KR200496071Y1 - Multi-terminal jig for electrolytic etching test - Google Patents

Multi-terminal jig for electrolytic etching test Download PDF

Info

Publication number
KR200496071Y1
KR200496071Y1 KR2020200002100U KR20200002100U KR200496071Y1 KR 200496071 Y1 KR200496071 Y1 KR 200496071Y1 KR 2020200002100 U KR2020200002100 U KR 2020200002100U KR 20200002100 U KR20200002100 U KR 20200002100U KR 200496071 Y1 KR200496071 Y1 KR 200496071Y1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
terminal
current value
electrolytic etching
test
specimen
Prior art date
Application number
KR2020200002100U
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20210002892U (en
Inventor
김천국
한상규
Original Assignee
두산에너빌리티 (주)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 두산에너빌리티 (주) filed Critical 두산에너빌리티 (주)
Priority to KR2020200002100U priority Critical patent/KR200496071Y1/en
Publication of KR20210002892U publication Critical patent/KR20210002892U/en
Application granted granted Critical
Publication of KR200496071Y1 publication Critical patent/KR200496071Y1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N17/00Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light
    • G01N17/04Corrosion probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D7/00Indicating measured values
    • G01D7/02Indicating value of two or more variables simultaneously
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D9/00Recording measured values
    • G01D9/02Producing one or more recordings of the values of a single variable
    • G01D9/04Producing one or more recordings of the values of a single variable with provision for multiple or alternative recording
    • G01D9/06Multiple recording, e.g. duplicating
    • G01D9/08Multiple recording, e.g. duplicating giving both graphical and numerical recording
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N17/00Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light
    • G01N17/002Test chambers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N17/00Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light
    • G01N17/006Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light of metals
    • GPHYSICS
    • G08SIGNALLING
    • G08BSIGNALLING OR CALLING SYSTEMS; ORDER TELEGRAPHS; ALARM SYSTEMS
    • G08B21/00Alarms responsive to a single specified undesired or abnormal condition and not otherwise provided for
    • G08B21/18Status alarms
    • G08B21/182Level alarms, e.g. alarms responsive to variables exceeding a threshold
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25FPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC REMOVAL OF MATERIALS FROM OBJECTS; APPARATUS THEREFOR
    • C25F3/00Electrolytic etching or polishing
    • C25F3/02Etching
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25FPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC REMOVAL OF MATERIALS FROM OBJECTS; APPARATUS THEREFOR
    • C25F7/00Constructional parts, or assemblies thereof, of cells for electrolytic removal of material from objects; Servicing or operating

Landscapes

  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Environmental Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Ecology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biodiversity & Conservation Biology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Business, Economics & Management (AREA)
  • Emergency Management (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)

Abstract

본 고안은 분리된 공간에 배치된 금속 시편에 균일한 전류를 배분하여 여러 개의 금속 시편을 동시에 전해 에칭할 수 있어 에칭 시험의 생산성을 향상시킬 수 있는 전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그에 관한 것으로, 시험 본체로부터 연결되는 양극 전선과 음극 전선을 시편에 대응하는 개수로 분할하여 연결하는 분배기, 단자에서 출력되는 전류를 감지하여 시간에 따른 단자별 전류값 변화량을 표시하는 디스플레이, 격벽을 통해 분리된 공간 각각에 시편이 배치되어 전해액에 담지하는 전해액 용기, 양극 전선을 연결한 금속판을 고정하고, 음극 전선을 연결한 전극봉을 위치 이동 가능하도록 고정하는 고정 스탠드, 및 시험 본체에 전원을 공급하여 전류를 출력하도록 하고, 전류값이 목표 전류값에 도달하면 유지 시간을 경과한 후 시험 본체의 전원을 차단하는 제어기를 포함한다.The present invention relates to a multi-terminal jig for an electrolytic etching test that can improve the productivity of an etching test by distributing a uniform current to a metal specimen placed in a separate space to electrolytically etch several metal specimens at the same time, and the test body A divider that divides and connects the positive and negative wires connected to the specimen into the number corresponding to the specimen, a display that detects the current output from the terminals and displays the amount of change in the current value for each terminal over time, in each space separated through the partition wall. An electrolyte container in which the specimen is placed and supported in the electrolyte, a metal plate to which the positive wire is connected, and a fixed stand for fixing the electrode to which the negative wire is connected can be moved, and power is supplied to the test body to output current , and a controller that cuts off the power of the test body after the holding time has elapsed when the current value reaches the target current value.

Description

전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그{MULTI-TERMINAL JIG FOR ELECTROLYTIC ETCHING TEST}Multi-terminal jig for electrolytic etching test {MULTI-TERMINAL JIG FOR ELECTROLYTIC ETCHING TEST}

본 고안은 전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 분리된 공간에 배치된 금속 시편에 균일한 전류를 배분하여 여러 개의 금속 시편을 동시에 전해 에칭할 수 있어 에칭 시험의 생산성을 향상시킬 수 있는 전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그에 관한 것이다.The present invention relates to a multi-terminal jig for an electrolytic etching test, and more specifically, it is possible to electrolytically etch several metal specimens simultaneously by distributing a uniform current to a metal specimen disposed in a separate space, thereby improving the productivity of the etching test. It relates to a multi-terminal jig for electrolytic etching test that can be used.

일반적으로, 철 및 비철합금 등의 금속 재료의 미세조직을 관찰할 때는 에칭 처리를 하고 있는데, 스테인리스강과 같이 부식이 용이하지 않은 금속의 경우 일반적인 화학 에칭법을 사용할 수 없으므로 미세 조직의 분석을 위해 전기화학반응을 이용한 전해 에칭 장치를 주로 사용한다. In general, when observing the microstructure of metal materials such as ferrous and non-ferrous alloys, etching is performed. For metals that do not easily corrode, such as stainless steel, general chemical etching methods cannot be used. Electrolytic etching equipment using chemical reaction is mainly used.

전해 에칭 장치는 처리조에 반응 용액을 저장한 상태에서 에칭 대상 금속을 처리조에 담지하고, 에칭 대상 금속에 전류를 부여하여 에칭 대상 금속에서 해리된 철 이온과의 반응을 분석함에 따라 에칭 대상 금속의 메시 조직을 분석한다.The electrolytic etching apparatus supports the etching target metal in the processing tank while the reaction solution is stored in the processing tank, and analyzes the reaction with iron ions dissociated from the etching target metal by applying an electric current to the etching target metal. Analyze the organization.

종전의 전해 에칭으로 금속의 조직을 현출하는 방법으로는, 전해액을 에칭조에 채우고 음극 전극봉을 삽입한 후 양극 전극을 시편에 접촉시켜 전해액에 담그고, 전극에 전류를 인가하면 전기화학반응이 일어나 금속 표면층을 부식시켜 금속의 조직을 현출할 수 있게 된다. In the conventional method of exposing the metal structure by electrolytic etching, an electrochemical reaction occurs when an electrolytic solution is filled in an etching bath, a cathode electrode is inserted, the anode electrode is brought into contact with the specimen, and immersed in the electrolytic solution, and an electric current is applied to the electrode. It is possible to corrode the metal to reveal the structure of the metal.

이 경우 전해 에칭 장치는 음극 전선과 양극 전선이 고정 지그에 고정되어 있으며, 목표 전류값 1A 도달을 위하여 전압을 조절해야 하나, 고정 지그에 전극이 고정되는 특성상 전극간 거리를 조절할 수 없는 구조이므로, 전극간 거리를 고정시킨 상태에서 사용자가 시험장비의 출력 전압값을 증감하여 목표 전류값 1A에 도달시키고, 90초간 유지하는 방식으로 전해 에칭 시험을 진행하게 된다.In this case, in the electrolytic etching apparatus, the cathode wire and the anode wire are fixed to the fixing jig, and the voltage must be adjusted to reach the target current value of 1A. In a state where the distance between the electrodes is fixed, the user increases or decreases the output voltage value of the test equipment to reach the target current value of 1A, and the electrolytic etching test is performed in a manner that is maintained for 90 seconds.

기존에 시판 중인 전해 에칭 장치는 1회 시험시 하나의 시편만 시험할 수 있으며 2개 이상의 시편을 동시에 시험하고자 할 경우 균일한 전류 배분이 어려워 부식 차이가 발생하는 문제점이 있다.Existing electrolytic etching devices on the market can test only one specimen at a time, and when two or more specimens are to be tested at the same time, it is difficult to uniformly distribute current, so there is a problem in that there is a difference in corrosion.

한국공개특허 제10-2004-0055987호는 에칭시약용기의 상측에 이격 설치되는 고정판과, 고정판의 절개된 일단 양측을 관통하여 배설되는 나사축과, 나사축의 나사산에 끼워져 고정판의 절개된 폭 내에서 이동 가능하게 설치되고 각 하단에 시편접지봉이 고정된 시편접지봉홀더와, 시편접지봉과 거리를 두고 고정판에 고정된 침전봉을 포함하여, 시편을 균일하게 에칭할 수 있고, 에칭 속도가 종래의 1봉식에 비해 향상되는 봉 간격 조절이 가능한 전해에칭장치를 개시하고 있다.Korean Patent Application Laid-Open No. 10-2004-0055987 discloses a fixing plate installed spaced apart from the upper side of an etching reagent container, a screw shaft passing through both sides of the cut end of the fixing plate, and a screw thread inserted into the screw thread of the fixing plate within the cut width of the fixing plate. The specimen can be etched uniformly, and the etching rate is lower than the conventional one-rod type, including a specimen grounding rod holder which is movably installed and fixed to the specimen grounding rod at the lower end, and a settling rod fixed to a fixed plate at a distance from the specimen grounding rod. Disclosed is an electrolytic etching apparatus capable of adjusting the rod spacing that is improved compared to the present invention.

한국공개특허 제10-2004-0055987호(2004.06.30, 공개)Korean Patent Publication No. 10-2004-0055987 (June 30, 2004, published)

따라서 본 고안은 상술한 문제점을 해결하기 위해 도출된 것으로서, 본 고안은 분리된 공간에 배치된 금속 시편에 균일한 전류를 배분하여 여러 개의 금속 시편을 동시에 전해 에칭할 수 있어 에칭 시험의 생산성을 향상시킬 수 있는 전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그를 제공하는데 그 목적이 있다.Therefore, the present invention is derived to solve the above problems, and the present invention distributes a uniform current to a metal specimen disposed in a separate space to electrolytically etch several metal specimens at the same time, thereby improving the productivity of the etching test An object of the present invention is to provide a multi-terminal jig for electrolytic etching test that can be performed.

또한, 본 고안은 사용자가 수작업으로 조절하던 출력 전류값과 유지시간을 자동으로 적용하도록 개선하여 여러 개의 시편을 동시에 시험하면서도 품질 균일성을 확보할 수 있는 전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그를 제공하는데 다른 목적이 있다.In addition, the present invention is to provide a multi-terminal jig for electrolytic etching testing that can ensure quality uniformity while testing multiple specimens at the same time by improving to automatically apply the output current value and holding time manually adjusted by the user. There is this.

본 고안의 다른 목적들은 이하에 서술되는 실시예를 통하여 더욱 명확해질 것이다.Other objects of the present invention will become clearer through the examples described below.

본 고안의 일 측면에 따른 전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그는 시험 본체로부터 연결되는 양극 전선과 음극 전선을 시험대상의 시편에 대응하는 개수로 분할하여 연결하기 위한 단자를 포함하는 분배기; 상기 단자에서 출력되는 전류를 감지하여 시간에 따른 단자별 전류값 변화량을 표시하는 디스플레이; 격벽을 통해 공간이 분리되고, 분리된 공간 각각에 상기 시편이 배치되며, 상기 분리된 공간 각각에 전해액을 공급하여 상기 시편을 담지하는 전해액 용기; 상기 전해액 용기 내에서 상기 양극 전선을 연결한 금속판을 고정하고, 상기 음극 전선을 연결한 전극봉을 위치 이동 가능하도록 고정하는 고정 스탠드; 및 상기 시험 본체에 전원을 공급하여 전류를 출력하도록 하고, 상기 전류값이 기 설정된 목표 전류값에 도달하면 기 설정된 유지 시간을 경과한 후 상기 시험 본체의 전원을 차단하는 제어기를 포함한다.A multi-terminal jig for an electrolytic etching test according to an aspect of the present invention includes: a distributor including a terminal for dividing and connecting the positive and negative wires connected from the test body into numbers corresponding to the specimens of the test object; a display for detecting a current output from the terminal and displaying a change amount of the current value for each terminal according to time; an electrolyte container in which a space is separated through a partition wall, the specimen is disposed in each of the separated spaces, and an electrolyte is supplied to each of the separated spaces to support the specimen; a fixing stand for fixing the metal plate to which the positive wire is connected in the electrolyte container, and for fixing the electrode to which the negative wire is connected to be movable; and a controller that supplies power to the test body to output a current, and cuts off the power of the test body after a preset holding time has elapsed when the current value reaches a preset target current value.

본 고안에 따른 전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그는 다음과 같은 실시예들을 하나 또는 그 이상 구비할 수 있다. The multi-terminal jig for an electrolytic etching test according to the present invention may include one or more of the following embodiments.

예를 들면, 상기 분배기는 상기 시험 본체로부터 출력되는 전류가 상기 목표 전류값으로 시편 각각에 균일 분배되도록 병렬 구조로 배치되어 상기 단자에 저항을 가지는 것을 특징으로 할 수 있다.For example, the divider may be arranged in a parallel structure so that the current output from the test body is uniformly distributed to each of the specimens at the target current value, and may have a resistance at the terminal.

상기 디스플레이부는 시간에 따른 단자별 전류값 변화량과 단자별 목표 전류값의 유지 여부를 그래프로 제공할 수 있다.The display unit may provide the amount of change in the current value for each terminal according to time and whether the target current value for each terminal is maintained as a graph.

상기 전해액 용기는 상기 격벽을 절연 구조로 형성하여 상기 분리된 공간 각각에 배치되는 시편 간의 전류 흐름을 차단하고, 상기 분리된 공간 각각에 눈금바가 설치될 수 있다.The electrolyte container may form the partition wall as an insulating structure to block current flow between specimens disposed in each of the separated spaces, and a scale bar may be installed in each of the separated spaces.

상기 제어기는 상기 목표 전류값에 도달하거나 상기 유지 시간이 경과하면 램프를 발광시키거나 스피커를 통해 경고음을 출력할 수 있다.The controller may emit a lamp or output a warning sound through a speaker when the target current value is reached or the holding time elapses.

상기 전류값과 상기 전류값에 대응하는 시각을 연관하여 저장하는 메모리 및 유선 또는 무선 통신을 통해 단말과 연결되고 상기 단자별 전류값 변화량과 단자별 목표 전류값의 유지 여부를 상기 단말에 전송하는 통신 모듈을 더 포함할 수 있다.Communication that is connected to a terminal through a memory and wired or wireless communication that stores the current value in association with a time corresponding to the current value and transmits to the terminal the amount of change in the current value for each terminal and whether to maintain the target current value for each terminal It may further include a module.

본 고안에 따른 전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그는 다음과 같은 효과를 제공한다.The multi-terminal jig for electrolytic etching test according to the present invention provides the following effects.

본 고안은 분리된 공간에 배치된 금속 시편에 균일한 전류를 배분하여 여러 개의 금속 시편을 동시에 전해 에칭할 수 있어 에칭 시험의 생산성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.The present invention has the effect of improving the productivity of the etching test by distributing a uniform current to the metal specimens arranged in a separate space to electrolytically etch several metal specimens at the same time.

본 고안은 사용자가 수작업으로 조절하던 출력 전류값과 유지시간을 자동으로 적용하도록 개선하여 여러 개의 시편을 동시에 시험하면서도 품질 균일성을 확보할 수 있는 효과가 있다.The present invention has the effect of ensuring uniformity of quality while testing multiple specimens at the same time by improving the automatic application of the output current value and holding time that the user manually adjusted.

본 고안의 효과는 이상에서 언급된 것들에 한정되지 않으며, 언급되지 아니한 다른 효과들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.Effects of the present invention are not limited to those mentioned above, and other effects not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

도 1은 본 고안에 따른 전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그를 도시한 개략도이다.
도 2는 본 고안에 따른 전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그의 형상을 가정하여 예시한 도면이다.
1 is a schematic diagram showing a multi-terminal jig for an electrolytic etching test according to the present invention.
2 is a view illustrating assuming the shape of a multi-terminal jig for an electrolytic etching test according to the present invention.

본 고안은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시 예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에서 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 고안을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 고안의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 본 고안을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 고안의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.Since the present invention can apply various transformations and can have various embodiments, specific embodiments are illustrated in the drawings and described in detail in the detailed description. However, this is not intended to limit the present invention to specific embodiments, and it should be understood to include all transformations, equivalents and substitutes included in the spirit and scope of the present invention. In describing the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known technology may obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 고안을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terms used in the present application are only used to describe specific embodiments, and are not intended to limit the present invention. The singular expression includes the plural expression unless the context clearly dictates otherwise. In the present application, terms such as “comprise” or “have” are intended to designate that a feature, number, step, operation, component, part, or combination thereof described in the specification exists, but one or more other features It should be understood that this does not preclude the existence or addition of numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. Terms such as first, second, etc. may be used to describe various elements, but the elements should not be limited by the terms. The above terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 고안에 따른 실시예들을 상세히 설명하기로 하며, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어 도면 부호에 상관없이 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 참조번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.Hereinafter, embodiments according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, and in the description with reference to the accompanying drawings, the same or corresponding components, regardless of reference numerals, are given the same reference numbers and duplicates thereof A description will be omitted.

이하 본 고안의 실시예들에 따른 전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그에 대하여 도 1 및 도 2를 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a multi-terminal jig for an electrolytic etching test according to embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 and 2 .

도 1은 본 고안에 따른 전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그를 도시한 개략도이고, 도 2는 본 고안에 따른 전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그의 형상을 가정하여 예시한 도면이다.1 is a schematic diagram illustrating a multi-terminal jig for an electrolytic etching test according to the present invention, and FIG. 2 is a diagram illustrating assuming the shape of a multi-terminal jig for an electrolytic etching test according to the present invention.

도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 본 고안에 따른 전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그(100)는 분배기(110), 디스플레이(120), 전해액 용기(130), 고정 스탠드(140) 및 제어기(150)를 포함하고, 메모리(160) 및 통신 모듈(170)을 더 포함할 수 있다.1 and 2, the multi-terminal jig 100 for an electrolytic etching test according to the present invention is a distributor 110, a display 120, an electrolyte container 130, a fixed stand 140 and a controller 150 ), and may further include a memory 160 and a communication module 170 .

분배기(110)는 시험 본체(10)로부터 연결되는 양극 전선(11)을 시험대상의 시편(20)에 대응하는 개수로 분할하여 연결하기 위한 복수의 단자(111-1)를 포함하는 양극 분배기(111)와, 음극 전선(12)을 시험대상의 시편(20)에 대응하는 개수로 분할하여 연결하기 위한 복수의 단자(112-1)를 포함하는 음극 분배기(112)로 이루어진다. 시험 본체(110)는 제어기(150)의 제어에 따라 온오프되어 복수의 단자(111-1, 112-1)에 전류를 공급할 수 있다.The divider 110 is a positive divider ( 111) and a negative electrode distributor 112 including a plurality of terminals 112-1 for dividing and connecting the negative electrode wire 12 to the number corresponding to the specimen 20 to be tested. The test body 110 may be turned on and off under the control of the controller 150 to supply current to the plurality of terminals 111-1 and 112-1.

양극 분배기(111)는 시험 본체(10)와 연결되는 하나의 양극 전선(11)이 분할되어 복수의 단자(111-1)에 하나씩 연결되도록 하고, 복수의 단자(111-1)에 저항을 배치하여 시험 본체(10)로부터 출력되는 전류가 목표 전류값으로 시편(20) 각각에 균일 분배되도록 할 수 있다. The positive divider 111 divides one positive wire 11 connected to the test body 10 to be connected to a plurality of terminals 111-1 one by one, and arranges a resistor in the plurality of terminals 111-1. Thus, the current output from the test body 10 may be uniformly distributed to each of the specimens 20 as a target current value.

음극 분배기(112)는 시험 본체(10)와 연결되는 하나의 음극 전선(12)이 분할되어 복수의 단자(112-1)에 하나씩 연결되도록 하고, 복수의 단자(112-1)에 저항을 배치하여 시험 본체(10)로부터 출력되는 전류가 목표 전류값으로 시편(20) 각각에 균일 분배되도록 할 수 있다. The negative electrode divider 112 divides one negative wire 12 connected to the test body 10 to be connected to a plurality of terminals 112-1 one by one, and arranges resistors in the plurality of terminals 112-1. Thus, the current output from the test body 10 may be uniformly distributed to each of the specimens 20 as a target current value.

양극 분배기(111)와 음극 분배기(112)는 병렬 구조로 배치되어 전해액 용기(130)의 분리된 각 공간에서 전류가 균일 분배되도록 할 수 있다. 양극 분배기(111)와 음극 분배기(112)는 단자별(111-1, 112-1) 저항 교체가 가능하여 A262-A 시험 외에 다양한 전압 및 전류를 활용하는 모든 금속 부식 시험, 즉 전해 에칭이 가능하도록 구현될 수 있다.The anode divider 111 and the cathode divider 112 may be arranged in a parallel structure so that the current is uniformly distributed in each separated space of the electrolyte container 130 . The anode divider 111 and the cathode divider 112 are capable of replacing resistances for each terminal (1111-1, 112-1), so all metal corrosion tests using various voltages and currents, that is, electrolytic etching, in addition to the A262-A test are possible. can be implemented to do so.

일 실시예에서, 복수의 단자(111-1, 112-1)는 양극 분배기(111)와 음극 분배기(112)에 각각 복수로 형성되어 있고, 시편(20)의 개수에 따라 통전 온오프가 결정되어 불필요한 전류의 낭비를 방지할 수 있다. 즉, 복수의 단자(111-1, 112-1)는 시편(20)의 개수만큼 필요하기 때문에 시편(10)의 개수를 초과하는 특정 단자(111-1, 112-1)의 경우 전류가 흐르지 않도록 하여 전류의 낭비를 방지할 수 있다.In an embodiment, a plurality of terminals 111-1 and 112-1 are respectively formed in the positive electrode distributor 111 and the negative electrode distributor 112 , and energization on/off is determined according to the number of specimens 20 . Thus, unnecessary waste of current can be prevented. That is, since the plurality of terminals 111-1 and 112-1 are required as many as the number of specimens 20, in the case of specific terminals 111-1 and 112-1 exceeding the number of specimens 10, no current flows. This can prevent wastage of current.

디스플레이(120)는 복수의 단자(111-1, 112-1) 각각에서 출력되는 전류를 감지하고, 시간에 따른 단자별 전류값 변화량과 단자별 목표 전류값의 유지 여부를 아날로그 또는 디지털 형태로 표시한다. 디스플레이(120)는 사용자가 시각적으로 전류값 변화량을 볼 수 있도록 하는 화면을 포함하고, 단자별 전류값 변화량과 단자별 목표 전류값의 유지 여부를 그래프로 표시하여 시인성을 향상시킬 수 있다.The display 120 detects the current output from each of the plurality of terminals 111-1 and 112-1, and displays the amount of change in the current value for each terminal over time and whether the target current value for each terminal is maintained in analog or digital form. do. The display 120 may include a screen that allows the user to visually see the amount of change in the current value, and may display the amount of change in the current value for each terminal and whether the target current value for each terminal is maintained in a graph to improve visibility.

디스플레이(120)는 단자별 전류값 변화량을 표시할 때 양극 전선(11)과 연관된 단자(111-1) 중 어떤 단자(111-1)인지 표시하고, 음극 전선(12)과 연관된 단자(112-1) 중 어떤 단자(112-1)인지 표시할 수 있다.The display 120 displays which terminal 111-1 of the terminals 111-1 associated with the positive wire 11 when displaying the amount of change in the current value for each terminal, and the terminal 112- associated with the negative wire 12 1) of which terminal 112-1 may be displayed.

전해액 용기(130)는 시편(20)을 담지하고 전해액을 저장하여 시편(20)을 전해 에칭하는데 사용하는 것으로, 절연 구조의 격벽(131)을 통해 공간이 복수로 분리되어 분리된 공간 각각의 전류 흐름이 차단된 상태로 복수의 시편(20)에 대한 전해 에칭을 동시에 수행하도록 할 수 있다.The electrolyte container 130 is used to support the specimen 20 and store the electrolyte to electrolytically etch the specimen 20, and the space is separated into a plurality of spaces through the partition wall 131 of the insulating structure, and each current in the separated space In a state in which the flow is blocked, the electrolytic etching of the plurality of specimens 20 may be simultaneously performed.

전해액 용기(130)는 분리된 공간 각각에 시편(20)이 배치되고, 분리된 공간 각각에 전해액을 공급하여 시편(20)을 담지할 수 있다. 전해액 용기(130)는 분리된 공간 각각에 분할된 양극 전선(11-1)에 연결되는 금속판(40)과 분할된 음극 전선(12-1)에 연결되는 전극봉(50)이 담지될 수 있다. 전해액 용기(130)는 금속판(40)과 전극봉(50)에 의해 전해액에서 전기화학반응이 나타나 시편(20)의 전해 에칭이 가능하도록 공간을 제공할 수 있다.In the electrolyte container 130 , the specimen 20 may be disposed in each of the separated spaces, and the specimen 20 may be supported by supplying an electrolyte to each of the separated spaces. In the electrolyte container 130 , the metal plate 40 connected to the divided anode wire 11-1 and the electrode rod 50 connected to the divided cathode wire 12-1 may be supported in each of the separated spaces. The electrolyte container 130 may provide a space so that an electrochemical reaction occurs in the electrolyte by the metal plate 40 and the electrode 50 to enable the electrolytic etching of the specimen 20 .

전해액 용기(130)는 분리된 공간 각각에 눈금바(132)가 설치되어 전해액의 높이를 사용자가 알 수 있도록 하고, 전해액이 규정된 높이 이상을 유지하도록 할 수 있다.In the electrolyte container 130, a scale bar 132 is installed in each of the separated spaces so that the user can know the height of the electrolyte, and the electrolyte can be maintained at a prescribed height or more.

고정 스탠드(140)는 전해액 용기(130)의 내부 또는 전해액 용기(130)의 상부에 배치되고, 전해액 용기(130) 내에서 분할된 양극 전선(11-1)을 연결한 금속판(40)을 고정하고, 분할된 음극 전선(12-1)을 연결한 전극봉(50)을 위치 이동 가능하도록 고정할 수 있다. The fixed stand 140 is disposed inside the electrolyte container 130 or on the upper part of the electrolyte container 130 , and fixes the metal plate 40 to which the anode wire 11-1 divided in the electrolyte container 130 is connected. and the electrode rod 50 to which the divided negative electrode wire 12-1 is connected can be fixed so as to be movable.

고정 스탠드(140)는 전해 에칭 시험 과정에서 양극 전선(11-1)과 연결된 금속판(40)의 위치를 고정하여 움직이지 않도록 하고, 음극 전선(12-1)과 연결된 전극봉(50)을 위치 가변 가능하도록 나사(Screw) 또는 유사한 구조를 이용하여 고정할 수 있다. 고정 스탠드(140)는 사용자가 전극봉(50)의 위치를 조절하여 전극봉(50)과 금속판(40)과의 거리를 조절할 수 있도록 함에 따라 전해액으로 인가되는 전류값을 변화시키도록 할 수 있다.The fixed stand 140 fixes the position of the metal plate 40 connected to the anode wire 11-1 in the electrolytic etching test process so that it does not move, and the electrode rod 50 connected to the cathode wire 12-1 is variable in position. If possible, it can be fixed using a screw or a similar structure. The fixed stand 140 may allow the user to adjust the position of the electrode 50 to adjust the distance between the electrode 50 and the metal plate 40 to change the current value applied to the electrolyte.

사용자는 디스플레이(120)에 표시되는 단자별 전류값 변화량을 보고 목표 전류값에 도달하기 위해 금속판(40)과 전극봉(50)의 거리를 조절할 수 있다. 여기에서, 고정 스탠드(140)는 금속판(40)과 전극봉(50)의 간격이 너무 가까워 단락되지 않도록 금속판(40)과 전극봉(50)이 최소의 간격을 유지하도록 제한할 수 있다.The user may adjust the distance between the metal plate 40 and the electrode rod 50 to reach the target current value by looking at the amount of change in the current value for each terminal displayed on the display 120 . Here, the fixed stand 140 may limit the metal plate 40 and the electrode rod 50 to maintain a minimum distance so that the metal plate 40 and the electrode rod 50 are not short-circuited too close.

고정 스탠드(140)는 금속판(40)의 위치를 고정하고, 전극봉(50)의 위치를 가변되도록 고정하는 구조라면 어떠한 형상이든 채택 가능하다.The fixed stand 140 may adopt any shape as long as it has a structure for fixing the position of the metal plate 40 and fixing the position of the electrode rod 50 to be variable.

제어기(150)는 시험 본체(10)에 전원을 공급하거나 전원 온오프를 제어하여 시험 본체(10)에서 전류를 출력하도록 하고, 단자별(111-1, 112-1)로 출력되는 전류값이 기 설정된 목표 전류값 1A(Ampere)에 도달하면 기 설정된 유지 시간 90초를 경과한 후 시험 본체(10)의 전원을 제어하여 전류 공급을 차단할 수 있다.The controller 150 supplies power to the test body 10 or controls power on/off to output a current from the test body 10, and the current value output to each terminal 111-1 and 112-1 is When a preset target current value of 1A (Ampere) is reached, after a preset holding time of 90 seconds has elapsed, the power supply of the test body 10 may be controlled to cut off the current supply.

제어기(150)는 단자별(111-1, 112-1)로 출력되는 전류값이 목표 전류값에 도달하거나 유지 시간이 경과하면 별도로 설치되는 램프(미도시)를 점등시켜 발광하도록 하거나, 스피커를 통해 경고음을 출력하도록 할 수 있다.When the current value output to each terminal 111-1, 112-1 reaches the target current value or the holding time elapses, the controller 150 turns on a separately installed lamp (not shown) to emit light, or turns off the speaker. You can output a warning sound through

제어기(150)는 별도의 센서(미도시)와 연결되어 전해액 용기(130)에서 전해액이 누출되는 것을 감지하고, 양극 전극(11-1) 또는 음극 전극(12-1)과 시편(20)이 접촉하는 것을 감지하며, 감전 등 시험 중 발생할 수 있는 사고를 감지할 수 있고, 이상 감지시 전원을 자동으로 차단할 수 있다.The controller 150 is connected to a separate sensor (not shown) to detect leakage of the electrolyte from the electrolyte container 130 , and the positive electrode 11-1 or the negative electrode 12-1 and the specimen 20 are connected to each other. It detects contact and can detect accidents that may occur during testing, such as electric shock, and can automatically cut off the power when an abnormality is detected.

제어기(150)는 디스플레이(120)에서 재공하는 단자별 전류값 변화량과 단자별 목표 전류값의 유지 여부를 통신 모듈(170)을 통해 연결되는 단말에 전송하도록 제어할 수 있다.The controller 150 may control to transmit the change amount of the current value for each terminal provided by the display 120 and whether the target current value for each terminal is maintained to the terminal connected through the communication module 170 .

제어기(150)는 단자별(111-1, 112-1)로 출력되는 전류값이 목표 전류값에 도달하거나 유지 시간이 경과하면 통신 모듈(170)을 통해 연결되는 단말에 전송하도록 제어할 수 있다.The controller 150 may control to transmit the current value output to each terminal 111-1 and 112-1 to a terminal connected through the communication module 170 when the current value reaches the target current value or the holding time elapses. .

제어기(150)는 메모리(160) 및 통신 모듈(170)과 연결되어 메모리(160) 및 통신 모듈(170)의 동작 및 데이터 흐름을 제어할 수 있다.The controller 150 may be connected to the memory 160 and the communication module 170 to control operations and data flow of the memory 160 and the communication module 170 .

메모리(160)는 단자별(111-1, 112-1) 출력되는 전류값과 전류값에 대응하는 출력 시각을 연관하여 저장한다. 또한, 메모리(160)는 사용자로부터 입력되는 목표 전류값과 유지 시간을 저장할 수 있다.The memory 160 stores current values output for each terminal 111-1 and 112-1 in association with an output time corresponding to the current value. Also, the memory 160 may store a target current value and a holding time input from a user.

통신 모듈(170)은 유선 또는 무선 통신을 통해 단말과 연결되고 단자별 전류값 변화량, 단자별 목표 전류값의 유지 여부, 목표 전류값에 도달 여부, 유지 시간의 경과 여부를 단말에 전송할 수 있다. 여기에서 단말은 사용자에 의해 휴대되는 장치로, 중앙처리장치, 메모리 장치 및 입출력 수단을 구비한 PC(Personal Computer), 스마트폰, PDA(Personal Digital Assistant), 태블릿 PC와 같은 컴퓨팅 장치에 해당할 수 있다.The communication module 170 may be connected to the terminal through wired or wireless communication and transmit to the terminal the amount of change in the current value for each terminal, whether the target current value for each terminal is maintained, whether the target current value is reached, and whether the maintenance time has elapsed. Here, the terminal is a device carried by the user, and may correspond to a computing device such as a personal computer (PC), a smart phone, a personal digital assistant (PDA), and a tablet PC equipped with a central processing unit, a memory device, and input/output means. have.

상기에서는 본 고안의 일 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 고안의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 고안을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although described above with reference to an embodiment of the present invention, those of ordinary skill in the art can variously modify the present invention within the scope not departing from the spirit and scope of the present invention described in the claims below. It will be appreciated that modifications and variations are possible.

100: 전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그
110: 분배기
120: 디스플레이
130: 전해액 용기
140: 고정 스탠드
150: 제어기
160: 메모리
170: 통신 모듈
100: multi-terminal jig for electrolytic etching test
110: divider
120: display
130: electrolyte container
140: fixed stand
150: controller
160: memory
170: communication module

Claims (7)

시험 본체로부터 연결되는 양극 전선과 음극 전선을 시험대상의 시편에 대응하는 개수로 분할하여 연결하기 위한 단자를 포함하는 분배기;
상기 단자에서 출력되는 전류를 감지하여 시간에 따른 단자별 전류값 변화량을 표시하는 디스플레이;
격벽을 통해 공간이 분리되고, 분리된 공간 각각에 상기 시편이 배치되며, 상기 분리된 공간 각각에 전해액을 공급하여 상기 시편을 담지하는 전해액 용기;
상기 전해액 용기 내에서 상기 양극 전선을 연결한 금속판을 고정하고, 상기 음극 전선을 연결한 전극봉을 위치 이동 가능하도록 고정하는 고정 스탠드; 및
상기 시험 본체에 전원을 공급하여 전류를 출력하도록 하고, 상기 전류값이 기 설정된 목표 전류값에 도달하면 기 설정된 유지 시간을 경과한 후 상기 시험 본체의 전원을 차단하는 제어기를 포함하며,
상기 분배기는,
상기 시험 본체로부터 출력되는 전류가 상기 목표 전류값으로 시편 각각에 균일 분배되도록 병렬 구조로 배치되어 상기 단자에 저항을 가지는 것을 특징으로 하는
전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그.
a distributor including a terminal for dividing and connecting the positive and negative wires connected from the test body into numbers corresponding to the specimens to be tested;
a display for detecting a current output from the terminal and displaying a change amount of the current value for each terminal according to time;
an electrolyte container in which a space is separated through a partition wall, the specimen is disposed in each of the separated spaces, and an electrolyte is supplied to each of the separated spaces to support the specimen;
a fixing stand for fixing the metal plate to which the positive wire is connected in the electrolyte container, and for fixing the electrode to which the negative wire is connected to be movable; and
and a controller that supplies power to the test body to output a current, and cuts off the power to the test body after a preset holding time has elapsed when the current value reaches a preset target current value,
The distributor is
It is characterized in that it is arranged in a parallel structure so that the current output from the test body is uniformly distributed to each of the specimens as the target current value and has a resistance at the terminal.
Multi-terminal jig for electrolytic etching test.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 디스플레이는
시간에 따른 단자별 전류값 변화량과 단자별 목표 전류값의 유지 여부를 그래프로 제공하는
전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그.
According to claim 1,
the display is
The graph provides the amount of change in the current value for each terminal over time and whether the target current value for each terminal is maintained as a graph.
Multi-terminal jig for electrolytic etching test.
제1항에 있어서,
상기 전해액 용기는
상기 격벽을 절연 구조로 형성하여 상기 분리된 공간 각각에 배치되는 시편 간의 전류 흐름을 차단하고, 상기 분리된 공간 각각에 눈금바가 설치되는
전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그.
According to claim 1,
The electrolyte container is
The partition wall is formed as an insulating structure to block current flow between specimens disposed in each of the separated spaces, and a scale bar is installed in each of the separated spaces.
Multi-terminal jig for electrolytic etching test.
제1항에 있어서,
상기 제어기는
상기 목표 전류값에 도달하거나 상기 유지 시간이 경과하면 램프를 발광시키거나 스피커를 통해 경고음을 출력하는
전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그.
According to claim 1,
the controller
When the target current value is reached or the holding time elapses, the lamp emits light or a warning sound is output through the speaker.
Multi-terminal jig for electrolytic etching test.
제1항에 있어서,
상기 전류값과 상기 전류값에 대응하는 시각을 연관하여 저장하는 메모리 및 유선 또는 무선 통신을 통해 단말과 연결되고 상기 단자별 전류값 변화량과 단자별 목표 전류값의 유지 여부를 상기 단말에 전송하는 통신 모듈을 더 포함하는
전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그.
According to claim 1,
Communication that is connected to a terminal through a memory and wired or wireless communication that stores the current value in association with a time corresponding to the current value and transmits to the terminal the amount of change in the current value for each terminal and whether to maintain the target current value for each terminal further comprising a module
Multi-terminal jig for electrolytic etching test.
제1항에 있어서,
상기 고정 스탠드는,
나사(screw) 고정 구조를 이용하여 상기 전극봉의 위치를 이동시킴으로써 전류값을 조절하는 것을 특징으로 하는 전해 에칭 시험용 멀티 터미널 지그.
According to claim 1,
The fixed stand,
A multi-terminal jig for electrolytic etching test, characterized in that the current value is adjusted by moving the position of the electrode using a screw fixing structure.
KR2020200002100U 2020-06-17 2020-06-17 Multi-terminal jig for electrolytic etching test KR200496071Y1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2020200002100U KR200496071Y1 (en) 2020-06-17 2020-06-17 Multi-terminal jig for electrolytic etching test

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2020200002100U KR200496071Y1 (en) 2020-06-17 2020-06-17 Multi-terminal jig for electrolytic etching test

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20210002892U KR20210002892U (en) 2021-12-24
KR200496071Y1 true KR200496071Y1 (en) 2022-10-26

Family

ID=79178988

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR2020200002100U KR200496071Y1 (en) 2020-06-17 2020-06-17 Multi-terminal jig for electrolytic etching test

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR200496071Y1 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114980534A (en) * 2022-06-07 2022-08-30 广州兴森快捷电路科技有限公司 Printed circuit board etching device

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015169434A (en) * 2014-03-04 2015-09-28 日本電波工業株式会社 Etching monitor sensor, etching monitor, and etching method
KR101766282B1 (en) * 2016-08-29 2017-08-24 주식회사 포스코 Specimen holder and electrolytic etching apparatus including the same
JP6610767B2 (en) 2016-02-18 2019-11-27 日本製鉄株式会社 Electrolytic etching apparatus and method for extracting metal compound particles

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR980009253U (en) * 1996-07-10 1998-04-30 김종진 Variable Electrolytic Etching Measuring Device
KR20040055987A (en) 2002-12-23 2004-06-30 재단법인 포항산업과학연구원 Apparatus for elecrto-chemical etching with adjustable rod
KR100943352B1 (en) * 2008-01-09 2010-02-22 강훈 Etching system for auto control of etchant concentration
KR101780087B1 (en) * 2010-12-03 2017-09-19 가부시끼가이샤 제이씨유 Method for maintaining etching liquid and system therefor

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015169434A (en) * 2014-03-04 2015-09-28 日本電波工業株式会社 Etching monitor sensor, etching monitor, and etching method
JP6610767B2 (en) 2016-02-18 2019-11-27 日本製鉄株式会社 Electrolytic etching apparatus and method for extracting metal compound particles
KR101766282B1 (en) * 2016-08-29 2017-08-24 주식회사 포스코 Specimen holder and electrolytic etching apparatus including the same

Also Published As

Publication number Publication date
KR20210002892U (en) 2021-12-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR200496071Y1 (en) Multi-terminal jig for electrolytic etching test
TW201925546A (en) Plating analysis method, plating analysis system, and computer readable storage medium for plating analysis
US4394619A (en) Hall probe with automatic connecting means
JPS6252241B2 (en)
US3061773A (en) Apparatus for cathodic protection
EP0597475B1 (en) Method of monitoring major constituents in plating baths containing codepositing constituents
RU2568964C1 (en) Device to control electrochemical potentials to monitor adhesion of coating by cathode polarisation method
RU2357237C1 (en) Device for integral coulometric control of thickness of metallic electroplatings with subsequent electrochemical restoration
US2758238A (en) Rotating spectrographic electrode holder
KR20130036535A (en) Hydrogen treating device for analysis of hydrogen brittleness of steel member
US3347770A (en) Area measurement and current density control device
CN111801445B (en) Coating device and coating system
CN203365295U (en) Device for detecting corrosion resistance of metal tank
KR102153469B1 (en) Metal specimen support device
US3387210A (en) Method and apparatus for measuring the resistance of an electrochemical cell
KR100784053B1 (en) Apparatus of cu decoration for silicon crystal defect measurement and method thereof
KR20160080490A (en) Coin-plated device
Tan Studying non-uniform electrodeposition using the wire beam electrode method
EP0090407A1 (en) Apparatus and methods for control in plating
RU178301U1 (en) Independent control of electrochemical potentials to control the adhesion of the coating by cathodic polarization
JPS6020762B2 (en) How to adjust cathode current density in electroplating equipment
US20170212071A1 (en) Working electrode holder and electrochemical cell
JP2004226198A (en) Method and apparatus for measuring surface area, and plating method
KR101853113B1 (en) Device for controlling sodium concentration in molten aluminium and aluminium alloy, and the method
KR980009253U (en) Variable Electrolytic Etching Measuring Device

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
REGI Registration of establishment