KR20030050354A - 단결정 실리콘 잉곳 제조 방법 - Google Patents
단결정 실리콘 잉곳 제조 방법 Download PDFInfo
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 32
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 22
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 43
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 claims abstract description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 22
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims abstract description 21
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 5
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 10
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 10
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000005094 computer simulation Methods 0.000 description 1
- 230000009643 growth defect Effects 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
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Abstract
Description
Claims (3)
- (a) 결정성장장치 내의 핫존 환경 조건을 선정하고, 핫존 환경 조건을 소정의 변수로 모델링하는 단계;(b) 잉곳의 인상속도별로, 상기 소정의 변수에 따라 소정의 해석 프로그램을 통하여, 결정성장장치 내의 온도장 해석과 그에 대응한 잉곳의 스트레스 분포를 해석하는 단계;(c) 상기 인상속도별로 해석된 상기 잉곳의 스트레스 분포로부터, 소정의 스트레스 값이 급변하게 되는 인상속도보다 작은 인상속도를 잉곳 제조 시의 인상속도로 결정하는 단계; 및(d) 상기 결정된 인상속도에 대응한 핫존 환경 조건에 따라 결정성장장치 내에서 상기 결정된 인상속도로 단결정 실리콘 잉곳을 성장시키는 단계를 포함하는 단결정 실리콘 잉곳 제조 방법.
- 제1항에 있어서,상기 (c) 단계에서 상기 소정의 스트레스 값은 von Mises 스트레스 값인 것을 특징으로 하는 단결정 실리콘 잉곳 제조 방법.
- 제1항에 있어서,상기 (c) 단계에서 상기 소정의 스트레스 값이 급변하게 되는 인상속도보다 작은인상속도 중에서 가장 큰 인상속도를 잉곳 제조 시의 인상속도로 결정하는 것을 특징으로 하는 단결정 실리콘 잉곳 제조 방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020010080772A KR20030050354A (ko) | 2001-12-18 | 2001-12-18 | 단결정 실리콘 잉곳 제조 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020010080772A KR20030050354A (ko) | 2001-12-18 | 2001-12-18 | 단결정 실리콘 잉곳 제조 방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20030050354A true KR20030050354A (ko) | 2003-06-25 |
Family
ID=29576093
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020010080772A KR20030050354A (ko) | 2001-12-18 | 2001-12-18 | 단결정 실리콘 잉곳 제조 방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20030050354A (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100488902B1 (ko) * | 2002-11-18 | 2005-05-11 | 주식회사 실트론 | 실리콘 단결정 잉곳의 구조 손실율 예측방법, 실리콘 단결정 잉곳 성장로의 제작방법 및 그에 의한 실리콘 단결정 잉곳의 제조방법. |
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- 2001-12-18 KR KR1020010080772A patent/KR20030050354A/ko not_active Application Discontinuation
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20011218 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20040330 Patent event code: PE09021S01D |
|
E601 | Decision to refuse application | ||
PE0601 | Decision on rejection of patent |
Patent event date: 20041014 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 20040330 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |