KR20050080724A - 편광판용 테스팅 방법 - Google Patents
편광판용 테스팅 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20050080724A KR20050080724A KR1020040075142A KR20040075142A KR20050080724A KR 20050080724 A KR20050080724 A KR 20050080724A KR 1020040075142 A KR1020040075142 A KR 1020040075142A KR 20040075142 A KR20040075142 A KR 20040075142A KR 20050080724 A KR20050080724 A KR 20050080724A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- polarizer
- filter
- passing
- testing
- concave lens
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N2021/9513—Liquid crystal panels
Abstract
편광판용 테스팅방법은 다음과 같은 두 가지 타입의 테스팅을 포함한다: 빛의 선택빔이 필터, 편광기, 오목렌즈 또는 필터, 거울, 오목렌즈 및 마지막으로는 광학렌즈까지 통과하며; 상기 샘플은 만약에 불량품을 양품과 판별하기 위하여 광학 구역에서 쉐이드(shade)의 임의의 변형물이 존재하는지를 확인할 수 있도록 z-축을 따라 회전된다. 상기 방법을 적용함으로써, 상기 샘플에서의 그늘짐이 육안으로 확인되고; 체크된 결과가 공장 소유자에게 반영될 수 있다. 상기 테스트 비용은 저렴하고 단지 값싼 도구만이 필요하다. 또한, 추가로 편광판의 처리공정이 불필요하다.
Description
본 발명은 편광판용 테스팅 방법에 관한 것이다. 상기 방법은 빛의 선택빔이 필터, 편광기, 오목렌즈 또는 필터, 거울, 오목렌즈 및 마지막으로는 광학렌즈까지 통과하는 공정을 포함하는데, 이때 상기 광학 필름은 만약에 불량품을 양품과 판별하기 위하여 광학 구역에서 쉐이드(shade)의 임의의 변형물이 존재하는지를 확인할 수 있도록 z-축을 따라 회전된다.
편광 코팅 공정에 있어서, 사전-체크가 제품의 결함을 방지함과 동시에 광코팅의 새로운 재질을 공급하기 위하여 필요하다. 그러나, 육안으로 탐지할 수 없는 코팅에서의 돌기와 같은 몇 가지 결함들이 있다. 상기 돌기는 편광 코팅이 불균일한 두께를 갖게 하고, 편광코팅이 반 완성된 상태로 전처리될 때까지는 육안으로 분명하게 탐지되지 않아서, 생산 단가를 증가시킨다.
광코팅이 반-완성된 상태로 전처리될 때, 전송한 편광빔을 크로싱함에 의한 체크는 필름두께의 심각함을 확인하기 위해서 필요하다. 상기 코팅이 반-완성된 상태까지 양품과 불량품을 판별하는 것에는 비용이 적게 들기 때문에, 상기 체킹 방법을 사용하는 것이 최근의 방법이다.
광코팅의 재료를 공급하는 공장 소유자에게 결함들을 반영시키는 것은 어려움이 있다. 상기 필름 두께의 불균일성은 그 불균일성이 상기 코팅이 반-완료된 상태까지 육안으로 탐지될 수 없기 때문에 상기 공장 소유자에게 즉시 반영될 수 없다. 또한, 설명하기 어려운 불균일성에 대해 정확한 표준이 있는 것도 아니다. 결국, 공장 소유자는 상기 결함들에 대한 개선의 방법에 대한 아이디어가 없다.
본 발명의 동기는 상기에 언급된 것에 근거하지만, 불균일성을 확인하여 즉시 반영하도록 하는 것에 근거한다. 따라서, 상기 결함들을 체크하기에 많은 시간이 걸리지 않도록 해야만 한다. 가장 중요한 것은 불균일한 두께의 단점을 드러내어서, 그 불균일성이 육안에 의해 탐지될 수 있고 체킹을 위한 도구가 필요 없도록 해야 한다.
본 발명은 편광판용 테스팅 방법에 관한 것으로, 그 제 1목적은 육안에 의해 코팅물의 불균일한 두께를 탐지하기 위한 테스팅 방법을 제공하는 데 있다.
본 발명은 편광판용 테스팅 방법에 관한 것으로, 그 제 2목적은 상기 두께가 균일하고 체킹결과를 공장 소유자에게 즉시 반영시켰는 지를 확인할 수 있도록 하는 데 있다.
본 발명은 편광판용 테스팅 방법에 관한 것으로, 그 제 3목적은 테스팅 방법을 제공하는 데 있다. 상기 비용은 많이 들지 않고, 추가로 값비산 도구를 설치할 필요도 없으며, 또한 샘플 자체가 체크될 수 있다. 그러므로, 상기 체크 방법은 단순화된 절차를 가지며, 그 체크를 달성하기에는 시간도 많이 걸리지 않는다.
본 발명은 편광판용 테스팅 방법에 관한 것이다. 상기 방법은 빛의 선택빔이 필터, 편광기, 오목렌즈 또는 필터, 거울, 오목렌즈 및 마지막으로는 광학렌즈까지 통과하는 공정을 포함하는데, 이때 상기 광학 필름은 만약에 불량품을 양품과 판별하기 위하여 광학 구역에서 쉐이드(shade)의 임의의 변형물이 존재하는지를 확인할 수 있도록 z-축을 따라 회전된다.
본 발명의 다른 특징, 장점 및 이점들이 첨부된 도면들과 관련하여 서술된 다음의 설명들에 의해 분명해 질 것이다. 상기의 일반적인 설명 및 이하의 상세한 설명이 범례이지만 본 발명을 제한하는 것이 아님을 자명하다. 첨부된 도면들은 본 출원의 일부분을 구성하고 그 안에 포함되며, 상기 설명과 함께 본 발명의 원리를 일반적인 용어로 설명하는 역할을 한다. 동일한 도면부호는 상세한 설명 전반적으로 동일한 부품을 지칭한다.
본 발명은 편광된 빔이 조사된 코팅물에 임의의 쉐도우가 있는지를 확인하기 위한 테스팅 방법을 제공하는 것에 관한 것이다.
제 1실시예에 따른 공정 및 장치를 도시한 도 1 및 도 3을 참조한다. 상기 테스팅 공정은 광소스(11)를 선택하는 단계(101)에서 시작하고; 단계(102)에서, 테스팅을 위한 가장 밝은 투영 광소스(11)가 선택되었는지를 체크하고, 만약에 그렇다면, 다음 단계를 진행하고, 그렇지 않다면, 단계(101)로 되돌아가며; 단계(103)에서, 편광판의 샘플(26)을 고정하며; 단계(104)에서, 선택된 광소스(11)로부터 투사된 선택빔이 편광된 빛의 강도를 증가시키기 위하여 폴리스틸렌(PS: polystyrene) 판(12)을 통과하며; 단계(105)에서, 상기 선택빔이 PS판(12)을 통과하여 필터(13)까지 통과하고, 상기 필터(13)는 적절한 범위의 파장으로 상기 빔을 필터링하며, 상기 파장의 범위는 적색, 청색 및 녹색 빛을 포함하며; 단계(106)에서, 상기 빔을 편광시키기 위하여 상기 필터링된 빔이 편광기(14)를 통과하며; 단계(107)에서, 상기 빔을 육안에 의해 용이하게 인식하도록 확대시키기 위하여 상기 편광된 빔이 오목렌즈(15)를 통과하며; 단계(108)에서, 육안에 의해 관찰하기 위해 가장 밝은 이미지를 형성하도록 상기 광소스(11)의 초점거리를 조절하기 위해 상기 샘플(16)을 조정하며; 단계(109)에서, 상기 초점 거리가 조절되고 이미지가 가장 밝은 상태일 경우에, 상기 샘플(16)을 수직축을 따라 반시계 방향으로 회전하며; 단계(110)에서, 육안에 의해 광학 영역에서 쉐이드의 임의의 변형물이 있는지를 확인하고, 각각의 샘플(16) 자체와 스크린(17)에 투영된 이미지(18)가 관찰될 수 있으며; 만약에 쉐이드의 변형물의 분명하게 없다면, 다음 단계(111)로 진행하고, 변형물이 분명하게 있다면, 단계(112)로 진행하며; 단계(111)에서, 상기 양질의 샘플을 분류하고 단계(113)로 진행하며; 단계(112)에서, 불량의 샘플을 분류하며; 단계(113)에서 테스팅이 종료한다.
제 2실시예에 따른 공정 및 장치를 도시한 도 2 및 도 4를 참조한다. 상기 테스팅 공정은 광소스(21)를 선택하는 단계(201)에서 시작하고; 단계(202)에서, 테스팅을 위한 가장 밝은 투영 광소스(21)가 선택되었는지를 체크하고, 만약에 그렇다면, 다음 단계를 진행하고, 그렇지 않다면, 단계(201)로 되돌아가며; 단계(203)에서, 편광판의 샘플(26)을 고정하며; 단계(204)에서, 선택빔이 필터(23)까지 통과하고, 상기 필터(23)는 상기 빔을 적절한 범위의 파장으로 필터링하며, 상기 파장의 범위는 적색, 청색 및 녹색 빛을 포함하며; 단계(205)에서, 상기 필터링된 빔은 상기 빔의 오목렌즈(25)까지 진행할 수 있도록 거울(24)에 의해 반사되며; 단계(206)에서, 상기 빔을 육안에 의해 용이하게 인식하도록 확대시키기 위하여 상기 반사된 빔이 오목렌즈(15)를 통과하며; 단계(207)에서, 육안에 의해 관찰하기 위해 가장 밝은 이미지를 형성하도록 상기 광소스(21)의 초점거리를 조절하기 위해 상기 샘플(26)을 조정하며; 단계(208)에서, 상기 초점 거리가 조절되고 이미지가 가장 밝은 상태일 경우에, 상기 샘플(26)을 수직축을 따라 반시계 방향으로 회전하며; 단계(209)에서, 육안에 의해 광학 영역에서 쉐이드의 임의의 변형물이 있는지를 확인하고, 각각의 샘플(26) 자체와 스크린(27)에 투영된 이미지(28)가 관찰될 수 있으며; 만약에 쉐이드의 변형물의 분명하게 없다면, 다음 단계(210)로 진행하고, 변형물이 분명하게 있다면, 단계(211)로 진행하며; 단계(210)에서, 상기 양질의 샘플을 분류하고 단계(212)로 진행하며; 단계(211)에서, 불량의 샘플을 분류하며; 단계(212)에서 테스팅이 종료한다.
상기 테스팅 방법은 상기 필름 두께의 불균일성을 체크할 뿐만 아니라, 스크랩(scrape) 및 불균일한 코팅물이 있는지를 확인할 수 있도록 한다. 상기 방법의 다른 장점은 테스트 비용이 많지 않고, 값비싼 도구가 추가로 필요하지 않으며; 또한 편광판의 추가 공정이 불필요하고 샘플 자체가 체크될 수 있다. 그러므로, 테스팅 방법은 단순화한 절차를 가지며 체크를 달성하는데 많은 시간이 걸리지 않는다.
비록 본 발명이 특별한 실시예들을 참조하여 서술되고 묘사되었지만, 그 원리들은 당업자에게 분명해질 수많은 다른 실시예들에서 사용할 수 있다는 것은 의심할 여지가 없다. 따라서, 본 발명은 첨부된 청구범위에 의해서만 한정될 것이다.
도 1은 본 발명의 제 1양호한 실시예의 테스팅 공정;
도 2는 본 발명의 제 2양호한 실시예의 테스팅 공정;
도 3은 본 발명의 제 1양호한 실시예의 장치;
도 4는 본 발명의 제 2양호한 실시예의 장치이다.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
11 : 광소스 12 : 폴리스틸렌 판
13 : 필터 14 : 편광기
15 : 오목렌즈 16 : 샘플
17 : 스크린 18 : 이미지
Claims (8)
- S1. 광소스를 선택하는 단계;S2. 테스팅에서 투사용 광소스가 선택되었는지를 체크하여, 광소스가 선택되면 S3으로 진행하고, 그렇지 않다면 S1상태로 되돌아가는 단계;S3. 상기 편광판을 고정하는 단계;S4. 상기 선택된 광소스로부터의 빔을 편광하고 그 편광된 빔을 상기 편광판에 투사하는 단계;S5. 상기 편광판에 이미지를 형성하기 위하여 상기 편광판의 위치를 조정하는 단계; 및S6. 이미지에서 임의의 명암 변화가 있는지를 확인하기 위하여 상기 편광판을 회전시키는 단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 편광판용 테스팅 방법.
- 제 1항에 있어서,상기 편광단계는 반사와 전송으로 구성된 그룹으로부터 선택되는 것을 특징으로 하는 편광판용 테스팅 방법.
- 제 2항에 있어서, 상기 전송은,선택된 빔을 필터에 통과시키는 단계;상기 필터를 통과한 상기 빔을 편광기에 통과시키는 단계; 및상기 편광기를 통과한 빔을 오목렌즈에 통과시키는 단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 편광판용 테스팅 방법.
- 제 3항에 있어서,상기 빔이 필터를 통과하기 전에 상기 빔을 폴리스틸렌 판에 통과시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 편광판용 테스팅 방법.
- 제 3항에 있어서,상기 빔이 오목렌즈를 통과한 후에 상기 빔을 스크린에 투사하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 편광판용 테스팅 방법.
- 제 2항에 있어서, 상기 반사는,상기 선택된 빔을 필터에 통과시키는 단계;상기 필터를 통과시킨 후에 상기 선택된 빔을 미러에 의해 반사시키는 단계;상기 미러에 의해 반사된 후에 상기 선택된 빔을 오목렌즈에 통과시키는 단계; 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 편광판용 테스팅 방법.
- 제 6항에 있어서,상기 빔이 오목렌즈를 통과한 후에 상기 빔을 스크린에 투사하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 편광판용 테스팅 방법.
- 제 1항에 있어서,상기 광소스가 적색, 청색 및 녹색 빛을 포함하는 것을 특징으로 하는 편광판용 테스팅 방법.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW093103118 | 2004-02-10 | ||
| TW093103118A TWI235819B (en) | 2004-02-10 | 2004-02-10 | Testing method for polariscope |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20050080724A true KR20050080724A (ko) | 2005-08-17 |
Family
ID=35002074
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020040075142A KR20050080724A (ko) | 2004-02-10 | 2004-09-20 | 편광판용 테스팅 방법 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2005227262A (ko) |
| KR (1) | KR20050080724A (ko) |
| TW (1) | TWI235819B (ko) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106442538A (zh) * | 2016-08-22 | 2017-02-22 | 中国电子科技集团公司第四十研究所 | 一种基于偏振成像的光学元件损伤检测装置及方法 |
-
2004
- 2004-02-10 TW TW093103118A patent/TWI235819B/zh not_active IP Right Cessation
- 2004-09-20 KR KR1020040075142A patent/KR20050080724A/ko not_active Application Discontinuation
- 2004-11-01 JP JP2004317901A patent/JP2005227262A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW200526920A (en) | 2005-08-16 |
| JP2005227262A (ja) | 2005-08-25 |
| TWI235819B (en) | 2005-07-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN100380181C (zh) | 液晶显示装置的缺陷修补方法及缺陷修补装置 | |
| KR20040084734A (ko) | 다이내믹하게 프로그램 가능한 광 공간 필터링을 사용한대형의 평면 패터닝된 매체의 고 처리율 검사 방법 및 장치 | |
| JP2007327915A (ja) | フイルムの欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | |
| CN110044931A (zh) | 一种曲面玻璃表面和内部缺陷的检测装置 | |
| JP2022153463A (ja) | 表面検査のための撮像システム | |
| KR20170002220A (ko) | 편광필름의 얼룩 검사장치 | |
| KR20050080724A (ko) | 편광판용 테스팅 방법 | |
| WO1998015871A1 (fr) | Procede pour la fabrication d'affichages a cristaux liquides, instrument d'inspection optique et procede d'inspection optique | |
| KR20100058012A (ko) | 불량 검사를 위한 광학 시스템 | |
| JP4260555B2 (ja) | 光学結晶内局所構造判定方法 | |
| JP2006329715A (ja) | 劣化試験装置及び劣化試験方法 | |
| US7154601B2 (en) | Testing method for a polarizing plate | |
| JPH07270325A (ja) | 欠陥検査装置 | |
| US20050213094A1 (en) | Method and device for testing polarizers | |
| US8049860B2 (en) | Glass substrate for reflective mirror, reflective mirror including the glass substrate, glass substrate for liquid crystal panel, and liquid crystal panel including the glass substrate | |
| CN101315470A (zh) | 用于检测设备的透镜拼接方法及其系统 | |
| US7307444B2 (en) | Testing method and testing apparatus for liquid crystal panel | |
| KR102486442B1 (ko) | 편광판의 액정얼룩 검사장치 및 편광판의 액정얼룩 검사방법 | |
| EP1602911A1 (en) | Testing method for a polarizing plate | |
| EP3786621B1 (en) | Foreign material inspection system of display unit | |
| TWI672493B (zh) | 用於檢測面板斑紋的光學檢測系統及其方法 | |
| JP2009180702A (ja) | 欠陥検査装置の調整方法、欠陥検査装置の調整状態の評価方法、及びパターンの方位角の設定方法 | |
| JP3520752B2 (ja) | 液晶パネルの検査装置及び液晶パネルの検査方法、並びに投射型表示装置 | |
| JPH02189448A (ja) | 半導体の表面保護膜欠陥検出方法 | |
| KR102663684B1 (ko) | 표면 검사를 위한 이미징 시스템 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E601 | Decision to refuse application |