KR20050104575A - Liquid crystal display device - Google Patents

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Abstract

본 발명은 액정 패널에 테스트를 실시하여 불량 패널을 추출함으로써 부품의 손실을 감소시킬 수 있는 액정표시장치를 개시한다. 개시된 본 발명은 아모포스 비정질 실리콘(a-Si)으로 형성된 채널을 구비하는 박막 트랜지스터 및 액정 패널 내에 형성되어 쉬프트 레지스터의 기능을 수행하며 테스트 장비로부터 신호를 인가받는 게이트 구동 회로를 포함하며, 액정 패널의 불량 검출을 위한 액정표시장치에 있어서, 상기 박막 트랜지스터시 제조시 화소형성과 동시에 테스트용 패턴을 구비하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 따르면, 박막 트랜지스터 제조시 액티브 영역에 화소전극을 형성함과 동시에 테스트용 패턴을 형성함으로써 종래의 기술을 사용하여 액정 패널의 불량검출을 수행할 수 있으며, 게이트 구동회로의 동작 특성과 관련된 불량검출은 게이트 구동 회로의 출력단에 별도로 형성된 출력패드를 통해 수행할 수 있다.The present invention discloses a liquid crystal display device which can reduce the loss of components by performing a test on a liquid crystal panel to extract a defective panel. The disclosed invention includes a thin film transistor having a channel formed of amorphous amorphous silicon (a-Si), and a gate driving circuit formed in a liquid crystal panel to perform a function of a shift resistor and receiving a signal from test equipment, and a liquid crystal panel A liquid crystal display device for detecting defects of a thin film transistor, characterized in that the thin film transistor is provided with a test pattern simultaneously with pixel formation during manufacturing. According to the present invention, by forming a pixel electrode in an active region and simultaneously forming a test pattern in manufacturing a thin film transistor, defect detection of a liquid crystal panel can be performed using a conventional technique, and related to operation characteristics of a gate driving circuit. The defect detection may be performed through an output pad formed separately at the output terminal of the gate driving circuit.

Description

액정표시장치{LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE}Liquid crystal display {LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE}

본 발명은 액정표시장치(Liquid Crystal Display Element)에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 액정 패널에 테스트를 실시하여 불량 패널을 추출함으로써 부품의 손실(Loss)을 감소시킬 수 있는 액정표시장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display element, and more particularly, to a liquid crystal display device capable of reducing loss of parts by performing a test on a liquid crystal panel and extracting a defective panel. .

현재, 평판 디스플레이 분야에서 능동구동 액정표시소자(Active Matrix Liquid Crystal Display : AMLCD)가 주류를 이루고 있다. AMLCD에서는 박막 트랜지스터(TFT : Thin Film Transistor) 하나가 화소 한 개의 액정에 걸리는 전압을 조절하여 화소의 투과도를 변화시키는 스위칭 소자로 사용된다.Currently, active matrix liquid crystal display (AMLCD) is the mainstream in the flat panel display field. In an AMLCD, a thin film transistor (TFT) is used as a switching element to change the transmittance of a pixel by adjusting a voltage applied to a liquid crystal of one pixel.

이와 같이, 아모포스 비정질 실리콘은 AMLCD에서 스위칭 소자로 많이 쓰이는데, 이는 폴리실리콘과 비교하여 저이동도, 다소 높은 문턱전압 및 기생용량에도 불구하고 비용절감, 무게절감 및 제작이 용이하여 생산성이 높은 장점을 가지고 있으므로, 새로운 디자인 기술과 공정으로 능동구동 액정표시소자를 아모포스 비정질 실리콘으로만 형성된 박막 트랜지스터로 구성하게 되었다.As such, amorphous amorphous silicon is widely used as a switching element in AMLCD, which has high productivity due to cost reduction, weight reduction, and ease of manufacture despite low mobility, somewhat high threshold voltage and parasitic capacitance compared to polysilicon. With the new design technology and process, the active driving liquid crystal display device is composed of a thin film transistor formed only of amorphous amorphous silicon.

이렇게 아모포스 비정질 실리콘만으로 박막 트랜지스터를 구성하게 되면, 별도의 공정 즉, 증착, 포토리소그래피 및 에칭 공정을 진행하기 않고도 구동회로를 화소 박막 트랜지스터와 동일하게 형성할 수 있다.When the thin film transistor is formed of only amorphous amorphous silicon, the driving circuit can be formed in the same manner as the pixel thin film transistor without performing a separate process, that is, a deposition, photolithography, and etching process.

종래 액정표시소자의 드라이버 IC를 테스트하는 방법은 드라이버 IC를 본딩하여 신호를 인가하는 패널 제작시 IC가 본딩되는 하부기판에 패드를 1:1로 형성하였으며, 어레이 및 셀 테스트시 패널에 맞게 제작된 테스트 장비로부터 신호가 인가되어 패널을 구동하고 그에 따라 불량과 양품을 구분하였다.In the conventional method of testing a driver IC of a liquid crystal display device, a pad is formed on a lower substrate to which an IC is bonded when a panel is applied to bond a driver IC to a signal, and manufactured for a panel during an array and a cell test. A signal was applied from the test rig to drive the panel and to distinguish between good and bad.

또한, 액정표시소자의 드라이버 IC를 테스트하는 다른 방법은 PDI 장비를 이용하는 것으로, 이는 게이트부를 짝수(Even)와 홀수(Odd)로 묶거나 또는 전체를 한번에 묶어서 신호인가용 패드를 별도로 형성하고, 데이터부도 짝수와 홀수로 연결하여 신호인가용 패드를 별도로 형성하여 테스트 장비로부터 신호를 인가하여 테스트를 수행해 왔다.In addition, another method of testing a driver IC of a liquid crystal display device is to use a PDI device, in which a gate application unit is bundled with even and odd gates or all at once to form a separate pad for signal application. Evenly and oddly connected signals were formed separately to apply signals from test equipment to perform tests.

그러나, 전자는 게이트부 회로를 패널에 직접 내장하는 방식에는 신호인가용 패드가 별도로 형성되지 않아 사용할 수 없으며, 후자는 패널 내 액티브 영역의 불량검출은 가능하나 회로 동작 특성에 관한 불량검출은 불가능한 문제점이 있다.However, the former cannot be used because the signal applying pad is not formed separately in the method of directly embedding the gate circuit in the panel, and the latter can detect the defective area of the active area in the panel but cannot detect the defective circuit function. have.

따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 패널 테스트를 실시하여 불량 패널을 추출함으로써 부품의 손실을 감소시킬 수 있는 액정표시장치를 제공하는데 그 목적이 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a liquid crystal display device which can reduce the loss of components by performing a panel test and extracting a defective panel.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 아모포스 비정질 실리콘(a-Si)으로 형성된 채널을 구비하는 박막 트랜지스터 및 액정 패널 내에 형성되어 쉬프트 레지스터의 기능을 수행하며 테스트 장비로부터 신호를 인가받는 게이트 구동 회로를 포함하며, 액정 패널의 불량 검출을 위한 액정표시장치에 있어서, 상기 박막 트랜지스터시 제조시 화소형성과 동시에 테스트용 패턴을 구비하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a thin film transistor having a channel formed of amorphous amorphous silicon (a-Si) and a gate driving circuit formed in a liquid crystal panel to perform a function of a shift resistor and receive a signal from test equipment. In the liquid crystal display device for detecting a defect of the liquid crystal panel, it characterized in that it comprises a test pattern at the same time as the pixel formation during manufacturing of the thin film transistor.

여기에서, 상기 게이트 구동 회로의 출력단에 각각 별도의 테스트용 패드를 구비하는 것을 특징으로 한다.Here, the output terminal of the gate driving circuit is characterized in that each having a separate test pad.

상기 테스트용 패드는 화소의 장축 피치(Pitch)만큼의 거리를 두고 형성하는 것을 특징으로 한다.The test pad may be formed at a distance equal to the pitch of the major axis of the pixel.

상기 테스트용 패드는 라우팅을 이용하여 일정부분씩 군집 형태로 형성하는 것을 특징으로 한다.The test pad is formed in a cluster form by a predetermined portion by using routing.

상기 테스트용 패드는 셀 공정 후 제거하거나 또는 셀 공정 후 액정 패널 내에 잔존하는 것을 특징으로 한다.The test pad may be removed after the cell process or remain in the liquid crystal panel after the cell process.

(실시예)(Example)

이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 대해 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

먼저, 본 발명의 기술적 원리를 살펴보면, 종래 액정표시장치의 패널 테스트 방법은 게이트 드라이버가 집적된 패널의 테스트를 원활하게 수행할 수 없기 때문에 본 발명에서는 테스트 장비에 쉬프트 레지스터 회로가 동작할 수 있는 신호를 생성하기 위한 칩(Chip)을 구비하고, 테스트 장비로부터 게이트 구동회로에 신호가 인가되면, 게이트 구동회로는 순차적으로 게이트 라인을 스캔하며, 데이터 신호들은 종래 테스트 방법처럼 데이터 패드부를 통해 신호가 인가된다. 상기와 같이, 액정표시장치의 패널 테스트를 수행하게 되면, 액티브 영역 내의 불량검출을 종래와 같이 수행할 수 있으며, 게이트 구동 회로의 동작 특성과 관련된 불량검출은 본 발명에서 제시하는 바와 같이, 별도로 형성된 출력패드를 통해 수행할 수 있다.First, referring to the technical principle of the present invention, since the panel test method of the conventional liquid crystal display device cannot smoothly perform a test of a panel in which a gate driver is integrated, in the present invention, a signal capable of operating a shift register circuit in test equipment is used. When a signal is applied to the gate driving circuit from the test equipment, the gate driving circuit sequentially scans the gate line, and the data signals are applied through the data pad unit as in the conventional test method. do. As described above, when the panel test of the liquid crystal display is performed, defect detection in the active region may be performed as in the prior art, and defect detection related to an operating characteristic of the gate driving circuit may be separately formed as described in the present invention. This can be done via the output pad.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 패널을 테스트하기 위한 도면이다.1 is a diagram for testing a panel of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 1에 도시된 바와 같이, 박막 트랜지스터 제조시 액티브 영역에 화소형성과 동시에 게이트 구동 회로가 형성된 액정 패널(10)의 불량 검출을 위해 테스트용 패드(30)을 형성한다. As shown in FIG. 1, a test pad 30 is formed to detect defects of the liquid crystal panel 10 in which a gate driving circuit is formed at the same time as pixel formation in an active region during thin film transistor fabrication.

상기 액정 패널(10)에 형성된 게이트 구동용 회로(20)는 쉬프트 레지스터의 기능을 수행하며, 회로 동작을 위해 회로동작용 신호생성 칩을 탑재한 테스트 장비로부터 신호를 받는다. 그 다음, 테스트 장비로부터 신호를 인가 받은 액정 패널(10)은 주사선을 선순차방식으로 구동한다.The gate driving circuit 20 formed in the liquid crystal panel 10 performs a function of a shift register, and receives a signal from a test equipment equipped with a circuit activation signal generation chip for circuit operation. Then, the liquid crystal panel 10 applied with the signal from the test equipment drives the scan line in a line sequential manner.

자세하게, 액정표시장치의 패널 테스트 방법을 살펴보면, 데이터 신호전압은 테스트 장비로부터 액정 패널(10)에 형성된 소스부 패드로 신호가 인가되며, 액정 패널(10)은 주사선을 선순차방식으로 구동한다. 이와 같이, 액정 패널(10)을 테스트하게 되면, 현재의 콘택 타입 테스트방법과 동일하게 테스트 방법을 진행할 수 있으며, 액티브 영역 내의 화소불량 검출 및 신호선 단선 등의 불량검출이 가능하다. In detail, the panel test method of the liquid crystal display device will be described. The data signal voltage is applied to a source pad formed in the liquid crystal panel 10 from the test equipment, and the liquid crystal panel 10 drives the scan lines in a line sequential manner. As described above, when the liquid crystal panel 10 is tested, the test method may be performed in the same manner as the current contact type test method, and defects such as pixel defect detection and signal line disconnection in the active area may be detected.

도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 액정 패널의 출력단에 별도의 패드를 형성하여 회로의 동작 특성을 테스트 하기 위한 도면이다.2 is a diagram for testing an operating characteristic of a circuit by forming a separate pad at an output terminal of a liquid crystal panel according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 2에 도시된 바와 같이, 게이트 구동용 회로(20)의 동작특성 테스트는 회로 출력단(50)에 별도의 테스트용 패드(40)를 형성하여 테스트를 수행할 수 있다. 여기에서, 테스트용 패드(40)는 화소의 장축 피치(Pitch)만큼의 거리를 두고 형성할 수 있으며, 또한, 라우팅을 이용하여 현재 콘택 타입의 테스트방법과 같이 일정부분씩 군집 형태를 만들어 형성할 수 있다. As shown in FIG. 2, the operation characteristic test of the gate driving circuit 20 may be performed by forming a separate test pad 40 on the circuit output terminal 50. Here, the test pad 40 may be formed at a distance equal to the pitch of the long axis of the pixel, and may also be formed by forming a cluster by a predetermined portion as in the current contact type test method using routing. Can be.

전자의 경우에는 셀 공정에서 스크라이빙(Scribing) 공정시 패널로부터 분리되어 제거되며, 셀 공정이 끝난 후 최종 테스트는 액티브 영역 내의 불량검출만 진행하며, 테스트용 패드(40)를 액정 패널(10) 내에 형성할 수 있는 경우에는 셀 테스트에서도 회로 동작의 불량검출도 가능하다. 그리고, 후자의 경우에는 셀 테스트시 액티브 영역에서만 불량검출이 가능하다.In the former case, the cell is separated and removed from the panel during the scribing process. After the cell process, the final test only detects defects in the active area, and the test pad 40 is removed from the liquid crystal panel 10. If it is possible to form a circuit inside the circuit, defects in circuit operation can be detected even in a cell test. In the latter case, defect detection is possible only in the active region during the cell test.

상기와 같이, 본 발명은 게이트 드라이버가 집적된 패널의 테스트를 원활하게 수행할 수 없는 종래 액정표시장치의 패널 테스트 방법과 달리, 박막 트랜지스터 제조시 액티브 영역에 화소형성과 동시에 게이트 구동 회로가 형성된 액정 패널의 불량 검출을 위해 테스트용 패턴을 형성함으로써 종래의 기술을 사용하여 액정 패널의 불량검출을 수행할 수 있다.As described above, the present invention is different from the panel test method of the conventional liquid crystal display device in which the gate driver is not able to perform the test of the integrated panel smoothly. Defect detection of the liquid crystal panel can be performed using a conventional technique by forming a test pattern for detecting a defect of the panel.

또한, 본 발명에 따라 게이트 구동회로의 동작 특성과 관련된 불량검출은 게이트 구동 회로의 출력단에 별도로 형성된 출력패드를 통해 수행할 수 있다.In addition, according to the present invention, the defect detection associated with the operating characteristics of the gate driving circuit may be performed through an output pad formed separately at the output terminal of the gate driving circuit.

이상, 본 발명을 몇 가지 예를 들어 설명하였으나, 본 발명은 이에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 사상에서 벗어나지 않으면서 많은 수정과 변형을 가할 수 있음을 이해할 것이다.In the above, the present invention has been described with reference to some examples, but the present invention is not limited thereto, and a person of ordinary skill in the art may make many modifications and variations without departing from the spirit of the present invention. I will understand.

이상에서와 같이, 본 발명에 의하면, 박막 트랜지스터 제조시 액티브 영역에 화소형성과 동시에 테스트용 패턴을 형성함으로써 종래의 기술을 사용하여 액정 패널의 불량검출을 수행할 수 있으며, 게이트 구동회로의 동작 특성과 관련된 불량검출은 게이트 구동 회로의 출력단에 별도로 형성된 출력패드를 통해 수행할 수 있다.As described above, according to the present invention, defect formation of a liquid crystal panel can be performed using a conventional technique by forming a test pattern simultaneously with pixel formation in an active region when manufacturing a thin film transistor, and operating characteristics of a gate driving circuit. Defect detection associated with may be performed through an output pad formed separately at the output terminal of the gate driving circuit.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 패널을 테스트하기 위한 도면. 1 is a view for testing a panel of a liquid crystal display according to an embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 액정 패널의 출력단에 별도의 패드를 형성하여 회로의 동작 특성을 테스트 하기 위한 도면.2 is a view for testing the operation characteristics of the circuit by forming a separate pad at the output terminal of the liquid crystal panel according to an embodiment of the present invention.

*도면의 주요 부분에 대한 부호 설명** Description of symbols on the main parts of the drawings *

10 : 액정 패널 20 : 게이트 구동용 회로10 liquid crystal panel 20 gate driving circuit

30, 40 : 테스트용 패드 50 : 출력단30, 40: test pad 50: output terminal

Claims (5)

아모포스 비정질 실리콘(a-Si)으로 형성된 채널을 구비하는 박막 트랜지스터및 액정 패널 내에 형성되어 쉬프트 레지스터의 기능을 수행하며 테스트 장비로부터 신호를 인가받는 게이트 구동 회로를 포함하며, 액정 패널의 불량 검출을 위한 액정표시장치에 있어서,A thin film transistor having a channel formed of amorphous amorphous silicon (a-Si) and a gate driving circuit formed in a liquid crystal panel to perform a function of a shift register and receiving a signal from a test equipment, and to detect failure of the liquid crystal panel. In the liquid crystal display device, 상기 박막 트랜지스터시 제조시 화소형성과 동시에 테스트용 패턴을 구비하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.And a pattern for testing simultaneously with pixel formation during manufacturing of the thin film transistor. 제 1 항에 있어서, 상기 게이트 구동 회로의 출력단에 각각 별도의 테스트용 패드를 구비하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.2. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein separate test pads are provided at output terminals of the gate driving circuit. 제 2 항에 있어서, 상기 테스트용 패드는 화소의 장축 피치(Pitch)만큼의 거리를 두고 형성하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.The liquid crystal display device according to claim 2, wherein the test pads are formed at a distance equal to the pitch of the major axis of the pixel. 제 2 항에 있어서, 상기 테스트용 패드는 라우팅을 이용하여 일정부분씩 군집 형태로 형성하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.The liquid crystal display device according to claim 2, wherein the test pads are formed in a cluster form by a predetermined portion by routing. 제 2 항에 있어서, 상기 테스트용 패드는 셀 공정 후 제거하거나 또는 셀 공정 후 액정 패널 내에 잔존하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.The liquid crystal display device according to claim 2, wherein the test pad is removed after the cell process or remains in the liquid crystal panel after the cell process.
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