KR200258748Y1

KR200258748Y1 - Ball type SPRING CONTACT BIOS PIN PROBE

Info

Publication number: KR200258748Y1
Application number: KR2020010029886U
Authority: KR
Inventors: 김홍섭
Original assignee: (주)대양기전
Priority date: 2001-09-27
Filing date: 2001-09-27
Publication date: 2001-12-29

Abstract

본 고안은 인쇄회로기판의 기능 검사용으로 사용되는 볼 타입 스프링 콘텍트 바이어스 핀 프로브에 관한 것이다.The present invention relates to a ball type spring contact bias pin probe used for functional test of a printed circuit board.

인쇄회로 전자기판의 전자소자 삽입 및 납땜 유무를 검사하는 인쇄회로기판 기능측정기의 핵심 소자인 측정 핀 프로브에 있어서, 상기 측정 프로브는 초소형의 조립구조물로서 접촉자인 플런저의 끝단이 날카로운 선단을 형성하고 이 선단에 접촉된 전기소자의 통전 유무를 핀 프로브를 통과하는 전류 저항값으로 측정하는데 있어서, 수십만회의 동작 후에도 핀 프로브의 동작저항과 전기저항을 최소화시키는 구조로서 플런지의 뒷 단이 둥근 볼과 날카로운 선단구조로 접촉되는 것을 특징으로 한다.In the measuring pin probe, which is a key element of the functional measuring device of the printed circuit board which checks the insertion and soldering of the electronic element of the printed circuit electromagnetic plate, the measuring probe is a micro-assembly structure, and the tip of the plunger, which is the contactor, forms a sharp tip. The electric resistance contacting the tip is measured by the current resistance value passing through the pin probe, and it is a structure that minimizes the operating resistance and electrical resistance of the pin probe even after hundreds of thousands of operations. It is characterized in that the contact with the tip structure.

상기와 같이 이루어지는 본 고안의 볼 타입 스프링 콘텍트 바이어스 핀 프로브는, 수십만회를 반복 사용하더라도 플런저가 몸통내부를 움직일 때 볼이 항상 사방으로 접촉하여 편측 마모를 방지하여 동작저항을 초기상태로 유지시켜 주므로 접촉저항도 감소시켜 측정의 능률향상과 수명연장에 탁월한 효과를 발휘할 수 있다.Since the ball type spring contact bias pin probe of the present invention made as described above is used in hundreds of thousands of times, the ball always contacts in all directions when the plunger moves inside the body, thereby preventing one-sided wear and thus maintaining the operating resistance to an initial state. The contact resistance is also reduced, which is an excellent effect on improving the measurement efficiency and extending the life.

Description

Ball type spring contact bias pin probe {ball type SPRING CONTACT BIOS PIN PROBE}

본 고안은 인쇄회로기판의 측정에 사용되는 볼 타입 스프링 콘텍트 바이어스 핀 프로브에 관한 것이다.The present invention relates to a ball type spring contact bias pin probe used for the measurement of a printed circuit board.

핀 프로브란 인쇄회로기판에 전자부품이 삽입 또는 납땜한 후, 이 작업의 품질 상태를 측정하는 인쇄회로기판 테스트기의 접촉소자로서 인쇄회로기판의 부품A pin probe is a contact element of a printed circuit board tester that measures the quality of this work after the electronic component is inserted or soldered to the printed circuit board.

또는 납땜부위에 직접 접촉되어 인쇄회로기판과 테스트기사이의 전기저항을 측정하여 인쇄회로기판이 양호한지 또는 불량인지를 판정해주는 핵심부품으로서 초소형의 핀형 구조이고, 동작 부위는 스프링으로 지지되어 움직일 수 있으며 전기저항을 최소화 시키기 위하여 보든 부품은 전기저항이 아주 낮고 표면강도도 높는 금 또는 로듐 등의 고가의 귀금속으로 도금이 되어 수십만회의 반복 동작에도 적정한 동작압력과 최소화된 전기저항값을 유지하고 접촉자인 플런저의 끝단도 날카로운 선단을 유지시킬 수 있는 구조로 된 부품을 말한다.Or it is a key part that determines whether the printed circuit board is good or bad by measuring the electrical resistance between the printed circuit board and the tester by being in direct contact with the soldering part. It is a miniature pin-shaped structure, and the operating part is supported by a spring and can be moved. In order to minimize the electrical resistance, all parts are plated with expensive precious metals such as gold or rhodium, which have very low electrical resistance and high surface strength, so that the proper operating pressure and the minimum electrical resistance value are maintained even after hundreds of thousands of repeated operations. The tip of the part is also a part that is structured to keep the sharp tip.

종래의 일반적인 핀 프로브는 도 3에 도시한 바와 같이, 플런저(4)와 몸통(2)내부를 동작하기 위한 미세한 틈새가 존재하므로 플런저와 몸통사이의 접촉이 불안정하여 접촉저항이 커지는 단점이 있으므로, 이러한 내부의 접촉저항을 줄이기 위해 플런저가 동작할 때 몸통내부에서 편측으로 밀려서 움직이면 항상 한쪽은 완전 금속 접촉상태가 되어 접촉전기저항을 줄여주는 형태로 개발된 것이 그림 4에 도시된 것과 같이 경사 핀 타입 형태의 바이어스 핀 프로브이고, 이 바이어스핀 프로브는 초기에는 편측으로 접촉함으로서 접촉에 따른 전기저항이 적어서 효과적일 수 있지만, 핀 프로브가 수천번 작동하면 편측으로만 접촉하는 특성상 편 마모 현상이 발생하여 마모된 부위의 마찰저항이 아주 높아져 기계적인 동작저항이 크게 증가하여 플런저의 끝단이 측정제품에 접촉되지 못하여 측정을 할 수 없게 되는 현상이 초래 되었고, 접촉동작저항이 증가함으로서, 플런저에 도금된 고 강도의 로듐 층에 의해 몸통내부의 금도금이 쉽게 마모되어 전기저항이 오히려 증가하는 현상이 생기고, 이에 따라 오동작 및 오측정의 오류가 빈번히 발생하는 문제가 크게 나타나고 있다, 종래의 바이어스 핀 프로브는 이러한 문제점을 해결하기 위해 그림5에 도시된 것과 같이 경사 볼 타입의 바이어스 핀 프로브도 추가 개발되었으나 약간의 성능개선은 이루어졌으나 근본적인 편측 마모 문제는 해결하지 못하고 있으며, 대안으로서 내부의 금도금 두께를 두껍게 한다 던지, 표면을 더욱 매끄럽게하여 기계적 저항을 줄이거나 하는 기술적인 방법이 적용되고 있으나, 이러한 방법들은 제조원가를 크게 상승시켜 가격경쟁력이 떨어져서 점차 수요가 줄고있는 문제가 발생하고 있었다.Since the conventional general pin probe has a small gap for operating the inside of the plunger 4 and the torso 2 as shown in FIG. 3, the contact between the plunger and the torso is unstable, resulting in a large contact resistance. In order to reduce the internal contact resistance, when the plunger is moved to the one side from the inside of the body when moving, it is always in the form of a metal contact to reduce the contact electrical resistance as shown in Figure 4 This bias pin probe is a type of bias pin probe, and the bias pin probe is initially in contact with one side, so it may be effective because the electrical resistance according to the contact is small. The frictional resistance of the damaged part is very high, and the mechanical operating resistance is greatly increased. This resulted in not being able to contact the measuring product and making it impossible to measure. As the contact resistance increased, the high-strength rhodium layer plated on the plunger easily worn the gold plating inside the body, and the electrical resistance increased. As a result, there is a large problem of frequent malfunctions and errors in measurement. The conventional bias pin probe also adds an inclined ball type bias pin probe as shown in Fig. 5 to solve this problem. Although it has been developed, some performance improvements have been made, but the fundamental one-side wear problem has not been solved. As an alternative, a technical method of increasing the thickness of the internal gold plating or smoothing the surface to reduce mechanical resistance has been applied. The methods raise the cost of manufacturing significantly The power was off and the problem that is gradually declining demand.

본 고안은 상기의 문제점을 해소하고자 창출한 것으로서, 핀 프로브의 플런저의 뒷단을 선단 구조로 만들고 이 선단이 둥근 볼과 스프링 힘으로 접촉하는 구조로 함으로서, 플런저가 동작하면 뒷단이 둥근 볼을 눌러서 아무방향이나 편측으로 금속접촉이 일어나게 하여 전기접촉저항을 최소화시키고, 다음 동작에서는 뒷단이 등근 볼을 누를 때 방향이 다른 곳이 되어 앞에 접촉한 곳이 아닌 구면의 다른부위에서 금속 접촉이 일어나게 하는 구조를 가지도록 하여서, 다음동작 할 때마다 항상 둥근볼이 다른 방향으로 움직이게 됨으로서 종래 방식의 편 접촉을 완전히 없앨 수 있게 되었고, 바이어스 핀 프로브의 기본 목적인 한쪽방향의 금속 접촉을 유지하면서 동작수명이 다할 때까지 접촉저항이 더 이상 커지지 않도록 하여 종래의 경제적인 도금기술수준을 유지하면서도 편 마모에 따른 동작 불량도 완전히 제거한 새로운 구조의 인쇄회로기판 측정용 볼 타입 스프링 콘텍트 바이어스 핀 프로브를 제공함에 목적이 있다.The present invention was created in order to solve the above problems, the rear end of the plunger of the pin probe to the front end structure and the end of the structure to contact with the round ball and the spring force, when the plunger is operated by pressing the round ball at the rear end The metal contact occurs in the direction or one side to minimize the electrical contact resistance, and in the next operation, when the back end presses the isometric ball, the direction becomes different and the metal contact occurs at the other part of the sphere instead of the contact area in front. Each time the next operation, the round ball always moves in the other direction, which completely eliminates the conventional one-way contact, and maintains the metal contact in one direction, which is the basic purpose of the bias pin probe, until the end of service life. Conventional economical plating technology by preventing contact resistance from increasing The aim is to provide a ball-type spring contact bias pin probe for the measurement of printed circuit boards that maintains the level and completely eliminates the malfunction caused by piece wear.

도 1은 본 고안의 일 실시 예에 따른 볼 타입 스프링 콘텍트 바이어스 핀 프로브를 개략적으로 도시한 내부구조도.1 is a schematic internal view of a ball type spring contact bias pin probe according to an embodiment of the present invention;

도 2는 본 고안의 실시 예에 따른 볼 타입 스프링 콘텍트 바이어스 핀 프로브의 내부 동작 구조를 표시하는 상태도.Figure 2 is a state diagram showing the internal operating structure of the ball type spring contact bias pin probe according to an embodiment of the present invention.

도 3은 본 고안에 속하는 기술 분야의 종래의 기술로서 경사핀형 스프링 콘텍트 바이어스 핀 프로브의 내부구조를 설명하기 위하여 도시한 상태도.Figure 3 is a state diagram for explaining the internal structure of the inclined pin-type spring contact bias pin probe as a conventional technique in the technical field of the present invention.

도 4는 본 고안에 속하는 기술 분야의 종래의 기술로서 경사볼형 스프링 콘텍트 바이어스 핀프로브의 내부구조를 설명하기 위하여 도시한 상태도.Figure 4 is a state diagram for explaining the internal structure of the inclined ball type spring contact bias pin probe as a conventional technique in the technical field of the present invention.

도 5는 본 고안의 실시 예가 볼 타입 스프링 콘텍트 바이어스 핀 프로브의 인쇄회로기판의 실제 측정에 사용되는 상태도.5 is a state in which an embodiment of the present invention is used for the actual measurement of the printed circuit board of the ball type spring contact bias pin probe.

〈도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명〉<Explanation of symbols for main parts of drawing>

2:몸통 4:플런저2: Torso 4: Plunger

6:둥근볼 8:스프링6: Round ball 8: Spring

10:인쇄회로기판 12:납땜된 소자10: printed circuit board 12: soldered element

14:측정 치구 16:인쇄회로기판 테스트기14: measuring fixture 16: printed circuit board tester

상기의 목적을 달성하기 위하여 본 고안은, 핀 프로브의 내부 구조를 플런지의 뒷단이 뾰쪽한 선단 뿔 형태로 만들고 이 끝단이 둥근 볼에 접촉하는 구조로 된것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention is characterized in that the internal structure of the pin probe in the form of a pointed tip horn of the rear end of the plunge and the end is in contact with the round ball.

몸통(2)은 파이프 내측에 플런저(4)가 조립되어 있고 이 플런저의 앞쪽 선단은 헤드 또는 팁이라고 부르는 날카로운 끝을 갖는 측정접촉자가 여러 가지 형상으로 만들어져 있고, 이 팁에 측정 제품이 닿으면 플런저는 뒤로 밀려나서 플런저의 뒤 끝단이 둥근 볼의 중앙부에 닿아 스프링을 밀게 되어 접촉을 하게 되어 있으나, 실제는 몸통 내측 치수와 둥근 볼 사이에는 적정의 틈새가 있고, 또 플런저와 몸통사이에도 적정 틈새가 있으므로, 양 틈새에 의해 볼은 어느 쪽으로 던지 옆으로 밀려나서 몸통의 내측 벽에 접촉하게되고, 이 접촉이 금속 접촉이 되어 프로브 자체의 전기 접촉 저항을 줄여 측정이 순조롭게 이루어지게하고, 다음 동작이 될 때는 똑같은 곳에 접촉이 되지 않고 플런저의 뒷 선단은 둥근 볼의 중심에서 약간 벗어나지만 닿게 되지만 이 닿은 곳은 앞 동작에서 닿은 곳과는 약간의 미세한 위치 차이가 발생하여, 이 위치차이는 둥근 볼을 일정한 방향이 아닌 항상 다른 방향으로 둥근 볼이 미끄러지게 하는 작용을 할 수 있게 하는 것을 특징으로 한다.The body (2) has a plunger (4) assembled inside the pipe, and the front end of the plunger is made of various shapes with a measuring contact having a sharp end called a head or a tip. Is pushed back so that the rear end of the plunger touches the center of the round ball and pushes the spring to make contact, but in reality there is a proper gap between the inner dimension of the body and the round ball, and there is also a proper gap between the plunger and the body. As a result of the gap, the ball is pushed to the side and pushed to the side to come into contact with the inner wall of the body, and this contact becomes a metal contact, reducing the electrical contact resistance of the probe itself, so that the measurement can be made smoothly. When it does not touch the same place, the rear end of the plunger is slightly out of the center of the round ball but touches The touched area is slightly different from the touched area in the previous motion, and this position difference is characterized by the fact that the rounded ball can slide in a different direction at all times rather than in a constant direction. .

플런저의 뒷 끝단의 선단 형상은 원추형, 사각 피리미드추형, 다각추형, 포물선추형등의 유사한 형상을 가지면서 최 끝단부는 등근 볼과의 점 접촉과 모든 방향으로 미끄러지게 쉬운 구조로 된 둥근 반구 또는 이중 구면 형태의 모양을 가지는 것을 특징으로 한다.The tip shape of the rear end of the plunger has a similar shape such as conical, square pyramid, polygonal, parabolic, etc., while the extreme end is a round hemisphere or double that has a point contact with the back ball and is easy to slide in all directions. It is characterized by having a spherical shape.

이하, 본 고안을 첨부된 도면을 참조하여 보다 상세히 설명하기로 한다Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 고안의 일 실시예의 따른 볼 타입 스프링 콘텍트 바이어스 핀 프로브를 도시한 구조도이다.1 is a structural diagram showing a ball type spring contact bias pin probe according to an embodiment of the present invention.

도면을 참조하면, 본 실시 예에 따른 볼 타입 스프링 콘텍트 바이어스 핀 프로브는 인쇄회로 기판을 설치하고 측정치구에 다수의 구멍을 뚫고 이 구멍에 측정용 핀 프로브를 설치하여 핀 프로브 위에 놓인 인쇄회로 기판을 상부의 누름판이 누르면 핀 프로브의 내부 스프링에 의해 적정압력으로 핀 프로브의 플런저의 날카로운 앞 끝단이 인쇄회로 기판상의 전자부품 납땜부 또는 단자선에 접촉하게 되고 이 접촉된 프로브와 연결된 측정회로에서 전기저항을 측정하는데 사용되는 부품으로서, 가장 중요한 요구특성이 스프링동작을 하면서 전기 저항값이 아주 적어야만, 납땜부의 미세한 연결부위나 미 접촉 부위가 있는지 판정해 주는 것이고, 측정회수가 보통 수십 만회에 이르므로서 핀 프로브가 스무스하게 동작해야하며 동작 중에 걸림 현상이 없어야 하며, 따라서 동작저항과 전기저항이 일정수준이하로 유지되어야 하는 특성이 가장 중요하고, 특히 프로브 내부에서는 전류는 플런저를 통해 몸통으로 연결되고 바로 측정기의 측정단자로 흘러야 하는데, 즉, 플런저에서 스프링을 통해 전류가 흐르지 않도록 플런저에서 몸통으로 직접접촉을 이루게 하여 전기저항을 최소화시킨 구조가 바이어스 핀 프로브이고, 본 고안은 금속 접촉을 한쪽 방향만이 아닌 몸통 내부의 어느 방향으로도 닿을 수 있도록, 둥근 볼과 뾰쪽한 선단을 갖는 플런저의 형태로 구성되어 있는 구조이다.Referring to the drawings, the ball type spring contact bias pin probe according to the present embodiment is provided with a printed circuit board, a plurality of holes are drilled in the measuring tool, and a measuring pin probe is installed in this hole to place the printed circuit board on the pin probe. When the upper pressing plate is pressed, the sharp front end of the plunger of the pin probe is brought into contact with the soldering part or the terminal line of the electronic component on the printed circuit board at the proper pressure by the internal spring of the pin probe. The most important requirement is to measure the electrical resistance of the soldered part when the spring resistance is very small, and to determine the presence of fine or unconnected soldered parts. The pin probe should operate smoothly and there is no jamming during operation Therefore, the characteristic that the operating resistance and the electrical resistance should be kept below a certain level is the most important, especially inside the probe, the current must be connected to the body through the plunger and flow directly to the measuring terminal of the measuring instrument, i.e., the spring at the plunger The bias pin probe is a structure that minimizes electrical resistance by making direct contact from the plunger to the body so that no current flows through the device. The present invention is designed so that the metal contact can be touched in any direction inside the body instead of only one direction. It is a structure composed of a plunger having a ball and a pointed tip.

이상 본 고안을 구체적인 실시 예를 통하여 상세하게 설명하였으나, 본 고안은 상기 예에 한정되지 않고, 본 고안의 기술적 사상의 범위 내에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 여러 가지 변형이 가능하다.Although the present invention has been described in detail through specific embodiments, the present invention is not limited to the above examples, and various modifications may be made by those skilled in the art within the scope of the technical idea of the present invention.

상기와 같이 이루어지는 본 고안의 볼 타입 스프링 콘텍트 바이어스 핀프로브는, 프로브 측정 동작에서, 수십 만회 작동 중에서도 플런저와 몸통사이의 내부금속접촉을 유지시켜주면서도 항상 여러 방향으로 방향아 바뀌어 접촉을 시키므로서, 종래의 기술이 갖는 한 방향으로만 접촉하여 편 마모에 따른 동작저항의 증가를 간단히 방지하여, 바이어스 핀 프로브의 이점인 금속접촉을 항상 실현하므로서 종래의 바이어스 핀 프로브가 가지는 수명이 수천 회에 불과 한 것을 보증 수명인 수십 만회의 수명을 보장하고 수명기간 동안에 확실한 측정을 보증해주는 획기적인 효과가 있다.The ball type spring contact bias pin probe according to the present invention made as described above is conventionally changed in various directions while maintaining the inner metal contact between the plunger and the body even during hundreds of thousands of operations. The life of a conventional bias pin probe is only a few thousand times by simply contacting in one direction of the technology and simply preventing the increase in operating resistance due to one-piece wear. There is a breakthrough effect that guarantees hundreds of thousands of lifetimes, which are guaranteed, and ensures reliable measurements over the lifetime.

Claims

In the spring contact pin probe for measuring a printed circuit board, the plunger 4 having a sharp tip is directly contacted by the round ball 6 supported by the spring 8 between the driving part plunger 4 and the body 2. Ball type spring contact bias pin probe structure.