KR20030094997A - Light source system for semiconductor pattern alignment - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 반도체 패턴 얼라인용 광원 시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 할로겐 램프를 광원으로 사용하는 패턴 얼라인용 광원 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a light source system for semiconductor pattern alignment, and more particularly, to a light source system for pattern alignment using a halogen lamp as a light source.
일반적으로, 반도체 소자는 웨이퍼 상에 임의의 막을 형성하고, 스텝퍼 혹은 스캐너라는 통상의 제조 장비를 이용하는 포토리쏘그라피 공정을 수행하여 막을 원하는 형태의 패턴으로 패터닝하는 공정을 반복적으로 수행함으로써 제조된다.Generally, a semiconductor device is manufactured by repeatedly forming a film on a wafer and repeatedly performing a photolithography process using a conventional manufacturing equipment such as a stepper or a scanner to pattern the film into a pattern of a desired shape.
이와 같이, 다수의 패턴층을 순차적으로 형성할 때 정확한 정밀도를 유지하기 위해서 얼라인 마크가 사용되는데, 이를 위해 패턴 상에 얼라인 마크가 함께 형성된다. 즉, 웨이퍼 상의 현재의 패턴 위에 다음 공정의 패턴을 노광하기 전에 얼라인 마크를 정확하게 얼라인한 후 노광을 함으로써 정확한 중첩도를 얻을 수 있는데, 이전 패턴에서 얼라인 마크를 찾아 화상 처리하기 위해서는 이를 조명하는 광원이 필요하며, 광원으로는 파장 길이가 대략 530 - 800nm 정도인 할로겐 램프가 주로 이용되고 있다.In this way, an alignment mark is used to maintain accurate accuracy when sequentially forming a plurality of pattern layers. For this purpose, an alignment mark is formed together on the pattern. In other words, by accurately aligning the alignment mark and exposing the alignment mark before exposing the pattern of the next process on the current pattern on the wafer, an accurate overlapping degree can be obtained. A light source is required, and a halogen lamp having a wavelength length of about 530 to 800 nm is mainly used as the light source.
도 3은 전형적인 반도체 패턴 얼라인용 광원 시스템을 채용한 종래 램프 유닛의 주요부 구성도이다.3 is an essential part configuration diagram of a conventional lamp unit employing a typical light source system for semiconductor pattern alignment.
도 3을 참조하면, 램프 유닛(300)의 내부에는 소켓(304)에 의해 착탈 자유롭게 지지되는 할로겐 램프(306)가 삽입되어 있으며, 할로겐 램프(306)에서 발생하는 광은 광 파이버(302)를 통해 도시 생략된 FLA(field image alignment) 얼라인 유닛으로 전달된다.Referring to FIG. 3, a halogen lamp 306, which is freely supported by a socket 304, is inserted into the lamp unit 300, and light generated from the halogen lamp 306 may be used to provide an optical fiber 302. It is transmitted to the field image alignment (FLA) alignment unit, which is not shown.
잘 알려진 바와 같이, 반도체 얼라인용 광원 시스템에 이용되는 할로겐 램프는, 광대역으로 간섭성이 낮고 마크 형상이 비대칭인 경우의 실링 에러(sealing error)나 표면이 거친 웨이퍼 등에서의 랜덤 에러(random error)가 적다는 장점을 갖는 것으로, 일정 시간이 지나게 되면 빛의 세기(intensity) 저하, 열화, 고장 등의 이유로 인해 비주기적으로 교체해 주어야 하는데, 현실적으로 램프마다의 특성에 의해 수명이 각각 달라 교체 주기를 예측하기 어렵기 때문에 통상 할로겐 램프가 열화되어 자연 소등될 때까지 사용하고 있다.As is well known, halogen lamps used in a light source system for semiconductor alignment have a sealing error in a case where a coherence is low and asymmetric mark shape in a wide band, or a random error in a wafer having a rough surface, etc. It has the advantage of being small, and after a certain period of time, it needs to be replaced aperiodically for reasons of light intensity deterioration, deterioration, failure, etc. Since it is difficult, it is usually used until the halogen lamp deteriorates and naturally turns off.
따라서, 장비의 사용 중에 할로겐 램프가 소등되면, 장비 운영자(또는 관리자)가 장비를 다운시킨 후에 할로겐 램프를 교체하게 되는데, 이러한 램프의 교체 시간은 대략 30 -40분 정도 소요된다. 즉, 할로겐 램프를 교체할 때에는 장비(반도체 패턴 얼라인용 광원 시스템)의 사용을 중단해야만 하기 때문에 장비의 가동율이 떨어질 수밖에 없으며 이로 인해 반도체 소자의 생산성이 저하된다는 문제가 있다.Thus, if the halogen lamp goes out during use of the equipment, the equipment operator (or administrator) will replace the halogen lamp after bringing the equipment down, which takes approximately 30-40 minutes. That is, since the use of equipment (light source system for semiconductor pattern alignment) must be stopped when replacing the halogen lamp, the operation rate of the equipment is inevitably lowered, which causes a problem that productivity of the semiconductor device is lowered.
본 발명은 상술한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 반도체 패턴 얼라인용 광원 시스템을 가동을 중단함이 없이 할로겐 램프를 교체할 수 있는 반도체 패턴 얼라인용 광원 시스템을 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the prior art, and an object thereof is to provide a light source system for semiconductor pattern alignment which can replace a halogen lamp without stopping operation of the light source system for semiconductor pattern alignment.
본 발명의 다른 목적은 할로겐 램프의 교체에 기인하는 반도체 소자의 생산성 저하를 방지할 수 있는 반도체 패턴 얼라인용 광원 시스템을 제공하는데 있다.Another object of the present invention is to provide a light source system for semiconductor pattern alignment which can prevent a decrease in productivity of a semiconductor device due to replacement of a halogen lamp.
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 할로겐 램프를 이용하여 반도체 패턴 얼라인용 광을 생성하여 광 파이버를 통해 얼라인 유닛으로 제공하는 광원시스템에 있어서, 공급 전원의 차폐에 따라 온/오프 제어되어 얼라인용 광을 선택적으로 발생하는 제 1 램프 수단; 상기 제 1 램프가 점등된 상태일 때 열화에 기인하는 소등을 감지하는 제 1 감지 수단; 공급 전원의 차폐에 따라 온/오프 제어되어 상기 얼라인용 광을 선택적으로 발생하는 제 2 램프 수단; 상기 제 2 램프가 점등된 상태일 때 열화에 기인하는 소등을 감지하는 제 2 감지 수단; 상기 제 1 램프 또는 제 2 램프로부터 발생하는 상기 얼라인용 광을 상기 광 파이버 측으로 선택적으로 절환하는 광로 절환 수단; 및 상기 제 1 감지 수단 또는 제 2 감지 수단으로부터 제공되는 소등 감지신호에 의거하여, 상기 제 1 램프 수단 및 제 2 램프 수단의 작동을 제어하고, 상기 광료 절환 수단의 광로 절환을 제어하는 수단으로 이루어진 반도체 패턴 얼라인용 광원 시스템을 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention, in the light source system for generating a semiconductor pattern alignment light using a halogen lamp to provide to the alignment unit through the optical fiber, on / off controlled according to the shielding of the power supply to freeze First lamp means for selectively generating cited light; First sensing means for detecting an unlit due to deterioration when the first lamp is lit; Second lamp means for generating ON / OFF control according to shielding of a power supply to selectively generate the alignment light; Second sensing means for detecting an unlit due to deterioration when the second lamp is lit; Optical path switching means for selectively switching the alignment light generated from the first lamp or the second lamp to the optical fiber side; And means for controlling the operation of the first lamp means and the second lamp means and controlling the optical path switching of the mineral material switching means based on the extinction detection signal provided from the first sensing means or the second sensing means. A light source system for semiconductor pattern alignment is provided.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 반도체 패턴 얼라인용 광원 시스템의 블록구성도,1 is a block diagram of a light source system for semiconductor pattern alignment according to a preferred embodiment of the present invention;
도 2a 및 2b는 본 발명에 따른 반도체 패턴 얼라인용 광원 시스템을 채용한 램프 유닛의 주요부 구성도,2A and 2B are diagrams showing the main parts of a lamp unit employing a light source system for semiconductor pattern alignment according to the present invention;
도 3은 전형적인 반도체 패턴 얼라인용 광원 시스템을 채용한 종래 램프 유닛의 주요부 구성도.3 is an essential part configuration diagram of a conventional lamp unit employing a typical light source system for semiconductor pattern alignment.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
102 : 제어 블록 104 : 제 1 스위칭 블록102: control block 104: first switching block
106 : 제 1 램프 108 : 제 1 감지 센서106: first lamp 108: first detection sensor
110 : 제 2 스위칭 블록 112 : 제 2 램프110: second switching block 112: second lamp
114 : 제 2 감지 센서 116 : 드라이버 블록114: second detection sensor 116: driver block
118 : 광로 절환 미러 120 : 표시기118: optical path switching mirror 120: indicator
122 : 부저122: buzzer
본 발명의 상기 및 기타 목적과 여러 가지 장점은 이 기술분야에 숙련된 사람들에 의해 첨부된 도면을 참조하여 하기에 기술되는 본 발명의 바람직한 실시 예로부터 더욱 명확하게 될 것이다.The above and other objects and various advantages of the present invention will become more apparent from the preferred embodiments of the present invention described below with reference to the accompanying drawings by those skilled in the art.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 고안의 바람직한 실시 예에 대하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
본 발명의 핵심 기술사상은, 할로겐 램프 유닛에 단지 하나의 할로겐 램프만을 탑재하는 전술한 종래 시스템과는 달리, 할로겐 램프 유닛에 두 개의 할로겐 램프를 탑재하고, 할로겐 램프의 온/오프 상태를 자동으로 감지하는 수단과 온/오프 감지신호에 응답하여 반응하는 광로 절환 수단을 채용한다는 것으로, 이러한 기술적 수단을 통해 본 발명에서 목적으로 하는 바를 쉽게 달성할 수 있다.The core idea of the present invention is that, unlike the conventional system described above, in which only one halogen lamp is mounted in the halogen lamp unit, two halogen lamps are mounted in the halogen lamp unit, and the halogen lamp on / off state is automatically By employing a means for sensing and an optical path switching means for responding in response to an on / off sensing signal, it is easy to achieve the object of the present invention through such technical means.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 반도체 패턴 얼라인용 광원 시스템의 블록구성도로서, 제어 블록(102), 제 1 스위칭 블록(104), 제 1 램프(106), 제 1 감지 센서(108), 제 2 스위칭 블록(110), 제 2 램프(112), 제 2 감지 센서(114), 드라이버 블록(116), 광로 절환 미러(118), 표시기(120) 및 부저(122)를 포함한다.1 is a block diagram of a light source system for semiconductor pattern alignment according to a preferred embodiment of the present invention, the control block 102, the first switching block 104, the first lamp 106, the first detection sensor 108 ), A second switching block 110, a second lamp 112, a second detection sensor 114, a driver block 116, an optical path switching mirror 118, an indicator 120 and a buzzer 122. .
도 1을 참조하면, 제어 블록(102)은, 예를 들면 마이크로 프로세서를 포함하는 것으로, 광원 시스템의 전반적인 동작 제어를 수행, 즉 제 1 및 제 2 감지 센서(108, 114)로부터 제공되는 감지신호(오프 감지신호)에 의거하여, 제 1 및 제 2 스위칭 블록(104, 110)의 접점 절환(즉, 제 1 및 제 2 램프(106, 112)로의 전원 공급 절환)을 제어하고, 드라이버 블록(116)을 통해 광로 절환 미러(118)의 절환 동작을 제어하며, 표시기(120) 및 부저(122)의 작동을 제어하는 등의 동작 제어를 수행한다.Referring to FIG. 1, the control block 102 includes, for example, a microprocessor, which performs overall operation control of the light source system, that is, a sensing signal provided from the first and second sensing sensors 108 and 114. On the basis of the (off detection signal), the contact switching of the first and second switching blocks 104 and 110 (that is, the power supply switching to the first and second lamps 106 and 112) is controlled, and the driver block ( The switching operation of the optical path switching mirror 118 is controlled through 116, and operation control such as controlling the operation of the indicator 120 and the buzzer 122 is performed.
즉, 제 1 스위칭 블록(104)은 제어 블록(102)으로부터 제공되는 절환 제어신호에 응답하여 접점 a1-b1 또는 접점 a1-c1으로 절환되며, 제 1 램프(106)는 제 1 스위칭 블록(104)의 접점 a1-c1를 통해 공급되는 전원에 의해 작동되는 것으로, 일 예로서 도 2a 및 2b에 도시된 바와 같이, 제 2 램프(112)와의 사이에 광로 조절 미러(118)가 게재되는 위치에 탑재(즉, 소켓(204a)에 의한 지지 탑재)된다.That is, the first switching block 104 is switched to the contact a1-b1 or the contact a1-c1 in response to the switching control signal provided from the control block 102, the first lamp 106 is the first switching block 104 It is operated by the power supplied through the contacts a1-c1 of), as shown in Figures 2a and 2b, for example, in the position where the optical path control mirror 118 is placed between the second lamp 112 Mounted (i.e., supported mounted by the socket 204a).
또한, 제 1 감지 센서(108)는 제 1 램프(106)가 켜진 상태에서 자연 발생적으로 소등되는 것을 자동으로 감지하기 위한 것으로, 여기에서 감지되는 신호(소등 감지신호)는 제어 블록(102)으로 전달된다.In addition, the first detection sensor 108 is for automatically detecting that the light is naturally turned off while the first lamp 106 is turned on, and the detected signal (lighting off detection signal) is transferred to the control block 102. Delivered.
다음에, 제 2 스위칭 블록(110)은 제어 블록(102)으로부터 제공되는 절환 제어신호에 응답하여 접점 a2-b2 또는 접점 a2-c2로 절환되며, 제 2 램프(112)는 제 2 스위칭 블록(110)의 접점 a2-c2를 통해 공급되는 전원에 의해 작동되는 것으로, 일 예로서 도 2a 및 2b에 도시된 바와 같이, 제 1 램프(106)와의 사이에 광로 조절 미러(118)가 게재되는 위치에 탑재(즉, 소켓(204b)에 의한 지지 탑재)된다.Next, the second switching block 110 is switched to the contact a2-b2 or the contact a2-c2 in response to the switching control signal provided from the control block 102, and the second lamp 112 is connected to the second switching block ( Operated by power supplied through contacts a2-c2 of 110, as shown in FIGS. 2A and 2B, for example, a position where the optical path adjustment mirror 118 is placed between the first lamp 106 (That is, support mounting by the socket 204b).
또한, 제 2 감지 센서(114)는 제 2 램프(112)가 켜진 상태에서 자연 발생적으로 소등되는 것을 자동으로 감지하기 위한 것으로, 여기에서 감지되는 신호(소등 감지신호)는 제어 블록(102)으로 전달된다.In addition, the second detection sensor 114 is for automatically detecting that the light is naturally turned off while the second lamp 112 is turned on, and the detected signal (lighting off detection signal) is transferred to the control block 102. Delivered.
한편, 드라이버 블록(116)은, 도면에서의 상세한 도시는 생략하였으나 모터 및 모터 드라이버를 포함하는 것으로, 제어 블록(102)으로부터 제공되는 구동 제어신호에 응답하여 광로 절환 미러(118)를 좌우 방향으로 구동 절환시킨다. 이러한 구동 절환에 따라, 일 예로서 도 2a에 도시된 바와 같이, 광로 절환 미러(118)가 우측 방향으로 경사진 상태로 유지될 때 제 1 램프(106)에서 발생하는 광이 광 파이버(202)쪽으로 전달되고, 일 예로서 도 2b에 도시된 바와 같이, 광로 절환 미러(118)가 좌측 방향으로 경사진 상태로 유지될 때 제 2 램프(112)에서 발생하는 광이 광 파이버(202)쪽으로 전달된다.On the other hand, the driver block 116 includes a motor and a motor driver, although not shown in detail in the drawing, and the optical path switching mirror 118 in the left and right directions in response to the driving control signal provided from the control block 102. Drive switch. According to this driving switching, as an example, as shown in FIG. 2A, the light generated from the first lamp 106 is kept in the optical fiber 202 when the optical path switching mirror 118 is kept inclined in the right direction. 2B, the light generated by the second lamp 112 is transmitted toward the optical fiber 202 when the optical path switching mirror 118 is inclined in the left direction as shown in FIG. 2B. do.
또한, 표시기(120) 및 부저(122)는 제어 블록(102)으로부터의 구동 제어신호에 응답하여 시각적 및 청각적인 경보음을 발생하는 것으로, 제 1 램프(106) 또는 제 2 램프(112)가 사용 중에 수명이 다하여 제 2 램프(112) 또는 제 1 램프(106)의 사용으로 전환될 때 장비 운용자가 이를 인식할 수 있도록 시각적 및 청각적인 경보음을 발생한다. 이때, 표시기(120)로는, 예를 들면 구동 제어신호에 응답하여 점멸하도록 설정된 LED 등이 사용될 수 있다.In addition, the indicator 120 and the buzzer 122 generate a visual and audible alarm sound in response to the driving control signal from the control block 102. The first lamp 106 or the second lamp 112 A visual and audible alarm is generated to alert the equipment operator when the end of life in use transitions to the use of the second lamp 112 or the first lamp 106. In this case, as the indicator 120, for example, an LED or the like set to blink in response to the driving control signal may be used.
다음에, 상술한 바와 같은 구조를 갖는 본 발명에 따른 반도체 패턴 얼라인용 광원 시스템이 운행 중에 램프 가동을 절환하는 과정에 대하여 설명한다.Next, a process of switching the lamp operation during operation of the light source system for semiconductor pattern alignment according to the present invention having the above-described structure will be described.
설명의 편의와 이해의 증진을 위해, 일 예로서 도 2a에 도시된 바와 같이, 램프 유닛(200)에 장착된 제 1 램프(106)와 제 2 램프(112) 중 제 1 램프(106)가 가동 중인 경우라 가정하며, 가동 중에 있던 제 1 램프(106)가 수명이 다하여 소등되면, 제 1 감지 센서(108)에서 이를 감지하여 제어 블록(102)으로 전달한다.For convenience of explanation and improvement of understanding, as an example, as shown in FIG. 2A, a first lamp 106 of the first lamp 106 and the second lamp 112 mounted to the lamp unit 200 is provided. It is assumed that it is in operation, and when the first lamp 106 that is in operation is turned off at the end of its life, the first detection sensor 108 detects it and transmits it to the control block 102.
이에 응답하여 제어 블록(102)에서는 제 2 절환 스위치(110)에 절환 제어신호를 전달함과 동시에 드라이버 블록(116)에 구동 제어신호를 전달한다.In response, the control block 102 transmits a switching control signal to the second switching switch 110 and a driving control signal to the driver block 116.
따라서, 제 2 절환 스위치(110)의 접점이 a2-c2로 절환되어 제 2 램프(112)가 점등됨과 동시에 드라이버 블록(116)의 구동에 따라 광로 절환 미러(118)가, 일 예로서 도 2b에 도시된 바와 같이, 좌측 방향으로 경사지게 절환되며, 그 결과 제 2 램프(112)에서 발광하는 광이 광로 절환 미러(118)를 통해 반사되어 광 파이버(202)로 전달된다.Accordingly, the contact point of the second switching switch 110 is switched to a2-c2 so that the second lamp 112 is turned on and the optical path switching mirror 118 is driven as the driver block 116 is driven. As shown in FIG. 2, the light is switched to be inclined in the left direction, and as a result, the light emitted from the second lamp 112 is reflected through the optical path switching mirror 118 and transmitted to the optical fiber 202.
또한, 제어 블록(102)에서는, 표시기(120) 및 부저(122)에 구동 제어신호를 발생하여 표시기(120) 및 부저(122)를 작동시킨다. 즉, 하나의 램프(제 1 램프)가 수명을 다하여 다른 하나의 램프(제 2 램프)를 가동시켰음을 장비 운용자가 인식할 수 있도록 시각적, 청각적으로 경보하며, 이러한 경보를 통해 장비 운용자가 수명을 다한 램프를 새로운 램프로 교체할 수 있도록 경보한다.In addition, in the control block 102, a drive control signal is generated on the indicator 120 and the buzzer 122 to operate the indicator 120 and the buzzer 122. In other words, a visual and audible alarm is provided so that the operator can recognize that one lamp (the first lamp) has run the other lamp (the second lamp) at the end of its life. Alert the lamp to replace the new lamp with a new one.
물론, 제 2 램프(112)가 작동중인 상태에서 수명이 다하여 소등되는 경우에도 상술한 바와 마찬가지의 제어 과정을 통해 제 1 램프(106)가 작동하게 된다.Of course, even when the second lamp 112 is turned off at the end of its service life, the first lamp 106 is operated through the same control process as described above.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 할로겐 램프 유닛에 단지 하나의 할로겐 램프만을 탑재하는 전술한 종래 시스템과는 달리, 할로겐 램프 유닛에 두 개의 할로겐 램프를 탑재하고, 할로겐 램프의 온/오프 상태를 자동으로 감지하는 센서와 온/오프 감지신호에 응답하여 반응하는 광로 절환 수단을 이용하여 현재 작동중인 할로겐 램프가 수명을 다할 때 이를 자동으로 감지하여 다른 하나의 할로겐 램프를 자동으로 작동시켜 광로 절환 수단을 통해 광을 원하는 위치로 전달함으로써, 수명이 다한 할로겐 램프의 교체에 기인하는 광원 시스템 장비의 가동 중단을 방지할 수 있으며, 이를 통해 장비의 가동율 저하에 기인하는 반도체 소자의 생산성 저하를 효과적으로 방지할 수 있다.As described above, according to the present invention, unlike the above-described conventional system in which only one halogen lamp is mounted in the halogen lamp unit, two halogen lamps are mounted in the halogen lamp unit, and the on / off state of the halogen lamp is changed. Using a sensor that automatically detects and an optical path switching means that responds in response to an on / off detection signal, it automatically detects when a currently operating halogen lamp reaches its end of life and automatically operates another halogen lamp to automatically switch the optical path. By transmitting the light to the desired position, it is possible to prevent the downtime of the light source system equipment caused by the replacement of the halogen lamp at the end of its life, thereby effectively preventing the productivity of the semiconductor device caused by the decrease in the operation rate of the equipment. Can be.
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