KR200257069Y1

KR200257069Y1 - 전자부품 소자 시험 지그장치용 커넥터

Info

Publication number: KR200257069Y1
Application number: KR2020010028922U
Authority: KR
Inventors: 박재권
Original assignee: 박재권
Priority date: 2001-09-19
Filing date: 2001-09-19
Publication date: 2001-12-31

Abstract

본 고안은 전자부품 소자 시험 지그장치용 커넥터에 관한 것으로, 커넥터의 구조를 출몰형 단자핀의 교체 체결이 용이한 구조로 개선한 것이다.

종래의 커넥터에 있어서는 합성수지 관체 성형시 단자핀을 매립 상태로 몰딩하여 사출성형 하게 되므로써 단자핀의 교체가 불가능할 뿐 아니라 높이 조정이 불가능한 구조로 되어 지그장치에 체결하여 단자 접속을 이룸에 있어 정확한 셋팅이 이루어지지 못하게되면 접촉 불량이 발생하여 제대로 실험할 수 없게되는 결정적인 문제점이 있었던 것이다.

본 고안은 커넥터를 구성함에 있어 단자핀과 분리 결합이 가능한 구조로 하여 단자핀의 교체가 이루어질 수 있도록 한 것으로, 커넥터 몸체의 내부에 수직 설치되는 합성수지 관체의 중심에 체결관을 일체형으로 몰딩 사출성형하여 그 상부 내측으로 별개체로 된 출몰형 단자핀이 분리, 결합 가능한 상태로 끼워져 체결될 수 있도록 한 것이다.

Description

전자부품 소자 시험 지그장치용 커넥터{Connector for jig device for electronic parts degaussing test}

본 고안은 전자부품 소자 시험 지그장치용 커넥터에 관한 것으로, 상세하게는 휴대 통신의 주요 부품인 DUFLEXER, BPF(Band Pass Filter; 대역통과 필터), SAW Filter(Surface Acoustic Wave Filter; 표면 탄성파 필터), VCO (Voltage Control Oscillator ; 주파수 발진기) 등과 같은 부품소자를 고정시킨 상태에서 접점과 측정계기 간에 단자 접속을 이루어 여러가지 성능 테스트를 하는데 사용되는 커넥터에 있어서, 출몰형 단자핀을 교체 체결하기에 용이한 구조로 개선한 것이다.

휴대폰의 내부에는 초고주파를 발진하는 주요 부품인 DUFLEXER가 내장되는데, 제조 과정에서 각 모델별 혹은 수출되는 국가의 통신환경에 맞는 주파수대를 정확히 셋팅할 필요가 있으며, 이를 개발, 생산할 시에는 그에 따라 주파수 측정계기와 연결되어 부품소자를 정확히 고정할 수 있는 고정용 지그장치가 필요하게 된다.

DUFLEXER(듀플렉서)란 송신단과 수신단을 하나의 안테나에서 공유하기 위한 부품으로 송수신 주파수가 다를 때, 송신단 주파수만을 통과하는 BPF와 수신단 주파수만을 통과하는 BFP를 붙여서 만든 부품으로 총 3개의 포트로 구성되어, 양 끝단에 송신단과 수신단이, 중앙에는 안테나 단이 연결되어 있다. 송신단에서 나온 신호는 안테나로만 가고 수신단으로 가지 못하게 하며, 안테나로 들어온 신호는 송신이 아니라 수신단에만 가도록 하는 것이다. 보통 각각의 송수신단 BPF는 3~4단으로 구성되어 좋은 스커트 특성을 가지고 있으며, Notch 1단을 포함하여 7~8단으로 구성되는 경우가 많다. 크게 기지국류의 대출력용으로는 도파관형 Post 또는 DR 공진필터가 사용되고, 단말기용으로는 세라믹/SAW/FBAR 타입등이 있다. 예전에는 세라믹 공진기들을 연결하고 Iumped LC를 이용하여 하이브리드하게 만들어진 듀플렉서가 일반적이었으나, 단말기 시장에서 더욱 소형화된 형태가 필요해지게 되어 최근에는 monoblock 형태의 세라믹 듀플렉서 뿐 아니라 FBAR(Film Bulk Acoustic Resonator; 체적 탄성파) 기술을 이용한 초소형 듀플렉서까지 선을 보이고 있으나, 개발보다는 양산기술이 관건이 되고있다. 듀플렉서 및 필터는 손톱 만한 소형 크기의 수신 단말기 내장형 소자에서 손가락 크기만한 기지국에서 사용되는 소자까지 다양한 크기의 것들이 있고, 이들 각 부품소자들에는 2점 혹은 3점의 단자접점이 설치되어 기기의 단자들과 접속 기능 하도록 되어있다.

지그장치에 고정함에 있어서는 이들 접점과 지그에 설치되는 접속단자들이 정확히 접속 고정된 상태에서 측정기기와 커넥터 및 케이블로 연결하여 주파수 및 여러가지 성능을 측정 시험하게 되며, 주파수가 맞지않는 경우에는 소형 다이아몬드 그라인더를 이용하여 세라믹 재질인 단자를 갈아 내면서 계기에 표시되는 주파수를 맞추는 방법이 사용되는데, 이와 같은 주파수 조절은 제조라인 상에서는 물론, 에프터 서비스 센터 및 일부 기업체의 연구소나 대학의 관련학 연구실험용으로도 사용되고 있다.

상기한 용도로 사용되는 지그장치는 국내에서는 생산되지 않았기 때문에 미국, 일본 등에서 일부 수입되어 사용되었던 것으로, 종래 지그장치의 구조를 도 4에 의하여 설명하면 다음과 같다.

네 모서리에 고무재 받침다리(103)를 갖는 4각의 판상 틀체로 형성된 지그 본체(101)의 상면에는 중앙에 고정홀(104)을 갖는 합성수지재의 고정판(102)이 설치되어 있고, 상기 지그 본체(101) 상면의 정면 중앙과 양 측면에는 각각 커넥터고정홈(105a)(105b)(105c)들이 요입 형성되어 있으며, 후방 중앙에는 토글 클램프 고정대(108)가 설치되어 있고, 그 상면에는 레버 브라켓(114)이 설치되어 링크(116)와 레버 핸들(115), 연결레버(117a) 간이 상호 힌지핀(118)들로 연결되어 연결대(117b) 선단의 가압 봉(119)이 상기, 레버 핸들(115)를 들어 올리거나 눌러 내리는 것에 따라 승강 하면서 고정판(102) 위에 얹혀져 위치되는 PCB 기판(PB)과 부품소자(C)를 눌러 고정하되, 상기 커넥터 고정홈(105a)(105b)(105c)들에 끼워지게되는 커넥터(106)들의 단자 핀(107)들이 부품소자(C)의 접점(CP)들과 연결된 PCB 기판(PB)의 접점 라인(CL)들과 접속되는 상태로 겹쳐눌러 고정하게 된다.

이와 같은 고정 상태에서 각 커넥터(106)들과 시험기(FT)와의 사이를 케이블(CB)로 연결하여 전원을 인가하게 되면, 시험기(FT)의 모니터에는 주파수를 표시하는 그래프가 표시되고, 검사자는 소형 다이아몬드 그라인더를 이용하여 부품소자(C)의 일부를 갈아 내면서 주파수를 조정하게 되는 것이다.

그러나, 상기에서와 같은 전자부품 시험용 지그장치에 있어서는 부품소자(C)와 PCB 기판(PB)의 접점 라인(CL)과 접속을 이루게 되는 커넥터(106) 단자핀(107)의 접속 방식이 수평 접속으로 눌러 접속하는 방식이기 때문에 접속이 안정적이지 못하여 정확한 데이터 측정이 어려워 자칫 오측정으로 불량품을 발생시킬 소지가 많았으며, 또한, 부품소자(C)의 접점(CP)들은 주변에 부도체로 둘려져 있고, 접점 자체와 그외 부품소자(C)외면 전체는 도체로 되어있어, 측면에서 직접 커넥터(106)의 단자핀(107)을 가로놓고 접속 시킬 경우 접점(CP)의 도체부와 부품소자(C)외면 도체부 간에 통전이 이루어져 쇼트가 발생하여 부품소자(C)가 파손되기 때문에 직접 접속이 불가능하여 부득이, 앞 뒷면에 접점 라인(CL)이 형성된 PCB 기판(PB)을 만들어 올려놓고, 이를 매개체로 부품소자(C)와 커넥터(106)의 단자핀(107)간을 연결하게 되므로, 불가분 PCB 기판(PB)이 필요하게 되는 문제점이 있었으며, 지그장치의 상, 하 높이조절과, 전, 후 높이조절에 있어 공구가 있어야만 풀고 조일 수 있는 조정나사와 너트로 구성되어있어 조정 후 재고정 시켜야 하는 등 여러가지의 문제점이 있었던 것이다.

또한, 종래의 커넥터(106)에 있어서는 도 5에서 도시한 바와 같이 커넥터 몸체의 내부에 수직으로 합성수지 관체(106a)가 설치되고, 그 중심에는 상단으로 돌출되는 단자핀(107)과 후측에 케이블 소켓과 연결되는 접속관(106b)이 내장 설치되는데, 합성수지 관체(106a) 성형시 이들을 매립 상태로 몰딩하여 사출성형 하게 되므로써 단자핀(107)은 교체가 불가능할 뿐 아니라 높이 조정이 불가능한 상태로 커넥터(106)와 일체형으로 제조되었다.

따라서, 지그장치에 체결하여 단자 접속을 이룸에 있어 정확한 셋팅이 이루어지지 못하게되면 접촉 불량이 발생하여 제대로 실험할 수 없게되는 결정적인 문제점이 있었던 것이다.

본 고안은 이와 같은 제결점을 감안 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 커넥터를 구성함에 있어 단자핀과 분리 결합이 가능한 구조로 하여 단자핀의 교체가 이루어질 수 있도록 한 것으로, 커넥터 몸체의 내부에 수직 설치되는 합성수지 관체의 중심에 체결관을 일체형으로 몰딩하여 사출성형하여 그 상부 내측으로 별개체로된 출몰형 단자핀이 분리, 결합 가능한 상태로 끼워져 체결될 수 있도록 한 것이다.

도 1은 본 고안을 지그장치에 장착시킨 상태를 보인 일부 분해 사시도

도 2는 본 고안의 분해 사시도

도 3은 본 고안의 단자핀 결합상태 단면도

도 4는 종래 종래 지그장치의 사시도

도 5는 종래 커넥터의 조립 단면도

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

2 - 부품소자 고정테이블 2a - 수평면

2b - 경사면 4 - 부품소자 안착홈

5 - 소자 고정 홈턱 6 - 커넥터

6a - 합성수지 관체 6b - 접속관

7 - 단자 핀

이하, 첨부된 도면 및 바람직한 실시예에 따라 본 고안을 상세히 설명하면 다음과 같다.

본 고안 커넥터(6)가 설치되는 지그장치는 기본 형태가 프레스와 유사하나 높이 24㎝, 폭 12㎝, 정도의 소형인 것으로, 하부 양측의 받침다리(3)에 의하여 지지되는 베이스판(1)의 상면 앞측에는 부품소자 고정테이블(2)이 장착 설치되고, 그 후측에 전후 슬라이드 조정 가능토록 전후 왕복대(8a)가 설치되며, 이 전후 왕복대(8a)의 전면에는 수직 왕복대(8b)가 수직 승강 가능토록 설치된다.

상기 수직 왕복대(8b)의 전면에는 레버 브라켓(14)에 의하여 하단에 고무쿳션(19)이 취부된 수직 승강축(17)이 레버핸들(15)을 승강 시키는 것에 따라 승강 하면서 하부측 부품소자 고정테이블(2)에 안착되는 부품소자(C)의 상면을 눌러 고정할 수 있도록 설치되어 전체적인 지그장치가 구성된다.

이와 같이 구성되는 지그장치에 있어서의 본 고안 커넥터(6)는 상기 베이스판(1)의 앞쪽에 양측 고정나사에 의하여 체결 고정되는 부품소자 고정테이블(2) 상에 3개가 수직배열 설치되는 것으로서, 상기 부품소자 고정테이블(2)의 상면에는 부품소자(C)를 얹어 고정할 수 있도록 중앙부에 부품소자 안착홈(4)이 전후방으로 요입 형성되는데, 홈의 양 측면 중앙부에 형성되는 소자 고정 홈턱(5)을 기준으로 앞쪽의 폭이 뒷쪽보다 넓게 형성되므로서, 여기에 끼워져 고정되는 부품소자(C)의저면에 형성된 3개의 접점(CP)들이 항상 일정한 위치에 셋팅될 수 있도록 되어 있으며, 하부측에는 이들 접점(CP)들과 일치 되도록 3개의 지점에 맞추어 단자핀(7)이 상측으로 돌출되는 상태로 본 고안의 커넥터(6)가 수직으로 끼워져 장착 체결 된다.

상기와 같은 본 고안 커넥터(6)의 상부측에는 내부에 스프링이 내장되어 스프링 탄력을 받아 출몰되는 단자핀(7)이 끼워지고, 하부측에는 케이블(CB)의 소켓 단자핀이 끼워져 접속될 수 있도록 접속관(6b)을 매립상태로 몰딩하여 합성수지 관체(6a)를 사출성형하여 구성된 것이다.

이와 같이 구성된 본 고안은 단자핀(7)이 합성수지 관체(6a)에 직접 매립 몰딩되어 고정되지 않고, 접속관(6b)에 삽탈 가능한 상태로 체결되기 때문에 단자핀(7)의 교체가 용이하게 되는 것이다.

본 고안에 적용된 출몰형 단자핀(7)은 고정형에 비하여 접촉성이 완벽한 잇점은 있으나, 미세 굵기의 스프링을 내장하여 탄동되는 방식이기 때문에 약 6,000~10,000회 반복 사용하게 되면 교체가 필요하게 된다.

따라서, 간단히 잡아빼 분리하고 끼워 넣기만 하면 되기 때문에 간단히 단자 핀만을 교체하여 커넥터를 반영구적으로 사용할 수 있게되는 것이다.

상기한 바와 같은 본 고안은 단자핀의 교체가 용이한 구조로 되어있어 수직 점 접촉에 알맞는 출몰형 단자핀을 적용하여 전체적으로 향상된 구조를 갖는 전자부품 소자 시험 지그장치를 구성할 수 있게 되므로서, 전자부품 소자의 시험을 정확하면서도 경제적으로 실현하는데 크게 기여할 수 있게되는 유용한 효과가 있는 것이다.

Claims

전자부품 소자 시험 지그장치의 부품소자 고정테이블(2)에 수직 장착되어 부품소자(C) 저면의 접점(CP)과 단자핀(7)간의 상호 수직 접속으로, 부품소자(C)의 각종 성능을 테스트 하게되는 커넥터(6)에 있어서, 상기 커넥터(6)의 상부측에는 내부에 스프링이 내장되어 스프링 탄력을 받아 출몰되는 단자핀(7)이 끼워지고, 하부측에는 케이블(CB)의 소켓 단자핀이 끼워져 접속될 수 있도록 접속관(6b)을 매립 상태로 몰딩하여 합성수지 관체(6a)를 사출성형하여 구성됨을 특징으로 하는 전자부품 소자 시험 지그장치용 커넥터.