KR200294149Y1 - 테스트 소켓 고정장치 - Google Patents

Abstract

본 고안은 별도의 고정 플레이트를 통해 테스트 소켓을 PCB의 정위치로 고정할 수 있도록 함으로써 직접적으로 테스트 소켓과 PCB를 고정시키지 않고도 테스트 소켓을 PCB의 정위치로 고정할 수 있도록 한 테스트 소켓 고정장치를 제공한다.

이는 그 상부에는 디바이스 안착부의 좌우 양측으로 돌출된 받침부가 형성되고, 상기 받침부에는 복수개의 고정핀 삽입홈이 형성된 테스트 소켓; 상기 테스트 소켓의 디바이스 안착부에 대응되는 위치에 반도체 디바이스의 출입을 위한 디바이스 출입홈이 형성됨과 더불어 상기 테스트 소켓의 고정핀 삽입홈에 대응되는 위치에 나사홀이 형성된 고정 플레이트; 상기 고정 플레이트의 나사홀 및 상기 테스트 소켓의 고정핀 삽입홈에 삽입되어 상기 테스트 소켓과 고정 플레이트를 고정하는 고정핀을 구비함에 의해 달성될 수 있으며, 이러한 본 고안은 직접적으로 테스트 소켓과 PCB를 고정시키지 않고도 테스트 소켓을 PCB의 정위치로 고정할 수 있게 되므로 테스트 소켓의 PCB 정위치로의 고정에 의한 PCB 손상을 방지할 수 있게 된다.

Description

테스트 소켓 고정장치{ALIGNMENT APPARATUS FOR TEST SOCKET}

본 고안은 테스트 소켓 고정장치에 관한 것으로, 특히 반도체 디바이스 특성 테스트용 소켓이 PCB에 정위치로 고정될 수 있도록 하는 테스트 소켓 고정장치에 관한 것이다.

일반적으로 반도체 디바이스의 조립 공정 후에 내부 회로의 특성이나 신뢰성을 검사하기 위해 테스트 소켓이 사용된다.

도 1은 일반적인 테스트 소켓을 도시한 것으로, 테스트 소켓(10)의 도시하지 않은 핀 홀더에는 반도체 디바이스(1)와 PCB 접촉패드(21)와의 전기적 접촉을 위한 콘택터(11)가 삽입되어 있고, 테스트 소켓(10)의 하부에는 PCB(20)와 정위치 할 수 있도록 가이드핀 삽입부(12)가 형성되어, 가이드핀 삽입부(12)의 가이드핀 홀더를 통해 가이드핀(13)이 삽입되어 PCB(20)에 테스트 소켓(10)이 정위치로 고정될 수 있도록 하고 있다.

이와 같이, 종래는 테스트 소켓(10)이 PCB(20)와 정위치로 고정될 수 있도록 하기 위해 테스트 소켓(10)과 PCB(20)를 가이드핀(13)을 이용하여 직접적으로 고정하므로 PCB(20)상에 가이드 핀(13)을 위치시키기 위해서는 PCB(20) 자체에 수정을 가하여야 하므로 작업 능률이 그만큼 떨어지는 단점이 있다.

따라서 본 고안은 이러한 점을 감안한 것으로, 본 고안은 별도의 고정 플레이트를 통해 테스트 소켓을 PCB의 정위치로 고정할 수 있도록 함으로써 직접적으로테스트 소켓과 PCB를 고정시키지 않고도 테스트 소켓을 PCB의 정위치로 고정할 수 있도록 한 테스트 소켓 고정장치를 제공함에 그 목적이 있다.

도 1은 일반적인 반도체 디바이스 테스트 소켓을 나타낸 도.

도 2는 본 고안에 따른 테스트 소켓 고정장치의 분해 사시도.

도 3은 본 고안의 단면도이다.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>

1 : 반도체 디바이스 20 : PCB

21 : PCB 접촉패드 30 : 테스트 소켓

31 : 콘택터 32 : 디바이스 안착부

33 : 받침부 34 : 고정핀 삽입홈

40 : 고정 플레이트 41 : 디바이스 출입홈

42 : 나사홀 50 : 고정핀

51 : 제1삽입기둥 52 : 제2삽입기둥

53 : 체결홈

상기 목적을 달성하기 위한 본 고안에 따른 테스트 소켓 고정장치는, 그 상부에는 디바이스 안착부의 좌우 양측으로 돌출된 받침부가 형성되고, 상기 받침부에는 복수개의 고정핀 삽입홈이 형성된 테스트 소켓; 상기 테스트 소켓의 디바이스 안착부에 대응되는 위치에 반도체 디바이스의 출입을 위한 디바이스 출입홈이 형성됨과 더불어 상기 테스트 소켓의 고정핀 삽입홈에 대응되는 위치에 나사홀이 형성된 고정 플레이트; 상기 고정 플레이트의 나사홀 및 상기 테스트 소켓의 고정핀 삽입홈에 체결되어 상기 테스트 소켓과 고정 플레이트를 고정하는 고정핀으로 구성됨을 특징으로 한다.

이하, 본 고안을 첨부된 도면을 참조로 보다 상세히 설명한다.

도 2는 본 고안에 따른 테스트 소켓 고정장치의 분해 사시도이고, 도 3은 본 고안의 단면도이다.

이에 도시한 바와 같이, 그 상부에는 디바이스 안착부(32)의 좌우 양측으로 돌출된 받침부(33)가 형성되고, 상기 받침부(33)에는 고정핀 삽입홈(34)이 형성된 테스트 소켓(30), 상기 테스트 소켓(30)의 디바이스 안착부(32)에 대응되는 위치에 반도체 디바이스(1)의 출입을 위한 디바이스 출입홈(41)이 형성되고, 상기 고정핀 삽입홈(34)에 대응되는 위치에 나사홀(42)이 형성된 고정 플레이트(40), 상기 고정플레이트(40)의 나사홀(42) 및 상기 테스트 소켓(30)의 고정핀 삽입홈(34)에 체결되어 상기 테스트 소켓(30)과 고정 플레이트(40)를 고정하는 고정핀(50)으로 구성된다.

여기서, 상기 테스트 소켓(30)은 반도체 디바이스(1)와 PCB 접촉패드(21)와의 전기적 접촉을 위한 콘택터(31)가 도시하지 않은 핀 홀더에 삽입되어 있으며, 상기 고정핀(50)은 상기 고정 플레이트(40)의 나사홀(42)과 나사결합 하도록 그 외측 둘레에 나사산이 형성된 원기둥 형태의 제1삽입기둥(51)의 하부에 상기 제1삽입기둥(51)보다 직경이 좁은 원기둥 형태의 제2삽입기둥(52)이 상기 테스트 소켓(30)의 고정핀 삽입홈(34)에 체결될 수 있도록 소정길이로 형성되고, 그 상측면에는 체결을 위한 체결홈(53)이 형성된다.

상기와 같이 구성된 본 고안은 테스트 소켓(30)의 콘택터(31)가 PCB 접촉패드(21)에 위치하도록 테스트 소켓(30)을 PCB(20)에 위치시킨 상태에서, 테스트 소켓(30)의 상측에 상기 고정 플레이트(40)를 위치시킨다. 이때, 상기 고정 플레이트(40)의 나사홀(42)이 테스트 소켓(30)의 좌우 양측에 형성된 받침부(33)의 고정핀 삽입홈(34) 상측에 위치하도록 한다.

그리고 상기 고정 플레이트(40)의 상측에서 고정 플레이트(40)의 나사홀(42)과 테스트 소켓(30)의 고정핀 삽입홈(34)에 고정핀(50)을 체결하여 고정 플레이트(40)에 의해 테스트 소켓(30)이 고정되도록 한다.

물론, 고정 플레이트(40)에 의해 테스트 소켓(30)이 고정되도록 하기 위해서 상기 고정 플레이트(40)는 도시하지 않은 테스트 장비의 소정부위에 고정되어야만한다. 왜냐 하면, 상기 테스트 소켓(30)과 고정 플레이트(40)를 고정핀(50)으로 고정한다고 하여 테스트 소켓(30)이 고정되는 것이 아니고, 고정 플레이트(40)가 어딘가에 고정이 되어 있어야 상기 테스트 소켓(30)도 고정 플레이트(40)에 의해 고정될 수 있기 때문이다.

예를 들어, 고정 플레이트(40)가 테스트 장비의 소정 커버 등에 고정되어 이 커버의 닫힘동작으로 고정 플레이트(40)가 상기 테스트 소켓(30)의 상측에 위치할 수 있도록 할 수 있으며, 이러한 상태에서 고정핀(50)을 이용하여 고정 플레이트(40)와 테스트 소켓(30)을 고정하여 테스트 소켓(30)이 움직이지 않고 PCB(20)에 정위치 할 수 있도록 한다.

이와 같이 고정된 상태에서 상기 고정 플레이트(40)의 디바이스 출입홈(41)을 통해 반도체 디바이스(1)가 테스트 소켓(30)의 디바이스 안착부(32)에 장착되어 테스트가 이루어질 수 있게 되며, 테스트 소켓(30)이 고정 플레이트(40)에 의해 고정되어 PCB(20)에 정위치 할 수 있게 되므로 신뢰성 있는 테스트가 이루어질 수 있게 된다.

이상에서 설명한 바와 같이 본 고안은, 별도의 고정 플레이트를 통해 테스트 소켓을 PCB의 정위치로 고정할 수 있도록 함으로써 직접적으로 테스트 소켓과 PCB를 고정시키지 않고도 테스트 소켓을 PCB의 정위치로 고정할 수 있게 되므로 굳이 PCB에 수정을 가하지 않아도 된다.

그러므로, PCB에 수정을 가하지 않는 상태에서도 이미 상품화되어 있는 소켓을 그대로 이용하여 테스트 장치를 구성할 수 있으므로, 비용 절감은 물론 작업 능률이 향상되는 효과가 있다.

Claims (2)

1. 그 상부에는 디바이스 안착부의 좌우 양측으로 돌출된 받침부가 형성되고, 상기 받침부에는 복수개의 고정핀 삽입홈이 형성된 테스트 소켓;

   상기 테스트 소켓의 디바이스 안착부에 대응되는 위치에 반도체 디바이스의 출입을 위한 디바이스 출입홈이 형성됨과 더불어 상기 테스트 소켓의 고정핀 삽입홈에 대응되는 위치에 나사홀이 형성된 고정 플레이트;

   상기 고정 플레이트의 나사홀 및 상기 테스트 소켓의 고정핀 삽입홈에 체결되어 상기 테스트 소켓과 고정 플레이트를 고정하는 고정핀으로 구성됨을 특징으로 하는 테스트 소켓 고정장치.
2. 반도체 테스트 소켓을 PCB의 정위치로 고정하기 위한 고정부재를 구비하는 테스트 소켓 고정장치에 있어서,

   상기 고정부재는 그 외측 둘레에 나사산이 형성된 원기둥 형태의 제1삽입기둥 하부에 상기 제1삽입기둥보다 직경이 좁은 원기둥 형태의 제2삽입기둥이 소정 길이로 형성되며, 그 상측면에는 체결을 위한 체결홈이 형성된 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 고정장치.