KR20050053790A - Film carrier tape for mounting electronic component - Google Patents

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Abstract

A film carrier tape for mounting electronic components having a large number of wiring patterns of a conductive metal formed on the surface of a long insulating film, characterized in that each wiring pattern is covered independently with a solder resist layer except for the part of connecting terminal, and the solder resist layer formed on the surface of each wiring pattern is divided into a plurality of sections. Warp can be reduced in the film carrier tape for mounting a large number of electronic components cut in the widthwise direction as with the case of CSP, COF, BGA, or the like.

Description

전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프{Film carrier tape for mounting electronic component}Film carrier tape for mounting electronic component

본 발명은, 휨 변형이 줄어든 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 관한 것이다. 더욱 상세하게는 본 발명은, COF(Chip On Film), CSP(Chip Size Package), BGA(Ball Grid Array)와 같이 필름 캐리어의 사이즈가 실장되는 전자부품과 거의 동일하며, 긴 절연 필름으로 이루어지는 테이프의 폭 방향으로 2개 이상의 필름 캐리어가 나란히 제조되는 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프로서, 각각의 필름 캐리어에 있어서 휨 변형이 현저히 줄어든 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 관한 것이다.TECHNICAL FIELD This invention relates to the film carrier tape for electronic component mounting with which curvature distortion was reduced. More specifically, the present invention is a tape made of a long insulating film, which is almost the same as an electronic component in which the size of a film carrier is mounted, such as a chip on film (COF), a chip size package (CSP), and a ball grid array (BGA). The film carrier tape for electronic component mounting in which two or more film carriers are manufactured side by side in the width direction of this invention, It is related with the film carrier tape for electronic component mounting in which the bending deformation in each film carrier was remarkably reduced.

집적 회로 등의 전자부품을 전자기기에 탑재하기 위해서 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프가 사용되고 있다. 이 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프는, 긴 절연 필름의 표면에 도전성 금속으로 이루어지는 배선 패턴을 형성하고, 이 중 많은 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프는, 이 배선 패턴의 표면에, 단자부분을 남기고, 솔더 레지스트층을 형성함으로써 제조되고 있다. 이와 같은 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 있어서 솔더 레지스트층을 형성하는 수지로서는, 에폭시 수지 등의 열경화성 수지가 사용되고 있다.In order to mount electronic components, such as an integrated circuit, in an electronic device, the film carrier tape for mounting electronic components is used. The film carrier tape for mounting electronic components forms a wiring pattern made of a conductive metal on the surface of the long insulating film, and many of these film carrier tapes for mounting electronic components leave a terminal portion on the surface of the wiring pattern. It is manufactured by forming a soldering resist layer. Thermosetting resins, such as an epoxy resin, are used as resin which forms a soldering resist layer in such a film carrier tape for electronic component mounting.

솔더 레지스트층을 형성하지 않는 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 있어서는 커다란 휨 변형은 발견되지 않으나, 솔더 레지스트층을 형성하는 열경화성 수지는, 가열하여 경화시킬 때에 극미하게 경화수축하는 특성을 가지고 있으며, 이와 같은 솔더 레지스트층을 형성하는 열경화성 수지의 경화수축에 의하여 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에는, 폭 방향, 길이 방향으로 휨 변형이 발생한다.In the film carrier tape for mounting electronic components that do not form a solder resist layer, large warpage deformation is not found, but the thermosetting resin forming the solder resist layer has a property of being extremely cured when cured by heating. By cured shrinkage of the thermosetting resin which forms the same soldering resist layer, the bending deformation generate | occur | produces in the width direction and the longitudinal direction in the film carrier tape for electronic component mounting.

이와 같은 긴 필름 캐리어 테이프의 폭 방향, 길이 방향에 발생한 휨 변형은, 예를 들어 가열 하에 다수의 롤 사이를 필름 캐리어를 통과시키는 방법, 발생한 휨 변형과 역방향으로 필름 캐리어 테이프를 휘게 하면서(반대의 휨을 부여하면서) 가열하는 방법 등에 의하여, 시정하는 것이 가능하다. 이와 같은 휨 제거 방법은, 절연 필름으로 이루어지는 테이프의 폭 방향으로 1개의 배선 패턴이 형성된 필름 캐리어 테이프의 휨 제거 방법으로서 특히 유효하다.The warpage deformation generated in the width direction and the longitudinal direction of such a long film carrier tape is, for example, a method of passing the film carrier between a plurality of rolls under heating, while bending the film carrier tape in the opposite direction to the warpage generated. Correction can be performed by a method of heating or the like while imparting warping. Such a warpage removal method is particularly effective as a warpage removal method of a film carrier tape in which one wiring pattern is formed in the width direction of a tape made of an insulating film.

그런데 최근의 전자부품의 실장기술에 있어서는, COF(Chip On Film), CSP(Chip Size Package) 혹은 BGA(Ball Grid Array)와 같이 실장하는 전자부품과 필름 캐리어가 거의 동일한 면적인 필름 캐리어가 사용되는 경우가 많아지고 있다. 이와 같은 필름 캐리어는, 점유 면적이 적기 때문에, 절연 필름으로 이루어진 테이프의 폭 방향으로 복수개를 (예를 들어 2개 혹은 4개) 나란히 제조할 수 있다. 이와 같은 CSP, COF, BGA 등에서는, 각각의 필름 캐리어에 솔더 레지스트층이 형성되기 때문에, 솔더 레지스트층이 형성된 각각의 필름 캐리어가 휘어 있어 폭 방향으로 복수의 필름 캐리어가 형성된 테이프에 반대의 휨을 부여해도, 폭 방향으로 인접하는 필름 캐리어의 경계 부분에서 테이프가 구부러져 버려, 만곡 변형된 필름 캐리어 부분에 각각 효과적으로 반대의 휨을 걸 수 없다. 따라서 CSP, BGA와 같이 테이프의 폭 방향으로 복수의 필름 캐리어를 형성하는 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에서는, 각각의 필름 캐리어에 발생한 휨 변형을 시정하는 효과적인 휨 제거 방법이 존재하지 않는 것이 실정이다.However, in recent years, in the mounting technology of electronic components, a film carrier having almost the same area as an electronic component and a film carrier, such as a chip on film (COF), a chip size package (CSP) or a ball grid array (BGA), is used. There are many cases. Since such a film carrier has little occupied area, a plurality (for example, two or four) can be manufactured side by side in the width direction of the tape which consists of an insulating film. In such CSP, COF, BGA, etc., since a solder resist layer is formed in each film carrier, each film carrier in which the solder resist layer was formed is bent, and the opposite bending is given to the tape in which the plurality of film carriers are formed in the width direction. Also, the tape is bent at the boundary portions of the film carriers adjacent in the width direction, so that the opposite bending cannot be effectively applied to the curved and deformed film carrier portions, respectively. Therefore, in the film carrier tape for electronic component mounting which forms several film carriers in the width direction of a tape like CSP and BGA, there exists no effective warpage removal method which corrects the bending distortion which generate | occur | produced in each film carrier.

특허문헌 1 일본 특허출원 2001-249499호 명세서Patent Document 1 Japanese Patent Application No. 2001-249499

도 1은, 본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프의 일례를 도시한 평면도이다.1: is a top view which shows an example of the film carrier tape for electronic component mounting of this invention.

도 2는, 도 1에 있어서의 A-A' 단면도이다.FIG. 2 is a cross-sectional view along the line A-A 'in FIG. 1. FIG.

도 3은, 본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프를 형성하는 하나의 필름 캐리어를 선택하여 설명하는 설명도이다.3 is an explanatory diagram for selecting and explaining one film carrier for forming the film carrier tape for mounting an electronic component of the present invention.

도 4는, 본 발명에 있어서 필름 캐리어 테이프의 휨 변형을 측정하는 방법을 도시한 도면이다.It is a figure which shows the method of measuring the bending deformation of the film carrier tape in this invention.

도 5는, 단자부를 제외한 배선 패턴의 20% 이상에 솔더 레지스트층이 형성된 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프의 예를 도시한 도면이다.FIG. 5 is a diagram illustrating an example of a film carrier tape for mounting electronic components in which a soldering resist layer is formed on 20% or more of the wiring pattern except for the terminal portion.

도 6은, 솔더 레지스트층의 구획부의 단면의 예를 도시한 도면이다.6 is a diagram illustrating an example of a cross section of a partition of the solder resist layer.

본 발명은, 테이프의 폭 방향으로 복수의 필름 캐리어가 형성된 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 있어서의 각각의 필름 캐리어의 휨 변형을 줄인 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프를 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.An object of this invention is to provide the film carrier tape for electronic component mounting which reduced the bending deformation of each film carrier in the film carrier tape for electronic component mounting in which the some film carrier was formed in the width direction of a tape.

본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프는, 긴 절연 필름의 표면에 도전성 금속으로 이루어지는 다수의 배선 패턴이 형성되어 이루어지는 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 있어서, The film carrier tape for mounting electronic components of the present invention is a film carrier tape for mounting electronic components, in which a plurality of wiring patterns made of a conductive metal are formed on the surface of the long insulating film.

이 각각의 배선 패턴이 접속단자 부분을 제외하고, 각각 독립적으로, 솔더 레지스트층에 의해 피복되어 있고, 또한 각각의 배선 패턴 표면에 형성된 솔더 레지스트층이, 복수개로 분할 및/또는 분획되어 있는 것을 특징으로 하고 있다.Each of the wiring patterns is independently covered by a solder resist layer except for the connection terminal portion, and a plurality of solder resist layers formed on the surface of each wiring pattern are divided and / or divided into a plurality of pieces. I am doing it.

또한, 본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프는, 긴 절연 필름의 표면에 도전성 금속으로 이루어지는 다수의 배선 패턴이 형성되고, 또한 이 배선 패턴이 이 긴 절연 필름의 폭 방향으로 적어도 2개 병설되어 이루어지는 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 있어서, Moreover, in the film carrier tape for mounting an electronic component of the present invention, a plurality of wiring patterns made of a conductive metal are formed on the surface of the long insulating film, and at least two of the wiring patterns are provided in the width direction of the long insulating film. In the film carrier tape for mounting electronic components,

이 각각의 배선 패턴이, 접속단자 부분을 제외하고, 각각 독립적으로, 솔더 레지스트층에 의해 피복되어 있고, 또한 각각의 배선 패턴 표면에 형성된 솔더 레지스트층이, 복수개로 분할 및/또는 분획되어 있는 것을 특징으로 하고 있다.Each of the wiring patterns is separately covered with a solder resist layer except for the connection terminal portion, and a plurality of solder resist layers formed on the surface of each wiring pattern are divided and / or divided into a plurality. It features.

본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에서는, 솔더 레지스트를 분할하여 도포하고 있어, 분할된 각각의 솔더 레지스트층에 있어서의 경화수축에 의한 응력이 작기 때문에, 이 필름 캐리어에 있어서의 변형을 작게 할 수 있다.In the film carrier tape for electronic component mounting of this invention, a soldering resist is divided and apply | coated, and since the stress by hardening shrinkage in each divided soldering resist layer is small, the deformation in this film carrier can be made small. Can be.

이어서 본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 대하여 도면을 참조하면서 구체적으로 설명한다.Next, the film carrier tape for mounting an electronic component of the present invention will be specifically described with reference to the drawings.

도 1은, 본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프의 일례를 도시한 평면도이며, 도 2는, 도 1에 있어서의 A-A' 단면도이다.1: is a top view which shows an example of the film carrier tape for electronic component mounting of this invention, and FIG. 2 is A-A 'sectional drawing in FIG.

도 1 및 도 2에 도시한 바와 같이, 본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프(10)는, 긴 절연 필름(11)의 표면에 다수의 필름 캐리어(12)가 형성되어 있다.As shown in FIG. 1 and FIG. 2, in the film carrier tape 10 for mounting electronic components of the present invention, a plurality of film carriers 12 are formed on the surface of the long insulating film 11.

이 긴 절연 필름(11)은, 에칭 시에 산 등과 접촉하므로, 이러한 약품에 침투되지 않는 내약품성 및 본딩 시의 가열에 의해서도 변질되지 않는 내열성을 가지고 있다. 이 절연 필름(11)을 형성하는 소재의 예로서는, 폴리에스테르, 폴리아미드 및 폴리이미드 등을 들 수 있다. 특히 본 발명에서는, 폴리이미드로 이루어지는 필름을 사용하는 것이 바람직하다. 이와 같은 폴리이미드는, 다른 수지와 비교하여, 탁월한 내열성을 가지는 동시에, 내약품성도 뛰어나다.Since this long insulating film 11 contacts acid etc. at the time of an etching, it has chemical resistance which does not penetrate into such a chemical | medical agent, and heat resistance which does not change even by the heating at the time of bonding. As an example of the raw material which forms this insulating film 11, polyester, a polyamide, a polyimide, etc. are mentioned. Especially in this invention, it is preferable to use the film which consists of polyimides. Such polyimide has excellent heat resistance and excellent chemical resistance compared with other resins.

이 폴리이미드 수지의 예로서는, 피로메리트산 2무수물과 방향족 디아민으로부터 합성되는 전방향족 폴리이미드, 비페닐테트라카르본산2무수물과 방향족 디아민으로부터 합성되는 비페닐 골격을 가지는 전방향족 폴리이미드를 들 수 있다. 특히 본 발명에서는 비페닐 골격을 가지는 전방향족 폴리이미드(예; 상품명: 유피렉스S, 우베흥산(주)제)가 바람직하게 사용된다. 비페닐 골격을 가지는 전방향족 폴리이미드는, 다른 전방향족 폴리이미드 보다 흡수율이 낮다. 본 발명에서 사용 가능한 절연 필름의 두께에 특별히 제한은 없으나, 두께가 75㎛ 이하인 절연 필름은 자기형태 유지력이 낮아, 변형이 일어나기 쉬우므로, 본 발명은 절연 필름의 두께(평균 두께)가 75㎛ 이하, 바람직하게는 50~12.5㎛의 범위 내에 있는 절연 필름을 사용한 박형의 필름 캐리어를 제조할 때에 유용성이 높다.As an example of this polyimide resin, the wholly aromatic polyimide synthesize | combined from a pyromellitic dianhydride and aromatic diamine, the wholly aromatic polyimide which has a biphenyl skeleton synthesize | combined from biphenyl tetracarboxylic dianhydride and an aromatic diamine is mentioned. Especially in this invention, the wholly aromatic polyimide which has a biphenyl skeleton (for example, brand name: Eupyrex S and the product made by Ubeheung Co., Ltd.) is used preferably. The wholly aromatic polyimide having a biphenyl skeleton has a lower water absorption than other wholly aromatic polyimides. Although there is no restriction | limiting in particular in the thickness of the insulation film which can be used by this invention, Since the insulation film whose thickness is 75 micrometers or less has low self-shape holding force, and a deformation | transformation tends to occur, in this invention, the thickness (average thickness) of an insulation film is 75 micrometers or less Preferably, when manufacturing a thin film carrier using the insulating film in the range of 50-12.5 micrometers, high usefulness.

이와 같은 긴 절연 필름(11)의 폭 방향의 가장자리에는, 이 절연 필름(11)을 반송하고, 위치결정을 행하기 위한 스프로켓 홀(14)이 다수 형성되어 있다. 또한, 이 절연 필름(11)에는, 위치 결정 홀, 디바이스 홀, 외부단자가 되는 땜납 홀을 배치할 땜납 볼 홀, 전자부품과의 접속을 확보하기 위한 슬릿 등이 더 형성되어 있어도 된다. 이것들은 펀칭 공정, 레이저광을 사용한 천공공정에 의해 형성할 수 있다. The sprocket hole 14 for conveying and insulating this insulating film 11 is formed in the edge of the width direction of such a long insulating film 11, and performs positioning. In addition, the insulating film 11 may further include a positioning hole, a device hole, a solder ball hole for arranging a solder hole serving as an external terminal, a slit for securing a connection with an electronic component, and the like. These can be formed by a punching step and a drilling step using a laser beam.

이리하여 필요한 홀을 형성한 절연 필름에, 배선 패턴(15)을 형성한다. 이 배선 패턴(15)은, 예를 들어, 상기와 같은 절연 필름(11)의 표면에 도전성 금속박을 배치하고, 이 도전성 금속박의 표면에 감광성 수지를 도포하고, 이렇게 하여 형성된 감광성 수지층에 원하는 패턴을 사용하여 노광현상하여 감광성 수지로 이루어지는 패턴을 형성하고, 이 패턴을 마스킹재로 사용하여 도전성 금속박을 선택적으로 에칭함으로써 형성할 수 있다. 여기에서 사용하는 도전성 금속의 예로서는, 알루미늄박 및 동박을 들 수 있다. 이와 같은 도전성 금속박으로서는, 통상은 3~35㎛, 바람직하게는 9~25㎛의 범위 내에 있는 금속박을 사용하는 것이 가능하다. 또한, 도전성 금속의 핵을 절연 필름 표면에 마련하여, 그 핵에 도전성 금속을 석출시켜도 된다. In this way, the wiring pattern 15 is formed in the insulating film in which required holes are formed. This wiring pattern 15 arrange | positions electroconductive metal foil on the surface of the insulating film 11 as mentioned above, apply | coats photosensitive resin on the surface of this conductive metal foil, and a desired pattern to the photosensitive resin layer formed in this way. It can be formed by exposing and forming a pattern made of photosensitive resin, and selectively etching the conductive metal foil using this pattern as a masking material. Aluminum foil and copper foil are mentioned as an example of the conductive metal used here. As such conductive metal foil, it is possible to use the metal foil normally in the range of 3-35 micrometers, Preferably it is 9-25 micrometers. In addition, a nucleus of the conductive metal may be provided on the surface of the insulating film to deposit the conductive metal on the nucleus.

본 발명에서 사용되는 도전성 금속박으로서는 동박을 사용하는 것이 바람직하며, 여기에서 사용가능한 동박으로는, 전해동박과 압연동박이 있으나, 에칭특성, 조작성 등을 고려하면 전해동박을 사용하는 것이 바람직하다.As the conductive metal foil used in the present invention, it is preferable to use copper foil. Examples of the copper foil usable here include electrolytic copper foil and rolled copper foil, but electrolytic copper foil is preferable in consideration of etching characteristics, operability, and the like.

본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 있어서, 상기 도전성 금속으로부터 형성된 배선 패턴에 의해 형성되는 필름 캐리어(12)는 절연 필름으로 이루어지는 테이프의 폭 방향으로 복수개 형성되어 있으며, 도 1에는, 필름 캐리어(12)가 테이프의 폭 방향으로 2개가 병존된 양태가 나타나 있다.In the film carrier tape for mounting electronic components of the present invention, a plurality of film carriers 12 formed by a wiring pattern formed from the conductive metal are formed in a width direction of a tape made of an insulating film. The aspect in which two (12) coexisted in the width direction of the tape is shown.

본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 있어서, 상기와 같은 필름 캐리어(12)는, 테이프의 폭 방향으로, 각각 독립하여 복수형성되어 있다. 예를 들어, 유효폭 35㎜의 절연 필름(11)에는 1변이 예를 들어 14㎜인 필름 캐리어 2개를 폭 방향으로 나란히 형성할 수 있으며, 또한, 유효폭 70㎜인 절연 필름(11)에는, 1변이 예를 들어 14㎜인 필름 캐리어 4개를 폭 방향으로 나란히 형성할 수 있다.In the film carrier tape for mounting an electronic component of the present invention, the film carrier 12 as described above is formed in plural in the width direction of the tape, respectively. For example, in the insulating film 11 having an effective width of 35 mm, two film carriers having one side, for example, 14 mm can be formed side by side in the width direction, and in the insulating film 11 having an effective width of 70 mm, 1 Four film carriers whose sides are 14 mm for example can be formed side by side in the width direction.

전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프(10)에 형성되어 있는 필름 캐리어가 CSP 혹은 BGA인 경우에는, 절연 필름(11)의 배선 패턴(15)이 형성되어 있는 면에는, 전자부품과의 접속을 확보하는 단자부분(16)을 남기고, 형성된 배선 패턴의 표면에 솔더 레지스트 잉크를 도포하여 솔더 레지스트층(20)을 형성한다. 여기에서 도포하는 솔더 레지스트층(20)을 형성하는 수지는, 통상은 열경화성 수지를 유기용매에 용해 또는 분산시킨 도포액으로, 이와 같은 솔더 레지스트 잉크를 도포한 후, 가열함으로써 솔더 레지스트층(20)을 형성한다. 그리고, 이 솔더 레지스트 잉크가 경화하여 솔더 레지스트층(20)을 형성할 때에는 솔더 레지스트층을 형성하는 수지는 약간 경화수축하므로, 이 솔더 레지스트 잉크가 도포된 부분에는 솔더 레지스트층(20)을 내측으로 하여 휨 변형이 발생한다.In the case where the film carrier formed on the film carrier tape 10 for mounting electronic components is CSP or BGA, the surface on which the wiring pattern 15 of the insulating film 11 is formed is used to ensure connection with the electronic parts. The solder resist layer 20 is formed by applying solder resist ink on the surface of the formed wiring pattern leaving the terminal portion 16. The resin which forms the soldering resist layer 20 apply | coated here is a coating liquid which melt | dissolved or disperse | distributed the thermosetting resin to the organic solvent normally, and after apply | coating such soldering resist ink, it heats a soldering resist layer 20 by To form. When the solder resist ink is cured to form the solder resist layer 20, the resin forming the solder resist layer is slightly cured, so that the solder resist layer 20 is applied to the inside where the solder resist ink is applied. As a result, bending deformation occurs.

한편, 솔더 레지스트층(20)의 형성이 불필요한 타입의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프도 있다.On the other hand, there is also a film carrier tape for mounting electronic components of a type in which the formation of the solder resist layer 20 is unnecessary.

이와 같이 테이프의 폭 방향으로 필름 캐리어(12)가 복수개 나란히 형성되어 있는 경우, 이 테이프에 반대의 휨을 걸어도 필름 캐리어(12)의 사이에서 테이프가 접혀서 구부러지기만 하고, 휨 변형이 발생한 필름 캐리어(12)의 부분에는 반대의 휨이 거의 걸리지 않는다. 따라서, 개개의 필름 캐리어(12)에 대해서 보면, 휨 변형은 거의 시정되지 않는다.As described above, when a plurality of film carriers 12 are formed side by side in the width direction of the tape, even if the tape is bent opposite to the tape, the film carriers 12 are only folded and bent between the film carriers 12, and the warp deformation occurs. In the part of), the opposite bending hardly takes place. Therefore, when looking at the individual film carriers 12, the bending deformation is hardly corrected.

따라서, 상기와 같은 테이프의 폭 방향으로 복수의 필름 캐리어(12)를 나란히 형성하는 경우에는, 각각의 필름 캐리어(12) 자체에 휨 변형이 발생하지 않도록 하는 것이 효율적이다.Therefore, when forming the some film carrier 12 side by side in the width direction of the above-mentioned tape, it is efficient to prevent a bending deformation in each film carrier 12 itself.

휨 변형이 발생하는 원인은, 절연 필름, 도전성 금속 등의 재료의 팽창계수의 차이나, 전술한 바와 같이 솔더 레지스트의 경화수축이며, 이 경화 수축에 의해 발생하는 내부응력이 절연 필름 등의 자기형태 유지성 보다 항상적으로 높아졌을 때에, 솔더 레지스트층에 내재하는 응력이 필름 캐리어의 휨 변형으로서 나타나는 것이다. 그리고, 솔더 레지스트층(20)의 형성 면적이 커지게 되면, 대면적의 솔더 레지스트층(20) 안에 있어서의 내부응력이 상호 연대하여 큰 내부응력이 되기 쉽다. 그러나, 이와 같은 큰 내부응력이 발생하고 있는 솔더 레지스트층(2)에서도, 부분적으로 보면, 그 내부응력은 그렇게 큰 것이 아니다.The cause of the bending deformation is the difference in the expansion coefficient of the material such as the insulating film, the conductive metal or the like, as described above, the hardening shrinkage of the solder resist, and the internal stress generated by the hardening shrinkage is the self-holding property of the insulating film. When it becomes higher constantly, the stress inherent in a soldering resist layer appears as a bending deformation of a film carrier. Then, when the formation area of the solder resist layer 20 becomes large, the internal stress in the large area of the solder resist layer 20 is mutually connected, and a large internal stress tends to be large. However, even in the solder resist layer 2 in which such a large internal stress is generated, the internal stress is not so large in part.

따라서, 본 발명에서는 종래 일체로 도포되어 형성되어 전체가 일체화되어 있던 솔더 레지스트층(20)을 몇 개로 분할 혹은 분획하여 도포형성하고, 각각의 부할 혹은 분획된 구획에 있어서의 응력을 가능한 한 작게 하고, 이 구획된 솔더 레지스트층(20)의 부분에 있는 절연 필름(11)의 자기형태 지지력과 길항하는 정도 이하로 억제하여 구획된 솔더 레지스트층(20)형성부에 있어서의 휨 변형을 최소한으로 억제하고 있는 것이다.Therefore, in the present invention, the solder resist layer 20, which is conventionally applied and formed integrally and integrally integrated, is divided or divided into several parts to form a coating, and the stress in each load or divided section is made as small as possible. The amount of antagonism of the insulating film 11 in the portion of the partitioned solder resist layer 20 is suppressed to the extent that it is antagonistic and the bending deformation in the partitioned solder resist layer 20 formation portion is minimized. I'm doing it.

즉, 본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프(10)에서는, 도 1 내지 도 3에 도시한 바와 같이 솔더 레지스트층(20)을, A구획(20a), B구획(20b), C구획(20c), D구획(20d)과 같이 복수의 구획으로 분할하여, 솔더 레지스트 잉크를 도포하여, 형성한다.That is, in the film carrier tape 10 for mounting electronic components of the present invention, as shown in Figs. 1 to 3, the solder resist layer 20 is divided into A compartment 20a, B compartment 20b, and C compartment ( 20c), it divides into several divisions like D compartment 20d, and apply | coats and forms a soldering resist ink.

본 발명에 있어서 솔더 레지스트층(20)을 형성하는 수지는, 경화성 수지이며, 예를 들어, 에폭시 수지, 우레탄 변성 에폭시 수지, 페놀 수지, 폴리이미드 수지 전구체 등의 열경화성 수지가 바람직하게 사용된다. 이와 같은 열경화성 수지는, 용매 중에 용해 또는 분산되어 있으며, 스크린 마스크를 이용하여 스퀴지에 의한 도포가 가능하도록, 통상은 10~40 Pa·s, 바람직하게는 20~30 Pa·s의 범위 내의 점도로 조정되어 있다.Resin which forms the soldering resist layer 20 in this invention is curable resin, For example, thermosetting resins, such as an epoxy resin, a urethane modified epoxy resin, a phenol resin, and a polyimide resin precursor, are used preferably. Such a thermosetting resin is melt | dissolved or disperse | distributed in a solvent, and is usually 10-40 Pa.s, Preferably it is the viscosity within the range of 20-30 Pa.s so that application | coating by a squeegee using a screen mask is possible. It is adjusted.

도 1 내지 도 3에 있어서는, 솔더 레지스트층(20)을 형성하는 영역은, A구획(20a), B구획(20b), C구획(20c), D구획(20d)을 합한 영역이나, 종래에는 이들 영역을 일체로 하여 솔더 레지스트를 도포하였다. 그러나, 이와 같이 광범위하게 솔더 레지스트를 도포하고, 경화시키면, 수지가 경화할 때에 경화수축하여, 개개의 필름 캐리어(12)에 도 4에 도시한 바와 같이 솔더 레지스트층(20)을 내측으로 한 휨 변형이 발생한다.1 to 3, the region for forming the solder resist layer 20 is a region in which the A compartment 20a, the B compartment 20b, the C compartment 20c, and the D compartment 20d are combined. These regions were integrally coated with a solder resist. However, when a solder resist is apply | coated and hardened | cured extensively in this way, when resin hardens | cures, it hardens | contracts and curvature which made the soldering resist layer 20 inward in the individual film carrier 12 as shown in FIG. Deformation occurs.

본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에서는, 상기와 같은 솔더 레지스트를 도포해야 할 영역을 복수로 분할하여, 솔더 레지스트를 도포한다. 즉, 도 1 및 3에 있어서, 솔더 레지스트를 도포해야 할 영역은, A구획(20a), B구획(20b), C구획(20c) 및 D구획(20d)을 합한 영역인데, 도 1 및 도 3에 도시한 예에서는, 이 영역을 4분할하여 각각의 구획을 인접하는 구획으로부터 독립시켜서 솔더 레지스트를 도포하고, 경화시켜서 4구획으로 분할된 솔더 레지스트층(20)을 형성하고 있다. 한편, 필름 캐리어의 세로, 가로 사이즈가 5㎜ 미만인 경우에는 문제가 될 정도의 휨 변형은 발생하지 않는 경우가 많으므로, 본 발명은 필름 캐리어의 세로·가로 사이즈가 5㎜ 이상인 필름 캐리어에 있어서 솔더 레지스트를 분할 형성하는 것이 바람직하다.In the film carrier tape for electronic component mounting of this invention, the area | region which should apply the above-mentioned solder resist is divided into several, and a soldering resist is apply | coated. That is, in FIGS. 1 and 3, the region to which the solder resist is to be applied is a region in which the A section 20a, the B section 20b, the C section 20c, and the D section 20d are combined. In the example shown in Fig. 3, this region is divided into four sections, each of the sections is separated from the adjacent sections, and the solder resist is applied and cured to form the solder resist layer 20 divided into four sections. On the other hand, in the case where the length and width of the film carrier are less than 5 mm, the warp deformation that is a problem often does not occur. Therefore, in the present invention, the solder in the film carrier whose length and width size of the film carrier is 5 mm or more is soldered. It is preferable to form resist separately.

이와 같이 솔더 레지스트층을 분할함으로써, 각각의 구획 내에는 솔더 레지스트의 경화수축에 의한 응력은 발생하나, 그 응력은 작아, 절연 필름 및 그 위에 형성되어 있는 배선 패턴 등에 내재하는 응력과 길항시킴으로써, 그 필름 캐리어 내에 있어서의 변형을 최소한으로 억제할 수 있다.By dividing the solder resist layer in this manner, the stress due to hardening shrinkage of the solder resist is generated in each section, but the stress is small, and the stress is antagonized with the stress inherent in the insulating film and the wiring pattern formed thereon. Strain in a film carrier can be suppressed to the minimum.

이와 같은 효과는, 폭 방향으로 1개의 필름 캐리어(12)가 형성되어 있는 경우에도 마찬가지로 발휘된다.Such an effect is similarly exhibited even when one film carrier 12 is formed in the width direction.

이와 같은 솔더 레지스트층(20)은 필름 캐리어의 사이즈, 절연 필름, 솔더 레지스트, 그 외의 재료의 물성값에 의해서도 좌우되나, 2~16분할하는 것이 바람직하며, 2~8분할하는 것이 특히 바람직하다. 이와 같이 솔더 레지스트층(20)을 분할함으로써, 각각의 구획에 있어서의 솔더 레지스트의 경화에 의한 수축응력이 작아져, 필름 캐리어 전체의 변형도 적어진다. 또한, 분할 후의 솔더 레지스트의 사이지는, 절연 필름, 솔더 레지스트 등의 물성값이 복잡하게 얽혀 있으므로, 1변의 사이즈를 반드시 5㎜ 미만으로 할 필요는 없다.Such a solder resist layer 20 also depends on the physical properties of the film carrier, the insulating film, the solder resist, and other materials, but is preferably divided into 2 to 16, particularly preferably 2 to 8. By dividing the solder resist layer 20 in this manner, the shrinkage stress due to the hardening of the solder resist in each section is reduced, and the deformation of the entire film carrier is also reduced. In addition, since the physical property values of an insulation film, a soldering resist, etc. are intricately intertwined with the size of the soldering resist after a division | segmentation, it is not necessary to make one side size less than 5 mm.

본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프(10)에 있어서 솔더 레지스트층(20)을 분할 및/또는 분획하는 각 구획의 형상 및 상대적인 크기에 특별한 제한은 없으나, 솔더 레지스트가 도포될 영역을 가능한 한 균등하게 분할가능하도록 하는 것이 바람직하다. 각각의 구획에 발생하는 응력을 균일화함으로써, 필름 캐리어 전체의 변형이 보다 작아지게 된다. 즉, 각각의 구획의 면적을 균등하게 함과 동시에, 각각의 구획의 형태는 거의 동일하게 하는 것이 바람직하다. 본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에서는, 구획된 솔더 레지스트의 각 구획의 1변의 길이를 2~10㎜ 정도, 바람직하게는 2.5~7.5㎜로 하는 것이 바람직하다.In the film carrier tape 10 for mounting an electronic component of the present invention, there is no particular limitation on the shape and relative size of each section for dividing and / or dividing the solder resist layer 20, but the area where the solder resist is to be applied is as long as possible. It is desirable to be equally divisible. By equalizing the stresses generated in the respective sections, the deformation of the entire film carrier becomes smaller. That is, it is preferable to make the area of each compartment equal and to make the form of each compartment substantially the same. In the film carrier tape for electronic component mounting of this invention, it is preferable to make the length of one side of each division of the partitioned soldering resist about 2-10 mm, Preferably it is 2.5-7.5 mm.

본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 있어서, 솔더 레지스트층을 분할 및/또는 분획하여 형성하는 필름 캐리어는, 상술한 것과 같은 CSP 혹은 BGA 등으로 한정되는 것은 아니며 일반적인 TAB 테이프에도 적용가능하다. 예를 들어, 도 5a 및 도 5b에 도시한 바와 같이, 형성된 배선 패턴(단자부분을 제외)의 30% 이상의 영역에 솔더 레지스트층을 형성하는 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 적용할 수 있다. 도 5a에는 디바이스 홀이 있는 절연 필름(11)의 표면에 형성된 배선 패턴(15)에 솔더 레지스트층을 12분할하여 형성한 예가 도시되어 있다. 또한, 도 5a에 기재된 배선 패턴은 일례로, 본 발명에 있어서의 배선 패턴을 한정하는 것은 아니다. 또한, 도 5b에는 솔더 레지스트층(20)을 2분할 한 예가 도시되어 있으며, 도 5b에 있어서, 절연 필름(11)의 표면에는 배선 패턴이 형성되어 있으나 도 5b에서는 배선 패턴은 생략되어 있다. 예를 들어, 도 5a, 도 5b에 도시한 바와 같이, 접속단자 부분을 제외한 배선 패턴 영역의 30% 이상에 솔더 레지스트층을 형성하는 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 있어서 유용하다.In the film carrier tape for mounting electronic components of the present invention, the film carrier formed by dividing and / or dividing the solder resist layer is not limited to the CSP or BGA as described above, and can be applied to a general TAB tape. For example, as shown in FIG. 5A and FIG. 5B, it can apply to the film carrier tape for electronic component mounting which forms a soldering resist layer in 30% or more of area | regions (except the terminal part) which were formed. FIG. 5A shows an example in which a solder resist layer is divided into 12 to form a wiring pattern 15 formed on the surface of the insulating film 11 having device holes. In addition, the wiring pattern of FIG. 5A is an example, and does not limit the wiring pattern in this invention. 5B shows an example in which the solder resist layer 20 is divided into two. In FIG. 5B, the wiring pattern is formed on the surface of the insulating film 11, but the wiring pattern is omitted in FIG. 5B. For example, as shown to FIG. 5A and FIG. 5B, it is useful in the film carrier tape for electronic component mounting which forms a soldering resist layer in 30% or more of wiring pattern area | region except a connection terminal part.

또한, 도 6a, 도 6b에 도시한 바와 같이, 상기와 같이 분할된 구획간의 거리(W)는, 인접하는 구획 내부에 발생하는 응력이 전달되지 않도록 적절히 설정할 수 있는데, 통상은 20㎛~50㎜, 바람직하게는 20㎛~3㎜의 범위 내의 값으로 설정한다. 상기와 같이 구획 간의 거리를 설정함으로써, 각 구획 내부의 응력이 인접하는 구획에 전달되지 않으며, 또한 각 구획 간에 있는 배선 패턴의 보호에도 특별히 문제가 발생하지 않는다. 또한, 각각의 구획은, 그 형상이 유사하도록 형성하는 것이 바람직하다. 구획의 형상이 유사한 것에 의해, 각각의 구획에 있어서 발생하는 내부응력을 균일화하므로, 필름 캐리어 전체의 변형이 작아진다.6A and 6B, the distance W between the partitions divided as described above can be appropriately set so that the stress generated in the adjacent partitions is not transmitted. Usually, 20 µm to 50 mm Preferably, it sets to the value within the range of 20 micrometers-3 mm. By setting the distance between the partitions as described above, the stresses in the respective compartments are not transmitted to the adjacent compartments, and there is no particular problem in the protection of the wiring pattern between the compartments. Moreover, it is preferable to form each division so that the shape may be similar. The similar shape of the compartments makes the internal stress generated in each compartment uniform, so that the deformation of the entire film carrier is reduced.

상기와 같이 분할 혹은 분획된 솔더 레지스트층의 두께(h0)는, 종래의 솔더 레지스트층의 두께와 동일하며, 경화 후의 평균 두께는 배선 패턴의 상면에 있어서 통상은 3~50㎛, 바람직하게는 5~40㎛의 범위 내에 있다. 또한, 본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 있어서, 솔더 레지스트층(20)은, 도 6a에 도시한 바와 같이 분할 혹은 분획되어 있으며, 인접하는 구획과의 사이에 상기와 같은 솔더 레지스트층이 형성되어 있지 않은 부분을 가지나, 각각의 구획에 발생한 내부 응력이 인접하는 구획에 전달되지 않으면 되며, 예를 들어 도 6b에 도시한 바와 같이 구획된 솔더 레지스트층(20)이 적어도 일부에서 인접하는 솔더 레지스트층의 구획과 연결되어 분획되어 있어도 된다. 이 경우, 구획과 구획간의 솔더 레지스트층의 두께(h1)는, 솔더 레지스트층의 통상의 두께(h0)의 1/2이하이며, h1은 0이어도 된다.The thickness h 0 of the solder resist layer divided or fractionated as described above is the same as that of the conventional solder resist layer, and the average thickness after curing is usually 3 to 50 μm, preferably on the upper surface of the wiring pattern. It exists in the range of 5-40 micrometers. In the film carrier tape for mounting electronic components of the present invention, the solder resist layer 20 is divided or divided as shown in Fig. 6A, and the solder resist layer as described above is disposed between adjacent sections. It is necessary to have a portion which is not formed, but internal stress generated in each compartment does not have to be transmitted to an adjacent compartment. For example, as shown in FIG. 6B, the partitioned solder resist layer 20 is at least partially adjacent to the solder. It may be fractionated in connection with the partition of the resist layer. In this case, the thickness h 1 of the solder resist layer between the compartments may be 1/2 or less of the normal thickness h 0 of the solder resist layer, and h 1 may be zero.

이러한 구획된 솔더 레지스트층(20)을 형성하기 위해서는, 종래의 스크린에 구획에 대응하도록 마스킹을 형성하여 수지를 도포하면 된다. 또한, 최근 채용되기 시작하고 있는 점착 타입의 솔더 레지스트의 경우에는, 간극을 형성하여 솔더 레지스트를 점착하면 된다. 또한, 감광성 수지를 이용한 솔더 레지스트의 경우에는, 수지를 도포한 후, 솔더 레지스트층이 분할 및/또는 분획되도록 노광·현상하면 된다. 또한, 구획간의 적어도 일부가 연결되도록 분획된 솔더 레지스트층은 솔더 레지스트 도포액을 도포할 때에 사용하는 스크린 마스크의 선 폭을 조정함으로써 형성할 수 있다.In order to form the partitioned solder resist layer 20, a mask may be formed on a conventional screen so as to correspond to the partition, and resin may be applied. In addition, in the case of the adhesive type soldering resist which is currently employ | adopted, what is necessary is just to form a clearance and to stick a soldering resist. In addition, in the case of the soldering resist using photosensitive resin, after apply | coating resin, what is necessary is just to expose and develop so that a soldering resist layer may divide and / or fractionate. In addition, the solder resist layer fractionated so that at least one part may be connected between divisions can be formed by adjusting the line width of the screen mask used when apply | coating a soldering resist coating liquid.

상기와 같이 하여 솔더 레지스트층을 형성한 후, 솔더 레지스트층(20)으로부터 노출된 단자 부분(리드, 본딩 패드, 그 외)(16)의 표면을 도금처리한다. 도금처리에는, 주석 도금, 니켈 도금, 니켈-금의 다층 도금, 니켈-팔라듐-금의 다층 도금, 땜납 도금, 주석-비스무스 도금 등이 있다. 또한, 분할된 솔더 레지스트층의 사이에 있는 배선 패턴의 표면에는 상기의 도금층이 형성되어 있다.After forming a soldering resist layer as mentioned above, the surface of the terminal part (lead, bonding pad, etc.) 16 exposed from the soldering resist layer 20 is plated. The plating treatment includes tin plating, nickel plating, nickel-gold multilayer plating, nickel-palladium-gold multilayer plating, solder plating, tin-bismuth plating, and the like. In addition, the plating layer described above is formed on the surface of the wiring pattern between the divided solder resist layers.

또한, 이 도금처리는, 솔더 레지스트층을 형성하기 전에 행해도 된다.In addition, you may perform this plating process before forming a soldering resist layer.

상기와 같이 하여 제조된 본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프는 통상의 방법에 의해 사용할 수 있다. 예를 들어, 분할하여 형성한 솔더 레지스트층 위에 접착제 등을 이용하여 전자부품(미도시)을 배치하고, 이 전자부품에 형성된 범프 전극과 접속단자(16)와의 사이에 전기적 접속을 형성함으로써, 전자부품을 실장할 수 있다. 이 전기적 접속의 형성에는, 예를 들어 금선과 같은 도전성 금속선 등을 사용할 수 있다. 한편, 본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 있어서, 실장하는 전자부품과 캐리어 테이프는 거의 동등한 점유 면적을 가지고 있으나, 본 발명은 이와 같은 필름 캐리어 테이프에 한정되는 것은 아니다.The film carrier tape for electronic component mounting of this invention manufactured as mentioned above can be used by a conventional method. For example, an electronic component (not shown) is disposed on the solder resist layer formed by using an adhesive or the like, and an electrical connection is formed between the bump electrode formed on the electronic component and the connection terminal 16. The parts can be mounted. For the formation of this electrical connection, for example, a conductive metal wire such as a gold wire can be used. On the other hand, in the film carrier tape for mounting an electronic component of the present invention, the mounted electronic component and the carrier tape have almost the same occupied area, but the present invention is not limited to such a film carrier tape.

본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 형성되어 있는 접속단자(16)는, 배선 패턴(15)을 통하여 땜납 볼과 접속하고 있다.The connecting terminal 16 formed in the film carrier tape for mounting electronic components of the present invention is connected to the solder ball via the wiring pattern 15.

상기와 같이 본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프는, 솔더 레지시트층이 분할 혹은 분획되어 있기 때문에, 솔더 레지스트의 경화 시의 경화수축에 기인하는 필름 캐리어의 휨 변형을 줄일 수 있다.As mentioned above, since the solder resist sheet layer is divided | segmented or divided into the film carrier tape for electronic component mounting of this invention, the curvature distortion of the film carrier resulting from hardening shrinkage at the time of hardening of a soldering resist can be reduced.

본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 있어서의 필름 캐리어의 변형은, 다음과 같이 측정한다. 도 4(a)에 도시한 바와 같이, 스프로켓 홀을 이용하여 이동시키는 필름 캐리어 테이프의 스프로켓 홀이 형성되어 있는 부분을 기준점으로 하여, 제조된 필름 캐리어 테이프에 있어서의, 하나의 필름 캐리어에 대하여 도 3에 나타낸 측정 포인트①~⑤의 기준점에 대한 높이를 측정한다. 이와 같은 얻어진 값으로부터 이 필름 캐리어 테이프가 도 4에 도시되어 있는 바와 같이 변형되어 있는 점을 고려하여, 계산에 의해 측정하고자 하는 필름 캐리어(단위)의 ①'(⑤'), ②'(④')의 값을 구한다. ①'=⑤'=(①+⑤)/2를 구하고, 마찬가지로 ②'=④'=(②+④)/2를 구한다. The deformation | transformation of the film carrier in the film carrier tape for electronic component mounting of this invention is measured as follows. As shown in Fig. 4 (a), one film carrier in a film carrier tape manufactured by using the sprocket hole of the film carrier tape to be moved using the sprocket hole as a reference point is formed. Measure the height with respect to the reference point of measuring points ① to ⑤ shown in 3. In consideration of the fact that this film carrier tape is deformed as shown in Fig. 4 from the obtained values, ① '(⑤'), ② '(④') of the film carrier (unit) to be measured by calculation. Get the value of). Find ① '= ⑤' = (① + ⑤) / 2 and similarly find ② '= ④' = (② + ④) / 2.

그리고, 본 발명에 있어서의 단위 휨은, ①'-③ 또는 ②'-③의 값 중 큰 쪽이 본 발명에 있어서의 휨 변형이다.In addition, the larger one of the value of (1) '-③ or (2)'-③ of the unit curvature in this invention is the bending deformation in this invention.

상기와 같이 하여 솔더 레지스트층을 분할 혹은 분획함으로써, 필름 캐리어의 휨 변형은, 분할 혹은 분획되어 있지 않은 솔더 레지스트층을 가지는 필름 캐리어의 휨 변형의 50% 이하가 된다. By dividing or dividing a soldering resist layer as mentioned above, the curvature distortion of a film carrier becomes 50% or less of the curvature distortion of the film carrier which has a soldering resist layer which is not divided or fractionated.

상기와 같이 본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에서는, 솔더 레지스트층을 분할 혹은 분획하여 형성함으로써, 필름 캐리어의 휨 변형이 줄어 들어, 신뢰성 높은 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프를 얻을 수 있다.As mentioned above, in the film carrier tape for electronic component mounting of this invention, by dividing or dividing a soldering resist layer, the curvature distortion of a film carrier is reduced and a reliable film carrier tape for electronic component mounting can be obtained.

이하에 본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 대하여, 실시예를 나타내어, 휨이 발생하기 쉬운, 접속단자 이외의 배선 패턴 전면(全面)에 솔더 레지스트를 형성하는 경우와 비교해 가며 설명하나, 본 발명은 이에 의해 한정되는 것은 아니다.Although the Example is shown below about the film carrier tape for electronic component mounting of this invention, it demonstrates, comparing with the case where a soldering resist is formed in the whole wiring pattern surface other than a connection terminal which is easy to bend, but it demonstrates The invention is not limited by this.

실시예 1Example 1

평균 두께 50㎛, 폭 48㎜의 폴리이미드 필름(우베흥산(주)제, 상품명:유피렉스 S)에 스프로켓 홀 및 땜납 볼을 배치하기 위한 땜납 볼 홀을 펀칭에 의해 천공하였다. 이 폴리이미드 필름에는, 도 1에 도시한 바와 같이, 한 변이 17㎜인 필름 캐리어가 2열 형성 가능하도록 땜납 볼 홀을 천공하였다.A solder ball hole for arranging the sprocket hole and the solder ball in a polyimide film (manufactured by Ubeheung Sangyo Co., Ltd., brand name: Yupyrex S) having an average thickness of 50 µm and a width of 48 mm was punched out by punching. In this polyimide film, as shown in FIG. 1, the solder ball hole was perforated so that two rows of 17 mm-side film carriers could be formed.

이어서, 이 폴리이미드 필름에 평균 두께 25㎛의 전해동박을 점착하고, 이 전해동박 위에 감광성 수지를 도포하고, 노광·현상하였다. 이렇게 하여 현상된 감광성 수지로 이루어진 패턴을 마스킹재로 하여, 전해동박을 선택적으로 에칭함으로써 구리로 이루어진 배선 패턴을 형성하였다.Subsequently, an electrolytic copper foil of 25 micrometers in average thickness was stuck to this polyimide film, the photosensitive resin was apply | coated on this electrolytic copper foil, and it exposed and developed. The wiring pattern made of copper was formed by selectively etching the electrolytic copper foil using the pattern made of the developed photosensitive resin as a masking material.

이리하여 형성된 배선 패턴의 표면에 솔더 레지스트 잉크를 도포하여 가열경화시킴으로써 솔더 레지스트층(경화 후의 평균 두께:10㎛)을 형성하였다. 여기에서 형성된 솔더 레지스트층은, 스크린에 마스크를 형성하는 것에 의하여, 도 1에 도시한 바와 같이 4분할되어 있으며, 각 구획 사이에는 200㎛의 폭으로 솔더 레지스트가 도포되어 있지 않은 부분(구획 부분)이 존재한다.Solder resist layer (average thickness after hardening: 10 micrometers) was formed by apply | coating and heat-curing a soldering resist ink on the surface of the wiring pattern thus formed. The solder resist layer formed here is divided | segmented into 4 as shown in FIG. 1 by forming a mask on a screen, and the part (compartment part) in which the solder resist is not apply | coated with the width of 200 micrometers between each division. This exists.

이리하여 4분할된 솔더 레지스트층을 형성한 후, 솔더 레지스트층에 의해 피복되어 있지 않은 접속단자 및 솔더 레지스트층의 구획부를 니켈 도금 후, 금 도금 처리하고, 또한 필름 캐리어 테이프 전체에 통상의 방법에 따라 휨 제거를 하였다.Thus, after forming the four-part soldering resist layer, the connection part which is not coat | covered with the soldering resist layer, and the division part of a soldering resist layer are gold-plated after nickel plating, and also the film carrier tape whole in a conventional method. Therefore, the warpage was removed.

얻어진 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프의 길이 방향의 중심부분에 가까운 부분에 형성된 필름 캐리어를 무작위로 연속 6열 12개 선택하여, 이들 필름 캐리어에 대하여 휨 변형을 측정하였다.The film carriers formed in the portion near the central portion in the longitudinal direction of the obtained film carrier tape for electronic component mounting were randomly selected from 12 consecutive six rows, and the bending deformation was measured for these film carriers.

그 결과를 표 1에 나타낸다. 한편, 표 1에 있어서 상단, 하단으로 기재한 이유는, 이 필름 캐리어 테이프를 도 1에 도시한 바와 같이 배치했을 때에 상측이 되는 필름 캐리어와 하측이 되는 필름 캐리어를 구별하기 위한 것으로, 본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프의 제조공정에 있어서의 테이프의 방향은 관계가 없다. The results are shown in Table 1. In addition, the reason described in the upper end and the lower end in Table 1 is for distinguishing the film carrier which becomes an upper side and the film carrier which becomes a lower side, when this film carrier tape is arrange | positioned as shown in FIG. The direction of the tape in the manufacturing process of the film carrier tape for electronic component mounting is irrelevant.

제 1피스1st piece 제 2피스2nd piece 제 3피스3rd piece 제 4피스4th piece 제 5피스5th piece 제 6피스6th piece 평균값medium 상단Top 0.35㎜0.35 mm -0.005㎜-0.005 mm 0.015㎜0.015 mm 0.023㎜0.023 mm 0.150㎜0.150 mm 0.071㎜0.071 mm 0.035㎜0.035 mm 하단lower 0.012㎜0.012 mm 0.051㎜0.051 mm -0.019㎜-0.019 mm -0.016㎜-0.016 mm 0.017㎜0.017 mm 0.180㎜0.180 mm

비교예 1Comparative Example 1

실시예 1에 있어서, 솔더 레지스트층을 분할하지 않은 점 이외에는 동일하게 하여 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프를 제조하였다.In Example 1, the film carrier tape for mounting electronic components was produced similarly except not dividing a soldering resist layer.

얻어진 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 있어서, 실시예와 동일하게 하여 무작위로 연속 6열 12개의 필름 캐리어를 선택하여, 이들 필름 캐리어의 휨 변형을 측정하였다.In the obtained film carrier tape for electronic component mounting, it carried out similarly to the Example, and randomly selected 6 continuous 12-row film carriers, and the bending deformation of these film carriers was measured.

그 결과를 표 2에 기재한다.The results are shown in Table 2.

제 1피스1st piece 제 2피스2nd piece 제 3피스3rd piece 제 4피스4th piece 제 5피스5th piece 제 6피스6th piece 평균값medium 상단Top 0.112㎜0.112 mm 0.050㎜0.050 mm 0.074㎜0.074 mm 0.078㎜0.078 mm 0.084㎜0.084 mm 0.061㎜0.061 mm 0.085㎜0.085 mm 하단lower 0.098㎜0.098 mm 0.074㎜0.074 mm 0.093㎜0.093 mm 0.092㎜0.092 mm 0.072㎜0.072 mm 0.089㎜0.089 mm

상기 표 1과 표 2를 비교하면 알 수 있는 바와 같이, 솔더 레지스트층을 4분할함으로써, 필름 캐리어의 휨 변형량을 평균 절반 이하로 줄일 수 있다.As can be seen by comparing Tables 1 and 2 above, by dividing the solder resist layer into four, the amount of warpage deformation of the film carrier can be reduced to an average of half or less.

본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프는, 솔더 레지스트층이 복수로 분할 혹은 분획되어 있기 때문에, 솔더 레지스트 잉크가 경화될 때의 수축에 동반되는 응력이 분산된다. 따라서 본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에서는, 솔더 레지스트층의 경화수축에 의한 필름 캐리어의 휨 변형이 현저히 줄어들어, 전자부품의 실장 정밀도도 확실히 향상된다.In the film carrier tape for mounting an electronic component of the present invention, since the solder resist layer is divided or divided into a plurality, the stress accompanying the shrinkage when the solder resist ink is cured is dispersed. Therefore, in the film carrier tape for electronic component mounting of this invention, the curvature distortion of the film carrier by hardening shrinkage of a soldering resist layer is remarkably reduced, and the mounting precision of an electronic component is also improved reliably.

특히 본 발명의 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프는, CSP, COF, BGA 등으로서 특히 유용성이 높다.In particular, the film carrier tape for mounting an electronic component of the present invention is particularly useful as CSP, COF, BGA, or the like.

Claims (9)

긴 절연 필름의 표면에 도전성 금속으로 이루어지는 다수의 배선 패턴이 형성되어 이루어지는 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 있어서, In the film carrier tape for electronic component mounting in which the wiring pattern which consists of a conductive metal is formed in the surface of a long insulating film, 이 각각의 배선 패턴이, 접속단자 부분을 제외하고, 각각 독립적으로, 솔더 레지스트층에 의해 피복되어 있고, 또한 각각의 배선 패턴 표면에 형성된 솔더 레지스트층이, 복수개로 분할 및/또는 분획되어 있는 것을 특징으로 하는 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프.Each of the wiring patterns is separately covered with a solder resist layer except for the connection terminal portion, and a plurality of solder resist layers formed on the surface of each wiring pattern are divided and / or divided into a plurality. A film carrier tape for mounting electronic components. 긴 절연 필름의 표면에 도전성 금속으로 이루어지는 다수의 배선 패턴이 형성되고, 또한 이 배선 패턴이 이 긴 절연 필름의 폭 방향으로 적어도 2개 병설되어 이루어지는 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프에 있어서, In the film carrier tape for mounting electronic components in which a plurality of wiring patterns made of a conductive metal are formed on the surface of the long insulating film, and at least two of the wiring patterns are arranged in parallel in the width direction of the long insulating film. 이 각각의 배선 패턴이, 접속단자 부분을 제외하고, 각각 독립적으로, 솔더 레지스트층에 의해 피복되어 있고, 또한 각각의 배선 패턴 표면에 형성된 솔더 레지스트층이, 복수개로 분할 및/또는 분획되어 있는 것을 특징으로 하는 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프.Each of the wiring patterns is separately covered with a solder resist layer except for the connection terminal portion, and a plurality of solder resist layers formed on the surface of each wiring pattern are divided and / or divided into a plurality. A film carrier tape for mounting electronic components. 상기 제 1항 또는 제 2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 각각의 배선 패턴 표면에, 솔더 레지스트 층이 2~16으로 분할 및/또는 분획되어 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프.A solder carrier layer is formed by dividing and / or dividing into 2-16 the said wiring pattern surface, The film carrier tape for electronic component mounting characterized by the above-mentioned. 상기 제 1항 또는 제 2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 각 필름 캐리어에 있어서, 분할 혹은 분획된 솔더 레지스트층과, 이 분할 혹은 분획된 솔더 레지스트층의 구획에 인접하는 솔더 레지스트층의 구획과의 간극이 20㎛~50㎜의 범위 내에 있는 것을 특징으로 하는 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프.In each of the film carriers, a gap between the divided or fractionated solder resist layer and the partition of the solder resist layer adjacent to the partition of the divided or fractionated solder resist layer is within a range of 20 µm to 50 mm. Film carrier tape for mounting electronic components. 상기 제 1항 또는 제 2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 긴 절연 필름의 두께가 75㎛ 이하인 것을 특징으로 하는 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프.The thickness of the said long insulation film is 75 micrometers or less, The film carrier tape for electronic component mounting. 상기 제 1항 또는 제 2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 1개의 필름 캐리어의 점유 면적과 이 필름 캐리어 테이프에 실장되는 전자부품의 면적이 거의 동일한 것을 특징으로 하는 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프.An area occupied by one film carrier and an area of an electronic component mounted on the film carrier tape are substantially the same. 상기 제 1항 또는 제 2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 필름 캐리어의 전자부품을 실장하는 배선 패턴이 형성된 절연 필름 표면측과는 반대의 절연 필름면은, 이 필름 캐리어의 외부와 전기적으로 접촉하기 위한 금속볼이 배치가능하도록 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프.The insulating film surface opposite to the insulating film surface side on which the wiring pattern for mounting the electronic components of the film carrier is formed is formed so that metal balls for electrically contacting with the outside of the film carrier can be arranged. Film carrier tape for mounting electronic components. 상기 제 1항 또는 제 2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 배선 패턴의 표면에 도포된 솔더 레지스트층의 경화 후의 배선 패턴 상에 있어서의 구획 부분 이외의 평균 두께가 3~50㎛의 범위 내에 있는 것을 특징으로 하는 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프.An average thickness other than the partition part on the wiring pattern after hardening of the soldering resist layer apply | coated to the surface of the said wiring pattern exists in the range of 3-50 micrometers, The film carrier tape for electronic component mounting. 상기 제 1항 또는 제 2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 솔더 레지스트층이, 접속단자 부분을 제외하고 배선 패턴 영역부의 20% 이상에 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프.The said soldering resist layer is formed in 20% or more of wiring pattern area | region except a connection terminal part, The film carrier tape for electronic component mounting.
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