KR20040007534A - 패시브 코히런트 위치 확인 응용에서 검출 및 특징추출하는 시스템 및 방법 - Google Patents

패시브 코히런트 위치 확인 응용에서 검출 및 특징추출하는 시스템 및 방법 Download PDF

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Abstract

패시브 코히런트 위치 확인 시스템에서의 검출 및 특징 추출에 대한 시스템 및 방법이 개시된다. 코히런트 처리 기간 동안, 타켓들에 대한 타켓 파라미터들을 검출한다. 시스템은 코히런트 처리 기간 동안 모호성 표면 데이터를 갖는 모호성 표면을 형성한다. 이전의 모호성 표면으로부터의 빈들은 모호성 데이터와 관련된다. 새로운 빈들이 모호성 표면내의 새로운 타겟 에코들에 대해 식별된다. 피크 검출들은 빈들로부터 형성된다. 피크 검출들은 코히런트 처리 기간의 타겟 에코들과 상관된다. 타겟들에 대한 타겟 파라미터들은 피크 검출들로부터 추정된다.

Description

패시브 코히런트 위치 확인 응용에서 검출 및 특징 추출하는 시스템 및 방법{System and method for detection and feature extraction in passive coherent location applications}
PCL 레이더 시스템은 멀티스터틱 레이더 시스템(multistatic radar system)으로 나타낼 수도 있다. 멀티스터틱 레이더 시스템은 하나 이상의 송신기로부터 분리된 많은 수신기들을 가진다. 송신기로부터 발산된 신호는 2개의 별도의 경로를 통해 수신기에 도달한다. 한 경로는 송신기로부터 수신기로의 직접 경로일 수 있고, 다른 경로는 송신기로부터 수신기로의 타겟에 대한 간접 경로를 포함하는 타겟 경로일 수 있다. 측정 대상으로는, 타겟 경로 신호의 전체 경로 길이 또는 통과 시간, 타겟 경로 신호의 도달 각도, 및 직접 경로 신호 및 타겟 경로 신호의 주파수가 포함될 수 있다. 주파수에서의 차이는, 타겟이 이동중인 경우에는 도플러 효과에 따라 검출될 수 있다.
타겟 경로 신호로부터 정보를 추출하고자 한다면, 수신기에서는 송신된 신호에 대한 지식이 필요하다. 도플러 주파수 이동을 결정하기 위해서는 송신된 주파수가 희망된다. 전체 산란된 경로 길이를 결정하고자 한다면, 시간 또는 위상 기준이 또한 희망된다. 주파수 기준은 직접 신호로부터 얻어질 수 있다. 송신기와 수신기간의 거리가 알려진다면, 직접 신호로부터 시간 기준이 또한 얻어질 수 있다.
멀티스터틱 레이더 시스템들은, 레이더 적용 범위(coverage) 내에서 타겟의 존재, 타겟 위치의 위치 확인, 및 레이더에 대한 속도 성분이나 도플러를 결정할 수 있다. 타겟 위치의 위치 확인의 과정에는 거리 측정과 도달 각도가 포함될 수 있다. 수신측에 대한 거리의 측정 결정은 송신기와 수신기간의 거리, 및 수신측에서의 도달 각도 양자 모두를 요구할 수 있다. 직접 신호가 이용가능하다면, 도플러 주파수 이동을 추출하기 위한 기준 신호로서 이용될 수도 있다.
PCL 레이더 시스템들에서, 송신기들은 조사기들(illuminators)로 알려질 수 있다. 조사기들은, 상업용 주파수 변조("FM") 방송 송신기들 및/또는리피터들(repeaters), 상업용 고품질 텔레비젼("HDTV") 방송 송신기들 및/또는 리피터들 등을 포함하는 광대역 상황 제공원(source of opportunity)일 수 있다. 광대역 신호에 대한 공지된 기술로서 사전-검출 처리와 동채널(co-channel) 간섭 완화가 존재한다. 알려진 접근법들로는, 주 조사기와 같은, 이용하고자하는 상황 제공원과 그 환경내에서 존재하는 임의의 다른 동채널 신호들을 수신하는데 이용되는 안테나들의 어레이가 포함된다.
수신된 신호들이 처리된 이후에, 타겟 파라미터들이 추출되어야 하고 새로운 타겟들이 검출된다. 기존 타겟들은 현재의 처리 간격에 대한 데이터와 더불어 갱신될 수 있다. 타겟 정보의 검출 및 특징 추출은 정확하고 시기적절하게 수행되어야 한다. 부정확하거나 무효한 검출들은 처리 리소스들을 낭비하고 추가적인 계산을 요구한다. 나아가, 시스템은 잡음이나 지면 클러터(ground clutter)로부터의 잘못된 경고없이 새로운 타겟들을 검출해야 한다. 따라서, PCL 레이더 시스템은 효율적이고도 정확한 방법으로 타겟들을 검출하고 이들 타겟들의 특징을 추출할 수 있어야 한다.
관련 출원의 상호 참조
본 출원은 2001년 5월 4일 출원된 "System and Method for Detection and Feature Extraction for PCL Application"이란 제목의 미국특허 가출원번호 60/288,293호를 우선권 주장의 기초로 한다.
발명의 분야
본 발명은 패시브 코히런트 위치 확인(PCL:passive coherent location) 레이더 시스템 및 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는, PCL 레이더 응용을 위한 검출 및 특징 추출용 시스템과 방법에 관한 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 레이더 시스템, 타겟 및 송신기들의 블록도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 PCL 시스템의 블록도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템의 블록도이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 피크 편집 기능을 위한 블록도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 PCL 동작에 대한 검출 및 추출 특징의 흐름도이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 모호성 기능 데이터로부터 검출 및 특징 추출을 위한 흐름도이다.
도 7은 본 발명에 따른 잡음으로부터 피크를 판별하기 위한 흐름도이다.
따라서, 본 발명은 PCL 응용 및 PCL 응용 내에서의 신호 처리에 관한 것이다.
실시예에 따르면, PCL 시스템 내에서 코히런트 처리 간격 동안에 타겟 정보를 검출하고 추출하기 위한 방법이 개시된다. 이 방법은 코히런트 처리 간격 동안에 모호성 표면 데이터(ambiguity surface data)를 갖는 모호성 표면을 형성하는 단계를 포함한다. 이 방법은 또한 이전의 모호성 표면으로부터의 빈(bin)들을 식별하는 단계를 포함한다. 이 방법은 또한 이전의 모호성 표면으로부터의 빈들과 모호성 표면 데이터를 연관시키는 단계를 포함한다. 이 방법은 또한 모호성 표면 내에서 새로운 타겟 에코들에 대한 새로운 빈들을 식별하는 단계를 포함한다.
또 다른 실시예에 따르면, PCL 시스템에서 코히런트 처리 간격 내에서 타겟들에 대한 타겟 데이터를 검출하고 추출하기 위한 방법이 개시된다. 이 방법은 모호성 표면을 발생시키는 단계를 포함한다. 이 방법은 또한, 빈들과 모호성 표면을 연관시키는 단계를 포함한다. 이 방법은 또한 빈들로부터 피크 검출들을 형성하는 단계를 포함한다. 피크 검출들은 코히런트 처리 간격 내에서 타겟 에코들과 상관된다. 이 방법은 또한 피크 검출로부터의 타겟 파라미터들을 추정하는 단계를 포함한다.
또 다른 실시예에 따르면, PCL 시스템에서 모호성 표면의 모호성 표면 데이터로부터 잠재적 타겟들의 타겟 파라미터들을 추출하는 방법이 개시된다. 모호성 표면 데이터는 코히런트 처리 간격 및 잠재적 타겟들의 에코들과 상관된다. 이 방법은 이전의 모호성 표면을 검색하는 단계를 포함한다. 이 방법은 또한, 알려진 타겟들과 연관된 빈들을 식별하기 위해 모호성 표면 데이터와 이전의 모호성 표면을 비교하는 단계를 포함한다. 이 방법은 또한 모호성 표면 데이터와 더불어 빈들을 갱신하는 단계를 포함한다. 이 방법은 또한 잠재적 타겟 에코들의 새로운 타겟 에코들에 대한 새로운 빈들을 식별하는 단계를 포함한다. 이 방법은 또한 피크 검출로부터 잠재적 타겟들에 대한 타겟 파라미터들을 추정하는 단계를 포함한다.
또 다른 실시예에 따르면, PCL 시스템에서 코히런트 처리 간격 동안에 모호성 표면으로부터 잠재적 타겟들을 검출하고 이들의 특징을 추출하기 위한 시스템이 개시된다. 이 시스템은 모호성 표면을 수행하고 모호성 표면 데이터를 발생하는 모호성 표면 형성 기능을 포함한다. 이 시스템은 또한 모호성 표면 데이터와 더불어 알려진 타겟 및 새로운 타겟들에 대한 빈들을 식별하기 위한 피크/잡음 판별 기능을 포함한다. 이 시스템은 또한, 알려진 타겟 및 새로운 타겟들과 연관된 피크 검출을 결정하기 위해 빈들을 그룹화(grouping)하는 피크 연관 기능을 포함한다. 시스템은 또한, 피크 검출로부터 알려진 타겟 및 새로운 타겟들에 대한 타겟 파라미터들을 추정하기 위한 파라미터 추정 기능을 포함한다. 시스템은 또한, 피크 검출을 편집하기 위한 피크 편집 기능을 포함한다.
또 다른 실시예에 따르면, PCL 시스템에 의해 식별된 타겟들을 검출하고 타겟에 대한 특징들을 추출하기 위한 방법이 개시된다. 이 방법은 빈들을 모호성 표면 데이터와 연관시키는 단계를 포함한다. 이 방법은 또한 빈들로부터 피크 검출을 형성하는 단계를 포함한다.
또 다른 실시예에 따르면, 모호성 표면의 모호성 표면 데이터로부터 타겟을 검출하고 타겟 파라미터들을 결정하기 위해 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템을 갖는 PCL 레이더 시스템이 개시된다. 이 PCL 레이더 시스템은 이전의 모호성 표면 데이터와 모호성 표면 데이터를 비교하고 이전 모호성 표면 데이터와 상관된 빈들을 갱신하긴 위한 피크/잡음 판별기를 포함한다. 이 PCL 레이더 시스템은 또한,모호성 표면 내의 새로운 타겟 에코들에 대해 피크/잡음 판별기에 의해 식별된 새로운 빈들을 포함한다. 이 PCL 레이더 시스템은 또한, 빈들 및 피크/잡음 판별기에 의해 식별된 빈들을 그룹화하여 타겟들과 상관되는 피크 검출을 형성하기 위한 피크 연관기를 포함한다. 이 PCL 레이더 시스템은 또한, 피크 검출들로부터 타겟 파라미터들을 추정하기 위한 파라미터 추정기를 포함한다.
본 발명의 추가적 특징 및 이점들이 이하에서 기술될 것이다. 본 발명의 목적 및 다른 이점들은 첨부된 도면을 참조한 상세한 설명 및 해당 청구항들에서 특히 지적되는 구조에 의해 실현되며 얻어질 수 있다.
본 발명의 더 나은 이해를 제공하기 위해 포함된 도면들은 명세서의 일부를 구성하며, 상세한 설명과 함께 본 발명의 원리를 설명하는 역할을 한다.
본 발명의 양호한 실시예에 대한 참조가 이루어질 것이다. 그 예들은 도면에 도시되어 있다.
도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 레이더 시스템, 타겟 및 송신기들의 블록도이다. 레이더 시스템(100)은 복수의 송신기들(110, 112, 및 114)을 이용하여 하나 이상의 관심 타겟(150)을 검출하기 위한 PCL 시스템(100)을 포함한다. PCL 시스템(100)은 멀티스터틱 광역 타겟 감시 센서군을 나타낸다. PCL(100) 시스템은, 종종 다른 목적들로 동작할 수 있는 상황 제공원(source of opportunity)들로부터의 연속파(CW) 전자기 에너지를 이용한다. 상기 상황 제공원들에는 TV 방송국 및 FM 라디오 방송국들이 포함될 수 있다. 양호하게는, PCL 시스템(100)은, 상황 제공원이라 알려진 복수의 제어되지 않는 송신기들(110, 112, 및 114)로부터의 송신을 수신할 수 있다. 보다 양호하게는, 송신기들(110, 112, 및 114)은 상업용 FM 방송 송신기들 및/또는 리피터들과 상업용 HDTV TV 방송 송신기들 및/또는 리피터들을 포함하는 광대역 상황 제공원일 수 있다. 그러나, 송신기들(110, 112, 및 114)은 이들 상황 제공원에만 한정되는 것은 아니며, 제어되지 않는 신호들을 송신하는 임의의 장치, 시스템, 또는 수단을 포함할 수도 있다.
송신기들(110, 112, 및 114)은 광대역 전자기 에너지를 모든 방향으로 송신할 수 있다. 이들 송신들 중 일부는 하나 이상의 관심 타겟(150)에 의해 반사되어 PCL 시스템(100)에 의해 수신된다. 예를 들어, 반사된 송신(130)은 타겟(150)에 의해 반사되어 PCL 시스템(100)에 의해 수신될 수 있다. 나아가, 송신기(114)와 관련하여, 기준 송신(140)은 PCL 시스템(100)에 의해 직접 수신된다. PCL 시스템(100)은 기준 송신(140)과 반사된 송신(130)을 비교하여 하나 이상의 관심 타겟(150)에 대한 위치 정보를 결정한다. 기준 전송(140)은 직접 경로 신호라고도 알려져 있다. 반사 전송(130)은 타겟 경로 신호라고 알려져 있다. 위치 정보로는, 도착 시간차("TDOA"), 도착 주파수차("FDOA") 및 도달 각도("AOA")를 판별함으로써 위치 확인, 속도, 및 가속도를 포함한 타겟(150)의 위치에 관련된 임의의 정보가 포함될 수 있다.
도 2는 본 발명의 한 실시예에 따른 PCL 시스템의 블록도를 도시한다. PCL 시스템(100)은 안테나 서브시스템(200), 아날로그-대-디지털 변환기("ADC") 서브시스템(220), 처리 서브시스템(240), 및 출력 장치(260)를 포함할 수 있다. 안테나 서브시스템(200)은 적어도 하나의 안테나를 이용하여 도 1의 반사된 송신(130) 및 기준 송신(140)을 포함한, 전자기 에너지 송신들을 수신한다. ADC 서브시스템(220)은 안테나 서브시스템(200)의 신호 출력들을 수신하고 소정 샘플링 레이트로 신호들을 샘플링함으로써 그 입력에서 디지털 신호 샘플들을 출력하고 각각의 샘플링 간격에서 아날로그 신호에 대한 크기를 이용하여 디지털 파형을 형성한다. 처리 서브시스템(240)은 어셈블리 서브시스템(220)의 출력을 수신하고, 측정 데이터, 트래킹, 및 타겟 갱신들 등을 위해 신호를 처리한다. 출력 장치(260)는 처리 결과를 수신하여 처리 서브시스템(230)의 출력을 디스플레이한다.
도 3은 본 발명의 한 실시예에 따른 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템(300)의 블록도를 도시한다. 검출 특징 추출 처리 서브시스템(300)은 도 2의 처리 서브시스템(240)에 병합될 수 있다. 대안으로서, 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템(300)은 ADC 서브시스템(220)에 병합될 수 있다.
검출 및 특징 추출 처리 서브시스템(300)은 측정 연관 동작들에 사용되는 검출 데이터를 제공할 책임이 있다. 검출 밑 특징 추출 처리 서브시스템(300)은 각각의 모호성 표면으로부터 모호성 표면 데이터를 수신한다. 모호성 표면 데이터는 간단한 평활 기능에 의해 평활화될 수 있다. 타겟들이나 잔여 지면 클러터를 나타내는 빈들을 위해 각각의 교차-모호성 표면이 스캐닝될 수 있다. 빈들은, 현재의 갱신에 대한 피크 검출들을 형성하기 위해 타겟팅 빔들(targeting beams)이나 표면들을 횡단하여 연관될 수 있다. 각각의 피크 검출에 대한, 지연, 도플러, 도달 각도, 신호 전력, 및 신호대 잡음비("SNR")의 타겟 측정 파라미터들은 피크의 위치 확인 및 연관된 에너지로부터 추정된다. 나아가, 지연의 편차, 도플러, 도달 각도, 및 신호 전력이 계산될 수 있다.
각각의 처리 싸이클이 모호성 기능 데이터 블록과 함께 시작될 수 있다. 이 데이터 블록은, 사전-검출 동작들로부터 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템(300)에 입력된다. 모호성 기능 데이터 블록(302)은 모호성 표면 데이터를 포함할 수 있다. 모호성 표면 데이터는, 부정합된 신호들뿐만 아니라 신호에 대한 정합된 필터의 응답을 나타내는 모호성 다이어그램일 수 있다. 정합된 필터의 출력, 즉, 모호성 다이어그램은 수신된 신호와 송신된 신호간의 교차-상관성에 근접한다. 따라서, 모호성 다이어그램은 타겟 검출과 상관되는 피크를 가질 수 있다.
모호성 기능 데이터(302)는 모호성 표면 형성 기능(306)에 대한 입력이다. 모호성 표면 형성 기능(306)은 후속된 검출 처리 동작들에 대해 각각의 모호성 기능을 준비한다. 따라서, 모호성 기능 데이터(302)는 각각의 싸이클에 대해 수신되며 모호성 기능 형성 기능(306)은 그 싸이클에 대한 데이터를 준비한다. 이들 싸이클들은 코히런트 처리 간격들("CPIs")이라 알려져 있다.
모호성 표면 평활화 기능(308)은 교차-모호성 표면 데이터(380)의 배경 잡음으로부터 타겟 피크들을 구분하기에 앞서 교차-모호성 표면들에서 불규칙성을 감소시킨다. 모호성 표면 평활화 기능(306)은 평활화된 모호성 기능 데이터(302)를 교차-모호성 표면 데이터(380)로서 출력한다. 모호성 표면 평활화에 대한 3개의 대안이 구현가능하다. 단순 평활화 기능(simple smoothing function)은 모호성 표면 형성 기능(306)에 의해 생성된 가공되지 않은 모호성 표면에 인접한 N×N개의 포인트들을 평균화한다. 교차-모호성 표면 데이터(380)의 가공하지 않은 모호성 표면에 2차원 필터 커널을 적용함으로써 종래의 모호성 표면 평활화 기능이 달성될 수 있다. 패스트 콘볼루션 평활화 기능이 가공되지 않은 모호성 표면에 2차원 필터 커널을 적용할 수 있으나, 사전-검출 처리로부터 데시메이트된 래그-프로덕트(lag-product)에 직접 적용되어, 사전-검출 처리에서 미가공 모호성 기능을 형성할 필요성을 회피할 수도 있다. 패스트 콘볼루션 평활화 기능은 다른 모호성 표면 평활화처리에 관하여 계산상 절감을 제공할 것이다. 모호성 표면 평활화 기능(308)은 평활화 스위치(310)에 의해 인에이블될 수도 있다. 따라서, 만일 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템(300)이 교차-모호성 표면 데이터(300)에서의 불규칙성을 감소하기를 원한다면, 평활화 스위치(310)는 모호성 표면 평활화 기능(308)을 인에이블하도록 구성된다.
이어서, 교차-모호성 표면 데이터(380)는 피크/잡음 판별 기능(312)에 의해 수신된다. 피크/잡음 판별 기능(312)은 타겟 에코나 잔여 지면 클러터에 의해 생성될 것 같은 교차-모호성 표면 데이터(380) 내에서 그 빈들을 식별한다. 알고리즘은 이전의 모호성 표면 갱신을 위한 피크/잡음 판별 기능(312)에 의해 식별된 빈들이 현재 갱신을 위한 빈들의 세트에서 합당한 초기 추측일 것이라는 결론에 입각한 피크/잡음 판별 기능(312)에 의해 구현될 수 있다. 따라서, 이 알고리즘은 이전의 모호성 표면 데이터를 현재의 모호성 표면 데이터와 비교할 수 있다. 알려진 타겟들이나 잔여 지면 클러터와 연관된 빈들 모두는 어쩌면 교차-모호성 표면 데이터(380)와 같은 현재의 모호성 표면 데이터와 함께 재방문한다. 비교 이후, 교차-모호성 표면 데이터(380)는 새로운 타겟 에코들을 위해 검사될 수 있다. 잡음 플로어의 추정치는 그 남은 빈들의 평균 전력에 근거하여 생성될 것이다. 이러한 정보를 이용하여, 피크/잡음 판별 기능(312)이 표면 피크들(382)을 검출할 수 있다.
표면 피크들(382)은 피크 연관 기능(314)에 의해 수신된다. 피크 연관 기능(314)은 피크/잡음 판별 기능(312)에 의해 식별된 빈들을 불연속 피크들로 그룹화할 수 있다. 이들 불연속 피크는 피크 검출들(384)과 같은 피크 검출들로서알려져 있다. 파라미터 추정 기능(316)은 피크 검출들(384)을 수신하여 검출된 피크들로부터 주 타겟 파라미터들을 추정한다. 주 타겟 파라미터들은 신호대 잡음비, 시간 지연, 도플러 이동, 도달 각도, 신호 전력들을 포함할 수 있다. 파라미터 추정 기능(316)은 또한 피크 검출들(834)의 검출된 피크들에서 특징 추출을 수행할 수 있다. 특징 추출들은 블레이드 비율들(blade rates), 바이스태틱 레이더 교차 섹션들(bi-static radar cross sections) 등과 같은 보다 향상된 타겟 파리미터들을 구동할 수 있다. 따라서, 파라미터 추정 기능(316)은 피크 측정들(386)을 계산한다. 피크 측정들(386)은 피크 편집 기능(318)에 의해 수신된다. 피크 편집 기능(318)은 잘못된 경고로 인해 타겟 에코들의 결과가 아닌 검출된 피크들의 수를 감소시킬 수 있다. 피크 편집 기능(318)은 이하의 도 4를 참조하여 보다 상세하게 설명된다.
피크 편집 기능(318)은 또한 타겟 상태 피드백(392)을 수신한다. 타겟 상태 피드백(392)은 모호성 기능 데이터(302)로부터 구동될 수 있다. 피크 편집 기능(318)은 또한 자동-모호성 피크 발견 기능(322)으로부터 자동-모호성 피크들(390)을 수신한다. 자동-모호성 피크 발견 기능(322)은 모호성 표면 형성 기능(306)으로부터 표면 데이터(388)를 수신한다. 자동-모호성 피크 발견 기능(322)은 표면 데이터(388) 내의 더 높은 신호대 잡음비 피크들에 대한 변조 인공물들을 나타내는 기준과 정합한 피크들에 대해 표면 데이터(388)를 스캐닝할 수 있다. 이 동작은 모호성 기능 데이터(302) 내의 피크들의 사이드로브들(sidelobes)을 특징화할 수 있다. 자동-모호성 데이터(290)는 사이드로브 처리 동작들을 위해 피크 편집 기능(318)으로 나아가게 된다.
초기 변화 계산 기능(320)은 검출 데이터(394)를 수신한 후속 라인 트래킹 기능에서 이용될 수 있는 각 타겟 파라미터에 대한 변화를 규정할 수 있다. 검출 데이터(394)는 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템(300)의 출력이다. 라인 트래킹 기능은 이 변화들을 이용하여 칼만 필터 상태 벡터들(Kalman filter state vectors)을 갱신할 수 있다. 구현에 이용되는 측정 변화 계산들은 크래머-라오 경계(Cramer-Rao boundary)에 근거한다. 구성 데이터(330)는 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템(300)에서 이용되는 PCL 레이더 시스템(100)에 관한 기술 정보 및 시스템 구성을 제공할 수 있다. 나아가, 구성 데이터(330)는 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템(300) 내의 다양한 기능들에 의해 구현되는 알고리즘들을 위해 디폴트값들 또는 상수값들을 제공할 수 있다.
강력한 타겟 소거 기능(324)은 모호성 기능 데이터(302)로부터 타겟 상태 데이터(378)를 수신할 수 있다. 강력한 타겟 소거 기능(324)은 타겟 상태 피드백(392)을 역시 수신할 수 있다. 강력한 타겟 소거 스위치(324)는 원한다면 강력한 타겟 소거 기능(324)을 인에이블한다. 바람직하게, 강력한 타겟 소거 스위치(324)는 강력한 타겟 소거 기능(324)을 활성화한다. 모호성 기능 데이터(302)가 강력한 타겟 데이터를 포함한다면, 이때 강력한 타겟 데이터는 소거되는 모호성 표면 형성 기능(306)이다. 강력한 타겟은 모호성 기능 데이터(302) 내의 다른 피크들을 왜곡하는 검출된 피크를 나타낼 수 있다. 강력한 타겟을 소거함으로써, 모호성 기능 데이터(302)를 갖는 다른 피크들 및 데이터가 보다 효율적인 방법으로 분석될 수 있다.
검출 데이터(394)는 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템(300)의 출력이다. 검출 데이터(394)는 현재의 갱신에 대한 새로운 피크 검출들의 데이터 블록일 수 있다. 이 데이터 블록에는 각 조사기에 대한 피크 검출들의 수, 각 조사기에 대해 처리된 빈들의 수, 현재 갱신의 연관 시간, 각 조사기에 대한 현재 주파수들, 각 조사기에 대한 기준 신호의 평균 실효 대역폭(average root-mean-squared bandwidth), 각 조사기에 대한 시스템 잡음 지수, 각 피크 검출과 연관된 측정 데이터 등이 포함될 수 있다. 이 데이터는 후속 라인 트래킹 기능에 의해 타겟 추정 상태를 갱신하도록 이용될 수 있다. 검출 데이터(394)의 개개의 피크 검출들에는 이들 갱신에 이용된 측정이 포함될 수 있다. 표 1에 도시된 측정 데이터는 각 개개의 피크 검출을 위해 포함되는 파라미터들의 예이다.
표 1
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 피크 편집 기능을 위한 블록도를 도시한다. 피크 편집 기능(318)은 본 발명의 실시예들을 더 개시하기 위하여 보다 상세하게 도시된다. 그러나, 피크 편집 기능(318)은 도 4에 도시된 실시예에 제한되지 않는다. 위에 언급된 바와 같이, 피크 편집 기능(318)은 잘못된 경고들로 인해 피크 측정 데이터(386) 내의 타겟 에코들의 결과가 아닌 검출된 피크들의 수를 감소시킬 수 있다. 피크 편집 기능(318)은 이러한 과제를 달성하는 여러 기능들 및 필터들을 포함할 수 있다. 도 4는 피크 편집 기능(318)을 포함하는 기능들 및 필터들의 개략을 도시한다. 나쁜 기준 신호 특성들, 신호 변조 인공물들 및 잔여 지면 클러터는 바람직하지 못한 검출 피크들의 결과일 수 있다. 이하에 개시된 기능 및 필터들은 이들 검출이 그 이상 처리되는 것을 방지하게 할 수 있다. 피크 측정 데이터(386)는 피크 편집 기능(318)에서 수신된다. 피크 측정 데이터(386)는 검출된 피크들로부터 주 타겟 파라미터들을 포함할 수 있다.
실효 대역폭 규정의 피크 검출 배제 기능(402)은 실효 대역폭 스위치(404)에 의해 인에이블될 수 있다. 기준 신호들 대역폭이 와해될 때 교차-상관들이 나빠지기 때문에, 잘못된 피크들을 방지하기 위하여, 그 피크 검출과 연관된 실현 대역폭이 임계치보다 하락하면, 실효 대역폭 스위치(404)는 검출 처리에서 현재의 피크 검출을 무시하도록 인에이블된다. 이 임계치는 실효 대역폭 규정 피크 검출 배제 기능(402)에 의해 규정될 수 있다.
사이드로브 피크 검출 필터(406)는 사이드로브 필터 스위치(408)에 의해 인에이블될 수 있다. 사이드로브 피크 검출 필터(406)는 더 높은 SNR 비의 변조 인공물들인 검출된 피크들을 제거할 수 있다. 교차-모호성 표면으로부터의 피크 검출들 및 자동-모호성 피크 발견 기능(322) 또는 현재의 처리 간격 갱신에 의해 발견된 피크들은 사이드로브 피크 검출 필터(406)의 엔트리에 가장 강력한 것부터 가장 약한 것까지 저장될 수 있다. 가장 강력한 것부터 가장 약한 것까지 저장됨으로써, 더 약한 사이드로브 피크들은 인에이블되면 사이드로브 필터 스위치(408)에 의해 제거될 수 있다.
인접한 타겟 임계화 기능(410)은 인접 타겟 스위치(412)에 의해 인에이블될 수 있다. 인에이블되면, 임계 램프(threshold ramp)는 인접한 타겟들에서 검출기의 감도를 감소시키기 위해 이용될 수 있다. 감소된 전파 손실들 때문에, 인접 타겟은 검출기에 의해 피크들로 해석될 수 있는 높은 사이드로브들을 일으키는 더 높은 신호대 잡음비를 가질 수 있다. 감도의 감소는 피크의 시간 지연 측정에 근거하여 적응형 임계으로 구현될 수 있다. 따라서, 인접 타겟 임계화 기능(410)은 인접 타겟들의 결과인 모든 사이드로브들을 제거할 것이다.
블레이드 변조 유도 피크 편집기(414)는 블레이드 변조 편집기 스위치(416)에 의해 인에이블될 수 있다. 블레이드 변조 유도 피크 편집기(414)는 항공기 블레이드 변조 효과들 때문에 도플러 공간에서 반복된 피크 검출들을 방지하기 위하여 인에이블될 수 있다. 항공기가 회전 날개들을 가진다면, 이 회전 날개들은 항공기로부터 소정의 도플러 이동들 외에 블레이드 도플러 이동들을 일으킬 수 있다. 블레이드 변조 유도 피크 편집기(414)는, PCL 시스템이 항공기 검출 동작들과 함께 이용되는 경우에 인에이블될 수 있다.
피크 검출 제로-도플러 배제 기능(418)은 제로-도플러 배제 스위치(420)에 의해 인에이블될 수 있다. 피크 검출 제로-도플러 배제 기능(418)은 제로-도플러 소거 효과들 때문에 왜곡된 검출들이 기존의 라인 트랙들과 연관되는 것을 방지하기 위하여 인에이블될 수 있다. 제로-도플러 배제 구역은 피크 검출 촉진을 위해 규정될 수 있다.
피크 편집 기능들 및 필터들에 의해 이용되는 데이터는 사전-검출기 처리 동작들에서 계산될 수 있다. 예를 들면, 제로-도플러 소거 및 실효 대역폭 계산들은 광대역 처리 동작들 동안 수행될 수 있고 그 값들이 여기에 이용된다.
피크 제한 기능(422)은 피크 편집 기능(318)을 참조하여 개시된 기능들에 의해 촉진된 피크들의 최종 수를 제한할 수 있다. 이 피크들은 그 이상의 처리를 위해 알고리즘들을 트래킹하도록 촉진된다. 가장 큰 신호대 잡음비들을 갖는 피크들은 피크 검출 블록 출력을 형성하는 피크들 또는 검출 데이터(394)일 수 있다. 필터링된 피크 데이터(430)는 검출 데이터(394) 내에 포함될 수 있다. 따라서, 피크 편집 기능(318)은 피크 검출들을 필터링하여 사이드로브들, 인접 타겟들, 및 블레이드 변조 효과들에 의해 야기된 검출들을 제거한다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 PCL 동작들을 위한 특징들을 검출 및 추출하는 플로우차트를 도시한다. 단계(502)는 평활화 모호성 표면 데이터에 의해 실행된다. 구성한다면, 모호성 평활화 표면은 단순 N×N 평활화 기능에 의해 평활화될 수 있다. 모호성 표면 평활화 기능을 구현하기 위해 위에 개시된 대안들을 이용할 수 있다. 배경 잡음으로부터 타겟 피크들을 검출 및 추출하기 전에 불규칙들이 모호성 표면 데이터에서 감소될 수 있다.
단계(504)는 타겟들 또는 잔여 지면 클러터를 나타내는 빈들을 스캐닝함으로서 실행된다. 각 교차-모호성 표면은 이 빈들로 스캐닝될 수 있다. 피크 잡음 판별 출력은 타겟 에코들에 의해 생성될 것 같은 그 빈들에 대한 표면 데이터를 스캐닝하여 구현될 수 있다. 단계(506)는 현재의 갱신을 위한 피크 검출들을 형성하도록 타겟 빔들 또는 표면들을 교차하여 빈들을 연관시킴으로써 실행된다. 예를 들면, 모호성 표면 데이터를 산란하는 모호성 기능 데이터는 불연속 갱신들 동안까지 수신될 수 있다. 이 데이터는 타겟 에코들의 결과로서 피크 검출들을 결정하도록 분석되고 스캐닝된다. 단계(506)에서 식별된 빈들은 피크 검출들을 형성하기 위하여 불연속 피크들로 그룹화될 수 있다. 단계(508)는 피크 검출들에 대한 타겟 측정 파라미터들을 추정함으로써 실행된다. 각 피크 검출을 위한 지연, 도플러, 도달 각도, 신호 전력, 및 신호대 잡음비 등의 타겟 측정 파라미터들은 피크의 위치 확인 및 에너지로부터 추정될 수 있다. 나아가, 지연, 도플러, 도달 각도, 및 신호 전력 등의 변화들은 검출 피크들로부터 추정될 수 있다. 단계(510)는 잘못된 경고들로 인해 타겟 에코의 결과가 아닌 검출된 피크들의 수를 감소시키기 위해 검출된 피크들을 편집함으로써 실행된다. 필터들 및 기능들은 이 거짓 피크 검출들이 처리되는 것을 방지하게 할 수 있다.
도 6은 본 발명의 또다른 실시예에 따른 모호성 기능 데이터로부터 특징들을 검출 및 추출하는 플로우차트를 도시한다. 단계(602)는 모호성 기능 데이터를 입력함으로써 실행된다. 예를 들어, 모호성 기능 데이터(302)는 검출 및 특징 추출처리 서브시스템(300)에 대한 입력일 수 있다. 단계(604)는 표면 데이터 교차-모호성 표면 데이터를 갖는 모호성 표면을 형성함으로써 실행된다. 나아가, 단계(604)는 모호성 표면 데이터로부터 강력한 타겟 데이터를 소거할 수 있다. 단계(606)는 배경 잡음으로부터 타겟 피크들을 판별하기 전에 불규칙들을 감소시키도록 모호성 표면 데이터를 평활화함으로써 실행된다. 위에 언급한 바와 같이, 모호성 표면 평활화를 위해 3개의 대안들이 구현될 수 있다. 모호성 표면 데이터가 평활화된다면, 단계(608)는 잡음으로부터 타겟 피크들을 판별함으로써 실행된다. 이전의 모호성 표면 데이터를 갖는 피크/잡음 판별 기능에 의해 식별된 빈들은 현재의 갱신을 위해 초기화될 수 있다. 따라서, 이전의 피크 검출들은 현재의 모호성 표면 데이터와 비교되어 타겟 에코 검출들을 갱신할 수 있다. 단계(610)는 단계(608)에서 이전의 모호성 표면 갱신들과 비교될 수 있는 빈들을 식별함으로써 실행된다. 알려진 타겟들 또는 잔여 지면 클러터와 연관된 모든 빈들이 재검사되었다면, 새로운 타겟 에코들을 위해 모호성 표면이 검사된다. 나아가, 잡음 공식의 추정은 남은 빈들의 평균 전력에 근거하여 생성될 수 있다.
단계(610)는 빈들을 불연속 피크들로 그룹화함으로써 실행된다. 상기 빈들은 단계(608)의 피크/잡음 판별 동작들에 의해 식별될 수 있다. 단계(614)는 검출된 피크들로부터 주 타겟 경계들을 검사함으로써 실행된다. 주 타겟들은 신호대 잡음비, 시간 지연, 도플러, 도달 각도, 신호 전력 등을 포함할 수 있다. 단계(616)는 검출된 피크들을 갖는 향상된 타겟 경계들을 구동함으로서 실행된다. 향상된 타겟 경계들은 블레이드 비율들, 바이스태틱 레이더 교차 섹션들 등을 포함할 수 있다. 향상된 타겟 경계들은 검출된 피크들을 위한 주 타겟 경계들과 상관된다. 주 타겟 경계들 및 향상된 타겟 경계들은 PCL 시스템(100) 내의 라인 트래킹 기능들에 의해 이용될 수 있다.
단계(618)는 단계(604) 내에서 형성된 자동-모호성 표면 데이터를 스캐닝함으로써 실행된다. 자동-모호성 표면 데이터를 스캐닝함으로써, 자동-모호성 피크들이 검출된다. 단계(620)는 단계(618)로부터의 자동-모호성 피크들뿐만 아니라 단계(614) 및 단계(616)로부터의 타겟 파라미터 데이터를 이용하여 검출된 피크들을 편집함으로써 실행된다. 검출된 피크들은 잘못된 경고들로 인해 타겟 에코의 결과가 아닌 피크들의 수를 감소시키도록 편집된다. 필터링된 동작들 및 다른 판별 기능들은 가짜 피크 검출들이 그 이상 처리되는 것을 방지하게 할 수 있다. 단계(662)는 타겟 파라미터 변화를 계산함으로써 실행된다. 각 타겟 파라미터를 위한 변화는 나중의 라인 트래킹 기능들에서 이용되도록 규정될 수 있다. 단계(626)는 그 이상 처리하기 위해 출력하고자 하는 검출 데이터를 발생시킴으로써 실행된다. 바람직하게, 검출 데이터는 라인 트래킹 기능에 출력되어 피크 측정 데이터를 기존의 타겟 검출들과 연관시키거나 새로운 타겟 검출 데이터를 발생시킨다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 잡음에서 피크들을 판별하는 플로우차트를 도시한다. 도 7은 도 6의 단계들(608 및 610)과 상관된다. 그러나, 도 6의 단계들(608 및 610)은 도 7의 개시된 단계들에 제한되지 않는다.
단계(702)는 이전의 모호성 표면으로부터 빈들을 식별함으로써 실행된다. 이전의 모호성 표면은 시간상 현재의 갱신 시간에 우선하는 갱신일 수 있다.단계(704)는 현재의 모호성 표면의 현재의 빈들과 이전의 모호성 표면 내의 이전의 빈들을 연관시킴으로써 실행된다. 이전의 빈들은 현재의 모호성 표면 갱신 내의 빈들의 세트에 대한 초기 추측으로서 이용될 수 있다. 단계(706)는 새로운 타겟 에코들을 위한 모호성 표면을 조사함으로써 실행된다. 이전의 모호성 표면 갱신에 상관없는 피크들은 새롭게 검출된 타겟들에 대한 타겟 경계들을 계산할 때 이용될 수 있다. 단계(708)는 검출된 피크들에 따라 새로운 빈들을 식별함으로써 실행된다. 단계(710)는 잔여 지면 클러터의 타겟 에코와 연관되지 않은 남은 빈들에서 평균 전력에 근거한 4개의 전력을 조사함으로써 실행된다.
다양한 변형들 및 변경들이 본 발명의 정신 및 사상으로부터 벗어나지 않고 본 발명의 개시된 실시예들에서 실행될 수 있음은 당업자에게 명백하다. 따라서, 본 발명은 어떠한 청구항의 범위 및 그 등가물들 내에 오는 본 발명의 변형들 및 변경들을 구현하도록 한다.

Claims (57)

  1. 패시브 코히런트 위치 확인 시스템(passive coherent location system)내의 코히런트 처리 기간 동안 타겟 정보를 검출 및 추출하는 방법에 있어서:
    상기 코히런트 처리 기간 동안 모호성 표면 데이터(ambiguity surface data)를 갖는 모호성 표면을 형성하는 단계와;
    이전의 모호성 표면으로부터 빈(bin)들을 식별하는 단계와;
    상기 이전의 모호성 표면으로부터의 빈들을 상기 모호성 표면 데이터와 연관시키는 단계와;
    상기 모호성 표면내의 새로운 타겟 에코들에 대한 새로운 빈들을 식별하는 단계를 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 모호성 표면을 평활화하는 단계를 더 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 모호성 표면을 상기 이전의 모호성 표면과 비교하는 단계를 더 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 방법.
  4. 제3항에 있어서, 상기 빈들에 대한 모호성 표면을 스캐닝하는 단계를 더 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 방법.
  5. 제1항에 있어서, 피크 검출들을 형성하도록 상기 이전의 모호성 표면으로부터의 빈들을 타겟팅 빔들을 횡단하는 상기 새로운 빈들과 연관시키는 단계를 더 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 방법.
  6. 제5항에 있어서, 상기 피크 검출들로부터 타겟 파라미터들을 추정하는 단계를 더 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 방법.
  7. 제6항에 있어서, 상기 피크 검출들을 편집하는 단계를 더 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 방법.
  8. 제1항에 있어서, 잡음 플로어를 추정하는 단계를 더 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 방법.
  9. 제8항에 있어서, 상기 추정 단계는 상기 새로운 빈들의 평균 전력을 상기 잡음 플로어로서 결정하는 단계를 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 방법.
  10. 패시브 코히런트 위치 확인 시스템에서의 코히런트 처리 기간내에 타겟들에 대한 타겟 데이터를 검출 및 추출하는 방법에 있어서:
    모호성 표면을 생성하는 단계와;
    빈들을 상기 모호성 표면과 연관시키는 단계와;
    상기 빈들로부터 피크 검출들을 형성하는 단계로서, 상기 피크 검출들은 상기 코히런트 처리 기간내의 타겟 에코들과 상관되는, 상기 피크 검출 형성 단계와;
    상기 피크 검출로부터 타겟 파라미터들을 추정하는 단계를 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법.
  11. 제10항에 있어서, 상기 피크 검출들을 편집하는 단계를 더 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법.
  12. 제11항에 있어서, 상기 편집 단계는 상기 피크 검출들의 피크 측정 데이터를 수신하는 단계를 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법.
  13. 제11항에 있어서, 상기 편집 단계는 상기 피크 검출들로부터 사이드로브 피크들을 필터링하는 단계를 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법.
  14. 제11항에 있어서, 상기 편집 단계는 상기 피크 검출들로부터 인접한 타겟들로부터 사이드로브들을 제거하는 단계를 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법.
  15. 제11항에 있어서, 상기 편집 단계는 상기 피크 검출들로부터 검출된 블레이드 변조 피크 검출들을 제거하는 단계를 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법.
  16. 제11항에 있어서, 상기 편집 단계는 상기 피크 검출들로부터, 제로 도플러 소거 효과로부터의 피크 검출들을 제거하는 단계를 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법.
  17. 제10항에 있어서, 상기 모호성 표면을 평활화하는 단계를 더 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법.
  18. 제10항에 있어서, 상기 타겟 파라미터들의 변화를 추정하는 단계를 더 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법.
  19. 제10항에 있어서, 상기 코히런트 처리 기간 동안 상기 피크 검출들을 포함하는 검출 데이터를 출력하는 단계를 더 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법.
  20. 제19항에 있어서, 상기 출력 단계는 라인 트랙커에 출력하는 단계를 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법.
  21. 제19항에 있어서, 상기 검출 데이터는 상기 피크 검출들에 대한 상기 타겟 파라미터들을 더 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법.
  22. 패시브 코히런트 위치 확인 시스템에서 모호성 표면의 모호성 표면 데이터로부터 잠재적 타겟들의 타겟 파라미터들을 추출하는 방법으로서, 상기 모호성 표면 데이터는 코히런트 처리 기간과 상관되고 상기 잠재적 타겟들의 에코들과 상관되는, 상기 타겟 파라미터 추출 방법에 있어서:
    이전의 모호성 표면을 검색하는 단계와;
    알려진 타겟들과 연관된 빈들을 식별하기 위해 상기 모호성 표면 데이터를 상기 이전의 모호성 표면과 비교하는 단계와;
    상기 모호성 표면 데이터로 상기 빈들을 갱신하는 단계와;
    상기 잠재적 타겟 에코들의 새로운 타겟 에코들에 대한 새로운 빈들을 식별하는 단계와;
    상기 빈들과 상기 새로운 빈들을 피크 검출들로 그룹화하는 단계와;
    상기 피크 검출들로부터 상기 잠재적 타겟들에 대한 상기 타겟 파라미터들을 추정하는 단계를 포함하는, 타겟 파라미터 추출 방법.
    상기 코히런트 처리 기간 동안 모호성 표면 데이터를 갖는 모호성 표면을 형성하는 단계와;
    이전의 모호성 표면으로부터 빈들을 식별하는 단계와;
    상기 이전의 모호성 표면으로부터의 빈들을 상기 모호성 표면 데이터와 연관시키는 단계와;
    상기 모호성 표면내의 새로운 타겟 에코들에 대한 새로운 빈들을 식별하는 단계를 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 방법.
  23. 제22항에 있어서, 상기 피크 검출들과 상기 타겟 파라미터들을 출력하는 단계를 더 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 방법.
  24. 패시브 코히런트 위치 확인 시스템에서 코히런트 처리 기간 동안 모호성 표면으로부터 잠재적 타겟들의 특징들을 검출 및 추출하는 시스템에 있어서:
    상기 모호성 표면을 형성하고 모호성 표면 데이터를 생성하는 모호성 표면 형성 기능과;
    상기 모호성 표면 데이터로 알려진 타겟들과 새로운 타겟들에 대한 빈들을 식별하는 피크/잡음 판별 기능과;
    상기 알려진 및 새로운 타겟들과 연관된 피크 검출들을 결정하도록 상기 빈들을 그룹화하는 피크 연관 기능과;
    상기 피크 검출들로부터 상기 알려진 및 새로운 타겟들에 대한 타겟 파라미터들을 추정하는 파라미터 추정 기능과;
    상기 피크 검출들을 편집하는 피크 편집 기능을 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템.
  25. 제24항에 있어서, 상기 피크/잡음 판별 기능은 상기 새로운 빈들의 평균 전력으로부터 잡음 플로어를 추정하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템.
  26. 제24항에 있어서, 상기 타겟 파라미터들에 대한 변화를 규정하는 변화 계산 기능을 더 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템.
  27. 제24항에 있어서, 상기 피크 검출들 및 상기 타겟 파라미터들을 포함하는 출력을 더 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템.
  28. 제24항에 있어서, 상기 모호성 표면을 평활화하는 모호성 표면 평활화 기능을 더 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템.
  29. 제28항에 있어서, 상기 모호성 표면 평활화 기능은 상기 모호성 표면 평활화 기능과 상기 모호성 표면 정보 기능간의 평활화 스위치에 의해 인에이블되는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템.
  30. 제24항에 있어서, 상기 피크 편집 기능은 사이드로브 피크 검출 필터를 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템.
  31. 제24항에 있어서, 상기 피크 편집 기능은 실효 대역폭(root-mean squaredbandwidth) 규정 피크 검출 배제 기능을 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템.
  32. 제31항에 있어서, 상기 실효 대역폭 규정 피크 검출 배제 기능은 임계치를 규정하여 상기 임계치 이하의 피크 검출이 배제되도록 하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템.
  33. 제24항에 있어서, 상기 피크 편집 기능은 인접한 타겟 임계화 기능을 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템.
  34. 제24항에 있어서, 상기 피크 편집 기능은 블레이드 변조 유도 피크 편집기를 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템.
  35. 제24항에 있어서, 상기 피크 편집 기능은 피크 검출 제로-도플러 배제 기능을 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템.
  36. 제24항에 있어서, 상기 피크 편집 기능은 상기 피크 검출들을 편집하는 적어도 하나의 기능과 상기 적어도 하나의 기능을 인에이블하는 적어도 하나의 스위치를 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템.
  37. 제24항에 있어서, 상기 피크 편집 기능은 상기 피크 검출들을 편집하는 적어도 하나의 필터와 상기 적어도 하나의 필터를 인에이블하는 적어도 하나의 스위치를 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템.
  38. 제24항에 있어서, 강력한 타겟 피크 검출들을 소거하는 강력한 타겟 소거 기능을 더 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템.
  39. 제38항에 있어서, 상기 강력한 타겟 소거 기능은 강력한 타겟 소거 스위치에 의해 인에이블되는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템.
  40. 제24항에 있어서, 상기 모호성 표면 형성은 상기 모호성 표면과 상관되는 모호성 기능 데이터를 수신하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템.
  41. 패시브 코히런트 위치 확인 시스템에 의해 식별된 타겟들에 대한 특징을 검출 및 추출하는 방법에 있어서:
    빈들을 모호성 표면 데이터와 연관시키는 단계와;
    상기 빈들로부터 피크 검출들을 형성하는 단계를 포함하는, 타겟 특징의 검출 및 추출 방법.
  42. 제41항에 있어서, 상기 피크 검출들로부터 타겟 파라미터들을 추정하는 단계를 더 포함하는, 타겟 특징의 검출 및 추출 방법.
  43. 제42항에 있어서, 상기 피크 검출들로부터 상기 타겟 파라미터들에 대한 변화를 계산하는 단계를 더 포함하는, 타겟 특징의 검출 및 추출 방법.
  44. 제41항에 있어서, 적어도 하나의 필터로 상기 피크 검출들을 편집하는 단계를 더 포함하는, 타겟 특징의 검출 및 추출 방법.
  45. 제41항에 있어서, 적어도 하나의 편집 기능으로 상기 피크 검출들을 편집하는 단계를 더 포함하는, 타겟 특징의 검출 및 추출 방법.
  46. 제41항에 있어서, 상기 모호성 표면 데이터를 포함하는 모호성 표면을 형성하는 단계를 더 포함하는, 타겟 특징의 검출 및 추출 방법.
  47. 제46항에 있어서, 상기 모호성 표면으로부터 불규칙성을 제거하도록 상기 모호성 표면을 평활화하는 단계를 더 포함하는, 타겟 특징의 검출 및 추출 방법.
  48. 타겟들을 검출하고 모호성 표면의 모호성 표면 데이터로부터 타겟 파라미터들을 생성하는 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템을 갖는 패시브 코히런트 위치 확인 레이더 시스템에 있어서:
    이전의 모호성 표면 데이터를 상기 모호성 표면 데이터와 비교하고, 상기 이전의 모호성 표면 데이터와 상관되는 빈들을 갱신하는 피크/잡음 판별기와;
    상기 모호성 표면내의 새로운 타겟 에코들에 대해 상기 피크/잡음 판별기에 의해 식별된 새로운 빈들과;
    상기 타겟들과 상관되는 피크 검출들을 형성하도록 상기 빈들과 상기 피크/잡음 판별기에 의해 식별된 새로운 빈들을 그룹화하는 피크 연관기와;
    상기 피크 검출들로부터 상기 타겟 파라미터들을 추정하는 파라미터 추정기를 포함하는, 패시브 코히런트 위치 확인 레이더 시스템.
  49. 제48항에 있어서, 상기 피크 검출들을 편집하는 피크 편집기를 더 포함하는, 패시브 코히런트 위치 확인 레이더 시스템.
  50. 제48항에 있어서, 상기 모호성 표면을 형성하는 모호성 표면 형성기를 더 포함하는, 패시브 코히런트 위치 확인 레이더 시스템.
  51. 제50항에 있어서, 상기 모호성 표면으로부터 불규칙성을 제거하는 불규칙 표면 평활화기를 더 포함하는, 패시브 코히런트 위치 확인 레이더 시스템.
  52. 패시브 코히런트 위치 확인 시스템내의 코히런트 처리 기간 동안 타겟 정보를 검출 및 추출하는 시스템에 있어서:
    상기 코히런트 처리 기간 동안 모호성 표면 데이터를 갖는 모호성 표면을 형성하는 수단과;
    이전의 모호성 표면으로부터 빈들을 식별하는 수단과;
    상기 이전의 모호성 표면으로부터의 빈들을 상기 모호성 표면 데이터와 연관시키는 수단과;
    상기 모호성 표면내의 새로운 타겟 에코들에 대한 새로운 빈들을 식별하는 수단을 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 시스템.
  53. 패시브 코히런트 위치 확인 시스템내의 코히런트 처리 기간 동안 타겟 정보를 검출 및 추출하는, 내장된 컴퓨터 판독가능 코드를 갖는 컴퓨터 이용가능 매체를 포함하는 컴퓨터 프로그램 제품에 있어서:
    상기 코히런트 처리 기간 동안 모호성 표면 데이터를 갖는 모호성 표면을 형성하는 단계와;
    이전의 모호성 표면으로부터 빈들을 식별하는 단계와;
    상기 이전의 모호성 표면으로부터의 빈들을 상기 모호성 표면 데이터와 연관시키는 단계와;
    상기 모호성 표면내의 새로운 타겟 에코들에 대한 새로운 빈들을 식별하는 단계들을 수행하도록 컴퓨터를 작동할 때 갱신되는, 컴퓨터 프로그램 제품.
  54. 패시브 코히런트 위치 확인 시스템에서의 코히런트 처리 기간내에 타겟들에대한 타겟 데이터를 검출 및 추출하는 시스템에 있어서:
    모호성 표면을 생성하는 수단과;
    빈들을 상기 모호성 표면과 연관시키는 수단과;
    상기 빈들로부터 피크 검출들을 형성하는 수단으로서, 상기 피크 검출들은 상기 코히런트 처리 기간내의 타겟 에코들과 상관되는, 상기 피크 검출 형성 수단과;
    상기 피크 검출로부터 타겟 파라미터들을 추정하는 수단을 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 시스템.
  55. 패시브 코히런트 위치 확인 시스템내의 코히런트 처리 기간 동안 타겟 정보를 검출 및 추출하는, 내장된 컴퓨터 판독가능 코드를 갖는 컴퓨터 이용가능 매체를 포함하는 컴퓨터 프로그램 제품에 있어서:
    모호성 표면을 생성하는 단계와;
    빈들을 상기 모호성 표면과 연관시키는 단계와;
    상기 빈들로부터 피크 검출들을 형성하는 단계로서, 상기 피크 검출들은 상기 코히런트 처리 기간내의 타겟 에코들과 상관되는, 상기 피크 검출 형성 단계와;
    상기 피크 검출로부터 타겟 파라미터들을 추정하는 단계들을 수행하도록 컴퓨터를 작동할 때 갱신되는, 컴퓨터 프로그램 제품.
  56. 패시브 코히런트 위치 확인 시스템에 의해 식별된 타겟들에 대한 특징을 검출 및 추출하는 시스템에 있어서:
    빈들을 모호성 표면 데이터와 연관시키는 수단과;
    상기 빈들로부터 피크 검출들을 형성하는 수단을 포함하는, 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템.
  57. 패시브 코히런트 위치 확인 시스템내의 코히런트 처리 기간 동안 타겟 정보를 검출 및 추출하는, 내장된 컴퓨터 판독가능 코드를 갖는 컴퓨터 이용가능 매체를 포함하는 컴퓨터 프로그램 제품에 있어서:
    빈들을 모호성 표면 데이터와 연관시키는 단계와;
    상기 빈들로부터 피크 검출들을 형성하는 단계들을 수행하도록 컴퓨터를 작동할 때 갱신되는, 컴퓨터 프로그램 제품.
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