KR20040085194A - Electroplating solution containing organic acid complexing agent - Google Patents

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KR20040085194A
KR20040085194A KR10-2004-7012648A KR20047012648A KR20040085194A KR 20040085194 A KR20040085194 A KR 20040085194A KR 20047012648 A KR20047012648 A KR 20047012648A KR 20040085194 A KR20040085194 A KR 20040085194A
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electroplating
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KR10-2004-7012648A
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테크닉, 인크
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Abstract

전기도금성 기판상에 하나 또는 그 이상의 금속을 증착하는 것과 관련되어 사용되는 용액이 개시된다. 본 용액은 물; 금속 이온; 및 착화제를 포함한다. 착화제는 4 내지 18개 사이의 탄소 원자를 갖는 유기 화합물인 착화제로서, 상기 화합물은 적어도 하나의 산소원자를 포함하는 5 또는 6 원자 고리 및 적어도 두개의 히드록시기를 포함하는 화합물이다. 화합물은 용액내에서 금속을 착화시키고 금속의 산화를 방지하기에 충분한 양으로 존재한다. 필요하다면, 적절한 pH 조절제가 용액의 용액의 pH를 2내지 10 사이의 범위로 및 바람직하게는 약 3.5내지 5.5의 범위로 유지시킬 수 있도록 용액내에 포함된다. 바람직한 pH 범위에서 용액은 비전기도금성 부분에 불리한 영향을 미치지 않으면서, 전기도금성 부분 및 비전기도금성 부분을 갖는 복합물품을 전기도금하는데 특히 유용하다.A solution used in connection with depositing one or more metals on an electroplatable substrate is disclosed. The solution is water; Metal ions; And complexing agents. A complexing agent is a complexing agent which is an organic compound having between 4 and 18 carbon atoms, which compound is a compound comprising a 5 or 6 membered ring containing at least one oxygen atom and at least two hydroxy groups. The compound is present in an amount sufficient to complex the metal in the solution and prevent oxidation of the metal. If necessary, suitable pH adjusting agents are included in the solution to maintain the pH of the solution in the solution in the range of 2 to 10 and preferably in the range of about 3.5 to 5.5. In the preferred pH range, the solution is particularly useful for electroplating composite articles having an electroplating portion and a non-electroplating portion without adversely affecting the non-electroplating portion.

Description

유기산 착화제를 포함하는 전기도금 용액{Electroplating solution containing organic acid complexing agent}Electroplating solution containing organic acid complexing agent {Electroplating solution containing organic acid complexing agent}

전자부품의 크기는 최근 몇년동안 극적으로 감소되어 왔다. 부품이 크기면에서의 감소하였기 때문에 이들 부품이 전기도금되는 것을 상당히 어렵게 되었다. 또한, 많은 표면 실장 기술(surface mount technology, SMT) 소자는 강산성 또는 강염기성 용액에 의해 손상될 수 있는 감응성 세라믹 부분을 갖는다. 이러한 문제를 피하기 위해서는, 중성 또는 중성에 가까운 pH 전기도금 용액을 사용하는 것이 바람직하게 된다.The size of electronic components has decreased dramatically in recent years. The reduced size of the parts made it extremely difficult for these parts to be electroplated. In addition, many surface mount technology (SMT) devices have sensitive ceramic portions that can be damaged by strong acid or strong base solutions. To avoid this problem, it is preferable to use a neutral or near neutral pH electroplating solution.

US 특허 제 4,163,700호, 제 4,329,207호, 제 4,640,746호, 제 4, 673,470호 및 제 4,681,670호에 중성 또는 중성에 가까운 pH 주석 및 주석/납 합금 전해질이 개시되어 있는데, 이 전해질은 특히 감응성 세라믹 SMT에 적합하도록 공식화되어 있다. 이들 특허에 개시되어 있는 제조공식(formulation)에서는 주석 및/또는 납을 착화시키고 이들을 상승된 pH가 요구되는 용액내에서 용해성 있게 만들기 위해, 구연산염, 글루콘산염, 또는 파이로인산염과 같은 성분의 착화제를 포함한다.US Pat. Nos. 4,163,700, 4,329,207, 4,640,746, 4, 673,470, and 4,681,670 disclose neutral or near neutral pH tin and tin / lead alloy electrolytes, particularly for sensitive ceramic SMTs. Formulated to be appropriate. Formulations disclosed in these patents describe the complexation of components such as citrate, gluconate, or pyrophosphate to complex tin and / or lead and make them soluble in solutions requiring elevated pH. Includes the first.

종래기술에 나타난 용액을 사용하는 경우에는 전착 공정 동안에 소자들사이의 커플링 또는 응집문제가 끊임없이 있어왔다. 평평한 표면을 갖는 작은 소자를 주석 또는 주석 합금하는 경우에 소자들이 도금공정 중에 서로 클러스터를 이루기 쉽다는 것은 다분이 일반적으로 알려진 사실이다. 배럴 도금 SMT 소자의 경우에는 10 %까지의 로드(load)가 커플링될 수 있다(즉, 서로 붙는다)는 사실 또한 특별한 것은 아니다. 어떤 경우에서는, 전체 로드가 커다란 덩어리로 서로 융착된다. 이러한 문제는 도금 용액 조성물 뿐만아니라 도금 방법 및 소자의 기하학적 구조에 따라 그 정도가 다르다. 이는 주석-납 합금 전기도금이 있어서 특히 언급되는 문제이다.In the case of using the solutions shown in the prior art, there has been a constant problem of coupling or aggregation between devices during the electrodeposition process. It is generally known that in the case of tin or tin alloying small devices with flat surfaces, the devices are likely to cluster with each other during the plating process. In the case of barrel-plated SMT devices, up to 10% of the load can be coupled (ie sticking together). In some cases, the entire rod is fused together in large chunks. This problem depends not only on the plating solution composition but also on the plating method and the geometry of the device. This is a particular problem with tin-lead alloy electroplating.

특히 감응성 세라믹 SMT에 적합화되도록 공식화된 중성 또는 중성 근처의 pH 주석 및 주석/납 합금 전해질은 어느 수준이상의 유용성을 갖지만, 부품 융착의 문제점을 해결하지는 않는다. 또한, 세라믹을 공격하는 경향은 pH 뿐만아니라 전해질 조성에 의해 강하게 영향을 받는다는 사실이 알려졌다. 종래의 전해질은 중성 근처 pH에서조차도 신규한 세라믹인 저온 소성 세라믹을 공격한다고 알려져 있다. 또한,박막 도금 부품상에 성장하는 주석 위스커에 관한 문제가 있다. 따라서, 위스커 저항성 주석 증착이 바람직하다. 본 발명은 이제 이러한 문제점을 극복하고 바람직한 증착물을 제공하는 용액 및 공정을 제공한다.In particular neutral or near neutral pH tin and tin / lead alloy electrolytes formulated to be suitable for sensitive ceramic SMTs have some level of utility but do not solve the problem of component fusion. It has also been found that the tendency to attack ceramics is strongly influenced not only by pH but also by electrolyte composition. Conventional electrolytes are known to attack low temperature calcined ceramics, a novel ceramic even at neutral near pH. There is also a problem with tin whiskers growing on thin plated parts. Thus, whisker resistant tin deposition is preferred. The present invention now overcomes these problems and provides solutions and processes that provide the desired deposits.

발명의 요약Summary of the Invention

본 발명은 전기도금성 기판상에 하나 또는 그 이상의 금속을 증착하는 것과 관련되어 사용되는 용액에 관한 것이다. 본 용액은 물(water); 도금가능한 기판 상에 금속 증착물을 제공하기에 충분한 양의 금속 이온; 및 착화제를 포함한다. 착화제는 4 내지 18개 사이의 탄소 원자를 갖는 유기 화합물로서, 적어도 하나의 산소원자를 포함하는 5 또는 6 원자 고리 및 적어도 두개의 히드록시기를 포함하는 것이 바람직하다. 착화제는 용액내에서 금속을 착화시키고 금속이 용해될 수 있도록 한다. 또한 착화제는 용액내에서의 금속 이온의 산화를 방지한다. 금속 이온이 적어도 2개의 다른 원자가 상태로 용액내에서 존재할 수 있는 능력을 가지고 있는 경우 착화제는 더 낮은 원자가 상태에서 더 높은 원자가 상태로 금속이 산화되는 것을 방지한다. 필요하다면, 2 내지 10사이의 범위에 용액의 pH를 유지시키기 위해 적절한 pH 조절제를 용액에 포함시킬 수 있다. 가장 바람직한 pH 범위에서, 용액은 특히 전기도금성 부분 및 비전기도금성 부분을 갖는 복합물품을, 비전기도금성 부분에 불리한 영향을 미치지 않으면서 전기도금하는데 유용하다.The present invention relates to a solution used in connection with depositing one or more metals on an electroplatable substrate. The solution is water; An amount of metal ions sufficient to provide a metal deposit on the plateable substrate; And complexing agents. The complexing agent is an organic compound having between 4 and 18 carbon atoms, preferably including a 5 or 6 membered ring containing at least one oxygen atom and at least two hydroxy groups. Complexing agents complex the metal in solution and allow the metal to dissolve. Complexing agents also prevent the oxidation of metal ions in solution. Complexing agents prevent the metal from oxidizing from a lower valence state to a higher valence state when the metal ions have the ability to exist in solution in at least two different valence states. If necessary, an appropriate pH adjuster may be included in the solution to maintain the pH of the solution in the range between 2 and 10. In the most preferred pH range, the solution is particularly useful for electroplating composite articles having electroplating portions and non-electroplating portions without adversely affecting the non-plating portions.

착화제는 다음과 같은 구조 중 어느 하나의 구조를 갖는 것이 바람직한데:Preferably, the complexing agent has one of the following structures:

식 중, 각각의 R은 동일하거나 다르고, 또한 수소이거나 1내지 3개의 탄소원자를 갖는 저급 알킬기이고, T는 R, OR, 또는 O=P(OR)2-, Z는 O= 또는 RO-, n은 2-4, Z는 화합물에서 각 발생률(occurrence)로 동일하거나 다를 수 있고, 그리고 m은 1-3, 또는 착화제는 상기 구조를 갖는 용해성 있는 염이다. 가장 바람직한 화합물은 아스코르브산, 이소아스코르브산(에리소르빈산으로도 불리는), 디히드로아스코르브산, 글루코아스코르브산, 갈락투론산, 글루코론산(glucoronic acid), 및 글루코오스-6-인산염, 또는 그들의 염을 포함한다. 전형적인 염은 알칼리 또는 알칼리 토금속을 포함한다. 이들 착화제는 약 25 내지 200g/1의 양으로 존재하는 것이 일반적이다. .Wherein each R is the same or different and is also hydrogen or a lower alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, T is R, OR, or O = P (OR) 2- , Z is O = or RO-, n Silver 2-4, Z may be the same or different at each occurrence in the compound, and m is 1-3, or the complexing agent is a soluble salt having the above structure. Most preferred compounds include ascorbic acid, isoascorbic acid (also called erythorbic acid), dihydroascorbic acid, glucocorbic acid, galacturonic acid, glucoronic acid, and glucose-6-phosphate, or salts thereof do. Typical salts include alkali or alkaline earth metals. These complexing agents are generally present in amounts of about 25 to 200 g / 1. .

본 발명은 또한 전기도금성 및 비전기도금성 부분을 포함하는 복합물품상에 금속 증착물을 전기도금하는 방법에 관한 것이다. 본 방법은 그러한 물품 다수를 본 발명에 따른 용액 중 어느 하나와 접촉시키는 단계 및 물품의 비전기도금성 부분에 불리한 영향을 미치지 않으면서 물품의 전기도금성 부분상에 금속 전착물을 제공하기 위해 본 용액을 통하여 전류를 통과시키는 단계를 포함한다. 바람직한 금속 전착물은 주석 금속 또는 주석-납 합금이고 바람직한 물품은 전자부품이다.The present invention also relates to a method of electroplating a metal deposit on a composite article comprising electroplatable and non-electroplated portions. The method comprises contacting a plurality of such articles with any one of the solutions according to the invention and providing the metal electrodeposits on the electroplatable portions of the article without adversely affecting the non-electroplated portions of the article. Passing a current through the. Preferred metal electrodeposits are tin metals or tin-lead alloys and preferred articles are electronic components.

본 발명은 금속의 증착에 관한 것으로서, 더 상세하게는 금속과 같은 전기도금성 기판으로 구성된 물건이나 물품, 또는 전기도금성 부분 및 비전기도금성 부분을 갖는 복합물품(composite article)상의 주석 또는 주석-납 합금의 증착에 관한 것이다. 본 발명은 또한 전착(electrodeposition)공정 중에 다수의 복합물품이 융착되는 것을 방지하는 방법을 기술하고 있다. 이러한 방법은 단위 질량당 큰 표면적을 갖고 융착(fusing)하기 쉬운 작은 소자의 도금에 관한 것이다. 본 명세서에서 특히 관심을 갖는 분야는 금속 부분 뿐만 아니라 세라믹, 유리, 또는 플라스틱 부분을 갖는 표면 부착형 커패시터 및 레지스터와 같은 소자이다.FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to the deposition of metals and, more particularly, tin or tin on an article or article consisting of an electroplating substrate, such as a metal, or a composite article having an electroplating portion and a non-electroplating portion. It relates to the deposition of lead alloys. The present invention also describes a method for preventing fusion of multiple composite articles during an electrodeposition process. This method relates to the plating of small devices which have a large surface area per unit mass and are easy to fusing. Of particular interest here are devices such as surface mount capacitors and resistors having metal parts as well as ceramic, glass, or plastic parts.

본 발명의 또다른 장점은 도면에 설명되어 있는데:Another advantage of the invention is described in the drawings:

도 1은 종래의 도금용액에 따라 주석을 도금한 기판의 현미경 사진이고;1 is a micrograph of a substrate plated with tin in accordance with a conventional plating solution;

도 2는 본 발명에 따른 도금용액에 따라 주석을 도금한 동일 기판의 현미경 사진이고;2 is a micrograph of the same substrate plated with tin according to the plating solution according to the present invention;

도 3은 종래의 도금용액에 따라 주석을 도금한 기판의 표면 부분의 확대된 현미경 사진이고; 및3 is an enlarged micrograph of a surface portion of a substrate plated with tin in accordance with a conventional plating solution; And

도 4는 본 발명의 도금용액에 따라 주석을 도금한 기판의 표면 부분의 확대된 현미경 사진이다.4 is an enlarged micrograph of the surface portion of a substrate plated with tin in accordance with the plating solution of the present invention.

이제 복합물품인 전자부품의 융착을 본 명세서에서 개시된 착화제를 하나 또는 그 이상으로 포함하는 전해질을 제공함으로써 크게 제거할 수 있다는 것을 밝혀내었다. 특히, 아스코르브산 및 관련 화합물은 그러한 착화제로 사용하기에 가장 바람직하다.It has now been found that fusion of electronic components, which are composite articles, can be largely eliminated by providing an electrolyte comprising one or more complexing agents disclosed herein. In particular, ascorbic acid and related compounds are most preferred for use as such complexing agents.

착화제는 비록 착화제가 다른 금속, 특히 다중 원자가 상태를 갖는 금속을 전기도금하기 위한 용액에 사용될 수도 있지만, 주석 또는 주석-납 증착물을 전기도금하기 위한 용액내에서 사용하는 것이 바람직하다. 이들 착화제는 그들의 낮은 원자가 상태 중 어느 하나에서 용액내에서 금속을 유지할 수 있도록 보조하고, 그에 따라 전기도금 단계를 촉진하고 용액이 그 용도에 맞도록 적절하게 작용하는데영향을 미치는 금속의 산화를 회피할 수 있게 한다. 주석(Ⅳ)(stannic tin) 또한 이 계내에서 착화될 수 있다.Complexing agents are preferably used in solutions for electroplating tin or tin-lead deposits, although the complexing agents may be used in solutions for electroplating other metals, especially metals having multiple valence states. These complexing agents assist in maintaining the metals in solution in either of their low valence states, thus facilitating the electroplating step and avoiding oxidation of the metals that affect the solution's proper functioning for its use. Make it possible. Stannic tin can also be complexed in this system.

앞에서 주어진 화학식의 착화제라면 어떤 착화제라도 본 발명에서 사용될 수 있다. 바람직한 착화제는 유기산인데, 아스코르브산, 이소아스코르브산, 디히드로아스코르브산, 글루코아스코르브산, 갈락투론산, 및 글루코론산(글루코론산(glucoronic acid))을 포함하는 것이 바람직하다. 이들 산의 염 또한 사용될 수 있는데, 바람직한 염으로는 알칼리 또는 알칼리성 금속 염이 있다. 전해조(bath)에서 아스코르브산으로 전환될 수 있는 케토글루콘산염도 사용될 수 있다. 용액내에서 유사한 산성종으로 전환될 수 있는 헵타글루콘산염 또한 적절하다. 이들 착화제 중 어떤 것이라도 약 25 내지 200g/1의 양으로 일반적으로 사용될 수 있다. 가장 바람직한 착화제는 아스코르브산 또는 아스코르브산염인데 왜냐하면 이들 화합물들은 비교적 저비용으로 또한 쉽게 구입할 수 있기 때문이다.Any complexing agent may be used in the present invention as long as it is a complexing agent of the formula given above. Preferred complexing agents are organic acids, preferably containing ascorbic acid, iso ascorbic acid, dihydroascorbic acid, glucocorbic acid, galacturonic acid, and glucononic acid (glucoronic acid). Salts of these acids can also be used, with preferred salts being alkali or alkaline metal salts. Ketogluconates, which can be converted into ascorbic acid in a bath, can also be used. Also suitable are heptagluconates which can be converted to similar acidic species in solution. Any of these complexing agents can generally be used in amounts of about 25 to 200 g / 1. Most preferred complexing agents are ascorbic acid or ascorbate, because these compounds are also relatively inexpensive and readily available.

아스코르브산은 단순한 형태의 아스코르브산, 아스코르브산 칼륨 또는 아스코르브산 나트륨과 같은 아스코르브산염으로서 및/또는 아스코르브산-금속 착물의 형태로서, 예를 들면 아스코르브산 주석으로서 용액에 포함될 수 있다. 후자의 경우는 바람직한 용액 pH를 유지하기 위해, 유기산 또는 유기산 염과 같은 다른 산성 성분을 유용화시키는 것이 요구되는 때에 사용하는 것이 바람직하다. 아스코르브산의 양은 최소한 용액의 주어진 pH에서 존재하는 금속이 용액내에서 용해성 있게 하기에 충분하여야 한다. 이렇게 요구되는 아스코르브산의 양은 금속 농도에 비례한다. 주석 농도가 15 g/l일 때, 바람직한 아스코르브산 농도는 약 45 내지 200g/1이다.Ascorbic acid may be included in the solution as an ascorbate such as ascorbic acid, potassium ascorbate or sodium ascorbate in simple form and / or in the form of an ascorbic acid-metal complex, for example as ascorbic acid tin. The latter case is preferably used when it is desired to make other acidic components, such as organic acids or organic acid salts, useful to maintain the desired solution pH. The amount of ascorbic acid should be at least sufficient to make the metal present at the given pH of the solution soluble in the solution. The amount of ascorbic acid so required is proportional to the metal concentration. When the tin concentration is 15 g / l, the preferred ascorbic acid concentration is about 45 to 200 g / 1.

어떠한 전기도금성 기판이라도 본 발명의 용액을 사용하여 도금될 수 있다. 일반적으로, 이들 기판은 구리, 니켈, 강(steel) 또는 스테인리스 강과 같은 금속으로 만들어진다. 오늘날의 상업적인 제품 중 전기도금이 요구되는 많은 부품이 더욱 더 작은 크기로 만들어지고 있다. 특히, 전자부품은 그러한 부품의 전형적인 예이다.Any electroplatable substrate can be plated using the solution of the present invention. Generally, these substrates are made of metals such as copper, nickel, steel or stainless steel. Many of today's commercial products that require electroplating are made smaller and smaller. In particular, electronic components are typical examples of such components.

또한, 이들 부품은 전기도금성 부분 및 비전기도금성 부분을 갖는 복합물품이다. 금속 부분이 금속 또는 금속성인 반면, 비전기도금성 부품은 일반적으로 세라믹, 유리 또는 플라스틱이다. 본 발명의 용액은 그러한 복합물품을 전기도금하는 경우에 특히 유용하다.In addition, these parts are composite articles having electroplating parts and non-plating parts. Whereas the metal part is metal or metallic, the non-electroplated part is generally ceramic, glass or plastic. The solution of the present invention is particularly useful in the case of electroplating such composite articles.

전기도금용액은 2내지 10 사이의 pH를 가질 수 있고, 바람직하게는 약 3 내지 7.5의 범위이고, 그리고 더욱 바람직하게는 약 4 내지 5.5이어서, 용액이 도금될 전자부품에 적합화되도록 할 수 있게 한다. 부품이 금속성 부분 및 무기 부분을 갖는 경우에, pH 범위가 바람직하다면 무기 부분에 불리한 영향을 미치지 않으면서 금속성 부분상에 금속을 증착될 수 있게 한다. 일반적으로, 매우 높은 또는 매우 낮은 pH 용액은 도금될 복합물품의 세라믹 부분을 손상시킬 수 있다.The electroplating solution may have a pH between 2 and 10, preferably in the range of about 3 to 7.5, and more preferably about 4 to 5.5, so that the solution can be adapted to the electronic component to be plated. do. In the case where the part has a metallic portion and an inorganic portion, the pH range, if desired, allows the deposition of metal on the metallic portion without adversely affecting the inorganic portion. In general, very high or very low pH solutions can damage the ceramic portions of the composite to be plated.

기본적으로 어떠한 산이나 염기도 pH 조절을 위해 사용될 수 있지만, 이들 용액은 측정가능한 양의 유리 산 또는 유리 염기를 포함하지 않는 것이 바람직하다. 일반적으로, 용액이 산성이기 때문에, 염기 또는 염기성 성분은 유리 산을 상응하는 염으로 전환시키는데 사용된다. 이러한 목적으로 사용되는 바람직한 염기에는 수산화나트륨 또는 수산화칼륨 뿐만아니라 많은 다른 염기가 포함된다.Basically any acid or base may be used for pH control, but these solutions preferably do not contain measurable amounts of free acid or free base. In general, because the solution is acidic, the base or basic component is used to convert the free acid to the corresponding salt. Preferred bases used for this purpose include sodium or potassium hydroxide as well as many other bases.

본 용액은 도금될 기판에 적합화되도록, 바람직하게는 기판에 불리한 영향을 미치지 않도록 공식화된다. 전기도금성 부분 및 비전기도금성 부분을 갖는 복합물품이 도금될 때, 용액은 기판의 비전기도금성 부분을 공격(attack)하거나 또는 크랙(crack)시키지 않도록 공식화된다. 기판/용액 적합성을 결정하기 위해 단순한 시험을 할 수 있다. 도금될 물품은 도금공정에 소요되는 시간보다 같거나 긴 시간동안 용액에 단지 담금질시키는 과정을 거친다. 용액의 온도는 도금 공정동안 용액의 온도에 근접한 온도가 될 수 있고, 또는 가속시험을 위하여 상승된 온도를 사용할 수 있다. 부품은 바람직한 시간 동안 용액에 담금질할 수 있고, 그러고 나서 회수하여 담금질 동안 용액이 물품을 공격하여 발생하는 중량 손실을 결정하기 위해 중량이 측정된다.The solution is formulated to suit the substrate to be plated, preferably without adversely affecting the substrate. When a composite article having an electroplating portion and a non-electroplating portion is plated, the solution is formulated so as not to attack or crack the non-electroplating portion of the substrate. Simple tests can be done to determine substrate / solution suitability. The article to be plated is only quenched in solution for a time equal to or longer than the time required for the plating process. The temperature of the solution can be close to the temperature of the solution during the plating process, or an elevated temperature can be used for accelerated testing. The part may be immersed in the solution for the desired time, and then recovered and weighed to determine the weight loss caused by the solution attacking the article during quenching.

예를 들면, 커패시터 제조에 사용되는 복합물품은 이제 저온 소성 세라믹으로 만들어지고 있다. 이들 세라믹은 종래의 세라믹보다 유리 비율이 더 크고, 도금 공정동안 공격받기가 더 쉽다. 다양한 상업적으로 이용가능한 용액과 본 발명에 따른 용액과 함께 적합성을 측정하기 위해 단순한 비교 시험을 수행하였다. 이들 용액을 동량으로 포함하고 있는 비이커에 커패시터를 넣고, 5시간의 담금질 후에 부품의 중량 손실을 측정하였다.For example, composites used to manufacture capacitors are now made of low temperature calcined ceramics. These ceramics have a larger glass ratio than conventional ceramics and are more susceptible to attack during the plating process. Simple comparison tests were performed to determine suitability with various commercially available solutions and solutions according to the present invention. The capacitor was placed in a beaker containing the same amount of these solutions, and the weight loss of the parts was measured after 5 hours of quenching.

결과는 다음 표에 나타나 있다:The results are shown in the following table:

용액solution 용액내에서 5시간 담금질 후의 중량손실(%)% Weight loss after quenching in solution for 5 hours 비교예(pH 3.5인 글루콘산염계 전해조)Comparative Example (Gluconate Electrolyzer with pH 3.5) 1.0 %1.0% 비교예(pH 4인 글루콘산염계 전해조)Comparative Example (Gluconate Electrolyzer with pH 4) 0.5 %0.5% 비교예(pH 4.2인 시트르산염계 전해조)Comparative Example (Citrate Electrolyzer with pH 4.2) 5.0 %5.0% 본 발명의 용액(pH 5인 아스코르브산 전해조)Solution of the invention (ascorbic acid electrolyser with pH 5) 0.0 %0.0%

표에서 본 발명은 근본적으로 커패시터상에 어떠한 영향도 미치지 않으며, 전통적인 전해조와 비교하여 그러한 소자의 도금공정에 실질적인 개선사항이 있다는 것이 나타난다.The table shows that the present invention does not fundamentally have any effect on the capacitor, and there are substantial improvements in the plating process of such devices compared to traditional electrolyzers.

그러한 소자를 도금하는데 특히 유용한 장치가 U.S. 특허 6,193,858에 개시되어 있고 따라서 본 명세서에는 개시될 필요가 없을 것이다. 이렇게 인용됨으로써, 필요한 정도에 따라 이 특허의 전체 내용은 본 명세서에서 명백히 개시된다.Particularly useful devices for plating such devices are U.S. Pat. It is disclosed in patent 6,193,858 and therefore need not be disclosed herein. As such, to the extent necessary, the entire contents of this patent are expressly disclosed herein.

공개된 국제특허 출원 W0 02/053809에 이미 특허된 시스템에 대한 개선방법이 개시되어 있고, 이렇게 인용됨으로써 이 국제특허의 전체 내용은 본 명세서에 명백히 합체되어 있다. 본 출원에 개시된, 도금 챔버를 전해질에 담금질할 수 있다는 사실에서는 외부 용해성 전극(external soluble electrode)을 사용할 수 있다는 점과 관련하여 상당히 개선되었음이 나타난다.An improved method for a system already patented in published international patent application WO 02/053809 is disclosed, and by this citation the entire contents of this international patent are expressly incorporated herein. The fact that the plating chamber can be immersed in an electrolyte, as disclosed in the present application, shows a significant improvement with regard to the use of external soluble electrodes.

본 발명의 착화제를 포함하는 전해질은, 전기도금된 부품의 융착 또는 커플링(coupling)을 최소화 할 뿐만 아니라, 물품의 비전기도금성 부분에 불리한 영향을 미치지 않으면서 주석 또는 주석-납 합금 전착을 할 수 있다는 것을 알게 되었다. 이런 점에서, 이들 전해질은 종래의 전해질보다 더 우수하고, 그리고 특히 구연산염계 전해조에 대하여 더 우수하다. 착화제는 전해질의 pH에서 용액내에 주석 및/또는 납이 유지되도록 도와준다. 특정 착화제, 특히 아스코르브산은 또한, 주석(II)(stannous tin)의 주석(IV)(stannic tin)로의 산화를 억제하는 안정화제(stabilizer)로서 보조한다.The electrolyte comprising the complexing agent of the present invention not only minimizes fusion or coupling of the electroplated part, but also prevents tin or tin-lead alloy electrodeposition without adversely affecting the non-electroplated portion of the article. I found it possible. In this respect, these electrolytes are better than conventional electrolytes, and especially better for citrate based electrolysers. Complexing agents help maintain tin and / or lead in solution at the pH of the electrolyte. Certain complexing agents, in particular ascorbic acid, also assist as stabilizers that inhibit the oxidation of tin (II) (stannous tin) to stannic tin.

L-아스코르브산(AA)은 쉽게 L-디히드로아스코르브산(DAA)으로 전환된다. 또한, DAA는 쉽게 두개의 캐톤기가 인접 탄소의 히드록시기로 전환되어, 이들 원자에 연결되어 있는 단일결합이 이중결합으로 전환되면서 쉽게 AA로 복귀된다. AA는 DAA로 전환되는 것이 용이하기 때문에 강환원제가 되는 것이다. 본 발명의 도금 용액에서, AA는 주석이온의 2가 및 4가 상태 모두에서 주석 이온을 착화시키는 것을 보조한다. 이러한 사실은 용액의 작용에 불리한 영향을 미치는 슬러지를 형성하기 위해 침전될 수 있는 주석 산화물이 형성되는 것을 억제하거나 또는 적어도 최소한으로 줄이게 된다.L-ascorbic acid (AA) is easily converted to L-dihydroascorbic acid (DAA). In addition, DAA is easily converted to the hydroxyl group of the adjacent carbon by two caton groups, and is easily returned to AA as the single bond connected to these atoms is converted to a double bond. AA is a strong reducing agent because it is easy to convert to DAA. In the plating solution of the present invention, AA assists in complexing tin ions in both divalent and tetravalent states of tin ions. This fact inhibits or at least minimizes the formation of tin oxide, which can precipitate to form sludge that adversely affects the action of the solution.

본 발명의 바람직한 용액은 물, 2가 주석 염, 및 착화제로서 아스코르브산을 포함하고, 선택적으로는 2가 납 염, 전기전도성을 증가시키기 위한 염, 계면활성제, 또는 양극 용출(anode dissolution)을 촉진하는 작용제(agent)를 포함한다.Preferred solutions of the present invention include water, divalent tin salts, and ascorbic acid as complexing agents, optionally divalent lead salts, salts for increasing electrical conductivity, surfactants, or anode dissolution. And a facilitating agent.

본 발명에서 사용될 수 있는 주석(II) 염은 황산 주석(II), 염화 주석(II), 산화 주석(II), 메탄술폰산 주석(II), 아스코르브산 주석(II) 또는 어떠한 다른 적절한 주석(II)의 원천도 포함한다. 용액내의 주석(II) 농도는 5 내지 100g/1일 수 있고, 가장 바람직하게는 10내지 50g/1이다. 전술한 내용에서 지적한 대로, 본 발명의 착화제는 또한 주석(Ⅳ) 염을 착화시켜, 주석(II)대신 또는 주석(II) 염와 함께 용액에 주석(IV) 염을 첨가하는 것이 가능하게 한다.Tin (II) salts that can be used in the present invention include tin (II) sulfate, tin (II) chloride, tin (II) oxide, methanesulfonic acid tin (II), ascorbic acid tin (II) or any other suitable tin (II) salt. It includes the source of). The tin (II) concentration in the solution may be between 5 and 100 g / 1, most preferably between 10 and 50 g / 1. As pointed out in the foregoing, the complexing agents of the present invention also complex the tin (IV) salts, making it possible to add tin (IV) salts to the solution together with or instead of tin (II) salts.

주석-납 증착물을 제공하기 위해 선택적으로 포함될 수 있는 납 염에는 예를 들면, 메탄술폰산납, 아세테산납 또는 아스코르브산납을 포함하는, 어떤 용액에서도 용해성 있는 2가 납염이 포함된다. Lead salts that may optionally be included to provide tin-lead deposits include divalent lead salts that are soluble in any solution, including, for example, lead methanesulfonate, lead acetate or lead ascorbate.

필요하다면, 용액의 전도성은 염을 추가하여 증가시킬 수 있다. 만약 순수한주석 용액이 바람직하다면, 칼륨 황산염과 같은 단순한 염(simple salt)이 사용될 수 있다. 만약 주석-납 합금을 사용하는 것이 바람직하다면, 칼륨 메탄술폰산염 또는 아세트산 칼륨을 사용하는 것이 적절할 것이다. 금속 황화 염 또한 그 사용이 바람직하다면 사용될 수도 있다. 이들 염 중 어떤 것을 사용하여도 양극 용출을 촉진시키거나 전착공정을 보조할 수 있다.If necessary, the conductivity of the solution can be increased by adding salts. If pure tin solution is desired, simple salts such as potassium sulfate can be used. If it is desired to use tin-lead alloys, it would be appropriate to use potassium methanesulfonate or potassium acetate. Metal sulfide salts may also be used if their use is preferred. Any of these salts can be used to promote anode dissolution or assist in electrodeposition.

높은 전류 밀도에서 증착 결정질 구조를 개선하거나 증착 품질을 개선하기 위해, 주석 또는 주석 합금 전해질 내에서 전형적으로 사용되는 계면활성제를 용액에 첨가할 수 있다. 바람직한 계면활성제로는 용액용해성(solution soluble) 알킬렌 산화물 축합 화합물, 용액용해성 4차 암모늄-지방산 화합물, 용액용해성 아민 산화물 화합물, 용액용해성 3차 아민 화합물 또는 이들의 혼합물이 있다. 바람직한 계면활성제 중 하나는 알킬렌 산화물 축합 화합물이고, 약 0.01내지 20 g/l의 양으로 존재한다. 몇몇 첨가제가 도금될 물품의 커플링과 관련하여 다른 것보다 더 잘 수행할 수 있음에도 불구하고, 다른 전통적인 계면활성제는 이 소자에 증착물 외관(deposit appearance)과 관련한 비임계성(nocriticality)이 있기 때문에 사용될 수 있다. 본 발명의 기술분야에서 통상의 지식을 가진자는 특히 도금 용액에 대한 가장 적절한 계면활성제를 결정하기 위한 정기 시험을 수행할 수 있다.In order to improve the deposition crystalline structure or improve the deposition quality at high current densities, surfactants typically used in tin or tin alloy electrolytes can be added to the solution. Preferred surfactants include solution soluble alkylene oxide condensation compounds, solution soluble quaternary ammonium-fatty acid compounds, solution soluble amine oxide compounds, solution soluble tertiary amine compounds or mixtures thereof. One preferred surfactant is an alkylene oxide condensation compound and is present in an amount of about 0.01 to 20 g / l. Although some additives may perform better than others with respect to the coupling of the article to be plated, other traditional surfactants may be used because of the noncriticality of the deposit appearance in the device. have. One of ordinary skill in the art can conduct regular tests to determine the most appropriate surfactant, in particular for the plating solution.

광택증착(bright deposit)이 바람직한 경우에는, 방향족 알데히드를 광택제로서 행동하기에 충분한 양으로 첨가할 수 있다. 다른 전통적인 광택제도 사용하는 것이 바람직한 경우에는 그 대신 사용할 수 있다.If bright deposits are desired, aromatic aldehydes may be added in an amount sufficient to act as a brightening agent. If other traditional varnishes are desired, they may be used instead.

전기도금될 기판은 도전성 부분 및 비도전성 부분을 갖는 복합물품인 것이바람직하다. 금속 부분은 금속 또는 금속성인 반면, 비도전성 부품은 전형적으로 세라믹, 유리 또는 플라스틱이다. 본 발명의 용액은 특히 물품의 비-금속성 부분에 불리한 영향을 미치지 않고 또한 그런 부품의 융착을 유발하지 않으면서 복합물품을 전기도금 하는 데 유용하다.The substrate to be electroplated is preferably a composite article having a conductive portion and a non-conductive portion. The metal part is metal or metallic, while the non-conductive part is typically ceramic, glass or plastic. The solution of the invention is particularly useful for electroplating composite articles without adversely affecting the non-metallic parts of the article and without causing fusion of such parts.

전해질의 pH는 복합 기판 전자부품에 도금되는 것이 바람직한 경우에 약 4 내지 5.5의 범위에서 유지되는 것이 바람직하다. 부식제, 예를 들면 수산화칼륨, 수산화암모늄, 수산화나트륨 또는 기타 그와 동종의 것들을 첨가함으로써 pH를 올릴 수 있고, 또는 황산 또는 메탄술폰산과 같은 산을 사용하여 pH를 낮출 수 있다. 메탄술폰산과 같은 알칸 또는 알카놀 술폰산은 주석-납 합금 용액에 대하여 사용하는 것이 바람직한데, 황산은 용액에 불용성이고 침전하는 경향이 있는 납 황산염을 발생시키기 때문이다. 앞에서 지적한대로, 약 4 내지 5.5의 pH는 그러한 금속의 응집을 가장 강하게 방지하는 결과를 가져온다. 또한, 아스코르브산의 양은 응집을 방지하거나 최소화하기 위하여 주석을 착화시키기에 필요한 양보다 많이 과도하여서는 안된다.The pH of the electrolyte is preferably maintained in the range of about 4 to 5.5 when it is desired to be plated on the composite substrate electronic component. The pH can be raised by adding caustic agents such as potassium hydroxide, ammonium hydroxide, sodium hydroxide or the like, or the acid can be lowered using an acid such as sulfuric acid or methanesulfonic acid. Alkanes or alkanol sulfonic acids, such as methanesulfonic acid, are preferred for use with tin-lead alloy solutions because sulfuric acid generates lead sulfate, which is insoluble in the solution and tends to precipitate. As pointed out above, a pH of about 4 to 5.5 results in the strongest prevention of aggregation of such metals. In addition, the amount of ascorbic acid should not be excessively greater than the amount necessary to complex tin to prevent or minimize aggregation.

주석 및 주석-납 용액내에서 사용되는 전형적인 산화방지제는 본 발명의 용액에 포함될 수 있지만(예를 들면, US 특허 4,871,429에 개시된 대로 카테콜 또는 하이드로퀴놀린), 그러나 아스코르브산은 중성 또는 중성 근처의 pH 도금 용액에서 주석(II)(stannous tin)의 주석(IV)(stannic tin)으로의 산화를 억제하는데 효과적인 것으로 나타났다. 그렇게, 아스코르브산은 본 발명의 용액에서 착화제로서 및 산화방지제로서 행동하는 이중적인 기능을 한다.Typical antioxidants used in tin and tin-lead solutions may be included in the solutions of the invention (eg, catechol or hydroquinoline as disclosed in US Pat. No. 4,871,429), but ascorbic acid is neutral or near neutral pH plating. It has been shown to be effective in inhibiting the oxidation of tin (II) (stannous tin) to stannic tin in solution. Thus, ascorbic acid has a dual function of acting as complexing agent and antioxidant in the solution of the present invention.

복합물품의 비도전성 부분의 도금 및 복합물품의 융착은 낮은 균일 전착성(throwing power)을 갖게 하기 위해 본 발명의 용액을 공식화하여 최소화하거나 크게 제거할 수 있다는 것이 또한 밝혀졌다. 이들 용액은 낮은 전류 밀도에서 금속을 증착하지 않기 위해 특별히 공식화된다. 이러한 방식은 전통적인 실행방식인 전해질이 가능한한 넓은 전류 밀도 범위에서 금속을 증착하도록 공식화되는 방식과는 는 반대되는 것이다. 사실 가장 전통적인 주석 전기도금 용액은 다양한 첨가제를 첨가하여 전착 공정의 전류 밀도범위를 넓은 범위로 만든다. 이제는 부품의 융착이 전착 공정의 전류밀도 범위를 더 높은 전류 밀도로 한계화시키는 것에 의하여 최소화될 수 있다는 것을 알게 되었다. 융착은 밀접 접촉에서 또는 부품 및 전류 공급기 사이의 두 부품 사이의 전해질 막(film)내에서 금속 증착공정에 기인하여 발생한다고 여겨진다. 증착이 두개의 도전성 표면 사이의 박막에서 발생하기 때문에, 필수적으로 낮은 전류 밀도에서 진행되어야 한다. 도금공정이 낮은 전류 밀도에서수행되지 않기 위해 전해질을 공식화하면, 융착은 최소화된다.It has also been found that the plating of the non-conductive portion of the composite article and the fusion of the composite article can be formulated to minimize or greatly eliminate the solution of the present invention in order to have low homogeneous rolling power. These solutions are specially formulated to not deposit metal at low current densities. This is in contrast to traditional practice, where electrolytes are formulated to deposit metals in the widest current density range possible. In fact, most traditional tin electroplating solutions add a variety of additives to make the current density range of the electrodeposition process wider. It has now been found that fusion of components can be minimized by limiting the current density range of the electrodeposition process to a higher current density. Fusion is believed to occur due to the metal deposition process in intimate contact or in an electrolyte film between two parts between the part and the current supply. Since the deposition takes place in a thin film between two conductive surfaces, it must necessarily proceed at low current densities. If the electrolyte is formulated so that the plating process does not perform at low current densities, fusion is minimized.

부품 융착이 도금 전해조 조성물에 밀접하게 의존하고 적절한 결정 미세화제 또는 계면활성제의 선택이 융착을 최소화하는데 임계사항이라는 사실이 밝혀졌다. 이런 이유로, 오직 금속 염 및 착화제를 포함하는 단순한(simple) 전해질은 융착없이 표면 실장 기술(SMT) 소자를 전기도금한다는 사실을 알게 되었다. 결과물인 주석 증착물은 진한 회색 매트이고 이는 상업적인 사용에 적합하지 않다. 전형적인 계면활성제 또는 결정 미세화제가 증착 품질을 개선하기 위해 전해질에 첨가되는 경우, 거의 모든 상황에서 매우 강한 융착이 관찰될 것이다. 계면활성제 및 결정미세화제로부터의 결과인 음극 표면 분극(cathode surface polarization)은 부품 융착에 강하게 영향을 미친다고 나타났다. 또한, 낮은 전류 밀도에서 제한된 커버리지를 나누어 주는 첨가제를 포함하는 전해질은 낮은 전류 밀도에서 높은 커버리지를 나누어 주는 첨가제를 포함하는 경우보다 덜 융착하는 경향이 있다.It has been found that component fusion is closely dependent on the plating electrolytic cell composition and that the selection of the appropriate crystal refining agent or surfactant is critical to minimizing the fusion. For this reason, it has been found that simple electrolytes containing only metal salts and complexing agents electroplate surface mount technology (SMT) devices without fusion. The resulting tin deposit is a dark gray matte which is not suitable for commercial use. If a typical surfactant or crystal refiner is added to the electrolyte to improve deposition quality, very strong fusion will be observed in almost all situations. Cathode surface polarization, a result from surfactants and crystallizers, has been shown to strongly influence component fusion. In addition, electrolytes containing additives that impart limited coverage at low current densities tend to be less fused than those that include additives that impart high coverage at low current densities.

배럴 또는 다른 적절한 장비에서 이산적 부품(discrete component)을 도금하기 위해 공식화된 용액은 높은 균일 전착성을 가져서, 전류가 로드를 투과하고 로드의 벌크(bulk) 내의 금속을 증착하게 한다는 것이 널리 알려져 있다. 도금 속도가 낮은 전류 밀도에서는 상당히 무시할만하여 이런 조건하에서 증착되는 금속은 상당하지 않고, 그보다는 금속의 대부분은 도금 배럴 경계선 근처의 높은 전류 밀도에서 증착된다. 따라서, 이제 부품 그 자신들이 공동(hollow) 또는 블라인드 홀(blind hole)과 같은 낮은 전류 밀도 영역을 갖지 않는 한, 배럴 또는 다른 적절한 장치내에서 이산적 부품을 도금하기 위하여 높은 균일 전착성을 갖는 용액을 제공하는 것은 요구되지 않는다는 것이 밝혀졌다.It is well known that solutions formulated to plate discrete components in barrels or other suitable equipment have a high uniform electrodeposition, allowing current to penetrate the rod and deposit metal in the bulk of the rod. . At low current densities, the plating rates are quite negligible so that the metals deposited under these conditions are not significant, but rather most of the metals are deposited at high current densities near the plating barrel boundaries. Thus, solutions that have high uniform electrodeposition properties for plating discrete parts in barrels or other suitable devices, unless the parts themselves have low current density areas such as hollow or blind holes. It has been found that providing is not required.

또한, 낮은 전류 밀도에서 금속을 증착시키지 않는 도금 용액은 복합물품의 비도전성 부분상에 금속이 증착되는 것을 최소화한다. 물품의 도전성 말단부로부터 비도전성 부분으로의 금속 증착물의 연장(extending) 현상은 통상적으로 크리프(creep) 또는 브리징(bridging)이라고 언급된다. 이러한 현상의 범위는 비도전성 재료의 조성에 일차적으로 의존한다. 예를 들면, 일부분이 전기전도성인 세라믹 재료는 완전 절연체인 세라믹 재료의 경우보다 금속 크리프할 경향이 더 높다. 크리프는 전착 공정 동안 전류가 물품의 도전성 부분으로부터 "비도전성" 부분으로 누설되어 발생된다고 여겨진다. 금속 증착공정을 높은 전류 밀도 조건으로 제한함으로써 금속의 비도전성 부분으로의 증착은 최소화되거나 제거될 수 있다.In addition, plating solutions that do not deposit metal at low current densities minimize the deposition of metal on the non-conductive portion of the composite. The phenomenon of extending the metal deposit from the conductive end of the article to the nonconductive portion is commonly referred to as creep or bridging. The extent of this phenomenon depends primarily on the composition of the nonconductive material. For example, ceramic materials that are partly conductive are more prone to metal creep than ceramic materials that are fully insulators. Creep is believed to occur due to leakage of current from the conductive portion of the article to the "non-conductive" portion during the electrodeposition process. By limiting the metal deposition process to high current density conditions, deposition of the metal into non-conductive portions can be minimized or eliminated.

본 발명의 도금 용액은 또한 증착물내에 존재하는 위스커를 줄이거나 제거하는 것을 보조할 수 있다. 이것은 도금 후에 특정 열적 조건하에서 증착물내의 필라멘트의 성장에 의해 발생할 수 있다. 그러한 위스커는 낮은 전압 장비에서 회로 단락 문제의 원인으로 밝혀졌다. 또한, 위스커는 회로 단락 문제를 더 유발하기 위해서 또는 기계적인 작동을 방해하기 위해 증착물로부터 분리되어 다른 영역에 축적될 수 있다. 본 명세서에 개시된 전기도금용액을 사용하여, 위스커링의 정도는 상당히 감소되고 완전히 제거될 수 있다.The plating solution of the present invention can also assist in reducing or eliminating whiskers present in the deposits. This may be caused by the growth of filaments in the deposit under certain thermal conditions after plating. Such whiskers have been found to cause short circuit problems in low voltage equipment. In addition, whiskers may be separated from deposits and accumulate in other areas to further cause short circuit problems or to disrupt mechanical operation. Using the electroplating solutions disclosed herein, the degree of whiskering can be significantly reduced and eliminated completely.

본 발명에 따른 도금 용액은 다음 특질 및 장점을 가지도록 공식화할 수 있거나 바람직하게는 공식화된다:Plating solutions according to the invention can be formulated or preferably formulated to have the following properties and advantages:

1. 본 발명에 따른 도금용액은 반-광택 증착에 백색 매트를 증착시킬 수 있다.1. The plating solution according to the present invention can deposit white matte on semi-gloss deposition.

2. 본 발명에 따른 도금용액은 도포될 소자를 손상시키지 않을 것이다.2. The plating solution according to the present invention will not damage the device to be applied.

3. 본 발명에 따른 도금용액은 낮은 전류 밀도에서 금속을 증착시키지 않을 것이다.3. The plating solution according to the invention will not deposit metal at low current densities.

4. 본 발명에 따른 도금용액은 후속적으로 증착물이 열적 조건에 노출되는 경우 위스커링을 감소시키거나 또는 심지어 제거할 수 있다.4. The plating solution according to the present invention can reduce or even eliminate whiskering when the deposit is subsequently exposed to thermal conditions.

도금될 부품이 세라믹 또는 납 유리 부분을 포함하는 복합물품인 경우, 산성 또는 알칼리성 용액은 전기도금 공정 동안 세라믹 또는 유리 부분에 손상을 입힐것이다. SMT 레지스터, 인덕터 및 커패시터와 같은 소자가 이런 타입이다. SMT 소자용 전기도금 용액의 pH는 물품의 세라믹 또는 유리 부분의 손상을 최소화하기 위해 약 2.5 내지 9사이여야만 한다. 이 범위의 pH를 얻기 위해서는, 주석은 착물의 형태로 존재하여야 한다. 종래의 착화제는 전형적으로 구연산염, 글루콘산염, 및 파이로인산염을 포함한다. 반-광택 증착물을 도금하기 위해서는, 그러나, 하나 또는 그 이상의 유기 첨가제가 전형적으로 사용된다. 가장 통상적인 첨가제는 부품의 비도전성 부분의 과도금(overplating) 및 도금될 부품의 융착을 야기하는 용액의 낮은 전류 밀도 커버리지를 크게 증가시킨다.If the part to be plated is a composite article comprising a ceramic or lead glass portion, the acidic or alkaline solution will damage the ceramic or glass portion during the electroplating process. Devices such as SMT resistors, inductors, and capacitors are of this type. The pH of the electroplating solution for SMT devices should be between about 2.5 and 9 to minimize damage to the ceramic or glass portions of the article. To obtain a pH in this range, tin must be present in the form of a complex. Conventional complexing agents typically include citrate, gluconate, and pyrophosphate. In order to plate semi-gloss deposits, however, one or more organic additives are typically used. The most common additives significantly increase the low current density coverage of the solution which causes overplating of the non-conductive portion of the part and fusion of the part to be plated.

높은 금속 농도에서의 전해질의 작용, 상승된 온도에서의 작동, 낮은 전류 밀도 커버리지 (LCDC)를 증가시키지 않거나 또는 LCDC 및/또는 그와 동일한 조합(combination)을 감소시키는 첨가제를 선택하는 것에 의해, 전해질의 낮은 전류 밀도 커버리지를 감소시킬 수 있다. 예를 들면, 적어도 약 25g/1의 높은 금속 이온 함량은 주석이 전기도금될 금속인 경우에 바람직하다. 높은 온도가 일반적으로 부품 융착을 증가시킨다는 것을 알게 되었기 때문에, 상승된 전해조 온도는 LCDC를 감소시키는 가장 최소한의 바람직한 방법이다.By selecting an additive that does not increase the action of the electrolyte at high metal concentrations, operate at elevated temperatures, low current density coverage (LCDC) or reduce LCDC and / or the same combination thereof, The low current density coverage can be reduced. For example, a high metal ion content of at least about 25 g / 1 is preferred when tin is the metal to be electroplated. Since it has been found that high temperatures generally increase component fusion, elevated electrolyzer temperature is the least desirable method of reducing LCDC.

전해조에서 유기 첨가제의 선택은 낮은 수준의 균일 전착성을 유지하기 위해 특히 중요하다. 가장 바람직한 첨가제는 원하는 특정 도금용액상에서 정기 시험를 행하여 결정할 수 있다. 이들 첨가제는 전통적인 계면활성제 및 단일 또는 다중 방향족 고리 뿐만아니라 염료-유사 물성을 갖으나 계면활성제는 아닌 다른 유기 축합 또는 반응 생성물과 같은 유기 화합물의 축합 화합물과 같은 결정 미세화제를 포함한다. 이들 화합물은 본 발명이 속하는 기술분야에서 일반적으로 알려져 있고, 도금 용액에 대하여 높은 균일 전착성을 나누어 주지 않는 것을 단순하게 실험하여 확인할 수 있다.The choice of organic additives in the electrolytic cell is particularly important to maintain low levels of uniform electrodeposition. The most preferred additives can be determined by conducting periodic tests on the particular plating solution desired. These additives include traditional surfactants and single or multiple aromatic rings as well as crystallization agents such as condensation compounds of organic compounds such as organic condensation or reaction products that have dye-like properties but are not surfactants. These compounds are generally known in the art to which the present invention pertains, and can be confirmed by simple experiments that do not impart high uniform electrodeposition properties to the plating solution.

다른 첨가제로는 전해질의 균일 전착력을 감소시키기 위해 계면활성제 및 결정 미세화제를 조합하여 사용할 수도 있다. 염화 암모늄, 아스코르브산, 및 M-니트로 페놀은 다양한 계면활성제 및 결정 미세화제와 함계 사용되는 경우 균일 전착성을 감소시키는 것으로 알려져 있다. 명백하게, 많은 다른 첨가제는 이러한 방식으로 기능할 것이고 이들 다른 첨가제는 본 발명의 일 주제(subject)가 된다. 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자라면 어떠한 특정한 전기도금 용액에 대하여라도 사용하거나 또는 사용하지 않기 위한 가장 우수한 첨가제 조합을 결정하기 위한 정기 시험을 수행할 수 있을 것이다.Other additives may be used in combination with a surfactant and a crystal refiner to reduce the uniform electrodeposition of the electrolyte. Ammonium chloride, ascorbic acid, and M-nitrophenol are known to reduce homogeneous electrodeposition when used in combination with various surfactants and crystal refiners. Clearly, many other additives will function in this way and these other additives become a subject of the present invention. Those skilled in the art will be able to conduct routine tests to determine the best combination of additives to use or not to use any particular electroplating solution.

복합물품을 도금하는 경우, 본 발명에 따른 용액은 US 특허 6,193,858 및 공개된 국제특허 출원W0 02/053809에 개시된 장비에서 사용될 수 있다. 본 발명에 따른 도금 용액은 또한 US 특허 5,487,824 및 5,565,079에 개시된 회전 도금 장치에 사용되어 향상된 결과를 나타낼 수 있는데, 전류공급기 고리상의 주석 증착이 실질적으로 감소되고, 전류공급기(current feeder)를 교체하고 마모되는 것에 대하여 요구되는 유지보수를 상당히 감소시키는결과를 가져오기 때문이다.When plating composites, the solution according to the invention can be used in the equipment disclosed in US Pat. No. 6,193,858 and published International Patent Application WO 02/053809. Plating solutions according to the present invention can also be used in the rotary plating apparatus disclosed in US Pat. Nos. 5,487,824 and 5,565,079, with improved results, in which tin deposition on the current supply ring is substantially reduced, replacing the current feeder and wearing out. This results in a significant reduction in the maintenance required for the service.

따라서, 회전 도금 장치에서 감소된 LCDC를 갖는 전해질을 사용하는 것 또한 본 발명의 일 주제이다. 도금 배럴을 사용하는 경우 본 발명을 이용하는 것 또한 바람직할 것인데, 금속이 당글러(dangler)상에 덜 증착될 것이고 금속 크리프 및부품 융착이 감소될 것이기 때문이다. 따라서, 배럴 도금에서 LCDC 전해질을 사용하는 것 또한 본 발명의 일 주제이다.Therefore, the use of electrolytes with reduced LCDC in spin plating apparatus is also a subject of the present invention. It would also be desirable to use the present invention when using plating barrels, since less metal will be deposited on the dangler and metal creep and part fusion will be reduced. Therefore, the use of LCDC electrolytes in barrel plating is also a subject of the present invention.

본 발명이 특히 매체 없이 복합물품을 도금하는 경우 바람직함에도 불구하고, 매체와 혼합된 이산적 물품을 도금하기 위해 본 발명을 이용하는 것은 전류공급기상에의 도금을 감소시키고, 복합물품의 비도전성 부분 상에 금속 증착물을 감소시키거나 제거하는 상당히 의미있는 장점을 가지고 있다.Although the present invention is particularly desirable when plating composite articles without media, using the present invention for plating discrete articles mixed with media reduces plating on the current supply and on the non-conductive portion of the composite article. This has a significant advantage in reducing or eliminating metal deposits.

LCDC에 관하여 전해질을 시험하는 유용한 방법은 표준 265ml 헐 셀 테스트(hull cell test)를 이용하는 것이다. 헐 셀을 가동하는 것에 대한 표준 절차가 사용된다. 전형적인 조건은 각각 패들 교반을 사용하여 5 분동안 1A, 5 분동안 0.5 A 또는 5 분동안 0.25 A가 될 것이다. 1A에서 제조된 헐 셀 패널은 헐 셀 패널의 뒷쪽(back)이 패널 가장자리(edge)로부터 1 cm 미만으로 연장된 부분을 제외하고는 많이 도금되지 않았다면 LCDC를 갖는다. 또한, 가장 바람직한 전해질은 앞면 낮은 전류 밀도 가장자리상에 도금되지 않은 부분을 갖게 될 것이다. 이 도금되지 않은 부분은 인치 너비로 1/8"내지 3/4"가 될 것이다. 일반적으로 이런 타입의 헐 셀 패널 결과를 나타내는 전해질은 헐 셀 패널의 뒷부분에 도금이 상당히 만들어지는 전해질보다 훨씬 덜 융착하는 경향이 있다. 금속이 증착될 수 없는 제한된(limiting) 전류 밀도는 0.25A에서 헐 셀 패널을 준비하여 적절한 헐 셀 패널 스케일을 사용하여 금속 증착물의 가장자리 에서 전류밀도를 결정하여 측정할 수 있다.A useful way to test the electrolyte with respect to LCDC is to use the standard 265 ml hull cell test. Standard procedures for operating the hull cell are used. Typical conditions would be 1 A for 5 minutes, 0.5 A for 5 minutes or 0.25 A for 5 minutes, respectively, using paddle stirring. The hull cell panel manufactured at 1A has an LCDC if the back of the hull cell panel is not plated much except for the portion extending less than 1 cm from the panel edge. In addition, the most preferred electrolyte will have an unplated portion on the front low current density edge. This unplated portion will be 1/8 "to 3/4" in inch width. In general, the electrolyte that results in this type of hull cell panel tends to be much less fused than the electrolyte in which the plating is significantly made at the back of the hull cell panel. The limiting current density at which metal cannot be deposited can be measured by preparing a Hull cell panel at 0.25 A and determining the current density at the edge of the metal deposit using an appropriate Hull cell panel scale.

또한, LCDC를 갖는 전해질이 최근의 SMT에 대하여 SBE 장치에서 매체 없이사용되는 경우, 전류공급기는 도금 사이클의 마지막 과정에서 주석으로 많이 도금되지 않고 그 도금할 부품은 전류공급기에 대하여 융착되지 않는다는 것이 일반적으로 알려져 있다. 반대로, 상업적으로 이용가능한 중성 주석 도금 전해질이매체없이 SBE내에서 SMT를 도금하는데 사용되는 경우, 부품은 도금개시 후 3분내에 맘추게 되고 전류공급기는 완전히 주석으로 도포되었다는 사실을 알게될 것이다. 따라서, LCDC를 갖는 주석 또는 주석 합금 전해질의 사용은 SBE 장치에서 매체없이 SMT를 성공적으로 도금하기 위해 필요한 것이다.Also, when electrolytes with LCDC are used without media in SBE devices for recent SMTs, it is common that the current supply will not be plated much with tin at the end of the plating cycle and the parts to be plated will not be fused to the current supply. Known as Conversely, if a commercially available neutral tin plating electrolyte is used to plate the SMT in the SBE without the medium, it will be appreciated that the part is trimmed within 3 minutes after the start of plating and the current supply is fully tinned. Thus, the use of tin or tin alloy electrolytes with LCDC is necessary for successful plating of SMT without media in SBE devices.

실시예Example

다음의 실시예는 본 발명의 유용한 실시예를 설명한다.The following examples illustrate useful embodiments of the present invention.

실시예 1:Example 1:

순수한 주석 전착물은 다음의 용액으로부터 및 다음의 전기도금 조건하에서 얻는다.Pure tin electrodeposition is obtained from the following solution and under the following electroplating conditions.

아스코르브산 100 g/lAscorbic acid 100 g / l

주석 (메탄술폰산염으로서) 15 g/lTin (as methanesulfonate) 15 g / l

계면활성제 0.5ml/10.5ml / 1 surfactant

KOH로 조절된 pH: 4.05까지KOH-regulated pH: up to 4.05

전술한 용액은 20 ASF까지의 전류밀도에서 반-광택 주석을 증착할 것이다 .The above solution will deposit semi-gloss tin at current densities up to 20 ASF.

실시예 2:Example 2:

반-광택 주석-납 증착물을 1. 5g/l의 납 메탄 술폰산염을 청구항 1의 용액에 첨가하고 동일한 조건에서 도금하여 얻는다.Semi-gloss tin-lead deposits are obtained by adding 1.5 g / l of lead methane sulfonate to the solution of claim 1 and plating under the same conditions.

아스코르브산 100 g/1Ascorbic acid 100 g / 1

주석 (메탄술폰산염으로서) 15 g/lTin (as methanesulfonate) 15 g / l

납 (메탄술폰산염으로서) 1.5g/11.5 g / 1 of lead (as methanesulfonate)

메탄술폰산 칼륨 40g/1Potassium methanesulfonic acid 40g / 1

계면활성제 0.5ml/10.5ml / 1 surfactant

KOH로 조절된 pH: 4.05까지KOH-regulated pH: up to 4.05

이 용액은 또한 20 ASF까지의 전류밀도에서 반-광택 90% 주석을 증착할 것이다.This solution will also deposit semi-gloss 90% tin at current densities up to 20 ASF.

비교예:Comparative example:

실시예 1의 제조공식을 2.5" ×(by) 4" 배럴내에서 8mm 직경 평평한 와셔(flat washer) 250 조각(piece)에 조석을 도금하는데 사용하였고, 140 ml의 2.5 mm 직경의 도전성 볼(ball)이 매체로서 사용되었다. 로드는 15 분 동안 5A, 6.5V에서 도금되었다. 도금 사이클의 마지막에서 평평한 와셔중 어느 것도 같이 융착되지 않았다.The formulation of Example 1 was used to plate the tides on 250 pieces of 8 mm diameter flat washer in 2.5 "by 4" barrels, and 140 ml of 2.5 mm diameter conductive balls. ) Was used as the medium. The rod was plated at 5 A, 6.5 V for 15 minutes. At the end of the plating cycle none of the flat washers were fused together.

동일한 도금 사이클을 다음 제조공식의 전해질을 사용하여 수행되었다:The same plating cycle was performed using an electrolyte of the following formula:

구연산 40 g/1Citric acid 40 g / 1

주석 (메탄술폰산염으로서) 10 g/1Tin (as methanesulfonate) 10 g / 1

납 (메탄술폰산염으로서) 1.5 g/l1.5 g / l of lead (as methanesulfonate)

칼륨 메탄술폰산 40 g/lPotassium Methanesulfonic Acid 40 g / l

계면활성제 2.5ml/1Surfactant 2.5ml / 1

KOH로 조절된 pH: 4.2KOH adjusted pH: 4.2

로드는 도금 사이클의 마지막에 15분 동안 5A 및 9V에서 도금되었고, 오직 12 조각만 서로 커플링되지 않았다. 남아있는 조각은 10조각까지 그룹으로 응집되었고 분리하기 어려웠다. 이 실시예는 본 발명에 따른 용액의 우월함을 명백하게 나타낸다.The rods were plated at 5A and 9V for 15 minutes at the end of the plating cycle and only 12 pieces were not coupled to each other. The remaining pieces aggregated into groups of up to 10 pieces and were difficult to separate. This example clearly shows the superiority of the solution according to the invention.

실시예 3:Example 3:

다음 실시예는 종래의 전기도금 용액에 비해 본 발명에 따른 전기도금 용액에 의해 제조된 증착물에서 주석 위스커링이 감소하였음을 나타낸다.The following examples show that tin whiskering is reduced in deposits prepared by the electroplating solution according to the present invention compared to conventional electroplating solutions.

앞에서 지적한 대로, 위스커링(whiskering)의 문제점은 증착물이 열처리 또는 도금된 부품이 서비스되는 경우에 직면하게 되는 것과 같은 조건에 노출된 경우에 발생된다. 위스커는 성장하는데 1주일내지 5년이 걸릴 수 있고, 그 경우 위스커는 회로 단락(short circuiting) 또는 다른 문제점들을 야기할 수 있다. 위스커링이 그러한 증착물에서 발생할 지 결정하기 위해서 가속시험이 개발되었다. 열적 사이클 시험, 도금된 부품이 -55℃의 온도 제어 챔버내에 15분간 위치하고, 20초내에 다른 온도 챔버로 옮겨져 그곳에서 또다시 15분간 125℃의 온도에 노출된다. 이 사이클은 위스커가 증착물상에 생성되는지 알기 위해 500회 반복된다.As noted earlier, the problem of whiskering occurs when the deposit is exposed to conditions such as those encountered when heat treated or plated parts are serviced. Whiskers can take from one week to five years to grow, in which case the whiskers can cause short circuiting or other problems. Accelerated tests were developed to determine if whiskering would occur on such deposits. In a thermal cycle test, the plated part is placed in a temperature control chamber at -55 ° C for 15 minutes, transferred to another temperature chamber within 20 seconds, and exposed to a temperature of 125 ° C for another 15 minutes there. This cycle is repeated 500 times to see if whiskers are produced on the deposit.

기판은 실시예 1의 용액과 함께 주석으로 도금하고 전술한 열적 사이클 시험을 500 사이클동안 수행한다. 또다른 기판은 전통적인 글루콘산 나트륨 도금 용액으로부터 주석으로 도금하고, 도금된 기판은 또한 동일한 열적 사이클 시험을 500 사이클동안 수행한다.The substrate is plated with tin together with the solution of Example 1 and subjected to the thermal cycle test described above for 500 cycles. Another substrate is plated with tin from a traditional sodium gluconate plating solution, and the plated substrate also performs the same thermal cycle test for 500 cycles.

결과가 도 1 내지 도 4에 나타나 있다. 도 1 및 도 2에서, 본 발명에 따라 도금된 부품의 표면은 비교적 유해성이 없는 매우 작고, 매우 짧은 위스커를 나타낸다. 이에 비하여 종래기술에 의해 도금된 부품은 더 길고 더 많은 위스커링을 나타내어 회로 단락을 유발하기 더욱 더 쉬운 도금 물품이 그 결과로서 나타나거나 , 또는 만약 더 긴 위스커를 제거한다면, 기계적인 문제가 나타날 것이다. 따라서, 본 발명의 도금 증착물은 더욱 더 바람직한 것이고 특히 주석 증착물을 필요로 하는 전자부품과 같은 작은 부품의 경우에는 더욱 바람직하다.The results are shown in Figures 1-4. In Figures 1 and 2, the surface of the parts plated according to the invention exhibits very small, very short whiskers with relatively no harm. In contrast, parts plated by the prior art exhibit longer and more whiskers, resulting in a plated article that is easier to cause short circuits, or if mechanically removed, will cause mechanical problems. . Thus, the plated deposits of the present invention are even more preferred and particularly preferred for small parts such as electronic components that require tin deposits.

Claims (12)

1. 전기도금성 기판상에 하나 또는 그 이상의 금속의 증착과 관련하여 사용하기 위한 용액으로서,1. a solution for use in connection with the deposition of one or more metals on an electroplatable substrate, 물(water);Water; 도금가능한 기판 상에 금속 증착물을 제공하기에 충분한 양의 금속 이온;An amount of metal ions sufficient to provide a metal deposit on the plateable substrate; 4 내지 18개 사이의 탄소 원자를 갖는 유기 화합물인 착화제로서, 적어도 하나의 산소원자를 포함하는 5 또는 6 원자 고리 및 적어도 두개의 히드록시기를 포함하는 화합물이고, 상기 용액내에서 상기 금속이 용해될 수 있도록 상기 금속을 착화시키면서 상기 금속의 산화를 방지하기에 충분한 양으로 존재하는 것인 착화제;A complexing agent that is an organic compound having between 4 and 18 carbon atoms, a compound comprising a 5 or 6 membered ring containing at least one oxygen atom and at least two hydroxy groups, wherein the metal is dissolved in the solution. A complexing agent present in an amount sufficient to prevent oxidation of the metal while complexing the metal so as to be complex; 및 만약 필요하다면, 상기 용액의 pH가 2내지 10의 범위로 유지되도록 하는 적절한 pH 조절제;를 포함하는 것인And, if necessary, a suitable pH adjuster to maintain the pH of the solution in the range of 2 to 10. 전기도금성 기판상에 하나 또는 그 이상의 금속의 증착과 관련하여 사용하기 위한 용액.Solutions for use in connection with the deposition of one or more metals on an electroplatable substrate. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 착화제는 다음의 구조:The complexing agent has the structure: 를 갖고,Has, 상기 구조 중,In the above structure, 각각의 R은 동일하거나 다르고, 또한 수소이거나 1내지 3개의 탄소원자를 갖는 저급 알킬기이고, T는 R, OR, 또는 O=P(OR)2-, Z는 O= 또는 RO-, n은 2-4, Z는 화합물에서 각 발생률(occurrence)로 동일하거나 다를 수 있고, 그리고 m은 1-3,Each R is the same or different and is also hydrogen or a lower alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, T is R, OR, or O = P (OR) 2- , Z is O = or RO-, n is 2- 4, Z can be the same or different at each occurrence in the compound, and m is 1-3, 또는 착화제는 상기 구조를 갖는 용해성 있는 염인 것인Or the complexing agent is a soluble salt having the above structure. 전기도금성 기판상에 하나 또는 그 이상의 금속의 증착과 관련하여 사용하기 위한 용액.Solutions for use in connection with the deposition of one or more metals on an electroplatable substrate. 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 착화제는 아스코르브산, 이소아스코르브산, 디히드로아스코르브산, 글루코아스코르브산, 갈락투론산, 글루코론산(glucoronic acid), 또는 그들의 염이거나, 또는 케토글루콘산염 또는 헵타글루콘산염으로부터 유도되고, 그리고 약 25 내지 200g/l의 양으로 존재하는 것인The complexing agent is ascorbic acid, isoascorbic acid, dihydroascorbic acid, glucocorbic acid, galacturonic acid, glucoronic acid, or salts thereof, or is derived from ketogluconate or heptagluconate, And in an amount of about 25 to 200 g / l 전기도금성 기판상에 하나 또는 그 이상의 금속의 증착과 관련하여 사용하기 위한 용액.Solutions for use in connection with the deposition of one or more metals on an electroplatable substrate. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 금속은 주석이고, 알킬 술폰산 주석(II), 황산 주석(II), 염화 주석(II), 아스코르브산 주석(II), 또는 산화 주석(II)으로서 상기 용액에 첨가되며, 약 5 내지 100g/l 사이의 양으로 존재하는 것인The metal is tin and is added to the solution as alkyl sulfonic acid tin (II), tin sulfate (II), tin chloride (II), tin ascorbate (II), or tin oxide (II), about 5 to 100 g / present in quantities between l 전기도금성 기판상에 하나 또는 그 이상의 금속의 증착과 관련하여 사용하기 위한 용액.Solutions for use in connection with the deposition of one or more metals on an electroplatable substrate. 제 4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 용액으로부터 주석-납 합금을 증착시키기에 충분한 양의 2가 납염을 더 포함하는 것인Further comprising a divalent lead salt in an amount sufficient to deposit a tin-lead alloy from the solution 전기도금성 기판상에 하나 또는 그 이상의 금속의 증착과 관련하여 사용하기 위한 용액.Solutions for use in connection with the deposition of one or more metals on an electroplatable substrate. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 용액의 전도성을 증가시키기 위해 충분한 양의 전도성 염, 증착 품질 및 결정 구조를 증강시키기에 충분한 양의 계면활성제, 또는 양극 용출(anode dissolution)을 촉진하기 위한 작용제(agent)를 하나 또는 그 이상을 더 포함하는것인Sufficient amount of conductive salts to increase the conductivity of the solution, sufficient amount of surfactant to enhance the deposition quality and crystal structure, or one or more agents to promote anode dissolution Which includes more 전기도금성 기판상에 하나 또는 그 이상의 금속의 증착과 관련하여 사용하기 위한 용액.Solutions for use in connection with the deposition of one or more metals on an electroplatable substrate. 제 6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 전도성 염은 알칼리 또는 알칼리 금속 황산염, 술폰산염, 또는 아세테이트 화합물이고, 상기 계면활성제는 알킬렌 산화물 축합 화합물이고 약 0.01 내지 20 g/l의 양으로 존재하고, 또는 양극 용출(anode dissolution)을 촉진하기 위한 작용제(agent)가 칼륨 메탄 술폰산염, 염화암모늄 또는 금속 황화 염인 것인The conductive salt is an alkali or alkali metal sulfate, sulfonate, or acetate compound and the surfactant is an alkylene oxide condensation compound and is present in an amount of about 0.01 to 20 g / l, or promotes anode dissolution. The agent to be potassium methane sulfonate, ammonium chloride or metal sulfide salt 전기도금성 기판상에 하나 또는 그 이상의 금속의 증착과 관련하여 사용하기 위한 용액.Solutions for use in connection with the deposition of one or more metals on an electroplatable substrate. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 기판은 전기도금성 및 비전기도금성 부분을 갖는 복합물품이고, 상기 pH 조절제는 산 또는 염기이고 pH는 상기 비전기도금성 부분에 불리한 영향을 미치지 않으면서 상기 물품의 전기도금성 부분에 전기도금하는 것이 가능하도록 약 3.5 내지 5.5의 범위로 조절되는 것인The substrate is a composite article having electroplating and non-electroplating portions, wherein the pH adjusting agent is an acid or a base and the pH is electroplated onto the electroplating portion of the article without adversely affecting the non-plating portion. To be adjusted in the range of about 3.5 to 5.5 전기도금성 기판상에 하나 또는 그 이상의 금속의 증착과 관련하여 사용하기 위한 용액.Solutions for use in connection with the deposition of one or more metals on an electroplatable substrate. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 기판을 제 1항의 용액과 접촉시키는 단계 및 그 위에 금속 전착물을 제공하기 위해 용액을 통하여 전류를 통과시키는 단계를 포함하는 것인Contacting the substrate with the solution of claim 1 and passing a current through the solution to provide a metal electrodeposition thereon. 기판상에 금속 증착물을 전기도금하는 방법.A method of electroplating a metal deposit on a substrate. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 다수의 상기 물품(전기도금성 및 비전기도금성 부분을 포함하는 복합물품)을 제 1항의 용액과 접촉시키는 단계 및 상기 물품의 비전기도금성 부분에 불리한 영향을 미치지 않으면서 상기 물품의 전기도금성 부분상에 금속 전착물을 제공하기 위해 용액을 통하여 전류를 통과시키는 단계를 포함하는 것인Contacting a plurality of said articles (composite articles comprising electroplating and non-electroplating portions) with the solution of claim 1 and electroplating portions of said article without adversely affecting the non-electroplating portion of said article Passing a current through the solution to provide a metal electrodeposit on the phase 전기도금성 및 비전기도금성 부분을 포함하는 복합물품상에 금속 증착물을 전기도금하는 방법.A method of electroplating a metal deposit on a composite article comprising electroplatable and non-electroplated portions. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 기판을 제 1항의 용액과 접촉시키는 단계 및 상기 증착물의 위스커 형성을 감소시키거나 제거하면서 상기 기판상에 금속 전착물을 제공하기 위해 상기 용액을 통하여 전류를 통과시키는 단계를 포함하는 것인Contacting the substrate with the solution of claim 1 and passing a current through the solution to provide a metal electrodeposit on the substrate while reducing or eliminating whisker formation in the deposit. 기판상에 금속 증착물의 위스커 형성을 감소시키는 방법.A method of reducing whisker formation of metal deposits on a substrate. 제 11항에 있어서,The method of claim 11, 상기 기판은 전기도금성 및 비전기도금성 부분을 포함하는 복합물품이고, 상기 물품의 전기도금성 부분상에 감소된 위스커 없는 또는 감소된 위스커 증착물을 제공하기 위해 다수의 상기 물품을 상기 용액과 접촉시키는 단계를 더 포함하는 것인The substrate is a composite article comprising electroplatable and non-electroplated portions, wherein the plurality of articles are contacted with the solution to provide a reduced whisker-free or reduced whisker deposit on the electroplatable portion of the article. Further comprising the steps 기판상에 금속 증착물의 위스커 형성을 감소시키는 방법.A method of reducing whisker formation of metal deposits on a substrate.
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