수의 장점들을 제공한다. 일 태양에서, 본 발명은 외부 테스트 장비에 대한 필요성을 저감시키며, 따라서 테스트 라인의 비용을 감소시키고, 테스트 절차를 단순화하며, 이동국들의 대량 생산에 있어서 테스트 라인의 신뢰도 및 생산고를 증가시킨다.
다음에, 바람직한 실시예들 및 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명이 더욱 상세하게 기술될 것이다.
도 1은 블록도에 의한 예시적인 이동국(100)의 구조를 기술하고 있다. 이동국(100)은 예를 들면, 인쇄 회로 기판(120)상에 배치된 베이스밴드부(BB)(104) 및 무선 주파수부(RF)(102)를 포함한다.
베이스밴드부(104)는 시스템 블록(SYST)(112) 및 상기 시스템 블록(112)에 연결된 혼합 신호 블록(MXS)(114)을 포함한다. 시스템 블록(112)는 예를 들면, 디지털 신호 프로세서(DSP) 및 SRAM(Static Random Access Memory) 및 ROM(Read Only Memory)와 같은 메모리 수단을 포함한다.
혼합 신호 블록(MXS)(114)은 예를 들면, 이동국(100)에 의해 수신 및 송신되는 페이로드 신호에 대한 아날로그-디지털 및 디지털-아날로그 변환기들을 포함한다.
무선 주파수부(102)는 무선 주파수 어플리케이션 특유 회로(RF ASIC)(106), 증폭 유닛(AMP)(108), 및 안테나 유닛(ANT)(110)을 포함한다.
무선 주파수 ASIC(106)은 예를 들면, 베이스밴드 신호들을 무선 주파수 밴드로 업-컨버팅하고, 그리고 무선 주파수 밴드에 대한 신호들을 베이스밴드로 다운-컨버팅하는 컨버터들을 포함한다.
증폭 유닛(108)은 예를 들면, 무선 주파수 ASIC(106)으로부터의 저-전력 신호들을 증폭하고, 증폭된 신호들을 안테나 유닛(110)으로 제공하기 위한 전력 증폭기들을 포함한다.
더욱이, 증폭 유닛(108)은 안테나 유닛(110)으로부터 수신된 신호를 증폭하기 위한 저-잡음 증폭기를 포함할 수 있다.
안테나 유닛(110)은 이동국(100) 및 네트워크 사이에서 무선 인터페이스를 구현하기 위해 적어도 하나의 안테나 요소들을 포함한다. 안테나 유닛(110)은 또한 안테나 유닛(110)에 의해 송신되고 수신되는 신호들을 필터링하기 위해 듀플렉스 필터와 같은 필터 수단을 포함할 수 있다.
이동국(100)은 이동국(100)내에 통합되거나, 또는 이동국(100)의 외부에 있을 수 있는 주변 장치를 포함한다.
도 1은 다음과 같은 이동국(100)의 주변 장치들을 도시하고 있다: 카메라(130), 보조 무선 트랜시버(132), 광포트(134), 이어폰(136), 마이크로폰(146), 진동자(138), 배터리(140), 백업 유닛(142), 충전기(144), 부저(148), 디스플레이(150), 포지셔닝 장치(positioning device)(152), 키보드(154), 및 센서(156)를 포함한다.
카메라(130)는 이동국(100)으로 통합된, 또는 보조 포트를 통해 이동국(100)으로 연결된 디지털 카메라일 수 있다. 일 실시예에서, 카메라(130)는 이동국(100)에 연결된 비디오 카메라이다.
보조 무선 트랜시버(132)는 예를 들면, 블루투스 핸즈-프리 장치와 같은 보조 무선 장치와 이동국(100)간의 무선 인터페이스를 구현하기 위한 블루투스 트랜시버일 수 있다.
광학부(134)는 공통 프로토콜을 지원하며, 광학부를 구비한 컴퓨터 또는 다른 이동국과 같은 외부 장치 및 이동국(100)간의 통신을 위한 광학 버스를 제공한다. 광학부(134)는 예를 들면, 전자 신호 및 광학 신호간의 변환을 수행하기 위해 다이오드들과 같은 전기-광학식 요소들을 포함한다. 일 실시예에서, 광학부(134)는 적외선 포트이다.
이어폰(136) 및 마이크로폰(146)은 이동국(100)을 위한 오디오 사용자 인터페이스를 구성한다. 이어폰(136)은 전기적 진동을 음성 진동으로 변환하고, 따라서 확성기를 나타낸다. 이어폰(136)은 전기적 신호를 진동판의 움직임으로 변환하는 전자 회로에 연결된 진동판을 포함할 수 있다.
마이크로폰(146)은 음파들을 전기적 신호들로 변환한다. 마이크로폰(146)은 진동판의 진동으로부터 전기적 신호를 생성하는 전자 회로에 연결된 진동판을 포함할 수 있다. 이어폰(136) 및 마이크로폰(146)은 이동국(100)으로 통합되거나, 또는 케이블에 의해 이동국(100)에 연결된 이동국(100) 외부에 존재할 수 있다.
진동자(138)는 진동 경보를 제공하기 위한 전기 모터 및 매커니즘을 포함한다. 진동자(138)는 이동국(100)의 배터리내로 통합될 수 있다.
백업 유닛(142)은 예를 들면 시간 정보를 저장하기 위한 메모리 요소들을 포함할 수 있는 반면에, 배터리와 같은 메인전원으로부터의 전력은 이용 가능하지 않다. 충전기(144)는 이동국(100)의 배터리를 충전시키기 위한 전력을 제공한다. 충전기는 예를 들면 분배 전압을 배터리 전압으로 변환하기 위한 트랜스포머를 대부분 포함한다. 또한, 충전기는 교류를 직류로 전환하기 위한 정류기를 포함할 수 있다.
부저(148)는 예를 들면, 인커밍 콜 또는 메시지를 알려주기 위해 좁은 주파수 밴드의 음향 효과들(sound effects)을 제공한다. 부저(148)는 음향 생성을 위해 압전 소자(piezoelectric element)를 포함할 수 있다.
디스플레이(150)는 시각적 사용자 인터페이스를 제공한다. 디스플레이(150)는 전기 신호를 광학 이미지로 변환하기 위한 LCD(Liquid Crystal Device)를 포함할 수 있다.
포지셔닝 장치(positioning device)(152)는 이동국(100)에 대한 가능한 기준 시간 및 위치 정보를 제공한다. 포지셔닝 장치는 이동국안에 구현될 수도 있거나, 또는 포지셔닝 장치는 외부 장치일 수 있다. 일 실시예에서, 포지셔닝 장치(152)는 GPS(Global Positioning System) 단말기이다.
키보드(154)는 기계적인 움직임을 전기 전도도의 변화로 변환하기 위한 스위치들을 포함한다. 더욱이, 키보드(154)는 키보드(154)의 배경을 밝게 하기 위해 다이오드들과 같은 발광 수단을 포함할 수 있다.
센서(156)는 온도, 압력, 가속, 습도 및 조명과 같은 물리적인 양들을 측정할 수 있다. 센서(156)는 예를 들면, 온도 민감 저항들, 필름 커패스터들, 및 광 다이오드들을 포함할 수 있다.
본 발명은 이동국(100)의 장치의 테스트와 관련되어 있다. 일반적으로, 장치는 전기적 요소들 또는 전기적 요소들로 이루어진 기능적인 실체(entity)일 수 있다. 전기적 요소는 저항, 커패시터, 코일, 증폭기, 트랜지스터, 다이오드, 메모리 회로 또는 그의 조합일 수 있다. 상기 장치는 집적 회로의 부분 또는 집적 회로일 수도 있다. 테스트될 장치는 이동국내의 어느 곳에도 위치될 수 있다.
도 1은 이동국(100)의 예시적인 구조를 도시하고 있으며, 베이스밴드부(102) 및 무선 주파수부(102)의 구현 및 상세들은 많은 방식으로 변할 수 있다. 이러한 예시에서, 주변 장치(130-156)는 베이스밴드부(104)에 연결된다. 주변 장치(130-156) 및 베이스밴드부(104)간의 접속 구현은 이동국(100)에서의 일렉트로닉스의 레이아웃에 의존해서 변할 수 있다. 일 실시예에서, 주변 장치(130-156)는 혼합 신호 블록(114)으로 연결된다.
도 2는 블록도의 레벨에서 이동국(100)의 장치(DEVice, DEV)를 테스트하기 위한 장치(Arrangement, ARR)의 예시를 도시하고 있다. 도 2는 테스트될 장치들(200, 202, 204), 신호 생성기(230), 상기 장치들(200, 202, 204) 각각에 연결된 피딩 라인들(210, 212, 및 214), 및 신호 생성기(230), 및 피딩 라인들(210, 212, 214)에 연결된 측정 유닛(250), 및 상기 측정 유닛(250)에 연결된 분석기(260)를 도시하고 있다.
도 2는 또한 외부 테스트 시스템(290)을 도시하고 있다. 상기 외부 테스트 시스템(290)은 이동국의 외부에 위치하며, 예를 들면 컴퓨터 및 메모리 수단을 포함한다. 외부 테스트 시스템(290)은 예를 들면, 이동국 서비스에서 사용되는 테스트 시스템의 부분 또는 제품 라인 테스트 시스템의 부분일 수 있다. 외부 테스트 시스템(290)은 예를 들면, 상기 장치(200, 202, 204)를 테스트하기 위해 테스트 절차를 개시하기 위한 명령(286)을 전송하고, 상기 테스트 결과에 관한 리포트 신호(272)를 수신한다.
신호 생성기(230)는 상기 장치(200, 202, 204)를 테스트하기 위한 전기적 테스트 신호를 생성하며, 이러한 테스트 신호는 피딩 라인(210, 212, 214)에 의해 장치(200, 202, 204)에 제공된다. 상기 피딩 라인(210, 212, 214)은 예를 들면, 장치(200, 202, 204)에 동작 전압을 제공하는 전력 공급 라인, 장치(200, 202, 204)에 제어 신호를 제공하는 제어 라인, 장치(200, 202, 204)에 페이로드 입력 신호를 제공하는 입력 라인, 또는 장치(200, 202, 204)로부터 출력 페이로드 신호를 제공하는 출력 신호 라인일 수 있다. 예를 들면, 입력 라인은 이동국(100)의 이어폰(136)으로 오디오 신호를 전달한다. 출력 신호는 예를 들면, 이동국(100)의 마이크로폰(146)으로부터 오디오 신호를 출력한다.
본 발명의 일 태양에 의하면, 전기적 테스트 신호를 생성하고 상기 장치의 전기적 응답을 결정하는 단계를 포함하는 테스트 절차중 적어도 일부는 이동국(100) 안으로 통합된 기능 유닛을 사용함으로써 수행될 수 있도록, 신호 생성기(230) 및 분석기(260)를 포함하는 테스트 장치중 적어도 일부는 상기 이동국 안으로 통합된다. 생성기(230) 및 분석기(260)에 관한 통합된 구조는 외부 신호 생성기 또는 신호 분석기와 같은, 외부 테스트 장비의 감소 및 테스트 절차의 간명화를 초래한다. 테스트 절차에서의 간명화 및 외부 테스트 장비의 감소는 대량 생산 및 감소된 제조 비용에 있어서 테스트 라인 출력의 개선을 가능하게 한다.
일 실시예에서, 신호 생성기(230)의 부분은 이동국(100) 안으로 통합된다. 이러한 경우에, 신호 생성기(230)의 부분은 기능 유닛의 부분을 나타낸다. 테스트 신호의 디지털 형태를 생성하는 것과 같은 디지털 생성기(230)는 예를 들면, 시스템 블록(112)의 소프트웨어 및 디지털 신호 프로세서를 사용해서 베이스밴드부(104)내에 구현될 수 있다. 적어도 신호 생성기(230)의 부분이 이동국내에 통합될 때, 분석기(260)는 상기 이동국(100)의 외부에 존재할 수 있거나, 또는 적어도 부분적으로 이동국(100)내로 통합될 수 있다. 테스트 신호는 장치(200, 202, 204)를 테스트하기 위한 전용 신호일 수 있거나, 또는 테스트 신호는 장치(200, 202, 204)의 정상적인 동작에서 사용되는 일반적인 신호일 수 있다.
일 실시예에서, 테스트 신호는 전압, 전류, 주파수 및 펄스 시퀀스와 같이 미리 정의된 속성들에 의해 특징지워진다. 미리 정의된 속성들은 장치(200, 202, 204) 및 가능한 측정 유닛(250)에 의해 설정되는 요구조건들에 의해 정의될 수 있다.
일 실시예에서, 피딩 라인(210, 212, 214)은 실리콘 기판과 같은 반도체 기판상에서 트레이스(trace)를 형성함에 의해 구현된다. 피딩 라인(210, 212, 214)은 당해 분야의 숙련자들에게 알려진 기존의 케이블링 기술을 사용함으로써, 또한 구현될 수 있다.
전기적인 양은 이동국(100)내에 통합된 측정 유닛(250)에 의해 피딩 라인(210, 212, 214)으로부터 측정된다. 전기적인 양은 예를 들면 전류, 또는 전압일 수 있다. 일 실시예에서, 측정 유닛(250)은 전기적인 양에 비례하는 전압(252)을 생성하며, 상기 전압은 측정 결과를 나타낸다.
상기 측정 유닛(250)은 측정 결과를 분석기(260)의 입력부로 출력하며, 상기 분석기(260)는 전압에 기초하여 전기적 테스트 신호에 대한 상기 장치(200, 202, 204)의 전기적인 응답을 결정한다. 일 실시예에서, 측정 결과는 아날로그 신호(252)에 의해 전달되며, 상기 아날로그 신호에서 상기 측정 결과가 예컨대 전압 레벨에 의해 제시된다. 다른 실시예에서, 측정 결과는 디지털 신호(252)에 의해 상기 분석기(260)로 전달되며, 상기 디지털 신호(252)는 수치적인 형태(numeric form)의 측정 결과를 포함한다. 예를 들면, 측정 유닛(250)은 장치(200, 202, 204)에 대한 전기적 테스트 신호의 전압을 측정하고, 측정 전압에 비례하는 전압을 생성하며, 상기 전압을 분석기(260)로 입력시키며, 상기 분석기(260)는 측정 전압에 비례한 전압에 기초하여 전기적 테스트 신호에 대한 장치(200, 202, 204)의 전기적 응답을 결정한다. 예를 들면, 장치(200, 202, 204)의 저항 속성들은 DC 전류를 장치에 공급하고, 측정 유닛(250)에 의해 장치(200, 202, 204)에 걸리는 전압을 모니터링함으로써, 테스트될 수 있다.
측정 유닛(250)은 다양한 방식으로 이동국(100)내에 통합될 수 있다. 일 실시예에서, 측정 유닛(250)은 예를 들면 반도체 기판위에 필요한 구성요소 구성을 형성함으로써, 베이스밴드부(104)에서 구현될 수 있다.
이동국(100) 및 측정 유닛(250)의 완전함(integrity)은 이동국(100)의 내부 구조들을 사용해서 장치(202, 202, 204)를 스캐닝 가능하도록 하며, 따라서 이동국(100)의 외부로부터 피딩 라인(210, 212, 214)을 액세스할 필요를 줄인다. 일반적으로, 이동국 외부로부터 장치(202, 202, 204) 및 피딩 라인들(210, 212, 214)의 액세스 가능성(accessibility)은 이동국(100)의 작은 크기의 일렉트로닉스 때문에 어렵다.
테스트 신호에 대한 장치(202, 202, 204)의 전기적 응답은 장치의 기능(functionality)을 특징지운다. 전기적 응답은 예를 들면, 장치(202, 202, 204)를 통하는 전류로부터 유도될 수 있는 장치(202, 202, 204)의 전력 소모 및 장치(202, 202, 204)에 인가되는 전압일 수 있다. 일 실시예에서, 전기적 응답은 테스트 신호 및 측정되는 전기적인 양 사이의 위상 차이이다. 위상 차이는 예를 들면, 장치(202, 202, 204)의 구성요소들의 임피던스로부터 발생할 수 있다. 또한, 전기적 응답은 예를 들면, 용량성 장치가 테스트될 때 시간 함수로써 전기적인 양을 나타내는 곡선일 수 있다. 일 실시예에서, 피딩 라인(210, 212, 214)은 피딩 라인(210, 212, 214)으로부터 전기적인 양의 원격 측정을 가능하게 하는 측정 브랜치(220, 222, 224)를 포함한다. 측정 브랜치(220, 222, 224)는 측정 유닛(240)에 센스 라인들(sense lines)을 제공하며, 따라서 예컨대 측정 유닛(240)을 이동국(100) 및 가능하게는 상기 측정 유닛(250)에 플랜팅되는 ASIC에 위치시킴에 있어서 자유로운 상태를 가능하게 한다. 일 실시예에서, 측정 브랜치(220, 222, 224)는 피딩 라인(210, 212, 214)의 장치 말단에 위치하는데, 따라서 전기적인 양의 측정에 대하여 피딩 라인(210, 212, 214)의 저항 또는 임피던스와 같은 전기적 응답의 영향이 감소된다. 장치(202, 202, 204)의 부근에 측정 브랜치(220, 222, 224)를 위치시킴으로써, 테스트 신호에 대한 장치(202, 202, 204)의 전기적 응답에 대하여 장치(202, 202, 204) 및 측정 브랜치(220, 222, 224)간의 피딩 라인(210, 212, 214)의 부분으로부터 감소된 결과를 초래한다. 예를 들면, 케이블들과 트레이스들(traces)을 상호 연결하기 때문에 피딩 라인(210, 212, 214)은 전압 강하들을 생성시킬 수 있으며, 장치(202, 202, 204) 및 측정 브랜치(220, 222, 224) 사이에서 전압 강하가 일어난다면, 전기적인 양의 측정에 있어서 상기 전압 강하가 설명된다. 만약 측정 브랜치(220, 222, 224) 및 생성기(230) 사이에서 전압 강하가 발생하도록 측정 브랜치(220, 222, 224)가 위치한다면, 전압 강하의 효과가 전기적인 양의 측정에서 설명될 수 없으며, 상기 측정은 장치(202, 202, 204)의 더욱 실질적인 특징을 제공한다. 장치(202, 202, 204)의 부근에 측정 브랜치(220, 222, 224)를 위치시키는 것은 측정 유닛(250)에 대해 측정 신호를 제공하는 센스 라인들(sense lines)과 장치(202, 202, 204)에 전기적 테스트 신호를 제공하는 포스 라인들(force lines)을 분리시키는 것에 대응한다. 상기 분리는 장치(202, 202, 204)로부터 작은 임피던스들을 측정하는 것을 가능하게 한다. 측정 브랜치(220, 222, 224)는 피딩 라인(210, 212, 214)에 대해 유사한 방식으로 구현될 수 있다.
일 실시예에서, 전기적 테스트 신호에 대한 장치(202, 202, 204)의 전기적 응답의 정확성이 미리 정의된 값 이상이 되도록, 상기 측정 유닛(250)의 입력 임피던스가 선택된다. 측정 유닛(250)의 입력 임피던스는 측정 유닛(250)을 통하는 전류를 초래하며, 상기 전류는 피딩 라인(210, 212, 214)으로부터 전압과 같은 전기적인 양의 측정을 방해한다.
장치(202, 202, 204) 부근에 측정 브랜치(220, 222, 224)를 위치시키는 것과 결합된 측정 유닛(250)의 높은 임피던스는 피딩 라인(210, 212, 214)으로부터 전기적인 양을 측정하기 위한 켈빈 장치(Kelvin arrangemnt)라고도 불리운다. 상기 켈빈 장치는 측정시에 측정 회로의 작은 영향을 가지고 장치(202, 202, 204)에 대한 측정을 수행할 수 있도록 한다. 예를 들면, 상기 켈빈 장치는 저 임피던스 장치(202, 202, 204)에 대해 정확한 측정을 가능하게 한다. 측정 장치(250)의 고 임피던스는 테스트중인 장치(202, 202, 204)의 임피던스의 관점에서 정의될 수 있다. 일 실시예에서, 임피던스 비율 r = Zmean/Zdevice는 약 10000이고, 여기서 Zmean는 측정 회로의 임피던스이며, Zdevice는 테스트중인 장치(202, 202, 204)의 임피던스이다.
일 실시예에서, 측정 유닛(250)의 입력 임피던스는 1MΩ 및 10MΩ 사이에서 변화한다. 그러나, 본 발명은 위의 값들에 제한되지 않지만, 측정 유닛의 임피던스는 10MΩ보다 높을 수 있다.
분석기(260)는 측정 유닛(250)에 의해 측정되는 전기적 양인 측정 결과들을 운반하는 신호(252)를 수신한다. 일 실시예에서, 적어도 분석기(260)의 부분은 이동국(100)내에 통합된다. 그러한 경우에, 분석기(260)의 부분은 기능 유닛의 부분을 나타낸다. 상기 분석기(260)는 예를 들면 디지털 신호 프로세서 및 소프트웨어를 사용해서 베이스밴드부(104)에서 구현될 수 있다. 일 실시예에서, 분석기(260)는 전기적인 양의 측정 결과를 나타내는 디지털 신호(252)를 수신한다. 분석기(260)는 예를 들면, 평균을 구하고, 스케일링하고, 윈도우(windowing) 및/또는 마스크(masking)함으로써, 디지털 신호(252)를 처리할 수 있다. 일 실시예에서, 신호 생성기(230) 및 분석기(260)는 위에서 기술된 구현을 사용해서 이동국(100)으로 통합될 수 있다.
일 실시예에서, 이동국은 측정 유닛(240)을 피딩 라인(210, 212, 214)으로 연결하기 위해 스위칭 유닛(240)을 포함한다. 상기 스위칭 유닛(240)은 직접적으로 또는 측정 브랜치(220, 222, 224)를 통해 피딩 라인(210, 212, 214)으로 연결된다. 일 실시예에서, 스위칭 유닛(240)은 반도체 기판위에 플랜팅된 트랜지스터를 가지고 구현된다. 일 실시예에서, 스위칭 유닛(240)은 스위칭 유닛(240)이 연결 상태에 있을 때 높은 임피던스를 가진 켈빈 스위치(Kelvin switch)이다.
스위칭 유닛(240)은 또한 측정 유닛(250)을 하나씩 피딩 라인들(200, 202,204)의 피딩 라인으로 연결할 수 있다. 따라서, 스위칭 유닛(240)으로부터의 출력 신호(242)는 테스트중인 장치들(200, 202, 204) 중 하나로부터의 전기적인 양을 나타낸다. 상기 장치는 다수의 장치들(200, 202, 204)을 측정하기 위한 일렉트로닉스의 단일 셋업 및 단일의 측정 유닛(250)을 사용하는 것을 가능하게 한다.
상기 장치는 또한 다수의 측정 유닛들(250)을 포함하며, 각각의 측정 유닛은 이동국에 있는 다수의 장치들(200, 202, 204)에 대한 동시 테스트들을 가능하게 하기 위해 분석기(260) 및 측정 유닛 특유의 스위칭 유닛(240)으로 연결된다. 동시 테스트들의 사용은 각 이동국의 테스트 시간을 감소시키며, 대량 생산에서 테스트 라인의 출력을 향상시킨다.
일 실시예에서, 상기 장치는 전기적 응답에 기초하여 장치(200, 202, 204)의 성능을 평가하기 위해 분석기(260)에 연결된 평가 유닛(270)을 포함한다. 상기 분석기(260)는 전기적 응답에 대한 정보(262)를 평가 유닛(270)으로 전송한다. 더욱이, 분석기는 외부 테스트 시스템으로 정보(254)를 전송할 수 있다. 만약 전기적 테스트 신호에 대한, 장치(200, 202, 204)의 전기적 응답이 전기적 응답에 대해 설정된 요구조건들을 수행한다면, 상기 테스트 결과는 긍정적이다. 상기 테스트 결과는 외부 테스트 시스템(290)으로 더 전송될 수 있다.
일 실시예에서, 평가 유닛(270)은 예를 들면, 베이스밴드부(104)를 사용해서 이동국(100)으로 통합된다.
만약 신호 생성기(230) 및 분석기(260)가 이동국(100)으로 통합된다면, 이동국(100)은 외부 테스트 장비 없이도 자가-테스트(self-test)를 할 수 있다. 상기 테스트 절차는 사용자에 의해 개시될 수 있거나, 또는 테스트 절차는 이동국이 연결되는 네트워크로부터 제어될 수 있다.
일 실시예에서, 미리 정의된 전기적 테스트 신호에 대하여 알려진 전기적 응답을 가지고 장치(200, 202, 204)를 테스트하기 위해 미리 정의된 전기적 테스트 신호가 신호 생성기(230)에 의해 생성되며, 전기적 테스트 신호에 대한 장치의 전기적 응답 및 알려진 전기적 응답에 기초하여 장치(200, 202, 204)의 성능이 평가된다. 예를 들면, 만약 테스트될 커패시터의 전압의 방전 곡선이 알려져 있다면, 대응하는 곡선은 상기 테스트 신호의 알려진 전압을 가지고 커패시터를 충전시킴으로써 결정될 수 있다. 측정된 방전 곡선은 알려진 곡선과 비교될 수 있으며, 커패시터의 성능은 2개의 곡선들간의 대응(correspondence)으로부터 평가될 수 있다. 유사한 절차가 다른 장치들에도 적용될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 장치는 장치(210, 212, 214)를 테스트하기 위한 테스트 절차를 제어하기 위하여 제어 유닛(280)을 포함하고 있다. 제어 유닛(280)은 예를 들면, 이동국에 있는 장치들의 테스트 절차들과 관련된 데이터를 처리 및 저장하기 위한 메모리 수단을 가진 디지털 컴퓨터를 포함한다. 상기 제어 유닛(280)은 이동국(104)의 베이스밴드부(104)에서 구현될 수 있다.
일 실시예에서, 제어 유닛(280)은 장치(200, 202, 204)를 테스트하기 위한 테스트 절차를 개시하기 위해 테스트 명령(286)을 수신한다. 상기 명령(286)은 테스트될 장치(200, 202, 204)에서 추측된 또는 검출된 기능 불량(malfunction)에 기초하여 이동국(100)에서 생성될 수 있다. 또한, 이동국(100)의 제조 단계 또는 서비스 동안에 이동국(100)을 테스트하면서, 외부 테스트 시스템(290)으로부터의 테스트 명령(286)을 수신하는 것도 가능하다.
일 실시예에서, 테스트 명령(286)은 원격통신시스템의 무선 인터페이스를 사용해서 이동국으로 전달된다. 테스트 명령(286)은 예를 들면, 이동국에서의 기능 불량의 표시에 기초하여 또는 정기적으로 원격통신시스템의 네트워크에 위치한 원격 서비스 퍼스넬(remote service personnel)에 의해 생성될 수 있다. 평가 유닛(270)으로부터의 정보(272) 또는 분석기(260)로부터의 정보(254)와 같은 테스트에 대한 정보는 상세한 분석을 위해 이동국으로부터 서비스 퍼스넬로 전송될 수 있다. 그러한 경우에, 평가 유닛(270)의 일부의 작업들은 원격통신시스템의 네트워크에 위치될 수 있다.
제어 유닛(280)의 일부의 작업들은 네트워크에서 또한 수행될 수 있다. 예를 들면, 원격 서비스 퍼스넬은 기능 불량의 상세들이 조사될 수 있도록 가능하면 초기 분석에 기초하여, 테스트 절차의 상세들을 구체적으로 상술할 수 있다. 상기 분석 이후에, 이동국의 사용자는 수리를 위해 이동국을 전달할 필요가 있는지에 대해 알 수 있다.
제어 유닛(280)은 테스트 신호의 특징들에 대한 데이터를 저장할 수 있다. 예를 들면, 테스트될 각 장치(200, 202, 204)는 예를 들면, 테스트 신호에 적용될 주기, 전압 레벨, 및 전류를 제어하는 장치-특유 테스트 파라미터들을 가질 수 있다. 상기 특징들은 생성기 제어 신호(282)를 사용해서 생성기(230)로 전송될 수 있다. 스위칭 유닛(240)의 스위칭 위치는 스위치 제어 신호(284)에 의해 제어될 수 있다.
일 실시예에서, 장치(200, 202, 204)는 무선 주파수부(102)에 위치한 안테나 유닛(110), RF ASIC(106), 또는 증폭 유닛(108)과 같은 무선 주파수 요소이다. 열거된 유닛들에서 테스트될 전기적 구성요소들은 예를 들면, 전력 증폭기, 저잡음 증폭기, 아날로그-디지털 변환기, 디지털-아날로그 변환기, 필터, 다이오드, 또는 안테나일 수 있다. 만약 장치(200, 202, 204)가 무선 주파수 요소라면, 생성기(230), 측정 유닛(250), 피딩 라인(210, 212, 214), 스위칭 유닛, 분석기(260)와 같은 요소들을 테스트하는 것의 적어도 일부는 무선 주파수부(102)에 위치할 수 있다.
일 실시예에서, 장치(200, 202, 204)는 주변 장치(130-156)이다. 상기 절차는 주변 장치(130-156)의 기능적인 응답 대신에 전기적 응답을 테스트하기 때문에, 현재의 해결책은 주변 장치(130-158)를 테스트하기 위한 효율적인 테스트 방법 및 장치를 제공한다. 기능적 응답은, 테스트 신호가 장치(130-156)에 인가되었을 때 예를 들면 마이크로폰(146) 또는 이어폰(136)과 같은 오디오 장치의 음향 재생을 의미한다. 기능적 응답은 음파 및 전기적 신호간의 변환을 수행하기 위해 외부의 마이크로폰/확성기를 필요로 한다. 전기적 응답을 결정하는 효율은 다양한 인자들, 예를 들면 테스트 라인으로부터의 잡음 및 진동과 같은 외부 교란에 대한 허용도(tolerance)및 다른 테스트들간의 테스트 플랫폼의 변경에 대한 감소된 필요성으로부터 비롯된다. 도 3은 이어폰(300)을 테스트하기 위한 테스트 장치의 예시를 도시하고 있다. 테스트 장치는 오디오 코덱(312), 스위칭 유닛(324), 측정 유닛(326), 및 아날로그-디지털 변환기(328)를 포함한다. 전술한 구성요소들은 주문형 반도체(Application Specific Integrated Circuit, ASIC)로 구현될 수 있다. 상기 장치는 이동국(100)의 시스템 블록(112)의 디지털 신호 프로세서(330)를 가지고 구현된 분석기(334) 및 신호 생성기(332를 더 포함한다. 제어 유닛(340) 및 평가 유닛(350)이 또한 도시되어 있다.
신호 생성기(332)는 테스트 신호(302)를 오디오 코덱(312)에 공급하며, 상기 오디오 코덱(312)은 테스트 신호(302)를 증폭하고, 테스트 신호(302)를 피딩 라인으로 제공하기 위한 증폭기(318)를 포함한다. 상기 피딩 라인은 상기 테스트 신호와 관련된 전류에 대한 출력 및 입력을 제공하기 위한 제1 폴(314) 및 제2 폴(316)을 포함한다. 스위칭 유닛(324)이 켜질 때, 제1 폴(314) 및 제2 폴(316)의 측정 브랜치들(320 및 322)은 각각 스위칭 유닛(324)으로 연결되며, 또한 측정 브랜치들(320, 322)을 측정 유닛(326)으로 인도한다. 측정 유닛(326)은 제1 폴(314) 및 제2 폴(316)간의 전압을 결정하며, 출력 전압(323, 325)을 아날로그-디지털 변환기(328)로 제공한다. 아날로그-디지털 변환기(328)는 처리를 위해 출력 전압(323, 325)을 디지털 형식으로(336) 분석기(334)로 출력한다. 분석기(334)는 헤드폰(300)의 성능을 평가하기 위해 측정 결과의 평균과 같은 처리 결과를 평가 유닛(350)으로 출력한다.
도 4를 참조하면, 본 발명의 실시예들이 블록도에 의해 기술되어 있다. 단계 400 개시에서, 상기 방법이 개시된다. 단계402에서, 전기적 테스트 신호가 생성된다. 단계404에서, 전기적 테스트 신호가 장치(200, 202, 204)로 제공된다. 단계 406에서, 측정 유닛(406)이 스위칭 유닛(240)에 의해 피딩 라인(210, 212, 214)으로 연결된다. 단계 408에서, 전압과 같은 전기적인 양이 피딩 라인(210, 212, 214)으로부터 측정된다. 단계 410에서, 전기적 테스트 신호에 대하여 장치(200, 202, 204)의 전기적 응답이 분석기(260)에 의해 결정된다. 단계 412에서, 장치(200, 202, 204)의 성능이 전기적인 양에 기초하여 평가된다. 단계 414에서, 상기 방법은 종료된다.
비록 본 발명은 첨부된 도면들에 따른 예시를 참조하여 기술되었지만, 본 발명은 그에 한정되지 않으며, 첨부된 청구항들의 범위내에서 다양한 방식으로 변조될 수 있다는 점은 명백하다.

Claims (20)

  1. 장치를 테스트하기 위한 전기적 테스트 신호를 생성하는 단계(402); 및
    상기 전기적 테스트 신호를 피딩 라인에 의해 상기 장치에 공급하는 단계;를 포함하는 이동국의 장치를 테스트하는 방법에 있어서, 상기 방법은
    상기 이동국내에 통합된 측정 유닛에 의해 상기 피딩 라인으로부터 전기적인 양을 측정하는 단계(408);
    상기 전기적인 양에 기초하여 상기 전기적 테스트 신호에 대한 상기 장치의 전기적 응답을 결정하는 단계(410); 및
    상기 이동국내에 통합된 기능 유닛을 사용해서 테스트 절차 중 적어도 일부를 수행하는 단계;를 포함하며, 상기 테스트 절차는 상기 전기적 테스트 신호를 생성하고, 상기 장치의 상기 전기적 응답을 결정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 이동국의 장치를 테스트하는 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 방법은
    상기 전기적 응답에 기초하여 상기 장치의 성능을 평가하는 단계(412);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이동국의 장치를 테스트하는 방법.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 방법은
    상기 측정 유닛을 상기 피딩 라인에 연결하는 단계(406);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이동국의 장치를 테스트하는 방법.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 방법은
    적어도 부분적으로 상기 이동국내에 통합된 신호 생성기에 의해 상기 전기적 테스트 신호를 생성하는 단계(402);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이동국의 장치를 테스트하는 방법.
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 방법은
    적어도 부분적으로 상기 이동국내에 통합된 분석기에 의해 상기 전기적 테스트 신호에 대한 상기 장치의 상기 전기적 응답을 결정하는 단계(410);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이동국의 장치를 테스트하는 방법.
  6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 방법은
    상기 장치에 대하여 상기 전기적 테스트 신호의 전압을 측정하는 단계(408); 및
    상기 전압에 기초하여, 상기 전기적 테스트 신호에 대한 상기 장치의 전기적 응답을 결정하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이동국의 장치를 테스트하는 방법.
  7. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 방법은
    미리 정의된 테스트 신호에 대해 알려진 전기적 응답을 가지고 상기 장치를 테스트하기 위하여 미리 정의된 전기적 테스트 신호를 생성하는 단계(402); 및
    상기 전기적 테스트 신호에 대한 상기 장치의 전기적 응답 및 상기 알려진 전기적 응답에 기초하여 상기 장치의 성능을 평가하는 단계(412);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이동국의 장치를 테스트하는 방법.
  8. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 방법은
    상기 전기적 테스트 신호에 대한 상기 장치의 상기 전기적 응답의 정확도가 미리 정의된 값 이상이 되도록 선택된 입력 임피던스를 가지고 측정 유닛에 의해 상기 전기적인 양을 측정하는 단계(408);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이동국의 장치를 테스트하는 방법.
  9. 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 방법은
    복수의 장치들중 한 장치의 피딩 라인에 대하여 상기 전기적인 양을 측정하는 측정 유닛을 연결하는 단계(406); 및
    복수의 장치들중 한 장치의 피딩 라인으로부터 상기 전기적인 양을 측정하는 단계(408);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이동국의 장치를 테스트하는 방법.
  10. 제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 장치는
    주변 장치인 것을 특징으로 하는 이동국의 장치를 테스트하는 방법.
  11. 장치(200, 202, 204)를 테스트하기 위한 전기적 테스트 신호를 생성하기 위한 신호 생성기(230); 및
    상기 전기적 테스트 신호를 상기 장치(200, 202, 204)에 공급하기 위해 상기 장치(200, 202, 204) 및 상기 신호 생성기(230)에 연결된 피딩 라인(210, 212, 214);을 포함하는 이동국의 장치를 테스트하기 위한 장치에 있어서, 상기 이동국은
    상기 피딩 라인(210, 212, 214)으로부터 전기적인 양을 측정하기 위해 상기 피딩 라인(210, 212, 214)에 연결된 측정 유닛(250);을 더 포함하고, 상기 이동국은
    상기 전기적인 양에 기초하여 상기 전기적 테스트 신호에 대한 상기 장치(200, 202, 204)의 전기적 응답을 결정하기 위하여 상기 측정 유닛(250)에 연결된 분석기(260);를 더 포함하며, 테스트 장치중 적어도 일부는 상기 이동국내에 통합되며, 상기 테스트 장치는 상기 신호 생성기(230) 및 상기 분석기(260)를 포함하는 것을 특징으로 하는 이동국의 장치를 테스트하기 위한 장치.
  12. 제11항에 있어서, 상기 이동국의 장치를 테스트하기 위한 장치는
    상기 전기적 응답에 기초하여 상기 장치(200, 202, 204)의 성능을 평가하기 위하여 상기 분석기(260)에 연결된 평가 유닛(270);을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이동국의 장치를 테스트하기 위한 장치.
  13. 제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 이동국은
    상기 측정 유닛(250)을 상기 피딩 라인(210, 212, 214)에 연결하기 위한 스위칭 유닛(240);을 포함하는 것을 특징으로 하는 이동국의 장치를 테스트하기 위한 장치.
  14. 제11항 내지 제13항 중 어느 한 항에 있어서, 적어도 상기 신호 생성기(230) 부분은
    상기 이동국내에 통합되는 것을 특징으로 하는 이동국의 장치를 테스트하기 위한 장치.
  15. 제11항 내지 제14항 중 어느 한 항에 있어서, 적어도 상기 분석기(260) 부분은
    상기 이동국내에 통합되는 것을 특징으로 하는 이동국의 장치를 테스트하기 위한 장치.
  16. 제11항 내지 제15항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 측정 유닛(250)은
    상기 장치(200, 202, 204)에 대하여 상기 전기적 테스트 신호의 전압을 측정하도록 구성되며, 상기 분석기(260)는
    상기 전압에 기초하여, 상기 전기적 테스트 신호에 대한 상기 장치(200, 202, 204)의 상기 전기적 응답을 결정하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 이동국의 장치를 테스트하기 위한 장치.
  17. 제11항 내지 제16항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 신호 생성기(230)는
    상기 미리 정의된 전기적 테스트 신호에 대하여 알려진 전기적 응답을 가지고 상기 장치(200, 202, 204)를 테스트하기 위해 미리 정의된 전기적 테스트 신호를 생성하도록 구성되며, 상기 평가 유닛(270)은
    상기 전기적 테스트 신호에 대한 상기 장치(200, 202, 204)의 상기 전기적 응답 및 상기 알려진 전기적 응답에 기초하여 상기 장치(200, 202, 204)의 성능을 평가하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 이동국의 장치를 테스트하기 위한 장치.
  18. 제11항 내지 제17항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 측정 유닛(250)의 입력 임피던스는
    상기 전기적 테스트 신호에 대한 상기 장치의 상기 전기적 응답의 정확도가 미리 정의된 값 이상이 되도록 선택되는 것을 특징으로 하는 이동국의 장치를 테스트하기 위한 장치.
  19. 제11항 내지 제18항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 이동국은 복수의 피딩 라인들(210, 212, 214)을 가지는 복수의 장치들(200, 202, 204)을 포함하며, 상기 이동국은
    상기 측정 유닛(250)을 하나씩 복수의 장치들(200, 202, 204)중 한 장치(200, 202, 204)의 피딩 라인(210, 212, 214)에 연결하기 위한 스위칭 유닛(240);을 포함하며, 상기 측정 유닛(250)은
    복수의 장치들(200, 202, 204)중 상기 장치(200, 202, 204)의 피딩 라인(210, 212, 214)으로부터 상기 전기적인 양을 측정하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 이동국의 장치를 테스트하기 위한 장치.
  20. 제11항 내지 제19항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 장치(210, 212, 214)는
    주변 장치(130-156)인 것을 특징으로 하는 이동국의 장치를 테스트하기 위한 장치.
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