KR20030025148A - Plasma Display Panel의 셀 결함 수리방법 및 장치 - Google Patents

Plasma Display Panel의 셀 결함 수리방법 및 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 AC형 Plasma Display Panel(이하 PDP라 칭함)의 제조과정에서 발생하는 화면표시부의 셀 결함을 수리하는 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 PDP의 제조공정에서 Bus전극이 되는 상판 Glass와 Adress전극과 형광체로 이루어진 하판Glass를 서로 압착을 통해 부착한 PDP 패널 완제품의 품질검사 단계에서 검출되는 화면표시부(Effective Display Area)의 상품성을 크게 저하시키는 치명적인 명점, 멸점 등의 방전셀 결함을 치명적이지 않은 결함인 암점화 하는 방법에 관한 것이다.
이와같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 점등검사장치에 미세 면적에 에너지를 주사할 수 있는 레이저 발생장치를 장착함으로서 점등검사를 통하여 발견된 치명적인 셀 결함을 결함 발견 즉시 레이저를 주사하여 결함이 있는 부위에 열을 가함으로서 PDP 패널 내에 형성된 셀 결함과 관련된 전극이나 전기회로를 파괴함으로서 치명적인 결함이 있는 셀의 동작을 무력화시키는 것에 그 특징이 있다.

Description

Plasma Display Panel의 셀 결함 수리방법 및 장치{Method & Apparatus of repairing Cell Defects on Plasma Display Panel}
본 발명은 AC형 Plasma Display Panel(이하 PDP라 칭함)의 제조과정에서 발생하는 화면표시부의 셀 결함을 수리하는 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 PDP의 제조공정에서 Bus전극이 되는 상판 Glass와 Adress전극과 형광체로 이루어진 하판Glass를 서로 압착을 통해 부착한 PDP 패널 완제품의 품질검사(이하 점등검사 라 칭함)단계에서 검출되는 화면표시부(Effective Display Area)의 상품성을 크게 저하시키는 치명적인 불량인 명점(주변에 비해 두드러지게 밝게 빛나는 셀 결함)이나 멸점(깜박거리는 셀 결함)을 암점(빛을 방출하지 않아 화면표시기능을 하지 않는 셀 결함)화 하는 방법에 관한 것이다.
일반적으로 PDP를 제조하는 과정에서 작업조건이나 공기 중에 존재하는 미세한 먼지의 유입 등 제조공정상의 문제로 화면표시부(Effective Display Area)내에 셀 결함이 발생한다. 이러한 셀 결함은 상품성을 저해하지 아니하는 미약한 결함에서부터 시각적으로 크게 거슬려서 상품성을 치명적으로 저하시키는 결함(멸점, 명점 등)에 이르기까지 다양한 형태로 발생한다.
특히 이러한 결함 중에서 명점이나 멸점 등의 치명적인 결함이 점등검사시 PDP패널의 화면표시부에서 수많은 Unit Pixel을 구성하는 Red,Green,Blue 의 방전셀 중 한 곳이라도 검출이 되면 디스플레이라는 상품으로서의 가치를 상실하게 됨으로서 폐기할 수 밖에 없었다.
본 발명은 상기와 같은 치명적인 셀 결함에 따른 PDP 패널 완제품을 폐기처리하는 문제점을 해소하기 위해, 단 한 개의 셀 결함으로도 PDP패널의 상품성을 잃게 만드는 명점, 멸점 등의 치명적인 셀 결함을 몇 개 정도의 결함으로는 상품성에 영향을 주지 않는 암점과 같은 셀 결함으로 바꾸는 방법을 제공하는 데 본 발명의 목적이 있는 것이다.
이와같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 점등검사장치에 미세 면적에 에너지를 주사할 수 있는 레이저 발생장치를 장착함으로서 점등검사를 통하여 발견된 치명적인 셀 결함을 결함 발견 즉시 레이저를 주사하여 결함이 있는 부위에 열을 가함으로서 PDP 패널 내에 형성된 셀 결함과 관련된 전극이나 전기회로를 파괴함으로서 치명적인 결함이 있는 셀의 동작을 무력화시키는 것에 그 특징이 있다.
도 1은 AC형 PDP의 상판 Glass 단면도
도 2는 본 발명에 따른 PDP의 셀 결함 수리 개념도
도 3은 셀 결함을 수리한 PDP의 상판 Glass 단면도
도 4는 본 발명에 따른 PDP 셀 결함 수리장치의 구성도
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
1 : 상판 Glass 2 : 투명전극
3 : BUS전극 4 : MgO
5 : 유전체 6 : 레이저 주사장치
7 : 레이저 빔 8 : 수리된 투명전극
9 : Power Supply 10 : 레이저 발생장치
11 : UPS 12 : 광섬유
13 : 점등검사장치 14 : Repair Head
15 : Guide 16 : PDP 패널
17 : Repair Head 컨트롤 Box 18 : PC
19 : Align 모니터 20 : Line Generator
이하 첨부된 도면에 의해 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 1은 AC형 PDP의 상판 Glass의 단면도로서, X와 Y의 BUS전극에 전압이 인가되어 하판Glass에 형성한 방전셀 내에 Plasma가 생성되는 것이다. 이렇게 발생한 Plasma로부터 광자가 방출되고 이 광자는 Red, Green, Blue의 형광체에 흡수되어 형광체는 발광을 하게 되는 것이다.
하지만, 이러한 발광은 제조과정에서 전극이나 유전체 등의 불균일한 치수로 형성되거나 오염으로 인하여 전기적 특성이 변화하거나 하는 등의 문제점이 발생하면 주변의 정상적인 방전셀에서 발광하는 밝기와는 다른 형태의 명점이나 멸점이생기게 된다.
도 2는 이러한 명점이나 멸점 등과 같은 치명적인 셀 결함을 해결하기 위하여 결함이 발생한 방전셀에 레이저를 주사하는 모습을 나타낸 것으로 비정상적으로 발광하는 방전셀의 작동을 차단하기 위하여 전압을 인가하는 BUS 전극의 일부분을 레이저를 주사하여 국부적인 열충격으로 투명전극을 파괴하는 것이다. 이 때, 주사하는 레이저의 에너지와 주사시간, 주사횟수가 적절하여야 다른 정상적인 방전셀를 파괴하지 않게 된다.
도 3은 레이저를 주사하여 치명적인 셀 결함을 해결한 후의 상판Glass의 단면도이다. 이렇게 파괴된 투명전극은 BUS전극에 기준 전압을 인가하여도 Plasma를 발생시킬 수 없게 됨으로서 발광하지 않게 되어 해당 방전셀은 암점화 되는 것이다.
도 4는 본 발명에서 제시한 레이저를 이용한 PDP의 셀 결함을 수리하는 장치의 구성도이다. 이러한 수리장치는 PC, Power Supply, 레이저 발생장치, Repair Head, Repair Head 컨트롤 Box, Align 모니터, Line Generator, 광섬유, UPS 등으로 구성된다.
점등검사장치를 통하여 셀 결함의 발견 시 이의 수리를 위한 수리장치의 작동은 먼저 PC를 통하여 레이저의 출력, 주사시간, 주사횟수 등의 레이저 주사조건을 설정하고 Repair Head에 부착된 카메라와 Align 모니터, Line Generator, Repair Head 컨트롤 Box를 이용하여 정확한 수리위치에 Repair Head의 레이저 주사기를 위치시키고 Power Supply와 레이저 발생장치를 작동시켜 원하는 수리위치에레이저를 주사하게 함으로서 셀 결함의 수리가 이루어지게 된다.
이상에서 상술한 바와같이 본 발명은, AC형 PDP의 제조과정에서 발생하는 치명적인 결함을 레이저를 이용하여 치명적이지 않은 결함으로 바꿈으로서 PDP의 표시품질을 향상시키고 패널의 제조 양품율을 크게 개선할 수 있는 것이다.

Claims (4)

  1. PDP 패널 완제품의 품질검사를 하는 점등 검사 장치와 상기 검사장치에 장착된 레이저 빔을 조사 장치, 상기 레이저 빔을 발생시키는 레이저 발생장치, 상기 레이저 조사장치와 레이저 발생장치를 제어하는 Control Box, 레이저빔을 상기 패널 셀에 정확기 맞추기 위한 Lins Generator로 구성된 것을 특징으로 하는 PDP 셀 결함 수리 장치
  2. 제1항에 있어서,
    상기 레이저 빔 조사 장치는 패널에 레이저를 직접 조사하는 Repair Head와 레이저 발생장치에서 발생된 레이저 빔을 Repair Head까지 전송하는 광섬유로 이루어진 것을 특징으로 하는 PDP 셀 결함 장치
  3. 제 1항의 PDP 셀 결함 장치를 이용하여 레이저의 조사로 결함이 발견된 셀의 발광을 이루게 하는 모든 구성요소나 그 일부를 파괴하여 셀의 결함을 수리하는 PDP 셀 결함 수리 방법
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 셀의 발광을 이루는 구성요소는 투명전극, BUS 전극, 유전체, MgO, 형광체, 격벽, Address 전극 인 것을 특징으로 하는 셀 결함 수리 방법
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100450194B1 (ko) * 2002-05-06 2004-09-24 삼성에스디아이 주식회사 플라즈마 디스플레이 패널용 점등검사 및 리페어 장치
KR100767142B1 (ko) * 2004-09-22 2007-10-15 캐논 가부시끼가이샤 전자선장치의 제조방법
CN103282925A (zh) * 2010-12-22 2013-09-04 英特尔公司 在上载到因特网网站的多媒体中保护用户隐私的系统和方法
CN103700560A (zh) * 2013-12-26 2014-04-02 四川虹欧显示器件有限公司 利用激光对pdp显示屏明、亮点缺陷进行修复的方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990074057A (ko) * 1998-03-06 1999-10-05 구자홍 Pdp결함 수선 장치
JPH11273572A (ja) * 1998-03-25 1999-10-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd プラズマディスプレイパネルの製造方法
JP2000031013A (ja) * 1998-07-10 2000-01-28 Omron Corp 回路パターンの修復方法及び装置、並びに、回路パターン修復用転写板
KR200274554Y1 (ko) * 2001-07-03 2002-05-06 주식회사 투엠테크 미세패턴 검사장치가 탑재된 레이저 미세패턴 수정기기
KR20020067185A (ko) * 2001-02-15 2002-08-22 주식회사 이오테크닉스 플라즈마 디스플레이 패널의 불량 셀 보수 방법 및 이를위한 레이저 가공 장치

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990074057A (ko) * 1998-03-06 1999-10-05 구자홍 Pdp결함 수선 장치
JPH11273572A (ja) * 1998-03-25 1999-10-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd プラズマディスプレイパネルの製造方法
JP2000031013A (ja) * 1998-07-10 2000-01-28 Omron Corp 回路パターンの修復方法及び装置、並びに、回路パターン修復用転写板
KR20020067185A (ko) * 2001-02-15 2002-08-22 주식회사 이오테크닉스 플라즈마 디스플레이 패널의 불량 셀 보수 방법 및 이를위한 레이저 가공 장치
KR200274554Y1 (ko) * 2001-07-03 2002-05-06 주식회사 투엠테크 미세패턴 검사장치가 탑재된 레이저 미세패턴 수정기기

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100450194B1 (ko) * 2002-05-06 2004-09-24 삼성에스디아이 주식회사 플라즈마 디스플레이 패널용 점등검사 및 리페어 장치
KR100767142B1 (ko) * 2004-09-22 2007-10-15 캐논 가부시끼가이샤 전자선장치의 제조방법
US7507134B2 (en) 2004-09-22 2009-03-24 Canon Kabushiki Kaisha Method for producing electron beam apparatus
CN103282925A (zh) * 2010-12-22 2013-09-04 英特尔公司 在上载到因特网网站的多媒体中保护用户隐私的系统和方法
CN103282925B (zh) * 2010-12-22 2016-08-10 英特尔公司 在上载到因特网网站的多媒体中保护用户隐私的系统和方法
CN103700560A (zh) * 2013-12-26 2014-04-02 四川虹欧显示器件有限公司 利用激光对pdp显示屏明、亮点缺陷进行修复的方法

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