JPS6016697B2 - Relay testing equipment - Google Patents

Relay testing equipment

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JPS6016697B2
JPS6016697B2 JP55105763A JP10576380A JPS6016697B2 JP S6016697 B2 JPS6016697 B2 JP S6016697B2 JP 55105763 A JP55105763 A JP 55105763A JP 10576380 A JP10576380 A JP 10576380A JP S6016697 B2 JPS6016697 B2 JP S6016697B2
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JP
Japan
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output
section
relay
input
test
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知 小島
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Toshiba Corp
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Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、例えば車両等に使用される総電器の最小動作
電圧、最大開放電圧、巻線抵抗、接点接触抵抗、絶縁抵
抗、絶縁漏洩電流、動作時間などの各種特性試験を行な
い、被試験継電器の測定結果を表示または記録する継電
器試験装置に関するものである。
Detailed Description of the Invention The present invention provides various characteristics such as minimum operating voltage, maximum open circuit voltage, winding resistance, contact contact resistance, insulation resistance, insulation leakage current, and operating time of all electrical appliances used in vehicles, etc. This invention relates to a relay testing device that performs a test and displays or records the measurement results of the relay under test.

継電器すなわちリレーの特性の1つである最小動作電圧
の測定を行なう場合の従釆の測定方法を第1図を参照し
て説明する。
A method for measuring the minimum operating voltage, which is one of the characteristics of a relay, will be explained with reference to FIG.

交流100V等の商用電源を用いた定電圧電流1の出力
電圧を可変抵抗2により分圧して、被試験リレーRYt
の励磁コイルCtに対する印放電圧を0から次第に上昇
させ、目視にて被試験リレーRYtの接点Ktが開くの
を検知しそのときの励磁コイルCtの印加電圧を電圧計
3によりやはり目視により読み取って測定する。
The output voltage of constant voltage current 1 using a commercial power source such as AC 100V is divided by variable resistor 2, and the relay under test RYt is
Gradually increase the voltage applied to the excitation coil Ct from 0, visually detect the opening of the contact Kt of the relay under test RYt, and visually read the voltage applied to the excitation coil Ct at that time using the voltmeter 3. Measure.

また、他の測定試験もこれと同様な方法にて行なってい
たために、測定線の接続の繁雑さ、測定方法の不均一性
による測定値の誤差、多数のリレーの測定時の所要時間
の増大等多くの問題が残されていた。
In addition, other measurement tests were conducted using a similar method, resulting in complicated connection of measurement lines, errors in measurement values due to non-uniformity of measurement methods, and increased time required to measure a large number of relays. Many problems remained.

本発明は、上述した事情を背景としてなされたもので、
測定の自動化を図り、測定作業の簡易化測定回数の増大
化、多数の被試験リレーの自動切換、測定時間の短縮化
および測定値の統計的処理の自動化等を可能とする継電
器試験装置を提供することを目的とする。
The present invention was made against the background of the above-mentioned circumstances, and
We provide relay testing equipment that automates measurement, simplifies measurement work, increases the number of measurements, automatically switches a large number of relays under test, shortens measurement time, and automates statistical processing of measured values. The purpose is to

すなわち、本発明の特徴とするところは、予定のリレー
に対応する各種試験項目についての試験処理プログラム
および参照データが予め記憶され且つ処理にかかわる各
種データを記憶し得る記憶部を有し前記試験処理プログ
ラムに従って入出力および演算処理を行なう演算処理部
と、この演算処理部に情報を入力するための入力部と、
前記演算処理部から情報を出力するための出力部と、前
記入力部に制御指令を入力するための操作部と、前記出
力部からの出力信号により出力が制御される可変電源と
、この可変電源出力値を検出して前記入力部に与える出
力検出回路と、被試験リレーを接続し前記可変電源の出
力を被試験リレーの励磁コイルに供給するための出力回
路と、前記被試験リレーの接点部を接続し該接点部の情
報を前記入力部に与えるための入力回路と、前記出力部
からの出力に基づき測定結果の表示および記録の少なく
とも一方を行なう表示記録部とを具備することにある。
That is, the present invention is characterized by having a storage section in which test processing programs and reference data for various test items corresponding to scheduled relays are stored in advance, and in which various data related to processing can be stored. an arithmetic processing unit that performs input/output and arithmetic processing according to a program; an input unit for inputting information to the arithmetic processing unit;
an output section for outputting information from the arithmetic processing section; an operation section for inputting a control command to the input section; a variable power source whose output is controlled by an output signal from the output section; and the variable power source. an output detection circuit that detects an output value and supplies it to the input section; an output circuit that connects the relay under test and supplies the output of the variable power supply to the excitation coil of the relay under test; and a contact section of the relay under test. and a display/recording section for at least one of displaying and recording measurement results based on the output from the output section.

以下、図面を参照して本発明の一実施例を説明する。第
2図において、操作部11は被試験リレーの種別、形名
等を設定するためのスイッチ、および演算部12の制御
指令を設定するためのスイッチ等を有している。
Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In FIG. 2, the operation section 11 has switches for setting the type, model, etc. of the relay under test, and switches for setting control commands for the calculation section 12.

入力部13は演算部12と外部とのインタフェース用の
バッファ回路で構成されている。演算部12は、記憶部
14により指定される命令の順にリレー試験処理のため
の入出力処理あるいは、四則演算等を行なう。出力部1
5は演算部12と外部との出力バッファ回路で構成され
ている。表示部16は演算部12の指示するデータある
いは結果を表示し、また記録部17は同様にして、結果
の印字記録を行なう。K,,K2は被試験リレーRY,
,RY2の接点であり、18は入力電圧をディジタルデ
ータに変換するA/D(アナログーディジタル)変換器
あるいは、ディジタル電圧計からなるA/D変換部であ
る。
The input section 13 includes a buffer circuit for interfacing the arithmetic section 12 with the outside. The calculation unit 12 performs input/output processing or four arithmetic operations for relay test processing in the order of instructions specified by the storage unit 14. Output section 1
Reference numeral 5 includes an arithmetic unit 12 and an external output buffer circuit. The display section 16 displays the data or results instructed by the calculation section 12, and the recording section 17 similarly prints and records the results. K,,K2 is the relay under test RY,
, RY2, and 18 is an A/D converter consisting of an A/D (analog-to-digital) converter or a digital voltmeter that converts the input voltage into digital data.

記憶部14は演算部12にて実行する命令群すなわちプ
ログラムおよび試験対象リレーの各種特性データ等の参
照データの固定記憶並びに前記命令群の処理に伴なう各
種データの記憶をする。19は演算部12の指示する電
圧値を出力する直流あるいは交流の可変電源である。
The storage unit 14 permanently stores a group of instructions, that is, a program, to be executed by the arithmetic unit 12, reference data such as various characteristic data of the relay to be tested, and stores various data associated with processing of the group of instructions. Reference numeral 19 denotes a DC or AC variable power source that outputs a voltage value instructed by the calculation unit 12.

C,,C2は被試験リレーRY,,RY2の励磁コイル
である。更に、20および21は被試験リレーRY,,
RY2を接続し且つこれらを切換えるためのそれぞれ入
力回路および出力回路である。次に上述の構成における
動作について説明する。
C, , C2 are excitation coils of the relays under test RY, RY2. Furthermore, 20 and 21 are relays under test RY,,
They are an input circuit and an output circuit, respectively, for connecting RY2 and switching them. Next, the operation in the above configuration will be explained.

操作部11にて、被試験リレーの種別等の設定を行ない
、且つ試験開始の指令操作を行なうと、記憶部14に収
納されている命令が演算部12により実行される。
When the operating section 11 is used to set the type of relay under test and to issue a command to start a test, the instructions stored in the storage section 14 are executed by the arithmetic section 12.

この演算部12および記憶部14等は例えば公知のコン
ピュータを用いて構成されるもので、この命令により所
定の試験処理が行なわれる。例えば最小動作電圧測定の
場合を例にとると、可変電源19に制御信号を与えて出
力電圧をOVから次第に上昇させていく。このとき操作
部1 1にて設定された被試験リレーをRY,とすると
出力回路21によって可変電源19の出力電圧がリレー
RY,に印加されることになる。この状態で、可変電源
19の出力電圧を上昇させリレーRY」の後点K,が閉
じたときに、入力回路20を介して入力部13に接点動
作信号が入力され、このときの可変電源19の出力電圧
(すなわち最小動作電圧)をA/D変換部18によりデ
ィジタルデータとし、このデータが入力部13を経て、
演算部12に入力される。そして、演算部12では操作
部11により設定された被試験リレーの種別または形名
に応じた、最小動作電圧の規定値を記憶部14より取出
して、前記A/D変換部18から入力されたデータと比
較し、規定値(許容値)内であれば良、そうでなければ
不良と判定して、この良否判定結果と測定結果(最小動
作電圧値)を表示部15および記録部16に出力する。
また、他の試験についてもこれとおおむね同様であり、
例えば、最大開放電圧測定試験の場合は上述とほぼ同様
な手順で行なうが、被試験リレーの接点がb接点であり
、リレーの励磁コイルへの印加電圧を定格値から次第に
下降させる点が相違する。
The arithmetic unit 12, storage unit 14, etc. are configured using, for example, a known computer, and predetermined test processing is performed in accordance with this instruction. For example, in the case of minimum operating voltage measurement, a control signal is given to the variable power supply 19 to gradually increase the output voltage from OV. At this time, if the relay under test set by the operation unit 11 is RY, the output voltage of the variable power supply 19 is applied to the relay RY by the output circuit 21. In this state, when the output voltage of the variable power source 19 is increased and the rear point K of the relay RY is closed, a contact operation signal is input to the input section 13 via the input circuit 20, and the variable power source 19 at this time The output voltage (that is, the minimum operating voltage) of is converted into digital data by the A/D converter 18, and this data is passed through the input unit 13, and
The signal is input to the calculation unit 12. Then, the calculation unit 12 retrieves from the storage unit 14 the prescribed value of the minimum operating voltage according to the type or model of the relay under test set by the operation unit 11, and extracts it from the storage unit 14 and inputs it from the A/D conversion unit 18. It is compared with the data, and if it is within the specified value (tolerable value), it is determined to be good, otherwise it is determined to be defective, and the pass/fail determination result and the measurement result (minimum operating voltage value) are output to the display section 15 and the recording section 16. do.
In addition, the same applies to other tests as well.
For example, in the case of a maximum open circuit voltage measurement test, the procedure is almost the same as above, but the difference is that the contact of the relay under test is a B contact, and the voltage applied to the excitation coil of the relay is gradually lowered from the rated value. .

また、接点接触抵抗測定試験の場合は、励磁コイルへの
印加電圧を、b接点の測定のときには無電圧とし、a接
点の測定のときには定格竃圧とすることにより、接触抵
抗の測定を行なう。更に、絶縁耐圧試験の場合は絶縁漏
洩電流の直流分(印加電圧は交流)を測定する。このよ
うにすることによって、各測定について、次のような効
果が得られる。
In addition, in the case of a contact resistance measurement test, the contact resistance is measured by applying no voltage to the excitation coil when measuring the B contact, and setting it to the rated pressure when measuring the A contact. Furthermore, in the case of a dielectric strength test, the DC component of insulation leakage current (the applied voltage is AC) is measured. By doing so, the following effects can be obtained for each measurement.

{a} 上述のように最小動作電圧の測定試験において
は、励磁コイルに対する印加電圧を次第に上昇させ、a
接点の閉じるときの印加電圧を測定している。
{a} As mentioned above, in the minimum operating voltage measurement test, the voltage applied to the excitation coil is gradually increased, and a
The voltage applied when the contact closes is measured.

従来の方法では、a接点の閉じる状態の確認を目視に頼
っていたので実際の回路上の動作とは異なっていた。つ
まり、本来は一定の接触圧力のもとに一定以下の接触抵
抗値を有する状態になった時点でないとa接点が閉じた
と判定してはならない。上記実施例によれば、接点の導
適状態を接触抵抗値の測定にて確認することにより確実
な動作電圧測定が行なえる。(b’最大開放電圧測定試
験においては、{a}の場合とほぼ同様である。【c}
接点接触抵抗測定試験においては、従来、数回の測定
によりその平均値をとって測定値としていたが必ずしも
正しい測定値とはいえなかった。
In the conventional method, the closed state of the a contact was visually confirmed, which differed from the actual circuit operation. In other words, it should not be determined that the a contact is closed unless it reaches a state where the contact resistance value is below a certain level under a certain contact pressure. According to the embodiment described above, reliable measurement of the operating voltage can be performed by confirming the conductive state of the contacts by measuring the contact resistance value. (In the b' maximum open circuit voltage measurement test, it is almost the same as in the case of {a}. [c}
Conventionally, in contact resistance measurement tests, measurements were taken several times and the average value was taken as the measured value, but this was not necessarily the correct measured value.

つまり、接触抵抗は計測する毎に測定値が変化するので
、理想的には数十回の測定が必要となる。上記実施例に
よれば高速の測定処理機能を備えているので数十回の測
定を行ない、正規分布内あるいは、代表的な例のデータ
だけの平均値を取るなど所望の統計的処理が行なえるの
で、測定値の確実化が図れる。【dー 絶縁耐圧試験に
おいては、従来の方法によると、所定の電圧を印加する
ことにより、各部のアーク発生状況を目視していた。
In other words, since the measured value of contact resistance changes each time it is measured, it is ideally necessary to measure it several dozen times. According to the embodiment described above, since it is equipped with a high-speed measurement processing function, it is possible to perform several dozen measurements and perform desired statistical processing, such as taking the average value of only data within the normal distribution or representative examples. Therefore, the measurement value can be ensured. [d- In the dielectric strength test, according to the conventional method, a predetermined voltage is applied to visually observe the occurrence of arcing in each part.

上記実施例によると、絶縁漏洩電流の直流分(印加電圧
は交流)を測定するで、絶縁状態の数値化が実現でき確
実な絶縁状態の把握が行なえる。従って、接触抵抗値等
のように測定値が測定毎に変化し、どれを正しい測定値
とするか判断が困難なものに対しても、演算部の演算能
力を活用して、測定回教を増加し測定値の平均値を採用
したりするなど任意の統計的なデータ分析が可能となり
測定値の信頼度が向上する。また全ての試験の自動化が
図れるので被試験リレーの測定時間の短縮化が図れる。
なお、本発明は上述し且つ図面に示す実施例にのみ限定
されることなくその要旨を変更しない範囲内で種々変形
して実施することができる。
According to the above embodiment, by measuring the direct current component of the insulation leakage current (the applied voltage is alternating current), the insulation state can be quantified and the insulation state can be accurately grasped. Therefore, even for things such as contact resistance values, which vary from measurement to measurement and it is difficult to determine which measurement value is correct, the calculation ability of the calculation unit can be utilized to increase the number of measurements. This makes it possible to perform arbitrary statistical data analysis, such as by taking the average value of the measured values, and improves the reliability of the measured values. Furthermore, since all tests can be automated, the measurement time for the relay under test can be shortened.
Note that the present invention is not limited to the embodiments described above and shown in the drawings, but can be implemented with various modifications without changing the gist thereof.

例えば、演算部13としてはマイクロコンピュータある
いは、シーケンスコントローラ等を用いて構成すること
も可能であり、記憶部14も含めて同様の装置により構
成することも可能である。可変電源19としては、例え
ば、電動式スライドレギュータあるいは電子式の可変電
源等を用いて構成できる。また、これらの特性試験を被
試験リレーのみ、加振装置上に穀遣して加振状態にて同
様の試験を行なうことも可能である。この場合の一例を
第3図に示す。
For example, the calculation unit 13 can be configured using a microcomputer, a sequence controller, or the like, and the storage unit 14 can also be configured by a similar device. The variable power source 19 can be configured using, for example, an electric slide regulator or an electronic variable power source. It is also possible to carry out these characteristic tests by placing only the relay to be tested on a vibrating device and performing similar tests under vibrating conditions. An example of this case is shown in FIG.

リレー試験器31は、第2図における被試験リレーRY
,,RY2を除いた測定回路全体により構成されている
The relay tester 31 is the relay under test RY in FIG.
, , consists of the entire measurement circuit excluding RY2.

振動試験器32は振動試験台33を振動させるための制
御装置であり、リレー試験台34は、被試験リレー(場
合により試験回路を含む)を収納している。リレー試験
台34は振動試験台33の上に搭載されており、リレー
試験器31の演算部12からの指令に基づく振動試験器
32の制御により、振動試験台33を加振することによ
り、所要の振動周波数、振幅、加振力によって被試験リ
レーを加振状態および非加振状態として試験可能である
。この場合、被試験リレーを例えば車両搭載と等価な加
振状態とすることで、従釆発見しえなかった故障現象も
再現可能となる。さらに、被試験リレーは1個でも多数
個でもよく、常に1個の試験しか行なわれない場合は入
力回路20、出力回路21の切換選択機能は不要となる
。以上、詳述したように本発明によれば、測定の自動化
を図り、測定作業の簡易化、測定回数の増大化、多数の
被試験リレーの自動切換、測定時間の短縮化および測定
値の統計的処理の自動化等を可能とする継電器試験装置
を提供することができる。
The vibration tester 32 is a control device for vibrating a vibration test stand 33, and the relay test stand 34 houses a relay to be tested (including a test circuit as the case may be). The relay test stand 34 is mounted on the vibration test stand 33, and the vibration test stand 33 is vibrated under the control of the vibration tester 32 based on commands from the calculation unit 12 of the relay tester 31. It is possible to test the relay under test in an excitation state and a non-excitation state depending on the vibration frequency, amplitude, and excitation force. In this case, by subjecting the relay under test to an excitation state equivalent to that of being mounted on a vehicle, it becomes possible to reproduce failure phenomena that could not be detected by the relay. Further, the number of relays to be tested may be one or many, and if only one relay is always tested, the switching selection function of the input circuit 20 and output circuit 21 is not required. As detailed above, according to the present invention, measurement is automated, measurement work is simplified, the number of measurements is increased, a large number of relays under test are automatically switched, measurement time is shortened, and measurement value statistics are achieved. It is possible to provide a relay testing device that enables automated processing.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、従来の測定回路の構成図、第2図は本発明の
一実施例の構成を示す構成図、第3図は本発明の他の実
施例の構成を示す構成図である。 11・・・操作部、12・・・演算部、13・・・入力
部、14・・・記憶部、15・・・出力部、16・・・
表示部、17・・・記録部、18・・・A/D変換部、
19・・・可変電源、20・・・入力回路、21・・・
出力回路、31…リレー試験器、32・・・振動試験器
、33・・・振動試験台、34・・・リレー試験台。 第1図 第2図 第3図
FIG. 1 is a block diagram of a conventional measuring circuit, FIG. 2 is a block diagram showing the structure of one embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a block diagram showing the structure of another embodiment of the present invention. DESCRIPTION OF SYMBOLS 11... Operation part, 12... Arithmetic part, 13... Input part, 14... Storage part, 15... Output part, 16...
Display section, 17... Recording section, 18... A/D conversion section,
19... Variable power supply, 20... Input circuit, 21...
Output circuit, 31... Relay tester, 32... Vibration tester, 33... Vibration test stand, 34... Relay test stand. Figure 1 Figure 2 Figure 3

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 予定の継電器に対応する各種試験項目についての試
験処理プログラムおよび参照データが予め記憶され且つ
処理にかかわる各種データを記憶し得る記憶部を有し前
記試験処理プログラムに従つて入出力および演算処理を
行なう演算処理部と、この演算処理部に情報を入力する
ための入力部と、前記演算処理部から情報を出力するた
めの出力部と、前記入力部に制御指令を入力するための
操作部と、前記出力部からの出力信号により出力が制御
される可変電源と、この可変電源出力値を検出して前記
入力部に与える出力検出回路と、被試験継電器を接続し
前記可変電源の出力を被試験継電器の励磁コイルに供給
するための出力回路と、前記被試験継電器の接点部を接
続し該接点部の情報を前記入力部に与えるための入力回
路と、前記出力部からの出力に基づき測定結果の表示お
よび記録の少なくとも一方を行なう表示記録部とを具備
してなる継電器試験装置。 2 出力回路および入力回路はそれぞれ多数の被測定継
電器およびその接点部を接続し出力部の出力に応じてこ
れら出力回路および入力回路に接続された継電器を各対
応させて切換選択する構成としたことを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載の継電器試験装置。 3 出力回路および入力回路は被測定継電器の接続方式
をソケツトによるプラグイン方式としたことを特徴とす
る特許請求の範囲第1項または第2項に載の継電器試験
装置。 4 予定の継電器に対応する各種試験項目についての試
験処理プログラムおよび参照データが予め記憶され且つ
処理にかかわる各種データを記憶し得る記憶部を有し前
記試験処理プログラムに従つて入出力および演算処理を
行なう演算処理部、この演算処理部に情報を入力するた
めの入力部と、前記演算処理部から情報を出力するため
の出力部、前記入力部に制御指令を入力するための操作
部、前記出力部からの出力信号により出力が制御される
可変電源、この可変電源出力値を検出して前記入力部に
与える出力検出回路、被試験継電器を接続し前記可変電
源の出力を被試験継電器の励磁コイルに供給するための
出力回路、前記被試験継電器の接点部を接続し該接点部
の情報を前記入力部に与えるための入力回路、前記出力
部からの出力に基づき測定結果の表示および記録の少な
くとも一方を行なう表示記録部を具備してなる試験装置
本体と、前記被試験継電器を設置する振動試験台と、こ
の振動試験台を前記試験装置本体により前記演算処理部
の指令に基づいて駆動制御する振動試験器とを具備して
なる継電器試験装置。
[Scope of Claims] 1. A test processing program and reference data for various test items corresponding to a scheduled relay are stored in advance, and a storage unit capable of storing various data related to the processing is provided, and the test processing program is performed according to the test processing program. an arithmetic processing section that performs input/output and arithmetic processing; an input section for inputting information to the arithmetic processing section; an output section for outputting information from the arithmetic processing section; and a control command input to the input section. A variable power source whose output is controlled by an output signal from the output section, an output detection circuit that detects the output value of the variable power source and supplies it to the input section, and a relay under test connected to the an output circuit for supplying the output of the variable power source to the excitation coil of the relay under test; an input circuit for connecting the contact section of the relay under test and providing information on the contact section to the input section; and the output section. A relay testing device comprising: a display/recording unit that displays and/or records measurement results based on output from the relay. 2. The output circuit and the input circuit each have a structure in which a large number of relays to be measured and their contact parts are connected, and the relays connected to the output circuit and the input circuit are switched and selected according to the output of the output part. A relay testing device according to claim 1, characterized in that: 3. The relay testing device according to claim 1 or 2, wherein the output circuit and the input circuit are connected to the relay under test using a plug-in method using a socket. 4. A test processing program and reference data for various test items corresponding to the planned relay are stored in advance, and has a storage section capable of storing various data related to processing, and is capable of performing input/output and arithmetic processing according to the test processing program. an arithmetic processing unit to perform the arithmetic processing; an input unit for inputting information to the arithmetic processing unit; an output unit for outputting information from the arithmetic processing unit; an operation unit for inputting control commands to the input unit; a variable power source whose output is controlled by an output signal from the input section; an output detection circuit that detects the output value of this variable power source and supplies it to the input section; an output circuit for connecting the contact section of the relay under test and supplying information on the contact section to the input section; and at least one for displaying and recording measurement results based on the output from the output section. A test device main body comprising a display/recording section for performing one of the above operations, a vibration test stand on which the relay under test is installed, and a drive control of the vibration test stand by the test device main body based on instructions from the arithmetic processing section. A relay testing device comprising a vibration tester.
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