KR20050106717A - 전자부품용 접속장치 - Google Patents

전자부품용 접속장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20050106717A
KR20050106717A KR1020040031736A KR20040031736A KR20050106717A KR 20050106717 A KR20050106717 A KR 20050106717A KR 1020040031736 A KR1020040031736 A KR 1020040031736A KR 20040031736 A KR20040031736 A KR 20040031736A KR 20050106717 A KR20050106717 A KR 20050106717A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
lead pins
cam
electronic component
lead
connecting device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
KR1020040031736A
Other languages
English (en)
Inventor
유재은
Original Assignee
주식회사 세미시스
(주)포커스전자
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 세미시스, (주)포커스전자 filed Critical 주식회사 세미시스
Priority to KR1020040031736A priority Critical patent/KR20050106717A/ko
Publication of KR20050106717A publication Critical patent/KR20050106717A/ko
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02—Contact members
    • H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R33/00—Coupling devices specially adapted for supporting apparatus and having one part acting as a holder providing support and electrical connection via a counterpart which is structurally associated with the apparatus, e.g. lamp holders; Separate parts thereof
    • H01R33/74—Devices having four or more poles, e.g. holders for compact fluorescent lamps
    • H01R33/76—Holders with sockets, clips, or analogous contacts adapted for axially-sliding engagement with parallely-arranged pins, blades, or analogous contacts on counterpart, e.g. electronic tube socket
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices

Landscapes

  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)

Abstract

본 발명은 전자부품용 접속장치에 관한 것으로, 다양한 전자부품 및 다양한 두께의 전기적 단자에 사용이 가능하며, 전자부품과 확실하고 정확한 접촉을 제공함과 더불어, 단순화된 구조와 콤팩트한 크기를 가지며, 제작 비용을 절감시킬 수 있도록 한 것이다.
이를 위한 본 발명의 전자부품용 접속장치는, 전자부품의 전기적 단자가 삽입되는 삽입구를 가지는 하우징과; 상기 하우징의 내부에 상호 대향되게 설치되어 전자부품의 전기적 단자와 개별적으로 접촉하게 되는 복수개의 리드핀과; 상기 리드핀의 사이에 회전가능하게 설치되어, 상기 리드핀과 접촉 및 해제되면서 리드핀을 내외측으로 선택적으로 이동시키는 캠과; 상기 캠과 회전축을 통하여 연결되어 캠을 회전시키는 구동부와; 상기 각 리드핀 외측부에 연접하도록 설치되어 리드핀을 탄력적으로 지지하는 탄성부재를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.

Description

전자부품용 접속장치{Apparatus for connecting electronic components}
본 발명은 전자부품용 접속장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 메모리 모듈 등과 같은 부품을 상기 부품의 전기적 특성을 시험 및 측정하는 시험장비에 연결하는 전자부품용 접속장치에 관한 것이다.
메모리 모듈 등과 같은 반도체 부품, 인쇄회로기판(Printed Circuit Board), 액정표시장치 모듈(Liquid Crystal Display) 등과 같은 전기 및 전자 부품(이하 총칭하여 "전자부품"이라 함)은 제조가 완료된 후 적절한 방식으로 시험장비에 의하여 전기적 특성 등이 시험된다. 통상 이러한 전자부품은 접속장치(커넥터)를 통하여 시험장비에 전기적으로 연결되어 시험된다.
접속장치는 시험장비와 전기적으로 연결된 리드핀을 가지는데, 전자부품의 전기적 단자는 상기 리드핀과 전기적으로 확실히 접촉되어야 한다. 그러나, 확실한 접촉을 위하여 큰 접촉력을 주게 되면 전자부품을 접속장치에 착탈하는 것이 용이하지 않다는 단점이 있다. 이러한 점을 해결하기 위하여, 일본 특허공개 제2000-81461호에서는 한 쌍의 캠을 이용한 "반도체부품 취부장치 및 커넥터"를 제안하고 있다. 도 1에 도시한 바와 같이, 상기 종래 기술은 한 쌍의 리드핀(60, 60a)과, 상기 리드핀(60, 60a)을 이동시켜 주는 캠(30, 30a)과, 상기 캠(30, 30a)을 회전시키는 한 쌍의 핸들(50)을 주요 구성 부분으로 하고 있다.
그러나, 상술한 종래 기술은 다음과 같은 문제점이 있다.
첫째, 반도체부품용으로 한정된 것이므로 다른 전자부품용 커넥터로 사용하기에는 용이하지 않다는 단점이 있다. 또한, 한 쌍의 캠을 한 쌍의 핸들을 이용하여 직접 구동시키므로, 캠의 구동각도가 제약되어 리드핀의 접촉력의 차이가 발생할 수 있고 안정성이 저하된다. 따라서, 다양한 전기 전자 부품에 적용하는 것에 제한을 받는다는 단점이 있다.
둘째, 한 쌍의 캠을 한 쌍의 핸들을 이용하여 각각 구동시키므로 장치의 구조가 복잡하다. 또한, 한 쌍의 캠을 각각 구동하므로 캠의 회전 방향이 같은 방향이 된다. 따라서, 도 1에 도시한 바와 같이, 한개의 캠은 리드핀의 상부를 누르고 다른 캠을 리드핀의 하부를 누르게 된다. 리드핀을 누르는 높이가 일측의 캠과 타측의 캠에서 각각 다르게 되어 접촉이 정확하지 않을 수도 있다는 단점이 있다.
셋째, 한 쌍의 캠이 리드핀의 양측 외측에서 리드핀을 가압함으로써 전자부품의 단자와 리드핀이 접촉하게 되므로, 리드핀의 누르는 힘에 의해 전자부품이 상측으로 미끄러져 올라가 리드핀과 단자 간의 접촉 불량이 발생하는 경우가 종종 있었다.
넷째, 전자부품이 리드핀 사이에 위치되지 않은 상태에서 어떤 요인에 의해 캠이 작동하여 리드핀이 가압될 경우 양측의 리드핀들이 서로 접촉하여 쇼트되는 문제가 발생하는 바, 종래에는 이를 막기 위하여 리드핀의 상단에 리드핀의 이동을 제한하는 가이드홀더 등의 스톱퍼를 추가로 구성해 주었으며, 이로 인하여 테스트소켓의 제작이 어려워지고, 비용도 증가하게 되는 문제가 있었다.
이에 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 다양한 전자부품 및 다양한 두께의 전기적 단자에 사용이 가능하며, 전자부품과 확실하고 정확한 접촉을 제공할 수 있는 전자부품용 접속장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 단순화된 구조와 콤팩트한 크기를 가지며, 제작 비용을 절감시킬 수 있는 전자부품용 접속장치를 제공하는 것이다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 전자부품의 전기적 단자가 삽입되는 삽입구를 가지는 하우징과; 상기 하우징의 내부에 상호 대향되게 설치되어 전자부품의 전기적 단자와 개별적으로 접촉하게 되는 복수개의 리드핀과; 상기 리드핀의 사이에 회전가능하게 설치되어, 상기 리드핀과 접촉 및 해제되면서 리드핀을 내외측으로 선택적으로 이동시키는 캠과; 상기 캠과 회전축을 통하여 연결되어 캠을 회전시키는 구동부를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 전자부품용 접속장치를 제공한다.
이하, 본 발명에 따른 전자부품용 접속장치의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 2 내지 도 5는 본 발명에 따른 전자부품용 접속장치의 일 실시예의 구조를 나타낸 것으로, 전자부품용 접속장치(100)의 몸체를 이루는 하우징(110)의 상부에 모듈(200)의 전기적 단자(210)가 삽입되는 삽입구(111)가 개방되게 형성되고, 상기 하우징(110) 내부에는 상기 모듈(200)의 전기적 단자(210)들과 개별적으로 접촉하게 되는 복수개의 전도성 리드핀(120)이 상호 대향되어 2열로 배열된다.
여기서, 상기 리드핀(120)들은 그 일단부가 하우징(110)의 하단부를 관통하여 외부로 노출되어, 메인보드(미도시) 또는 그외의 전기적 테스트장치들의 컨넥터들과 전기적으로 연결된다.
그리고, 상기 리드핀(120)들의 사이에는 리드핀(120)들과 접촉 및 해제되면서 리드핀(120)과 모듈(200)의 전기적 단자(210) 간의 접속을 수행하는 캠(130)이 회전축(132)을 중심으로 회전가능하게 설치된다.
상기 회전축(132)은 일단부가 하우징(110) 외부로 노출되어 레버(150)와 연결된다. 그리고, 상기 하우징(110)의 일측부에는 상기 레버(150)와 접촉함으로써 상기 캠(130)의 회전 각도를 제한하는 캠 스톱퍼(152)가 정점으로부터 일정 각도 이격된 위치에 돌출되게 형성된다.
상기 캠(130)은 대략 타원형으로 이루어져 회전시 그의 장축부가 양측 리드핀(120)과 접촉하면서 리드핀(120)의 간격을 벌리는 작용을 하게 된다.
그리고, 상기 리드핀(120)의 하부 양측에는 각 리드핀(120)의 외측면과 연접하면서 리드핀(120)을 탄성적으로 지지하여 주는 한 쌍의 고무재질의 탄성부재(160)가 설치된다.
한편, 상기 하우징(110)의 양단부 내측에는 모듈(200)의 전기적 단자(210)가 삽입되는 위치를 제한하는 모듈 스톱퍼(112)가 돌출되게 형성된다.
상기와 같이 구성된 본 발명의 접속장치(100)는 다음과 같이 작동한다.
먼저, 테스트 전에 사용자는 하우징(110) 외부로 노출된 리드핀(120)의 하단부를 테스트보드, 예컨대 메인보드의 소켓에 전기적으로 접속시켜 테스트 준비를 한다.
도 4에 도시된 것과 같이, 초기에 상기 접속장치(100)의 리드핀(120)들에 외력이 가해지지 않은 상태에서는 상기 리드핀(120)들은 그 상단부가 자체 탄성에 의해 모듈(200)의 전기적 단자(210)와 접촉할 수 있을 정도로 매우 근접한 상태를 유지한다.
따라서, 사용자가 모듈(200)을 삽입하기 전에 접속장치(100)의 레버(150)를 캠 스톱퍼(152) 위치까지 돌리면, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 레버(150)의 회전에 의해 캠(130)이 일정 각도 회전하여 리드핀(120)과 접촉하게 되고, 이로써 리드핀(120) 사이의 간격이 모듈(200)의 두께 이상으로 벌어지게 되어 모듈(200)의 전기적 단자(210)가 리드핀(120)의 저항을 받지 않고 리드핀(120) 사이로 쉽게 삽입될 수 있는 상태로 된다.
이 상태에서 하우징(110)의 삽입구(111)를 통하여 모듈(200)의 전기적 단자(210)를 삽입한 다음, 레버(150)를 반대 방향으로 돌려 캠(130)과 리드핀(120) 간의 접촉을 해제하면, 다시 도 4에 도시된 것과 같이, 리드핀(120)이 자체 탄성 및 탄성부재(160)의 탄성력에 의해 복귀하면서 모듈(200)의 전기적 단자(210)와 탄성적으로 접촉하여 통전이 이루어져 테스트가 진행된다.
테스트가 완료되면, 다시 레버(150)를 제 2캠 스톱퍼(152)에 닿을 때까지 돌려서 캠(130)과 리드핀(120)이 접촉하도록 하여 리드핀(120)을 벌린 다음, 모듈(200)을 하우징(110)에서 분리한다.
요컨대, 본 발명의 접속장치(100)는 상기 캠(130)이 일측으로 일정 각도 회동하여 캠(130)이 리드핀(120)을 일측으로 밀어내게 되면, 리드핀(120) 사이의 간격이 모듈(200) 두께 이상으로 벌어져 모듈(200)의 진입 및 후퇴가 용이하게 되고, 캠(130)이 반대로 회전하여 리드핀(120)과의 접촉이 해제되면 리드핀(120)이 자체 탄성 및 탄성부재(160)의 탄성력에 의해 원상태로 복귀하면서 모듈(200)의 전기적 단자(210)와 탄성적으로 접촉하여 테스트가 원활히 이루어질 수 있게 한다.
전술한 실시예에서, 상기 캠(130)은 사용자가 직접 레버(150)를 돌림으로써 회동하는 것으로 설명하였으나, 이와는 다르게, 상기 레버(150)에 공압실린더를 연결하여 공압실린더의 작동에 의해 레버(150)가 회전하면서 캠(130)이 회전하도록 구성할 수도 있다.
이와 다르게, 상기 캠(130)의 회전축(132)에 종동기어부를 결합시키고, 상기 종동기어부에 모터에 의해 회전하는 구동기어부를 치합시켜 회동시킬 수도 있을 것이다.
예를 들어, 상기 캠(130)의 회전축(132)에 종동 피니언기어를 결합시키고, 상기 피니언기어와 치합하는 래크기어를 설치하여, 상기 래크기어를 직선 왕복 운동시킴으로 캠을 일정 각도로 왕복 회전시킬 수 있다. 여기서, 상기 래크기어는 공압실린더에 결합되어 직선운동하거나, 모터에 축결합되어 회동하는 또 다른 구동 피니언기어에 치합되어 직선운동하도록 구성될 수 있다.
또한, 전술한 실시예에서 상기 캠(130)은 타원형으로 된 것으로 설명하였으나, 반드시 이에 한정하지는 않으며, 회전각도에 따라 리드핀(120)과 선택적으로 접촉 및 비접촉될 수 있는 임의의 형태로 형성할 수 있을 것이다.
예를 들어, 캠의 일편을 돌출되게 형성하고, 반대쪽 일편 또한 상응하는 형태로 돌출되게 형성하여 이 돌출된 부분이 양측 리드핀과 접촉하도록 할 수 있다.
도 6과 도 7은 본 발명에 따른 전자부품용 접속장치의 다른 실시예를 나타낸 것으로, 이 실시예의 접속장치는 리드핀(120) 사이에 공압에 의해 탄력적으로 팽창 및 수축되는 작동용 공압튜브(131)가 설치되고, 리드핀(120)의 하부 양측에 역시 공압에 의해 탄력적으로 팽창 및 수축되면서 리드핀(120)을 탄성적으로 지지하는 지지용 공압튜브(161)가 설치된다.
여기서, 상기 작동용 공압튜브(131)와 지지용 공압튜브(161)는 고무와 같이 탄력이 있는 재질로 만들어지며, 상호 반대로 작용하면서 리드핀(120)을 벌리거나 오므리는 작용을 하게 된다.
즉, 도 6에 도시된 바와 같이, 리드핀(120)을 벌리고자 하는 경우에는 작동용 공압튜브(131) 내에 공압이 인가되면서 작동용 공압튜브(131)가 팽창함과 동시에, 지지용 공압튜브(161)는 공압이 빠져나가면서 수축하여 리드핀(120)이 벌어지게 된다.
그리고, 도 7에 도시된 바와 같이, 리드핀(120)을 오므리고자 하는 경우에는 작동용 공압튜브(131)는 공압이 빠져나가면서 수축함과 동시에, 지지용 공압튜브(161) 내에 공압이 인가되면서 팽창하여 리드핀(120)이 자체 탄성력 및 지지용 공압튜브(161)의 탄성력에 의해 오므려지게 된다.
이상에서와 같이 본 발명에 따르면 다음과 같은 이점을 얻을 수 있다.
첫째, 캠의 회동에 의해 리드핀이 벌어졌다 오므려졌다하므로 전자부품, 예컨대 모듈이 진입 및 후퇴가 용이하며, 리드핀과 전자부품 간의 접속이 확실이 이루어질 수 있다.
둘째, 리드핀이 전자부품의 양측에서 외력에 의해 강제로 힘을 가하지 않고 리드핀의 자체 탄성에 의해 리드핀과 전자부품 간의 접촉이 이루어지게 되므로 전자부품이 리드핀에서 이탈되어 접촉불량이 야기되는 현상이 없어지게 된다.
셋째, 캠이 리드핀의 양측에 위치하지 않고 리드핀 사이에 위치하므로 접촉장치의 폭을 축소할 수 있다.
넷째, 캠이 리드핀과 비접촉 상태에서도 리드핀이 상호 접촉될 우려가 없으므로, 캠과 리드핀의 비접촉 상태에서 리드핀을 지지하여 주는 가이드홀더와 같은 별도의 지지수단을 설치할 필요가 없다. 따라서, 전체 구조가 단순화되어 제작이 매우 용이하게 되며, 제작 비용도 줄일 수 있는 이점이 있다.
도 1은 종래의 반도체부품용 취부장치의 요부를 개략적으로 도시한 단면도
도 2는 본 발명에 따른 전자부품용 접속장치의 일 실시예를 개략적으로 도시한 사시도
도 3은 도 2의 접속장치의 요부 횡단면도
도 4는 도 2의 접속장치의 요부 종단면도
도 5는 도 4와 유사한 도면으로, 도 2의 접속장치의 작동을 나타내는 요부 종단면도
도 6은 본 발명에 따른 전자부품용 접속장치의 다른 실시예를 개략적으로 도시한 요부 종단면도
도 7은 도 6의 전자부품용 접속장치의 작동을 설명하는 요부 종단면도
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
100 : 접속장치 110 : 하우징
111 : 삽입구 112 : 모듈 스톱퍼
120 : 리드핀 130 : 캠
150 : 레버 152 : 캠 스톱퍼
160 : 탄성부재 131 : 작동용 공압튜브
161 : 지지용 공압튜브

Claims (11)

  1. 전자부품의 전기적 단자가 삽입되는 삽입구를 가지는 하우징과;
    상기 하우징의 내부에 상호 대향되게 설치되어 전자부품의 전기적 단자와 개별적으로 접촉하게 되는 복수개의 리드핀과;
    상기 리드핀의 사이에 회전가능하게 설치되어, 상기 리드핀과 접촉 및 해제되면서 리드핀을 내외측으로 선택적으로 이동시키는 캠과;
    상기 캠과 회전축을 통하여 연결되어 캠을 회전시키는 구동부를 포함하여 구성된 전자부품용 접속장치.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 각 리드핀의 외측에 연접하게 설치되어 리드핀을 탄성적으로 지지하는 한 쌍의 탄성부재를 더 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 전자부품용 접속장치.
  3. 제 2항에 있어서, 상기 탄성부재는 고무재질로 된 것을 특징으로 하는 전자부품용 접속장치.
  4. 제 1항에 있어서, 상기 구동부는 캠의 회전축 끝단에 외측으로 연장되게 형성된 레버로 구성된 것을 특징으로 하는 전자부품용 접속장치.
  5. 제 3항에 있어서, 상기 레버의 일단에 결합되어 레버를 일정 각도로 왕복 회동시키는 공압실린더를 더 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 전자부품용 접속장치.
  6. 제 1항에 있어서, 상기 구동부는 상기 회전축에 결합된 종동기어부와, 상기 종동기어부와 치합하는 구동기어부와, 상기 구동기어부를 회동시키는 모터를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 전자부품용 접속장치.
  7. 제 1항 또는 제 2항에 있어서, 상기 캠의 회전각도를 제한하는 스톱퍼를 더 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 전자부품용 접속장치.
  8. 전자부품의 전기적 단자가 삽입되는 삽입구를 가지는 하우징과;
    상기 하우징의 내부에 상호 대향되게 설치되어 전자부품의 전기적 단자와 개별적으로 접촉하게 되는 복수개의 리드핀과;
    상기 리드핀의 사이에 공압에 의해 탄력적으로 팽창 및 수축하도록 설치되어, 상기 리드핀을 내외측으로 선택적으로 이동시키는 작동용 공압튜브를 포함하여 구성된 전자부품용 접속장치.
  9. 제 8항에 있어서, 상기 작동용 공압튜브는 탄성력이 있는 탄성재질로 이루어진 것을 특징으로 하는 전자부품용 접속장치.
  10. 제 8항에 있어서, 상기 각 리드핀의 외측에 연접하도록 설치되고, 공압의 인가에 의해 탄력적으로 팽창 및 수축되면서 리드핀을 탄성적으로 지지하는 지지용 공압튜브를 더 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 전자부품용 접속장치.
  11. 제 8항에 있어서, 상기 각 리드핀의 외측에 연접하도록 설치되어, 리드핀을 탄성적으로 지지하는 탄성부재를 더 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 전자부품용 접속장치.
KR1020040031736A 2004-05-06 2004-05-06 전자부품용 접속장치 Ceased KR20050106717A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020040031736A KR20050106717A (ko) 2004-05-06 2004-05-06 전자부품용 접속장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020040031736A KR20050106717A (ko) 2004-05-06 2004-05-06 전자부품용 접속장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20050106717A true KR20050106717A (ko) 2005-11-11

Family

ID=37283435

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020040031736A Ceased KR20050106717A (ko) 2004-05-06 2004-05-06 전자부품용 접속장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20050106717A (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102192759B1 (ko) * 2019-10-16 2020-12-18 주식회사 오킨스전자 Key 스위치를 포함하는 SSD 메모리 테스트 소켓

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102192759B1 (ko) * 2019-10-16 2020-12-18 주식회사 오킨스전자 Key 스위치를 포함하는 SSD 메모리 테스트 소켓

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101445397B1 (ko) 소켓용 어댑터 장치
CN1877342B (zh) 能够将测试对象精确连接至基底的测试装置
JP6157661B1 (ja) 測定用ソケット
KR20030044827A (ko) 소켓
JP2010237133A (ja) 検査ソケットおよびその製法
JP5969152B1 (ja) 測定用ソケット
JP2017513028A (ja) 回転可能プランジャを有する電気プローブ
KR20090093738A (ko) 검사용 탐침 장치
KR20080105557A (ko) 카메라 모듈 테스트용 소켓
KR100356902B1 (ko) 전기부품용 소켓
KR101444787B1 (ko) 전자부품 테스트용 소켓
KR20050106717A (ko) 전자부품용 접속장치
JP4030294B2 (ja) Ｉｃソケット
JP4942639B2 (ja) 電気部品用ソケット
KR100518355B1 (ko) 전자부품용 접속장치
CN222913731U (zh) 显示器分析工具及汽车
CN223107975U (zh) 一种测试治具
CN219086421U (zh) 一种用于电子屏幕测试的压接装置
JP4223338B2 (ja) 電気部品用ソケット
CN113552463B (zh) 一种电子元器件测试装置及其测试方法
JP2000353574A (ja) コネクタ
US9553386B2 (en) Contact
WO2007016651A1 (en) Socket connector
JP5202275B2 (ja) 電気部品用ソケット
KR200368743Y1 (ko) 탄성 변형부를 갖는 커넥터 핀 및 커넥터

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
PA0109 Patent application

Patent event code: PA01091R01D

Comment text: Patent Application

Patent event date: 20040506

PA0201 Request for examination
N231 Notification of change of applicant
PN2301 Change of applicant

Patent event date: 20050311

Comment text: Notification of Change of Applicant

Patent event code: PN23011R01D

PG1501 Laying open of application
E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event date: 20051128

Patent event code: PE09021S01D

E601 Decision to refuse application
PE0601 Decision on rejection of patent

Patent event date: 20060424

Comment text: Decision to Refuse Application

Patent event code: PE06012S01D

Patent event date: 20051128

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event code: PE06011S01I