KR20040060735A - 전자 부품 세정 방법 및 장치 - Google Patents
전자 부품 세정 방법 및 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20040060735A KR20040060735A KR1020030088972A KR20030088972A KR20040060735A KR 20040060735 A KR20040060735 A KR 20040060735A KR 1020030088972 A KR1020030088972 A KR 1020030088972A KR 20030088972 A KR20030088972 A KR 20030088972A KR 20040060735 A KR20040060735 A KR 20040060735A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- cleaning fluid
- cleaning
- tank
- electronic component
- support platform
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/304—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B3/00—Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
- B08B3/04—Cleaning involving contact with liquid
- B08B3/10—Cleaning involving contact with liquid with additional treatment of the liquid or of the object being cleaned, e.g. by heat, by electricity or by vibration
- B08B3/12—Cleaning involving contact with liquid with additional treatment of the liquid or of the object being cleaned, e.g. by heat, by electricity or by vibration by sonic or ultrasonic vibrations
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B3/00—Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
- B08B3/04—Cleaning involving contact with liquid
- B08B3/10—Cleaning involving contact with liquid with additional treatment of the liquid or of the object being cleaned, e.g. by heat, by electricity or by vibration
- B08B3/12—Cleaning involving contact with liquid with additional treatment of the liquid or of the object being cleaned, e.g. by heat, by electricity or by vibration by sonic or ultrasonic vibrations
- B08B3/123—Cleaning travelling work, e.g. webs, articles on a conveyor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
- H01L21/4803—Insulating or insulated parts, e.g. mountings, containers, diamond heatsinks
- H01L21/481—Insulating layers on insulating parts, with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67028—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H01L21/6704—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
- H01L21/67051—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing using mainly spraying means, e.g. nozzles
Abstract
Description
Claims (33)
- 복수의 전자부품을 세정하기 위한 장치에 있어서,세정 유체를 수납하는 탱크,상기 세정 유체에 초음파 에너지를 충전하도록 상기 세정 유체와 교류하는 상태로 장착될 수 있는 초음파 공진기,상기 전자 부품이 사용중인 세정 유체의 상단면과 접촉하도록 상기 전자 부품을 지지하기 위해 상기 세정 유체의 상기 상단면 위에 위치될 수 있는 지지 플랫폼 및상기 세정 유체의 상기 상단면과 접촉하여 상기 전자 부품을 세정하도록 상기 탱크내로의 세정 유체의 연속적 유동을 생성하기 위한 세정 유체 공급 시스템을 포함하는 세정 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 초음파 공진기는 상기 탱크 내측의 상기 세정 유체내에 침지되는 세정 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 초음파 공진기는 상기 탱크 외면에 장착되는 세정 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 세정 유체 공급 시스템에 의해 생성된 상기 세정 유체의 연속 유동은 상기 세정 유체의 상단면을 상기 탱크의 림 보다 높은 수준으로 유지하고, 그에 의해, 상기 세정 유체가 상기 탱크 외측으로 연속적으로 넘쳐 흐르는 세정 장치.
- 제 4 항에 있어서, 상기 탱크에 인접 배열된 외부 탱크를 포함하고,상기 외부 탱크는 상기 탱크로부터 넘쳐흐르는 세정 유체를 수집하도록 구성되는 세정 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 전자 부품은 상기 세정 유체의 상기 상단면에 대면하는 표면에 대향한 상기 지지면의 표면상에 지지되는 세정 장치.
- 제 6 항에 있어서, 상기 지지 플랫폼은 상기 탱크의 림상에 장착되는 세정 장치.
- 제 7 항에 있어서, 상기 전자 부품이 그 위에 지지되는 상기 지지 플랫폼의 표면에 세정 유체를 분산시키기 위해 상기 세정 유체와 교류하는 지지 플랫폼내에 유체 입구를 포함하는 세정 장치.
- 제 8 항에 있어서, 상기 전자 부품이 그 위에 지지되는 상기 지지 플랫폼의 표면으로부터 멀어지는 방향으로 세정 유체를 배수하기 위해 상기 지지 플랫폼내에유체 출구를 포함하는 세정 장치.
- 제 8 항에 있어서, 상기 세정 유체 공급 시스템은 상기 지지 플랫폼의 표면상의 상기 전자 부품과 접촉하는 세정 유체의 실질적으로 균일한 양을 유지하도록 상기 탱크에 세정 유체의 적절한 유동을 공급하도록 적용되는 세정 장치.
- 제 6 항에 있어서, 상기 지지 플랫폼의 표면상에 상기 전자 부품을 배치하도록 동작하는 전달 장치를 포함하는 세정 장치.
- 제 11 항에 있어서, 상기 전자 부품과 접촉하는 상기 세정 유체의 상단면에 대해 측방향으로 상기 전자 부품을 반복적으로 이동시키기 위한 이동 메카니즘을 포함하는 세정 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 전자 부품은 상기 세정 유체의 상기 상단면에 대면하는 상기 지지 플랫폼의 표면상에 지지되는 세정 장치.
- 제 13 항에 있어서, 상기 세정 유체의 상기 상단면에 대면하는 상기 지지 플랫폼의 상기 표면상에 상기 전자 부품을 유지하기 위한 진공 흡입 장치를 포함하는 세정 장치.
- 제 13 항에 있어서, 상기 전자 부품에 접촉하도록 상기 세정 유체의 상기 상단면에 형성된 세정 유체 분무층을 포함하는 세정 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 초음파 트랜스듀서에 의해 공급되는 초음파 에너지의 주파수는 20 내지 80kHz인 세정 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 탱크는 스테인레스 강 또는 다른 적절한 금속으로 이루어지는 세정 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 플랫폼은 경질 아노다이징을 구비한 알루미늄, 스테인레스강 또는 다른 적절한 금속으로 이루어지는 세정 장치.
- 복수의 전자 부품을 세정하는 방법에 있어서,세정 유체를 수납하는 탱크를 제공하는 단계,상기 세정 유체를 초음파 충전하는 단계,상기 전자 부품이 상기 세정 유체의 상단면과 접촉하도록 상기 전자 부품을 지지하는 단계, 및상기 세정 유체의 상기 상단면과 접촉하는 상기 전자 부품을 세정하기 위해 상기 탱크내로의 세정 유체의 연속 유동을 생성하는 단계를 포함하는 세정 방법.
- 제 19 항에 있어서, 상기 세정 유체를 초음파 충전하기 위해 상기 탱크내측의 상기 세정 유체내에 초음파 공진기를 침지시키는 단계를 포함하는 세정 방법.
- 제 19 항에 있어서, 상기 세정 유체를 초음파 충전하기 위해 상기 탱크 외면에 초음파 공진기를 장착하는 단계를 포함하는 세정 방법.
- 제 19 항에 있어서, 상기 탱크내로의 세정 유체의 연속 유동을 생성하는 단계는 상기 탱크의 림 보다 높은 수준으로 상기 세정 유체의 상단면을 유지하여, 상기 세정 유체가 상기 탱크 외측으로 넘쳐 흐르도록 하는 단계를 포함하는 세정 방법.
- 제 22 항에 있어서, 상기 탱크로부터 넘쳐흐른 세정 유체를 배수를 위한 다른 탱크를 사용하여 수집하는 단계를 포함하는 세정 방법.
- 제 19 항에 있어서, 상기 전자 부품은 상기 세정 유체의 상기 상단면에 대면한 표면에 대향한 지지 플랫폼의 표면상에 지지되는 세정 방법.
- 제 24 항에 있어서, 상기 지지 플랫폼은 상기 탱크의 림상에 장착되는 세정 방법.
- 제 24 항에 있어서, 상기 전자 부품이 그 위에 지지되어 있는 상기 지지 플랫폼의 표면에 상기 탱크로부터의 세정 유체를 분산시키는 단계를 포함하는 세정 방법.
- 제 26 항에 있어서, 상기 전자 부품이 그 위에 지지되어 있는 상기 지지 플랫폼의 상기 표면으로부터 멀어지는 방향으로 세정 유체를 배수시키는 단계를 포함하는 세정 방법.
- 제 26 항에 있어서, 상기 탱크에 적절한 세정 유체 공급을 제공함으로써 상기 지지 플랫폼의 상기 표면상의 상기 전자 부품과 접촉하는 상기 세정 유체의 실질적으로 균일한 양을 유지하는 단계를 포함하는 세정 방법.
- 제 24 항에 있어서, 상기 전자 부품과 접촉하는 상기 세정 유체의 상기 상단면에 대해 측방향으로 상기 전자 부품을 반복적으로 이동시키는 단계를 포함하는 세정 방법.
- 제 19 항에 있어서, 상기 전자 부품은 상기 세정 유체의 상기 상단면에 대면한 지지 플랫폼의 표면상에 지지되는 세정 방법.
- 제 30 항에 있어서, 진공 흡입을 사용하여 상기 세정 유체의 상기 상단면에대면한 상기 지지 플랫폼의 상기 표면에 상기 전자 부품을 유지하는 단계를 포함하는 세정 방법.
- 제 30 항에 있어서, 상기 전자 부품과 접촉하도록 상기 세정 유체의 상기 상단면에 세정 유체 분무층을 형성하는 단계를 포함하는 세정 방법.
- 제 19 항에 있어서, 상기 세정 유체에 충전되는 초음파 에너지의 주파수는 20 내지 80kHz인 세정 방법.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US43665902P | 2002-12-30 | 2002-12-30 | |
US60/436,659 | 2002-12-30 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20040060735A true KR20040060735A (ko) | 2004-07-06 |
KR100718484B1 KR100718484B1 (ko) | 2007-05-16 |
Family
ID=34312101
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020030088972A KR100718484B1 (ko) | 2002-12-30 | 2003-12-09 | 전자 부품 세정 방법 및 장치 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7147721B2 (ko) |
KR (1) | KR100718484B1 (ko) |
CN (1) | CN1273229C (ko) |
MY (1) | MY137332A (ko) |
SG (1) | SG145610A1 (ko) |
TW (1) | TWI225659B (ko) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100886998B1 (ko) * | 2006-09-20 | 2009-03-04 | 다이닛뽕스크린 세이조오 가부시키가이샤 | 기판처리장치 및 기판처리방법 |
CN112296014A (zh) * | 2020-11-24 | 2021-02-02 | 西北工业大学 | 一种声涡旋超声清洗装置 |
WO2022060143A1 (ko) * | 2020-09-18 | 2022-03-24 | (주)미래컴퍼니 | 초음파 세정 장치 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008060299A (ja) * | 2006-08-31 | 2008-03-13 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置および基板処理方法 |
US7975710B2 (en) * | 2009-07-06 | 2011-07-12 | Asm Assembly Automation Ltd | Acoustic cleaning system for electronic components |
CN102698977A (zh) * | 2011-03-28 | 2012-10-03 | 东莞新科技术研究开发有限公司 | 真空清洗装置 |
CN103441002A (zh) * | 2013-08-14 | 2013-12-11 | 吴江佳艺电子科技有限公司 | 一种电容电极清洗装置 |
CN104690030A (zh) * | 2013-12-05 | 2015-06-10 | 天津中环领先材料技术有限公司 | 一种改造后的硅片清洗机用槽体 |
JP2022068575A (ja) * | 2020-10-22 | 2022-05-10 | 株式会社ディスコ | 洗浄装置 |
KR102634455B1 (ko) * | 2020-12-02 | 2024-02-06 | 세메스 주식회사 | 클리닝 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4370356A (en) * | 1981-05-20 | 1983-01-25 | Integrated Technologies, Inc. | Method of meniscus coating |
FR2527796B1 (fr) * | 1982-05-25 | 1985-11-22 | Photomeca Sa | Procede et machine pour le developpement de plaques de tous types a couche photosensible photopolymerisable |
JPH01143224A (ja) * | 1987-11-28 | 1989-06-05 | Toshiba Corp | 半導体基板の表面処理方法 |
JPH0377319A (ja) | 1989-08-21 | 1991-04-02 | Dan Kagaku:Kk | 超音波洗浄装置 |
US5339842A (en) * | 1992-12-18 | 1994-08-23 | Specialty Coating Systems, Inc. | Methods and apparatus for cleaning objects |
US5601655A (en) * | 1995-02-14 | 1997-02-11 | Bok; Hendrik F. | Method of cleaning substrates |
US6165232A (en) * | 1998-03-13 | 2000-12-26 | Towa Corporation | Method and apparatus for securely holding a substrate during dicing |
US6187654B1 (en) * | 1998-03-13 | 2001-02-13 | Intercon Tools, Inc. | Techniques for maintaining alignment of cut dies during substrate dicing |
US6325059B1 (en) * | 1998-09-18 | 2001-12-04 | Intercon Tools, Inc. | Techniques for dicing substrates during integrated circuit fabrication |
AU772539B2 (en) * | 1999-07-29 | 2004-04-29 | Kaneka Corporation | Method for cleaning photovoltaic module and cleaning apparatus |
KR100441790B1 (ko) * | 2001-03-22 | 2004-07-27 | 에이에스엠 어쌤블리 오토메이션 리미티드 | 픽업 및 재치 장치와 그 방법 |
-
2003
- 2003-11-03 US US10/698,379 patent/US7147721B2/en active Active
- 2003-11-20 SG SG200704767-3A patent/SG145610A1/en unknown
- 2003-11-27 MY MYPI20034546A patent/MY137332A/en unknown
- 2003-12-03 CN CNB2003101171184A patent/CN1273229C/zh not_active Expired - Lifetime
- 2003-12-09 KR KR1020030088972A patent/KR100718484B1/ko active IP Right Grant
- 2003-12-30 TW TW092137514A patent/TWI225659B/zh not_active IP Right Cessation
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100886998B1 (ko) * | 2006-09-20 | 2009-03-04 | 다이닛뽕스크린 세이조오 가부시키가이샤 | 기판처리장치 및 기판처리방법 |
WO2022060143A1 (ko) * | 2020-09-18 | 2022-03-24 | (주)미래컴퍼니 | 초음파 세정 장치 |
CN112296014A (zh) * | 2020-11-24 | 2021-02-02 | 西北工业大学 | 一种声涡旋超声清洗装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1520938A (zh) | 2004-08-18 |
MY137332A (en) | 2009-01-30 |
US7147721B2 (en) | 2006-12-12 |
CN1273229C (zh) | 2006-09-06 |
TWI225659B (en) | 2004-12-21 |
US20040123878A1 (en) | 2004-07-01 |
SG145610A1 (en) | 2008-09-29 |
KR100718484B1 (ko) | 2007-05-16 |
TW200414292A (en) | 2004-08-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5286657A (en) | Single wafer megasonic semiconductor wafer processing system | |
US8607806B2 (en) | Megasonic precision cleaning of semiconductor process equipment components and parts | |
KR920003879B1 (ko) | 반도체기판의 표면처리방법 | |
KR100718484B1 (ko) | 전자 부품 세정 방법 및 장치 | |
KR0144949B1 (ko) | 웨이퍼 카세트 및 이를 사용한 세정장치 | |
US20040173248A1 (en) | Ultrasonic vibrator, wet-treatment nozzle, and wet-treatment apparatus | |
US7810513B1 (en) | Substrate preparation using megasonic coupling fluid meniscus and methods, apparatus, and systems for implementing the same | |
KR100526192B1 (ko) | 웨이퍼 세정장치 및 세정방법 | |
JP4248257B2 (ja) | 超音波洗浄装置 | |
JP4623706B2 (ja) | 超音波洗浄処理装置 | |
KR20150092200A (ko) | 웨이퍼 세척 장치 및 방법들 | |
US20030106566A1 (en) | Method and apparatus for cleaning substrates | |
JP2002009033A (ja) | 半導体ウエハ用洗浄装置 | |
JP2020098843A (ja) | 基板処理装置 | |
JP4023103B2 (ja) | 超音波流体処理装置 | |
JPH02252238A (ja) | 基板の洗浄装置 | |
JP2007152207A (ja) | 超音波洗浄装置 | |
JP3343781B2 (ja) | 超音波洗浄装置 | |
KR20070073311A (ko) | 웨이퍼 초음파 세정장치 및 이를 이용한 웨이퍼 세정방법 | |
KR19980065775A (ko) | 다중 발진 초음파 세정장치 | |
JPH04164324A (ja) | 半導体製造装置 | |
JP2004033914A (ja) | 超音波洗浄装置 | |
JP2883844B2 (ja) | 高周波洗浄方法 | |
JPH11145096A (ja) | 洗浄方法及び洗浄装置 | |
JP3889495B2 (ja) | 基板浸漬処理装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E90F | Notification of reason for final refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130502 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140418 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150416 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160418 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170421 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180418 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190418 Year of fee payment: 13 |