KR20050103595A - 인쇄회로기판 시험기용 위치 정렬구조 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 어뎁터 및 그리드 카세트를 구성하는 보드 간의 상대적인 위치를 손쉽고 정확하게 정렬할 수 있도록 함으로서 시험의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 인쇄회로기판 시험기용 위치 정렬구조에 관한 것으로,
본 발명에 따른 인쇄회로기판용 위치 정렬구조는, 다수의 보드로 형성되어 탐침이 설치되는 그리드 카세트와, 다수의 보드가 소정 거리 이격되게 배치되어 구성되며, 기판 안내핀에 안착되는 시험대상 인쇄회로의 각각의 시험 포인트를 상기 그리드 카세트의 탐침에 전기적으로 연결하는 연결핀이 설치되는 어뎁터를 구비하는 인쇄회로기판 시험기에 있어서, 상기 그리드 카세트 및 어뎁터를 구성하는 보드 중 적어도 어느 하나의 보드에 중심 위치를 달리하는 다수의 정렬 기준공으로 구성되는 정렬 기준부가 형성되어 있으며, 상기 정렬 기준부가 형성되어 있는 보드에 대해 상대적인 위치가 정렬되는 보드에는, 상기 정렬 기준공 각각에 대응되는 정렬공으로 구성되는 정렬부가 형성되되, 대응되는 정렬 기준공과 정렬공 각각의 중심점이 서로 다른 위치 편차를 갖도록 형성되어 있어서, 상기 정렬 기준공과 정렬공을 관통하여 삽입되는 정렬핀의 삽입 위치에 따라 상기 보드 사이의 상대적인 위치가 변경되는 것을 특징으로 한다.

Description

인쇄회로기판 시험기용 위치 정렬구조{Alignment Structure for Boards of printed Circuit Board}
본 발명은 인쇄회로기판 시험기용 위치 정렬구조에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 그리드형 인쇄회로기판 시험기에 있어서 어뎁터 및 그리드 카세트를 구성하는 보드 간의 상대적인 위치를 손쉽고 정확하게 정렬할 수 있도록 함으로서 시험의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 인쇄회로기판 시험기용 위치 정렬구조에 관한 것이다.
전자회로의 진단 또는 유지 보수를 위한 각종 시험을 수행하기 위해서는 회로의 수많은 시험 포인트에 신호를 가하거나 이들로부터 출력되는 신호를 수신하여 분석하여야 하는 바, 최근 들어 인쇄회로 기판의 회로 패턴 불량 여부를 자동적으로 시험할 수 있는 인쇄회로기판 시험기가 개발되어 다량의 인쇄회로기판을 단시간에 정확히 테스트하는 데 기여하고 있으며, 다양한 인쇄회로기판에 대해 범용으로 사용할 수 있는 그리드형 인쇄회로기판 시험기(Grid-type Printed Circuit Board Tester)가 일반적으로 사용되고 있다.
도 1은 그리드형 인쇄회로기판 시험기의 작동 원리를 설명하기 위한 개념도로, 그리드 카세트(110)에는 스프링에 의해 지지되어 있는 탐침(111; Test Probe)이 2차원 격자상으로 조밀하게 배치되어 있으며, 인쇄회로기판의 각각의 시험 포인트(131)와 그리드 카세트(110)의 탐침(111)을 연결하는 연결핀(121; Translator Pin)이 설치되어 있는 어뎁터(120; "Translator Fixture"라고도 함)가 시험 대상 인쇄회로기판(130)과 그리드 카세트(110; Grid Cassette) 사이에 배치된다
각각의 탐침(111)은 스위치(141)를 매개로 시험 분석기(140)에 연결되어 있어서, 스위치(141)의 온/오프에 따라 연결되는 시험 포인트 사이의 단락 등과 같은 전기적 특성을 시험하게 된다.
도 2는 그리드형 인쇄회로기판 시험기의 일례를 좀 더 구체적으로 나타낸 도면으로, 양면 인쇄회로기판을 시험할 수 있도록 하기 위해 그리드 카세트(110a, 110b)와 어뎁터(120a, 120b)가 인쇄회로기판(130)을 중심으로 상하에 각각 배치되는 예를 나타내는 바, 그리드 카세트나 어뎁터는 유리섬유가 보강된 에폭시 수지판이나 아크릴판, 베클라이트 판 등으로 형성된 다수의 보드(Board)로 구성되며, 하부 어뎁터(120a)의 상단으로 돌출되어 있는 기판 안내핀(122)에 시험 대상인 인쇄회로기판(130)이 안치됨으로서 하부 인쇄 패턴의 시험 포인트가 하부 어뎁터(120a)에 배치된 연결핀(121)을 거쳐 하부 그리드 카세트(110a)의 탐침(111)에 전기적으로 연결되고, 상부 그리드 카세트(110b) 및 어뎁터(120b)는 상하로 슬라이드 작동되는 다이(150a, 150b)에 장착되어 있어서, 다이(150a, 150b)가 하강함에 따라 상부 인쇄 패턴의 시험 포인트가 상부 어뎁터(120b)에 배치된 연결핀(121)을 거쳐 상부 그리드 카세트(110b)의 탐침(111)에 전기적으로 연결되어 시험을 수행하게 된다.
연결핀(121)의 일측 단부는 인쇄회로기판에 조밀하게 배치된 회로 패턴에 연결되는 반면, 연결핀의 타측 단부가 연결되는 탐침(111)은 회로 분석기와의 전기적 연결을 위한 배선을 필요로 하여 그리드 카세트에 어느 정도 간격을 두고 배치되므로, 어뎁터에 설치되는 연결핀은 어느 정도 경사를 갖게 되며, 경사를 갖는 연결핀을 안정적으로 지지할 수 있도록 하기 위해, 어뎁터를 구성하는 각각의 보드는 삽입홈이 다단으로 형성되어 있는 다층 스페이서(123) 및 지지봉(124)에 의해 소정 간격 이격되게 평행으로 배치되어 결합되며, 연결핀과 탐침 사이의 전기적 접촉이 보다 원활하게 이루어질 수 있도록 그리드 카세트(110a)의 상단 보드(C1; 통상, "마스터 보드"라 칭한다)는 하단의 보드에 대해 탄성적으로 지지되어 있다.
미설명 부호 112, 125, 127는 하부 그리드 카세트(111a)와 하부 어뎁터(120a), 하부 어뎁터(120a)와 상부 어뎁터(120b), 상부 어뎁터(120b)와 상부 그리드 카세트(111b) 각각을 정렬하기 위한 가이드핀을 나타낸다.
그런데, 종래의 인쇄회로기판 시험기에 따르면, 도 3에 도시된 바와 같이, 기판 안내핀(122)이 어뎁터(120a)의 상단 보드(B1)에 설치되고, 다음 단의 보드(B2) 및 기타 하단 보드는 상단 보드(B1)에 일차적으로 고정되는 다층 스페이서(123) 및 지지봉(124)에 의해 수직 및 수평 위치를 잡으며 설치되는 바, 기판 안내핀(122)이 상단 보드(B1)에 고정되어 있어서, 상단 보드의 연결핀 지지공(121')에 대한 기판 안내핀(112)의 상대적인 위치, 다시 말해, 연결핀 지지공에 지지되어 있는 연결핀(121)에 대한 시험 대상 인쇄회로기판(130)의 상대적인 위치를 조절할 수 없었다.
기판 안내핀(122)에 안착되는 안내홈(131)의 위치나 크기가 회로 패턴에 대해 잘못 가공된 인쇄회로기판(130)이 시험 대상이 되는 경우, 오류 정도가 미세하다 할지라도 인쇄회로기판의 시험 포인트(131)가 연결핀 지지공(121')에 삽입되어 있는 연결핀(121)의 정확한 위치로부터 벗어난 상태로 시험기에 안착되므로 시험결과에 오류가 있거나 심한 경우 시험 자체가 무의미해 지는데, 전술한 바와 같이, 종래 시험기는 연결핀(121)과 시험대상 인쇄회로기판(130)의 상대적인 위치를 조절할 수 없기 때문에 안내홈(132) 가공에 오류가 있는 인쇄회로기판의 경우 시험의 신뢰성을 확보할 수 없다는 문제점이 있었다.
한편, 양면 인쇄회로기판을 시험하는 경우, 하부 회로패턴의 시험 포인트는 하부 어뎁터의 연결핀에, 상부 회로패턴의 시험 포인트는 상부 어뎁터의 연결핀에 각각 정확히 매칭되어야 하는 데, 이를 위해 종래에는 하부 및 상부 어뎁터에 각각 설치되는 가이드핀(125) 및 가이드공(126)에 의해 상하 어뎁터의 상호 위치를 정렬하였는 바, 시험기를 장시간 사용하는 경우, 가이드공이 마모되어 정확한 정렬이 이루어지지 않는 경우가 발생하게 되며, 이를 해소하기 위해 가이드공(126)의 내측에 테이핑 작업을 함으로서 마모에 따른 오차를 보정하여 시험을 수행하고 있으나 그 작업이 번거로울 뿐만 아니라 신뢰성이 높지 않다는 문제점이 있었다.
본 발명은, 전술한 종래 인쇄회로기판 시험기의 제반 문제점을 해결하기 위한 것으로, 어뎁터 및 그리드 카세트를 구성하는 보드 간의 상대적인 위치를 손쉽고 정확하게 정렬하여 인쇄회로기판의 각각의 시험 포인트를 어뎁터에 설치되어 있는 대응되는 연결핀에 정확하게 매칭시킬 수 있도록 하는 인쇄회로기판 시험기용 위치 정렬구조를 제공하는 데 그 목적이 있다.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 인쇄회로기판용 위치 정렬구조는, 다수의 보드로 형성되어 탐침이 설치되는 그리드 카세트와, 다수의 보드가 소정 거리 이격되게 배치되어 구성되며, 기판 안내핀에 안착되는 시험대상 인쇄회로의 각각의 시험 포인트를 상기 그리드 카세트의 탐침에 전기적으로 연결하는 연결핀이 설치되는 어뎁터를 구비하는 인쇄회로기판 시험기에 있어서, 상기 그리드 카세트 및 어뎁터를 구성하는 보드 중 적어도 어느 하나의 보드에 중심 위치를 달리하는 다수의 정렬 기준공으로 구성되는 정렬 기준부가 형성되어 있으며, 상기 정렬 기준부가 형성되어 있는 보드에 대해 상대적인 위치가 정렬되는 보드에는, 상기 정렬 기준공 각각에 대응되는 정렬공으로 구성되는 정렬부가 형성되되, 대응되는 정렬 기준공과 정렬공 각각의 중심점이 서로 다른 위치 편차를 갖도록 형성되어 있어서, 상기 정렬 기준공과 정렬공을 관통하여 삽입되는 정렬핀의 삽입 위치에 따라 상기 보드 사이의 상대적인 위치가 변경되는 것을 특징으로 하는 바,
본 발명에 따르면, 어뎁터 및 그리드 카세트를 구성하는 보드와 보드 사이의 상대적인 위치를 정렬핀의 삽입 위치를 변경하는 것에 의해 손쉽고 정확하게 정렬할 수 있게 되므로, 인쇄회로기판의 각각의 시험 포인트를 어뎁터에 설치되어 있는 대응되는 연결핀에 정확하게 매칭시켜 시험의 신뢰성을 향상시킬 수 있게 된다.
본 발명의 바람직한 실시예는, 상기 정렬 기준부가 시험대상 인쇄회로기판이 인접 배치되는 어뎁터 상부 보드와 상기 어뎁터 상부 보드에 고정 설치되어 있는 하부 보드에 각각 형성되며, 상기 정렬 기준부가 형성되어 있는 보드 사이에는, 상기 기판 안내핀이 설치되어 있는 보드가 위치 조절 가능하게 배치되되, 상기 기판 안내핀이 설치되어 있는 보드에 상기 정렬부가 형성되는 바,
본 실시예에 따르면, 기판 안내핀에 안착되는 안내홈의 위치나 크기가 회로 패턴에 대해 잘못 가공된 인쇄회로기판이 시험 대상이 되는 등과 같이 인쇄회로기판 하부의 시험 포인트와 어뎁터 상부 보드에 결합되어 있는 연결핀이 정확히 매칭되지 않은 경우, 정렬 기준공 및 정렬공에 대한 정렬핀의 삽입 위치를 변경하여, 어뎁터 상부 보드에 대해 기판 안내핀이 설치되어 있는 보드의 위치를 미세하게 조절함으로서 기판 안내핀에 안착되는 인쇄회로기판의 시험 포인트를 연결핀에 대해 정확히 일치시킬 수 있게 된다.
본 발명의 또 다른 실시예는, 상기 정렬 기준부가 하부 그리드 카세트의 상부 보드에 형성되고, 정렬부는 상기 하부 그리드 카세트에 인접한 어뎁터의 하부 보드에 형성되는 것을 특징으로 하는 바, 본 실시예는 양면 인쇄회로기판용 시험기에 특히 유용한 것으로,
본 실시예에 따르면, 상하부 회로패턴의 시험 포인트에 대한 상하부 어뎁터의 연결핀의 위치가 정확히 매칭되지 않는 경우, 정렬핀의 삽입 위치를 변경하는 간단한 조작으로 하부 어뎁터의 위치를 미세하게 조절함으로서, 상하부 어뎁터의 연결핀의 위치를 정확히 매칭시킬 수 있게 된다.
이하, 본 발명에 따른 인쇄회로기판 시험기용 위치 정렬 구조의 바람직한 실시예를 첨부 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 4 내지 도 7은 본 발명의 일 실시예를 나타내는 도면으로, 도 4는 각 보드 간의 작동 관계를 설명하는 단면도, 도 5는 정렬 기준부 및 정렬부가 형성되어 있는 보드의 일부 절결 사시도, 도 6a, 6b는 정렬 기준부 및 정렬부에 형성되어 있는 정렬 기준공 및 정렬공의 중심 위치의 일례를 나타내는 도면, 도 7a, 7b는 정렬핀의 삽입 위치에 따른 위치 조절 기능을 설명하는 작동 원리도를 각각 나타내는 바, 시험대상 인쇄회로기판(130)이 인접하게 배치되는 어뎁터 상부 보드(B1)와 지지봉(124)에 의해 상부 보드(B1)에 고정 설치되어 있는 하부 보드(B2)에 정렬 기준부(10, 20)가 각각 형성되어 있으며, 기판 안내핀(122)은 상부 보드(B1)와 그 하부 보드(B2) 사이에 위치조절 가능하게 배치되는 보드(BA)에 고정된다.
기판 안내핀 설치보드(BA)의 위치 이동이 가능하도록, 상부 보드(B1) 및 하부 보드(B2)에는 기판 안내핀 유동공(122")이, 기판 안내핀 설치보드(BA)에는 연결핀 및 지지봉 유동공(121", 124')이 각각 형성된다.
도 4에 도시된 실시예의 경우, 연결핀 유동공(121")이 각각의 연결핀 지지공(121')에 대응되는 위치에 이보다 약간 큰 직경으로 형성된 실시예를 나타내고 있으나, 연결핀 지지공(121') 전체의 외곽선을 감싸는 개구부가 되도록 연결핀 유동공(121")을 형성하는 것도 가능하다.
정렬 기준부(10, 20)는 상부 보드(B1)와 하부 보드(B2)의 모서리 부근 또는 변 부근에 중심 위치를 달리하여 형성되는 다수의 정렬 기준공(11, 21)으로 구성되며, 본 실시예의 경우, 직경 3.2 mm의 정렬 기준공이 보드(B1, B2)의 모서리 부분에 가로 세로 각 3 개씩 형성된 예를 나타내는 바, 도 6a에는 중앙의 정렬 기준공(11a)의 중심 좌표를 (0, 0)이라 할 때, 나머지 정렬 기준공의 위치를 x-y 좌표(단위 mm)로 나타내고 있다.
한편, 정렬부(30)는 정렬 기준공(11, 21) 각각에 대응되는 정렬공(31)으로 구성되는 데, 도 6b에 도시된 바와 같이, 정렬공(31) 각각의 중심점은 대응되는 정렬 기준공(11, 21)에 대해 미세하게 다른 위치에 형성되어, 도 7a로부터 명확하게 알 수 있듯이, 대응되는 정렬 기준공(11, 21)과 정렬공(31) 각각의 중심점은 서로 다른 위치 편차를 갖도록 형성된다.
따라서, 정렬 기준공과 정렬공을 관통하여 삽입되는 정렬핀(40)의 삽입 위치에 따라 보드 사이의 상대적인 위치가 변경되는 데, 예를 들어 도 7a에 도시된 바와같이, 중앙의 정렬 기준공(11a)와 정렬공(31a)을 관통하도록 정렬핀(40)을 삽입하여 시험하는 상태에서, 시험 결과에 오류가 있으며, 그 오류가 인쇄회로기판(130)에 가공되어 있는 안내홈(132)의 위치나 크기가 회로 패턴에 대해 잘못 가공된 데 기인한 것인 경우, 도 4에 도시된 바와 같이, 인쇄회로기판 하부의 시험 포인트(131')와 어뎁터 상부 보드(B1)에 결합되어 있는 연결핀(121)이 정확히 매칭되지 않는 데, 이 경우, 정렬 기준공(11, 21) 및 정렬공(31)에 대한 정렬핀(40)의 삽입 위치를 변경하여, 어뎁터 상부 보드(B1)에 대해 기판 안내핀 설치 보드(BA)의 위치를 미세하게 조절함으로서 기판 안내핀에 안착되는 인쇄회로기판의 시험 포인트를 연결핀에 대해 정확히 일치시킬 수 있게 된다.
예를 들어, 도 7a와 같이 정렬핀(40)이 삽입되어 있는 상태에서, 도 7b와 같이 우측 상단의 정렬 기준공(11b)와 정렬공(31b)을 관통하도록 정렬핀(40)의 삽입 위치를 변경하면, 도 7b에 이점쇄선으로 도시된 바와 같이, 기판 안내핀 설치 보드(BA)가 상부 보드(B1)에 대해 x축 및 y축의 양의 방향으로 각각 0.5mm 이동하게 되며, 따라서, 기판 안내핀 설치 보드(BA)에 고정되어 있는 기판 안내핀(122) 및 기판 안내핀(122)에 안치되어 있는 시험 대상 인쇄회로기판 역시 도 4의 화살표 방향으로 이동하게 되며, 결과적으로 인쇄회로기판의 시험 포인트(131)가 연결핀에 대해 정확히 일치되어 올바른 시험 결과를 얻을 수 있게 된다.
일반적으로, 인쇄회로기판(130)에 가공되는 안내홈(132)의 위치나 크기 공차는 로트(lot)별로 거의 일률적이기 때문에, 전술한 위치 정렬 작업을 수행하면 같은 로트의 다른 시험 대상 기판에 대해 재차 위치 정렬 작업을 수행할 필요 없이 정확한 시험 결과를 얻을 수 있음을 확인할 수 있었다.
정렬 기준공 및 정렬공의 직경이나 숫자 및 위치 편차는 본 실시예 외에도 여러 가지 다양하게 실시할 수 있음은 물론이다.
도 8은 도 2이 도시된 양면 인쇄회로기판용 시험기에 적용되는 본 발명의 다른 실시예를 나타내는 도면으로, 정렬 기준부(50)는 하부 그리드 카세트(110a)의 상부 보드(C1)에 형성되고, 정렬부(60)는 하부 어뎁터(120a)의 하부 보드(B8)에 형성되는 것을 특징으로 하는 바, 본 실시예는 직경 5.05 mm의 정렬 기준공(51) 및 정렬공(61)이 가로 세로 각 3 개씩 형성된 예를 나타내며, 도 8a와 도 8b의 원 내부의 숫자는 중앙의 정렬 기준공의 중심 좌표를 (0, 0)이라 할 때, 나머지 정렬 기준공의 중심의 위치를 x-y좌표(단위 mm)로 나타내고 있다.
본 실시예에 따르면, 상하부 회로패턴의 시험 포인트에 대한 상하부 어뎁터의 연결핀의 위치가 정확히 매칭되지 않는 경우, 정렬핀의 삽입 위치를 변경하는 간단한 조작으로 하부 어뎁터의 위치를 미세하게 조절함으로서, 상하부 어뎁터의 연결핀의 위치를 상호 정확히 매칭시킬 수 있게 된다.
정렬핀의 삽입 위치에 따른 위치 정렬 작용은 전술한 실시예와 같으므로 구체적인 설명은 생략하기로 한다.
이상 설명한 바와 같은 본 발명의 인쇄회로기판 시험기용 위치 정렬 구조에 의하면, 어뎁터 및 그리드 카세트를 구성하는 보드와 보드 사이의 상대적인 위치를 정렬핀의 삽입 위치를 변경하는 것에 의해 손쉽고 정확하게 정렬할 수 있게 되므로, 인쇄회로기판의 각각의 시험 포인트를 어뎁터에 설치되어 있는 대응되는 연결핀에 정확하게 매칭시켜 시험의 신뢰성을 향상시킬 수 있게 되며,
기판 안내핀에 안착되는 안내홈의 위치나 크기가 회로 패턴에 대해 잘못 가공된 인쇄회로기판이 시험 대상이 되는 등과 같이 인쇄회로기판 하부의 시험 포인트와 어뎁터 상부 보드에 결합되어 있는 연결핀이 정확히 매칭되지 않은 경우에도, 정렬 기준공 및 정렬공에 대한 정렬핀의 삽입 위치를 변경하여, 어뎁터 상부 보드에 대해 기판 안내핀이 설치되어 있는 보드의 위치를 미세하게 조절함으로서 기판 안내핀에 안착되는 인쇄회로기판의 시험 포인트를 연결핀에 대해 정확히 일치시킬 수 있게 된다.
또한, 양면 인쇄회로기판용 시험기에 적용하는 경우, 상하부 회로패턴의 시험 포인트에 대한 상하부 어뎁터의 연결핀의 위치가 정확히 매칭되지 않는 경우, 정렬핀의 삽입 위치를 변경하는 간단한 조작으로 하부 어뎁터의 위치를 미세하게 조절함으로서, 상하부 어뎁터의 연결핀의 위치를 정확히 매칭시킬 수 있게 된다.
도 1은 그리드형 인쇄회로기판 시험기의 작동 원리를 설명하기 위한 개념도.
도 2는 종래 그리드형 인쇄회로기판 시험기의 일례를 나타내는 단면도.
도 3은 종래 그리드형 인쇄회로기판 시험기의 주요부 확대 단면도.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄회로기판 시험기용 위치 정렬 구조에 있어서, 주요 보드 간의 작동 관계를 설명하는 단면도.
도 5는 정렬 기준부 및 정렬부가 형성되어 있는 보드의 일부 절결 사시도.
도 6a, 6b는 정렬 기준부 및 정렬부에 형성되어 있는 정렬 기준공 및 정렬공의 중심 위치의 일례를 나타내는 도면.
도 7a, 7b는 정렬핀의 삽입 위치에 따른 위치 조절 기능을 설명하는 작동 원리도.
도 8a, 8b는 양면 인쇄회로기판용 시험기에 적용되는 본 발명의 다른 실시예를 나타내는 도면으로, 정렬 기준공 및 정렬공의 중심 위치의 일례를 나타내는 도면.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
110 : 그리드 카세트 120 : 어뎁터
130 : 시험 대상 인쇄회로기판 140: 시험 분석기
111 : 탐침 121 : 연결핀
122 : 기판 안내핀 10, 20 : 정렬 기준부
30 : 정렬부

Claims (3)

  1. 다수의 보드로 형성되어 탐침이 설치되는 그리드 카세트와,
    다수의 보드가 소정 거리 이격되게 배치되어 구성되며, 기판 안내핀에 안착되는 시험대상 인쇄회로의 각각의 시험 포인트를 상기 그리드 카세트의 탐침에 전기적으로 연결하는 연결핀이 설치되는 어뎁터를 구비하는 인쇄회로기판 시험기에 있어서,
    상기 그리드 카세트 및 어뎁터를 구성하는 보드 중 적어도 어느 하나의 보드에 중심 위치를 달리하는 다수의 정렬 기준공으로 구성되는 정렬 기준부가 형성되어 있으며,
    상기 정렬 기준부가 형성되어 있는 보드에 대해 상대적인 위치가 정렬되는 보드에는, 상기 정렬 기준공 각각에 대응되는 정렬공으로 구성되는 정렬부가 형성되되, 대응되는 정렬 기준공과 정렬공 각각의 중심점이 서로 다른 위치 편차를 갖도록 형성되어 있어서,
    상기 정렬 기준공과 정렬공을 관통하여 삽입되는 정렬핀의 삽입 위치에 따라 상기 보드 사이의 상대적인 위치가 변경되는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 시험기용 위치 정렬구조.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 정렬 기준부는, 시험대상 인쇄회로기판이 인접 배치되는 어뎁터 상부 보드와 상기 어뎁터 상부 보드에 고정 설치되어 있는 하부 보드에 각각 형성되어 있으며,
    상기 정렬 기준부가 형성되어 있는 보드 사이에는, 상기 기판 안내핀이 설치되어 있는 보드가 위치 조절 가능하게 배치되되, 상기 기판 안내핀이 설치되어 있는 보드에 상기 정렬 기준부에 대응되는 정렬부가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 시험기용 위치 정렬구조.
  3. 제 1 항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 정렬 기준부가 하부 그리드 카세트의 상부 보드에 형성되어 있으며,
    상기 하부 그리드 카세트의 정렬부에 대응되는 정렬부가 상기 하부 그리드 카세트에 인접한 어뎁터 하부 보드에 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 시험기용 위치 정렬구조.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101878906B1 (ko) * 2017-02-07 2018-07-16 최귀환 프로브핀 패킹용 파레트 세트 및 이를 이용한 프로브핀 패킹방법

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