KR20050084346A - 공구 분석 장치 및 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 예들 들면 전동 공구 상에서 사용되는 공구(50)의 분석을 위한 장치 및 방법에 관한 것이다. 공구 검출기(5)는 광 이미터(12)와 광 수신기(34)를 포함한다. 공구(50)는 이미터(12)로부터 방사되는 광의 빔(20)으로 진행될 때 상기 수신기로부터의 신호가 변화하도록 할 수 있다. 회로(32)는 수신기로부터 신호를 처리하고 신호가 사전설정된 조건과 일치하는 경우에만 출력을 생성하는 디지털 신호 처리기를 포함한다. 바람직하게는, 이러한 사전설정된 조건은 예를 들면 수신기로부터 신호의 특성 형상, 이러한 연속 신호로부터 유되는 값의 변화 또는 수신기로부터 연속 신호의 최소 또는 최대값의 변화일 수 있다.

Description

공구 분석 장치 및 방법{TOOL ANALYSIS DEVICE AND METHOD}

본 발명은 전동 공구를 사용하는 동안 공구의 분석에 사용가능한 장치 및 방법에 관한 것으로서, 특히, 공구의 위치 결정을 위한 장치 및 방법에 관한 것이지만, 이에 한정되는 것은 아니다.

빔 단절 시스템을 사용하는, 공구의 위치를 결정하기 위한 공구 설정 장치는 공지되어 있다. EP1050368 Al은 광 전송기와 수신기를 갖는 한 시스템을 상세히 나타낸다. 이 전송기는 광빔을 생성하고, 수신기는 빔의 장애물(obstruction)이 검출되는 경우에 신호를 생성하는 회로를 갖는다. 소정 레벨의 빔 장애물, 예를 들면, 50%에 도달하면, 수신기로부터의 신호 세기가 감소되어 트리거가 생성된다. 트리거는 공구가 빔 경로에 존재하는 경우에 발생한다.

절단 직경을 발견하기 위해서는 톱니 절단 공구가 회전되어야 한다. 통상, 공구는 적어도 2개의 톱니를 가지며, 그 중 한 톱니는 다른 쪽보다 클 수 있기 때문에, 이 톱니는 다른 쪽보다 큰 직경을 둘러쌀 수 있다. 공구가 빔 경로에 진입하면, 가장 큰 톱니는 임의의 지점에 있을 수 있으며, 트리거의 반복성이 변할 수 있다. 예를 들면, 1500rpm으로 회전하는 공구는 분당 6㎜에서 빔을 향해 이동하는 경우, 회전당 피드(feed)는 6÷1500, 즉, 0.004㎜일 수 있다. 따라서, 가장 큰 톱니는 회전 거리당 피드의 측면에서 임의의 장소에서 빔을 차단할 수 있기 때문에, 트리거의 반복성은 4㎛에 지나지 않을 수 있다. 측정의 회전당 피드는 공구가 빔으로 구동될 수 있고 속도를 제한하여 검출 속도를 낮춘다. 검출 속도는 전동 공구의 신속한 동작을 위해 최대화할 필요가 있으며, 반복성도 또한 최대화될 필요가 있기 때문에, 느린 피드 속도가 요구된다.

검출 속도를 증가시키는 공지된 방법 중 하나는, 공구를 공구 설정 장치를 향해 신속하게 이동시키고 일단 검출되면 후진한 후 느리게 이동하여 공구의 위치를 결정하는 것이다. 이러한 절차는 약간의 시간을 줄이지만, 여전히 비교적 시간 소모적이다.

본 발명의 실시예는 첨부 도면을 참조하여 이하 상세히 설명한다.

도 1은 빔 단절 유형(break beam type)의 공구 검출기 및 관련 컴포넌트를 나타내는 도면.

도 2는 도 1에 도시한 빔 단절 공구 검출기의 요소의 개략 표현을 나타내는 도면.

도 3은 본 발명에서 사용되는 알고리즘의 흐름도.

도 4 내지 도 8은 도 1에 도시한 검출의 사용동안 생성되는 신호의 간이 그래픽 표현을 나타내는 도면.

도 9 내지 도 14는 도 1에 도시한 유형의 검출기의 사용동안 획득된 시간별 광 수신기의 실체 출력을 나타내는 그래프.

본 발명의 일 양태에 따르면, 광 이미터와 광 수신기를 포함하는 전동 공구에서 사용되는 공구 분석 장치를 제공하되, 상기 광 수신기는 상기 이미터로부터 광을 수신하여 수신된 광량을 나타내는 신호를 생성하는데 사용되며, 상기 장치는 상기 수신기에 의해 생성된 신호의 수치 표현을 갖는 데이터를 제공하는 컨버터를 더 포함하고, 이 데이터를 처리하여 데이터가 사전설정된 조건에 일치하는 경우 출력을 생성하는 프로세서를 또한 포함한다.

상기 프로세서는 알고리즘에 따라 데이터를 처리하도록 동작하는 디지털 신호 처리기(DSP)일 수 있다.

본 발명의 제2 양태에 따르면, 전동 공구에서 사용되는 공구 분석 장치의 광 수신기 상에 투사하는 광으로부터 생성된 아날로그 신호를 처리하는 방법을 제공하되, 상기 아날로그 신호를 그 신호를 나타내는 수치 형태를 갖는 데이터로 변환하는 단계; 및 알고리즘에 따라 상기 데이터를 처리하는 단계를 포함한다.

바람직하게는, 상기 방법은 상기 데이터가 사전설정된 조건에 일치하는 경우 알고리즘에 의해 지시될 때 출력 신호를 생성하는 단계를 더 포함한다.

바람직하게는, 상기 방법은 DSP를 사용하여 데이터를 처리하고 이 알고리즘은 DSP 내에서 실행된다.

두 양태에 따르면, 상기 사전설정된 조건은, 상기 광 수신기에 투사하는 광이 예를 들면 공구의 톱니가 상기 광 수신기에 투사하는 광 안팎으로 일시 이동하도록 변경되거나, 일정 패턴에 일치하는 일련의 이러한 이벤트의 경우에 획득되는 데이터일 수 있다. 상기 패턴은 이러한 광량의 편차 또는 이들 편차 크기의 한정가능한 변화, 예를 들면, 하나의 편차로부터 다음 편차로의 크기 감소 또는 최대 다음에 최소 그리고 다른 최대값의 크기상 감소일 수 있다.

도 1은 빔 단절 유형의 공구 검출기(5)를 나타낸다. 검출기는 머신 제어기(56), 공구(50), 공구 홀더(52), 및 가능하게는 자동 공구 교환기(54)를 갖는 컴퓨터 제어 전동 공구(통상, CNC로 불림)에서 사용하기 적합하다.

공구 검출기(5)는, 전송기부(10)에 있는 레이저 광 전송기(12)(이 예에서는 IR 광이 사용됨), 수신기부(30)에 있는 광 수신기(34), 및 전송기부와 수신기부를 탑재하는 베이스(40)를 포함한다. 빔(20)은 사용시에 공구(50)에 의해 차단될 수 있게 생성된다. 또한, 광 수신기(34)에 의해 발생된 신호를 처리하기 위해 추가 회로(32)가 사용된다. 이 회로는 수신기부(30)에 있는 것으로 도시되어 있지만, 이의 일부 또는 전부가, 예를 들면 PC 인터페이스 카드로서, 검출기로부터 분리될 수 있다. 도 2는 회로(32)를 보다 상세히 나타낸다. 광 검출기(34)로서 포토다이오드가 사용된다. 포토다이오드로부터의 아날로그 신호는 증폭기(31)에서 증폭된 후, 아날로그 디지털 컨버터(A/D, 33)에 의해 샘플링된다. 샘플링 레이트는 대략 45㎑이지만, 반드시 이 값일 필요는 없다. 샘플은 디지털 신호 처리기(DSP)에 의해 요구되며, 이 처리기는 각 루프에서 하나의 샘플을 요구하는 연속 루핑 알고리즘을 실행한다. DSP는 병렬 처리가 가능하여 그 작업을 매우 신속하게 수행한다. 사용된 알고리즘은 도 3에 나타낸 단계를 수행하며 리셋될 수 있다. 실제, 배경 잡음이 존재할 수 있으며, 이는 DSP에 의해 샘플링될 수 있다. 광빔이 예를 들면 공구에 의해 차단될 때, 수신기(34)로부터의 신호는 변할 수 있으며, 이에 따라 또한 샘플링될 수 있다. 알고리즘은 데이터가 사전설정된 조건과 일치하는 경우 출력을 야기할 수 있다.

공구 검출 이전에, 교정 핀은 검출기에 의해 검출된다. 검출될 공구과 유사한 크기의 핀이 CNC에서 동작하는 프로그램에 의해, 대략 4㎜/sec의 피드 레이트(feed rate)로 빔(20)으로 이끌리게 된다. 이 핀은 회전하거나 회전하지 않을 수 있다. 광 수신기 출력은 도 4에 도시된 것과 유사한 곡선을 따를 것이다. 이 그래프는 전압(V) 대 시간으로 수신기 출력을 나타낸다. 직선(n)은 어떤 빔 장애물도 없이 수신기 출력의 공칭 상위 전압(nominal upper voltage)을 나타낸다. 핀이 빔쪽으로 이끌림에 따라, 회절로 인해 출력(V)에서의 진동이 관측되며, 이에 따라 빔으로부터 보다 적은 광이 수신기에 투사함에 따라, 전압은 곡선(c)을 따라 감소하여 결국에는 제로까지 떨어진다. 특히, 빔이 차단되기 시작함에 따라 전압의 현저한 증가(p)가 관측된다. 이 교정 동안의 전압은 DSP에 의해 처리되며 광 수신기(34)의 아날로그 출력을 나타내는 디지털 정보로 변환된다. 이 곡선은 DSP의 메모리에서 디지털 표현으로서 저장되며 이하 교정 곡선(c)이라 부른다. 하나 이상의 곡선이 저장될 수 있다.

공구(50)가 회전하는 동안 핀과 대략 동일한 피드 레이트로 빔속으로 이끌릴 때, 톱니가 빔의 일부를 일시적으로 차단할 수 있으며, 이들 톱니는 도 5에 도시한 바와 같이 수신기(34)로부터 신호의 전압 편차(s)를 야기한다.

도 5에 나타낸 편차의 최소값과 최대값은 대략 교정 곡선(c) 상에 놓일 수 있음을 알 수 있다. 도 5에 도시한 그래프는 이상적인 형태이며, 실제로는, 도시된 것보다 훨씬 많은 간섭 또는 잡음이 관측된다. 그러나, 도시한 전압 편차는 잡음에도 불구하게 존재할 수 있다. 간략하게 나타내기 위해, 편차는 거의 도시되어 있지 않지만, 실제로는, 예시된 것보다 공구가 훨씬 빨리 회전할 수 있기 때문에 도시된 것보다 매우 클 수 있으며, 결과적으로 빔에 대한 보다 많은 간섭이 관측될 수 있다. 또한, 이들 추가 편차는 대략 교정 곡선(c) 상에 있게 되는 최소값과 최대값을 가질 수 있다.

본 편차는 공구 유형에 따라 형상이 상이할 수 있지만, 최소값과 최대값은 여전히 교정 곡선(c) 상에 놓일 수 있다.

다른 편차 세트가 도 6에 도시되어 있다. 이 그래프는 한 개의 톱니가 다른 톱니보다 크게 되는 두 개의 톱니 절단 공구가 빔에 이끌리는 경우 획득되는 전압 편차를 나타낸다. 이 경우, 두 집합의 전압 편차(s 및 s')가 형성되며, s'는 s보다 지연된다. 이들 집합(s 및 s') 각각은 각각의 교정 곡선(c 또는 c') 중 하나에 놓이는 최소값과 최대값을 갖는다.

또다른 편차 집합이 도 7에 도시되어 있다. 편차(s) 뿐만 아니라, 이 그래프는 빔(20)이 머신 윤활제 또는 잘라낸 부스러기(swarf)와 같은 재료에 의해 차단된 경우에 발생하는 윤활제 드립(drip; d) 등을 나타낸다. 이들 스퓨리어스 신호(d)는 임의의 패턴 또는 곡선을 따르지 않고 랜덤하게 발생한다.

도 5, 도 6 및 도 7 각각에서, DSP에서 처리되는 전압 편차의 인식가능한 집합을 위해 배경 잡음과 스퓨리어스 신호(d)가 무시된다.

이하, 본 발명의 실시예에서, 광 수신기로부터의 전압 신호는 도 2에서 개략적으로 도시한 회로를 사용하여 조건이 지정된다. 신호 증폭기(31)는 아날로그 신호를 증폭하여 이를 A/D(33)에 전달한다. 이 예에서 A/D는 96 ㎑ 샘플 레이트에서 동작할 수 있지만 도 3에 나타낸 바와 같이 다운스트림 DSP(35)에 의해 각 샘플을 수집하도록 구동된다. 일단 처리되면, 샘플링된 신호는 예들 들면 공구의 에지가 발견되었음을 나타내도록 트리거 스위치(37)의 형태로 출력을 활성화하는데 사용될 수 있다.

이 예에서, 상기 사전설정된 조건은, 빔이 공구에 의해 차단될 때 얻어지는 데이터이다.

DSP에 의해 디지털화된 신호의 처리는 여러 방식으로 수행될 수 있다. DSP는 매우 고속이고 실시간으로 데이터를 처리하여 짧은 응답 시간을 가능하게 하기 때문에 이러한 처리를 실행하는 이상적인 장치이다.

샘플링된 데이터를 처리하는 방법 중 하나는 다항식, 예를 들면, 도 4에 도시한 교정 곡선(c)에 대한 입체 표현을 유도하는 단계, 및 이 곡선에 대하여 장치의 사용시에 획득되는 전압 편차의 최소값과 최대값을 허용치 내에서 피팅하는 단계를 포함한다. 소정 기간 내에서 곡선에 피팅하는 4개의 최소값과 최대값(보다 많은 것이 사용될 수 있음)이 식별되면, DSP는 스위치(37)에 트리거 신호에 전송하여 24v 스킵 신호가 머신 제어기(56)에 발행될 수 있다. 머신 제어기는 이 신호를 사용하여 공구 에지의 위치와 이에 의한 와 이의 유효 절단 경로를 결정한다.

다르게는, 대략 직선 또는 다항식은 이 선에서 포인트로서 최소값을 사용하여 생성될 수 있다. 어떤 교정 곡선(들)도 필요하지 않지만, 임계치가 미리 결정될 수 있으며, 이 직선 또는 다항식 선(polynomial line)이 임계치와 교차(또는 외삽될 때 교차)하도록 계산되는 경우 트리거 신호가 생성될 수 있다. 또한, 라인 생성에 필요한 계산은 DSP에서 수행될 수 있다. 추정된 임계치 교차점의 정확성은 최소 개수 이상의 포인트가 사용되는 경우 개선될 수 있다. 경사도(gradient)법은 최소값과 최대값을 결정하여 임계치를 결정하는데 사용될 수 있다. 증가(p)는 필요시 임계치 교차를 예측하는데 사용될 수 있다.

빔에 대한 드립 또는 유사한 장애물은 상술한 기술의 사용 동안 오류 판독을 야기할 수 있다. 다수의 방식에서 이들 오류 판독이 무시될 수 있다. 이러한 방식 중 하나는 수신기(34)에서 주기적인 전압 편차를 관측한 후 다른 편차가 예측되는 시점 근방에서 시구간을 개방하는 것이다. 이 구간에서만 신호의 디지털화가 발생할 수 있다. 따라서, 이 기간 동안 발생하는 드립의 확률은 상대적으로 작을 수 있다.

드립 등을 거부하는 다른 방식은 소정 곡선에 대한 다음 연속값이 예측되는 범위 밖에 최소값과 최대값이 놓이는 임의의 전압 편차를 거부하는 것이다.

샘플링 데이터의 처리에 대한 상기 예는 축 상의 빔에 이끌린 경우 회전하지 않는 것으로 나타날 수 있는 회전 드릴 등의 길이를 검출하는 등의 비회전 또는 회전 공구 검출에 사용될 수 있다.

회전 공구의 에지로부터 샘플링된 데이터를 처리하는 다른 방법은 구별되는 특징을 갖는 전압 편차를 찾는 것이다. 이러한 전압 편차 중 하나의 세부사항은 도 8에 도시되어 있다. 특정 신호에 대하여, 절단 공구 톱니가 빔을 차단한 경우 전압 편차는 광학 효과에 의해 발생한 고유 형상을 갖는다. 이 형상은 회전 부분이 빔에 진입하여 떠나는 경우에만 발생한다. 이러한 고유 형상은 DSP에서 알고리즘을 동작하여 검출될 수 있다. 이 알고리즘은 비교적 높은 진폭 최대값(h) 후에 비교적 높은 진폭 최소값(s) 그 후 비교적 높은 진폭 최대값(h)을 검색할 수 있다. 이 편차의 최소값과 후속의 유사한 편차의 최소값은 톱니 에지 편자로서 식별될 수 있으며, 이에 따라 다항식으로 피팅될 수 있는 곡선을 형성하는데 사용될 수 있다. 어떤 조정 곡선(들)도 이 방법에 필요하지 않다.

상술한 특성 형상은 상술한 최소-최대-최소값 뿐만 아니라 최대-최소-최대값일 수 있다.

회전 공구를 검출할 때 드립을 거부하는 방법은 예측된 고유 특성, 즉, 예를 들면 도 8에 도시한 바와 같이 최소-최대-최소값 또는 최대-최소-최대값을 갖지 않는 전압 편차를 무시하는 것이다.

공구의 위치를 결정하는 상술한 기술은 톱니가 빔을 차단할 때 발생하는 전압 편차(s)의 최소값과 최대값의 계산에 의존한다. 사용될 수 있는 최소값 또는 최대값의 한 측의 포인트로부터 곡선의 제로 경사부를 추정하는 공지된 기술은 여러개가 있다.

도 9는 도 1에 도시한 유형의 공구 검출기 출력에서 샘플링된 실제 신호의 그래프를 나타낸다. 이 그래프에서, V 축을 따른 1칸은 1볼트를 나타내고 시간축에 따른 1칸은 대략 25㎳를 나타낸다.

조정 핀은 빔으로 이끌리어 도 4에서 간략화된 형태로 도시한 특성 곡선(c)을 야기한다. 정상 전압(n)은 5.5v이고 수신기 전압은 완전 차단된 경우에 제로로 떨어진다.

도 10은 공구 검출기의 출력으로부터 샘플링된 실제 신호의 그래프를 나타내다. 이 그래프에서, 회전 공구(12㎜ 슬롯 드릴)은 검출기 빔에 이끌리며 이의 톱니는 빔을 차단할 때 신호를 생성한다. 이 그래프 칸들은 1볼트와 120㎳를 나타내다. 그래프 상에 겹쳐지면 곡선(c)은 도 9의 곡선(c)과 유사하다.

곡선을 따른 포인트 F11 내지 F14에서 데이터 플롯의 여러 통상의 형상이 도 10 내지 도 14에서 보다 상세히 각각 도시되어 있다. 도 11 내지 도 14에서 도시한 그래프 각각에서, 한 칸은 0.5v이고 대략 5㎳를 나타낸다.

도 12에서, 차단 신호는 여전히 진동 단계에 있으며, 최소-최대-최소 형상을 갖는다. 도 12에서, 트로프(trough)는 최대값에서 구현되고 이에 따라 최소, 최대, 최소, 최대, 최소 형상이 구현된다. 도 13에서, 이 중간 트로프는 점점 커지게 된다. 도 14에서, 트로프는 다른 신호보다 크다. 도 14에서의 신호는 인식될 수 있고 다른 스퓨리어스 신호로부터 구분될 수 있는 고유 형상을 갖는 상술한 최대-최소-최대 신호이다.

이들의 회전 축을 따라 빔으로 이끌리는 공구, 예를 들면, 팁으로 이끌리는 드릴은 우선 이러한 특성 "c" 형상을 갖는다.

따라서, DSP에서 알고리즘에 의해 검출된 전압 편차는 공구가 빔으로 진행됨에 따라 발생함을 알 수 있다. 상술한 바와 같이, 샘플링된 데이터는 트리거 포인트를 결정하는데 사용될 수 있는 여러 방식이 있다.

도 8에 도시한 최대-최소-최대 신호는 공구를 빔으로 이동함에 따라 점진적으로 변화한다. 공구가 빔으로 진행함에 따라 최대-최소-최대의 최대값의 정상들 사이에 시간(t)이 증가한다. 시간(t)은 도 5에서 t1, t2, t3, t4 및 t5 등으로 도시되어 있다. 이러한 증가(또는 공구가 빔을 떠나는 경우에는 감소)는 DSP에 의해 결정되어 공구가 빔에 관련되는 위치를 결정하는데 사용될 수 있다. 따라서, 도 8에 도시한 인식가능한 최대-최소-최대 신호에 대하여, 특정 시간(t)이 도달한 경우 트리거 임계치가 설정될 수 있다. 공구가 진행됨에 따라 t의 증가 속도가 증가하면, 빔에 대한 공구의 기지의 속도로, 공구 형상과 같은 공구 특성을 결정할 수 있다. t의 변화가 공구의 해당 이동 동안에 결정되면, 일정한 공구 각속도로, 공구의 직경이 결정될 수 있다.

빔에서 공구 또는 장애물이 빔에 진입할 때 회전하지 않는 경우에도, 도 4 내지 도 14에 도시한 곡선(c)이 알려진 고유 형상을 따른다. 따라서, 예를 들면 이러한 형상은 점진적 최소값을 결정함으로써(도 8에서 s), 이러한 형상은 DSP에서 알고리즘에 의해 검출될 수 있다. 교정 곡선(도 4에서 c)은 이 곡선이 인식가능한 최소값 경로를 따를 수 있기 때문에 공구 분석 이전에 생성되는 것이 반드시 필요한 것은 아니다.

따라서, 수신기(34)에서 유도된 데이터 가 빔(20)에 존재하는 공구를 나타내는 사전설정된 조건에 일치할 수 있는 여러 방식이 있음을 알 수 있으며: 예를 들면,

특성 프로파일을 갖는 최대, 최소, 최대와 같은 다수의 반복 신호;

곡선(c)의 형상은 교정 곡선에 일치하거나 예측된 형상을 가질 수 있다;

시간(t; 도 8)은 공구 위치의 예측이 행해질 수 있도록 변할 수 있다; 또는

연속 피크(h; 도 8)가 마주칠 수 있다.

DSP는 상술한 실시예에서 사용되었지만, 많은 대안이 존재한다. 디지털화된 신호의 처리는 예를 들면, 필드 프로그래머블 게이트 어레이, 애플리케이션 특정 집적 회로 또는 범용 마이크로프로세서, 예를 들면, PIC 또는 PC 기반 시스템을 사용하여 실행될 수 있다.

공구 검출기는 빔 단절 형으로서 도시되어 있지만 반사형일 수도 있다.

공구의 임의의 에지는 예를 들면 측면 또는 말단에서 검출될 수 있다. 통상, 조정 곡선은 검출되어야 하는 각 에지에 대하여 생성될 수 있지만, 이러한 곡선은 에지 검출에 대하여 반드시 필요한 것은 아니다.

그래프는 통상 광 수신기의 전압 출력을 나타내지만 임의의 다른 변수가 사용될 수 있다. 특히, 매우 작은 공구가 검출되어야 하는 경우 그리고 단지 빔의 일부가 차단되는 경우에는 전압 등은 제로로 완전히 떨어지지 않을 수 있다.

공구가 빔 밖으로 나올 뿐만 아니라 빔으로 진입하는 경우에 검출이 행해질 수 있다. 이러한 상황에서, 상술한 효과가 반전될 수 있다. 검출되어야 하는 공구 또는 다른 아이템은 검출되기 위해서 회전할 필요는 없다.

상술한 바와 같이, 전압 편차 또는 변수의 편차의 최소값과 최대값은 곡선에 피팅되거나 또는 라인을 그리는데 단순히 사용될 수 있다. 어느 경우이든, 전압(등) 임계치에 등가인 트리거 포인트가 설정될 수 있다.

Claims (12)

1. 광 이미터와 광 수신기를 포함하는 전동 공구에서 사용하기 위한 공구 분석 장치로서, 상기 광 수신기는 상기 이미터로부터의 광을 수신하고 수신된 광량을 나타내는 신호를 생성하는 것인, 상기 공구 분석 장치에 있어서,

   상기 수신기에 의해 생성된 신호의 수치 표현을 갖는 데이터를 제공하기 위한 컨버터(converter); 및

   상기 데이터를 처리하여 상기 데이터가 사전설정된 조건에 일치하는 경우 출력을 생성하기 위한 프로세서(processor)를 포함하는 공구 분석 장치.
2. 제1항에 있어서, 상기 사전설정된 조건은, 상기 수신기에서 수신되는 상기 이미터로부터의 광이 증가한 후에 상기 광이 감소하고 그 후 다시 증가하는 사건이 한 번 이상 발생하는 것을 나타내는 데이터인 것인, 공구 분석 장치.
3. 제1항에 있어서, 상기 사전설정된 조건은, 상기 이미터에서 발생되어 상기 수신기에서 수신된 광의 연속적 감소를 나타내는 데이터로서, 그 최소값은 상기 프로세서에 의해 예측된 유형의 곡선에 실질적으로 일치하는 것인, 공구 분석 장치.
4. 제1항에 있어서, 상기 사전설정된 조건은, 상기 수신기에서 수신되는 상기 이미터로부터의 광량이 증가 또는 감소하는 사건의 발생들간의 시간적 변화를 나타내는 데이터인 것인, 공구 분석 장치.
5. 제1항에 있어서, 상기 사전설정된 조건은, 상기 이미터로부터의 예상되는 레벨 이상의 레벨로 상기 수신기에서 수신되는 상기 이미터로부터의 광의 증가를 나타내는 데이터인 것인, 공구 분석 장치.
6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 프로세서는 알고리즘에 따라 연속적으로 상기 데이터를 처리하도록 동작하는 디지털 신호 처리기인 것인, 공구 분석 장치.
7. 전동 공구용의 공구 분석 장치의 광 수신기 상에 투사되는 광으로부터 발생하는 아날로그 신호를 처리하기 위한 방법에 있어서,

   상기 아날로그 신호를 상기 신호를 나타내는 수치 형태를 갖는 데이터로 변환하는 단계; 및

   알고리즘에 따라 상기 데이터를 처리하는 단계를 포함하는, 아날로그 신호 처리 방법.
8. 제7항에 있어서, 상기 방법은, 상기 데이터가 사전설정된 조건에 일치할 때 상기 알고리즘에 의해 지시되는 경우 출력 신호를 생성하는 단계를 더 포함하는 것인, 아날로그 신호 처리 방법.
9. 제8항에 있어서, 상기 사전설정된 조건은, 상기 수신기에서 수신되는 상기 이미터로부터의 광이 증가한 후에 상기 광이 감소하고 그 후 다시 증가하는 사건이 한 번 이상 발생하는 것을 나타내는 데이터인 것인, 아날로그 신호 처리 방법.
10. 제8항에 있어서, 상기 사전설정된 조건은, 상기 이미터에서 발생되어 상기 수신기에서 수신된 광의 연속적 감소를 나타내는 데이터로서, 그 최소값은 상기 프로세서에 의해 예측된 유형의 곡선에 실질적으로 일치하는 것인, 아날로그 신호 처리 방법.
11. 제8항에 있어서, 상기 사전설정된 조건은, 상기 수신기에서 수신되는 상기 이미터로부터의 광량이 증가 또는 감소하는 사건의 발생들간의 시간적 변화를 나타내는 데이터인 것인, 아날로그 신호 처리 방법.
12. 제8항에 있어서, 상기 사전설정된 조건은, 상기 이미터로부터 예측되는 레벨 이상의 레벨로 상기 수신기에서 수신되는 상기 이미터로부터의 광의 증가를 나타내는 데이터인 것인, 아날로그 신호 처리 방법.