KR20050106884A - Data output buffer - Google Patents
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Abstract
본 발명은 고속으로 데이터를 출력시킬 때에도 내부적으로 급격한 전류의 변화가 제거되어 노이즈발생이 줄어든 데이터 출력버퍼를 제공하기 위한 것으로, 이를 위해 입력데이터에 응답하여 출력단을 풀업 또는 풀다운시키는 데이터 출력버퍼에 있어서, 상기 출력단을 풀업시키기 위한 풀업용 모스트랜지스터; 상기 출력단을 풀다운시키기 위한 풀다운용 모스트랜지스터; 상기 풀업용 모스트랜지스터의 게이트와 접지전압 공급단사이에 서로 다른 저항을 선택적으로 연결함으로서 상기 풀업용 모스트랜지스터의 턴온정도를 조절하기 위한 제1 슬류레이트 조절수단; 상기 풀다운용 모스트랜지스터의 게이트와 전원전압 공급단사이에 서로 다른 저항을 선택적으로 연결함으로서 상기 풀다운용 모스트랜지스터의 턴온정도를 조절하기 위한 제2 슬류레이트 조절수단; 및 상기 입력데이터의 상승천이에 응답하여 상기 제1 슬류레이트 조절수단의 저항을 선택하고, 상기 입력데이터의 하강천이에 응답하여 상기 제2 슬류레이트 조절수단의 저항을 선택하기 위한 슬류레이트 제어수단을 구비하는 데이터 출력버퍼를 제공한다.The present invention is to provide a data output buffer in which a rapid change in current is eliminated even when outputting data at a high speed to reduce the noise generation, for this purpose in a data output buffer that pulls up or pulls down the output stage in response to the input data A pull-up MOS transistor for pulling up the output stage; A pull-down MOS transistor for pulling down the output stage; First slew rate adjusting means for controlling a turn-on degree of the pull-up MOS transistor by selectively connecting different resistors between a gate of the pull-up MOS transistor and a ground voltage supply terminal; Second slew rate adjusting means for adjusting a turn-on degree of the pull-down MOS transistor by selectively connecting different resistors between the gate of the pull-down MOS transistor and a power supply voltage supply terminal; And a slew rate control means for selecting a resistance of the first slew rate adjusting means in response to the rising transition of the input data, and selecting a resistance of the second slew rate adjusting means in response to a falling transition of the input data. It provides a data output buffer provided.
Description
본 발명은 반도체 집적회로에 관한 것으로, 특히 반도체 집적회로의 데이터 출력버퍼에 관한 것이다.The present invention relates to a semiconductor integrated circuit, and more particularly to a data output buffer of the semiconductor integrated circuit.
반도체 집적회로에는 데이터를 입출력시키기 위한 데이터 입력버퍼와 데이터 출력버퍼가 존재한다. 특히 데이터 출력버퍼는 출력단자에 연결되어 반도체 장치 내부에서 외부로 하이레벨의 데이터를 출력하는 경우에는 외부 부하를 충전시키고, 로우레벨의 데이터를 출력하는 경우에는 외부 부하를 방전시키게 된다.The semiconductor integrated circuit includes a data input buffer and a data output buffer for inputting and outputting data. In particular, the data output buffer is connected to the output terminal to charge the external load when outputting the high level data from the inside of the semiconductor device to the outside, and to discharge the external load when outputting the low level data.
따라서 데이터 출력버퍼는 하이레벨의 데이터와 로우레벨의 데이터를 연속적으로 출력하기 때문에 데이터 출력버퍼 내부에는 흐르는 전류는 반도체 코어에 있는 회로에 흐르는 전류보다 큰 전류량이 흐르게 되고, 그 방향도 급격하게 변화하게 된다. 이러한 전류의 흐름은 노이즈를 유발시켜 반도체 소자내의 다른 회로의 동작에도 영향을 미침으로서 오동작을 유발시키는 원인이 되기도 한다.Therefore, since the data output buffer continuously outputs high-level data and low-level data, the current flowing inside the data output buffer has a larger amount of current than the current flowing in the circuit in the semiconductor core, and its direction changes rapidly. do. This current flow may cause noise and affect the operation of other circuits in the semiconductor device, thereby causing malfunction.
도1은 종래기술에 의한 데이터 출력버퍼를 나타내는 회로도이다.1 is a circuit diagram showing a data output buffer according to the prior art.
도1을 참조하여 살펴보면, 종래기술에 의한 데이터 출력버퍼는 인에이블신호(EN)와 데이터(DATA)를 입력받는 낸드게이트(ND1)와, 반전된 인에이블신호(ENB)와, 데이터(DATA)를 입력받는 노어게이트(NOR1)와, 낸드게이트(ND1)의 신호에 응답하여 출력단(Dout)을 풀업시키는 풀업용 피모스트랜지스터(MP1)와, 노어게이트(NOR1)의 신호에 응답하여 출력단(Dout)을 풀다운시키는 앤모스트랜지스터(MN1)를 구비한다.Referring to FIG. 1, a data output buffer according to the related art includes a NAND gate ND1 receiving an enable signal EN and data DATA, an inverted enable signal ENB, and data DATA. NOR1 receiving the input, a pull-up PMOS transistor MP1 for pulling up the output terminal Dout in response to a signal of the NAND gate ND1, and an output terminal Dout in response to a signal of the NOR gate NOR1. ) And an MOS transistor MN1 for pulling down.
여기서 인에이블신호(EN)와 반전된 인에이블신호(ENB)는 서로 반대로 움직이는 제어신호이며, 인에이블신호(EN)가 로우레벨이면 낸드게이트(ND1)는 항상 하이레벨의 신호를 출력하며, 따라서 노드(N1)는 항상 로우레벨이 되어 피모스트랜지스터(MP1)는 턴오프상태가 된다. 반전된 인에이블신호(ENB)가 하이레벨이면 노어게이트(NOR1)는 항상 로우레벨의 신호를 출력하며, 따라서 노드(N2)는 항상 하이레벨이 되어 앤모스트랜지스터(MN1)는 턴온프상태가 된다.Here, the enable signal EN and the inverted enable signal ENB are control signals that move in opposite directions. When the enable signal EN is at a low level, the NAND gate ND1 always outputs a high level signal. The node N1 is always at a low level, and the PMOS transistor MP1 is turned off. When the inverted enable signal ENB is at a high level, the NOR1 always outputs a low level signal. Therefore, the node N2 is always at a high level, and the NMOS transistor MN1 is turned on. .
피모스트랜지스터(MP1)와 앤모스트랜지스터(MN1)가 모두 턴오프상태일 때에는 출력단(Dout)은 하이임피던스를 가지게 된다. 따라서 데이터(DATA)에 값에 관계없이 출력단은 하이임피던스상태를 유지하게 되는 것이다.When both the PMOS transistor MP1 and the NMOS transistor MN1 are turned off, the output terminal Dout has a high impedance. Therefore, regardless of the value of data DATA, the output terminal maintains a high impedance state.
한편, 인에이블신호(EN)가 하이레벨이고, 반전된 인에이블신호(ENB)가 로우레벨인 경우에, 데이터(DATA)가 하이레벨일 때에는 노드(N1)가 로우레벨이 되어 피모스트랜지스터(MP1)가 턴온되어 출력단(Dout)에 전원전압(VDD)이 전달되어 풀업상태가 된다.On the other hand, when the enable signal EN is at a high level and the inverted enable signal ENB is at a low level, when the data DATA is at a high level, the node N1 is at a low level, and the PMOS transistor ( MP1) is turned on, and the power supply voltage VDD is transmitted to the output terminal Dout, thereby becoming a pull-up state.
또한, 인에이블신호(EN)가 하이레벨이고, 반전된 인에이블신호(ENB)가 로우레벨인 경우에, 데이터(DATA)가 로우레벨일 때에는 노드(N2)가 하이레벨이 되어 앤모스트랜지스터(MN1)가 턴온되어 출력단(Dout)에 접지전압(VSS)이 전달되어 풀다운상태가 된다.In addition, when the enable signal EN is at a high level and the inverted enable signal ENB is at a low level, when the data DATA is at a low level, the node N2 is at a high level so that the anti-MOS transistor ( MN1) is turned on, and the ground voltage VSS is transmitted to the output terminal Dout to be pulled down.
그러나, 전술한 데이터 출력버퍼는 데이터가 하이레벨에서 로우레벨로 변할 때, 또는 로우레벨에서 하이레벨로 변할 때에 피모스트랜지스터(MP1)와 앤모스트랜지스터(MN1)가 한번에 턴온 또는 턴오프 됨으로서 급격한 전류 흐름의 변화가 발생한다.However, the data output buffer described above has a sharp current when the PMOS transistor MP1 and the NMOS transistor MN1 are turned on or turned off at one time when the data is changed from the high level to the low level, or from the low level to the high level. A change in flow occurs.
따라서 급격한 전류 흐름의 변화(피모스트랜지스터에서 출력단으로 또는 출력단에서 앤모스트랜지스터쪽으로)에 의해 노이즈가 발생할 수 있고, 이로 인해 주변회로가 오동작을 일으킬 수 있다.Therefore, noise may be generated by a sudden change in the current flow (from the MOS transistor to the output terminal or from the output terminal to the ANMOS transistor), which may cause the peripheral circuit to malfunction.
또한, 전술한 데이터 출력버퍼는 피모스트랜지스터(MP1)와 앤모스트랜지스터(MN1)가 한번에 턴오프 또는 턴온되는 구조이기 때문에 노드(N1)과 노드(N2)의 전압레벨의 변화가 급격하게 이루어진다. 이로 인해 피모스트랜지스터(MP1)의 소스단에 접속된 전원전압(VDD) 공급단과 앤모스트랜지스터(MN1)의 소스단에 접속된 접지전압(VSS) 공급단의 전압레벨이 일시적으로 출렁거릴 수 있다. 이로 인해 출력단(Dout)으로 출력되는 데이터신호가 원하는 데이터로 출력되지 않고 에러가 발생할 수도 있게 된다.In addition, since the data output buffer described above has a structure in which the PMOS transistor MP1 and the NMOS transistor MN1 are turned off or turned on at once, the voltage level of the node N1 and the node N2 changes rapidly. As a result, the voltage level of the power supply voltage VDD supply terminal connected to the source terminal of the PMOS transistor MP1 and the ground voltage VSS supply terminal connected to the source terminal of the NMOS transistor MN1 may fluctuate temporarily. . As a result, an error may occur without the data signal output to the output terminal Dout being output as desired data.
이를 해결하기 위해서는 데이터 출력버퍼로 전달되는 데이터의 속도를 느리게 해야하나, 이 경우 반도체 집적회로의 데이터 출력속도에 크게 느려지는 문제점이 생긴다. In order to solve this problem, the speed of data transmitted to the data output buffer must be slowed down. In this case, however, the data output speed of the semiconductor integrated circuit is greatly slowed down.
본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로, 고속으로 데이터를 출력시킬 때에도 내부적으로 급격한 전류의 변화가 제거되어 노이즈발생이 줄어든 데이터 출력버퍼를 제공함을 목적으로 한다. The present invention has been proposed to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a data output buffer in which a sudden change in current is eliminated even when data is output at high speed, thereby reducing noise.
본 발명은 상기의 과제를 해결하기 위해, 입력데이터에 응답하여 출력단을 풀업 또는 풀다운시키는 데이터 출력버퍼에 있어서, 상기 출력단을 풀업시키기 위한 풀업용 모스트랜지스터; 상기 출력단을 풀다운시키기 위한 풀다운용 모스트랜지스터; 상기 풀업용 모스트랜지스터의 게이트와 접지전압 공급단사이에 서로 다른 저항을 선택적으로 연결함으로서 상기 풀업용 모스트랜지스터의 턴온정도를 조절하기 위한 제1 슬류레이트 조절수단; 상기 풀다운용 모스트랜지스터의 게이트와 전원전압 공급단사이에 서로 다른 저항을 선택적으로 연결함으로서 상기 풀다운용 모스트랜지스터의 턴온정도를 조절하기 위한 제2 슬류레이트 조절수단; 및 상기 입력데이터의 상승천이에 응답하여 상기 제1 슬류레이트 조절수단의 저항을 선택하고, 상기 입력데이터의 하강천이에 응답하여 상기 제2 슬류레이트 조절수단의 저항을 선택하기 위한 슬류레이트 제어수단을 구비하는 데이터 출력버퍼를 제공한다. In order to solve the above problems, the present invention provides a data output buffer that pulls up or pulls down an output stage in response to input data, comprising: a pull-up MOS transistor for pulling up the output stage; A pull-down MOS transistor for pulling down the output stage; First slew rate adjusting means for controlling a turn-on degree of the pull-up MOS transistor by selectively connecting different resistors between a gate of the pull-up MOS transistor and a ground voltage supply terminal; Second slew rate adjusting means for adjusting a turn-on degree of the pull-down MOS transistor by selectively connecting different resistors between the gate of the pull-down MOS transistor and a power supply voltage supply terminal; And a slew rate control means for selecting a resistance of the first slew rate adjusting means in response to the rising transition of the input data, and selecting a resistance of the second slew rate adjusting means in response to a falling transition of the input data. It provides a data output buffer provided.
이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시 할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 발명의 가장 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다.Hereinafter, the most preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art can easily implement the technical idea of the present invention. do.
도2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 데이터 출력버퍼를 나타내는 회로도이다.2 is a circuit diagram illustrating a data output buffer according to a preferred embodiment of the present invention.
도2를 참조하여 살펴보면, 본 실시예에 따른 데이터 출력버퍼는 출력단(DOUT)을 풀업시키기 위한 풀업용 모스트랜지스터(100)와, 출력단(DOUT)을 풀다운시키기 위한 풀다운용 모스트랜지스터(200)와, 풀업용 모스트랜지스터(100)의 게이트와 접지전압 공급단(VSS) 사이에 서로 다른값의 저항을 선택적으로 연결함으로서 풀업용 모스트랜지스터(100)의 턴온정도를 조절하기 위한 제1 슬류레이트 조절부(300)와, 풀다운용 모스트랜지스터(200)의 게이트와 전원전압 공급단(VDD)사이에 서로 다른값의 저항을 선택적으로 연결함으로서 풀다운용 모스트랜지스터(200)의 턴온정도를 조절하기 위한 제2 슬류레이트 조절부(400)와, 입력데이터(DATA)의 상승천이, 즉 반전된 입력데이터(DATAB)의 하강천이에 응답하여 제1 슬류레이트 조절부(300)의 저항을 선택하고, 입력데이터(DATA)의 하강천이, 즉 반전된 입력데이터(DATAB)의 상승천이에 응답하여 제2 슬류레이트 조절부(400)의 저항을 선택하기 위한 슬류레이트 제어부(700)를 구비한다.Referring to FIG. 2, the data output buffer according to the present embodiment includes a pull-up MOS transistor 100 for pulling up the output terminal DOUT, a pull-down MOS transistor 200 for pulling down the output terminal DOUT, A first slew rate control unit for controlling the turn-on degree of the pull-up MOS transistor 100 by selectively connecting a resistance of a different value between the gate and the ground voltage supply terminal (VSS) of the pull-up MOS transistor 100 ( A second slew to adjust the degree of turn-on of the pull-down MOS transistor 200 by selectively connecting a resistor having a different value between the gate 300 and the power supply voltage supply terminal VDD of the pull-down MOS transistor 200. In response to the rate shifting unit 400 and the rising transition of the input data DATA, that is, the falling transition of the inverted input data DATAB, the resistance of the first slew rate adjusting unit 300 is selected, and the input data DATA is selected. ) Falling transition, that is provided with a seulryu rate control unit 700 for response to the rising transition of the inverted input data (DATAB) selecting the resistance of the second seulryu rate control unit 400.
여기는 제1 및 제2 슬류레이트 조절부(300,400)에 구비되는 저항은 모스트랜지스터의 턴온저항을 이용한다.Here, the resistors provided in the first and second slew rate control units 300 and 400 use turn-on resistances of the MOS transistors.
제1 슬류레이트 조절부(300)는 모스트랜지스터(MP4)의 턴온저항이 하나의 저항을 이루고, 모스트랜지스터(MN12,MN11,MN10)의 턴온저항이 또 하나의 저항을 이루게 된다. 제2 슬류레이트 조절부(400)는 모스트랜지스터(MN4)의 턴온저항이 하나의 저항을 이루고, 모스트랜지스터(MP12,MP11,MP10)의 턴온저항이 또 하나의 저항을 이루게 된다.In the first slew rate control unit 300, the turn-on resistance of the MOS transistor MP4 forms one resistance, and the turn-on resistance of the MOS transistors MN12, MN11, and MN10 forms another resistance. In the second slew rate control unit 400, the turn-on resistance of the MOS transistor MN4 forms one resistance, and the turn-on resistance of the MOS transistors MP12, MP11, and MP10 forms another resistance.
슬류레이터 제어부(700)에서 출력되는 신호에 의해서 각각 제1 및 제2 슬류레이터에 구비되는 두개의 턴온저항중 하나가 선택되는 것이다.One of the two turn-on resistors provided in the first and second slewers is selected by the signal output from the slewator controller 700.
또한, 본 실시예에 따른 데이터 출력버퍼는 입력데이터(DATA)가 로우레벨일 때에 턴온되어 풀업용 모스트랜지스터(100)의 게이트로 전원전압(VDD)을 공급하기 위한 풀업방지부(500)과 입력데이터(DATA)가 하이레벨일 때에 턴온되어 풀다운용 모스트랜지스터(200)의 게이트로 접지전압(VSS)을 공급하기 위한 풀다운방지부(600)를 더 구비한다.In addition, the data output buffer according to the present embodiment is turned on when the input data DATA is at the low level, and the pull-up prevention part 500 for supplying the power supply voltage VDD to the gate of the pull-up MOS transistor 100 and the input. And a pull-down prevention part 600 for turning on when the data DATA is at a high level to supply the ground voltage VSS to the gate of the pull-down MOS transistor 200.
또한, 본 실시예에 따른 데이터 출력버퍼는 인에이블신호(EN)에 응답하여 풀업용 모스트랜지스터(100)의 게이트로 전원전압(VDD)을 공급하기 위한 제1 인에이블부(700)와 반전된 인에이블신호(ENB)에 응답하여 풀다운용 모스트랜지스터(200)의 게이트로 접지전압(VSS)을 공급하기 위한 제2 인에이블부(800)를 더 구비한다.In addition, the data output buffer according to the present embodiment is inverted from the first enable unit 700 for supplying the power supply voltage VDD to the gate of the pull-up MOS transistor 100 in response to the enable signal EN. A second enable part 800 is further provided to supply the ground voltage VSS to the gate of the pull-down MOS transistor 200 in response to the enable signal ENB.
또한, 제1 및 제2 슬류레이트 제어부(300,400)는 인에이블신호(EN)와 반전된 인에이블신호(ENB)에 각각 응답하여 인에이블된다.In addition, the first and second slew rate controllers 300 and 400 are enabled in response to the enable signal EN and the inverted enable signal ENB, respectively.
도3은 도2에 도시된 데이터 출력버퍼의 동작을 나타내는 파형도이다. 이하에서는 도2와 도3을 참조하여 본 실시예에 따른 데이터 출력버퍼의 동작을 살펴본다.FIG. 3 is a waveform diagram showing the operation of the data output buffer shown in FIG. Hereinafter, the operation of the data output buffer according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 2 and 3.
풀업방지부(500)의 모스트랜지스터(MP1)는 로우레벨의 데이터(DATA)를 입력받아 풀업용 모스트랜지스터(100)의 게이트에 전원전압(VDD)을 공급하여 풀업용 모스트랜지스터(100)가 턴오프되도록 한다. The MOS transistor MP1 of the pull-up prevention part 500 receives the low-level data DATA and supplies the power voltage VDD to the gate of the MOS transistor 100 for pull-up to turn the MOS transistor 100 for pull-up. To be off.
풀다운방지부(600)의 모스트랜지스터(MN1)는 하이레벨의 데이터(DATA)를 입력받아 풀다운용 모스트랜지스터(200)의 게이트에 접지전압(VSS)을 공급하여 풀다운용 모스트랜지스터(200)가 턴오프되도록 한다.The MOS transistor MN1 of the pull-down prevention unit 600 receives a high level data DATA and supplies a ground voltage VSS to the gate of the pull-down MOS transistor 200 so that the pull-down MOS transistor 200 is turned on. To be off.
인에이블신호(EN)가 로우레벨이 되고 반전된 인에이블신호(ENB)가 하이레벨이 되면, 모스트랜지스터(MN8,MP8)가 턴오프상태가 되어 제1 및 제2 슬류레이트 조절부(300,400)에서 노드(N2,N3)로 영향을 끼칠 수 없다.When the enable signal EN becomes a low level and the inverted enable signal ENB becomes a high level, the MOS transistors MN8 and MP8 are turned off so that the first and second slew rate adjusting units 300 and 400 are turned on. It cannot affect nodes N2 and N3 at.
한편으로 모스트랜지스터(MP2,MN2)는 턴온상태가 되어 노드(N2)는 하이레벨, 노드(N3)는 로우레벨로 고정되어, 풀업 및 풀다운 모스트랜지스터(MP3,MN3)는 항상 턴오프상태가 되어 출력단(DOUT)은 하이임피던스를 유지하게 된다.On the other hand, the MOS transistors MP2 and MN2 are turned on, and the node N2 is fixed at the high level and the node N3 is fixed at the low level. The pull-up and pull-down MOS transistors MP3 and MN3 are always turned off. Output DOUT maintains high impedance.
인에이블신호(EN)가 하이레벨이고, 반전된 인에이블신호(ENB)가 하이레벨이 되면, 데이터 출력버퍼는 입력 데이터(DATA)값에 따라 동작을 시작하게 된다.When the enable signal EN is at a high level and the inverted enable signal ENB is at a high level, the data output buffer starts an operation according to the input data DATA value.
데이터(DATA)가 로우레벨에서 하이레벨로 상승천이하게 되면, 모스트랜지스터(MN9)는 턴온상태로, 모스트랜지스터(MP9)는 턴오프상태로 된다. 또한, 풀다운방지부(600)의 모스트랜지스터(MN1)도 턴온상태가 되어 노드(N3)는 로우상태가 되어 모스트랜지스터(MN3)는 턴오프상태를 유지하게 된다.When the data DATA rises and transitions from the low level to the high level, the MOS transistor MN9 is turned on and the MOS transistor MP9 is turned off. In addition, the MOS transistor MN1 of the pull-down prevention part 600 is also turned on, so that the node N3 is turned low, and the MOS transistor MN3 is kept turned off.
데이터(DATA)가 로우일 때에 반전된 데이터(DATAB)는 하이가 되므로 모스트랜지스터(MN7)가 턴온되어 노드(N!)는 로우레벨상태가 되어 모스트랜지스터(MP4)가 턴온상태로 있다가 데이터가 하이로 상승천이하게 되면 반전된 데이터(DATAB)는 하이레벨에서 로우레벨로 되므로 모스트랜지스터(MN7)는 턴오프로, 모스트랜지스터(MP7)는 턴온이 되면서 턴온상태이던 모스트랜지스터(MP4)가 턴오프로 되고, 턴오프상태이던 모스트랜지스터(MN12,MN11,MN10)가 턴온되어 노드(N2)가 로우레벨이 된다. 따라서 풀업 모스트랜지스터(100)가 턴온되어 출력단을 풀업시키게 된다.When the data DATA is low, the inverted data DATAB becomes high, so the MOS transistor MN7 is turned on so that the node N! Is at a low level, and the MOS transistor MP4 is turned on. When the rising edge goes high, the inverted data DATAB goes from the high level to the low level, so the MOS transistor MN7 is turned off, and the MOS transistor MP7 is turned on while the MOS transistor MP4 is turned on. The MOS transistors MN12, MN11, and MN10 that have been turned off are turned on to bring the node N2 to a low level. Therefore, the pull-up MOS transistor 100 is turned on to pull up the output stage.
이 때 풀업 모스트랜지스터(100)가 턴온되는 상태를 자세히 살펴보면, 모스트랜지스터(MN9)가 모스트랜지스터(MP7)보다 먼저 턴온되므로 노드(N2)는 초기에는 모스트랜지스터(MP4)를 통해 변화하면(도3의 A구간 참조), 이후 슬류레이트 제어부(700)의 모스트랜지스터(MP7)에 의해 모스트랜지스터(MN10.MN11,MN12)를 통해 변화하게 된다.(도3의 B구간 참조)At this time, when the pull-up MOS transistor 100 is turned on in detail, the MOS transistor MN9 is turned on before the MOS transistor MP7, so that the node N2 is initially changed through the MOS transistor MP4 (Fig. 3). Section A), and then change through the MOS transistors MN10.MN11 and MN12 by the MOS transistor MP7 of the slew rate control unit 700 (see section B in FIG. 3).
따라서 턴온저항이 모스트랜지스터(MP4)보다 모스트랜지스터(MN10, MN11, MN12)가 더 큰값을 가지기 때문에, 처음에는 도2에 도시된 바와 같이, 노드(N2)가 급격히 변화하다가 나중에는 완만하게 변화하게 된다. 따라서 결국 출력단(DOUT)의 풀업되는 시간이 조절이 되는 것이다. Therefore, since the turn-on resistance of the transistors MN10, MN11, and MN12 has a larger value than that of the transistors MP4, as shown in FIG. 2, the node N2 changes suddenly and then gradually changes. do. As a result, the pull-up time of the output terminal DOUT is adjusted.
노드(N2)가 변화하는 시간은 두가지의 모스트랜지스터(MP4 와, MN10,MN11,MN12)의 턴온저항값을 조절하면 조절할 수 있게 된다.The time at which the node N2 changes can be adjusted by adjusting the turn-on resistance values of the two MOS transistors MP4 and MN10, MN11, and MN12.
따라서 본 실시예의 데이터 출력버퍼에 구비되는 슬류레이트 조절부(300)와 슬류레이트 제어부에 구비되는 모스트랜지스터에 의해 노드(N2)가 급격하게 변화는 것을 방지할 수 있게 되었고, 이로 인하여 노이즈가 발생되지 않아 주변회로에 오동작을 방지할 수 있다. 또한 모스트랜지스터(MP3)의 소스단에 접속된 전원단의 전압레벨이 급격하게 변화하는 것도 방지할 수 있다.Therefore, it is possible to prevent the node N2 from changing abruptly by the slew rate control unit 300 provided in the data output buffer of the present embodiment and the MOS transistor provided in the slew rate control unit, thereby preventing noise. As a result, malfunctions can be prevented in the peripheral circuit. In addition, it is possible to prevent the voltage level of the power supply terminal connected to the source terminal of the MOS transistor MP3 from suddenly changing.
지금가지 데이터(DATA)가 상승천이하는 과정에 대하여 설명하였는데, 반대로 데이터(DATA)가 하강천이하는 과정도 전술한 상승천이하는 과정과 유사하므로 자세한 설명은 생략한다.Now, the process of rising data DATA has been described. On the contrary, the process of falling data DATA is similar to the above-described rising process, and thus a detailed description thereof will be omitted.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다. The present invention described above is not limited to the above-described embodiments and the accompanying drawings, and various substitutions, modifications, and changes are possible in the art without departing from the technical spirit of the present invention. It will be clear to those of ordinary knowledge.
본 발명에 의한 데이터 출력버퍼를 반도체 집적회로에 사용함으로서, 데이터 출력시 내부 동작전류의 급격한 변화에 의한 노이즈 발생으로 인한 주변회로의 오동작을 방지하였다.By using the data output buffer according to the present invention in a semiconductor integrated circuit, the malfunction of the peripheral circuit due to the noise generated by the sudden change of the internal operating current during data output is prevented.
또한, 본 발명의 데이터 출력버퍼에 의해 신뢰성 있게 반도체 집적회로에서 고속으로 데이터를 출력시킬 수 있게 되었다.In addition, the data output buffer of the present invention makes it possible to reliably output data from a semiconductor integrated circuit at high speed.
도1은 종래기술에 의한 데이터 출력버퍼를 나타내는 회로도.1 is a circuit diagram showing a data output buffer according to the prior art.
도2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 데이터 출력버퍼를 나타내는 회로도.2 is a circuit diagram showing a data output buffer according to a preferred embodiment of the present invention.
도3은 도2에 도시된 데이터 출력버퍼의 동작을 나타내는 파형도. 3 is a waveform diagram showing the operation of the data output buffer shown in FIG.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
MN1 ~ MN12 : 앤모스트랜지스터MN1 ~ MN12: NMOS Transistor
MP1 ~ MP12 : 피모스트랜지스터 MP1 ~ MP12: Pymotransistor
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