KR200207896Y1 - Multiple metering apparatus - Google Patents
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Abstract
본 고안은 다양한 신호의 크기나 형태를 분석하거나 디스플레이하는 다양한 기능을 간편하고 효율적으로 수행하기 위한 다기능 계측 장치에 관한 것이다. 본 고안은 기능 선택키 및 기능 선택 다이얼의 사용자 조작에 의해 디지털 멀티미터, 오실로스코프, 주파수 카운터, 주파수 발생기, 로직 아날라이저 기능 중 적어도 하나가 선택되고, 선택된 기능에 따라 신호 변환부는 측정하고자 하는 기기로부터 외부 입력 신호를 입력받아 크기 및 형태 조절을 위한 신호 분배, 증폭 및 디지털 변환을 수행하고, 응용 주문형 집적 회로(Application Specific Integrate Circuit)를 사용하여 구성된 데이터 처리부는 신호 변환부로부터 출력되는 신호의 데이터 처리를 수행하여 선택된 계측 기능에 따른 계측 신호를 출력하고, 표시부는 출력된 계측 신호를 디스플레이하고, 제어부는 다양한 계측 기능 수행을 제어하기 위한 제어신호를 출력한다.The present invention relates to a multi-function measuring device for easily and efficiently performing various functions for analyzing or displaying various sizes or shapes of signals. According to the present invention, at least one of a digital multimeter, an oscilloscope, a frequency counter, a frequency generator, and a logic analyzer function is selected by a user operation of a function selection key and a function selection dial, and the signal conversion unit is external from the device to be measured according to the selected function. Receives an input signal, performs signal distribution, amplification, and digital conversion for size and shape adjustment, and a data processing unit configured using an application specific integrated circuit performs data processing of signals output from the signal conversion unit. And outputs a measurement signal according to the selected measurement function, the display unit displays the output measurement signal, and the controller outputs a control signal for controlling performance of various measurement functions.
Description
본 고안은 다기능 계측기에 관한 것으로, 보다 상세하게는 다양한 신호의 크기나 형태의 표시 및 분석을 간편하고 효율적으로 수행하기 위한 다기능 계측 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a multi-function measuring instrument, and more particularly, to a multi-function measuring apparatus for easily and efficiently performing the display and analysis of the size or shape of various signals.
전기, 전자 및 통신기기에서 발생되는 신호의 크기나 형태를 표시하거나 분석하는 장비로는 예를 들어, 멀티미터(multimeter), 오실로스코프(oscilloscope), 주파수 카운터(frequency counter), 주파수 발생기(function generator) 및 로직 아날라이저(logic analyzer) 등이 있다.Equipment that displays or analyzes the magnitude or shape of signals generated by electrical, electronic, and communication devices includes, for example, multimeters, oscilloscopes, frequency counters, and function generators. And logic analyzers.
이와 같은 각종 장비 중 멀티미터는 전류, 전압 및 저항 등을 측정하고, 오실로스코프는 입력되는 전기적 신호를 시간의 변화에 따라 신호들의 크기가 어떻게 변화하는지를 측정한다.Among these various equipments, the multimeter measures current, voltage, and resistance, and the oscilloscope measures how the magnitude of the signal changes over time with the input electrical signal.
또한, 주파수 발생기는 다양한 주기를 갖는 주파수를 발생하고, 주파수 카운터는 입력되는 주파수를 카운팅한다.In addition, the frequency generator generates frequencies having various periods, and the frequency counter counts the input frequencies.
상술한 바와 같은 다양한 계측기들은 기능에 따라 별개로 구성되어 있고, 제한적으로 하나의 기능 외에 다른 기능이 부가적으로 수행될 수 있도록 구성된다.Various instruments as described above are configured separately according to functions, and limitedly configured to allow other functions to be performed in addition to one function.
따라서, 전기, 전자 및 통신 기기에서 발생되는 신호를 계측하거나 또는 분석하기 위해서 사용자들은 상술한 바와 같이 각 기능별로 구성되어 있는 복수개의 계측기를 구입하여야 하는 문제점이 있다.Accordingly, in order to measure or analyze signals generated from electrical, electronic and communication devices, users have to purchase a plurality of measuring instruments configured for each function as described above.
또한, 오실로스코프, 주파수 발생기 등의 계측기들은 그 크기가 크고 무거워서 휴대하기가 어려운 문제점도 있다.In addition, instruments such as oscilloscopes, frequency generators are also difficult to carry because of their large size and heavy.
따라서, 본 고안은 상술한 종래 기술의 제반 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로서, 응용 주문형 집적 회로(Application Specific Integrate Circuit)를 사용하여 다양한 계측 기능을 동시에 갖는 다기능 계측 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.Accordingly, the present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the prior art, and an object thereof is to provide a multifunctional measurement apparatus having various measurement functions simultaneously using an application specific integrated circuit.
또한, 본 고안의 다른 목적은 ASIC와 멀티 콘트롤러를 사용하여 휴대가 간편한 다기능 계측 장치를 제공하는데 있다.In addition, another object of the present invention is to provide a portable multi-function measuring device using an ASIC and a multi-controller.
도 1은 본 고안에 따른 다기능 계측 장치의 외관을 나타낸 정면도.1 is a front view showing the appearance of a multi-function measuring apparatus according to the present invention.
도 2는 도 1의 내부 구성 블록도.FIG. 2 is a block diagram illustrating the internal configuration of FIG. 1. FIG.
도 3은 본 고안의 전압값 측정을 위한 디지털 멀티미터 기능 수행의 출력 상태를 나타낸 화면도.Figure 3 is a screen diagram showing the output state of performing a digital multimeter function for measuring the voltage value of the present invention.
도 4는 본 고안의 최소, 최대 및 평균값 측정을 위한 디지털 멀티미터 기능 수행의 출력 상태를 나타낸 화면도.Figure 4 is a screen diagram showing the output state of performing a digital multimeter function for measuring the minimum, maximum and average value of the present invention.
도 5는 본 고안의 오실로스코프 기능 수행에 따른 출력화면 상태를 나타낸 도면.5 is a view showing an output screen state in accordance with the oscilloscope function of the present invention.
도 6은 본 고안의 주파수 카운터 기능 수행에 따른 출력화면 상태를 나타낸 도면.6 is a view showing an output screen state according to the frequency counter function of the present invention.
도 7은 본 고안의 주파수 발생기 기능 수행에 따른 출력화면 상태를 나타낸 도면.7 is a view showing an output screen state according to the frequency generator function of the present invention.
도 8은 본 고안의 헬프 키 입력에 따른 출력화면 상태를 나타낸 도면.8 is a view showing an output screen state according to the help key input of the present invention.
〈도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for main parts of the drawings>
100 : 기능 선택 다이얼 110 : 키 선택부100: function selection dial 110: key selection
130 : 디스플레이부 140 : 입출력 단자부130 display unit 140 input / output terminal unit
210 : 입력부 220 : 기능 선택부210: input unit 220: function selection unit
300 : 신호 변환부 400 : 데이터 처리부300: signal conversion unit 400: data processing unit
410 : 제어부 420 : 저장부410: control unit 420: storage unit
430 : 표시부430 display unit
상술한 목적들을 달성하기 위한 본 고안은 복수개의 계측 기능 중 적어도 어느 하나를 선택하기 위한 기능 선택부, 선택된 디지털 멀티미터 기능 수행을 위해 외부 입력 신호의 신호 변환을 하는 제1 신호 변환부, 오실로스코프 및 로직 아날라이저 기능 수행을 위해 외부 입력 신호의 신호 변환을 하는 제2 신호 변환부, 주파수 카운터 기능 수행을 위해 외부 입력 신호의 신호 변환을 수행하는 제3 신호 변환부, 주파수 발생기 기능 수행을 위한 신호 변환을 하는 제4 신호 변환부, 제1 내지 제4 신호 변환부로부터 출력되는 신호의 데이터 처리를 수행하여 선택된 계측 기능의 출력 형태에 따른 계측 신호를 출력하는 데이터 처리부, 데이터 처리부에서 출력되는 계측 신호에 따른 복수개의 계측값을 디스플레이 하는 표시부, 데이터 처리부를 제어하기 위한 제어부를 포함하여 구성되는 다기능 계측 장치를 제공하는데 그 특징이 있다.The present invention for achieving the above object is a function selection unit for selecting at least one of a plurality of measurement functions, a first signal conversion unit for converting the signal of the external input signal to perform the selected digital multimeter function, oscilloscope and A second signal converter for converting an external input signal to perform a logic analyzer function, a third signal converter for converting an external input signal to perform a frequency counter function, and a signal converter for performing a frequency generator function A fourth signal converter configured to perform data processing of signals output from the first to fourth signal converters, and output a measurement signal according to an output form of the selected measurement function, according to a measurement signal output from the data processor Display unit for displaying a plurality of measured values, for controlling the data processing unit It is a feature of the present invention to provide a multi-function measuring apparatus including a control unit.
이하, 본 고안에 따른 다기능 계측 장치의 바람직한 일 실시예를 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 그러나, 하기의 실시예에 의해 본 고안이 제한되거나 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings a preferred embodiment of the multi-function measuring apparatus according to the present invention will be described in detail. However, the present invention is not limited or limited by the following examples.
도 1은 본 고안에 따른 다기능 계측 장치의 외관을 나타낸 정면도이고, 도 2는 도 1의 내부 구성 블록도이다.1 is a front view showing the appearance of a multi-function measuring apparatus according to the present invention, Figure 2 is a block diagram of the internal configuration of FIG.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 고안의 다기능 계측 장치는 전압 체크, 전류 체크, 주파수 발생기, 주파수 카운터 부품 체크, 전원 오프(OFF), 계측 장치의 기능 셋업, 부저 기능 전환을 위한 기능 선택 다이얼(100)이 전면의 중앙 부위에 형성된다.As shown in FIG. 1, the multi-function measuring device of the present invention has a voltage check, a current check, a frequency generator, a frequency counter component check, a power off, a function set-up of a measuring device, and a function selection dial for switching a buzzer function ( 100) is formed in the central part of the front face.
또한, 메인 기능 선택, 제1 서브 기능 선택 및 사용 도움말을 위한 키 선택부(110)가 기능 선택 다이얼(100)의 상측 영역에 구성되고, 기능 선택 다이얼(100) 및 키 선택부(110)에 의한 각 기능 수행에 따른 신호의 크기 및 형태 등을 디스플레이하기 위한 디스플레이부(130)가 계측 장치의 전면 상부에 형성된다.In addition, a key selection unit 110 for main function selection, first sub function selection, and usage help is configured in an upper region of the function selection dial 100, and is provided in the function selection dial 100 and the key selection unit 110. The display unit 130 for displaying the size and shape of the signal according to the performance of each function is formed on the upper front of the measurement device.
또한, 각종 통신기기의 측정하고자 하는 신호를 입력받거나 발생된 주파수 신호를 출력하기 위한 입출력 단자부(140)가 계측 장치의 전면 하측에 배치된다.In addition, an input / output terminal unit 140 for receiving a signal to be measured of various communication devices or outputting a generated frequency signal is disposed under the front side of the measuring device.
여기서, 키 선택부(110)는 오실로스코프 및 디지털 멀티미터 기능 선택을 위한 스코프 키(111), 로직 아날로저 기능 선택을 위한 로직키(112), 직류 및 교류 전원 선택을 위한 AC/DC키(113), 각종 기능에 따른 측정 범위 선택을 위한 레인지(range)키(114)를 포함한다. 또한, 키 선택부(110)는 키 입력에 따라 선택된 메인 기능에 따른 제1 서브 기능 선택을 위한 제1 내지 제4 서브 기능 선택키(115,116,117,118), 제1 서브 기능 내에 포함되는 복수의 제2 서브 기능 선택을 위한 커서(cursor)키(119)를 포함한다.Here, the key selector 110 includes a scope key 111 for selecting an oscilloscope and a digital multimeter function, a logic key 112 for selecting a logic analog function, and an AC / DC key 113 for selecting a DC and AC power supply. And a range key 114 for selecting a measurement range according to various functions. In addition, the key selector 110 may include first to fourth sub function selection keys 115, 116, 117 and 118 for selecting a first sub function according to a main function selected according to a key input, and a plurality of second subs included in the first sub function. Cursor key 119 for function selection is included.
또한, 키 선택부(110)는 측정된 각종 신호값 등을 저장하기 위한 저장키(120), 계측 장치의 사용 도움말을 선택하기 위한 헬프(help)키(121) 및 측정된 각종 신호 값 등을 고정시키기 위한 홀드(hold)키(122)를 포함하여 구성된다.In addition, the key selector 110 may include a storage key 120 for storing measured signal values and the like, a help key 121 for selecting help of a measurement device, and measured signal values. And a hold key 122 for holding.
이때, 본 고안에 따른 다기능 계측 장치는 컴퓨터 등의 통신 단말기와의 접속을 위한 인터페이스 및 전원 공급 커넥터가 일정 측면에 구성되어 있음은 자명하다.At this time, the multi-function measuring device according to the present invention is obvious that the interface and the power supply connector for connecting to a communication terminal such as a computer is configured on a certain side.
이와 같이 구성되는 본 고안에 따른 내부 구성회로를 첨부 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.The internal configuration circuit according to the present invention constructed as described above will be described with reference to the accompanying drawings.
도 2를 참조하면, 본 고안에 따른 다기능 계측 장치는 각종 기기들로부터 입력되는 신호를 입력받는 입력부(210), 입력되는 신호의 계측 형태 즉 기능 선택을 위한 기능 선택부(220), 기능 선택에 따른 적절한 신호 크기와 형태를 조절하기 위한 신호 분배 및 디지털 변환하기 위한 신호 변환부(300)를 포함한다.Referring to Figure 2, the multi-function measuring apparatus according to the present invention is an input unit 210 for receiving a signal input from various devices, a measurement type of the input signal, that is, a function selection unit 220 for selecting a function, the function selection And a signal converter 300 for digital distribution and signal distribution for adjusting the appropriate signal size and shape.
또한, 다기능 계측 장치는 신호 변환부(300)에서 출력되는 신호를 선택된 기능에 따라 데이터 처리하기 위한 데이터 처리부(400), 각부의 전체적인 동작을 제어하기 위한 제어신호를 데이터 처리부(400)를 통해 출력하는 제어부(410)를 포함한다.In addition, the multi-function measuring apparatus outputs a data processing unit 400 for data processing the signal output from the signal conversion unit 300 according to a selected function, and a control signal for controlling the overall operation of each unit through the data processing unit 400. The control unit 410 is included.
또한, 본 고안에 따른 다기능 계측 장치는 각 기능에 따라 데이터 처리부(400)에서 출력되는 신호를 저장하거나 또는 저장된 신호들을 출력하기 위한 저장부(420) 및 각 기능 선택에 따른 신호 값 및 파형을 디스플레이하기 위한 표시부(430)를 포함하여 구성된다.In addition, the multi-function measuring apparatus according to the present invention displays the storage unit 420 for storing the signal output from the data processing unit 400 or outputting the stored signals and the signal value and waveform according to each function selection according to each function It is configured to include a display unit 430 for.
여기서, 신호 변환부(300)는 기능 선택부(220)를 통해 선택된 디지털 멀티미터 기능에 따른 신호 변환을 수행하는 제1 신호 변환부(310), 오실로스코프 및 로직 아날라이저 기능에 따른 신호 변환을 수행하는 제2 신호 변환부(320), 주파수 카운터 기능에 따른 신호 변환을 수행하는 제3 신호 변환부(330) 및 주파수 발생기 기능에 따른 신호 변환을 수행하는 제4 신호 변환부(340)를 더 포함하여 구성된다.Here, the signal converter 300 may perform signal conversion based on a first signal converter 310, an oscilloscope, and a logic analyzer function to perform signal conversion according to the digital multimeter function selected through the function selector 220. Further comprising a second signal converter 320, a third signal converter 330 for performing a signal conversion according to the frequency counter function and a fourth signal converter 340 for performing a signal conversion according to the frequency generator function It is composed.
이때, 제1 신호 변환부(310)는 디지털 멀티미터 기능 수행을 위해 입력되는 신호의 크기 및 파형을 적절한 형태로 조절하는 분배기(312), 크기 및 파형이 조절된 다양한 형태 즉, 전압, 전류, 저항 등의 신호를 일정한 아날로그 값으로 변환하는 데이터 변환기(314) 및 일정한 아날로그 신호를 디지털 변환하여 데이터 처리부(400)로 출력하는 A/D 컨버터(316)로 구성된다.At this time, the first signal converter 310 is a divider 312 for adjusting the size and waveform of the input signal in an appropriate form to perform the digital multimeter function, various forms of adjusting the size and waveform, that is, voltage, current, The data converter 314 converts a signal such as a resistor into a constant analog value, and the A / D converter 316 digitally converts the constant analog signal to the data processor 400.
또한, 제2 신호 변환부(320)는 입력되는 신호 파형을 그리기 위해 주파수 값 리딩(reading)을 수행하기 위한 신호 증폭기(322) 및 A/D 컨버터(324)와, 입력되는 신호를 적절한 크기 및 파형으로 조절하기 위한 분배기(326), 분배기(326)의 출력신호를 증폭하기 위한 증폭기(328) 및 증폭기(328)의 신호를 입력받아 신호의 크기 및 파형을 조절하기 위한 분배기(329)를 포함하여 구성된다.In addition, the second signal converter 320 may include a signal amplifier 322 and an A / D converter 324 for performing frequency value reading to draw an input signal waveform, and an input signal with an appropriate size and A divider 326 for adjusting the waveform, an amplifier 328 for amplifying the output signal of the divider 326, and a divider 329 for adjusting the magnitude and waveform of the signal by receiving the signal of the amplifier 328. It is configured by.
또한, 제3 신호 변환부(330)는 입력되는 신호의 크기 및 파형을 적절하게 조절하기 위한 분배기(332), 분배기(332)에서 출력되는 신호를 증폭하기 위한 OP 앰프(334), OP 앰프(334)에서 출력되는 신호를 BCD(Binary-coded decimal) 코드화하기 위한 코드화부(336)를 포함하여 구성된다. 이때, 코드화부(336)는 BCD 코드화를 위해 제작된 ASIC 디바이스로 구성할 수 있다.In addition, the third signal converter 330 may include a divider 332 for appropriately adjusting the size and waveform of an input signal, an OP amplifier 334 for amplifying a signal output from the divider 332, and an OP amplifier ( And a coding unit 336 for encoding a signal output from 334 to binary-coded decimal (BCD). In this case, the encoding unit 336 may be configured as an ASIC device manufactured for BCD encoding.
또한, 제4 신호 변환부(340)는 주파수 발생기 기능 선택에 따라 데이터 처리부(400)를 통해 출력되는 파형의 신호를 발생하는 신호 발생부(342) 및 데이터 처리부(400)를 통해 출력되는 제어신호에 따라 신호 발생부(342)에서 출력되는 신호를 증폭하기 위한 OP 앰프(344)를 포함하여 구성된다.In addition, the fourth signal converter 340 is a control signal output through the signal generator 342 and the data processor 400 for generating a signal of a waveform output through the data processor 400 according to the frequency generator function selection. In accordance with the configuration, and includes an OP amplifier 344 for amplifying the signal output from the signal generator 342.
여기서, 데이터 처리부(400)는 기능 선택부(220)에서 선택되는 다양한 기능에 따라 입력되는 데이터신호를 처리할 수 있는 ASIC 디바이스로 구성할 수 있다.Here, the data processor 400 may be configured as an ASIC device capable of processing the input data signal according to various functions selected by the function selector 220.
또한, 제어부(410)는 선택된 다양한 계측 기능에 따라 데이터 처리부(400)를 제어하기 위한 복수의 제어신호를 출력할 수 있는 멀티 콘트롤러로 구성할 수 있음은 자명한다.In addition, it is apparent that the controller 410 may be configured as a multi controller capable of outputting a plurality of control signals for controlling the data processor 400 according to various selected measurement functions.
이와 같이 구성되어 동작되는 본 고안에 따른 다기능 계측장치의 동작을 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the multi-function measuring apparatus according to the present invention is configured and operated as follows.
먼저, 사용자가 도 1의 입출력 단자부(140)에 측정하고자 하는 기기 또는 소자 등을 연결하고, 스코프 키(111)를 선택함에 의해 디지털 멀티미터 또는 오실로스코프 기능이 선택되는데, 스코프 키(111)를 한번 누르면 디지털 멀티미터 기능이 선택되고 다시 한번 더 누르면 오실로스코프 기능이 선택되도록 구성된다. 이때, 스코프 키(111)를 누르는 동작에 의해 선택되는 멀티미터 또는 오실로스코프 기능 선택 순서가 바뀔 수 있음은 자명하다.First, a user connects a device or device to be measured to the input / output terminal 140 of FIG. 1, and selects a scope key 111 to select a digital multimeter or an oscilloscope function, and the scope key 111 is selected once. Press to select the digital multimeter function and press again to configure the oscilloscope function. At this time, it is obvious that the selection order of the multimeter or oscilloscope function selected by the operation of pressing the scope key 111 may be changed.
사용자가 스코프 키(111)를 누름에 의해 디지털 멀티미터 기능이 선택되면 즉, 도 2의 기능 선택부(220)에 의해 디지털 멀티미터 기능이 선택되고, 입력부(210)를 통해 입력되는 기기 또는 소자의 입력신호는 분배기(312), 데이터 변환기(314) 및 A/D 컨버터(316)를 통해 데이터 처리부(400)로 인가된 후 데이터 처리부(400)는 인가된 입력신호를 제어부(410)로 출력한다.When the digital multimeter function is selected by the user pressing the scope key 111, that is, the device or device is selected by the function selection unit 220 of FIG. 2, and is input through the input unit 210. The input signal of is applied to the data processor 400 through the divider 312, the data converter 314 and the A / D converter 316, and then the data processor 400 outputs the applied input signal to the controller 410. do.
제어부(410)는 데이터 처리부(400)로부터 입력되는 신호를 미리 설정된 값보다 큰 값인지 또는 작은 값인지를 비교하고, 비교에 따른 측정 범위 제어신호를 데이터 처리부(400)로 출력하고, 데이터 처리부(400)는 제어부(410)로부터 입력되는 측정 범위 제어신호를 분배기(312)로 출력한다.The controller 410 compares a signal input from the data processor 400 with a value larger or smaller than a preset value, outputs a measurement range control signal according to the comparison to the data processor 400, and outputs a data processor ( 400 outputs a measurement range control signal input from the controller 410 to the distributor 312.
분배기(312)는 측정 범위 제어신호에 따라 최적의 측정 범위를 설정하고, 그에 따라 입력신호의 크기 및 형태를 조절한 후 그 신호를 데이터 변환기(314)로 출력한다. 이때, 측정 범위는 입력되는 신호에 따라 자동으로 설정될 수 있다.The divider 312 sets the optimum measurement range according to the measurement range control signal, adjusts the size and shape of the input signal accordingly, and outputs the signal to the data converter 314. In this case, the measurement range may be automatically set according to the input signal.
데이터 변환기(314)는 분배기(312)로부터 출력되는 신호를 입력받아 그 신호를 일정 형태의 아날로그 신호로 변환하여 출력하고, A/D 컨버터(316)는 아날로그 신호를 입력받아 디지털 변환하여 데이터 처리부(400)로 출력한다.The data converter 314 receives a signal output from the divider 312 and converts the signal into an analog signal of a certain type, and outputs the converted signal. The A / D converter 316 receives an analog signal and converts the digital signal into a data processing unit ( 400).
데이터 처리부(400)는 A/D 컨버터(316)에서 출력되는 디지털 신호를 입력받아 제어부(410)로 출력하고, 제어부(410)는 데이터 처리부(400)로부터 신호를 입력받아 250ms 주기로 데이터 처리를 수행하기 위한 제어신호를 데이터 처리부(400)로 출력한다.The data processor 400 receives a digital signal output from the A / D converter 316 and outputs it to the controller 410, and the controller 410 receives a signal from the data processor 400 and performs data processing every 250 ms. The control signal for outputting to the data processing unit 400.
데이터 처리부(400)는 제어부(410)의 제어신호에 따라 데이터 처리를 수행하여 멀티미터 기능에 따른 신호 데이터 값을 표시부(430)를 통해 디스플레이 한다.The data processor 400 performs data processing according to the control signal of the controller 410 and displays the signal data value according to the multimeter function on the display unit 430.
이때, 제어부(410)는 사용자에 의한 도 1의 저장키(120)를 누름에 의해 선택적으로 데이터 처리된 신호 데이터 값을 저장부(420)에 저장할 수 있다.In this case, the controller 410 may store the signal data value selectively processed by pressing the storage key 120 of FIG. 1 by the user in the storage unit 420.
여기서, 표시부(430)에서 디스플레이 되는 화면 상태는 도 3에 도시된 바와 같다.Here, the screen state displayed on the display unit 430 is as shown in FIG. 3.
도 3은 본 고안의 전압값 측정을 위한 디지털 멀티미터 기능 수행의 출력 상태를 나타낸 화면도이다.3 is a screen diagram illustrating an output state of performing a digital multimeter function for measuring a voltage value of the present invention.
도 3을 참조하면, 측정된 신호의 주파수(500), 측정 전압값(502), 아날로그 값(504), 이전의 측정 전압값(506), 데시벨(dB)값(508), 데시벨 기준값(510), 온도(512), 사용 시간(514), 자동 전원 오프(power off) 잔여 시간(516) 및 도 1의 제1 내지 제4 서브 기능 선택키(115,116,117,118)에 의한 서브 선택 메뉴(518)가 표시부(430)에 디스플레이 된다.Referring to FIG. 3, the frequency 500 of the measured signal, the measured voltage value 502, the analog value 504, the previous measured voltage value 506, the decibel (dB) value 508, and the decibel reference value 510. ), Temperature 512, usage time 514, automatic power off remaining time 516 and sub selection menu 518 by the first to fourth sub function selection keys 115, 116, 117 and 118 of FIG. The display unit 430 is displayed.
도 4는 본 고안의 최소, 최대 및 평균값 측정을 위한 디지털 멀티미터 기능 수행의 출력 상태를 나타낸 화면이다.4 is a screen showing the output state of performing the digital multimeter function for measuring the minimum, maximum and average value of the present invention.
도 4를 참조하면, 측정된 신호의 주파수(519), 측정 전압값(520), 전압 최대값, 평균값, 최소값 및 입력되는 신호의 막대 그래프(521)가 표시부(430)에 디스플레이 된다. 이때, 막대 그래프(521)에 의해 사용자는 측정되는 신호의 변화되는 상태를 볼 수 있다.Referring to FIG. 4, the frequency 519 of the measured signal, the measured voltage value 520, the maximum voltage value, the average value, the minimum value, and the bar graph 521 of the input signal are displayed on the display unit 430. In this case, the bar graph 521 allows the user to see the changed state of the measured signal.
여기서, 측정된 신호의 전압 최대값, 최소값, 평균치 등의 값이 변할 때마다 그 시간을 기록할 수 있고, 그 데이터는 250ms 내지 2s의 시간 간격으로 읽는 시간을 조정될 수 있다.Here, the time can be recorded every time the value of the measured signal voltage maximum, minimum, average, etc. changes, and the data can be adjusted at a time interval of 250 ms to 2 s.
또한, 디지털 멀티미터 기능 중 그에 따른 서브 메뉴 기능 선택을 위한 서브 메뉴가 표시부(430)의 하부 영역에 디스플레이 된다.In addition, a submenu for selecting a submenu function according to the digital multimeter function is displayed in the lower area of the display unit 430.
한편, 사용자가 도 1의 스코프 키(111)를 다시 누르면, 설정되었던 디지털 멀티미터 기능이 오실로스코프 기능으로 재설정된다.On the other hand, when the user presses the scope key 111 of FIG. 1 again, the set digital multimeter function is reset to the oscilloscope function.
스코프 키(111)에 의한 오실로스코프 기능 선택 신호가 입력되면, 도 2 기능 선택부(220)에서 오실로스코프 기능이 선택되고, 입력출력 단자부(140)를 통해 입력되는 신호는 제2 데이터 변환부(320)의 분배기(326)로 입력된다.When the oscilloscope function selection signal is input by the scope key 111, the oscilloscope function is selected by the function selection unit 220 of FIG. 2, and the signal input through the input output terminal unit 140 is the second data conversion unit 320. Is entered into the distributor 326.
분배기(326)는 입력되는 신호를 175mV, 1.75V, 17.5V, 175V, 700V 등으로 분배하여 출력하고, 증폭기(328)는 분배기(326)에서 출력되는 신호를 입력받아 일정 레벨로 증폭한 후 출력한다.The divider 326 divides the input signal into 175 mV, 1.75 V, 17.5 V, 175 V, 700 V, and the like, and outputs the amplifier 328. The amplifier 328 receives the signal output from the divider 326 and amplifies the signal to a predetermined level and then outputs the result. do.
분배기(329)는 증폭기(328)에서 출력되는 신호를 입력받아 격자상 최대 파형을 그리기 위해 1:1, 1:2, 1:5 중 어느 하나로 설정한 후 데이터 처리부(400)로 출력한다.The divider 329 receives the signal output from the amplifier 328 and sets one of 1: 1, 1: 2, and 1: 5 to draw the maximum waveform on the grid, and then outputs the signal to the data processor 400.
데이터 처리부(400)는 제어부(410)의 제어신호에 의해 분배기(329)로부터 신호를 입력받아 디지털 변환하고, 디지털 변환된 신호를 저장부(420)에 저장한 후 순차적으로 출력하여 표시부(430)에 출력 파형을 디스플레이 한다. 이때, 표시부(430)에 디스플레이 되는 전압은 파형의 최대값이다.The data processor 400 receives the digital signal from the divider 329 by the control signal of the controller 410, digitally converts the signal, and stores the digitally converted signal in the storage unit 420 and sequentially outputs the signal to the display unit 430. Display the output waveforms. At this time, the voltage displayed on the display unit 430 is the maximum value of the waveform.
또한, 입출력 단자부(140)를 통해 입력되는 신호의 흐름이 분배기(326), 증폭기(328), 분배기(329), 데이터 처리부(400), 저장부(420) 및 표시부(430)로 순차적으로 이루어짐과 동시에 입력되는 주파수 신호는 신호 증폭기(322)에서 일정 레벨로 증폭되고, A/D 컨버터(324)는 일정 레벨로 증폭된 주파수 신호를 디지털 변환하여 출력한다.In addition, the flow of a signal input through the input / output terminal unit 140 is sequentially made up of the divider 326, the amplifier 328, the divider 329, the data processor 400, the storage unit 420, and the display unit 430. The frequency signal inputted at the same time is amplified by the signal amplifier 322 to a predetermined level, and the A / D converter 324 digitally converts and outputs the amplified frequency signal to a predetermined level.
데이터 처리부(400)는 A/D 컨버터(324)에서 출력되는 주파수 신호를 입력받고, 제어부(410)의 제어에 의해 주파수 신호 데이터 값을 리딩한 후 그 주파수를 갖는 신호 데이터 값을 표시부(430)를 통해 디스플레이 한다.The data processor 400 receives the frequency signal output from the A / D converter 324, reads the frequency signal data value under the control of the controller 410, and then displays the signal data value having the frequency. Display via
여기서, 오실로스코프 기능에 따라 표시부(430)를 통해 출력되는 화면은 도 5에 도시된 바와 같다.Here, the screen output through the display unit 430 according to the oscilloscope function is as shown in FIG.
도 5는 본 고안의 오실로스코프 기능 수행에 따른 출력화면 상태를 나타낸 도면이다.5 is a view showing an output screen state according to the oscilloscope function of the present invention.
도 5에 도시된 바와 같이, 입력되는 신호의 파형(530), 조정 전압(532), 주파수(534), 트리거(Trigger) 레벨(536) 및 입력 실효 전압값(538)이 표시부(430)에 디스플레이 된다.As shown in FIG. 5, the waveform 530, the adjustment voltage 532, the frequency 534, the trigger level 536, and the input effective voltage value 538 of the input signal are displayed on the display unit 430. Is displayed.
이때, 표시부(430)에 디스플레이 되는 화면의 하부 영역에는 서브 기능 선택을 위한 서브 메뉴가 디스플레이 된다.In this case, a submenu for selecting a sub function is displayed in the lower area of the screen displayed on the display unit 430.
한편, 사용자가 도 1의 기능 선택 다이얼(100)을 조절하여 주파수 카운터 기능 선택 신호를 입력하면, 도 2의 기능 선택부(220)에 의해 주파수 카운터 기능이 선택된다.Meanwhile, when the user inputs the frequency counter function selection signal by adjusting the function selection dial 100 of FIG. 1, the frequency counter function is selected by the function selection unit 220 of FIG. 2.
입력출력 단자부(140)를 통해 입력 주파수 신호를 입력하면, 분배기(332)는 입력되는 주파수 신호를 최하위 단계로 주파수를 분배하고, OP 앰프(334)는 최하위 단계로 분배된 주파수 신호를 일정 레벨로 출력한다.When the input frequency signal is input through the input output terminal unit 140, the divider 332 divides the frequency into the lowest level, and the OP amplifier 334 distributes the frequency signal distributed in the lowest level to a predetermined level. Output
코드화부(336)는 OP 앰프(334)에서 출력되는 증폭된 주파수 신호를 BCD 코드화하여 데이터 처리부(400)로 출력하고, 데이터 처리부(400)는 BCD 코드화된 주파수 신호의 크기에 따라 분배기(332) 및 코드화부(336)에 최적의 주파수 카운팅을 위한 신호를 출력한다.The coding unit 336 BCD-codes the amplified frequency signal output from the OP amplifier 334 and outputs the BCD-coded signal to the data processing unit 400. The data processing unit 400 divides the signal according to the magnitude of the BCD-coded frequency signal. And a signal for optimal frequency counting to the encoding unit 336.
상술한 과정을 통해 최적의 주파수 카운팅 상태에 따른 주파수 신호를 표시부(430)를 통해 출력한다.Through the above-described process, the frequency signal according to the optimal frequency counting state is output through the display unit 430.
이때, 표시부(430)를 통해 디스플레이 되는 화면 상태는 도 6에 도시된 바와 같다.In this case, the screen state displayed through the display unit 430 is as shown in FIG. 6.
도 6은 본 고안의 주파수 카운터 기능 수행에 따른 출력화면 상태를 나타낸 것으로서, 카운팅된 신호의 현재 주파수(600), 시간(602), 이전 주파수(604), 이전 주파수 시간(606), 이전 회전수(RPM)(608), 게이트 시간(610), 감소율(612), 사용시간(614), 온도(616), 전원차단 잔류시간(618) 및 채널(620) 등이 표시부(430)에 디스플레이되고, 제1 내지 제4 서브 메뉴 선택키(115,116,117,118)에 의한 서브 선택 메뉴를 디스플레이 된다.Figure 6 shows the output screen state according to the frequency counter function of the present invention, the current frequency 600, the time 602, the previous frequency 604, the previous frequency time 606, the previous rotation number of the counted signal The RPM 608, the gate time 610, the reduction rate 612, the usage time 614, the temperature 616, the shutdown time 618, the channel 620, and the like are displayed on the display unit 430. The sub selection menus are displayed by the first to fourth sub menu selection keys 115, 116, 117 and 118.
한편, 사용자가 도 1의 기능 선택 다이얼(100)을 조절하여 주파수 발생기 기능 선택 신호를 입력하면, 도 2의 기능 선택부(220)에 의해 주파수 발생기 기능이 선택된다.Meanwhile, when the user inputs the frequency generator function selection signal by adjusting the function selection dial 100 of FIG. 1, the frequency generator function is selected by the function selection unit 220 of FIG. 2.
기능 선택부(220)에 의해 주파수 발생기 기능 선택신호가 입력되면, 데이터 처리부(400)는 주파수 발생 신호를 신호 발생부(342)로 출력하고, 신호 발생부(342)는 주파수 발생 신호에 의해 주파수의 대소가 조정되어 그에 따른 주파수를 갖는 신호를 발생하고, 발생된 주파수 신호는 OP 앰프(344)에서 일정 레벨로 증폭되어 도 1의 입출력 단자부(140)를 통해 출력된다.When the frequency generator function selection signal is input by the function selection unit 220, the data processing unit 400 outputs the frequency generation signal to the signal generation unit 342, and the signal generation unit 342 generates the frequency by the frequency generation signal. The magnitude of is adjusted to generate a signal having a frequency corresponding thereto, and the generated frequency signal is amplified to a predetermined level in the OP amplifier 344 and output through the input / output terminal unit 140 of FIG.
또한, OP 앰프(344)에서 증폭된 발생 주파수 신호는 데이터 변환부(320)의 신호 증폭기(322)를 거쳐 A/D 컨버터(324)를 통해 데이터 처리부(400)로 출력된다. 데이터 처리부(400)는 제어부(410)의 제어에 따라 발생된 주파수 값을 표시부(430)를 통해 디스플레이 한다.In addition, the generated frequency signal amplified by the OP amplifier 344 is output to the data processor 400 through the A / D converter 324 via the signal amplifier 322 of the data converter 320. The data processor 400 displays the frequency value generated under the control of the controller 410 through the display unit 430.
여기서, 주파수 발생에 따른 표시부(430)의 디스플레이 화면은 도 7에 도시된 바와 같다.Here, the display screen of the display unit 430 according to the frequency generation is as shown in FIG.
도 7은 본 고안의 주파수 발생기 기능 수행에 따른 출력화면 상태를 나타낸 도면으로서, 표시부(430)에는 발생된 주파수(700), 듀티(duty)(702), 출력 주파수 앰프(704), 출력 파형 형태(706), 온도(708), 측정 시간(710) 및 자동 전원오프 잔류 시간(712)이 디스플레이 된다. 또한, 표시부(430)의 하부영역에는 주파수 발생기 기능에 따른 서브 선택 메뉴(714)가 디스플레이 된다.7 is a view showing the output screen state according to the frequency generator function of the present invention, the display unit 430, the generated frequency 700, the duty (702), the output frequency amplifier 704, the output waveform form 706, temperature 708, measurement time 710 and auto power off residence time 712 are displayed. In addition, a sub-selection menu 714 according to the frequency generator function is displayed in the lower area of the display unit 430.
한편, 사용자가 도 1의 로직키(112)를 눌러 로직 아날라이저 기능 선택 신호를 입력하면, 도 2의 기능 선택부(220)에 의해 로직 아날라이저 기능이 선택된다.Meanwhile, when a user inputs a logic analyzer function selection signal by pressing the logic key 112 of FIG. 1, the logic analyzer function is selected by the function selection unit 220 of FIG. 2.
여기서, 로직 아날라이저 기능 수행은 제 2 데이터 변환부(320), 데이터 처리부(400), 제어부(410) 및 표시부(430)를 통해 수행되는 오실로스코프 기능과 동일한 내부 구성 회로를 통해 이루어진다.The logic analyzer function is performed through the same internal configuration circuit as the oscilloscope function performed by the second data converter 320, the data processor 400, the controller 410, and the display unit 430.
또한, 도 1의 헬프키(121)를 사용자가 누름에 의해 도 8에 도시된 바와 같이, 다기능 계측기의 사용 설명이 표시부(430)에 디스플레이 된다.In addition, as shown in FIG. 8 by the user pressing the help key 121 of FIG. 1, a description of the use of the multi-function measuring instrument is displayed on the display unit 430.
이와 같이 구성되어 동작되는 본 고안에 따른 다기능 계측 장치는 디지털 멀티미터, 오실로스코프, 주파수 카운터, 주파수 발생기, 로직 아날라이저 기능은 각각 별도로 수행되므로, 어느 하나의 기능을 삭제하거나 제외시켜도 그 외의 다른 기능 수행에는 영향을 미치지 않는다.The multi-function measuring device according to the present invention, which is configured and operated as described above, performs a digital multimeter, an oscilloscope, a frequency counter, a frequency generator, and a logic analyzer separately, so that any other function may be deleted or excluded. Does not affect
본 고안에 따른 다기능 계측 장치는 응용 주문형 집적 회로 즉, ASIC 디바이스를 사용하여 디지털 멀티미터, 디지털 저장 오실로스코프, 주파수 발생기, 주파수 카운터, 로직 아날라이저 등의 다양한 기능을 하나의 계측기에서 수행한다.The multi-function measuring device according to the present invention uses an application specific integrated circuit, an ASIC device, to perform various functions such as a digital multimeter, a digital storage oscilloscope, a frequency generator, a frequency counter, and a logic analyzer in one instrument.
따라서, 본 고안은 다기능 계측기의 전면에 설치된 기능 선택키 및 기능 선택 다이얼에 의해 다양한 기능을 수행할 수 있으므로 전기, 전자 및 통신 기기에서 발생되는 신호의 크기나 형태를 표시하거나 분석을 용이하게 수용할 수 있다.Therefore, the present invention can perform various functions by the function selection key and the function selection dial installed on the front of the multi-function instrument, so that the size or shape of the signal generated from the electrical, electronic and communication devices can be easily displayed or analyzed. Can be.
상기에서는 본 고안의 바람직한 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 실용신안 등록청구의 범위에 기재된 본 고안의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 고안을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although the present invention has been described with reference to preferred embodiments of the present invention, those of ordinary skill in the art may devise the present invention without departing from the spirit and scope of the present invention as defined in the following Utility Model Registration Claims. It will be understood that various modifications and changes can be made.
Claims (12)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020000042403A KR100349882B1 (en) | 2000-07-24 | 2000-07-24 | Multiple metering apparatus |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020000042403A Division KR100349882B1 (en) | 2000-07-24 | 2000-07-24 | Multiple metering apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR200207896Y1 true KR200207896Y1 (en) | 2000-12-15 |
Family
ID=19679545
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR2020000021058U KR200207896Y1 (en) | 2000-07-24 | 2000-07-24 | Multiple metering apparatus |
KR1020000042403A KR100349882B1 (en) | 2000-07-24 | 2000-07-24 | Multiple metering apparatus |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020000042403A KR100349882B1 (en) | 2000-07-24 | 2000-07-24 | Multiple metering apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (2) | KR200207896Y1 (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100359278B1 (en) * | 2000-12-11 | 2002-11-07 | 한국산업안전공단 | Digital Multimeter |
KR100861788B1 (en) * | 2002-08-05 | 2008-10-08 | 주식회사 푸르던텍 | Integration measuring instrument |
KR100667887B1 (en) * | 2005-03-28 | 2007-01-15 | 주식회사 웬스정밀 | Operating System based Multi-Scope |
US20130239709A1 (en) * | 2012-03-19 | 2013-09-19 | Dolleris Scientific Corp. | Multi-function measurement and signal generation device with application selector |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5119019A (en) * | 1989-11-28 | 1992-06-02 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Automatic function selecting multimeter |
EP0607464A1 (en) * | 1992-09-11 | 1994-07-27 | Societe Marechaux Dubost Instruments S.A. | Multifunction measuring acquisition device |
JP3483632B2 (en) * | 1994-11-04 | 2004-01-06 | リーダー電子株式会社 | Multi-function measuring instrument |
JP3792813B2 (en) * | 1996-12-17 | 2006-07-05 | 日置電機株式会社 | Multimeter |
KR100219392B1 (en) * | 1997-04-30 | 1999-09-01 | 전주범 | Universal measuring apparatus |
JPH1183923A (en) * | 1997-09-10 | 1999-03-26 | Shinei Denshi Keisokki Kk | Electronic apparatus inspecting equipment |
JPH11326387A (en) * | 1998-05-13 | 1999-11-26 | Hioki Ee Corp | Measuring apparatus |
-
2000
- 2000-07-24 KR KR2020000021058U patent/KR200207896Y1/en not_active IP Right Cessation
- 2000-07-24 KR KR1020000042403A patent/KR100349882B1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100349882B1 (en) | 2002-08-24 |
KR20000059227A (en) | 2000-10-05 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
U107 | Dual application of utility model | ||
REGI | Registration of establishment | ||
T201 | Request for technology evaluation of utility model | ||
T601 | Decision on revocation of utility model registration | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |