KR200215282Y1 - device for regulating pushing pressure of test unit in handler - Google Patents

device for regulating pushing pressure of test unit in handler

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KR200215282Y1 KR2019980006616U KR19980006616U KR200215282Y1 KR 200215282 Y1 KR200215282 Y1 KR 200215282Y1 KR 2019980006616 U KR2019980006616 U KR 2019980006616U KR 19980006616 U KR19980006616 U KR 19980006616U KR 200215282 Y1 KR200215282 Y1 KR 200215282Y1
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Abstract

본 고안은 소자의 리드를 소켓의 콘택트 핀에 접속시 테스트 트레이에 매달린 소자의 가압력을 균일하게 유지시킬 수 있도록 하는 핸들러의 테스트부에서의 푸싱압력 조절장치에 관한 것으로 푸셔의 구조를 개선하여 테스트 트레이에 장착된 캐리어 모듈의 장착정도 또는 소자의 리드 변형여부 그리고 소켓의 장착 여부나, 드라이브의 스트로크에 구애받지 않고 리드와 콘택트 핀의 접촉압력을 항상 일정하게 유지시킬 수 있도록 한 것이다.The present invention relates to a pushing pressure adjusting device in a test part of a handler that enables to maintain a uniform pressing force of a device suspended from a test tray when the lead of the device is connected to a contact pin of a socket. The contact pressure between the lead and the contact pin can be maintained at all times regardless of the mounting accuracy of the carrier module or the lead deformation of the device and whether the socket is installed or the stroke of the drive.

이를 위해, 테스트 트레이(1)에 장착된 캐리어 모듈을 눌러주는 복수개의 푸싱블럭(12)을 푸싱판(11)에 고정하도록 된 핸들러에 있어서, 상기 각 푸싱블럭에 내향 절곡된 걸림편(16)을 형성함과 함께 푸셔(14)에는 상기 걸림편에 걸려 푸싱블럭에서 이탈되지 않도록 하는 걸림턱(17)을 형성하고 상기 걸림턱의 상면에는 탄성부재(15)를 접속되게 설치한 것으로, 테스트시 소자의 가압에 따른 리드의 변형으로 테스트 불량이 발생되지 않는다.To this end, in the handler configured to fix the plurality of pushing blocks 12 for pushing the carrier module mounted on the test tray 1 to the pushing plate 11, the engaging pieces 16 bent inward to each pushing block. In addition to forming a locking jaw (17) to the pusher (14) so as not to be separated from the pushing block on the pusher 14 and the elastic member 15 is connected to the upper surface of the locking jaw to be installed, Deformation of the lead due to pressurization of the device does not cause a test failure.

Description

핸들러의 테스트부에서의 푸싱압력 조절장치{device for regulating pushing pressure of test unit in handler}Device for regulating pushing pressure of test unit in handler}

본 고안은 소자의 성능을 테스트하기 위해 소자를 수평적으로 이송시키는 수평식 핸들러에 관한 것으로서, 좀 더 구체적으로는 소자의 리드를 소켓의 콘택트 핀에 접속시 테스트 트레이에 매달린 소자의 가압력을 균일하게 유지시킬 수 있도록 하는 핸들러의 테스트부에서의 푸싱압력 조절장치에 관한 것이다.The present invention relates to a horizontal handler that moves a device horizontally to test the performance of the device. More specifically, the pressure of the device suspended on the test tray is uniformly applied when the lead of the device is connected to the contact pin of the socket. It relates to a pushing pressure control device in the test section of the handler to be maintained.

도 1은 수평식 핸들러에 사용되는 테스트 트레이를 나타낸 정면도로서, 테스트 트레이(1)의 프레임(2)상에 캐비티(4)를 갖는 복수개의 캐리어 모듈(3)이 유동가능하게 장착되어 있어 상기 캐리어 모듈의 캐비티(4)에 테스트할 소자를 담거거나, 매달은 상태로 테스트 트레이(1)를 테스트 공정간에 이송시키면서 소자의 성능을 테스트하게 된다.1 is a front view showing a test tray used in a horizontal handler, in which a plurality of carrier modules 3 having a cavity 4 on a frame 2 of a test tray 1 are movably mounted thereon The device to be tested is contained in the cavity 4 of the module, or the performance of the device is tested while the test tray 1 is transferred between test processes in a suspended state.

도 2는 종래의 장치가 구비된 수평식 핸들러를 나타낸 사시도이고 도 3은 도 2의 종단면도로서, 캐리어 모듈(3)의 캐비티(4)에 담겨지거나, 매달린 소자를 테스트하는 테스트부(5)가 수평방향으로 설치되어 있고 상기 테스트부에는 테스트 트레이(1)가 이송되어 옴에 따라 상기 테스트 트레이에 장착된 캐리어 모듈(3)을 눌러 로딩된 소자의 리드가 테스터 고정장치(6)에 장착된 소켓의 콘택트 핀(도시는 생략함)에 전기적으로 접속되도록 하는 드라이브(7)가 승강가능하게 설치되어 있다.FIG. 2 is a perspective view showing a horizontal handler with a conventional device, and FIG. 3 is a longitudinal cross-sectional view of FIG. 2, wherein a test unit 5 for testing an element contained in or suspended from the cavity 4 of the carrier module 3 is illustrated. Is installed in the horizontal direction, and the test tray 1 is transferred to the test part, so that the lead of the device loaded by pressing the carrier module 3 mounted on the test tray is mounted on the tester fixing device 6. The drive 7 which can be electrically connected to the contact pin (not shown) of this is provided so that raising / lowering is possible.

따라서 제 1 챔버(8)에서 테스트에 적합한 온도로 캐리어 모듈(3)에 로딩된 소자가 히팅된 상태에서 테스트 트레이(1)가 테스트부(5)로 이송되어 오면 테스트 트레이(1)를 하향구동시키는 드라이브(7)가 하강하여 소자가 로딩된 캐리어 모듈(3)를 눌러주게 되므로 상기 소자의 리드가 테스터 고정장치(6)에 설치된 소켓의 콘택트 핀에 전기적으로 접속되고, 이에 따라 각 소자의 테스트신호가 테스터(도시는 생략함)에 제공된다.Therefore, when the test tray 1 is transferred to the test unit 5 while the element loaded in the carrier module 3 is heated at a temperature suitable for testing in the first chamber 8, the test tray 1 is driven downward. Since the drive 7 is lowered and the carrier module 3 loaded with the device is pressed, the lead of the device is electrically connected to the contact pin of the socket installed in the tester fixing device 6, thereby testing each device. The signal is provided to a tester (not shown).

이와 같이 테스트신호가 테스터(도시는 생략함)에 전달되어 그 결과신호가 중앙처리장치(CPU)에 입력되므로 소자의 성능이 판단된다.As such, the test signal is transmitted to the tester (not shown), and as a result, the signal is input to the CPU, thereby determining the performance of the device.

상기한 바와 같은 동작에 따라 소자의 성능을 테스트하고 나면 하강하였던 드라이브(7)가 상승함과 동시에 테스트 트레이(1)를 제 2 챔버(9)로 이송시켜 냉각시킨 다음 언로딩부로 이송시켜 테스트결과에 따라 소자를 분류적재부에 위치된 빈고객트레이내에 분류하여 담게 되므로 소자의 테스트작업이 완료된다.After testing the performance of the device according to the operation as described above, the drive 7 that was lowered ascends and the test tray 1 is transferred to the second chamber 9, cooled, and then transferred to the unloading unit. According to the device is sorted and contained in the empty customer tray located in the classification stacking unit, the test work of the device is completed.

그러나 이러한 종래의 장치는 드라이브(7)에 설치되어 테스트 트레이(1)에 장착된 캐리어 모듈(3)을 눌러주는 푸셔(10)가 고정식으로 되어 있어 각 캐리어 모듈(3)에 매달린 소자의 리드와 콘택트 핀의 접촉압력이 각각 다르게 되는 문제점이 발생되었다.However, such a conventional apparatus has a pusher 10 fixed to a drive 7 installed in the drive 7 to press the carrier module 3 mounted on the test tray 1 so that the lead of the element suspended from each carrier module 3 is fixed. There is a problem that the contact pressure of the contact pin is different.

즉, 테스트 트레이(1)에 장착된 각 캐리어 모듈(3)의 장착 정도, 캐리어 모듈에 매달린 리드의 변형여부에 따른 위치, 테스터 고정장치(6)에 설치된 소켓의 장착상태에 따라 캐리어 모듈(3)에 매달린 소자의 리드와 콘택트 핀의 접촉정도가 각각 다름에도 불구하고 드라이브(7)에 고정된 푸셔(10)가 전체의 캐리어 모듈(3)을 동일한 압력으로 눌러주게 되므로 소자의 리드가 과잉 압력으로 눌려 변형되거나, 리드와 콘택트 핀의 접촉압력이 설정치보다 낮아 양품을 불량품으로 오판정하게 되는 문제점이 발생되었다.That is, according to the mounting degree of each carrier module (3) mounted on the test tray (1), the position according to the deformation of the lead hanging on the carrier module, and the mounting state of the socket installed on the tester fixing device (6) Although the contact between the lead and the contact pin of the element suspended in the) is different, the pusher 10 fixed to the drive 7 presses the entire carrier module 3 with the same pressure, so that the lead of the element Deformed by pressing or the contact pressure between the lead and the contact pin is lower than the set value has caused a problem that the good product is judged as a defective product.

특히, 드라이브(7)의 스트로크가 잘못 설정되어 설정치보다 클 경우에는 캐리어 모듈(3)을 테스터 고정장치(6)측으로 과다하게 밀어주므로 캐리어 모듈에 로딩된 모든 소자의 리드가 변형되는 치명적인 문제점도 발생되었다.In particular, if the stroke of the drive 7 is set incorrectly and larger than the set value, the carrier module 3 is excessively pushed toward the tester fixing device 6, which causes a fatal problem in which leads of all the elements loaded on the carrier module are deformed. It became.

본 고안은 종래의 이와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 푸셔의 구조를 개선하여 테스트 트레이에 장착된 캐리어 모듈의 장착정도 또는 소자의 리드 변형여부 그리고 소켓의 장착 여부에 구애받지 않고 리드와 콘택트 핀의 접촉압력을 항상 일정하게 유지시킬 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.The present invention has been made to solve such a problem in the prior art, and improved the structure of the pusher, regardless of the mounting degree of the carrier module mounted on the test tray or the lead deformation of the device and whether or not the socket is mounted, the contact with the lead The purpose is to ensure that the contact pressure of the pin is always constant.

본 고안의 다른 목적은 드라이브의 스트로크를 정확히 조절하지 않고도 소자의 리드와 소켓의 콘택트 핀간의 접촉압력을 일정하게 유지시킬 수 있도록 하는데 있다.Another object of the present invention is to maintain a constant contact pressure between the lead of the device and the contact pin of the socket without accurately adjusting the stroke of the drive.

상기 목적을 달성하기 위한 본 고안의 형태에 따르면, 테스트 트레이에 장착된 캐리어 모듈을 눌러주는 복수개의 푸싱블럭을 푸싱판에 고정하도록 된 것에 있어서, 상기 각 푸싱블럭에 탄성부재에 의해 푸셔가 진퇴가능하게 탄력 설치된 핸들러의 테스트부에서의 푸싱압력 조절장치가 제공된다.According to an aspect of the present invention for achieving the above object, a plurality of pushing blocks for pressing the carrier module mounted on the test tray is fixed to the pushing plate, the pusher can be moved back and forth by the elastic member to each pushing block. The pushing pressure control device in the test section of the resiliently installed handler is provided.

도 1은 수평식 핸들러에 사용되는 테스트 트레이를 나타낸 정면도1 is a front view of a test tray used in a horizontal handler

도 2는 종래의 장치가 구비된 수평식 핸들러를 나타낸 사시도Figure 2 is a perspective view of a horizontal handler with a conventional device

도 3은 도 2의 종단면도3 is a longitudinal cross-sectional view of FIG.

도 4는 본 고안 장치가 설치된 테스트부의 횡단면도4 is a cross-sectional view of a test unit in which the present invention device is installed.

도 5는 도 4의 A - A선 단면도5 is a cross-sectional view taken along the line A-A of FIG.

도 6a 및 도 6b는 본 고안의 작동상태를 나타낸 확대도6a and 6b is an enlarged view showing the operating state of the present invention

도면의 주요부분에 대한 부호의 설명Explanation of symbols for main parts of the drawings

11 : 푸싱판 12 : 푸싱블럭11: pushing plate 12: pushing block

14 : 푸셔 15 : 탄성부재14 pusher 15 elastic member

16 : 걸림편 17 : 걸림턱16: jam piece 17: jam jaw

이하, 본 고안을 일 실시예로 도시한 도 4 내지 도 6을 참고하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, with reference to Figures 4 to 6 showing the present invention as an embodiment in more detail as follows.

도 4는 본 고안의 장치가 설치된 테스트부의 횡단면도이고 도 5는 도 4의 A - A선 단면도이며 도 6a 및 도 6b는 본 고안의 작동상태를 나타낸 확대도로서, 본 고안은 푸싱판(11)에 복수개의 푸싱블럭(12)이 체결부재(13)에 의해 착탈가능하게 고정되어 있고 상기 각 푸싱블럭에는 푸셔(14)가 진퇴가능하게 설치되어 있으며 푸싱판(11)과 푸셔(14)사이에는 코일스프링과 같은 탄성부재(15)가 탄력 설치된다.4 is a cross-sectional view of a test unit in which the apparatus of the present invention is installed, and FIG. 5 is a cross-sectional view taken along line A-A of FIG. 4, and FIGS. 6A and 6B are enlarged views showing an operating state of the present invention, and the present invention includes a pushing plate 11. A plurality of pushing blocks 12 are detachably fixed to each other by the fastening member 13, and each of the pushing blocks has a pusher 14 removably installed therebetween, and between the pushing plate 11 and the pusher 14. An elastic member 15 such as a coil spring is elastically installed.

상기 탄성부재(15)는 테스트부(5)의 고열에도 변형되지 않고 견딜 수 있는 내열재질의 코일스프링을 사용하여야 된다.The elastic member 15 should use a coil spring of a heat resistant material that can withstand the high temperature of the test unit 5 without being deformed.

상기 푸싱블럭(12)에 진퇴가능하게 설치된 푸셔(14)가 탄성부재(15)의 탄성력에 의해 푸싱블럭에서 이탈하지 않도록 상기 각 푸싱블럭에 걸림편(16)이 내향 절곡 되어 있고 상기 푸싱블럭의 내부에 삽입되는 푸셔(14)에는 상기 걸림편(16)에 걸려 푸싱블럭(12)에서 이탈되지 않도록 걸림턱(17)이 형성되어 있으며 상기 걸림턱(17)과 푸싱판(11)사이에는 탄성부재(15)가 설치되어 있다.The locking pieces 16 are bent inwardly on each of the pushing blocks so that the pushers 14 installed on the pushing block 12 to be retracted and retracted from the pushing blocks by the elastic force of the elastic member 15 and the bending pieces 16 are bent inward. A locking jaw 17 is formed in the pusher 14 to be inserted therein so as not to be separated from the pushing block 12 by being caught by the locking piece 16 and an elasticity between the locking jaw 17 and the pushing plate 11. The member 15 is provided.

그러나 전술한 바와는 반대로 푸셔(14)를 푸싱블럭(12)에 외삽되게 설치할 수도 있는데, 이 경우에는 푸셔(14)가 푸싱블럭에 외삽되므로 인해 탄성부재(15)도 푸싱블럭(12)의 외측에 설치되어야 한다.However, contrary to the foregoing, the pusher 14 may be extrapolated to the pushing block 12. In this case, since the pusher 14 is extrapolated to the pushing block, the elastic member 15 is also outside the pushing block 12. Must be installed on

이와 같이 구성된 본 고안의 작용을 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the present invention configured as described above are as follows.

먼저, 푸셔(14)가 푸싱블럭(12)에 장착된 상태에서는 도 6a와 같이 푸싱판(11)과 푸셔(14)사이에 설치된 탄성부재(15)의 탄성력에 의해 외부로 최대한 인출된 상태를 유지하게 된다.First, in the state in which the pusher 14 is mounted on the pushing block 12, a state in which the pusher 14 is drawn out to the outside as much as possible by the elastic force of the elastic member 15 installed between the pushing plate 11 and the pusher 14 as shown in FIG. 6A. Will be maintained.

이러한 상태에서 제 1 챔버(8)에서 테스트에 적절한 온도로 테스트 트레이(1)에 로딩된 소자가 히팅되어 상기 테스트 트레이가 테스트부(5)로 이송되고 나면 드라이브(7)가 구동하여 푸싱판(11)을 설정된 양만큼 테스트 트레이(1)측으로 밀어주게 되므로 푸싱블럭(12)에 진퇴가능하게 설치된 푸셔(14)가 테스트 트레이(1)에 매달린 캐리어 모듈(3)과 동시에 접속된다.In this state, after the element loaded in the test tray 1 is heated in the first chamber 8 at a temperature suitable for the test, and the test tray is transferred to the test unit 5, the drive 7 drives and the pushing plate ( Since 11) is pushed to the test tray 1 side by a set amount, the pusher 14 which is installed on the pushing block 12 in a retractable manner is connected to the carrier module 3 suspended from the test tray 1 at the same time.

이와 같이 푸셔(14)가 각 캐리어 모듈(3)과 접속된 상태에서 푸싱판(11)이 테스터 고정장치(6)측으로 더욱 이송되면 푸셔(14)가 도 6b와 같이 탄성부재(15)를 압축시키면서 테스트 트레이(1)를 테스터 고정장치(6)측으로 이송시키게 되므로 캐리어 모듈(3)에 로딩되어 있던 소자의 리드가 테스터 고정장치(6)에 설치된 소켓의 콘택트 핀과 전기적으로 접속된다.As the pusher 14 is further transferred to the tester fixing device 6 while the pusher 14 is connected to each carrier module 3 as described above, the pusher 14 compresses the elastic member 15 as shown in FIG. 6B. The test tray 1 is transferred to the tester fixing device 6 while the lead of the element loaded in the carrier module 3 is electrically connected to the contact pin of the socket provided in the tester fixing device 6.

상기한 바와 같은 동작시 테스트 트레이(1)에 장착된 캐리어 모듈(3)의 장착정도 또는 소자의 리드 변형여부 그리고 소켓의 장착 정밀도가 각각 다르거나, 드라이브의 스트로크가 설정치보다 크게 설정되었다 하더라도 푸싱블럭(12)의 내부에 설치된 푸셔(14)가 탄성부재(15)의 탄성력에 의해 균일한 가압력으로 소자를 눌러주게 되므로 소자의 리드가 안정적으로 소켓의 콘택트 핀에 접촉된다.In the above operation, even if the mounting accuracy of the carrier module 3 mounted on the test tray 1 or the lead deformation of the device and the mounting precision of the socket are different, or the drive stroke is set larger than the set value, the pushing block Since the pusher 14 installed inside the 12 presses the element with a uniform pressing force by the elastic force of the elastic member 15, the lead of the element is stably in contact with the contact pin of the socket.

한편, 설정된 시간동안 소자의 리드를 소켓의 콘택트 핀과 전기적으로 접촉시킨 상태에서 테스트를 완료하고 나면 푸싱판(11)이 초기상태로 환원되어 푸셔(14)가 캐리어 모듈(3)로부터 분리되므로 탄성부재(15)를 압축시키면서 눌려 있던 푸셔(14)도 탄성부재(15)의 복원력에 의해 초기상태로 환원되는데, 이 때에는 상기 푸셔(14)에 형성된 걸림턱(17)이 푸싱블럭(12)에 형성된 걸림편(16)에 걸리게 되므로 푸셔(14)의 이동이 제어된다.On the other hand, after the test is completed in the state in which the lead of the device is in electrical contact with the contact pin of the socket for a predetermined time, the pushing plate 11 is reduced to the initial state and the pusher 14 is separated from the carrier module 3 so as to be elastic. The pusher 14, which was pressed while compressing the member 15, is also reduced to the initial state by the restoring force of the elastic member 15. At this time, the locking step 17 formed on the pusher 14 is applied to the pushing block 12. Since it is caught by the formed engaging piece 16, the movement of the pusher 14 is controlled.

이에 따라, 계속해서 캐리어 모듈(3)에 매달린 소자를 항상 일정한 압력으로 테스터 고정장치(6)의 소켓측으로 눌러 줄 수 있게 되는 것이다.As a result, the element suspended from the carrier module 3 can always be pressed against the socket side of the tester fixing device 6 at a constant pressure.

이상에서와 같이 본 고안은 푸싱블럭에 푸셔를 탄력적으로 설치하는 간단한 구조에 의해 캐리어 모듈에 매달린 소자를 테스터 고정장치의 소켓측으로 항상 일정한 압력으로 밀어주게 되므로 인해 부품의 가공 및 조립정도 또는 드라이브의 스트로크가 잘못 설정되므로 인한 테스트 불량을 미연에 방지하게 되는 효과를 얻게 된다.As described above, the present invention pushes the element suspended from the carrier module to the socket side of the tester fixing device at a constant pressure by the simple structure of elastically installing the pusher on the pushing block. Because of incorrectly set, it is possible to prevent the test failure due to this.

Claims (1)

테스트 트레이(1)에 장착된 캐리어 모듈을 눌러주는 복수개의 푸싱블럭(12)을 푸싱판(11)에 고정하도록 된 핸들러에 있어서,In the handler configured to fix a plurality of pushing blocks 12 for pushing the carrier module mounted on the test tray 1 to the pushing plate 11, 상기 각 푸싱블럭에 내향 절곡된 걸림편(16)을 형성함과 함께 푸셔(14)에는 상기 걸림편에 걸려 푸싱블럭에서 이탈되지 않도록 하는 걸림턱(17)을 형성하고 상기 걸림턱의 상면에는 탄성부재(15)를 접속되게 설치하여서 된 것을 특징으로 하는 핸들러의 테스트부에서의 푸싱압력 조절장치.In addition to forming the engaging piece 16 bent inwardly on each of the pushing blocks, the pusher 14 is formed with a catching jaw (17) to be caught in the catching piece so as not to be separated from the pushing block, and the upper surface of the catching jaw is elastic Pushing pressure regulating device in the test section of the handler, characterized in that the member 15 is provided so as to be connected.
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