JP2000304794A

JP2000304794A - 伝導イミュニティ試験器

Info

Publication number: JP2000304794A
Application number: JP11114390A
Authority: JP
Inventors: Kusuo Takagi; 国主男高木; Makoto Miyake; 誠三宅
Original assignee: NTT Advanced Technology Corp
Current assignee: NTT Advanced Technology Corp
Priority date: 1999-04-22
Filing date: 1999-04-22
Publication date: 2000-11-02
Anticipated expiration: 2019-04-22
Also published as: JP3642979B2

Abstract

(57)【要約】【課題】本発明の目的は、規模が大がかりで時間と手間
のかかるイミュニティ試験系を簡易化および自動化する
ことにより、イミュニティ試験が容易かつ短時間に行
え、操作性および再現性にもすぐれた試験器を提供する
ことにある。【解決手段】本発明による伝導イミュニティ試験器は、
被試験装置（ＥＵＴ）の有する各種機能に対応した異常
検出手段を設け、異常発生と連動して印加妨害波の周波
数をステップさせる等妨害波印加条件を制御し、もしく
は妨害波印加停止時にＥＵＴが自動復帰しない場合に
も、ＥＵＴを通信動作状態に自動的に立ち上げる等の手
段を設け、これらによって操作容易で試験時間を大幅に
短縮できるようにしたことを特徴としている。また、Ｅ
ＵＴに生じる誤動作、符号誤り、画質劣化、雑音可聴等
の種々の機能異常モ−ドに対しても、電磁気的、光学
的、または音響的検出手段等、各種の方法で検出可能な
ようにしてある。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、通信機器等の電子
情報技術装置の通信線や電力線に伝導妨害波を印加し、
被試験装置の妨害波耐力（イミュニティ）を評価する試
験器に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種の伝導イミュニティ試験方
法としては、図２のような個別の試験構成手段を組み合
わせ接続した試験系が用いられている。すなわち、図２
で、１は被試験装置（以下、ＥＵＴという）、２はＥＵ
Ｔ１を通信動作状態にするため通信線の対向側に接続し
た補助装置（以下、ＡＥという）、３はＥＵＴ１とＡＥ
２とを交換接続するための擬似交換機、４はＥＵＴ１の
通信線、５は通信線４を介してＥＵＴ１にコモンモ−ド
の試験用の電磁妨害波（以下、単に妨害波という）を結
合・印加する妨害波結合器、６は試験用妨害波の発生
器、７はＥＵＴ１に通信動作機能の異常を発生させるの
に必要なレベルまで妨害波発生器６の出力を増加する増
幅器、８はＥＵＴ１への印加妨害波を計測する妨害波計
測器である。また、図３は妨害波発生器６の出力波形例
であり、（ａ）はラジオ放送等のＡＭ変調波、（ｂ）は
ＡＣ電源等の周期に同期した矩形パルス波（パルス幅
ｔ、周期Ｔ）、（ｃ）は蛍光灯等の家電機器等から発生
するバ−スト波（バ−スト幅Ｗ、周期Ｔ、パルス周期
ｄ）、（ｄ）は（ｂ）、（ｃ）と同一周期の減衰振動波
である。

【０００３】図４は、図３（ａ）のＡＭ変調波のような
連続性伝導妨害波を印加する場合に、通常用いられる妨
害波結合器５のコンデンサ結合型回路構成例である。
（ａ）は電話加入者線路等の平衡２線通信線用の結合・
減結合回路(ＣＤＮ−２Ｗ)であり、５Ａはその筐体、５
Ａ−１はＥＵＴ側の接続端子、５Ａ−２はＡＥ側の接続
端子、５Ａ−３は、妨害波入力端子である。また、
（ｂ）はホ−ムバス等の平衡４線通信線用の結合・減結
合回路(ＣＤＮ−４Ｗ)であり、５Ｂはその筐体、５Ｂ−
１はＥＵＴ側の接続端子、５Ｂ−２はＡＥ側の接続端
子、５Ｂ−３は、妨害波入力端子である。このほか平衡
８線程度までの多線条線路に対しては、同様の構成のも
のが用いられる。

【０００４】図３（ａ）のＡＭ変調波のような連続性の
伝導妨害波を印加して、通信機器のようなＥＵＴ１のイ
ミュニティを試験・評価するには、通常以下のような手
順がとられる。すなわち図２で、ＡＥ２を操作し、擬似交換機３を介してＥＵＴ１にア
クセスし（またはＥＵＴ１からＡＥ２にアクセスし）、
ＥＵＴ１を通信動作状態にする。妨害波発生器６のＡＭ変調波出力信号を設定し（搬送
周波数ｆ_c、変調周波数ｆ、変調度Ｍ等）、増幅器７お
よび妨害波結合器５を介して通信線４にコモンモ−ドで
結合させ、ＥＵＴ１に試験妨害波を印加する。妨害波発生器６のＡＭ変調波出力レベルを増加してい
き、通信動作中のＥＵＴ１に機能異常（誤動作や通信品
質劣化）が発生したときの印加レベル（≒イミュニティ
レベル）を、妨害波計測器８により測定する。（なお、
イミュニティレベルは正確には機能異常が発生する直前
の印加レベルをいうが、ここでは実際の測定の容易性上
から発生時の印加レベルをもってイミュニティレベルと
する。）または、あらかじめ定められたイミュニティ試験レベ
ルがＥＵＴ１に加わるよう、ＡＭ変調波出力レベルを設
定して印加し、ＥＵＴ１の機能異常発生の有無を確認し
て合否判定する。ＡＭ変調信号の搬送周波数ｆ_cを順次変えて〜を
繰り返し、試験周波数帯域におけるＥＵＴ１のイミュニ
ティレベルを求めるか合否を判定するなどにより、ＥＵ
Ｔ１の耐力を評価する。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】このように、イミュニ
ティ試験は一般に印加妨害波に対するＥＵＴの耐力限界
を求める試験であるため、まず周波数等の印加条件を設
定し、ＥＵＴに機能異常が発生するまで印加妨害波レベ
ルを増加して、発生後は周波数等を変えて繰り返し試験
する必要があること、特にＥＵＴが通信機器の場合に
は、機能異常の発生形態が誤動作、符号誤り、同期はず
れ、画像品質劣化、雑音可聴など種々あり、メイン機能
に対してこれらの異常動作モ−ドの検出手段が必要なこ
と、これらの機能異常発生時には直ちに印加を停止しな
いと通信動作状態に復帰しない場合があること、復帰し
ない場合は改めてＡＥ等からアクセスしてＥＵＴを立ち
上げ、通信動作状態にした上で印加を繰り返す必要があ
ることなどにより、膨大な時間と手間のかかる欠点があ
った。

【０００６】また、通信機器のイミュニティ試験系は、
図２から明らかなように通信交換接続系と妨害波結合・
印加系の両者が必要であるが、従来はそれぞれ個別の試
験構成手段を組み合わせて構成していたため、接続系が
複雑となり、かつ、ＥＵＴの機能異常を目視によりその
つど見知してからＥＵＴを立ち上げ、印加条件を手動可
変設定するなど人力に頼っていたため、操作性がきわめ
て悪い欠点もあった。

【０００７】さらに、ＥＵＴが線数の異なる複数の多線
条通信線で接続された複合システム機器の伝導イミュニ
ティを試験するには、複合システム機器に接続する多く
のラインのおのおのから妨害波の印加が可能で、妨害波
を印加しない非印加ラインは終端してＥＵＴ配置系のコ
モンモ−ドインピ−ダンスを安定化させる必要がある
が、従来のものでこのような配置構成とするには、試験
系が大がかりで広い占有場所を要するなどの欠点があっ
た。

【０００８】本発明の目的は、このように規模が大がか
りで時間と手間のかかるイミュニティ試験系を簡易化お
よび自動化することにより、イミュニティ試験が容易か
つ短時間に行え、操作性および再現性にもすぐれた試験
器を提供することにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明による伝導イミュニティ試験器は、被試験装
置の対向通信線に接続され該被試験装置の通信動作状態
を可能にする通信交換接続手段と、前記被試験装置の通
信線に電磁妨害波をコモンモ−ドで結合する妨害波結合
手段と、該妨害波結合手段を介して電磁妨害波を印加し
た時に生じる前記被試験装置の機能異常信号を検出し通
信品質劣化度を測定する障害度測定手段と、前記被試験
装置への電磁妨害波の印加条件を設定制御する妨害波制
御手段とから構成され、該妨害波制御手段は、前記障害
度測定手段で測定される通信品質劣化度が前記被試験装
置の障害モ−ドによりあらかじめ定められた評価レベル
となった時の前記被試験装置への妨害波印加レベルを出
力・表示すること、または、あらかじめ定められたレベ
ルの電磁妨害波を前記被試験装置へ印加した時の前記障
害度測定手段で測定される通信品質劣化度を出力・表示
することを特徴とする。

【００１０】本発明による伝導イミュニティ試験器は、
ＥＵＴの有する各種機能に対応した異常検出手段を設
け、異常発生と連動して印加妨害波の周波数をステップ
させる等妨害波印加条件を制御し、もしくは妨害波印加
停止時にＥＵＴが自動復帰しない場合にも、ＥＵＴを通
信動作状態に自動的に立ち上げる等の手段を設け、これ
らによって操作容易で試験時間を大幅に短縮できるよう
にしたことを特徴としている。また、ＥＵＴに生じる誤
動作、符号誤り、画質劣化、雑音可聴等の種々の機能異
常モ−ドに対しても、電磁気的、光学的、または音響的
検出手段等、各種の方法で検出可能なようにしてある。

【００１１】また、アナログ・デジタル擬似交換機能を
有する通信交換接続系と、アナログ平衡２／４線やデジ
タルインタフェ−スＵ点・Ｓ／Ｔ点への印加が可能な妨
害波結合・印加系とを一体化配置構成にして試験系を簡
易化すると共に、大半のアナログ・デジタル通信機器の
通信動作状態が実現でき、これによるイミュニティ試験
が実施可能なようにしてある。

【００１２】さらに、可聴雑音評価試験では、音声劣化
の評価基準を設定するために必要な連続性正弦波および
パルス波の信号源を試験器内に組み込むと共に、ＥＵＴ
側と対向通信線側にそれぞれ基準信号レベルと妨害波信
号レベルとの検出手段を設け、これらの各側における検
出信号の比較によって、音量調整つまみの設定やマイク
ロホンの設置位置で受話音量が異なるＥＵＴに対して
も、適正な可聴雑音の評価ができる特徴を有する。ま
た、ＥＵＴ側だけでなく対向機器側への影響や、連続性
正弦波だけでなく、連続性パルスに対する可聴雑音の評
価もできるようにしてある。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施形態につい
て図面を用いて詳細に説明する。

【００１４】

【実施例１】図１は本発明の第１の実施例を示す図であ
り、９は本試験器の構成各部を含む筐体、３’、５’、
６’、７’は、それぞれ従来の擬似交換機３、妨害波結
合器５、妨害波発生器６、および増幅器７と同様の機能
を有するそれぞれ擬似交換部、妨害波結合部、妨害波発
生部、および増幅部、４はＥＵＴ１の通信線、３−１お
よび５−１はそれぞれ擬似交換部３’および妨害波結合
部５’の外部接続端子である。

【００１５】また、１ＡはＥＵＴ１に組み込まれ、ＥＵ
Ｔ１に通信誤動作や同期はずれ等の機能異常が発生した
時に点灯または発光する警報ランプ等の発光素子、１０
はＥＵＴ１の発光素子１Ａ等の機能異常発生箇所に接近
または接触して装着する等の方法で結合させた障害信号
検出部、１０−０は障害信号検出部１０の内部に組み込
まれたＬＥＤ等の受光素子、１１は障害信号検出部１０
で検出した障害信号のレベルや頻度等を測定したり、あ
らかじめ定められた所定の評価基準値と比較する等によ
り機能異常の程度を評価する障害度測定部、１１−１は
本試験器の筐体９に設けられた障害信号検出部１０の入
力接続端子、１２は通信線に接続された妨害波結合部
５’と擬似交換部３’との間に接続挿入され、線路損失
を可変設定する擬似線路、１３は妨害波発生部６’の出
力信号の周波数やレベル、および出力タイミング等を設
定制御する制御部、１４は制御部１３の制御操作の設定
画面および障害度測定部１１で測定した結果を表示する
表示部、１５は制御部１３と、障害度測定部１１や妨害
波発生部６’および表示部１４等とを結ぶＧＰ−ＩＢケ
−ブル、１５−１と１５−１’はＧＰ−ＩＢケ−ブル１
５の外部接続端子、１６は妨害波結合部５’の出力を試
験前または試験後に所定のレベルに校正したり、ＥＵＴ
１に印加される妨害波を測定する印加出力測定部、１６
−１は印加出力測定部１６の外部接続端子である。

【００１６】また、図５は、図１の制御部１３を用いて
妨害波発生部６’のＡＭ変調波信号を出力制御する方法
を説明する図である。

【００１７】以下に図１および図５を用いて、図３
（ａ）のようなＡＭ変調波を印加時に、ＥＵＴ１のイミ
ュニティ特性を試験・評価するために必要な動作を説明
する。すなわち図１で、まず、補助装置ＡＥ２を操作し
て擬似交換部３’、擬似線路１２、妨害波結合部５’を
介してＥＵＴ１にアクセスし、またはＥＵＴ１から逆に
ＡＥ２にアクセスしてＥＵＴ１を立ち上げ、通信動作状
態を実現する。このとき擬似線路１２を可変して実回線
条件を模擬した線路損失を設定しておく。

【００１８】次に、制御部１３において、妨害波発生部
６’から発生させるＡＭ変調波の変調周波数ｆや変調度
Ｍおよび出力レベルの上昇速度を定めると共に、搬送周
波数ｆ_cを図５（ａ）に示す試験帯域（ｆ_l〜ｆ_h）内の
最初の任意ポイントｆ_iに設定し、妨害波発生部６’を
動作させる。この出力信号を増幅部７’で増幅し、妨害
波結合部５’を介してコモンモ−ドの伝導妨害波として
ＥＵＴ１の通信線４からＥＵＴ１に印加し、その印加レ
ベルを次第に増加していく。

【００１９】この結果、ＥＵＴ１の内部回路が妨害波に
耐えきれなくなった時に論理素子等が反転して誤動作や
同期はずれ等の機能異常を発生し、ＥＵＴ１の警報ラン
プ等の発光素子１Ａが発光する。この発光を発光素子１
Ａに接近または接触装着した受光素子１０−０が検知し
て、検知信号を障害度測定部１１に入力する。これによ
る障害度測定部１１からの出力信号がＧＰ−ＩＢケ−ブ
ル１５を介して制御部１３に伝達すると、制御部１３で
はこのときの妨害波発生部６’の出力信号レベル（図５
（ａ）のｅ_i）を記憶した後、その出力レベルをすみや
かにゼロまたは所定レベル以下に減少させて、ＥＵＴ１
への妨害波印加を解除する。すると発光素子１Ａが消灯
してＥＵＴ１は正常動作に復帰し、通信動作状態を継続
する。制御部１３では、図５（ａ）に示すように妨害波
発生部６’の上記出力レベル低下時点からＥＵＴ１が正
常動作に復帰するのに要する所定時間経過後に、搬送周
波数ｆ_iをあらかじめ設定した次の任意のｆ_jにΔｆだけ
可変ステップした後、その出力レベルを前と同様に次第
に増加させる。

【００２０】これによって、前の設定周波数ｆ_iによる
印加時と同様に、ＥＵＴ１の発光素子１Ａが再発光し、
ＥＵＴ１の機能異常発生信号が障害度測定部１１および
ＧＰ−ＩＢケ−ブル１５を介して制御部１３に伝達し、
この時の妨害波発生部６’の出力信号レベル（図５
（ａ）のｅ_j）を、前と同様に記憶する。これらの制御
動作を試験帯域（ｆ_l〜ｆ_h）内であらかじめ設定した全
周波数ポイントについて実行した後、各周波数ポイント
毎に記憶した妨害波発生部６’の出力レベルｅを妨害波
結合部５’からＥＵＴ１への印加レベルＶに換算してプ
ロットすれば、図６のようなＥＵＴ１のイミュニティ特
性が得られる。同図で、Ｖ_refはあらかじめＥＵＴ１の
設置される電磁環境条件などから定めたイミュニティ評
価基準レベルであり、Ｖ_refと各周波数ポイントにおけ
るイミュニティ特性値を比較することにより、ＥＵＴ１
が試験帯域内で許容レベルを満足するかどうかや、どの
周波数範囲やポイントでどの程度不満足かなどの評価が
容易に可能となる。なお、上記の出力レベル低下時点か
ら再印加までの時間は、それぞれのＥＵＴ１による復帰
特性を考慮し、制御部１３であらかじめ可変設定できる
ようにしてある。

【００２１】また、全試験帯域にわたってＥＵＴ１のイ
ミュニティが評価基準レベルＶ_refを満足しているかど
うかの合否判定結果のみを知ればよい場合には、妨害波
発生部６’の出力レベルを図５（ａ）のように１つの周
波数ポイント毎に増減させずに、図５（ｂ）のように各
所定の出力レベルとなるよう試験帯域内を周波数ステッ
プさせて掃引し、発光素子１Ａの発光による障害度測定
部１１への信号入力がなければ合格を、掃引の途中で発
光による信号入力があれば不合格を容易に確認できる。
また、信号入力時の掃引停止周波数ポイントから、不合
格となった周波数がただちにわかる。

【００２２】このように、本実施例では、ＥＵＴ１の機
能異常発生と連動して妨害波発生部６’の出力を低下さ
せ、ＥＵＴ１の通信動作状態の復帰を待って周波数ステ
ップさせた信号を再印加する等により妨害波発生部６’
の周波数掃引制御を行っているため、全試験帯域にわた
りイミュニティ試験を自動化でき、容易かつ短時間の試
験・評価が可能となる。

【００２３】なお、図１で通信動作中のＥＵＴ１に対し
て、通信線４に妨害波を結合する前と、障害信号検出部
１０の出力信号をトリガとする妨害波結合後の通信線間
信号を障害度測定部１１で測定・比較することにより、
妨害波の影響によるＡＥ２に与える通信の伝送品質等の
評価も可能となる。

【００２４】一方、以上の動作で、妨害波結合部５’か
らＥＵＴ１へ適正な所定の妨害波レベルＶを結合・印加
するには、各周波数ポイントにおける妨害波発生部６’
の出力ｅをどのように制御部１３で設定し出力したらよ
いかが問題となる。その理由は、妨害波発生部６’の出
力点からＥＵＴ１の通信線入力点までの経路に増幅部
７’や妨害波結合部５’が介在し、これら増幅部７’の
増幅度特性や妨害波結合部５’の内部浮遊容量などによ
る損失の周波数特性があるため、これらの補正を行って
おく必要があることによる。

【００２５】図７は制御部１３により設定する妨害波発
生部６’の出力ｅと、これによって妨害波結合部５’か
らＥＵＴ１へ実際に印加される妨害波レベルＶとの対応
をとる方法、すなわち妨害波結合部５’の出力の校正方
法を説明する図である。両者の対応をとるには、ＥＵＴ
１のイミュニティ試験に先だって（または試験後に）、
図７（ａ）のようにＥＵＴ１の接続される妨害波結合部
５’の接続端子５−１と印加出力測定部１６の接続端子
１６−１とを接続線１７で接続する。

【００２６】次に、試験帯域内の任意の周波数ポイント
ｆ_iにおいて妨害波発生部６’の出力を増加し、印加出
力測定部１６で測定される妨害波結合部５’の出力レベ
ルの読み（＝ＥＵＴ１への印加レベルＶ）が所定の試
験レベルＶ_iとなるよう制御部１３を調整して、妨害波
発生部６’の出力レベルｅ_iを設定した後記憶する。次
に、周波数をΔｆだけステップさせたｆ_jにおいて、同
一のＶ_iとなるようｅ_jを設定して記憶する。これらの操
作を図７（ｂ）の試験帯域（ｆ_l〜ｆ_h）内の各周波数ポ
イントについて実行することにより、ＥＵＴ１へ全帯域
にわたり同一の試験レベルＶを印加するのに必要な各周
波数ポイントにおけるｅの値が設定できる。Δｆのステ
ップ幅を細かくするほど多数の周波数ポイントにおける
ｅの値が測定され精度が向上する。さらに試験レベルＶ
を設定印加レベルの範囲（Ｖ_l〜Ｖ_h）内で任意に変えて
同様の測定を行うことにより、任意の所定印加レベルＶ
に対するｅの設定値が確定する。

【００２７】このように、多数の設定Ｖ値に対してそれ
ぞれのｅを細かく測定しておけば、印加レベル設定の精
度が向上するが、校正時間の短縮をはかるには、ＥＵＴ
への印加レベルの範囲内で、例えば最小値Ｖ_lと最大値
Ｖ_h、またはこれらと任意の中間値との複数の特定Ｖに
対してのみ各ｅを測定し、これらの間のＶに対しては上
記の各測定ｅ値を比例配分した計算値を用いれば、精度
は落ちるが校正時間を短縮できる。

【００２８】これらの校正値を用いれば、図５のような
周波数設定・掃引に当たって、試験帯域内の任意の限定
した帯域部分のみを詳細に設定して掃引したり、あらか
じめ定めた複数の特定周波数ポイントのみを設定して妨
害波を印加する等の掃引・印加が可能となり、目的に応
じた妨害波の印加制御ができる。

【００２９】なお、上記ＥＵＴ１への印加レベルＶの実
際の校正時には、ＥＵＴ１の試験帯域におけるコモンモ
−ドインピ−ダンスが機種により異なるため、これによ
ってＶが変化するのを避けるため、図４の妨害波結合器
５の２線や４線の通信線をコモンモ−ドとみなして一つ
にまとめて表した図７（ｃ−１）に示すような妨害波結
合部５’の出力端子５−１に、校正用抵抗１８（＝Ｒ₁
＋Ｒ₂）で置き換えたＥＵＴ１のコモンモ−ド入力イン
ピ−ダンス相当の回路を接続し、印加出力測定部１６の
入力インピ−ダンスに相当するＲ₂の両端電圧Ｖ₁を測定
して、これを信号源の起電力Ｖ_emf＝Ｖ₁（ｒ＋Ｒ＋Ｒ₁
＋Ｒ₂）／Ｒ₂として換算して（Ｒは通信線４の対地抵抗
を模擬した妨害波結合部５’の合成抵抗、ｒは信号源の
内部抵抗）、ＥＵＴ１の印加レベルＶとする。Ｖ_emfは
また、図７（ｃ−２）のように端子５−１を開放時の開
放端電圧Ｖ₀（＝Ｖ_emf）として直接測定することもでき
る。

【００３０】

【実施例２】図８は本発明の第２の実施例を示す図であ
り、図１の実施例で、ＥＵＴ１に印加した妨害波を除去
しても通信動作が継続せず、ＥＵＴ１が正常な動作状態
に自動復旧しない場合の構成を示す。図８で、図１と同
じ部分には同じ記号を用いた（１〜１６）。１９および
１９’は図１のＥＵＴ１およびＡＥ２にそれぞれ設けた
通信動作を再起動するためのＧＰ−ＩＢ制御の起動部、
２０および２０’はその中のそれぞれの起動手段であ
る。また図９は、起動手段２０または２０’部分の具体
的実施例であり、１ＢはＥＵＴ１やＡＥ２に組み込まれ
た押ボタンやタッチパネル、電源スイッチ等の通信動作
の起動素子、２０−１は起動素子１Ｂに対向して起動手
段２０内に装着したマグネット等の駆動手段、２０−２
は複数の駆動手段２０−１を任意に選択作動させるＧＰ
−ＩＢ制御可能な駆動回路である。

【００３１】以下に本実施例の動作を説明する。すなわ
ち前述の図１の試験系で、ＥＵＴ１への妨害波印加を例
えば図５（ａ）のｆ_iについて妨害波発生部６’で出力
レベルｅ_iまで出力した後妨害波を除去した時等に、Ｅ
ＵＴ１の通信動作が正常に復帰しないとその後の試験が
実施できなくなる。このような場合、妨害波除去時にも
発光素子１Ａが発光したままになるので、障害度測定部
１１およびＧＰ−ＩＢ線１５を介して制御部１３に検出
信号が伝送されると、制御部１３ではＧＰ−ＩＢ線１５
を介して図８の起動手段２０または２０’内の駆動回路
２０−２を選択駆動して通信動作の再立ち上げに必要な
押しボタンや電源スイッチなどの起動素子１Ｂに対応し
た駆動手段２０−１を作動させ、ＥＵＴ１またはＡＥ２
を再起動して通信動作状態を実現する。このようにして
ＥＵＴ１を再起動した後に図５と同様の掃引制御を続け
ることによって図６のようなイミュニティ特性を容易に
得ることができる。このように本実施例では、イミュニ
ティ試験中に通信動作が停止し、復帰しないようなＥＵ
Ｔ１に対しても、機能異常を検知してＥＵＴ１₁やＡＥ
２を再起動する手段を設けたため、通信動作が自動的に
確保され、一連のイミュニティ試験を簡単かつ確実で短
時間に実行できる。

【００３２】以上の２つの実施例では、ＥＵＴへの印加
妨害波の波形として図３（ａ）のようなＡＭ変調波を対
象に、ＥＵＴ１の機能異常発生と連動した印加周波数の
制御法について説明したが、図３（ｂ）ないし図３
（ｄ）のような連続パルス性の妨害波を印加する場合に
は、これらの波形の送出機能を有する妨害波発生部６’
と、各パルスの線路への結合・印加に適合した妨害波結
合部５’とを用いて、それぞれのパルス幅や周期または
バ−スト幅やバ−スト周期等の波形を制御部１３で設定
してＥＵＴ１にパルスの波高値を可変しながら印加し、
ＡＭ変調波印加時と同様に機能異常発生時の印加レベル
(パルス波高値)を測定すれば、ＥＵＴ１のパルスに対す
るイミュニティ特性や合否判定試験が容易に実行できる
ことは明らかである。

【００３３】

【障害信号検出手段の実施例】以上、ＥＵＴ１の誤動作
を対象としたイミュニティ試験方法を、警報ランプ等の
発光素子を有し機能異常時にはこの発光信号を検出して
妨害波印加系を制御するＥＵＴ１の事例について説明し
たが、通信機器のようなＥＵＴ１の場合、機能異常の発
生状況は警報ランプの誤点灯だけでなく様々であり、こ
れらに対応した障害信号の検出手段が必要となる。図１
０は、図１や図８の障害信号検出部１０について、上述
の発光信号検出を含む具体的検出手段の実施例を示す説
明図であり、ＥＵＴ１の種々の機能異常発生形態に対応
して、電気、磁気、光、音などを用いた検出手段を示
す。すなわち図１０で、１０ＡはＥＵＴ１の機能異常発
生の電気的検出手段であり、１０Ａ−０はＥＵＴ１内部
の機能異常発生要因と考えられるトランジスタやＩＣ等
の論理素子もしくはスイッチング素子、１０Ａ−１は論
理素子等１０Ａ−０の端子間に接触させた電圧プロ−ブ
等の電圧検出手段、１０Ａ−２は論理素子等１０Ａ−０
のケ−ブルにクランプした電流プロ−ブ等の電流検出手
段である。ＥＵＴ１への印加妨害波によりその内部の論
理素子等１０Ａ−０に誤動作等の機能異常が発生する
と、電圧検出手段１０Ａ−１や電流検出手段１０Ａ−２
によりその異常がそれそれ電圧ｖまたは電流ｉの電気的
出力信号として検出される。

【００３４】次に、図１０で、１０ＢはＥＵＴ１の機能
異常発生の磁気的検出手段であり、１０Ｂ−０はＥＵＴ
１内部の機能異常発生要因と考えられるコイル等の漏洩
磁界発生素子、１０Ｂ−１は漏洩磁界発生素子１０Ｂ−
０に接近して配置した磁界コイルなどの磁気検出手段で
あり、ＥＵＴ１への印加妨害波によりその内部の漏洩磁
界発生素子１０Ｂ−０から磁束Φが発生すると、磁気検
出手段１０Ｂ−１によりＥＵＴ１の機能異常発生が磁気
出力信号として検出される。

【００３５】また、図１０で、１０ＣはＥＵＴ１の機能
異常発生の前記図１の１０−０と同様の発光検出手段で
あり、１０Ｃ−０は、ＥＵＴ１に配設された警報・同期
はずれ・誤動作等の発光表示用ランプや発光ダイオ−ド
などからなる単一または複数個の機能異常表示素子、１
０Ｃ−１は機能異常表示素子１０Ｃ−０の個々または全
体を覆うように接近または接触して装着したＬＥＤ等の
発光検出手段で、１０Ｃ−０のいづれかの発光に対して
受光検出するようになっている。１０Ｃ−０’はＥＵＴ
１に接続されたＣＲＴや液晶等の表示画面を有する付属
ＥＵＴ、１０Ｃ−２は付属ＥＵＴ１０Ｃ−０’の表示画
面に接近または接触して装着した集合光ファイバ等から
なる画素拡大機能を有するマトリクス型等の画素検出手
段である。ＥＵＴ１への印加妨害波によりＥＵＴ１内の
回路が誤動作して、これに配設された機能異常表示素子
１０Ｃ−０や付属ＥＵＴ１０Ｃ−０’の表示画面に、ラ
ンプ点灯や画像劣化等の機能異常が発生すると、発光検
出手段１０Ｃ−１や画素検出手段１０Ｃ−２によりＥＵ
Ｔ１や付属ＥＵＴ１０Ｃ−０’の機能異常発生が受光出
力信号として検出される。

【００３６】さらに、図１０で、１０ＤはＥＵＴ１の機
能異常発生の音響検出手段であり、１０Ｄ−０はＥＵＴ
１に組み込まれたスピ−カやブザ−などの音響発生器、
１０Ｄ−１は音響発生器１０Ｄ−０の近傍に設置したマ
イクロホンなどの音響検出手段、１０Ｄ−１’はＥＵＴ
１に接続されたハンドセット１−１の受話器に勘合した
マイクロホンなどの音響検出手段である。ＥＵＴ１への
印加妨害波によりＥＵＴ１に組み込まれた音響発生器１
０Ｄ−０やハンドセット１−１の受話器から異常音や雑
音などの可聴音が発生すると、音響検出手段１０Ｄ−１
や１０Ｄ−１’によりＥＵＴ１の機能異常発生が音響出
力信号として検出される。

【００３７】また、図１０で、１０ＥはＥＵＴ１の機能
異常発生の電気的検出手段１０Ａとは異なる電気的検出
手段であり、１０Ｅ−０はＥＵＴ１に組み込まれた音響
出力等、他の機器等とのインタフェ−ス用接続端子、１
０Ｅ−１はインタフェ−ス用接続端子１０Ｅ−０からの
入力信号を他の機器等へ出力するインタフェ−ス回路で
ある。ＥＵＴ１への印加妨害波によりＥＵＴ１のインタ
フェ−ス用接続端子１０Ｅ−０に異常信号が出力する
と、インタフェ−ス回路１０Ｅ−１を介してＥＵＴ１の
機能異常発生がインタフェ−ス出力信号として検出され
る。

【００３８】以上、ＥＵＴの機能異常発生の状況に合わ
せて、図１０の各種障害信号検出手段のいずれかまたは
複数を図１もしくは図８の障害信号検出部１０に用い、
それぞれ所定の検出レベルを越えた時のＥＵＴ１への妨
害波印加レベルを求めれば、誤動作を対象としたイミュ
ニティ試験を簡単・確実に、かつ稼働をかけずに短時間
に実施できる。

【００３９】

【アナログ的通信品質劣化に対する試験の実施例】次
に、上記図１０の障害信号検出手段を用い、ＥＵＴ１が
前述の誤動作や同期はずれなど、異常状態の出力がゼロ
か１かのようなデジタル的な発生とは異なり、符号誤り
やスル−プット、画像品質劣化、雑音可聴等、アナログ
的な品質劣化の生じる機能異常モ−ドを対象とした場合
のイミュニティ試験方法について説明する。

【００４０】すなわち、ＥＵＴ１がデ−タ通信機器でそ
の符号誤りを対象とする時、障害信号検出部１０を図１
０の電圧検出手段１０Ａ−１や電流検出手段１０Ａ−
２、またはインタフェ−ス回路１０Ｅ−１を用い、障害
度測定部１１を符号誤り測定機能を有する測定部とし
て、ＥＵＴ１の障害信号を検出する。これによる障害度
測定部１１の符号誤り率が方式上から定められた所定の
値になった場合にＧＰ−ＩＢケ−ブル１５を介して制御
部１３に障害信号を伝達し、前と同様の制御を行うこと
によってＥＵＴ１の符号誤りに対するイミュニティ特性
が求まる。

【００４１】また、図１０で、ＥＵＴ１が簡易携帯電話
機（ＰＨＳ）等の基地局（ＣＳ）または携帯端末機（Ｐ
Ｓ）で、障害信号検出部１０を図１０のインタフェ−ス
回路１０Ｅ−１、障害度測定部１１をスル−プット測定
機能を有する測定部として、障害度測定部１１で測定さ
れるスル−プット値が所定の値になった場合にＧＰ−Ｉ
Ｂケ−ブル１５を介して制御部１３に障害信号を伝達
し、前と同様の制御を行うことによってＥＵＴ１のスル
−プットに対するイミュニティ特性が求まる。

【００４２】次に、ＥＵＴ１がＣＲＴや液晶表示画面を
有する画像通信機器で、その画像品質の劣化を対象とす
るとき、障害信号検出部１０を図１０のマトリクス型画
素検出手段１０Ｃ−２、障害度測定部１１を画像品質劣
化測定機能を有する測定部として、障害度測定部１１で
測定される画像劣化値が所定の値になった場合にＧＰ−
ＩＢケ−ブル１５を介して制御部１３に障害信号を伝達
し、前と同様の制御を行うことによってＥＵＴ１の画像
劣化に対するイミュニティ特性が求まる。

【００４３】さらに、ＥＵＴ１が受話器やスピ−カを有
する音響通信機器で、その雑音可聴等の音声の品質劣化
を対象とする時、障害信号検出部１０を図１０のマイク
ロホン等の音響検出手段１０Ｄ−１または１０Ｄ−
１’、障害度測定部１１を可聴雑音測定機能を有する測
定部として、障害度測定部１１で測定される雑音可聴値
や音声劣化値が所定の値になった場合にＧＰ−ＩＢケ−
ブル１５を介して制御部１３に障害信号を伝達し、前と
同様の制御を行うことによってＥＵＴ１の雑音可聴や音
声劣化に対するイミュニティ特性が求まる。

【００４４】なお、これらの符号誤りやスル−プット、
画像品質劣化、雑音可聴等、アナログ的な品質劣化の生
じる機能異常モ−ドを対象とした場合のイミュニティ試
験・評価方法には、上述のように、I．所定の品質劣化
量が生じる時のＥＵＴ１への妨害波印加レベルを測定し
て評価する方法と、これ以外に、II．ＥＵＴ１に所定の
妨害波印加レベルを印加した時に生じる品質劣化量を測
定して評価する方法もある。本発明の雑音可聴試験に関
する以降の実施例の説明では、上記 II．の方法を用い
て説明する。

【００４５】

【実施例３】図１１はＥＵＴ１が受話器やスピ−カを有
する電話機等の音響通信機器の場合に、ＡＭ変調波印加
時の雑音可聴特性を測定・評価する本発明の第３の実施
例を説明する図であり、２１は可聴雑音の評価基準信号
を発生するＧＰ−ＩＢ制御が可能な基準信号発生部、２
２はＥＵＴ１がアナログ通信機器の場合に、これを擬似
交換部３’を介してＡＥ２と接続しなくても通話状態に
することが可能な基準信号重畳の直流供給回路（フィ−
ディングブリッジ）、２３はＥＵＴ１の対向通信線側に
接続する擬似交換部３’または直流供給回路２２等の通
話状態実現手段を選択する切り替えスイッチ、２４はハ
ンドセット１−１の受話口と勘合させたマイクロホン１
０Ｄ−１’を組み込んだ擬似耳、２５はハンドセットコ
−ドの接続された受話器端子に接触させ受話器端子間に
生じる微小検波電圧を検出する高周波コモンモ−ドイン
ピ−ダンスが大きく、接触による受話器音圧の変動を無
視し得る差動プロ−ブである。また図１２は直流供給回
路２２の具体的実施例であり、基準信号発生部２１から
の基準信号ｆと直流電圧Ｅとを重畳させてＥＵＴ１の接
続される通信線４（負荷）側に供給し、ＥＵＴ１がアナ
ログ通信機器の場合にはこれによって通話状態が確保で
きるようになっている。さらに図１３は基準信号発生部
２１が有する可聴帯域周期の信号波形例であり、（ａ）
は前述の図３（ａ）のＡＭ変調波の変調波成分のような
可聴帯域周波数からなる連続性正弦波の波形、図１３の
（ｂ）ないし（ｄ）は図３の（ｂ）ないし（ｄ）の波形
とそれぞれ同様な可聴帯域の周期を有する連続性のパル
ス波形である。

【００４６】図１１で、ＥＵＴ１へのＡＭ変調波印加時
の雑音可聴特性を測定・評価するには、スイッチ２３を
切り替えて、基準信号発生部２１から図１３（ａ）のよ
うな可聴周波数ｆの基準正弦波信号を直流供給回路２２
を介してＥＵＴ１の対向側通信線４間に印加し、障害度
測定部１１で測定されるこの印加線間電圧が所定の基準
可聴レベル（例えばレベルａ）となるよう、制御部１
３において基準信号発生部２１の出力を設定する。ま
た、この設定状態において、ハンドセット１−１の受話
口に勘合させた擬似耳２４内のマイクロホン１０Ｄ−
１’、ＥＵＴ１のスピ−カ近傍の任意位置に配設したマ
イクロホン１０Ｄ−１、または差動プロ−ブ２５のいず
れかで検出され障害度測定部１１で測定される基準信号
発生部２１の出力信号ｆによる基準信号レベル（＝評価
基準値）Ｖ_refをＧＰ−ＩＢ線１５を介して制御部１３
に伝達し記憶する。次に、上記基準信号ｆの印加を除去
し、ＥＵＴ１へ所定の妨害波レベルＶ＝Ｖ₀が全試験帯
域にわたって印加されるよう、図５（ｂ）の掃引方法に
よって制御部１３を設定・制御し、妨害波発生部６’か
らＡＭ変調妨害波を印加する。この結果ハンドセット１
−１の受話口に勘合させた擬似耳２４内のマイクロホン
１０Ｄ−１’、ＥＵＴ１のスピ−カ近傍の任意位置に配
設したマイクロホン１０Ｄ−１、または差動プロ−ブ２
５のいずれかで検出され障害度測定部１１で測定される
ＡＭ変調波がＥＵＴ１内の回路で検波された可聴雑音信
号レベルＶの曲線と、上記Ｖ_refとを表示部１４画面上
のグラフにプロットする。

【００４７】図１４（ａ）はこのようにして求められる
可聴雑音特性例の説明図であり、妨害波印加による可聴
雑音特性曲線が、図中に太線で示した評価基準値Ｖ_ref
に対して例えば周波数ｆ_n以下の帯域では小さく満足し
ているが、周波数ｆ_n以上は評価基準値をオ−バしてお
り、その量が周波数によりどの程度か等の雑音可聴特性
の評価が容易にできる。また図１４(ｂ)は、（ａ）と異
なる評価基準値Ｖ_refの与え方をした場合、すなわち評
価基準値をＶ_ref±ΔＶとして、試験帯域（ｆ_l〜ｆ_h）
内の周波数ｆ_k以下ではこの下限値、ｆ_k以上では上限値
とした場合である。同図より、このような評価基準値に
対しては、周波数ｆがｆ_n1＜ｆ＜ｆ_k およびｆ_n2＜ｆ
において基準値をオ−バしていることなどがわかる。
なお、上記Ｖ_refを図１４（ａ）、（ｂ）の右側縦軸の
換算雑音音圧Ｐとして音圧の絶対値で表示する場合に
は、マイクロホン１０Ｄ−１’に標準周波数(１ｋＨｚ
等)と標準出力音圧Ｐ_s(ｄＢｓｐｌ) とを有する標準音
源を勘合させ、障害度測定部１１で測定される基準出力
信号レベルＶ_sが音圧の校正基準値Ｐ_sに等しいとして、
Ｖ_refを比例配分により音圧Ｐ₀＝Ｐ_s・Ｖ_ref／Ｖ_sのよ
うに換算すればよい。

【００４８】マイクロホンのかわりに差動プロ−ブ２５
を使用する時には、まず、上記校正に使用したマイクロ
ホン１０Ｄ−１’を障害度測定部１１に接続して、基準
信号発生部２１の印加信号によるマイクロホン１０Ｄ−
１’の検出レベルが上記ＶＳとなるよう、基準信号発生
部２１の出力を設定する。この設定状態のまま障害度測
定部１１で測定される差動プロ−ブ２５の検出レベルＶ
_spが音圧の校正基準値Ｐ_sに等しいとみなして、Ｖ_refを
比例配分により音圧Ｐ₀＝Ｐ_s・Ｖ_ref／Ｖ_spとして換算
することにより、音圧の絶対値が得られる。なお、図１
１の実施例で、妨害波発生部６’からＥＵＴ１へ妨害波
印加の結果、ＥＵＴ１の内部回路で変換・検波され対向
通信線側に伝送される通信線間の可聴雑音レベルを障害
度検出部１１で測定し、図１４（ａ）、（ｂ）の左側縦
軸をこれで置き換えた同様のグラフを作成することによ
り、ＥＵＴ１の対向通信機器であるＡＥ２側の可聴雑音
特性も、同様に相対評価および絶対評価が可能である。

【００４９】以上のように、本発明の実施例では、ＥＵ
Ｔ１の対向通信線間に所定レベルの上記基準信号を印加
した時に、ＥＵＴ１側の各マイクロホンや受話器端子間
に生じる可聴信号レベルを相対評価の基準値として、こ
れに対する妨害波印加時の可聴雑音特性を相対的に比較
・評価する方法を用いているので、音量可変調整つまみ
の設定状態やマイクロホンの設置位置などで音響出力の
異なるＥＵＴ１に対しても可聴雑音の適正な評価ができ
る。また標準音源を用いて上記相対評価値を音圧の絶対
値に換算すれば、可聴雑音特性の絶対値評価も可能とな
る。さらにＥＵＴ１の対向通信線間に生じる可聴雑音レ
ベルも障害度検出部１１で測定できる構成にしてあるた
め、対向通信線間の可聴雑音レベルも同様に相対および
絶対評価が可能となり、ＥＵＴ１の雑音可聴のＡＥ２側
への影響も明らかにできる。

【００５０】また、本発明の実施例では、可聴雑音評価
のための基準信号やＥＵＴ１を通話状態にする給電回路
を組み込んであるため、ＡＥ２を接続しなくてもアナロ
グＥＵＴ１の通話状態が実現できる。なお、デジタルＥ
ＵＴ１を試験する場合には、選択スイッチ２３を切り替
えてデジタル擬似交換部３’を接続し、これにデジタル
ＡＥ２を接続して発信接続し通話状態とした上で同様の
試験を実施すればよいことは明らかである。

【００５１】次に図１１の本発明による実施例を用い
て、図３の（ｂ）ないし（ｄ）のようなパルス性妨害波
に対する雑音可聴特性を試験・評価するには、これらの
妨害波と波形もしくは少なくとも周期が同等な図１３の
（ｂ）ないし（ｄ）の基準信号を、基準信号発生部２１
からＥＵＴ１の対向通信線間にそれぞれ所定の基準可聴
レベル（例えばそれぞれレベルｂ、ｃ、ｄ）となるよう
印加して、ＡＭ変調波印加の場合と同様にＥＵＴ１の各
マイクロホン１０Ｄ−１や１０Ｄ−１’、または差動プ
ロ−ブ２５の検出信号を測定して、図１４と同様のグラ
フを求めることにより可能となる。

【００５２】なお、図１３（ａ）ないし（ｄ）の各基準
信号をＥＵＴ１の対向通信線間に印加時の上記基準レベ
ル（それぞれレベルａ〜ｄ）を設定するに当たっては、
予め各基準信号のレベルを可変した音声を多人数の被験
者に聞かせて図１５のような音声劣化評価尺度による聴
感特性を求めておき、この中のいずれかのランク、例え
ばランク３（わずかにうるさい）の該当する印加レベル
Ｖ（または音圧Ｐ）の値、それぞれレベルａ〜ｄをもっ
て評価基準とする方法等が考えられる。

【００５３】図１６ないし図１９は、図１１をより具体
化した本発明の実施例を説明する図であり、図１６で妨
害波結合部５’を３つのＣＤＮで構成し、本体内部構成
の簡易化のため、図１１の妨害波発生部６’、増幅部
７’、制御部１３および表示部１４からなる妨害波印加
制御系と、擬似線路１２とを本体外部に外付け配置構成
としたものである。図１６で、５’−１および５’−２
は図４（ａ）および（ｂ）とそれぞれ同様のＣＤＮ−２
ＷおよびＣＤＮ−４Ｗ、５’−３はＣＤＮ−２ＷをＡＣ
線用にしたＡＣ−ＣＤＮ、１１−１は障害度測定部１１
の入力接続部端子、１１−２および１１−３は障害度測
定部１１内に設けたそれぞれＥＵＴ側および対向通信線
側の可聴雑音電圧を測定するＧＰ−ＩＢ制御可能な可聴
雑音測定計、２６は高周波コモンモ−ドおよびディファ
レンシャルモ−ドのインピ−ダンスが大きく接続による
通信線の伝送信号への影響を無視し得る可聴帯域通過フ
ィルタ、３Ａは擬似交換部３’内に配設したアナログ擬
似交換部、３Ｂは同デジタル擬似交換部、２３’はこれ
らのアナログ・デジタル交換部それぞれ３Ａおよび３Ｂ
とフィ−ディングブリッジ２２のいずれかをＥＵＴ１の
対向通信線に選択接続する切り替えスイッチ、２７は、
基準信号発生部２１または終端抵抗や外部信号入力のい
ずれかをフィ−ディングブリッジ２２の入力部に選択接
続する切り替えスイッチ、２９は筐体内に配置した３つ
のＣＤＮ部分からの漏洩放射雑音が内部の他のブロック
構成部分に影響を与えないよう設けた遮蔽板、３０は擬
似線路１２をショ−トして対向通信線の挿入損失をゼロ
に設定するショ−トバ−、３１は妨害波を印加しないＣ
ＤＮの妨害波入力端子に接続したライン終端用の抵抗、
３２は擬似大地板、３３はＥＵＴ１を擬似大地板３２上
に所定高ｈで設置する非金属製の絶縁支持台、３４はハ
ンドセット１−１およびこの受話口と勘合さたマイクロ
ホン１０Ｄ−１’を組み込んだ擬似耳２４の周辺を囲っ
て外部騒音の影響を除去する遮音箱、３５はハンドセッ
トを人が握った状態を模擬した擬似手回路である。

【００５４】また、図１７は、図１６のデジタル擬似交
換部３Ｂ部分の詳細ブロック構成図であり、デジタル交
換部３Ｂは、４つのＳ／Ｔ点接続端子を有するＩＳＤＮ
擬似交換部３Ｂ−１の内２つのＳ／Ｔ点接続端子と、Ｕ
点およびＳ／Ｔ点各２接続端子を有するＳ／Ｔ点−Ｕ点
変換部３Ｂ−２の２つのＳ／Ｔ点接続端子とを接続し
て、全体としてＳ／Ｔ点およびＵ点接続端子各２端子、
それぞれ３Ｂ−１’および３Ｂ−２’を有するよう構成
してある。

【００５５】さらに、図１８は、図１６のＥＵＴ１の配
置を含む試験系構成の概略外観図であり、図１６の３つ
のＣＤＮそれぞれ５’−１、５’−２、５’−３は実際
には図１８に示すように擬似大地板３２の上に並べて筐
体が擬似アース板と同電位になるよう配設され、絶縁支
持台３３の上に設置されたＥＵＴ１の通信線４やＡＣ線
とほぼ同一高さで接続し、ＣＤＮ５’−１〜５’−３を
介してＥＵＴ１に結合・印加されるコモンモ−ドの試験
妨害波電圧がＣＤＮ５’−１〜５’−３からＥＵＴ１に
レベル変動が少なく安定して印加されるよう構成してあ
る。

【００５６】図１６ないし図１８で、ＥＵＴ１の雑音可
聴イミュニティ特性を試験・評価するには、試験に先だ
って印加出力測定部１６を用いて妨害波結合に用いるＣ
ＤＮ（ここではＣＤＮ−２Ｗ（５’−１））を図７の箇
所で説明した方法で校正すると共に、妨害波を印加しな
いがＥＵＴ１に接続されるＡＣ−ＣＤＮ（５’−３）の
妨害波入力端子を終端抵抗３１で終端する。次に図１１
の動作説明の箇所で述べた方法と同様に、まず基準信号
発生部２１からの基準正弦波信号ｆが直流供給回路２２
を介してＥＵＴ１の対向側通信線４間に印加されるよ
う、スイッチ２７および２３’を切り替える。また、対
向通信線間に挿入接続する擬似線路１２の損失を設定
し、損失ゼロとする場合には擬似線路１２を損失ゼロに
設定するか、擬似線路１２を除去してショ−トバ−３０
を接続し、ＥＵＴ１を通話状態にする。この後可聴帯域
通過フィルタ２６を介して障害度測定部１１内の可聴雑
音測定計１１−３で測定される上記基準正弦波信号レベ
ルが所定の基準可聴レベル（例えば前述のレベルａ）
となるよう、基準信号発生部２１の出力を制御部１３で
設定する。

【００５７】この設定状態において、ハンドセット１−
１の受話口に勘合させた擬似耳２４内のマイクロホン１
０Ｄ−１’、ＥＵＴ１のスピ−カ近傍の任意位置に配設
したマイクロホン１０Ｄ−１、または差動プロ−ブ２５
のいずれかで検出され可聴雑音測定計１１−２で測定さ
れる基準信号発生部２１の出力信号ｆによる基準信号レ
ベルＶ_ref（＝評価基準値）を記憶する。次に上記基準
信号発生部２１の出力を停止し、スイッチ２７を切り替
えて直流供給回路２２の入力端子を終端抵抗で終端した
後、ＥＵＴ１へ所定の妨害波レベルＶ₀が全試験帯域に
わたって印加されるよう、制御部１３を図５（ｂ）の掃
引方法によって設定・制御し、妨害波発生部６’からＡ
Ｍ変調妨害波を印加する。この結果生じるハンドセット
１−１の受話口に勘合させた擬似耳２４内のマイクロホ
ン１０Ｄ−１’、ＥＵＴ１のスピ−カ近傍の任意位置に
配設したマイクロホン１０Ｄ−１、または差動プロ−ブ
２５のいずれかで検出され可聴雑音測定計１１−２で測
定された可聴雑音信号レベル曲線と上記Ｖ_refとを表示
部１４画面上のグラフにプロットする。

【００５８】図１９は、このようにして求めたＥＵＴが
アナログ電話機の場合で、試験周波数帯域が０．５〜８
０ＭＨｚ、評価基準値Ｖ_ref±ΔＶはΔＶ＝１０ｄＢで
０．５〜３０ＭＨｚはこの下限値、３０〜８０ＭＨｚは
上限値として、Ｖ_refを雑音音圧６５ｄＢｓｐｌとした
場合の可聴雑音特性例である。図より評価基準値をオ−
バする周波数帯域は、８〜５０ＭＨｚであり、オ−バ量
の最大は周波数３０ＭＨｚで約３０ｄＢとなっており、
このオ−バ帯域に対策を施す必要があることなどが容易
にわかる。

【００５９】以上、図１６では、ＥＵＴ１への妨害波の
結合・印加を通信線から行う場合について説明したが、
ＡＣ線から行う場合には、ＡＣ−ＣＤＮ（５’−３）の
妨害波入力端子に妨害波発生部６’の出力部を増幅部
７’を介して接続すると共に、ＣＤＮ−２Ｗ（５’−
１）の妨害波入力端子を抵抗３１で終端した後に同様の
方法によって試験を行えば、ＥＵＴ１のＡＣ線伝導妨害
波に対する雑音可聴イミュニティ特性が求まり、ＡＣ線
伝導イミュニティを容易に評価できる。また、ＥＵＴ１
が電話機の親機または主装置で、内線からＥＵＴ１側に
妨害波を印加したい場合には、ホ−ムバス等の内線は一
般に平衡４線であることから、ＣＤＮ−４Ｗ（５’−
２）の妨害波入力端子に妨害波発生部６’の出力部を
増幅部７’を介して接続すると共に、ＣＤＮ−２Ｗ
（５’−１）およびＡＣ−ＣＤＮ（５’−３）の各妨害
波入力端子をそれぞれ抵抗３１で終端した後に同様の方
法によって試験を行えば、ＥＵＴ１の内線伝導妨害波に
対する雑音可聴イミュニティ特性が求まり、内線伝導イ
ミュニティを容易に評価できる。

【００６０】なお、図１６の上記説明では、試験器筐体
９に内蔵した基準信号発生部２１から可聴周波数の正弦
波信号を印加して評価基準レベルを設定したが、スイッ
チ２７を切り替えて外部からあらかじめ録音された標準
音声信号や、内蔵の基準信号発生部２１の出力をいった
ん外部に引き出しこれと他の信号とを合成した信号等
を、直流供給回路２２や対向ＡＥ２側に入力して評価基
準レベルを設定することもできる。またＥＵＴ１がデジ
タル電話機等のデジタル通信機器の場合には、スイッチ
２３’を切り替えて対向通信線にデジタル擬似交換部３
Ｂを接続し、これにデジタルＡＥ２を接続すると共に、
妨害波印加点がデジタル通信線のインタフェ−スＵ点で
あればＣＤＮ−２Ｗ（５’−１）を、Ｓ／Ｔ点であれば
ＣＤＮ−４Ｗ（５’−２）をそれぞれ用いて妨害波を結
合・印加して試験を行えばよい。さらに、ＥＵＴ１の可
聴雑音以外の機能異常を試験・評価する場合には、図１
６の可聴雑音測定計１１−２への入力をマイクロホンな
どの可聴信号入力にかえて、ＥＵＴ１の機能異常発生状
況に対応した図１０の電気、磁気、光などの各種検出信
号を用い、可聴雑音測定計１１−２にかえてそれぞれの
機能異常測定手段を用いると共に、基準信号発生部２１
も画像品質評価やデ−タ伝送品質評価等の基準となる各
テストパタ−ン信号等の送出が可能な信号発生部に置き
換えて、同様の方法によって実行できる事は明らかであ
る。

【００６１】

【妨害波結合手段の実施例】図２０ないし図３０は、本
発明の妨害波結合部５’の実施例を説明する図であり、
図４に示したコンデンサ結合型で平衡８線程度のものよ
りも線数の多い多線条通信線路への妨害波の結合に適し
た構成としたもので、図２０は、図１８の３つの妨害波
結合部５’−１〜５’−３の中のいずれか一つ例えば
５’−３に変えて、静電結合と電磁結合との複合化した
結合機能を有する妨害波結合部５’−４または５’−５
を用いた実施例であり、線路長方向に沿って半分に割っ
た２つの構成部分で多線条線路４−１を両側からはさみ
こむようにしてある。図２１は図２０の妨害波結合部
５’−４または５’−５の片側について、線路４−１を
はさみこむ内側を見た斜視図であり、（ａ）の５’Ａ₁
は多線条通信線４−１の半外周に沿って囲むように配置
した金属製の静電結合板、５’Ｂ₁は静電結合板５’−
Ａ₁の外側からこれを囲むように長さ方向に複数個配設
したフェライトなどの磁性コアであり、それぞれ巻線が
コイル状に施されている。（ｂ）の妨害波結合部５’−
５は（ａ）の磁性コア５’Ｂ₁の複数個をまとめて長さ
Ｄの１個のコア５’Ｂ₂に置き換えたものである。また
図２２は、図２１（ａ）、（ｂ）の長さ方向に垂直な面
の概略断面図である。図２１の妨害波結合部５’−４ま
たは５’−５を線路４−１に装着するには、図２０や図
２２から明らかなように、それぞれ妨害波結合部５’−
４または５’−５同士を用いて線路４−１を両側からは
さみこみ、図示しない固定治具等を用いて図２０のよう
に装着する。この時、図２２に示した各磁性コア５’Ｂ
₁または５’Ｂ₂同士および各静電結合板５’Ａ₁同士の
対向間隔それぞれｄ_cおよびｄ_sを、ｄ_cはゼロで互いに
良好に接触させる一方、ｄ_sは所定の間隔を保つように
構成すると共に、装着後の２つの静電結合板５’Ａ
₁は、図示しない擬似ア−ス面に対して対称になるよう
配置する。

【００６２】図２３（ａ）はこのような妨害波結合部
５’−４の線路４−１への妨害波結合・印加原理を説明
する図であり、磁性コア５’Ｂ₁が１組のみの場合を示
し、多線条通信線４−１は代表的に１本の線路４として
表してある。Ｚ_sおよびＺ_rは線路４の両側に接続した機
器等のコモンモ−ドインピ−ダンスであり、並列接続し
た静電結合板５’Ａ₁と磁性コア５’Ｂ₁に捲回したコイ
ルＬとからなる回路に妨害波発生部６’から妨害波信号
を供給すると、線路４には静電結合板５’Ａ₁との間に
生じる浮遊容量Ｃ_sによる静電誘導電圧Ｖ_sと、磁性コア
５’Ｂ₁のコイルＬによる電磁誘導電圧Ｖ_cとが同方向に
発生し、これらの合成された妨害波電圧が線路４の各心
線に結合・印加される。一方、コイルＬを流れる妨害波
電流によって、間隔ｄ_sをおいて対向する２つの静電結
合板５’Ａ₁にも上記Ｖ_cと同方向の電磁誘導電圧それぞ
れＶ_c1が発生するが、２つの静電結合板５’Ａ₁が擬似
ア−ス面に対して対称に配置され長さ方向の片端でのみ
接続されているため、Ｖ_c1は大きさが等しく方向が逆向
きとなって互いに打ち消し合い回路へ影響を与えない。
このような妨害波の結合・印加は多線条線路のすべての
心線に対してなされ、印加周波数が低い場合はコイルに
よる電磁誘導が、高い場合は静電結合板による静電誘導
がそれぞれ有効に作用して、広い帯域の妨害波結合が可
能となる。また、多線条線路の心線が撚り線で構成され
ていれば、上記２つの手段による各心線への結合がアン
バランスなく行われる。

【００６３】図２３（ｂ）および（ｃ）は、図２１
（ａ）に示したｎ個の磁性コア５’Ｂ₁を直列接続し、
これと静電結合板５’Ａ₁とをそれぞれ直列接続および
並列接続した場合の回路構成であり、複数個の磁性コア
による電磁結合と静電結合板による静電結合の作用で線
路４へ大きな結合電圧が生じる。

【００６４】図２４は妨害波の結合量をさらに増加させ
るため、図２０の３つの妨害波結合部にいずれも妨害波
結合部５’−４または５’−５を用いて構成し、筐体９
の外部において多線条線路４−１を多線条線路接続用コ
ネクタ４−２を用いて接続したもので、多線条線路４−
１に対する長さＤの静電結合部分と電磁結合部分からな
る結合部分を全体的に拡大して、妨害波発生部６’の出
力が小さい場合でも大きな妨害波結合出力が得られるよ
うにしたものである。

【００６５】図２５の妨害波結合部５’−６の５’Ａ₂
は、図２１（ａ）の静電結合板５’Ａ₁について外周の
各磁性コアの配設された長さ方向の半円周部分を切断し
て除去すると共に、装着後それぞれ対向する２つの静電
結合板５’Ａ₂同士の間隔ｄ_sをゼロとして接触するよう
構成したものである。図２６（ａ）はこのような妨害波
結合部５’−６の線路４への妨害波結合・印加原理を説
明する図であり、磁性コア５’Ｂ₁は１個のみの場合を
示し、静電結合板５’Ａ₂を除去した長さ方向の間隔ｌ
の部分に磁性コア５’Ｂ₁に捲回したコイルＬが配設さ
れている。並列接続した静電結合板５’Ａ₂とコイルＬ
とからなる回路に妨害波発生部６’からの妨害波信号を
供給すると、線路４には静電結合板５’Ａ₂との間に生
じる浮遊容量Ｃ_sによる静電誘導電圧Ｖ_sと、コイルＬに
よる電磁誘導電圧Ｖ_cとが同方向に発生し、これらの合
成された妨害波電圧が線路４の各心線に結合・印加され
る。この場合、同一長さ方向位置で対向する２つの静電
結合板５’Ａ₂が接触しリング状に構成されているが、
コイルＬは静電結合板のない間隔ｌの長さ方向部分に配
置されているため、コイルを流れる妨害波電流は静電結
合板５’Ａ₂には何ら影響を与えない。図２６（ｂ）お
よび（ｃ）は、図２５に示したｎ個の磁性コア５’Ｂ₁
を直列接続し、これと静電結合板５’２Ａとをそれぞれ
直列接続および並列接続した場合の回路構成であり、複
数個の磁性コアによる電磁結合と静電結合板による静電
結合の作用で線路４へ大きな結合電圧が生じる。

【００６６】図２７は妨害波の結合量をさらに増加させ
るため、長さＤの多線条線路の外周を円筒状の導体から
なる静電結合板５’Ａ₃で覆ったものを複数個並列に並
べて妨害波結合部５’−７を構成し、これらの入出力部
分を除く両端を筐体９の外部において多線条線路接続用
の非シ−ルドコネクタ４−２により接続し、このコネク
タ部分を磁性ル−プコアにコイルを施した磁性コア５’
Ｂ₃で結合したもので、円筒状導体５’Ａ₃とコイルとを
図２３（ｂ）、（ｃ）と同様に接続することにより、多
線条線路４に対する長さＤの静電結合部分および電磁結
合部分を等価的に拡大して、妨害波発生部６’の出力が
小さい場合でも大きな妨害波結合出力が得られる。

【００６７】図２８および図２９は、静電結合型の妨害
波結合部の実施例を説明する図であり、シ−ルド付きの
多線条線路または非シ−ルド多線条線路の外周に円筒状
の導体を施した線路を用いて、それぞれ妨害波結合部
５’−８および５’−９を構成したものである。図２８
で、５’Ａ₃は、長さＤの多線条線路の外周に施したシ
−ルドまたは円筒状外部導体、５’Ｃは多線条線路の外
部導体のおのおのと接続したバ−、５’Ｄは妨害波発生
部からバ−５’Ｃを介してシ−ルド外部導体と擬似大地
板間に妨害波信号を印加するための接続コネクタ、４−
２は筐体９の外部において多線条線路の外部導体５’Ａ
₃同士を接続するコネクタである。また、図２９は柔軟
性のあるシ−ルド付き多線条線路または非シ−ルド多線
条線路の外周を導体５’Ａ₄で覆った線路を複数回捲回
して、妨害波結合部５’−７を構成した実施例の説明図
である。コネクタ５’Ｄの中心導体が外部導体５’Ａ₄
の複数箇所で接続され、コネクタ５’Ｄの外部導体と擬
似大地板（底面）とが接続されており、コネクタ５’Ｄ
を介して外部導体５’Ａ₄と擬似大地板との間の妨害波
を印加する構成として、線路長を大きくして多線条線路
の心線と外部導体との間に存在する浮遊容量を増加し
て、静電結合効率の改善をはかったものである。

【００６８】図３０の妨害波結合部５’−８は、図２９
の束に巻いた線路の一部の外周に図２７の５’Ｂ₃と同
様の磁性ル−プコア５’Ｂ₄を装着したもので、多線条
線路の外周に施した外部導体５’Ａ₄は、長さ方向には
一様で半円筒状に割れたものを、間隙を有するように対
向させてあるか、もしくは磁性コア５’Ｂ₄の貫通した
長さｄの部分のみ除去した構成としてある。このような
外部導体５’Ａ₄と磁性コア５’Ｂ₄のコイルとを図２３
（ｂ）、（ｃ）または図２６（ｂ）、（ｃ）のように直
・並列接続しこれに妨害波信号を供給することにより、
図２９の静電結合に電磁結合の効果が加わって結合効率
の一層の増加が可能となる。

【００６９】以上の図２０ないし図３０の妨害波結合部
の内、線路の途中にコネクタを用いていない構成のもの
は両側から多線条線路の外周を囲むように装着するだけ
で、線路を切断せずに多線条線路の各心線に静電結合と
電磁結合の両者または一方の手段により妨害波を有効に
結合できる利点がある。また高速度のパルス伝送等を行
う多線条線路を用いた通信装置の場合でも、途中に何ら
損失回路等が挿入されないため通信系へ影響を与えず、
妨害波が容易に結合できる利点もある。さらに、図２８
および図２９の静電結合型の妨害波結合部の構成では、
静電結合板の浮遊容量を通して妨害波を結合するので、
結合系の損失が小さくパルス性妨害波を有効に結合でき
る等の利点もある。なお図２０ないし図３０の妨害波結
合部を用いて、多線条線路のＥＵＴ１側にのみ妨害波を
結合する場合は、多線条線路のＡＥ側に図示しない減結
合回路などの伝導妨害波阻止手段を接続して使用する。

【００７０】

【被試験装置の接続・配置例】図３１および図３２は、
図１６の本発明の実施例を用いて、ＥＵＴ１がそれぞれ
アナログ通信機器およびデジタル通信機器について、誤
動作を対象とするイミュニティ試験系の接続・配置例を
示したもので、ＥＵＴ１に接続する妨害波結合・印加部
分と非印加ラインの終端状況、および擬似交換部を含む
ＡＥ２との接続部分のみについて示してある。

【００７１】図３１はアナログボタン電話装置等のシス
テム（複合）ＥＵＴの例であり、これに接続するライン
に対応して妨害波を（ａ）は外線通信線、（ｂ）は内線
通信線で、は主装置等のＭ（メイン）−ＥＵＴ側に、
は子機などのＳ（サブ）−ＥＵＴ側に、また（ｃ）は
ＡＣ線にそれぞれ結合・印加する場合の接続例であ
る。また、図３２はデジタル電話機やＩＳＤＮタ−ミナ
ルアダプタ（ＴＡ）等のデジタルＥＵＴの例であり、妨
害波を（ａ）は通信線のインタフェ−スＵ点から回線終
端装置（ＤＳＵ）内蔵型のＥＵＴに、（ｂ）は同じく通
信線のＵ点からＰＨＳ−ＣＳなどのＤＳＵ内蔵型の無線
機器に、（ｃ）はＳ／Ｔ点からＤＳＵ分離型のＥＵＴに
それぞれ印加する場合の接続例である。このように本
発明の実施例は、平衡２線・４線の通信線に接続するア
ナログ機器や、ＩＳＤＮ回線のインタフェ−スＵ点およ
びＳ／Ｔ点に接続するデジタル機器等、多くの通信機器
の通信動作状態を実現できる。また、通信線やＡＣ線等
複数のラインが接続した複合システム機器のようなＥＵ
Ｔの場合にも、各種ラインから試験妨害波を結合・印加
できると共に、非印加ラインに対してはＣＤＮの妨害波
入力端子を終端することにより、ＥＵＴ配置系のコモン
モ−ドインピ−ダンスを安定化させ、試験の再現性を向
上できる。

【００７２】なお、これらの試験系では妨害波結合部
５’に３種類のＣＤＮを用いたもので説明したが、ＣＤ
Ｎ−４Ｗは筐体９から除去して外部に取り出す構成にす
れば、試験器が小型化すると共に、ＥＵＴが複数の線路
で接続された複合システムのような場合には、接続配置
系を簡易化できる。また、ＣＤＮに変えて図２０ないし
図３０のような結合手段を用いれば、図３（ｂ）ないし
（ｄ）のような連続性パルス波や、これらの単発パルス
波およびランダムパルス波等の妨害波も有効に結合・印
加され、これらによる伝導イミュニティ試験が実現でき
る。

【００７３】

【発明の効果】以上説明したように、本発明による伝導
イミュニティ試験器は、妨害波印加時のＥＵＴの誤動作
や通信品質劣化等の機能異常を、電磁気的、光学的、ま
たは音響的に検出する手段を設け、これらによる異常発
生検出後直ちに印加を停止し、ＥＵＴの通信動作の自動
復旧を待って周波数ステップさせた妨害波を再印加した
り、自動復旧しないＥＵＴに対してはＥＵＴに装着した
起動手段を用いて再起動させる等、異常発生と連動した
妨害波印加制御を行うようにしてあるため、稼働のかか
る一連のイミュニティ試験が自動化され、操作が容易で
試験時間の大幅な短縮がはかれる利点がある。

【００７４】アナログおよびデジタル擬似交換機能を有
する通信交換接続系と、通信線のアナログ平衡２／４線
やデジタルインタフェ−スＵ点、Ｓ／Ｔ点等への印加が
可能な妨害波結合系とを同一試験器筐体内に一体的に組
み込んだ構成であるため、アナログ系またはデジタル系
通信機器等、各種ＥＵＴの伝導イミュニティ試験が実施
でき、試験系の配置構成も簡易化されて操作性が向上す
る利点がある。

【００７５】多線条通信線用やＡＣ線用のコンデンサ結
合型妨害波結合部を複数台組み込んだ試験器では、複合
システム機器の有する多くのラインのいずれかから妨害
波を結合・印加できると共に、妨害波を印加しない非印
加ラインに接続した妨害波結合部を終端用として用いる
ことにより、ＥＵＴ配置系のコモンモ−ドインピ−ダン
スを安定化でき、試験の再現性向上がはかれる利点があ
る。

【００７６】本発明の静電結合型、またはこれと電磁結
合型とを複合化した妨害波結合部を用いることにより、
通信伝送信号に影響を与えず、多くの心線を有する多線
条線路の外部から静電誘導および電磁誘導の一方または
両方の手段で妨害波を結合・印加できるため、多線条線
路に接続した通信システムや機器の伝導イミュニティを
試験・評価でき、かつパルス性妨害波のような高周波成
分を有する試験信号も有効に印加できる利点がある。

【００７７】可聴雑音の評価基準信号源を筐体内に組み
込み、この基準信号印加によりＥＵＴ側に生じる可聴信
号レベルを評価基準値として、印加妨害波の検波出力特
性を相対的に評価する方法を用いたものは、音量調整つ
まみの設定やスピ−カに対するマイクロホンの設置位置
で受話音量が変わるＥＵＴに対しても、適正な可聴雑音
の評価ができる利点がある。また、標準音源を用いて上
記可聴雑音の相対値評価の音響検出系を校正することに
より、音響圧力を絶対値として評価することも可能とな
る利点がある。

【００７８】スピ−カや受話器などＥＵＴ側からの音響
出力信号と、対向通信線間信号の両者の検出手段を設け
た構成としているため、ＥＵＴ側だけでなく対向通信機
器側の可聴雑音評価もできる利点がある。また、可聴雑
音の評価基準信号源として、連続性の正弦波信号だけで
なく、可聴帯域周期の連続性パルス信号波も内蔵してい
るため、同周期のパルス性妨害波を印加時の可聴雑音評
価も可能となる利点がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例を説明する図である。

【図２】従来の伝導イミュニティ試験系の構成図であ
る。

【図３】妨害波発生器の出力波形例を示す図である。

【図４】妨害波結合器の構成例を示す図で、（ａ）は平
行２線通信線用結合・減結合回路（ＣＤＮ−２Ｗ）、
（ｂ）は平行４線通信線用結合・減結合回路（ＣＤＮ−
４Ｗ）を示す図である。

【図５】制御部を用いて妨害波発生部のＡＭ変調信号を
出力制御する方法の説明図であり、（ａ）は周波数ポイ
ントごとに妨害波発生部の出力を増減しながら周波数を
可変させる方法示す図、（ｂ）はＥＵＴへの印加レベル
を一定として周波数を可変させる方法を示す図である。

【図６】図５の制御方法によって得られるイミュニティ
特性の説明図である。

【図７】妨害波結合部の校正方法を説明する図であり、
（ａ）は接続方法の説明図、（ｂ）は制御部における妨
害波発生部の出力制御を説明する図、（ｃ−１）、（ｃ
−２）は妨害波結合部の起電力と負荷の誘起電圧との関
係を求めるコモンモ−ド等価回路図である。

【図８】本発明の第２の実施例を説明する図である。

【図９】図８中の起動手段部分の実施例を説明する図で
ある。

【図１０】図１や図８の障害信号検出部の実施例を説明
する図である。

【図１１】本発明の第３の実施例を説明する図であり、
音響通信機器等のＥＵＴを対象とした場合の可聴雑音特
性を測定・評価するブロック構成図である。

【図１２】図１１中の直流供給回路の具体的構成を説明
する図である。

【図１３】図１１の中の基準信号発生部の出力波形を説
明する図である。

【図１４】図１１を用いて測定される可聴雑音特性の説
明図であり、（ａ）は試験帯域内で評価基準値が一定の
場合、（ｂ）は所定の帯域で異なる評価基準値とした場
合の評価方法の説明図である。

【図１５】評価基準レベルを設定するための音声劣化評
価尺度による聴感特性を説明する図である。

【図１６】本発明の図１１をより具体化した実施例を説
明する図である。

【図１７】図１６の中のデジタル擬似交換部３Ｂの詳細
構成ブロック図である。

【図１８】図１６の試験系構成の概略外観図である。

【図１９】ＥＵＴがアナログ電話機の場合の可聴雑音特
性例の図である。

【図２０】図１８の３つの妨害波結合部の１つを他の結
合部で置き換えた本発明による妨害波結合手段の実施例
の図である。

【図２１】本発明の静電結合と電磁結合とを複合化した
妨害波結合部の実施例について線路をはさみこむ内側を
見た斜視図である。

【図２２】本発明の静電結合と電磁結合とを複合化した
妨害波結合部の実施例について線路長方向に垂直な断面
図である。

【図２３】図２１の妨害波結合部の結合・印加原理を説
明する図である。

【図２４】図２１の妨害波結合部を直列接続した実施例
の図である。

【図２５】本発明による妨害波結合部の他の実施例を説
明する図である。

【図２６】図２５の妨害波結合部の結合・印加原理を説
明する図である。

【図２７】図２５の妨害波結合部の磁性コア装着位置を
変えた実施例の構成を説明する図である。

【図２８】本発明の静電結合型結合部のさらに他の実施
例の構成を説明する図である。

【図２９】本発明の静電結合型結合部のさらに他の実施
例の構成を説明する図である。

【図３０】図２９の応用を示す妨害波結合部の構成図で
ある。

【図３１】本発明試験器の使用例として、ＥＵＴがアナ
ログ通信機器の場合で、誤動作を対象としたイミュニテ
ィ試験系の接続・配置例を示す図である。

【図３２】本発明試験器の使用例として、ＥＵＴがデジ
タル通信機器の場合で、誤動作を対象としたイミュニテ
ィ試験系の接続・配置例を示す図である。

【符号の説明】

１：被試験装置（ＥＵＴ）１Ａ：発光素子、１Ｂ：通信動作の起動素子２：補助装置（ＡＥ）３：擬似交換機、３’：擬似交換部３Ａ：アナログ擬似交換部、３Ｂ：デジタル擬似交換部４：被試験装置の通信線４−１：多線条線路、４−２：多線条線路用コネクタ５：妨害波結合器、５’：妨害波結合部５’−１：ＣＤＮ−２Ｗ、５’−２：ＣＤＮ−４Ｗ、
５’−３：ＡＣ−ＣＤＮ５’−４、５’−５、５’−６、５’−１０：静電・電
磁複合型妨害波結合部５’−７、５’−８、５’−９：静電結合型妨害波結合
部５’Ａ₁、５’Ａ₂ _、５’Ａ₃、５’Ａ₄：静電結合板５’Ｂ₁、５’Ｂ₂、５’Ｂ₃ _、５’Ｂ₄：磁性コア６：妨害波発生器、６’：妨害波発生部７：増幅器、７’：増幅部８：妨害波計測器、８’：妨害波計測部９：筐体１０：障害信号検出部１０−０：受光素子、１０Ａ：電気的検出手段、１０
Ｂ：磁気的検出手段１０Ｃ：発光検出手段、１０Ｄ：音響検出手段、１０
Ｅ：電気的検出手段１１：障害度測定部１１−２、１１−３：可聴雑音測定計１２：擬似線路１３：制御部１４：表示部１５：ＧＰ−ＩＢケーブル１６：印加出力測定部１７：接続線１８：校正用抵抗１９、１９’：起動部２０、２０’：起動手段２０−１：駆動手段、２０−２：駆動回路２１：基準信号発生部２２：直流供給回路２３、２３’：通話状態実現手段の選択切り替えスイッ
チ２４：擬似耳２５：差動プロ−ブ２６：可聴帯域通過フィルタ２７：基準信号・終端切り替えスイッチ２９：遮蔽板３０：擬似線路ショ−トバ− ３１：終端抵抗３２：擬似大地板３３：絶縁支持台３４：遮音箱３５：擬似手回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被試験装置の対向通信線に接続され該被試
験装置の通信動作状態を可能にする通信交換接続手段
と、前記被試験装置の通信線に電磁妨害波をコモンモ−
ドで結合する妨害波結合手段と、該妨害波結合手段を介
して電磁妨害波を印加した時に生じる前記被試験装置の
機能異常信号を検出し通信品質劣化度を測定する障害度
測定手段と、前記被試験装置への電磁妨害波の印加条件
を設定制御する妨害波制御手段とから構成され、該妨害
波制御手段は、前記障害度測定手段で測定される通信品
質劣化度が前記被試験装置の障害モ−ドによりあらかじ
め定められた評価レベルとなった時の前記被試験装置へ
の妨害波印加レベルを出力・表示することを特徴とする
伝導イミュニティ試験器。
【請求項２】被試験装置の対向通信線に接続され該被試
験装置の通信動作状態を可能にする通信交換接続手段
と、前記被試験装置の通信線に電磁妨害波をコモンモ−
ドで結合する妨害波結合手段と、該妨害波結合手段を介
して電磁妨害波を印加した時に生じる前記被試験装置の
機能異常信号を検出し通信品質劣化度を測定する障害度
測定手段と、前記被試験装置への電磁妨害波の印加条件
を設定制御する妨害波制御手段とから構成され、該妨害
波制御手段は、あらかじめ定められたレベルの電磁妨害
波を前記被試験装置へ印加した時の前記障害度測定手段
で測定される通信品質劣化度を出力・表示することを特
徴とする伝導イミュニティ試験器。
【請求項３】前記障害度測定手段で測定される通信品質
劣化度が前記被試験装置の障害モ−ドによりあらかじめ
定められた評価レベルとなった時の前記妨害波制御手段
による前記被試験装置への電磁妨害波の印加レベルを記
憶または出力・表示後、速やかに該印加レベルを停止
し、前記被試験装置が正常な通信動作状態に復帰するま
でに要する所定時間経過後に、印加電磁妨害波の周波数
をステップする等の印加条件を変えた電磁妨害波を前記
妨害波制御手段により前記被試験装置に再印加すること
を特徴とする請求項１記載の伝導イミュニティ試験器。
【請求項４】前記障害度測定手段で測定される通信品質
劣化度が前記被試験装置の障害モ−ドによりあらかじめ
定められた評価レベルとなった時の前記妨害波制御手段
による前記被試験装置への電磁妨害波の印加レベルを記
憶または出力・表示後、速やかに該印加レベルを停止
し、所定時間経過後も前記被試験装置が正常な通信動作
状態に復帰しない場合に、前記被試験装置または前記被
試験装置の対向通信線側に接続配置された補助装置に装
着した起動手段を選択駆動して前記被試験装置を再起
動し、印加電磁妨害波の周波数をステップする等の印加
条件を変えた電磁妨害波を前記妨害波制御手段により前
記被試験装置に再印加することを特徴とする請求項１記
載の伝導イミュニティ試験器。
【請求項５】前記障害度測定手段は、マイクロホンや差
動プロ−ブ等の音響信号検出手段を用いて前記被試験装
置の機能異常信号を検出する機能異常検出手段を有し、
該機能異常検出手段による出力を可聴雑音信号レベルと
して測定し、前記対向通信線側から所定レベルの可聴帯
域周期の連続性正弦波を印加して音声劣化評価基準値を
設定することを特徴とする請求項２記載の伝導イミュニ
ティ試験器。
【請求項６】前記障害度測定手段は、マイクロホンや差
動プロ−ブ等の音響信号検出手段を用いて前記被試験装
置の機能異常信号を検出する機能異常検出手段を有し、
該機能異常検出手段による出力を可聴雑音信号レベルと
して測定し、前記対向通信線側から所定レベルの可聴帯
域周期の連続性パルス波を印加して音声劣化評価基準値
を設定することを特徴とする請求項２記載の伝導イミュ
ニティ試験器。
【請求項７】前記妨害波制御手段は、前記妨害波発生手
段の試験信号出力を、前記被試験装置の任意に定めた一
定の試験レベル値に対してのみ各周波数ポイントごとに
測定し、該測定値を比例配分して設定した前記妨害波発
生手段の各周波数ポイントごとの試験信号出力値を、前
記妨害波結合部を介して前記被試験装置に結合・印加す
ることを特徴とする請求項１ないし５記載の伝導イミュ
ニティ試験器。
【請求項８】前記妨害波制御手段は、電磁妨害波を発生
する妨害波発生手段と、前記被試験装置への電磁妨害波
の印加レベルを測定する印加出力測定手段と、前記障害
度測定手段で測定した結果を表示する表示手段と、前記
妨害波発生手段から発生され前記妨害波結合手段を介し
て前記被試験装置に印加される電磁妨害波の印加条件を
設定制御する妨害波制御部とを有することを特徴とする
請求項１ないし７記載の伝導イミュニティ試験器。
【請求項９】前記通信交換接続手段がアナログ加入者線
交換機能とデジタルインタフェ−スの少なくともＵ点接
続が可能なデジタル交換機能とを有することを特徴とす
る請求項１ないし８記載の伝導イミュニティ試験器。
【請求項１０】前記通信交換接続手段が基準信号と直流
電圧を重畳させて前記被試験装置の対向通信線に供給す
る手段を有することを特徴とする請求項１ないし８記載
の伝導イミュニティ試験器。
【請求項１１】前記妨害波結合手段は、平衡２線通信線
用の結合・減結合回路、平衡４線通信線用の結合・減結
合回路、ＡＣ線用の結合・減結合回路のいずれかを選択
使用できるように構成されていることを特徴とする請求
項１ないし１０記載の伝導イミュニティ試験器。
【請求項１２】前記妨害波結合手段は、非シ−ルド多線
条線路の所定長部分外周を覆い、長さ方向に一様な円筒
状導体をア−ス面に対して対称な２つの対向する半円筒
状導体となるよう、かつ長さ方向に沿って２つのスリッ
トを有するように分割して配置した２つの半円筒状導体
の一方の長さ方向端を互いに接続した静電結合板と、該
静電結合板の外周にコイルを捲回した円形状の磁性コア
からなる電磁結合手段を配置して、前記静電結合板と前
記電磁結合手段のコイルとを接続し、この接続線に電磁
妨害波を印加するように構成したことを特徴とする請求
項１ないし１１記載の伝導イミュニティ試験器。
【請求項１３】前記妨害波結合手段は、非シ−ルド多線
条線路の所定長部分外周を長さ方向に一様な円筒状導体
で覆い、該円筒状導体の一定長部分を長さ方向に垂直な
断面で切断・除去した如くに配置した複数の静電結合板
と、該複数の静電結合板を除去した前記多線条線路の外
周部分にコイルを捲回した円形状の磁性コアからなる電
磁結合手段を配置して、前記静電結合板と前記電磁結合
手段のコイルとを接続し、この接続線に電磁妨害波を印
加するように構成したことを特徴とする請求項１ないし
１１記載の伝導イミュニティ試験器。
【請求項１４】前記妨害波結合手段は、非シ−ルド多線
条線路の所定長部分外周を長さ方向に一様な円筒状導体
またはシ−ルド導体で覆った静電結合板とア−スとの間
に、電磁妨害波を印加するように構成したことを特徴と
する請求項１ないし１１記載の伝導イミュニティ試験
器。