JPH1183923A - Electronic apparatus inspecting equipment - Google Patents

Electronic apparatus inspecting equipment

Info

Publication number
JPH1183923A
JPH1183923A JP9245711A JP24571197A JPH1183923A JP H1183923 A JPH1183923 A JP H1183923A JP 9245711 A JP9245711 A JP 9245711A JP 24571197 A JP24571197 A JP 24571197A JP H1183923 A JPH1183923 A JP H1183923A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
procedure
electronic device
measuring
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9245711A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akira Naruse
明 成勢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SHINEI DENSHI KEISOKKI KK
Original Assignee
SHINEI DENSHI KEISOKKI KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SHINEI DENSHI KEISOKKI KK filed Critical SHINEI DENSHI KEISOKKI KK
Priority to JP9245711A priority Critical patent/JPH1183923A/en
Publication of JPH1183923A publication Critical patent/JPH1183923A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspecting equipment which enables a plurality of inspections with one inspecting equipment, and is correctively formed integrally with an inspection procedure manual. SOLUTION: An electronic apparatus inspecting equipment is constituted of a measuring apparatus body 10 and a personal computer 20 which is PIO- connected with the body. The body 10 is provided with the following; a plurality of measuring apparatuses for inspecting a plurality of features of an inspected electronic apparatus, output channels 13, 14 applying outputs for inspection to the electronic apparatus, input channels 11, 12 inputting signals generated from the electronic apparatus, and a selecting means connecting one measuring apparatus out of a plurality of measuring means with the output channels and/or the input channels. The computer 20 controls operation of a plurality of the measuring means according to set procedure, and displays the inspection procedure and inspection results on a display. The inspection results by the respective inspection means are stored, and an inspection report can be formed after completion of the inspection.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明が属する技術分野】この発明は、電子機器、特に
携帯電話、PHS、ポケベルなどの通信機器の修理工程に
おいてその種々の特性を検査するための装置に係り、特
に複数の検査項目を所定の手順に従って順次検査するこ
とが可能な電子機器検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for inspecting various characteristics of an electronic device, particularly a communication device such as a cellular phone, a PHS, and a pager, in a repairing process. The present invention relates to an electronic device inspection apparatus that can sequentially inspect according to a procedure.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子機器の修理工程においては、故障原
因を調べるために機器の特性検査を行う。この修理工程
における特性検査は、故障の状態に応じて、複数の検査
項目を順次実行し、その原因であるハード部分を突き止
め、その交換等を行う。この検査手順は、通常電子機器
の修理のための検査手順書として予め用意されており、
修理者はこの手順書に従い、種々の計測器を用いて検査
する。例えば携帯電話やPHSの場合、オシロスコープ、
ロジックスコープ、周波数カウンター、パルスカウンタ
ー、オーディオアナライザー、DC電圧計等の種々の計
測器が用いられる。
2. Description of the Related Art In a repair process of an electronic device, a characteristic inspection of the device is performed to investigate a cause of the failure. In the characteristic inspection in the repair process, a plurality of inspection items are sequentially executed in accordance with the state of the failure, a hardware part which is the cause of the inspection is identified, and replacement is performed. This inspection procedure is usually prepared in advance as an inspection procedure manual for repairing electronic devices,
The repairer inspects using various measuring instruments according to the procedure manual. For example, for mobile phones and PHS, oscilloscopes,
Various measuring instruments such as a logic scope, a frequency counter, a pulse counter, an audio analyzer, and a DC voltmeter are used.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】このように従来の修理
工程では、種々の検査項目に対応した計測器を用意する
必要があり、それぞれのスペースを確保する必要があっ
た。また修理者は、検査手順により、各計測器の設置さ
れた場所に移動するか計測器を移動し、検査を進めなけ
ればならなかった。さらにどのような手順で検査するか
については、その都度検査手順書を見る必要があり、熟
練者以外の者が容易に検査することができなかった。
As described above, in the conventional repair process, it is necessary to prepare measuring instruments corresponding to various inspection items, and it is necessary to secure respective spaces. Further, the repairman had to move to the place where each measuring instrument was installed or move the measuring instrument according to the inspection procedure, and proceed with the inspection. In addition, it is necessary to see the inspection procedure manual each time to determine the inspection procedure, and a person other than an expert cannot easily perform the inspection.

【0004】そこで本発明は、1台の検査装置で複数の
検査を行うことができ、且つ検査装置自体が検査手順書
と一体化された検査装置を提供することを目的とする。
また本発明は、熟練者によらず誰にでも簡単に操作でき
る検査装置を提供することを目的とする。さらに本発明
は、故障機器の搬入から修理後の報告書作成までの管理
を一括して行うことができる検査装置を提供することを
目的とする。
Accordingly, an object of the present invention is to provide an inspection apparatus capable of performing a plurality of inspections with one inspection apparatus and integrating the inspection apparatus with an inspection procedure manual.
Another object of the present invention is to provide an inspection apparatus that can be easily operated by anyone, regardless of the skilled person. It is a further object of the present invention to provide an inspection apparatus that can collectively perform management from the delivery of a failed device to the creation of a report after repair.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
る本発明の検査装置は、検査対象である電子機器の複数
の特性をそれぞれ検査するための複数の検査手段と、前
記電子機器に検査のための出力を与える出力チャンネル
と、前記出力に応答して電子機器から発生する信号を入
力する入力チャンネルと、前記複数の検査手段のうち1
の検査手段の出力を前記出力チャンネルに接続し、前記
入力チャンネルを1の検査手段の入力に接続する選択手
段とを備えた本体、前記複数の検査手段の動作を設定さ
れた手順に従って制御する制御手段、前記手順及び各検
査手段による検査結果を記憶する記憶手段並びに前記手
順及び検査結果を表示する表示部を備えたものである。
According to the present invention, there is provided an inspection apparatus for achieving the above object, comprising: a plurality of inspection means for respectively inspecting a plurality of characteristics of an electronic device to be inspected; An output channel for providing an output for an electronic device, an input channel for receiving a signal generated from an electronic device in response to the output, and one of the plurality of inspection means.
And a selecting means for connecting the output of the testing means to the output channel and connecting the input channel to the input of the one testing means, and controlling the operations of the plurality of testing means in accordance with a set procedure. Means, storage means for storing the procedure and the inspection result by each inspection means, and a display unit for displaying the procedure and the inspection result.

【0006】修理者は制御手段に設定された手順に従っ
て、検査対象である電子機器に対し順次複数の検査手段
による検査を行うことができ、その結果を表示部の表示
により確認しながら、次の検査に進むことができる。最
終的な検査結果は、検査報告書として所望の出力形態で
出力させることができる。
According to the procedure set in the control means, the repairer can sequentially inspect the electronic device to be inspected by a plurality of inspection means. You can proceed to the inspection. The final inspection result can be output in a desired output form as an inspection report.

【0007】制御手段が、動作手順を設定、編集する機
能を備えたことにより、ユーザーが任意に手順を設定す
ることができる。
Since the control means has a function of setting and editing an operation procedure, the user can arbitrarily set the procedure.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】以下、本発明を携帯電話器等通信
機器の修理用検査装置に適用した一実施例について説明
する。図1は、携帯電話の修理用検査装置の概要を示す
図で、この装置は主として、複数の計測器(検査手段)
及びメモリ(記憶手段)を内臓した本体10と、本体1
0にパラレルIO接続されたコンピュータ(制御手段)2
0と、液晶ディスプレイ、CRT等の表示部30と、コン
ピュータ20への入力手段(図示せず)から構成され、
図ではコンピュータ、入力手段であるキーボードやマウ
ス及び表示部が一体となったノート型パソコンが使用さ
れる。この実施例では、本体10とパソコン20との接続を
パラレルIOとすることにより高速処理が可能で、また
インターフェイスとしてPCIカード等を利用できる。
但し、接続方式はこれに限定されず、これに代えて或い
は付加的にGP−IBやシリアルIO等を設けることが
できる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment in which the present invention is applied to an inspection apparatus for repairing communication equipment such as a portable telephone set will be described below. FIG. 1 is a diagram showing an outline of an inspection device for repairing a mobile phone. This device mainly includes a plurality of measuring instruments (inspection means).
And a main body 1 containing a memory (storage means) and a main body 1
Computer (control means) 2 connected in parallel IO to 0
0, a display unit 30 such as a liquid crystal display and a CRT, and input means (not shown) to the computer 20.
In the figure, a computer, a notebook computer in which a keyboard, a mouse, and a display unit as input means are integrated are used. In this embodiment, high-speed processing is possible by connecting the main body 10 and the personal computer 20 with parallel IO, and a PCI card or the like can be used as an interface.
However, the connection method is not limited to this, and a GP-IB, a serial IO, or the like can be provided instead or additionally.

【0009】本体10は、音声(オーディオ)系検査、
電源系検査、キーボード系検査、表示部(LCD)系検
査等のため種々の検査手段(信号発生器及び計測器)が
内臓されており、これら検査手段と検査対象である電話
器を接続するために、被検査電話器からの信号を入力す
る2つの入力チャンネル11、12と、被検査電話器に
検査に必要なロジック出力及びアナログ出力をそれぞれ
与える出力チャンネル13、14、電源出力を与える電
源出力チャンネル15を備え、これら入出力チャンネル
は計測器選択スイッチを介して複数の検査手段のいずれ
かに選択的に接続される。また本体10は被検査電話器
からの音声を入力するマイク16、被検査電話器に音声
を出力するためのスピーカ17及び本体を作動させるス
イッチとしてフットスイッチ18を備えている。
The main body 10 includes a sound (audio) inspection,
Various inspection means (signal generator and measuring instrument) are built in for power supply system inspection, keyboard system inspection, display unit (LCD) system inspection, etc., for connecting these inspection means and the telephone to be inspected. , Two input channels 11 and 12 for inputting a signal from the telephone under test, output channels 13 and 14 for supplying a logic output and an analog output necessary for the test to the telephone under test, and a power supply output for supplying a power output. A channel 15 is provided, and these input / output channels are selectively connected to any of a plurality of inspection means via a measuring instrument selection switch. The main body 10 also includes a microphone 16 for inputting voice from the telephone under test, a speaker 17 for outputting voice to the telephone under test, and a foot switch 18 as a switch for operating the main body.

【0010】入力チャンネル11、12はそれぞれ図示
しないプローブと接続され、プローブを被検査電話器の
所定の検査ポイントに接続させることにより、検査を行
う。
Each of the input channels 11 and 12 is connected to a probe (not shown), and a test is performed by connecting the probe to a predetermined test point of the telephone under test.

【0011】本体10に内臓される検査手段は、主とし
て被検査電話器に検査のために必要な信号を送出するた
めの信号発生系と、被検査電話器からの信号を入力する
計測系とからなる。信号発生系としては、図2に全体ブ
ロック図で示すように、パルス発生器101、H/L信号
設定器102、オーディオ信号発生器103、レベル制御器10
4、DC電源105、製品電源発生装置106、スピーカアン
プ107を備えている。
The inspection means incorporated in the main body 10 mainly includes a signal generation system for transmitting a signal necessary for inspection to the telephone under test and a measurement system for inputting a signal from the telephone under test. Become. The signal generation system includes a pulse generator 101, an H / L signal setter 102, an audio signal generator 103, a level controller 10 as shown in the overall block diagram of FIG.
4. It has a DC power supply 105, a product power supply generator 106, and a speaker amplifier 107.

【0012】パルス発生器101とH/L信号設定器102は
選択スイッチ123を介してロジック出力チャンネル13に
接続され、いずれか一方のロジック信号が被検査電話器
に入力される。
The pulse generator 101 and the H / L signal setting unit 102 are connected to the logic output channel 13 via a selection switch 123, and one of the logic signals is input to the telephone under test.

【0013】オーディオ信号発生器103はレベル制御器1
04を介して、DC電源105は直接、選択スイッチ124に接
続され、レベル制御器104及びDC電源105のいずれかの
出力がアナログ出力チャンネル14により被検査電話器に
入力される。製品電源発生装置106の出力は、電流セン
サー108及び電源オンオフスイッチ126を介して電源出力
チャンネル15に接続される。電流センサー108は電源出
力時の電流を計測するもので、電流A/D変換器109に接続
されている。
The audio signal generator 103 is a level controller 1
The DC power supply 105 is directly connected to the selection switch 124 via the input terminal 04, and the output of either the level controller 104 or the DC power supply 105 is input to the telephone under test via the analog output channel 14. The output of the product power generator 106 is connected to the power output channel 15 via the current sensor 108 and the power on / off switch 126. The current sensor 108 measures the current at the time of power supply output, and is connected to the current A / D converter 109.

【0014】これら信号発生系から発生する信号の条件
はコンピュータ20により制御することができる。即ちパ
ルス発生器101のパルス周波数、H/L信号設定器102の
ロジック固定信号、オーディオ信号発生器103の周波
数、レベル制御器104のオーディオ信号レベル、DC電
源105及び製品電源発生装置106の電圧値は、コンピュー
タ20からの入力により設定される。
The conditions of the signals generated from these signal generation systems can be controlled by the computer 20. That is, the pulse frequency of the pulse generator 101, the logic fixed signal of the H / L signal setter 102, the frequency of the audio signal generator 103, the audio signal level of the level controller 104, and the voltage values of the DC power supply 105 and the product power supply generator 106 Is set by an input from the computer 20.

【0015】計測系としては、電話器の発生する信号の
周波数及びパルスを計測する計測器110として周波数カ
ンター、パルスカウンター及びパルス幅計測器と、オシ
ロスコープデータを計測し、記憶するための高速A/D変
換器111及びアナログ波形メモリ112と、ロジックスコー
プデータを計測し、記憶するためのコンパレータ波形整
形器113、114及びロジック波形メモリ115、116と、 A
Cレべル計測のための差動アンプ、フィルター及び終端
抵抗から成る音声系アンプ117と、DC電圧及び抵抗計
測のためのDCアンプ131、132と、マイクアンプ120と
を備え、更にAC/DC変換器118及び低速A/D変換器119を備
えている。
The measuring system includes a frequency counter, a pulse counter, and a pulse width measuring instrument as a measuring instrument 110 for measuring the frequency and pulse of a signal generated by the telephone, and a high-speed A / O for measuring and storing oscilloscope data. A D converter 111 and an analog waveform memory 112, comparator waveform shapers 113 and 114 and logic waveform memories 115 and 116 for measuring and storing logic scope data;
It includes a differential amplifier for measuring the C level, an audio amplifier 117 including a filter and a terminating resistor, DC amplifiers 131 and 132 for measuring DC voltage and resistance, and a microphone amplifier 120. A converter 118 and a low-speed A / D converter 119 are provided.

【0016】これら計測器の条件もまたコンピュータ20
からの指令により制御される。例えばコンピュータ20
は、周波数カウンターの時間ゲート制御、アナログ波形
メモリ112及びロジック波形メモリ115、116の記憶制
御、コンパレータ波形整形器113、114のトリガー及びス
レショルド制御、高速A/D変換器111の感度制御、音声系
アンプ117における感度、終端抵抗切り替え、フィルタ
ー制御等の制御を行う。
The conditions for these measuring instruments are also
It is controlled by the command from. For example, computer 20
Are time gate control of a frequency counter, storage control of analog waveform memory 112 and logic waveform memories 115 and 116, trigger and threshold control of comparator waveform shapers 113 and 114, sensitivity control of high-speed A / D converter 111, audio system Controls sensitivity, termination resistance switching, filter control, and the like in the amplifier 117.

【0017】周波数及びパルス計測器110、高速A/D変換
器111、コンパレータ波形整形器113及び音声系アンプ11
7は、それぞれ計測器選択スイッチ121を介して入力チャ
ンネル11に選択的に接続され、いずれかの計測器に検査
対象である電話器からの信号が入力される。またコンパ
レータ波形整形器114及び音声系アンプ117は、計測器選
択スイッチ122を介して入力チャンネル12に接続され
る。音声系アンプ117は、AC/DC変換器118及び信号選択
スイッチ125を介して低速A/D変換器119に接続されACレ
ベル計測が行われる。
Frequency and pulse measuring device 110, high-speed A / D converter 111, comparator waveform shaper 113, and audio amplifier 11
7 are selectively connected to the input channel 11 via the measuring device selection switches 121, respectively, and a signal from a telephone to be inspected is input to any of the measuring devices. Further, the comparator waveform shaper 114 and the audio amplifier 117 are connected to the input channel 12 via the measuring instrument selection switch 122. The audio amplifier 117 is connected to the low-speed A / D converter 119 via the AC / DC converter 118 and the signal selection switch 125, and performs AC level measurement.

【0018】また選択スイッチ121、122の出力側端子の
一つはDCアンプ131、132を介して信号選択スイッチ12
5の入力側端子に接続され、信号選択スイッチ125の切り
替えにより電話器からの信号が低速A/D変換器119に入力
され、DC電圧、抵抗計測がなされる。
One of the output terminals of the selection switches 121 and 122 is connected to the signal selection switch 12 via DC amplifiers 131 and 132.
The signal from the telephone is input to the low-speed A / D converter 119 by switching the signal selection switch 125, and the DC voltage and resistance are measured.

【0019】計測器選択スイッチ121、122、選択スイッ
チ123、124、信号選択スイッチ125及び電源オンオフス
イッチ126の動作はコンピュータ20からの指令によって
制御される。
The operations of the measuring instrument selection switches 121 and 122, the selection switches 123 and 124, the signal selection switch 125, and the power on / off switch 126 are controlled by instructions from the computer 20.

【0020】コンピュータ20は、上述した本体各回路又
は素子の制御の他、予め設定された良品についての計測
データと良品計測時における各測定器の設定条件をメモ
リーに記憶し、この設定された条件に従って、各計測項
目における条件を設定する。またコンピュータ20は各計
測器による検査品の計測データとメモリーに記憶された
良品のデータとを比較し、各検査項目についてNGか否
かの判定を行う機能を備えている。本実施例の検査装置
では、計測データとして波形データと数値データとが計
測され、そのうち波形データについては良品との目視に
よる評価を行い、数値データについてコンピュータ20に
よる判定を行うようにしている。
The computer 20 stores, in addition to the above-described control of each circuit or element of the main body, measurement data of a non-defective product and setting conditions of each measuring instrument at the time of non-defective measurement in a memory. , The conditions for each measurement item are set. Further, the computer 20 has a function of comparing the measurement data of the inspected product by each measuring instrument with the data of the non-defective product stored in the memory and determining whether or not each inspection item is NG. In the inspection apparatus of the present embodiment, waveform data and numerical data are measured as measurement data, of which the waveform data is visually evaluated as a non-defective product, and the numerical data is determined by the computer 20.

【0021】表示部30は、上述したコンピュータ20へ
の設定を行うために必要なGUIを表示し、検査手順書
及び仮想計測器を構成している。この仮想計測器上に、
コンピュータによる判定の結果や計測データが表示され
る。
The display unit 30 displays a GUI necessary for making the above-described settings for the computer 20, and constitutes an inspection procedure manual and a virtual measuring instrument. On this virtual instrument,
The result of the determination by the computer and the measurement data are displayed.

【0022】ある検査品について実施されたすべての検
査項目についての結果は、メモリーに順次記憶され、パ
ソコン20に接続された適当なプリンター(図示せず)に
より、報告書として出力することができ、またデータ伝
送システムと接続することにより、他のシステムに転送
することができる。
The results of all inspection items performed on a certain inspection item are sequentially stored in a memory, and can be output as a report by an appropriate printer (not shown) connected to the personal computer 20. Also, by connecting to a data transmission system, the data can be transferred to another system.

【0023】次に上述の構成における検査装置の動作の
一実施例を説明する。
Next, an embodiment of the operation of the inspection apparatus having the above configuration will be described.

【0024】この検査装置では、まず計測の前提として
計測条件の設定及び良品データ(基準データ)の入力等
の登録を行う。このような登録は製作者側で行ってもよ
いし、ユーザーが行うこともできる。本発明の検査装置
を立ち上げると表示部30に図3に示すようなメニュー画
面が表示され、これに従い「検査手順作成」31を選択す
る。次に図4に示すような検査手順作成画面が、表示さ
れるので、この画面に表示された所定事項(測定内容4
1、信号計測42、電流計測43、出力項目設定44)を記入す
るような形で、各検査ポイントの計測条件および判定条
件の設定を行う。
In this inspection apparatus, measurement conditions are set and non-defective data (reference data) are registered as prerequisites for measurement. Such registration may be performed by the producer or by the user. When the inspection apparatus of the present invention is started up, a menu screen as shown in FIG. 3 is displayed on the display unit 30, and "Create inspection procedure" 31 is selected in accordance with the menu screen. Next, an inspection procedure creation screen as shown in FIG. 4 is displayed, and the predetermined items (measurement contents 4) displayed on this screen are displayed.
1. The measurement condition and the judgment condition of each inspection point are set in such a manner that the signal measurement 42, the current measurement 43, and the output item setting 44) are entered.

【0025】例えば、図5のフロー図に示すように、測
定内容41の記入(501)では、検査ポイントや信号名を
記入する。次にスコープの設定(502)ではオシロスコ
ープかロジックスコープかを指定した後、トリガー、レ
ンジを指定する。信号計測42の設定(503)では、A
C、DC、グランド間抵抗、端子間抵抗の判定値及び周
波数、パルスのカウント数、パルス幅の判定値を設定す
る。電流計測43の設定(504)では、製品電流の判定値
を設定する。出力項目44としてアナログ出力信号の設定
(505)では、AC及びDC出力の設定を行い、ロジッ
ク出力信号の設定(506)では、ロジックパルスや固定
レベル出力の設定を行う。またセット電源の設定(50
7)では、製品電源電圧を設定する。ディレイ時間の設
定(508)では、設定から計測判定までの待ち時間を設
定する。最後にメモ45の記入(509)では、出力チャン
ネルと検査ポイントの接続や次の手順を指示する。
For example, as shown in the flowchart of FIG. 5, in the entry (501) of the measurement content 41, an inspection point and a signal name are entered. Next, in the scope setting (502), after specifying the oscilloscope or the logic scope, the trigger and the range are specified. In the setting of signal measurement 42 (503), A
Determination values and frequencies of C, DC, resistance between grounds, resistance between terminals, count number of pulses, and determination values of pulse width are set. In the setting (504) of the current measurement 43, a judgment value of the product current is set. As the output item 44, the setting of the analog output signal (505) sets the AC and DC outputs, and the setting of the logic output signal (506) sets the logic pulse and the fixed level output. Also set power supply setting (50
In 7), set the product power supply voltage. In the setting of the delay time (508), a waiting time from the setting to the measurement determination is set. Finally, the entry (509) of the memo 45 instructs the connection between the output channel and the inspection point and the next procedure.

【0026】判定条件の入力は、基準となる良品の電話
器を用いて行うことができ、この良品の計測データ及び
良品を計測したときの設定内容(計測器の設定条件)並
びに検査手順がメモリーに記憶される。例えばDC電
圧、端子間抵抗、パルス数、パルス「H」或いは「L」
の幅等の数値データであれば良品の計測データに対し上
下限の2点の範囲を指定し、それが記憶される。またオ
シロスコープやロジックスコープデータは、良品の波形
データを測定し、その波形をアナログ波形メモリ112或
いはロジック波形メモリ115にデータ列形式で保存す
る。
The judgment conditions can be input by using a standard non-defective telephone, and the measurement data of the non-defective products, the setting contents when measuring the non-defective products (setting conditions of the measuring instrument), and the inspection procedure are stored in a memory. Is stored. For example, DC voltage, resistance between terminals, number of pulses, pulse "H" or "L"
In the case of numerical data such as the width of, the range of the upper and lower two points is specified for the measurement data of a good product, and the range is stored. For oscilloscope and logic scope data, non-defective waveform data is measured, and the waveform is stored in the analog waveform memory 112 or the logic waveform memory 115 in a data string format.

【0027】また検査手順としては、音声(オーディ
オ)系検査、電源系検査、キーボード系検査、表示部
(LCD)系検査等の各検査グループ毎に順次遂行すべ
き計測項目が一連の番号(計測ナンバー)を付して記憶
される。さらに「検査手順作成」31の機能には、コピー
や貼り付け、新規追加機能等の編集機能が付加されてお
り、用意された手順をユーザーが任意に編集して所望の
検査手順を設定することができる。
The test procedure includes a series of numbers (measurement items) to be sequentially performed for each test group such as a voice (audio) test, a power supply test, a keyboard test, and a display (LCD) test. Number). In addition, editing functions such as copy, paste, and new addition functions are added to the function of "Create inspection procedure" 31. The user can arbitrarily edit the prepared procedure and set the desired inspection procedure. Can be.

【0028】上述のように検査手順作成・条件登録が完
了した状態で計測操作に入る。計測操作も図3に示すメ
ニュー画面から「計測モード」32を選択することにより
開始される。
As described above, the measurement operation is started after the inspection procedure creation and condition registration are completed. The measurement operation is also started by selecting “measurement mode” 32 from the menu screen shown in FIG.

【0029】計測操作は、図6のフロー図に示すよう
に、まず初期設定として検査する電話器の機種名、製品
製造番号、作業者名等を入力した後(601)、計測モー
ドに入り、表示部30には図7に示すような計測画面が表
示される。この画面71により、検査すべき電話器の故障
の申告内容に基づき検査グループ、例えばオーディオ系
検査か電源系検査かを選択指定する(602)。この指定
操作によりコンピュータ20は予め登録してあるその検査
グループの検査手順ファイルをメモリーから読み出し、
計測項目のナンバーに従い計測条件、判定条件、出力条
件72及びメモリ内基準波形73を表示する。
In the measurement operation, as shown in the flow chart of FIG. 6, first, a model name, a product serial number, a worker name, etc. of a telephone to be inspected are inputted as initial settings (601), and then a measurement mode is entered. The display unit 30 displays a measurement screen as shown in FIG. On this screen 71, an inspection group, for example, an audio system inspection or a power system inspection is selected and designated based on the contents of the report of the failure of the telephone to be inspected (602). By this designation operation, the computer 20 reads the inspection procedure file of the inspection group registered in advance from the memory,
The measurement condition, the judgment condition, the output condition 72, and the in-memory reference waveform 73 are displayed according to the number of the measurement item.

【0030】次いで製品条件設定(603)において必要
に応じて製品電源投入などの操作や外部からの被検査電
話器への操作(キー操作や待受状態にするなど)を行っ
た後、表示部30(ここではメモ)に表示される指示に従
い、本体の入力チャンネル11、12に接続されたプローブ
のいずれか或いは両方を電話器の所定の場所に接続させ
て、計測開始用のフットスイッチ18をオンにする。これ
により指定された検査グループの一つ計測器による計測
が行われ、その計測データが図7に示す画面74,75に表
示される。例えば検査項目がオシロスコープの場合、検
査された電話器のオシロスコープ波形が表示される。こ
の場合、操作者は両波形を目視により比べることにより
異常か正常かの判断を行うことができる。
Next, in the product condition setting (603), if necessary, operations such as turning on the power of the product and operations from outside to the telephone to be inspected (key operation, standby mode, etc.) are performed, and then the display section is displayed. In accordance with the instructions displayed at 30 (here, a memo), connect one or both of the probes connected to the input channels 11 and 12 of the main body to a predetermined place of the telephone, and set the foot switch 18 for starting the measurement. turn on. As a result, measurement is performed by one of the measuring instruments in the designated inspection group, and the measurement data is displayed on screens 74 and 75 shown in FIG. For example, when the inspection item is an oscilloscope, the oscilloscope waveform of the inspected telephone is displayed. In this case, the operator can determine whether the waveform is abnormal or normal by visually comparing the two waveforms.

【0031】また検査項目がDC電圧値などの数値デー
タの場合には、コンピュータは計測データが予め設定さ
れた良品データの範囲であるか否かを判定し(606)、
その判定結果は、図7に示す画面76に表示されるととも
に、コンピュータ20のメモリ内に記憶される。
If the inspection item is numerical data such as a DC voltage value, the computer determines whether the measured data is within a preset non-defective data range (606).
The result of the determination is displayed on the screen 76 shown in FIG. 7 and is stored in the memory of the computer 20.

【0032】このように判定された結果が、異常あり
(NG)であった場合には、修理作業を行うか(60
7)、修理のためのステーションに検査対象である電話
器を移動する。修理後の電話器は、再び同じ計測器によ
る同一項目の検査を行う。
If the result of this determination is abnormal (NG), repair work is performed (60).
7), move the phone to be inspected to the repair station. The repaired telephone is again inspected for the same item by the same measuring instrument.

【0033】一方、最初に選択された計測項目の検査結
果が異常なし(OK)であった場合には、同じ検査グル
ープ内の次の計測項目の検査を行う(608)。この際、
次に検査を行う計測項目は、予め設定された手順により
コンピュータ20が指示する。操作者はこの指示に従って
次の計測項目の計測を行ってもよいし、次の計測が必要
ないと判断した場合には、その検査グループ内の他の計
測項目を任意に選択して指定することも可能である。
On the other hand, if the inspection result of the first selected measurement item is no abnormality (OK), the next measurement item in the same inspection group is inspected (608). On this occasion,
The computer 20 specifies a measurement item to be inspected next according to a preset procedure. The operator may measure the next measurement item according to this instruction, and if it is determined that the next measurement is not necessary, arbitrarily select and specify another measurement item in the inspection group. Is also possible.

【0034】このようにして故障の申告内容に対応する
検査グループの検査がすべて終了し修理後OKと判断さ
れると(609)、報告書の作成を行う(610)。報告書の
作成は、図7の機能キー(報告書ファンクション)77の
押下によって開始してもよいし、「報告書編集」33(図
3)メニューを選択してもよい。これにより例えば図8
に示すように予め設定されたフォーマットの報告書が表
示部30に表示される。この報告書に製品シリアル番号81
を入力すると、同一番号で既にコンピュータ20に入力さ
れ或いはメモリーに記憶された必要事項が報告書の所定
の欄に記載される。例えば、製品受入時に故障の申告内
容を入力したデータ82や受入時診断を行った結果(デー
タ)83が、コンピュータ内に記憶されているか、他の媒
体上に記憶されコンピュータによって読み取られると、
それらの内容がそれぞれ申告内容の欄及び受入診断の欄
に書き込まれる。操作者は検査担当者名などの必要事項
を入力するとともに、それまでに行った検査結果をもと
に、例えば故障原因84やそれに対する修理項目(処置/
対策)85を入力し、報告書を作成する。報告書は、図示
しないプリンタ等から出力できる。
In this manner, when all the inspections of the inspection group corresponding to the contents of the report of the failure are completed and it is determined that the repair is OK (609), a report is prepared (610). The creation of the report may be started by pressing the function key (report function) 77 in FIG. 7, or the “edit report” 33 (FIG. 3) menu may be selected. Thus, for example, FIG.
A report in a preset format is displayed on the display unit 30 as shown in FIG. This report shows the product serial number 81
Is entered, the necessary items already entered into the computer 20 or stored in the memory with the same number are described in a predetermined column of the report. For example, when the data 82 in which the contents of the failure report is input at the time of product acceptance and the result (data) 83 of the diagnosis at the time of acceptance are stored in the computer or stored on another medium and read by the computer,
Those contents are written in the declaration contents column and the acceptance diagnosis column, respectively. The operator inputs necessary items such as the name of the person in charge of the inspection, and, based on the results of the inspections performed so far, for example, causes 84 of the failure and repair items (treatment /
Countermeasure) Enter 85 and create a report. The report can be output from a printer (not shown).

【0035】このように本発明の検査装置では、複数の
計測器による検査から報告書作成までを1台の装置で連
続して行うことができる。従って数種類の計測器を設備
するための費用、スペースを削減できる。また検査手順
書が装置と一体となっているので、検査に際してはこの
手順に従って検査を進めることができるので検査手順書
をその都度参照する必要がなく、また熟練者でなくても
簡単に操作を行うことができる。
As described above, in the inspection apparatus of the present invention, the inspection from a plurality of measuring instruments to the creation of a report can be continuously performed by one apparatus. Therefore, the cost and space for installing several types of measuring instruments can be reduced. In addition, since the inspection procedure manual is integrated with the device, the inspection can be performed according to this procedure at the time of inspection, so there is no need to refer to the inspection procedure manual each time, and the operation can be easily performed even by a non-expert. It can be carried out.

【0036】また以上の実施例では検査装置を単独に使
用する場合について説明したが、本発明の検査装置はパ
ソコンをネットワークに接続することにより、検査結果
や製品情報を一括管理することが可能となる。図9に本
発明の検査装置によるネットワーク構成の一実施例を示
す。この実施例では、各検査項目に対応した複数の検査
ステーションがネットワークによって接続された状態を
示しており、各ステーションは同じ作業所内であっても
全く離れた場所であってもよい。また一つのステーショ
ンが複数の検査項目に対応していてもよい。
In the above embodiment, the case where the inspection apparatus is used alone has been described. However, the inspection apparatus of the present invention can collectively manage inspection results and product information by connecting a personal computer to a network. Become. FIG. 9 shows an embodiment of a network configuration using the inspection apparatus of the present invention. In this embodiment, a state is shown in which a plurality of inspection stations corresponding to each inspection item are connected by a network, and each station may be in the same work place or may be completely separated. One station may correspond to a plurality of inspection items.

【0037】このようなネットワーク構成において、製
品は製品シリアル番号で管理され、各ステーションでの
検査結果はすべてネットワークサーバー901のデータベ
ースに格納される。
In such a network configuration, products are managed by product serial numbers, and all inspection results at each station are stored in the database of the network server 901.

【0038】例えば故障品受入用のステーション902に
製品が持ち込まれると、ここで製品シリアル番号ととも
に故障の申告内容及び受入時診断の結果が書き込まれ
る。このステーション902で書き込まれたデータは、ネ
ットワークサーバー901に送られデータベースの一部と
なる。このステーション902では、申告内容及び受入時
診断の内容に従って製品を検査すべき項目に分類する。
例えば電源系検査が必要であるか、オーディオ系検査が
必要であるかによって、製品を対応するステーション90
3〜905に搬送する。各ステーションには、それぞれの図
1に示す検査装置が設置されているとともに検査項目に
対応した交換部品などが用意されており、ここで図6に
示すような手順により計測を開始する。この場合、ステ
ーションによって検査項目(検査グループ)が決まって
いる場合には、ステップ602でその設定をすることな
く、ステップ603〜610を実行する。報告書記入時には、
報告書の記載内容のうち申告内容や受入診断の内容はデ
ータベースからデータを転送することにより記入される
ので、それ以外の必要な事項を記入することにより報告
書が作成できる。
For example, when a product is brought into the faulty product receiving station 902, the contents of the report of the fault and the result of the diagnosis at the time of receiving are written together with the product serial number. The data written by the station 902 is sent to the network server 901 and becomes a part of the database. In this station 902, products are classified into items to be inspected according to the contents of the declaration and the contents of the diagnosis at the time of receipt.
For example, depending on whether power system inspection or audio system inspection is required, the station
Convey to 3-905. In each station, the inspection apparatus shown in FIG. 1 is installed, and replacement parts corresponding to the inspection items are prepared. Here, the measurement is started according to the procedure shown in FIG. In this case, if the inspection item (inspection group) is determined by the station, steps 603 to 610 are executed without setting them in step 602. When filling out the report,
Since the contents of the report and the contents of the acceptance diagnosis among the contents of the report are filled out by transferring data from the database, the report can be made by filling in other necessary items.

【0039】一つのステーションで検査が終了するとそ
の結果はネットワークを介してサーバーのデータベース
に送られ、その一部となる。従って製品のシリアル番号
で管理された一つの製品について、これまでの検査結果
や修理記録が保存され、このデータは別のステーション
での検査や同じネットワークに接続された遠く離れた場
所にあるステーション906における検査でも参照するこ
とができる。
When the inspection is completed at one station, the result is sent to the database of the server via the network and becomes a part of the database. Therefore, for one product controlled by the product serial number, the results of previous inspections and repair records are stored, and this data can be stored at another station or a remote station 906 connected to the same network connected to the same network. Can also be referenced.

【0040】尚、以上の実施例では携帯電話器の修理工
程における検査装置を例にして説明したが、本発明は携
帯電話器に限らず複数の検査を必要とする電子機器の検
査装置に適用できる。
Although the above embodiment has been described with reference to an example of an inspection apparatus in a repair process of a mobile phone, the present invention is not limited to a mobile phone and is applicable to an inspection apparatus of an electronic device requiring a plurality of inspections. it can.

【0041】[0041]

【発明の効果】以上の実施例からもわかるように本発明
の検査装置によれば、一つの検査装置内に複数の計測器
を内臓するとともに、それら計測器による検査手順や計
測器の設定条件等がコンピュータ内にプログラムされて
いるので、操作者は表示部の画面に表示された検査手順
に従って検査ポイントと本体のプローブとを接続するだ
けで、順次複数の計測を実行することができる。従って
複数の計測器を設置するスペースとコストを削減し、し
かも検査手順書に頼ることなく誰でも簡単に電子機器の
検査を行うことができ、検査終了時に報告書の作成を行
うことができる。
As can be seen from the above embodiments, according to the inspection apparatus of the present invention, a plurality of measuring instruments are built in one inspection apparatus, and the inspection procedure and setting conditions of the measuring instruments by the measuring instruments are used. Are programmed in the computer, the operator can sequentially execute a plurality of measurements simply by connecting the inspection point and the probe of the main body in accordance with the inspection procedure displayed on the screen of the display unit. Therefore, the space and cost for installing a plurality of measuring instruments can be reduced, and anyone can easily inspect the electronic device without relying on the inspection procedure manual, and can create a report at the end of the inspection.

【0042】また本発明の検査装置によれば、プログラ
ムされた検査手順をユーザーが編集することができるの
で、検査ステーションの制約や必要性に合わせて所望の
検査手順を設定できる。
According to the inspection apparatus of the present invention, the programmed inspection procedure can be edited by the user, so that a desired inspection procedure can be set according to the limitations and necessity of the inspection station.

【0043】更に本発明の検査装置はコンピュータをネ
ットワーク構成とすることにより、遠隔地のステーショ
ンでの処理や複数のステーションでの処理を、どのステ
ーションからも管理することができる。
Further, the inspection apparatus of the present invention can manage processing at a station at a remote place and processing at a plurality of stations from any station by using a computer in a network configuration.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の検査装置の一実施例の概要を示す図FIG. 1 is a diagram showing an outline of an embodiment of an inspection apparatus of the present invention.

【図2】本発明の検査装置の本体部分の一実施例を示す
ブロック図
FIG. 2 is a block diagram showing one embodiment of a main body of the inspection apparatus of the present invention.

【図3】本発明の検査装置における表示の一例を示す図FIG. 3 is a diagram showing an example of a display in the inspection device of the present invention.

【図4】本発明の検査装置における表示の他の例を示す
FIG. 4 is a diagram showing another example of display in the inspection device of the present invention.

【図5】本発明の検査装置における検査手順作成を示す
フロー図
FIG. 5 is a flowchart showing inspection procedure creation in the inspection apparatus of the present invention.

【図6】本発明の検査装置における計測手順のフロー図FIG. 6 is a flowchart of a measurement procedure in the inspection device of the present invention.

【図7】本発明の検査装置における表示の他の例を示す
FIG. 7 is a diagram showing another example of display in the inspection device of the present invention.

【図8】本発明の検査装置における表示の他の例を示す
FIG. 8 is a diagram showing another example of display in the inspection device of the present invention.

【図9】本発明の検査装置のネットワーク構成の一実施
例を示す図
FIG. 9 is a diagram showing an embodiment of a network configuration of the inspection apparatus of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10……本体 11、 12……入力チャンネル 13、14……出力チャンネル 20……制御手段(コンピュータ) 30……表示部 101、 102、103、105、106……信号発生系(検査手段) 108……電流センサー(検査手段) 110、 111、113、114、117……計測器(検査手段) 121、122……計測器選択スイッチ(選択手段) 123、 124……選択スイッチ(選択手段) 10 Main unit 11, 12 Input channel 13, 14 Output channel 20 Control means (computer) 30 Display unit 101, 102, 103, 105, 106 Signal generation system (inspection means) 108 ...... Current sensors (inspection means) 110, 111, 113, 114, 117 ... measuring instruments (inspection means) 121, 122 ... measuring instrument selection switches (selection means) 123, 124 ... selection switches (selection means)

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 検査対象である電子機器の複数の特性を
それぞれ検査するための複数の検査手段と、前記電子機
器に検査のための出力を与える出力チャンネルと、前記
電子機器から発生する信号を入力する入力チャンネル
と、前記複数の検査手段のうち1の検査手段を前記出力
チャンネル及び/又は入力チャンネルに接続する選択手
段とを備えた本体、前記複数の検査手段の動作を設定さ
れた手順に従って制御する制御手段、前記手順及び各検
査手段による検査結果を記憶する記憶手段、並びに前記
手順及び検査結果を表示する表示部を備えたことを特徴
とする電子機器検査装置。
A plurality of inspection means for respectively inspecting a plurality of characteristics of an electronic device to be inspected, an output channel for providing an output to the electronic device for inspection, and a signal generated from the electronic device. A main body including an input channel to be input, and selecting means for connecting one of the plurality of inspection means to the output channel and / or the input channel, and operating the plurality of inspection means in accordance with a set procedure. An electronic device inspection apparatus, comprising: a control unit for controlling; a storage unit for storing the procedure and an inspection result by each inspection unit; and a display unit for displaying the procedure and the inspection result.
【請求項2】 前記制御手段は、前記複数の検査手段の
動作手順を設定、編集する手段を備えたことを特徴とす
る請求項1記載の電子機器検査装置。
2. The electronic device inspection apparatus according to claim 1, wherein said control means includes means for setting and editing operation procedures of said plurality of inspection means.
【請求項3】 前記制御手段は、基準となる電子機器の
特性と検査結果である電子機器の特性とを比較し、検査
対象の良否を判定する手段を備えたことを特徴とする請
求項1記載の電子機器検査装置。
3. The apparatus according to claim 1, wherein said control means includes means for comparing characteristics of the electronic device as a reference and characteristics of the electronic device as a test result to determine whether the test target is good or bad. Electronic device inspection apparatus according to the above.
JP9245711A 1997-09-10 1997-09-10 Electronic apparatus inspecting equipment Pending JPH1183923A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9245711A JPH1183923A (en) 1997-09-10 1997-09-10 Electronic apparatus inspecting equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9245711A JPH1183923A (en) 1997-09-10 1997-09-10 Electronic apparatus inspecting equipment

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1183923A true JPH1183923A (en) 1999-03-26

Family

ID=17137675

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9245711A Pending JPH1183923A (en) 1997-09-10 1997-09-10 Electronic apparatus inspecting equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH1183923A (en)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100349882B1 (en) * 2000-07-24 2002-08-24 주식회사 웬스정밀 Multiple metering apparatus
KR100353624B1 (en) * 2000-07-25 2002-09-27 (학)창성학원 Measurement Device With Computer
JP2005038391A (en) * 2003-07-18 2005-02-10 Samsung Electronics Co Ltd System for measuring performance
JP2006319976A (en) * 2005-05-12 2006-11-24 Agilent Technol Inc Mobile testing system and its method
KR100667887B1 (en) 2005-03-28 2007-01-15 주식회사 웬스정밀 Operating System based Multi-Scope
JP2008072282A (en) * 2006-09-13 2008-03-27 West Japan Railway Co Automatic check system for radio device
KR100861788B1 (en) * 2002-08-05 2008-10-08 주식회사 푸르던텍 Integration measuring instrument

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100349882B1 (en) * 2000-07-24 2002-08-24 주식회사 웬스정밀 Multiple metering apparatus
KR100353624B1 (en) * 2000-07-25 2002-09-27 (학)창성학원 Measurement Device With Computer
KR100861788B1 (en) * 2002-08-05 2008-10-08 주식회사 푸르던텍 Integration measuring instrument
JP2005038391A (en) * 2003-07-18 2005-02-10 Samsung Electronics Co Ltd System for measuring performance
KR100667887B1 (en) 2005-03-28 2007-01-15 주식회사 웬스정밀 Operating System based Multi-Scope
JP2006319976A (en) * 2005-05-12 2006-11-24 Agilent Technol Inc Mobile testing system and its method
JP2008072282A (en) * 2006-09-13 2008-03-27 West Japan Railway Co Automatic check system for radio device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7609081B2 (en) Testing system and method for testing an electronic device
CN107907815B (en) Single-board dual-channel FT (FT) mass production test and yield analysis system and method
KR20040086245A (en) Automated test sequence editor and engine for transformer testing
JPH1183923A (en) Electronic apparatus inspecting equipment
JPH0222565A (en) Signal measuring apparatus and method
JPH04361180A (en) Measuring device for semiconductor and preparation of program for debugging
CN112379252B (en) Primary and secondary fusion pole switch test system
US5020010A (en) Method for preparing and evaluating measurement specificatons for an electronic circuit
CN115079076A (en) Component aging equipment metering device, method, terminal and storage medium
JPH05157592A (en) Electronics performance test device
CN110895976A (en) Dynamic card detection device and method
JP3241777B2 (en) Open test equipment for in-circuit tester
KR20020054571A (en) Test apparatus for mobile communication unit
JP2000280999A (en) Interface checker
US5020009A (en) Method and apparatus for preparing measurement specifications of electronic circuits
JPH09184871A (en) Automatic calibrating apparatus for semiconductor testing system
KR100477315B1 (en) Ratemeter tester
CN216531790U (en) Multi-tool automatic test system and single-tool automatic test system
CN220568163U (en) Metering verification system for test equipment
JPS6016697B2 (en) Relay testing equipment
US20020116142A1 (en) Signal inspection device
CN117310589A (en) Abnormality detection method, device and medium for wafer test system
CN115326281A (en) Method and system for testing response time of pressure and differential pressure transmitter
CN117706463A (en) Ammeter total inspection system and method
JP2983109B2 (en) Resistance inspection device