KR20030067695A - 기판의 열 처리용 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (15)
- 기판의 열 처리용 방법으로서, 상기 방법에 따라 기판은 다수의 개별적으로 제어 가능한 가열 엘리먼트에 의해 가열되며, 상기 엘리먼트 각각은 정해진 희망-값 프로파일을 가지며;a. 상기 열 처리 동안 상기 가열 엘리먼트로부터 떨어져 마주하는 기판 표면의 온도를 국부적으로 측정하는 단계;b. 상기 기판 표면 상에서 발생하는 온도 비동질성을 결정하는 단계;c. 상기 결정된 온도 비동질성에 근거하여 새로운 희망-값 프로파일을 규정하는 단계; 및d. 그 다음 처리 공정을 위해 상기 새로운 희망-값 프로파일을 제공하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판의 열 처리용 방법.
- 제 1 항에 있어서, 상기 열 처리 동안 발생하는 온도 비동질성은 상기 희망-값 프로파일을 규정하는 동안, 시간에 의해서 예상 방식으로 고려되는 것을 특징으로 하는 기판의 열 처리용 방법.
- 제 1 또는 제 2 항에 있어서, 상기 기판 표면의 온도는 정해진 표면 지점에서 결정되는 것을 특징으로 하는 기판의 열 처리용 방법.
- 제 3 항에 있어서, 표면 지점과 관련된 기판 영역으로부터 측정된 모든 온도 값의 평균값이 상기 표면 지점에 할당되는 것을 특징으로 하는 기판의 열 처리용 방법.
- 제 3 항 또는 제 4 항에 있어서, 상기 표면 영역 대 상기 표면 지점의 관계는 적어도 하나의 측정 사이클 동안 일정하게 유지되는 것을 특징으로 하는 기판의 열 처리용 방법.
- 제 3 항 내지 제 5 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 새로운 희망-값 프로파일을 규정하는 것은 개개의 표면 지점 대 상기 가열 엘리먼트의 웨이팅된 관계에 의하여 행해지는 것을 특징으로 하는 기판의 열 처리용 방법.
- 제 6 항에 있어서, 상기 웨이팅된 관계는 적어도 하나의 측정 사이클 동안 일정하게 유지되는 것을 특징으로 하는 기판의 열 처리용 방법.
- 제 6 항 또는 제 7 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 웨이팅된 관계는 상기 새로운 희망-값 프로파일을 규정하는 동안 변화되는 것을 특징으로 하는 기판의 열 처리용 방법.
- 제 1 항 내지 제 8 항중 어느 한 항에 있어서, 희망-값 변화에 대한 시간 간격은 상기 새로운 희망-값 프로파일을 규정하는 동안 새롭게 선택되는 것을 특징으로 하는 기판의 열 처리용 방법.
- 제 1 항 내지 제 9 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 희망-값 프로파일을 새롭게 규정하는 것은 단지 온도 비동질성이 정해진 임계값 위에서 발생하는 경우에만 행해지는 것을 특징으로 하는 기판의 열 처리용 방법.
- 제 1 항 내지 제 10 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 열 처리 동안 상기 기판은 상기 가열 엘리먼트 및 상기 기판 사이에 배열된 플레이트 상에 배치되는 것을 특징으로 하는 기판의 열 처리용 방법.
- 제 1 항 내지 제 11 항중 어느 한 항에 있어서, 최적화된 희망-값 프로파일로부터 계산되는 표준화된 희망-값 프로파일이 원래 희망-값 프로파일로 사용되는 것을 특징으로 하는 기판의 열 처리용 방법.
- 기판의 열 처리를 위하여 다수의 개별적으로 제어 가능한 가열 엘리먼트의 희망-값 프로파일을 최적화하는 방법으로서,a. 각각의 정해진 희망-값 프로파일에 의해 상기 가열 엘리먼트를 가열하는 단계;b. 상기 가열 동안 상기 가열 엘리먼트로부터 덜어져 마주하는 기판 표면의온도를 국부적으로 측정하는 단계;c. 상기 기판 표면 상에서 발생하는 온도 비동질성을 시간의 함수로서 결정하는 단계;d. 상기 온도 비동질성에 근거한 열 처리 공정 동안 새로운 희망-값 프로파일을 규정하는 단계;e. 그 다음 가열 공정을 위하여 새로운 희망-값 프로파일을 사용하는 단계;f. 가열 시간의 모든 지점에서 온도 비동질성이 미리 결정된 임계값 이하일때까지 상기 단계들을 반복하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 희망-값 프로파일의 최적화 방법.
- 제 13 항에 있어서, 상기 최적화는 상기 열 처리의 상이한 한계 온도 및 상이한 기판에 대해 수행되는 것을 특징으로 하는 희망-값 프로파일의 최적화 방법.
- 제 14 항에 있어서, 상기 원래 정해진 희망-값 프로파일은 이전에 최적화된 희망-값 프로파일에 근거하여 계산되는 표준화된 희망-값 프로파일인 것을 특징으로 하는 희망-값 프로파일의 최적화 방법.
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US7598150B2 (en) * | 2006-11-20 | 2009-10-06 | Applied Materials, Inc. | Compensation techniques for substrate heating processes |
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JP4959669B2 (ja) * | 2008-12-05 | 2012-06-27 | 東京エレクトロン株式会社 | プローブ装置 |
US8637794B2 (en) | 2009-10-21 | 2014-01-28 | Lam Research Corporation | Heating plate with planar heating zones for semiconductor processing |
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US10163668B2 (en) * | 2011-08-30 | 2018-12-25 | Watlow Electric Manufacturing Company | Thermal dynamic response sensing systems for heaters |
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DE102020100481A1 (de) * | 2020-01-10 | 2021-07-15 | Aixtron Se | CVD-Reaktor und Verfahren zur Regelung der Oberflächentemperatur der Substrate |
DE202022106307U1 (de) | 2022-11-10 | 2024-02-14 | Engel Austria Gmbh | Heizanordnung und Anordnung einer Formgebungsmaschine mit einer Heizanordnung |
Family Cites Families (7)
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---|---|---|---|---|
US5650082A (en) * | 1993-10-29 | 1997-07-22 | Applied Materials, Inc. | Profiled substrate heating |
JP3563224B2 (ja) * | 1996-03-25 | 2004-09-08 | 住友電気工業株式会社 | 半導体ウエハの評価方法、熱処理方法、および熱処理装置 |
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