KR20030071063A - 자기 터널 접합 제조 방법 - Google Patents

자기 터널 접합 제조 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20030071063A
KR20030071063A KR1020020010589A KR20020010589A KR20030071063A KR 20030071063 A KR20030071063 A KR 20030071063A KR 1020020010589 A KR1020020010589 A KR 1020020010589A KR 20020010589 A KR20020010589 A KR 20020010589A KR 20030071063 A KR20030071063 A KR 20030071063A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
tunnel junction
magnetic tunnel
insulating film
layer
nitride insulating
Prior art date
Application number
KR1020020010589A
Other languages
English (en)
Inventor
안준형
Original Assignee
주식회사 엘지이아이
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 엘지이아이 filed Critical 주식회사 엘지이아이
Priority to KR1020020010589A priority Critical patent/KR20030071063A/ko
Publication of KR20030071063A publication Critical patent/KR20030071063A/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/33Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
    • G11B5/39Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
    • G11B5/3903Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects using magnetic thin film layers or their effects, the films being part of integrated structures
    • G11B5/3906Details related to the use of magnetic thin film layers or to their effects
    • G11B5/3909Arrangements using a magnetic tunnel junction

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Magnetic Heads (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)

Abstract

본 발명은 자기 터널 접합에 관한 것으로, 특히 우수한 절연막과 절연막/강자성층 계면을 확보하는 자기 터널 접합 제조 방법에 관한 것이다. 이와 같은 본 발명에 따른 자기 터널 접합 제조 방법은 하부 적층 구조 위에 질화물 절연막을 형성하는 단계와, 상기 질화물 절연막 위에 강자성 자유층과, 보호막을 차례로 형성한다.

Description

자기 터널 접합 제조 방법{Method for manufacturing Magnetic tunnel junction}
본 발명은 자기 터널 접합에 관한 것으로, 특히 질화물 절연막을 이용한 자기 터널 접합 제조 방법에 관한 것이다.
일반적으로 자기 터널 접합(Magnetic Tunnel Junction : MTJ) 소자는 고정층과 자유층 2개의 강자성막과, 이사이의 절연막으로 주로 구성되어 있고, 스핀이 분극된 전자 터널링(spin polarized electron tunneling) 현상을 이용하는 것이다.
상기 고정층은 자기 소자가 작동하는 동안 항상 고정되어 있으며, 자유층만이 자화의 방향을 바꾸게 된다.
터널링 현상은 전자스핀에 관계되므로 자기 터널 접합의 특성은 두 개의 강자성층의 상대적 배향과 스핀 극성의 함수이다.
자기 터널 접합 소자의 상태는 감지 전류가 강자성층 중 하나로부터 다른 강자성층으로 접합에 수직으로 흐를 때, 자기 터널 접합 저항의 변화를 측정함으로써 결정된다.
두 개의 강자성층의 자화방향의 상대적인 배열에 따라서 자기 터널 접합을 가로질러 전자의 터널링의 확률이 달라진다.
전자 캐리어의 터널링 확률은 두 강자성 층의 자화방향이 평행할 경우에 최고가 되고, 두 강자성의 자화 방향이 반대로 평행할 경우 최소가 된다.
즉, 자기 터널 접합의 저항은 상호 자화 방향이 반 평행일 때 최고가 되고, 평행할 때 최소가 된다.
이러한, 두 개의 강자성 층의 상대적인 자화 방향에 따른 자기 터널 접합 저항값의 차이를 자기 터널 접합 단위 소자 2개의 비트 상태(0 또는 1)로 고유하게 정의할 수 있다.
자기 터널 접합의 소자는 구체적으로 비휘발성 자기 메모리 소자에서 자기 저장 셀(magnetic storage cell) 혹은 자기기록 디스크 드라이브에서 데이터 판독용 자기 저항 헤드(magnetoresistive head : MR head)의 센서로 사용될 수 있는데, 실제적인 응용을 위해서는 상대적인 자화 방향의 배열에 따른 저항의 변화량(TMR ratio) 뿐만 아니라 MTJ 소자의 저항값 자체가 적절한 값을 가져야 한다.
즉, 저항이 너무 크면 임피던스 지연 효과에 의해 속도가 느리고, 반대로 저항이 너무 작으면 출력이 작아지게 되어 바람직하지 않다.
이러한 자기 터널 접합 저항은 강자성층 사이에 위치하는 절연막과 절연막/강자성층의 계면 특성에 의해 좌우된다.
현재 흔히 사용되고 있는 절연막으로는 Al 금속을 증착한 후 산화시켜 만든 Al2O3박막을 얇게 만들고 있는데 이 역시 한계에 도달하고 있는 상황이다.
도 1은 종래의 자기 터널 접합의 대략적인 구조도이다.
도 1을 참조하면, 2층의 강자성(5-7, 8) 박막 사이에 얇은 절연박막(6)을 증착시켰을 때 간단한 자기터널 접합 소자가 완성된다.
상기 절연막(6)으로 Al 금속을 증착한 후 산화시켜 만든 Al2O3으로, 우수한 절연특성과 안정된 박막증착 특성을 나타낸다.
그러나 상기 산화 공정은 공정 중에 강자성 금속 박막의 표면도 역시 산화되오 강자성층에 계면 분극 로스가 발생하는 단점이 있으며, 응답속도를 높이기 위해서 저항을 낮추려는 목적으로 Al2O3박막을 만들고 있는데 이 역시 한계에 도달하고 있다.
이와 같은 종래의 방법으로 제조된 산화물 절연막을 이용한 자기 터널 접합등의 실험조건의 제어가 힘들고, 재현성이 떨어지며, 소요되는 공정 시간이 길고, 고가의 장치가 필요한 등의 문제점을 갖고 있다.
그리고, 자기 터널 접합을 이용한 실제 소자의 성능을 확보하는데 어려움이 크다.
따라서, 본 발명의 목적은 이상에서 언급한 종래 기술의 문제점을 감안하여 안출한 것으로서, 우수한 절연막과 절연막/강자성층 계면을 확보하는 자기 터널 접합 제조 방법을 제공하기 위한 것이다.
도 1은 종래의 자기 터널 접합의 대략적인 구조도
도 2a 내지 도 2c는 본 발명에 따른 자기 터널 접합 제조를 나타내는 도면
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*
10 : 기판 11 : 버퍼층
12 : 씨앗층 13 :하부 반강자성층
14 : 하부 강자성층 15 : 질화물 절연층
16 : 상부 강자성층 17 : 상부 강자성층
18 : 보호막
이상과 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 특징에 따르면, 하부 적층 구조 위에 질화물 절연막을 형성하는 단계와, 상기 질화물 절연막 위에 강자성 자유층과, 보호막을 차례로 형성한다.
바람직하게, 상기 질화물 절연막은 AlN 이고, 상기 질화물 절연막 형성은 N2, H2혼합가스를 반응가스로 사용하여 리액티브 증착하거나, 증착된 Al 금속박막을 N2, H2혼합가스를 분위기 가스로 해서 열처리하여 질화 시킨다.
이하 본 발명의 바람직한 일 실시 예에 따른 구성 및 작용을 첨부된 도면을 참조하여 설명한다.
도 2a 내지 도 2d는 본 발명에 따른 자기 터널 접합 제조를 나타내는 도면이다.
먼저, 본 발명에서는 기존의 산화물(Al2O3) 절연막 대신에 AlN 등의 질화물 절연막을 이용한 자기 터널 접합의 제작과정을 제안하고자 하는 것으로 자기터널 접합에 가장 중요한 것은 우수한 특성의 강자성 층의 형성 이외에도 우수한 특성의 절연막과 절연막/강자성층 계면을 확보하는 것인데, 무엇보다도 절연막을 형성하는 공정 중에 강자성층과 반응(절연막 성분과의 반응, 절연막 형성에 필요한 분위기에 의한 반응 등)하지 않아서 강자성층과 절연막 각각의 특성을 저하시키지 않으며, 또한 강자성층 위에 절 적층될 수 있어야 한다.
도 2a를 참조하면, 기판(10) 상에 단일 씨앗층(seed layer)(12) 혹은 씨앗층/버퍼층(11, 12)의 복합구조의 박막을 형성한다.
그리고, 상기 씨앗층(12) 위에 자기 터널 접합 고정층 자화의 고정을 위하여 하부 반강자성 고정층(13)을 형성한다.
상기 하부 반강자성 고정층(13)은 한 층 혹은 여러 층의 결합이어도 무방하다.
그리고, 상기 하부 반강자성 고정층(13) 위에 하부 강자성 고정층(14)을 형성한다.
그 다음, 도 2b와 같이 상기 도 2a와 같이 구성된 하부 적층 구조(bottom stack structure) 위에 질화물 절연막(15)을 형성한다.
상기 질화물 절연막(15) 형성 방법의 첫 번째는 N2, H2혼합가스를 반응가스로 사용하여 리액티브(reactive)한 방법으로 질화물 박막을 바로 증착하거나, 두번째로 우선 Al 금속 박막을 증착한 후에 N2, H2혼합가스를 분위기 가스로 해서 고온 열처리하여 Al 금속 박막을 질화(nitridation)시켜서 AlN 절연막을 형성한다.
상기 Al 금속 박막 혹은 질화물 박막의 증착방법은 PLD, 스퓨터링(sputtering), CVD, coevaporation, MBE 등을 이용한다.
그리고 상기 두 번째 방법의 후속 분위기 열처리 방법에는 고온에서 혼합가스르 흘려주는 방법(natual nitridation)과 rf, dc, ECR 등의 플라즈마를 형성하는 방법이 있다.
또한, 절연막을 질화물과 산화물의 특성을 함께 가질 수 있는 Al-O-N으로 하고자 할 경우에는 혼합가스 내의 H2함량을 조절함으로써 얻는 것이 가능하다.
상기와 같은 N2, H2혼합가스를 이용해서 강한 환원성 분위기에서 열처리를 통화여 질화물 절연막(15)을 형성하므로, 즉 oxygen-free 공정을 이용하여 절연막을 형성하게 되어 Al2O3등의 산화물 절연막 형성 시에 발생되는 강자성층의 산화로 인한 자기특성 저하를 해결할 수 있다.
또한, 이와 함께 혼합가스에 포함된 수소 이온은 자기 터널 접합 내부에 존재하는 댄링 본딩(dangling bonding)에 결합되어 안정하게 유지되므로, 댄링 본딩이 스핀 분극 전달을 방해하는 결함으로 작용하지 않게 하여 자기 터널 접합 소자 제작의 편이성과 생산성을 향상시키고, 소자 특성 조절 및 재현성 향상을 시킬 수 있어서 양질의 자기 터털 접합 제작이 가능하다.
상기 질화물 절연막(15)이 완성되면 그 위에 자화반전이 일어나게 상부 강자성층(16)과 상부 반강자성층(17)을 형성하고, 강자성 박막을 보호하는 역할을 하는 보호층(18)을 형성하고, 마지막으로 전극으로써 리프트-오프(lift-off)법으로 Au 등의 전극을 형성한다.
이상의 설명에서와 같이 본 발명은 동시에 여러 장의 소자나 대면저의 소자에 대해서 간편하게 적용할 수 있는 공정으로, 시편의 지오메트리가 바뀐다 하더라도 쉽게 적용 가능하여 자기 터널에 의한 TMR을 이용한 모든 소자에 적용하는 효과가 있고, 특히 비휘발성 자기 메모리 소자에서 자기저장 셀 혹은 자기 기록 디스크 드라이브에서 데이터 판독용 자기 저항 헤드의 센서 같은 소자에 적용하는 효과가 있다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술 사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다.
따라서, 본 발명의 기술적 범위는 실시예에 기재된 내용으로 한정하는 것이 아니라 특허 청구 범위에 의해서 정해져야 한다.

Claims (3)

  1. 하부 적층 구조 위에 질화물 절연막을 형성하는 단계와;
    상기 질화물 절연막 위에 강자성 자유층과, 보호막을 차례로 형성하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 자기 터널 접합 제조 방법.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 질화물 절연막은 AlN인 것을 특징으로 하는 자기 터널 접합 제조 방법.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 질화물 절연막 형성은 N2, H2혼합가스를 반응가스로 사용하여 리액티브 증착하거나, 증착된 Al 금속박막을 N2, H2혼합가스를 분위기 가스로 해서 열처리하여 질화시키는 것을 특징으로 하는 자기 터널 접합 제조 방법.
KR1020020010589A 2002-02-27 2002-02-27 자기 터널 접합 제조 방법 KR20030071063A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020020010589A KR20030071063A (ko) 2002-02-27 2002-02-27 자기 터널 접합 제조 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020020010589A KR20030071063A (ko) 2002-02-27 2002-02-27 자기 터널 접합 제조 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20030071063A true KR20030071063A (ko) 2003-09-03

Family

ID=32222848

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020020010589A KR20030071063A (ko) 2002-02-27 2002-02-27 자기 터널 접합 제조 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20030071063A (ko)

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5849422A (en) * 1994-03-24 1998-12-15 Nec Corporation Spin valve film
KR100226843B1 (ko) * 1992-06-09 1999-10-15 구자홍 자기헤드 제조방법
US5998016A (en) * 1997-01-16 1999-12-07 Tdk Corporation Spin valve effect magnetoresistive sensor and magnetic head with the sensor
KR20000077490A (ko) * 1999-05-31 2000-12-26 가네꼬 히사시 자기저항효과헤드, 그 제조방법, 및 그것을 사용한자기기억장치
JP2001076321A (ja) * 1999-09-02 2001-03-23 Sony Corp 磁気抵抗効果型磁気ヘッド及びその製造方法
JP2001084532A (ja) * 1999-09-09 2001-03-30 Toshiba Corp 磁気抵抗効果素子の製造方法
KR20010033731A (ko) * 1998-10-29 2001-04-25 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 박막의 형성방법 및 반도체 발광소자의 제조방법
JP2001236613A (ja) * 2000-02-18 2001-08-31 Fujitsu Ltd 磁気センサ及びその製造方法
KR100302221B1 (ko) * 1997-07-03 2001-11-22 니시무로 타이죠 박막인덕턴스소자및그를이용한박막자기소자
US6437049B1 (en) * 2001-02-27 2002-08-20 P. Group S.R.L. Process for modifying polypropylene with maleic anhydride
KR100379978B1 (ko) * 1999-12-14 2003-04-11 닛뽕덴끼 가부시끼가이샤 자기 저항 효과 헤드 및 이를 이용한 자기 기억 장치

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100226843B1 (ko) * 1992-06-09 1999-10-15 구자홍 자기헤드 제조방법
US5849422A (en) * 1994-03-24 1998-12-15 Nec Corporation Spin valve film
US5998016A (en) * 1997-01-16 1999-12-07 Tdk Corporation Spin valve effect magnetoresistive sensor and magnetic head with the sensor
KR100302221B1 (ko) * 1997-07-03 2001-11-22 니시무로 타이죠 박막인덕턴스소자및그를이용한박막자기소자
KR20010033731A (ko) * 1998-10-29 2001-04-25 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 박막의 형성방법 및 반도체 발광소자의 제조방법
KR20000077490A (ko) * 1999-05-31 2000-12-26 가네꼬 히사시 자기저항효과헤드, 그 제조방법, 및 그것을 사용한자기기억장치
JP2001076321A (ja) * 1999-09-02 2001-03-23 Sony Corp 磁気抵抗効果型磁気ヘッド及びその製造方法
JP2001084532A (ja) * 1999-09-09 2001-03-30 Toshiba Corp 磁気抵抗効果素子の製造方法
KR100379978B1 (ko) * 1999-12-14 2003-04-11 닛뽕덴끼 가부시끼가이샤 자기 저항 효과 헤드 및 이를 이용한 자기 기억 장치
JP2001236613A (ja) * 2000-02-18 2001-08-31 Fujitsu Ltd 磁気センサ及びその製造方法
US6437049B1 (en) * 2001-02-27 2002-08-20 P. Group S.R.L. Process for modifying polypropylene with maleic anhydride

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11758820B2 (en) Protective passivation layer for magnetic tunnel junctions
US6650513B2 (en) Magnetic devices with a ferromagnetic layer having perpendicular magnetic anisotropy and an antiferromagnetic layer for perpendicularly exchange biasing the ferromagnetic layer
JP3660927B2 (ja) 磁気抵抗効果素子とこれを用いた磁気抵抗効果型磁気ヘッド、磁気記録装置および磁気抵抗効果型メモリー装置
US6842317B2 (en) Magnetoresistive element, magnetic head, magnetic memory and magnetic recording apparatus using the same
US6826078B2 (en) Magnetoresistive effect element and magnetic memory having the same
US7026671B2 (en) Magnetoresistive effect element, magnetic memory device and manufacturing method of magnetoresistive effect element and magnetic memory device
US7855860B2 (en) Magnetoresistance element magnetic random access memory, magnetic head and magnetic storage device
KR100439143B1 (ko) 자기 저항 소자와 이것을 이용한 자기 디바이스
JP3695515B2 (ja) トンネル磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、磁気メモリ及びその製造方法
US7015524B2 (en) Method of etching magnetic material, magnetoresistive film and magnetic random access memory
US20070053112A1 (en) Tunnel barriers based on alkaline earth oxides
US20070154630A1 (en) Method for fabricating magnetic tunnel junction device
US6831314B2 (en) Magnetoresistive effect element and magnetic memory device
WO2004015791A2 (ja) 磁気抵抗効果素子及び磁気メモリ装置
US20040115839A1 (en) Magnetoresistive element and method for producing the same, as well as magnetic head, magnetic memory and magnetic recording device using the same
JP2005515625A (ja) 低減された粗さを有する抵抗性メモリ素子
JP2007158369A (ja) 磁気抵抗デバイス及びその製造方法
JP2000187976A (ja) 磁性薄膜メモリおよびその記録再生方法
JP4387955B2 (ja) 磁気抵抗効果素子
JP2003304012A (ja) トンネル磁気抵抗効果素子
KR20030071063A (ko) 자기 터널 접합 제조 방법
JP4897140B2 (ja) 低い面抵抗を有するmtjを製造する方法
KR100382764B1 (ko) 터널링 자기저항 소자 및 그 제조방법
JP2002299725A (ja) 磁気抵抗デバイス
JP2001236613A (ja) 磁気センサ及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
N231 Notification of change of applicant
E601 Decision to refuse application