KR20030018627A - 반도체기억장치용 위상비교기 및 그 제어방법 - Google Patents
반도체기억장치용 위상비교기 및 그 제어방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20030018627A KR20030018627A KR1020010052842A KR20010052842A KR20030018627A KR 20030018627 A KR20030018627 A KR 20030018627A KR 1020010052842 A KR1020010052842 A KR 1020010052842A KR 20010052842 A KR20010052842 A KR 20010052842A KR 20030018627 A KR20030018627 A KR 20030018627A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- clock signal
- control signal
- phase comparison
- generating means
- shift
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 17
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims abstract description 53
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 claims abstract description 30
- 230000001934 delay Effects 0.000 claims abstract description 6
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims abstract description 6
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims description 48
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 19
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
- G11C7/222—Clock generating, synchronizing or distributing circuits within memory device
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1072—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/13—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
- H03K5/135—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals by the use of time reference signals, e.g. clock signals
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Dram (AREA)
- Pulse Circuits (AREA)
Abstract
Description
Claims (12)
- 기준클럭신호와 위상비교입력클럭신호를 입력으로 받아들여 상기 기준클럭신호와 상기 위상비교입력클럭신호가 입력되었음을 검출하고, 입력확인펄스를 발생시키는 입력확인펄스발생수단;상기 기준클럭신호와 상기 위상비교입력클럭신호를 이용하여 쉬프트레프트제어신호를 발생시키기 위하여 상기 기준클럭신호, 상기 위상비교입력클럭신호 및 상기 입력확인펄스를 입력으로 받아들이는 쉬프트레프트제어신호발생수단;상기 위상비교입력클럭신호를 단위시간 지연시킨 제1 단위시간지연된 위상비교입력클럭신호와 상기 기준클럭신호를 이용하여 쉬프트라이트제어신호를 발생시키기 위하여 상기 기준클럭신호, 상기 위상비교입력클럭신호 및 상기 입력확인펄스를 입력으로 받아들이는 쉬프트라이트제어신호발생수단;상기 위상비교입력클럭신호를 소정 단위시간 지연시킨 제2 단위시간지연된 위상비교입력클럭신호와 상기 기준클럭신호 및 상기 입력확인펄스를 이용하여 확장된 쉬프트 라이트 제어신호를 발생시키기 위하여 상기 제2 단위시간지연된 위상비교입력클럭신호, 상기 기준클럭신호 및 상기 입력확인펄스를 입력으로 받아들이는 확장쉬프트라이트제어신호발생수단;상기 위상비교입력클럭신호와 상기 기준클럭신호를 소정 단위시간 지연시킨 단위시간지연된 기준클럭신호 및 상기 입력확인펄스를 이용하여 확장된 쉬프트 레프트 제어신호를 발생시키기 위하여 상기 위상비교입력클럭신호, 상기 단위시간지연된 기준클럭신호 및 상기 입력확인펄스를 입력으로 받아들이는 확장쉬프트레프트제어신호발생수단; 및최초 록-인 신호를 제어신호로 사용하여 최초 록-인 전에는 상기 쉬프트레프트제어신호발생수단의 출력단 및 상기 쉬프트라이트제어신호발생수단의 출력단에서 발생되는 쉬프트용 제어신호를 선택하여 출력하고, 최초 록-인 후에는 상기 확장쉬프트레프트제어신호발생수단의 출력단 및 상기 확장쉬프트라이트제어신호발생수단의 출력단에서 발생되는 쉬프트용 제어신호를 선택하여 출력하도록 상기 쉬프트레프트제어신호발생수단의 출력단, 상기 쉬프트라이트제어신호발생수단의 출력단, 상기 확장쉬프트레프트제어신호발생수단의 출력단 및 상기 확장쉬프트라이트제어신호발생수단의 출력단을 입력으로 받아들이는 쉬프트용제어신호선택수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체기억장치용 위상비교기.
- 제1항에 있어서, 상기 확장쉬프트라이트제어신호발생수단은,상기 위상비교입력클럭신호를 소정 단위지연시간만큼 지연시키기 위하여 소정시간지연수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체기억장치용 위상비교기.
- 제2항에 있어서, 상기 소정시간지연수단은,상기 위상비교입력클럭신호의 라인과 직렬연결된 2개의 인버터 및 상기 직렬연결된 2개의 인버터 사이에 입력단이 연결되고 출력단은 플로팅된 1개의 인버터로 구성된 것을 특징으로 하는 반도체기억장치용 위상비교기.
- 제2항에 있어서, 상기 소정시간지연수단은,하나의 인버터와 하나의 낸드 게이트로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체기억장치용 위상비교기.
- 제1항에 있어서, 상기 확장쉬프트레프트제어신호발생수단은,상기 기준클럭신호를 소정 단위지연시간만큼 지연시키기 위하여 소정시간지연수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체기억장치용 위상비교기.
- 제5항에 있어서, 상기 소정시간지연수단은,상기 위상비교입력클럭신호의 라인과 직렬연결된 2개의 인버터 및 상기 직렬연결된 2개의 인버터 사이에 입력단이 연결되고 출력단은 플로팅된 1개의 인버터로 구성된 것을 특징으로 하는 반도체기억장치용 위상비교기.
- 제5항에 있어서, 상기 소정시간지연수단은,하나의 인버터와 하나의 낸드 게이트로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체기억장치용 위상비교기.
- 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서,상기 기준클럭신호의 라이징 엣지보다 상기 단위시간지연된 위상비교입력클럭신호의 라이징 엣지가 뒤지고, 상기 단위시간지연된 기준클럭신호의 라이징 엣지보다 상기 위상비교입력클럭신호의 라이징 엣지가 앞서게 되는 경우, 록-인되는 것을 특징으로 하는 반도체기억장치용 위상비교기.
- 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서,상기 기준클럭신호의 라이징 엣지보다 상기 단위시간지연된 위상비교입력클럭신호의 라이징 엣지가 뒤지고, 상기 단위시간지연된 기준클럭신호의 라이징 엣지보다 상기 위상비교입력클럭신호의 라이징 엣지가 앞서게 되는 경우, 상기 확장쉬프트라이트제어신호발생수단의 출력단 및 상기 확장쉬프트레프트제어신호발생수단의 출력단 상태를 전이시키는 것을 특징으로 하는 반도체기억장치용 위상비교기.
- 최초 록-인 전에는 상기 쉬프트레프트제어신호발생수단의 출력단 및 상기 쉬프트라이트제어신호발생수단의 출력단에서 발생되는 쉬프트용 제어신호를 선택하여 출력하는 제1 단계; 및최초 록-인 후에는 확장쉬프트레프트제어신호발생수단의 출력단 및 확장쉬프트라이트제어신호발생수단의 출력단에서 발생되는 쉬프트용 제어신호를 선택하여 출력하는 제2 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체기억장치용 위상비교기의 제어방법.
- 제10항에 있어서, 상기 제2 단계는,기준클럭신호의 라이징 엣지보다 단위시간지연된 위상비교입력클럭신호의 라이징 엣지가 뒤지고, 단위시간지연된 기준클럭신호의 라이징 엣지보다 위상비교입력클럭신호의 라이징 엣지가 앞서게 되는 경우, 록-인 신호를 발생시키는 제3 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체기억장치용 위상비교기의 제어방법.
- 제10항에 있어서, 상기 제2 단계는,기준클럭신호의 라이징 엣지보다 단위시간지연된 위상비교입력클럭신호의 라이징 엣지가 뒤지고, 단위시간지연된 기준클럭신호의 라이징 엣지보다 위상비교입력클럭신호의 라이징 엣지가 앞서게 되는 경우, 상기 확장쉬프트라이트제어신호발생수단의 출력단 및 상기 확장쉬프트레프트제어신호발생수단의 출력단 상태를 전이시키는 제3 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체기억장치용 위상비교기의 제어방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2001-0052842A KR100422583B1 (ko) | 2001-08-30 | 2001-08-30 | 반도체기억장치용 위상비교기 및 그 제어방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2001-0052842A KR100422583B1 (ko) | 2001-08-30 | 2001-08-30 | 반도체기억장치용 위상비교기 및 그 제어방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20030018627A true KR20030018627A (ko) | 2003-03-06 |
KR100422583B1 KR100422583B1 (ko) | 2004-03-12 |
Family
ID=27721593
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2001-0052842A Expired - Fee Related KR100422583B1 (ko) | 2001-08-30 | 2001-08-30 | 반도체기억장치용 위상비교기 및 그 제어방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100422583B1 (ko) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100807116B1 (ko) * | 2006-10-31 | 2008-02-26 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 고정 루프 |
KR100857437B1 (ko) * | 2007-03-08 | 2008-09-10 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 집적 회로의 클럭 테스트 장치 및 방법 |
US7710102B2 (en) | 2007-03-08 | 2010-05-04 | Hynix Semiconductor Inc. | Clock test apparatus and method for semiconductor integrated circuit |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6005426A (en) * | 1998-05-06 | 1999-12-21 | Via Technologies, Inc. | Digital-type delay locked loop with expanded input locking range |
KR100305646B1 (ko) * | 1998-05-29 | 2001-11-30 | 박종섭 | 클럭보정회로 |
JP3523069B2 (ja) * | 1998-06-30 | 2004-04-26 | 株式会社東芝 | 遅延型位相同期回路 |
-
2001
- 2001-08-30 KR KR10-2001-0052842A patent/KR100422583B1/ko not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100807116B1 (ko) * | 2006-10-31 | 2008-02-26 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 고정 루프 |
US7902889B2 (en) | 2006-10-31 | 2011-03-08 | Hynix Semiconductor Inc. | Delay locked loop |
KR100857437B1 (ko) * | 2007-03-08 | 2008-09-10 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 집적 회로의 클럭 테스트 장치 및 방법 |
US7710102B2 (en) | 2007-03-08 | 2010-05-04 | Hynix Semiconductor Inc. | Clock test apparatus and method for semiconductor integrated circuit |
TWI402858B (zh) * | 2007-03-08 | 2013-07-21 | Hynix Semiconductor Inc | 用於半導體積體電路之時脈測試設備及方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100422583B1 (ko) | 2004-03-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6975149B2 (en) | Method and circuit for adjusting the timing of output data based on an operational mode of output drivers | |
KR100399941B1 (ko) | 디디알 에스디램의 레지스터 제어 지연고정루프 | |
US7649390B2 (en) | Delay locked loop for high speed semiconductor memory device | |
US6836166B2 (en) | Method and system for delay control in synchronization circuits | |
KR100437611B1 (ko) | 혼합형 지연 록 루프 회로 | |
KR100537196B1 (ko) | 반도체 기억 소자에서의 지연 고정 루프 및 그의 클럭록킹 방법 | |
US7449927B2 (en) | Delay locked loop circuit | |
US7612591B2 (en) | DLL circuit of semiconductor memory apparatus and method of delaying and locking clock in semiconductor memory apparatus | |
KR100733471B1 (ko) | 반도체 기억 소자의 지연 고정 루프 회로 및 그 제어 방법 | |
US20080094116A1 (en) | Clock generating circuit with multiple modes of operation | |
US7629822B2 (en) | Delay locked loop in semiconductor memory device and method for generating divided clock therein | |
US6388482B1 (en) | DLL lock scheme with multiple phase detection | |
US7215596B2 (en) | Circuit and method for controlling inversion of delay locked loop and delay locked loop and synchronous semiconductor memory device using the same | |
KR100543460B1 (ko) | 지연동기루프회로 | |
KR100518547B1 (ko) | 출력 드라이버의 구동력 변화에 따른 내부클락신호의지연을 보상할 수 있는 반도체 메모리 장치의 지연동기루프 | |
US7952406B2 (en) | Delay locked loop circuit | |
KR100550633B1 (ko) | 반도체 기억 소자의 지연 고정 루프 및 그의 제어 방법 | |
KR100422583B1 (ko) | 반도체기억장치용 위상비교기 및 그 제어방법 | |
KR20040023838A (ko) | 레지스터 제어 지연고정루프 | |
KR20030049303A (ko) | 레지스터 제어형 지연고정루프회로 | |
KR20010064098A (ko) | 아날로그 지연기를 부착시킨 디지털 지연고정루프 | |
KR100801740B1 (ko) | 지연고정루프 제어회로 | |
KR20080035367A (ko) | 반도체 메모리 장치의 지연고정루프 | |
KR20060063224A (ko) | 반도체 기억 소자에서의 레지스터 제어형 지연 고정 루프 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20010830 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20040225 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20040302 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20040303 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20070221 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20080222 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20090223 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20100224 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20110222 Year of fee payment: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20110222 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |