KR20030095128A - 엘시디 모듈의 디브이아이 시험장치 및 시험방법 - Google Patents

엘시디 모듈의 디브이아이 시험장치 및 시험방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 LCD 모듈의 시험장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 다양한 패턴을 DVI 규격에 따라 제공하여 LCD 모듈의 디스플레이 특성을 검사할 수 있는 LCD모듈의 DVI 시험장치 및 방법에 관한 것이다.
이러한 본 발명의 장치는, 시험용 컴퓨터가 DVI시험보드를 통해 LCD모듈에 시험패턴을 인가하여 LCD모듈의 디스플레이 특성을 시험하기 위한 시스템에 있어서, 상기 시험용 컴퓨터가 모니터를 위한 그래픽카드와 시험패턴을 제공하기 위한 DVI 그래픽카드를 포함하고, 상기 DVI시험보드는, DVI 그래픽카드로부터 수신된 TMDS신호를 TTL신호로 변환하기 위한 TMDS수신부와, 변환된 TTL신호로부터 LCM을 구동하기 위한 구동신호를 제공하는 구동신호발생부와, 구동신호 발생부의 구동신호를 LCM모듈에 따라 TTL이나 TMDS신호나 LMDS신호로 제공하는 버퍼보드를 포함한다. 따라서, 본 발명에 따르면 시험용 시스템이 1개의 그래픽카드를 구비하여 시험패턴을 인가함과 동시에 모니터 화면을 통해서는 다른 응용 프로그램의 화면을 디스플레이하여 시험을 용이하게 수행할 수 있고, 디지털 인터페이스방식(DVI규격)에 대한 시험이 가능한 잇점이 있다.

Description

엘시디 모듈의 디브이아이 시험장치 및 시험방법{A DVI TESTING APPARATUS AND METHOD FOR LCD MODULE}
본 발명은 LCD 모듈의 시험장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 다양한 패턴을 DVI 규격에 따라 제공하여 LCD 모듈의 디스플레이 특성을 검사할 수 있는 LCD모듈의 DVI 시험장치 및 방법에 관한 것이다.
일반적으로, LCD 모듈(LCM)은 기판과 기판 사이에 액정이 주입된 패널과, 패널을 구동시키기 위한 구동부, 백라이트(backlight:B/L) 등을 포함하여 구성되는 디스플레이 소자로서, 노트북 PC와 TV, 모니터 등에 널리 사용된다. 이러한 LCD 모듈은 정밀한 반도체 기술을 바탕으로 제작되며, 무수히 많은 소자들을 포함하고 있는 복잡한 시스템이기 때문에 제조과정에서 정밀한 시험을 필요로 한다.
이와 같은 LCD모듈에 다양한 디스플레이 패턴을 인가하여 LCD모듈의 디스플레이 성능을 시험하는 장치로는 개인용 컴퓨터(PC)를 이용하는 방법과, 패턴 발생기를 구비한 전용 시험장치를 이용하는 방식이 있는데, 개인용 컴퓨터를 이용할 경우에는 하나의 그래픽카드를 구비하므로 시험패턴이 모니터에 그대로 디스플레이되어 시험중에 다른 작업을 수행하기 어렵고, 패턴 발생기를 이용할 경우에는 시험 패턴이 한정되는 문제점이 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 제안된 것으로, 적어도 2개의 그래픽 카드를 채용하여 모니터를 위한 그래픽 카드와 별도로 시험패턴을 위한 그래픽 카드를 구비하여 다양한 해상도와 모든 BMP파일 및 동화상을 시험할 수 있는 엘시디(LCD) 모듈의 디브이아이(DVI) 시험장치 및 시험방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
도 1은 본 발명에 따른 시험 시스템의 구성을 도시한 개략도,
도 2는 본 발명에 따른 DVI시험장치의 구성을 도시한 블럭도,
도 3은 본 발명에 따른 시험절차를 도시한 순서도,
도 4는 본 발명에 따른 시험 프로그램의 메인 스크린을 도시한 화면,
도 5는 본 발명에 따른 시험 프로그램의 패턴 스크린을 도시한 화면,
도 6은 본 발명에 따른 시험 프로그램의 EDID 스크린을 도시한 화면,
도 7은 본 발명에 따른 시험 프로그램의 모듈 스크린을 도시한 화면이다.
☞도면의 주요부분에 대한 부호의 설명☜
102: 바코드 리더110: 시험용 컴퓨터
112,114: 그래픽카드116: 모니터
120: DVI 시험보드130: LCD모듈
122: TMDS수신부123: 구동신호발생부
124: 버퍼보드125: TMDS송신부
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 장치는, 시험용 컴퓨터가 DVI시험보드를 통해 LCD모듈에 시험패턴을 인가하여 LCD모듈의 디스플레이 특성을 시험하기 위한 시스템에 있어서, 상기 시험용 컴퓨터가 모니터를 위한 그래픽카드와 시험패턴을 제공하기 위한 DVI 그래픽카드를 포함하고, 상기 DVI시험보드는, DVI 그래픽카드로부터 수신된 TMDS신호를 TTL신호로 변환하기 위한 TMDS수신부와, 변환된 TTL신호로부터 LCM을 구동하기 위한 구동신호를 제공하는 구동신호발생부와, 구동신호 발생부의 구동신호를 LCM모듈에 따라 TTL이나 TMDS신호나 LMDS신호로 제공하는 버퍼보드를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 방법은, 시험용 컴퓨터가 DVI시험보드를 통해 LCD모듈에 시험패턴을 인가하여 LCD모듈의 디스플레이 특성을 시험하기 위한 LCD모듈 시험방법에 있어서, 시험 프로그램이 실행되면 소정의 메인 스크린을 디스플레이하는 단계; 상기 메인 스크린에서 패턴편집 항목을 선택하여 패턴을 편집하고, 상기 메인 스크린에서 EDID편집 항목을 선택하여 EDID를 편집하고, 상기 메인 스크린에서 모듈등록 항목을 선택하여 모듈을 등록하는 등록단계; 및 검사시작이 입력되면 전압전류를 감지하고, 제한치를 체크하여 검사를 수행하는 검사단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 자세히 설명하기로 한다.
먼저, 본 발명의 이해를 쉽게 하기 위하여 DVI 규격에 대해 간단히 설명한다.
정보의 디지털화가 급진전되면서 VGA 인터페이스도 점차 디지털 방식으로 전환되는 추세에 있다. 즉, CRT모니터의 경우 아날로그 방식으로 정보를 표시하기 때문에 그래픽카드에서 출력되는 신호 또한 아날로그 방식이어야 한다. 그러나 PC에서 나오는 모든 정보는 디지털 데이터이므로 이를 모니터에 표시하기 위해서는 그래픽카드에서 아날로그로 변환시키는 과정이 필요하고, 이에 따라 잡음이 부가되어 회질이 열화될 가능성이 있다.
한편, DVD의 활성화와 LCD모니터의 보급이 급속히 확대되면서 아날로그 모니터에서 디지털 모니터로 전환되고 있고, 이에 따라 PC의 디지털 데이터를 아날로그로 변환하지 않고 디지털로 그대로 전달하여 처리하는 그래픽카드가 요구된다. 이러한 디지털 인터페이스 규격으로는 P&D, DFP, DVI 등이 있다. 여기서 DVI는 디지털 디스플레이 워킹그룹에서 개발된 전송방식으로서 TMDS프로토콜을 사용하고, 2개의 링크를 가짐으로써 최대 픽셀 속도를 증가시켜 1280 x 1024 이상을 지원할 수 있는 것이다. DVI는 구성방법에 따라 디지털과 아날로그 인터페이스를 모두 지원하는 DVI-I와 디지털 영상신호만을 제공하는 DVI-D가 있다.
도 1은 본 발명에 따른 시험 시스템의 구성을 도시한 개략도로서, 본 발명의 시스템은 모니터(116)에 디스플레이하기 위한 제1 그래픽카드(VGA:112)와, 시험을 위한 신호를 제공하는 제2 그래픽카드(DVI:114)를 포함하는 시험용 컴퓨터(110)와, 시험용 컴퓨터(110)로부터 DVI신호를 전달받아 LCM모듈(130)을 시험하기 위한 DVI시험보드(120)로 구성된다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 시험용 컴퓨터(PC: 110)에는 적어도 2개의 그래픽카드(112,114)가 실장되어 하나는 통상의 모니터(116)를 위해 비디오신호를 제공하고, 다른 하나는 DVI시험보드(120)에 시험패턴 데이터를 제공한다. 이와 같이 2개의 그래픽카드(112,114)를 사용함으로써 LCD 모듈(130)에 시험패턴을 인가하면서도 모니터(116)를 통해서는 응용 프로그램이 제공하는 시험제어 및 통계 화면을 표시하여 보다 용이하게 시험할 수 있다. 즉, 종래와 같이 하나의 VGA카드를 사용할 경우에는 LCD모듈에 인가되는 시험패턴과 동일한 화면이 모니터에 디스플레이되므로 시험중에는 다른 작업을 수행할 수 없었으나 본 발명에 따르면 시험패턴을 발생하기 위한 그래픽카드와 모니터 디스플레이를 위한 디스플레이 카드가 서로 독립되어 있으므로 시험패턴을 인가하면서도 다른 작업을 수행할 수 있다.
또한 본 발명에 따른 시험장치에는 RS232C 인터페이스를 통해 바코드 리더(102)가 연결되어 있고, DVI시험보드(120)와 PC(110)도 RS-232C포트로 연결되어 있다.
DVI 시험보드(120)는 도 2에 도시된 바와 같이, DVI 그래픽카드(114)로부터수신된 TMDS신호를 TTL신호로 변환하기 위한 TMDS수신부(122)와, 변환된 TTL신호로부터 LCM(130)을 구동하기 위한 구동신호를 제공하는 구동신호발생부(123), 구동신호 발생부(123)의 구동신호를 LCM모듈에 따라 TTL이나 TMDS신호나 LMDS신호로 제공하는 버퍼보드(124), TTL로 변환된 신호를 다시 TMDS신호로 변환하는 TMDS송신부(125), TMDS신호를 아날로그 신호로 변환하는 디지털-아날로그 변환기(126), PC(110)로부터 RS232C 인터페이스를 통해 데이터를 다운받고 DVI 그래픽카드(114)에 데이터를 제공하며, 전압전류감지부(128)로부터 감지데이터를 전달받아 PC(110)로 전달하는 CPU(121), 인버터(202)와 LCM(130)에 전원을 공급하는 전원공급부(127), 전압전류 감지부(128)로 구성된다.
도 2를 참조하면, TMDS수신부(122)는 DVI 그래픽카드(114)로부터 TMDS신호를 수신하여 시험 보드 내부에서 처리할 수 있도록 TTL신호로 변환하고, 구동신호 발생부(123)는 FPGA로 구현되어 그래픽 카드로부터 전달된 패턴 데이터에 따라 시험을 위한 구동신호를 발생한다. 버퍼보드(124)는 구동신호를 시험대상 LCD모듈(130)에 적합한 신호로 변환한다. 예컨대, TMDS타입의 LCM일 경우에는 구동신호 발생부(123)의 구동신호를 TMDS신호로 변환하여 LCD모듈(130)에 인가한다.
TMDS송신부(125)와 D/A 변환부(126)는 시험패턴을 LCD모듈(130)이 아닌 별도의 아날로그 모니터로 모니터링하기 위한 것으로서, TTL로 변환된 구동신호를 다시 TMDS신호로 변환한 후 아날로그로 변환하여 아날로그 모니터(204)에 제공한다.
CPU(121)는 8051 등과 같은 완칩 마이콤으로서 RS232C 인터페이스를 통해 시험용 컴퓨터(110)와 통신하고, 각종 시험을 위한 펌웨어를 수행한다. 특히,PC(110)로부터 EDID 데이터를 다운받고, DVI 그래픽 카드(114)에서 데이터를 읽어 갈 수 있게 하며, FPGA 등을 제어함과 아울러 전압전류 감지부(128)로부터 감지데이터를 전달받아 PC(110)로 전송한다.
전원공급부(127)는 LCD모듈의 백라이트에 전원을 제공하는 인버터(202)에 전원을 공급하고 LCD모듈을 구동하기 위한 구동전원을 제공한다. 전압전류 감지부(128)는 인버터(202)를 통해 백라이트에 인가되는 전원의 전압과 전류 크기를 감지하고, LCD모듈(130)에 인가되는 전압,전류 및 제한치를 감지하며, 감지데이터를 CPU(121)에 전송하고 모니터링을 위해 외부(V.A SENSE)로도 제공한다.
도 3은 본 발명에 따른 시험절차를 도시한 순서도이다.
시험을 위한 프로그램이 수행되면 도 4에 도시된 바와 같이 메인 스크린이 표시된다(S1).
도 4를 참조하면, 메인 스크린은 시험을 위한 다양한 메뉴를 제공하고 있는데, "Model"은 팝업 메뉴에 의해 모델을 변경하기 위해 사용된다. "LCM Test"는 검사를 시작하기 위한 메뉴항목이고, "Pattern"은 패턴편집 및 단축키를 지정하기 위한 메뉴항목이며, "EDID"는 EDID Data를 편집 및 시험하기 위한 것이고, "Module"은 모델 데이터를 편집 및 등록하기 위한 것이다. 이외에도 메이커 및 인치를 선택하기 위한 박스와 카드 타입을 디스플레이하기 위한 박스 등이 있다.
메인 스크린에서 패턴등록을 선택하면, 도 5에 도시된 바와 같은 패턴편집을 위한 화면이 디스플레이되고, 이에 따라 패턴을 편집한다(S2,S3). 도 5를 참조하면, 등록할 패턴의 단축키를 선택한 후 패턴 데이터를 등록하고, "Confirm"을 클릭한다. 이때 선택된 패턴이 우측 "Selected Pattern"에 표시된다.
메인 스크린에서 EDID등록을 선택하면, 도 6에 도시된 바와 같이 EDID를 편집하기 위한 화면이 디스플레이되고 이에 따라 EDID편집을 수행한다(S2,S4). 도 6을 참조하면, "File Open"은 표준 데이터 파일을 오픈하고, "Save as"는 리드 데이터를 파일로 저장한다. "Write Data"는 표준 데이터를 LCM의 EDID 데이터에 라이트하고, "Write Verify"는 표준 데이터를 LCM의 EDID 데이터에 라이트한 후 다시 리드하여 정상으로 라이트되었는지 확인한다. "Read Data"는 LCM의 EDID Data를 리드하여 리드데이터 박스에 디스플레이하고, "Read Verify"는 LCM의 EDID 데이터를 리드하여 리드 데이터 박스에 디스플레이하고 표준 데이터와 비교하여 판정한다. "Edit Data"는 EDID Data를 편집한다.
메인 스크린에서 모듈등록을 선택하면, 도 7에 도시된 바와 같이 모듈을 등록하기 위한 화면이 디스플레이되고 이에 따라 모듈을 등록한다(S2,S5). 도 7을 참조하면, 모듈 스크린은 모듈 데이터를 등록하고, EDID검사 유무를 선택하며, Tab Test를 하기 위한 데이터를 입력한다. 또한 Vcc, Vdd, Vbl 의 출력전압 및 전압/전류 제한(limit)값을 입력한다. "Time Sequence"는 LCM구동시 Vcc, Vdd, Data Signal, VBL의 온타임을 제어하고, "On/Off Time"은 On/Off Time에 의한 온/오프 테스트 기능을 설정한다. "EDID Data Timing"은 모듈에 대한 타이밍도에 관련된 EDID 데이터를 변경하고, "Maker"는 제조사별 또는 LCM인치별 관리그룹을 선택하면 해당 그룹에 대한 모듈이 디스플레이된다.
이와 같이 등록이 완료된 후 메인 화면에서 검사시작(LCM Test)을 선택하면검사가 시작된다(S6). 검사 시작시에 키입력이 있는지를 모니터링하여 지정 단축키가 입력되면 해당 패턴출력을 수행하고, 엔터키가 입력되면 전압.전류 모니터링 및 전압을 출력하고, ESC 키가 입력되면 검사를 종료한다(S7~S10).
이어 스위치가 입력(Switch Input?)되는지를 모니터링하여 해당 스위치의 입력에 따라 검사한다. 예컨대, 카드 및 케이블 스위치가 입력되면 해당 스위치를 검사하고, 온/오프 스위치를 검사하며, 종료 스위치가 입력되면 검사를 종료한다(S11~S14).
이어 전압과 전류를 감지하고, 전압과 전류의 제한치를 체크하며, 온오프 시간을 체크하면서 종료시간 혹은 종료키가 입력될 때까지 시험을 반복한다(S15~S17).
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면 시험용 시스템이 1개의 그래픽카드를 구비하여 시험패턴을 인가함과 동시에 모니터 화면을 통해서는 다른 응용 프로그램의 화면을 디스플레이하여 시험을 용이하게 수행할 수 있고, 디지털 인터페이스방식(DVI규격)에 대한 시험이 가능한 잇점이 있다.

Claims (5)

  1. 시험용 컴퓨터가 DVI시험보드를 통해 LCD모듈에 시험패턴을 인가하여 LCD모듈의 디스플레이 특성을 시험하기 위한 시스템에 있어서,
    상기 시험용 컴퓨터가 모니터를 위한 그래픽카드와 시험패턴을 제공하기 위한 DVI 그래픽카드를 포함하고,
    상기 DVI시험보드는,
    DVI 그래픽카드로부터 수신된 TMDS신호를 TTL신호로 변환하기 위한 TMDS수신부와,
    변환된 TTL신호로부터 LCM을 구동하기 위한 구동신호를 제공하는 구동신호발생부와,
    구동신호 발생부의 구동신호를 LCM모듈에 따라 TTL이나 TMDS신호나 LMDS신호로 제공하는 버퍼보드를 포함하는 것을 특징으로 하는 엘시디 모듈의 디브이아이 시험장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 DVI시험보드는 TTL로 변환된 신호룰 다시 TMDS신호로 변환하는 TMDS송신부와, 상기 TMDS신호를 아날로그 신호로 변환하는 디지털-아날로그 변환기를 더 구비하여 일반 모니터에도 시험 패턴을 표시할 수 있도록 된 것을 특징으로 하는 엘시디 모듈의 디브이아이 시험장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 DVI시험보드는 인버터에 전원을 공급하기 위한 전원공급부와, LCD모듈에 인가되는 전압,전류를 감지하기 위한 전압전류 감지부를 더 구비한 것을 특징으로 하는 엘시디 모듈의 디브이아이 시험장치.
  4. 시험용 컴퓨터가 DVI시험보드를 통해 LCD모듈에 시험패턴을 인가하여 LCD모듈의 디스플레이 특성을 시험하기 위한 LCD모듈 시험방법에 있어서,
    시험 프로그램이 실행되면 소정의 메인 스크린을 디스플레이하는 단계;
    상기 메인 스크린에서 패턴편집 항목을 선택하여 패턴을 편집하고, 상기 메인 스크린에서 EDID편집 항목을 선택하여 EDID를 편집하고, 상기 메인 스크린에서 모듈등록 항목을 선택하여 모듈을 등록하는 등록단계; 및
    검사시작이 입력되면 전압전류를 감지하고, 제한치를 체크하여 검사를 수행하는 검사단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 엘시디 모듈의 디브이아이 시험방법.
  5. 제4항에 있어서, 상기 검사수행중에 지정단축키가 입력되면 해당 패턴을 출력하고, 스위치가 입력되면 이를 검사하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 엘시디 모듈의 디브이아이 시험방법.
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