JP3338184B2 - Analog input / output board test equipment - Google Patents

Analog input / output board test equipment

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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、デジタル信号で制御を
行うプラント制御装置におけるアナログとデジタルの変
換回路に係り、特にアナログ入力およびアナログ出力基
板の出力精度の確認をするアナログ入力出力基板試験装
置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an analog-to-digital conversion circuit in a plant control apparatus which performs control using digital signals, and more particularly to an analog input / output board test apparatus for checking the output accuracy of analog input and analog output boards. About.

【0002】[0002]

【従来の技術】デジタル信号で制御を行うプラント制御
装置(デジタル制御装置)では、プラント状態を把握す
るために、流量および圧力等のプロセス値を入力する。
この入力したプロセス値は、検出器で電圧および電流等
のアナログ入力信号に変換された後に、デジタル制御装
置のアナログ入力回路を形成するアナログ入力基板によ
り、入力したアナログ信号レベルに応じたデジタル信号
に変換(A/D変換)して、ロジック処理に用いられ
る。
2. Description of the Related Art In a plant control device (digital control device) that performs control using digital signals, process values such as a flow rate and a pressure are input in order to grasp a plant state.
The input process value is converted into an analog input signal such as a voltage and a current by a detector, and then converted into a digital signal corresponding to the input analog signal level by an analog input substrate forming an analog input circuit of the digital controller. Conversion (A / D conversion) is used for logic processing.

【0003】また、デジタル制御装置では、プラントを
制御するために調節計等へ制御信号を出力する必要があ
るが、この際に制御用のデジタル値は、デジタル制御装
置でアナログ出力回路を形成するアナログ出力基板によ
って、そのデジタル値に応じた電圧および電流等のアナ
ログ出力信号に変換(D/A変換)して、調節計等の制
御に用いられている。
In a digital control device, it is necessary to output a control signal to a controller or the like in order to control a plant. At this time, a digital value for control forms an analog output circuit by the digital control device. The analog output board converts (D / A converts) the analog value into an analog output signal such as a voltage and a current corresponding to the digital value, and is used for controlling a controller or the like.

【0004】デジタル制御装置を含むプラントの制御装
置においては、その試験項目としてアナログ入力基板の
精度が規定値以内にあることを確認するアナログ入力試
験、およびアナログ出力基板の精度が規定値以内にある
ことを確認するアナログ出力試験がある。
In a control device of a plant including a digital control device, an analog input test for confirming that an accuracy of an analog input board is within a specified value and an accuracy of an analog output board are within a specified value as test items. There is an analog output test to make sure.

【0005】図12のブロック構成図は、従来のアナログ
入力基板のアナログ入力試験における試験装置を例に示
すもので、デジタル制御装置1について通常運転時は、
外部ケーブル2を通してプラントのプロセス量に相当す
る電気信号(電圧、電流)を入力している。前記外部ケ
ーブル2は端子台3を介して基板用配線4に接続され、
この基板用配線4はアナログ入力基板5へ接続されてい
る。
[0005] FIG. 12 is a block diagram showing an example of a conventional test apparatus for performing an analog input test on an analog input board.
An electric signal (voltage, current) corresponding to the process amount of the plant is input through the external cable 2. The external cable 2 is connected to a board wiring 4 via a terminal block 3,
The board wiring 4 is connected to an analog input board 5.

【0006】デジタル制御装置1に入力された電気信号
は、アナログ入力基板5でその電圧値に相当するデジタ
ル信号(カウント値)に変換(アナログ/デジタル変
換、以下A/D変換と略称する)され、次いでロジック
処理基板6でプラントを制御するためのロジック処理に
用いられる。ここで実施するアナログ入力試験は、前記
アナログ入力基板5で行われるA/D変換の精度を確認
するためのものである。
The electric signal input to the digital controller 1 is converted (digital / analog conversion, hereinafter abbreviated as A / D conversion) into a digital signal (count value) corresponding to the voltage value on the analog input board 5. Then, the logic processing board 6 is used for logic processing for controlling the plant. The analog input test performed here is for confirming the accuracy of the A / D conversion performed on the analog input board 5.

【0007】アナログ入力試験に際しては、基板用配線
4をアナログ入力基板5より取り外し、代りに基板用ケ
ーブル7をアナログ入力基板5に接続する。これによ
り、試験用端子台8を介して電圧電流発生器9が模擬し
て出力する試験信号がアナログ入力基板5に入力され
る。なお、この試験信号の電圧あるいは電流値はデジタ
ルマルチメータ10で確認している。
At the time of the analog input test, the board wiring 4 is detached from the analog input board 5, and the board cable 7 is connected to the analog input board 5 instead. Thus, a test signal simulated and output by the voltage / current generator 9 via the test terminal block 8 is input to the analog input board 5. The voltage or current value of the test signal is confirmed by the digital multimeter 10.

【0008】さらに、ロジック処理基板6にはデータ入
出力ケーブル11を接続して、保守ツール12を結合し、ア
ナログ入力基板5において前記試験信号をA/D変換し
たカウント値の確認をする。
Further, a data input / output cable 11 is connected to the logic processing board 6, a maintenance tool 12 is connected thereto, and the analog input board 5 checks the count value obtained by A / D conversion of the test signal.

【0009】この試験結果としてのアナログ入力基板5
におけるA/D変換の精度は、入力した試験信号レベル
に相当する基準カウント値に対する実際のカウント値の
誤差で評価するため、試験員はカウント値の確認後に誤
差計算を行い、精度の良否を確認しながら、順次試験を
進めて行く。
The analog input board 5 as a result of this test
The accuracy of A / D conversion in is evaluated by the error of the actual count value with respect to the reference count value corresponding to the input test signal level, so the tester calculates the error after checking the count value and checks the accuracy. We will proceed with the test.

【0010】一方、従来のアナログ出力基板に対するア
ナログ出力試験は、図12に示したアナログ入力基板5
を、アナログ出力基板に置き換えた構成として実施す
る。すなわち、図示しないアナログ出力基板は、デジタ
ル信号であるカウント値をデジタル値に相当する電気信
号(アナログ)に変換(デジタル/アナログ変換、以下
D/A変換と略称する)するものである。
On the other hand, an analog output test for a conventional analog output board is performed by the analog input board 5 shown in FIG.
Is replaced with an analog output board. That is, an analog output board (not shown) converts a count value, which is a digital signal, into an electric signal (analog) corresponding to a digital value (digital / analog conversion, hereinafter abbreviated as D / A conversion).

【0011】したがって、アナログ出力基板の試験に際
しては、データ入出力ケーブル11でロジック処理基板6
と保守ツール12を接続して試験信号のカウント値を出力
し、これをアナログ出力基板でD/A変換したアナログ
の電気信号を、デジタルマルチメータ10等を用いて確認
する。
Therefore, when testing the analog output board, the logic processing board 6 is connected to the data input / output cable 11.
And the maintenance tool 12 are connected to output a count value of the test signal, and an analog electric signal obtained by D / A conversion of the test signal using an analog output board is confirmed using the digital multimeter 10 or the like.

【0012】また、アナログ出力基板にて行ったD/A
変換の精度は、試験信号のカウント値に相当する基準電
気信号に対する実際の電気信号の読み値との誤差で評価
するため、試験員は電気信号値の確認後に誤差計算を行
い、精度の良否を確認しながら試験を進めていた。
Also, the D / A performed on the analog output board
The accuracy of the conversion is evaluated based on the error between the actual electrical signal reading and the reference electrical signal corresponding to the count value of the test signal.Therefore, the tester calculates the error after confirming the electrical signal value and determines whether the accuracy is good or bad. The test was proceeding while checking.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】デジタル制御装置に備
えた各基板についてアナログ入力出力試験を行う際に、
試験対象基板の型式とデータシートの基板型式を相違さ
せたり、試験装置を誤って試験対象外の実機基板に接続
した場合には、実機基板に不適切な電圧あるいは電流が
加わって破損させる可能性があるという問題があった。
When performing an analog input / output test for each board provided in the digital control device,
If the model of the board under test is different from the board type of the data sheet, or if the test equipment is connected to an actual board that is not the subject of the test, an improper voltage or current may be applied to the actual board, causing damage. There was a problem that there is.

【0014】さらに、アナログ入力出力試験を行う場合
に、試験員が試験のための模擬データ値を確認した後
に、これを試験信号として出力操作をしなければなら
ず、また、試験結果の試験データを確認した後は試験員
により精度計算を行なうことから、試験員に負担が多く
かかると共に、試験作業の迅速化と信頼性が低下し易い
という支障があった。
Further, when performing an analog input / output test, after a tester confirms a simulated data value for the test, the tester must perform an output operation using the simulated data value as a test signal. After confirming the above, the accuracy calculation is performed by the tester, so that the load on the tester is increased, and there is a problem that the test work is speeded up and the reliability tends to be lowered.

【0015】本発明の目的とするところは、デジタル制
御装置に多数備えた各基板に係る各種データベースを備
えると共に、試験基板と試験装置の電気回路の形成と接
続確認および模擬する試験信号の設定と試験結果の評価
をするアナログ入力出力基板試験装置を提供することに
ある。
It is an object of the present invention to provide various data bases for each board provided in a digital control device, to form a test board and an electric circuit of a test apparatus, to establish a connection, to set a test signal to be simulated, and to set up a test signal. An object of the present invention is to provide an analog input / output board test apparatus for evaluating test results.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
請求項1記載の発明に係るアナログ入力出力基板試験装
置は、デジタル制御装置に多数備えられたアナログ信号
をデジタル信号に変換するアナログ入力基板とデジタル
信号をアナログ信号に変換するアナログ出力基板の機能
試験を行なうアナログ入力出力基板試験装置において、
前記デジタル制御装置に接続して試験対象の前記各基板
と試験内容に応じた電気回路を形成する切替手段と、前
記試験対象の各基板に試験信号を出力する信号発生手段
と、前記各基板等の入力出力信号の測定手段と、電気回
路に挿入する標準抵抗と、前記各基板に係る各種データ
ベースを備えて前記試験信号と各基板の入力出力信号を
入力して試験内容に応じて前記切替手段により試験対象
基板との電気回路の形成と接続確認および前記信号発生
手段における試験信号の設定と試験対象基板における変
換機能の評価操作等をする演算処理手段とからなること
を特徴とする。
According to the first aspect of the present invention, there is provided an analog input / output board test apparatus for converting a large number of analog signals provided to a digital controller into digital signals. And an analog input / output board test apparatus that performs a function test of an analog output board that converts a digital signal into an analog signal.
Switching means for connecting to the digital control device to form an electric circuit corresponding to each of the boards to be tested and test contents; signal generating means for outputting a test signal to each of the boards to be tested; Input / output signal measuring means, a standard resistor to be inserted into an electric circuit, and various databases relating to the respective boards, the test signals and the input / output signals of the respective boards being input, and the switching means being provided in accordance with the test content. And an arithmetic processing means for setting an electric circuit with the test target board, confirming the connection, setting a test signal in the signal generating means, evaluating a conversion function in the test target board, and the like.

【0017】請求項2記載の発明に係るアナログ入力出
力基板試験装置は、デジタル制御装置等に備えられて検
出器等から入力したアナログ信号をデジタル信号に変換
して出力するアナログ入力基板の変換機能を確認するア
ナログ入力試験に際して、前記アナログ入力基板が入力
するアナログ信号と出力するデジタル信号の両方を入力
してアナログ入力基板の変換精度を測定することを特徴
とする。
An analog input / output board test apparatus according to the present invention is provided in a digital controller or the like, and converts an analog signal input from a detector or the like into a digital signal and outputs the digital signal. In the analog input test for confirming the above, the conversion accuracy of the analog input board is measured by inputting both the analog signal input to the analog input board and the digital signal output.

【0018】請求項3記載の発明に係るアナログ入力出
力基板試験装置は、デジタル制御装置等に備えられて調
節計等へ制御信号を出力するためにデジタル信号をアナ
ログ信号に変換するアナログ出力基板の変換機能を確認
するアナログ出力試験に際して、前記アナログ出力基板
が入力するデジタル信号と出力するアナログ信号の両方
を入力してアナログ出力基板の変換精度を測定すること
を特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, there is provided an analog input / output board testing apparatus provided in a digital controller or the like for converting a digital signal into an analog signal in order to output a control signal to a controller or the like. In the analog output test for confirming the conversion function, the conversion accuracy of the analog output board is measured by inputting both the digital signal input to the analog output board and the analog signal output from the analog output board.

【0019】請求項4記載の発明に係るアナログ入力出
力基板試験装置は、前記アナログ入力出力基板試験装置
において、試験対象アナログ入力基板の設置場所と基板
の形式およびアナログ信号の入力箇所を記憶したデータ
ベースを備えて、試験時に試験対象アナログ入力基板の
設置場所と基板の形式およびアナログ信号の入力箇所の
データを入力して前記データベースとの合致を確認する
ことを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the analog input / output board test apparatus, wherein the analog input / output board test apparatus stores a location of the analog input board to be tested, a type of the board, and an input location of the analog signal. During the test, the data of the installation location of the analog input board to be tested, the type of the board, and the input location of the analog signal are input, and the matching with the database is confirmed.

【0020】請求項5記載の発明に係るアナログ入力出
力基板試験装置は、前記アナログ入力出力基板試験装置
において、試験対象のアナログ出力基板の設置場所と基
板の形式およびアナログ信号の出力箇所を記憶したデー
タベースを備え、試験時に試験対象アナログ出力基板の
設置場所と基板の形式およびアナログ信号の出力箇所の
データを入力して前記データベースとの合致を確認する
ことを特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, in the analog input / output board test apparatus, the installation location of the analog output board to be tested, the type of the board, and the output location of the analog signal are stored in the analog input / output board test apparatus. A database is provided, and at the time of the test, data on the installation location of the analog output board to be tested, the type of the board, and the output location of the analog signal are input to confirm the match with the database.

【0021】請求項6記載の発明に係るアナログ入力出
力基板試験装置は、前記アナログ入力出力基板試験装置
において、基板型式毎の入力アナログ信号の上下限範囲
と変換後の出力デジタル信号の上下限範囲を記憶したデ
ータベースを備えて、試験対象基板の型式に応じたアナ
ログ試験信号値を自動設定することを特徴とする。
According to a sixth aspect of the present invention, in the analog input / output board test apparatus, the upper and lower limits of the input analog signal for each board type and the upper and lower limits of the converted output digital signal. And automatically sets an analog test signal value according to the type of the test target substrate.

【0022】請求項7記載の発明に係るアナログ入力出
力基板試験装置は、前記アナログ入力出力基板試験装置
において、基板型式毎の出力デジタル信号の上下限範囲
および変換後の出力アナログ試験信号の上下限範囲を記
憶したデータベースを備えて、試験対象基板の型式に応
じたデジタル試験信号値を自動設定することを特徴とす
る。
According to a seventh aspect of the present invention, in the analog input / output board test apparatus, the upper and lower limits of the output digital signal for each board type and the upper and lower limits of the output analog test signal after the conversion. A database storing a range is provided, and a digital test signal value is automatically set according to a model of a test target board.

【0023】請求項8記載の発明に係るアナログ入力出
力基板試験装置は、前記アナログ入力出力基板試験装置
において、基板型式毎の接続確認用の電気回路結線と接
続確認用のアナログ信号値および変換後のデジタル信号
値を記憶したデータベースを備えて、試験対象基板の型
式に応じた接続確認用電気回路の自動形成と接続確認用
アナログ信号値の自動設定および変換後のデジタル信号
データを入力して前記データベースとの合致を確認する
と共に、アナログ信号の入力箇所と試験装置との間の電
気回路の接続を自動的に確認することを特徴とする。
According to an eighth aspect of the present invention, there is provided the analog input / output board test apparatus, wherein the analog input / output board test apparatus includes an electric circuit connection for connection confirmation, an analog signal value for connection confirmation, and With the database that stores the digital signal values of, the digital signal data after the automatic formation and automatic setting of the analog signal value for connection confirmation and automatic conversion of the analog signal value for connection confirmation according to the type of the test target board, and It is characterized in that it matches with a database and automatically checks the connection of an electric circuit between an input point of an analog signal and a test apparatus.

【0024】請求項9記載の発明に係るアナログ入力出
力基板試験装置は、前記アナログ入力出力基板試験装置
において、アナログ信号の入力箇所と試験装置との間の
電気回路の接続を確認する際にアナログ入力基板に印加
される電圧と電流値が当該アナログ入力基板の入力許容
値を越えないように接続確認用電気回路および接続確認
用入力アナログ信号を設定することを特徴とするデジタ
ル制御装置等に備えられて検出器等から入力したアナロ
グ信号をデジタル信号に変換して出力するアナログ入力
基板において、変換精度を確認するアナログ入力試験に
際して前記アナログ入力基板が入力するアナログ信号と
出力するデジタル信号の両方を入力して、アナログ入力
基板の変換精度を測定することを特徴とする。
According to a ninth aspect of the present invention, in the analog input / output board test apparatus, the analog input / output board test apparatus uses an analog input / output board test apparatus to check the connection of an electric circuit between an analog signal input portion and the test apparatus. A digital control device or the like characterized in that the connection confirmation electric circuit and the connection confirmation input analog signal are set so that the voltage and current value applied to the input board do not exceed the input allowable value of the analog input board. An analog input board that converts an analog signal input from a detector or the like into a digital signal and outputs the digital signal. In an analog input test for confirming the conversion accuracy, the analog signal input to the analog input board and the digital signal output are output. It is characterized in that both are input and the conversion accuracy of the analog input board is measured.

【0025】請求項10記載の発明に係るアナログ入力出
力基板試験装置は、前記アナログ入力出力基板試験装置
において、演算処理手段に備えた各基板に係る各種デー
タベースにより切替手段の制御および信号発生手段から
の試験信号出力を変更して各基板の試験を順次実施する
ことを特徴とする。
According to a tenth aspect of the present invention, in the analog input / output board testing apparatus, the analog input / output board testing apparatus is configured to control the switching means and control the signal generation means based on various databases relating to each board provided in the arithmetic processing means. The test of each board is sequentially performed by changing the test signal output of the above.

【0026】[0026]

【作用】請求項1記載の発明は、試験対象の各基板に係
る各種データベースを備えた演算処理手段は、デジタル
制御装置内の試験対象の各基板と試験装置を切替手段に
より接続させて接続確認の電気回路を形成すると共に、
信号発生手段より接続確認の試験信号を加えて適切な接
続であるかの確認をする。
According to the first aspect of the present invention, the arithmetic processing means having various databases relating to each board to be tested connects each board to be tested in the digital controller and the testing apparatus by a switching means and confirms connection. Form an electrical circuit,
A test signal for connection confirmation is added from the signal generation means to confirm whether the connection is proper.

【0027】次に試験対象基板に対して切替手段により
基板機能確認の電気回路を形成して、信号発生手段より
基板機能確認の試験信号を加え、この試験信号に対応す
る試験対象基板の出力を測定手段で測定する。この測定
結果は前記データベースにおける基準値と比較して、基
板の変換精度を評価する。
Next, an electric circuit for confirming the board function is formed on the board to be tested by the switching means, a test signal for confirming the board function is added from the signal generating means, and the output of the board to be tested corresponding to the test signal is outputted. Measure by measuring means. This measurement result is compared with a reference value in the database to evaluate the conversion accuracy of the substrate.

【0028】請求項2記載の発明は、試験対象のアナロ
グ入力基板が入力するアナログ信号と、当該アナログ入
力基板が変換して出力するデジタル信号を入力して、当
該アナログ入力基板における変換精度を相互の誤差によ
り算出する。
According to a second aspect of the present invention, an analog signal input to an analog input board to be tested and a digital signal converted and output by the analog input board are input, and the conversion accuracy of the analog input board is determined. Is calculated from the error of.

【0029】請求項3記載の発明は、試験対象のアナロ
グ出力基板が入力するデジタル信号と、当該アナログ出
力基板が変換して出力するアナログ信号を入力して、当
該アナログ出力基板における変換精度を相互の誤差によ
り算出する。
According to a third aspect of the present invention, a digital signal input to an analog output board to be tested and an analog signal converted and output by the analog output board are input, and the conversion accuracy of the analog output board is determined. Is calculated from the error of.

【0030】請求項4記載の発明は、アナログ入力基板
の試験に際して、アナログ入力出力基板試験装置に備え
てあるデータベースにおけるアナログ入力基板の設置場
所と基板の形式およびアナログ信号の入力箇所と、試験
対象のアナログ入力基板から入力した当該アナログ入力
基板の設置場所と基板の形式およびアナログ信号の入力
箇所のデータとを比較して不一致を検出し、基板形式等
の相違による基板の破損を防止する。
According to a fourth aspect of the present invention, at the time of testing an analog input board, the location of the analog input board, the type of the board and the input location of the analog signal in the database provided in the analog input / output board test apparatus, A comparison is made between the installation location of the analog input board input from the analog input board and the data of the board type and the input location of the analog signal to detect inconsistency, thereby preventing breakage of the board due to a difference in board type or the like.

【0031】請求項5記載の発明は、アナログ出力基板
の試験に際して、アナログ入力出力基板試験装置に備え
てあるデータベースにおける試験対象のアナログ出力基
板の設置場所と基板の形式およびアナログ信号の出力箇
所と、試験対象のアナログ出力基板から入力した当該ア
ナログ出力基板の設置場所と基板の形式およびアナログ
信号の出力箇所のデータとを比較して不一致を検出し、
基板形式等の相違による基板の破損を防止する。
According to a fifth aspect of the present invention, at the time of testing an analog output board, the installation location of the analog output board to be tested, the board type, and the output location of the analog signal in the database provided in the analog input / output board testing apparatus. , Comparing the installation location of the analog output board input from the analog output board under test with the data of the board type and the output location of the analog signal to detect a mismatch,
Prevents damage to the substrate due to differences in substrate type and the like.

【0032】請求項6記載の発明は、アナログ入力出力
基板試験装置に備えた試験対象の各基板に係る各種デー
タベースが、試験対象基板の基板型式毎の入力アナログ
信号の上下限範囲および変換後の出力デジタル試験信号
の上下限範囲が記憶されていて、このデータベースによ
り試験対象基板の型式に応じたアナログ試験信号値を自
動設定する。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided an analog input / output board test apparatus, wherein various databases relating to each board to be tested provided in the analog input / output board testing apparatus include upper and lower limits of an input analog signal for each board type of the board to be tested, The upper and lower limits of the output digital test signal are stored, and the database automatically sets the analog test signal value according to the type of the test target board.

【0033】請求項7記載の発明は、アナログ入力出力
基板試験装置に備えた試験対象の各基板に係る各種デー
タベースが、試験対象基板の基板型式毎の出力デジタル
信号の上下限範囲および変換後の出力アナログ試験信号
の上下限範囲が記憶されていて、このデータベースによ
り試験対象基板の型式に応じたデジタル試験信号値を自
動設定する。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided an analog input / output board testing apparatus, wherein various databases relating to each board to be tested provided in the analog input / output board testing apparatus include upper and lower limit ranges of output digital signals for each board type of the board to be tested, The upper and lower limits of the output analog test signal are stored, and a digital test signal value corresponding to the type of the test target board is automatically set by using this database.

【0034】請求項8記載の発明は、アナログ入力出力
基板試験装置に備えた、基板型式毎の接続確認用電気回
路と接続確認用アナログ信号値および変換後のデジタル
信号値を記憶したデータベースにより、試験対象基板の
型式に応じた接続確認用電気回路の自動形成および接続
確認用アナログ信号値の自動設定と共に、試験対象基板
による変換後のデジタル信号データを入力して前記デー
タベースとの合致を確認することにより、アナログ信号
の入力箇所と試験装置との電気回路の接続を自動的に確
認して、試験対象基板以外へ接続するによる基板破損を
防止する。
The invention according to claim 8 is characterized in that the analog input / output board test apparatus includes a connection confirmation electric circuit, a connection confirmation analog signal value for each board type, and a database storing converted digital signal values. Along with automatic formation of an electric circuit for connection confirmation and automatic setting of an analog signal value for connection confirmation in accordance with the type of the test object board, input of digital signal data converted by the test object board to confirm a match with the database. Thereby, the connection of the electric circuit between the input portion of the analog signal and the test apparatus is automatically confirmed, and the damage to the board due to the connection to a board other than the board to be tested is prevented.

【0035】請求項9記載の発明は、アナログ入力出力
試験に際して、アナログ信号の入力箇所と試験装置との
間の電気回路の接続を確認するために、アナログ入力基
板に印加する電圧および電流値がアナログ入力基板の入
力許容値を越えないように接続確認用電気回路および接
続確認用の入力アナログ信号を設定することにより接続
確認操作による基板破損を防止する。
According to the ninth aspect of the present invention, in the analog input / output test, the voltage and current applied to the analog input board are checked in order to check the connection of the electric circuit between the input portion of the analog signal and the test apparatus. By setting the connection confirmation electric circuit and the connection confirmation input analog signal so as not to exceed the input allowable value of the analog input board, the board is prevented from being damaged by the connection confirmation operation.

【0036】請求項10記載の発明は、演算処理手段に備
えた各基板に係る各種データベースからの指令により、
複数の基板を順次切替えてそれぞれの基板に対応した接
続確認用の回路形成と確認、および試験用回路の形成と
機能確認の試験を自動的に実施する。
According to a tenth aspect of the present invention, according to a command from various databases relating to each substrate provided in the arithmetic processing means,
A plurality of boards are sequentially switched to form and confirm a circuit for connection confirmation corresponding to each board, and to automatically form a test circuit and perform a test for function confirmation.

【0037】[0037]

【実施例】本発明の一実施例について図面を参照して説
明する。なお、上記した従来技術と同じ構成部分につい
ては同一符号を付して詳細な説明を省略する。図1のブ
ロック構成図はデジタル制御装置1に備えられている多
数のアナログ入力基板およびアナログ出力基板のうち、
アナログ入力基板5を例にして示したものある。
An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The same components as those of the above-described conventional technology are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. The block diagram of FIG. 1 shows a number of analog input boards and analog output boards provided in the digital control device 1.
The analog input board 5 is shown as an example.

【0038】アナログ入力出力基板試験装置13は、基板
用ケーブル7およびデータ入出力ケーブル11によりデジ
タル制御装置1内のアナログ入力基板5と、ロジック処
理基板6に接続して、アナログ入力基板の変換機能の確
認試験を実施する。
The analog input / output board test apparatus 13 is connected to the analog input board 5 and the logic processing board 6 in the digital controller 1 via the board cable 7 and the data input / output cable 11 to convert the analog input board. Conduct a confirmation test.

【0039】このアナログ入力出力基板試験装置13は、
図2の詳細ブロック構成図に示すように、試験に際して
基板の入力出力を模擬した試験信号(電圧、電流等)を
出力する信号発生手段である電圧電流発生器14と、この
試験信号の入力により各基板が出力する電気信号を測定
する測定手段であるデジタルマルチメータ10と電気回路
に挿入する標準抵抗15を設けている。
This analog input / output board test apparatus 13 comprises:
As shown in the detailed block diagram of FIG. 2, a voltage / current generator 14 which is a signal generating means for outputting a test signal (voltage, current, etc.) simulating the input output of the board at the time of the test, and an input of the test signal A digital multimeter 10 as a measuring means for measuring an electric signal output from each substrate and a standard resistor 15 inserted into an electric circuit are provided.

【0040】さらに、これらを試験対象基板の試験内容
に応じて接点の切替えにより適切な電気回路を形成する
切替手段である切替器16と、基板用ケーブル7との接続
に用いる端子台17、さらに各基板に係る各種データベー
スを備えて前記電圧電流発生器14とデジタルマルチメー
タ10および切替器16を制御して、順次試験対象基板の選
定と接続確認および試験結果から変換機能の評価等を行
う計算機からなる演算処理手段の演算処理装置18とから
構成されている。
Furthermore, a switch 16 as switching means for forming an appropriate electric circuit by switching contacts according to the test contents of the test target board, a terminal block 17 used to connect the board cable 7, and A computer that includes various databases for each board and controls the voltage / current generator 14, the digital multimeter 10, and the switch 16 to sequentially select a board to be tested, check the connection, and evaluate the conversion function from the test result. And an arithmetic processing unit 18 of arithmetic processing means.

【0041】なお、図3の試験回路図は、切替器16によ
って形成される電気回路の詳細を示したもので、切替器
16は演算処理装置18からの制御により、接点16a〜接点
16lを開閉し、その組合わせによりアナログ入力出力基
板試験装置13と、試験対象基板である電圧入力基板5
a、電流入力基板5b、電圧出力基板5c、電流出力基
板5dのそれぞれとが接続される。
The test circuit diagram of FIG. 3 shows the details of the electric circuit formed by the switch 16,
16 is a contact point 16a to a contact point under the control of the arithmetic processing unit 18.
16L is opened and closed, and the analog input / output board testing device 13 and the voltage input board 5 to be tested
a, the current input board 5b, the voltage output board 5c, and the current output board 5d are connected to each other.

【0042】図4の切替器接点制御図は、各アナログ基
板の種別および試験状態に応じた切替器16の接点の制御
に使用する演算処理装置18が備えたデータベースの一例
を示すもので、図中の接点状態a〜lは、上記図3の切
替器16の接点16a〜接点16lに対応している。
FIG. 4 shows an example of a database provided in the arithmetic processing unit 18 used to control the contacts of the switch 16 according to the type and test state of each analog board. The contact states a to l in the middle correspond to the contacts 16a to 16l of the switch 16 in FIG.

【0043】また、図5の試験用設定値図は、同じくデ
ータベースの一例で、各基板種別(型式)と試験内容に
応じた試験信号の設定値および評価のための各種データ
を示したものである。
The test set value diagram of FIG. 5 is also an example of a database, and shows set values of test signals and various data for evaluation according to each board type (model) and test contents. is there.

【0044】次に上記構成による作用について説明す
る。第1実施例は、電圧入力基板5aのアナログ入力試
験を行う場合で、先ず始め演算処理装置18に備えたデー
タベースにより図4に示す「基板種別」の電圧入力基板
5aを選定すると、演算処理装置18に制御されて切替器
16は図4の「電力入力基板接続確認」の行に示すよう
に、接点16a,16c,16e,16g,16h,16jを閉とす
る。この時に図3に形成される接続確認用の電気回路
は、簡略化すると図6の回路図に示すようになる。
Next, the operation of the above configuration will be described. In the first embodiment, when the analog input test of the voltage input board 5a is performed, first, when the voltage input board 5a of "board type" shown in FIG. Switched by 18 controlled
Reference numeral 16 indicates that the contacts 16a, 16c, 16e, 16g, 16h, and 16j are closed as shown in the row of "confirmation of connection of the power input board" in FIG. At this time, the electrical circuit for connection confirmation formed in FIG. 3 is simplified as shown in the circuit diagram of FIG.

【0045】なお、この時に標準抵抗15は 100Ωに設定
している。これは誤って試験対象外の他の基板に接続さ
れた場合でも、その基板の入力許容値を越える大きな試
験信号が印加されて、その基板を破損しないためのもの
である。
At this time, the standard resistor 15 is set to 100Ω. This is to prevent a large test signal exceeding the input allowable value of the board from being applied to damage the board even if the board is erroneously connected to another board not to be tested.

【0046】この状態で電圧電流発生器14から接続確認
のための試験信号として、図5の「接続確認用のアナロ
グ信号設定値」である100mV の電圧が出力される。これ
により、接続された各基板にはそれぞれの種別(型式)
に応じて、下記(a)〜(d)のように式 (1)〜(4) に
示す電圧および電流が各基板に印加される。
In this state, the voltage / current generator 14 outputs a voltage of 100 mV, which is the “set value of analog signal for connection confirmation” in FIG. 5, as a test signal for connection confirmation. As a result, each connected board has its own type (model)
Accordingly, the voltages and currents shown in equations (1) to (4) are applied to each substrate as shown in the following (a) to (d).

【0047】(a)正規の電圧入力基板5aに接続され
ている場合 印加電圧=100(mV) ×250 ×103 (Ω)÷(100(Ω)+
250 ×103 (Ω) )=99.96 (mV)…(1)
(A) When connected to the regular voltage input board 5a: applied voltage = 100 (mV) × 250 × 10 3 (Ω) ÷ (100 (Ω) +
250 × 10 3 (Ω)) = 99.96 (mV)… (1)

【0048】(b)誤って電流入力基板5bに接続され
た場合 印加電流=100 (mV)÷(100(Ω) +50(Ω) )=0.667
(mA) …(2)
(B) When connected to the current input board 5b by mistake: applied current = 100 (mV) ÷ (100 (Ω) +50 (Ω)) = 0.667
(mA)… (2)

【0049】(c)誤って電圧出力基板5cに接続され
た場合 印加電流=100(mV) ×250 ×103 (Ω)÷(100(Ω)+
250 ×103 (Ω) )=99.96(mV)…(3)
(C) In case of connection to the voltage output board 5c by mistake: applied current = 100 (mV) × 250 × 10 3 (Ω) ÷ (100 (Ω) +
250 × 10 3 (Ω)) = 99.96 (mV) ... (3)

【0050】(d)誤って電流出力基板5dに接続され
た場合 印加電流=100(mV) ÷(100(Ω) +50(Ω) )=0.667
(mA) …(4)
(D) In case of connection to the current output board 5d by mistake: applied current = 100 (mV) ÷ (100 (Ω) +50 (Ω)) = 0.667
(mA)… (4)

【0051】上記(a)〜(d)の全ての場合におい
て、印加される電圧および電流値はいずれも図5に示す
「接続確認用のアナログ信号許容値」以下となり、ま
た、誤った接続をした(b)〜(d)の場合において
も、その基板を破損することなく、また、カウント値も
読み取れないため、(b)〜(d)を接続誤りとして検
出できる。
In all of the above cases (a) to (d), the applied voltage and current values are both equal to or less than the "allowable analog signal for connection confirmation" shown in FIG. Also in the cases (b) to (d) described above, since the board is not damaged and the count value cannot be read, the connection errors (b) to (d) can be detected.

【0052】上記により電圧入力基板5aについて
(a)により正しい接続が確認された後に、演算処理装
置18により切替器16は図4の「電圧入力基板試験」の行
に示すように接点16a,16c,16f,16iが閉となり、
この時の図3に形成された試験用回路は簡略化すると図
7の回路図に示すようになる。
After the correct connection of the voltage input board 5a is confirmed by (a) as described above, the switch 16 is operated by the arithmetic processing unit 18 to switch the contacts 16a and 16c as shown in the "voltage input board test" row in FIG. , 16f, 16i are closed,
At this time, the test circuit formed in FIG. 3 is simplified as shown in the circuit diagram of FIG.

【0053】この状態で電圧電流発生器14からの試験信
号は、図5「アナログ入出力試験用でアナログ信号の上
限値」の5Vの電圧が出力される。この5Vの試験信号
を入力して電圧入力基板5aがデジタル値として変換し
て出力したカウント値を読み込み、これと図5「アナロ
グ入出力試験用でカウント値の上限値」の4000カウント
とを比較することにより上限側での誤差が算出される。
In this state, as the test signal from the voltage / current generator 14, a voltage of 5 V shown in FIG. 5 "upper limit of analog signal for analog input / output test" is output. The 5V test signal is input, the voltage input board 5a converts the digital value into a digital value, reads the output count value, and compares it with the 4000 count of Fig. 5 "Upper limit of count value for analog input / output test". By doing so, the error on the upper limit side is calculated.

【0054】次に電圧電流発生器14は、試験信号として
図5「アナログ入出力試験用でアナログ信号の下限値」
の0Vの電圧を出力し、これにより電圧入力基板5aが
デジタル値として変換して出力したカウント値を読み込
んで、このカウント値(0Vで0カウントとなることの
確認をする)と、図5「アナログ入出力試験用でカウン
ト値の下限値」の0カウントとを比較して下限値での誤
差を算出する。
Next, the voltage / current generator 14 generates a test signal as shown in FIG. 5 "Lower limit value of analog signal for analog input / output test".
The voltage of 0 V is output, the voltage input board 5a reads the count value converted and output as a digital value, reads the count value (confirms that the count becomes 0 at 0 V), and FIG. The error at the lower limit is calculated by comparing the lower limit of the count value with 0 count for the analog input / output test.

【0055】これにより、演算処理装置18は前記上限値
と下限値における誤差を確認すると共に、この誤差を前
記データベースに保有する当該電圧入力基板5aの正常
値と比較して試験結果として変換精度の評価を行なう。
As a result, the arithmetic processing unit 18 checks the error between the upper limit value and the lower limit value, compares this error with the normal value of the voltage input board 5a stored in the database, and as a test result, obtains the conversion accuracy. Perform an evaluation.

【0056】したがって本発明によれば、試験装置と電
圧入力基板5aとの接続と確認、および接続誤りに対す
る基板保護と、試験によりA/D変換機能の精度の評価
が自動的で迅速に実施することができる。
Therefore, according to the present invention, connection and confirmation between the test apparatus and the voltage input board 5a, protection of the board against connection errors, and evaluation of the accuracy of the A / D conversion function by the test are automatically and quickly performed. be able to.

【0057】第2実施例は、電流入力基板5bのアナロ
グ入力試験を行う場合で、先ず始めに演算処理装置18に
制御されて切替器16は図4の「電流入力基板接続確認」
の行に示すように、接点16a,16c,16e,16g,16
h,16jが閉とされ、この時の図3による続確認用の回
路は簡略化すると図8の回路図に示すようになる。
In the second embodiment, the analog input test of the current input board 5b is performed. First, the switch 16 is controlled by the arithmetic processing unit 18 and the switch 16 is checked as shown in FIG.
As shown in the row, contact points 16a, 16c, 16e, 16g, 16
h and 16j are closed. At this time, the circuit for confirming the connection shown in FIG. 3 is simplified as shown in the circuit diagram of FIG.

【0058】この状態で電圧電流発生器14から接続確認
のための試験信号として、図5「接続確認用でアナログ
信号設定値」の 100mVの電圧が出力されて、接続された
基板種別に応じて下記(e)〜(h)の式 (5)〜(8) に
示す電圧および電流がそれぞれの基板に印加されること
になる。
In this state, a voltage of 100 mV of “Analog signal set value for connection confirmation” of FIG. 5 is output from the voltage / current generator 14 as a test signal for connection confirmation. The voltages and currents shown in the following equations (5) to (8) of (e) to (h) are applied to the respective substrates.

【0059】(e)誤って電圧入力基板5aに接続され
た場合 印加電圧=100(mV) ×250 ×103 (Ω)÷(100(Ω)+
250 ×103 (Ω) )=99.96(mV) …(5)
(E) In case of connection to the voltage input board 5a by mistake: applied voltage = 100 (mV) × 250 × 10 3 (Ω) ÷ (100 (Ω) +
250 × 10 3 (Ω)) = 99.96 (mV)… (5)

【0060】(f)正規の電流入力基板5bに接続して
いる場合 印加電流=100(mV) ÷(100(Ω) +50(Ω) )=0.667
(mA) …(6)
(F) When connected to the normal current input board 5b: applied current = 100 (mV) V (100 (Ω) +50 (Ω)) = 0.667
(mA)… (6)

【0061】(g)誤って電圧出力基板5cに接続され
た場合 印加電流=100(mV) ×250 ×103 (Ω)÷(100(Ω)+
250 ×103 (Ω) )=99.96(mV)…(7)
(G) When connected to the voltage output board 5c by mistake: applied current = 100 (mV) × 250 × 10 3 (Ω) ÷ (100 (Ω) +
250 × 10 3 (Ω)) = 99.96 (mV) ... (7)

【0062】(h)誤って電流出力基板5dに接続され
た場合 印加電流=100(mV) ÷(100(Ω) +50(Ω) )=0.667
(mA) …(8)
(H) In case of connection to the current output board 5d by mistake: applied current = 100 (mV) m (100 (Ω) +50 (Ω)) = 0.667
(mA)… (8)

【0063】上記(e)〜(h)の全ての場合において
各基板に印加される電圧および電流値は、図5に示す
「接続確認用のアナログ信号許容値」以下となり、した
がって基板を破損することなく、誤った接続された
(e),(g),(h)の場合には、カウント値が読み
込めないため、これを接続誤りとして検出できる。
In all of the above cases (e) to (h), the voltage and current applied to each substrate are equal to or less than the "allowable analog signal for connection confirmation" shown in FIG. In the case of the incorrect connection (e), (g), or (h), the count value cannot be read, so that this can be detected as a connection error.

【0064】電流入力基板5bが上記(f)より正しく
接続されたことを確認した後は、図4の「電流入力基板
試験」の行に示すように、切替器16の接点16b,16c,
16e,16g,16h,16jが閉となり、この時の図3にお
ける試験用の回路を簡略化すると図9の回路図に示すよ
うになる。
After confirming that the current input board 5b is correctly connected from the above (f), as shown in the row of "current input board test" in FIG.
16e, 16g, 16h, and 16j are closed, and the test circuit in FIG. 3 at this time is simplified as shown in the circuit diagram of FIG.

【0065】この状態で電圧電流発生器14から試験信号
として、図5「アナログ入出力試験用でアナログ信号の
上限値」の20mAの電流が電流入力基板5bに出力され、
電流入力基板5bにてA/D変換した結果のカウント値
を読み込んで、このカウント値と、図5の「アナログ入
出力試験用でカウント値の上限値」である4000カウント
を比較して上限側での誤差を算出する。
In this state, a current of 20 mA shown in FIG. 5 “upper limit of analog signal for analog input / output test” is output to current input board 5 b as a test signal from voltage / current generator 14.
The count value of the result of the A / D conversion by the current input board 5b is read, and this count value is compared with 4000 count which is the “upper limit value of the count value for the analog input / output test” in FIG. Calculate the error at.

【0066】次に、電圧電流発生器14から試験信号とし
て、図5「アナログ入出力試験用でアナログ信号の下限
値」の0mAの電流を出力し、電流入力基板5bが出力す
るカウント値と、図5の「アナログ入出力試験用でカウ
ント値の下限値」の0カウントとを比較して下限側での
誤差を算出する。演算処理装置18では、この下限側での
誤差と前記上限側における誤差をデータベースと比較し
て当該電流入力基板5bの変換精度の評価を行なう。
Next, the voltage / current generator 14 outputs a 0 mA current as shown in FIG. 5 “Lower limit value of analog signal for analog input / output test” as a test signal, and a count value output by the current input board 5 b; An error on the lower limit side is calculated by comparing with the 0 count of “the lower limit value of the count value for analog input / output test” in FIG. The arithmetic processing unit 18 compares the error on the lower limit side and the error on the upper limit side with a database to evaluate the conversion accuracy of the current input board 5b.

【0067】第3実施例は、電圧出力基板5cのアナロ
グ入力試験を行う場合で、基板試験装置13側からは電圧
および電流の印加を行わないため、基板試験装置との接
続確認操作は省き、切替器16は図4の「電圧出力基板試
験」の行に示すように接点16a,16f,16kを閉とす
る。なお、この時の図3における試験用の回路は簡略化
すると図10の回路図に示すようになる。
In the third embodiment, the analog input test of the voltage output board 5c is performed. Since no voltage and current are applied from the board test apparatus 13 side, the operation of confirming the connection with the board test apparatus is omitted. The switch 16 closes the contacts 16a, 16f, and 16k as shown in the row of "voltage output board test" in FIG. At this time, the circuit for testing in FIG. 3 is simplified as shown in the circuit diagram of FIG.

【0068】電圧出力基板5cに対する試験は、電圧電
流発生器14から図5「アナログ入出力試験用でカウント
値の上限値」の4000カウントを設定し、電圧出力基板5
cでD/A変換された出力をデジタルマルチメータ10で
読み込んで、この電圧値と、図5「アナログ入出力試験
用でアナログ信号の上限値」の5Vとを比較して上限側
の誤差を算出する。
In the test for the voltage output board 5c, the voltage / current generator 14 sets 4000 counts shown in FIG.
The output obtained by the D / A conversion in step c is read by the digital multimeter 10, and this voltage value is compared with 5V in FIG. calculate.

【0069】次に電圧電流発生器14から図5「アナログ
入出力試験用でカウント値の下限値」の0カウントを設
定し、電圧出力基板5cの出力をデジタルマルチメータ
10で読み込み、この電圧値と、図5「アナログ入出力試
験用でアナログ信号の下限値」の0Vとを比較して下限
側の誤差を算出して、前記上限側の誤差と共に演算処理
装置18により電圧出力基板5cの変換精度を評価する。
Next, the voltage / current generator 14 sets 0 count in FIG. 5 “Lower limit value of count value for analog input / output test”, and outputs the output of voltage output board 5c to a digital multimeter.
10, and compares this voltage value with 0V of FIG. 5 “Lower limit value of analog signal for analog input / output test” to calculate an error on the lower limit side. To evaluate the conversion accuracy of the voltage output board 5c.

【0070】第4実施例は、電流出力基板5dのアナロ
グ入力試験を行う場合で、前記電圧出力基板5cの場合
と同様に基板試験装置13側からは電圧および電流を印加
しないため、基板試験装置との接続確認操作を省いて切
替器16は、図4の「電流出力基板試験」の行に示すよう
に接点16b,16d,16f,16lが閉となる。この時の図
3の試験用の回路は簡略化すると図11の回路図で示すよ
うになる。
In the fourth embodiment, the analog output test of the current output board 5d is performed. Since the voltage and current are not applied from the board test apparatus 13 side as in the case of the voltage output board 5c, the board test apparatus The switch 16 closes the contacts 16b, 16d, 16f, and 16l of the switch 16 as shown in the "current output board test" row in FIG. At this time, the test circuit of FIG. 3 is simplified as shown in the circuit diagram of FIG.

【0071】電流出力基板5dに対する試験は、電圧電
流発生器14から図5「アナログ入出力試験用でカウント
値の上限値」の4000カウントを設定し、電流出力基板5
dでD/A変換された出力をデジタルマルチメータ10で
読み込んで、このだ電流値と、図5「アナログ入出力試
験用でアナログ信号の上限値」の20mAとを比較して上限
側の誤差を算出する。
In the test for the current output board 5d, the voltage / current generator 14 sets 4000 counts in FIG. 5 "upper limit of count value for analog input / output test", and sets the current output board 5d.
The output obtained by the D / A conversion at d is read by the digital multimeter 10, and the current value is compared with the upper limit of 20 mA in FIG. Is calculated.

【0072】次に電圧電流発生器14から図5「アナログ
入出力試験用でカウント値の下限値」の0カウントを設
定し、電流出力基板5dの出力をデジタルマルチメータ
10で読み込んで、この電流値と、図5「アナログ入出力
試験用でアナログ信号の下限値」の0mAとを比較して下
限側の誤差を算出して、前記上限側の誤差と共に演算処
理装置18にて電流出力基板5dの変換精度の評価をす
る。
Next, the voltage / current generator 14 sets 0 count in FIG. 5 “Lower limit value of count value for analog input / output test”, and outputs the output of current output board 5d to a digital multimeter.
10, and compares this current value with 0 mA of FIG. 5 “Lower limit value of analog signal for analog input / output test” to calculate an error on the lower limit side, and an arithmetic processing unit together with the error on the upper limit side. At 18, the conversion accuracy of the current output substrate 5d is evaluated.

【0073】なお、上記した第1実施例乃至第4実施例
に示した各種操作は、予め演算処理装置18が備えたデー
タベースに各入出力基板の試験順序や設置場所と、基板
の型式(種別)およびアナログ信号の入力箇所や、上記
図4および図5に例示した試験信号や評価基準等のデー
タが記憶されている。
The various operations shown in the above-described first to fourth embodiments are based on the test order and installation location of each input / output board and the board type (type) in the database provided in the arithmetic processing unit 18 in advance. ) And input locations of analog signals, and data such as test signals and evaluation criteria illustrated in FIGS. 4 and 5.

【0074】したがって、アナログ入力出力基板試験装
置13においては前記データベースと、デジタル制御装置
1における試験対象基板の設置場所、基板の型式および
アナログ信号等の入力箇所のデータを照合して、試験と
評価の進行が順次自動的に実施される。
Therefore, in the analog input / output board test apparatus 13, the database is compared with the data of the installation location of the board to be tested in the digital controller 1, the type of the board, and the input location of the analog signal and the like, and the test and evaluation are performed. Are automatically performed in sequence.

【0075】これにより、デジタル制御装置1内の各入
出力基板とアナログ入力出力基板試験装置13を接続する
基板用ケーブル7およびデータ入出力ケーブル11をその
都度の接続する必要もないことから、試験員の負担は軽
減されて、誤操作や誤計算がなく試験結果の信頼性が高
くなると共に試験作業が迅速化される。
As a result, it is not necessary to connect the board cable 7 and the data input / output cable 11 for connecting each input / output board in the digital controller 1 to the analog input / output board test apparatus 13 each time. The burden on the personnel is reduced, and there is no erroneous operation or erroneous calculation, so that the reliability of the test results is increased and the test work is sped up.

【0076】[0076]

【発明の効果】以上本発明によれば、デジタル制御装置
でアナログ入力試験およびアナログ出力試験を行う場合
に、アナログ入力出力基板試験装置と基板との間の接続
と確認、および模擬する試験信号の設定と基板の変換精
度の算出を自動的に行う。
As described above, according to the present invention, when an analog input test and an analog output test are performed by the digital control device, the connection and confirmation between the analog input / output board test device and the board and the test signal to be simulated are performed. Automatic setting and calculation of board conversion accuracy.

【0077】これにより、接続誤りや信号設定の間違い
に起因する基板の破損が防止されると共に、試験結果の
精度が高く。また、試験操作の自動化により試験員の負
担軽減と信頼性が向上する効果がある。
As a result, breakage of the board due to connection errors or erroneous signal settings is prevented, and the accuracy of the test results is high. Further, the automation of the test operation has the effect of reducing the burden on the tester and improving the reliability.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る一実施例のアナログ入力出力試験
装置のブロック構成図。
FIG. 1 is a block diagram of an analog input / output test apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明に係る一実施例のアナログ入力出力基板
試験装置のブロック構成図。
FIG. 2 is a block diagram of an analog input / output board testing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明に係る一実施例の試験回路図。FIG. 3 is a test circuit diagram of one embodiment according to the present invention.

【図4】本発明に係る一実施例の切替器接点制御図。FIG. 4 is a switching control diagram of a switch according to an embodiment of the present invention.

【図5】本発明に係る一実施例の試験用設定値図。FIG. 5 is a diagram showing test setting values according to an embodiment of the present invention.

【図6】本発明に係る第1実施例の電圧入力基板接続確
認の簡略回路図。
FIG. 6 is a simplified circuit diagram for confirming connection of a voltage input board according to the first embodiment of the present invention.

【図7】本発明に係る第1実施例の電圧入力基板試験の
簡略回路図。
FIG. 7 is a simplified circuit diagram of a voltage input board test according to the first embodiment of the present invention.

【図8】本発明に係る第2実施例の電流入力基板接続確
認の簡略回路図。
FIG. 8 is a simplified circuit diagram for checking connection of a current input board according to a second embodiment of the present invention.

【図9】本発明に係る第1実施例の電流入力基板試験の
簡略回路図。
FIG. 9 is a simplified circuit diagram of a current input board test according to the first embodiment of the present invention.

【図10】本発明に係る第3実施例の電圧出力基板試験
の簡略回路図。
FIG. 10 is a simplified circuit diagram of a voltage output board test according to a third embodiment of the present invention.

【図11】本発明に係る第4実施例の電流出力基板試験
の簡略回路図。
FIG. 11 is a simplified circuit diagram of a current output board test according to a fourth embodiment of the present invention.

【図12】従来のアナログ入力試験装置のブロック構成
図。
FIG. 12 is a block diagram of a conventional analog input test apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…デジタル制御装置、2…外部ケーブル、3,17…端
子台、4…基板用配線、5…アナログ入力基板、5a…
電圧入力基板、5b…電流入力基板、5c…電圧出力基
板、5d…電流出力基板、6…ロジック処理基板、7…
基板用ケーブル、8…試験用端子台、9,14…電圧電流
発生器、10…デジタルマルチメータ、11…データ入出力
ケーブル、12…保守ツール、13…アナログ入力出力基板
試験装置、15…標準抵抗、16…切替器、16a〜16l…接
点、18…演算処理装置。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Digital control device, 2 ... External cable, 3, 17 ... Terminal block, 4 ... Wiring for board, 5 ... Analog input board, 5a ...
Voltage input board 5b Current input board 5c Voltage output board 5d Current output board 6 Logic processing board 7
Board cable, 8 ... Test terminal block, 9, 14 ... Voltage / current generator, 10 ... Digital multimeter, 11 ... Data input / output cable, 12 ... Maintenance tool, 13 ... Analog input / output board test equipment, 15 ... Standard Resistance, 16: switch, 16a to 16l: contact, 18: arithmetic processing unit.

Claims (10)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 デジタル制御装置に多数備えられたアナ
ログ信号をデジタル信号に変換するアナログ入力基板と
デジタル信号をアナログ信号に変換するアナログ出力基
板の機能試験を行なうアナログ入力出力基板試験装置に
おいて、前記デジタル制御装置に接続して試験対象の前
記各基板と試験内容に応じた電気回路を形成する切替手
段と、前記試験対象の各基板に試験信号を出力する信号
発生手段と、前記各基板等の入力出力信号の測定手段
と、電気回路に挿入する標準抵抗と、前記各基板に係る
各種データベースを備えて前記試験信号と各基板の入力
出力信号を入力して試験内容に応じて前記切替手段によ
り試験対象基板との電気回路の形成と接続確認および前
記信号発生手段における試験信号の設定と試験対象基板
における変換機能の評価操作等をする演算処理手段とか
らなることを特徴とするアナログ入力出力基板試験装
置。
1. An analog input / output board test apparatus for performing a function test of an analog input board for converting an analog signal into a digital signal and an analog output board for converting a digital signal into an analog signal, the apparatus being provided in a digital controller. A switching unit connected to a digital controller to form an electric circuit according to each of the boards to be tested and the test content; a signal generating unit to output a test signal to each of the boards to be tested; and Input / output signal measuring means, a standard resistor to be inserted into an electric circuit, and various databases relating to the respective boards are provided, and the test signal and the input / output signals of the respective boards are inputted, and the switching means is provided in accordance with the test content. Formation of an electric circuit with a test target board, confirmation of connection, setting of a test signal in the signal generation means, and evaluation of a conversion function in the test target board. An analog input / output board test apparatus, comprising: an arithmetic processing means for performing a value operation and the like.
【請求項2】 デジタル制御装置等に備えられて検出器
等から入力したアナログ信号をデジタル信号に変換して
出力するアナログ入力基板の変換機能を確認するアナロ
グ入力試験に際して、前記アナログ入力基板が入力する
アナログ信号と出力するデジタル信号の両方を入力して
アナログ入力基板の変換精度を測定することを特徴とす
る請求項1記載のアナログ入力出力基板試験装置。
2. An analog input board for converting an analog signal input from a detector or the like provided in a digital control device or the like into a digital signal and outputting the digital signal and confirming a conversion function of the analog input board. 2. The analog input / output board test apparatus according to claim 1, wherein both the analog signal to be output and the digital signal to be output are input and the conversion accuracy of the analog input board is measured.
【請求項3】 デジタル制御装置等に備えられて調節計
等へ制御信号を出力するためにデジタル信号をアナログ
信号に変換するアナログ出力基板の変換機能を確認する
アナログ出力試験に際して、前記アナログ出力基板が入
力するデジタル信号と出力するアナログ信号の両方を入
力してアナログ出力基板の変換精度を測定することを特
徴とする請求項1記載のアナログ入力出力基板試験装
置。
3. An analog output board provided in a digital control device or the like for testing a conversion function of an analog output board for converting a digital signal into an analog signal in order to output a control signal to a controller or the like. 2. The analog input / output board testing apparatus according to claim 1, wherein both the input digital signal and the output analog signal are input and the conversion accuracy of the analog output board is measured.
【請求項4】 前記アナログ入力出力基板試験装置にお
いて、試験対象のアナログ入力基板の設置場所と基板の
形式およびアナログ信号の入力箇所を記憶したデータベ
ースを備えて試験時に試験対象のアナログ入力基板の設
置場所と基板の形式およびアナログ信号の入力箇所のデ
ータを入力して前記データベースとの合致を確認するこ
とを特徴とする請求項1記載のアナログ入力出力基板試
験装置。
4. An analog input / output board test apparatus, comprising: a database storing an installation location of an analog input board to be tested, a type of the board, and an input location of an analog signal; 2. The analog input / output board test apparatus according to claim 1, wherein data of a location, a board type, and an input location of an analog signal is input to check the match with the database.
【請求項5】 前記アナログ入力出力基板試験装置にお
いて、試験対象のアナログ出力基板の設置場所と基板の
形式およびアナログ信号の出力箇所を記憶したデータベ
ースを備えて試験時に試験対象のアナログ出力基板の設
置場所と基板の形式およびアナログ信号の出力箇所のデ
ータを入力して前記データベースとの合致を確認するこ
とを特徴とする請求項1記載のアナログ入力出力基板試
験装置。
5. The analog input / output board testing apparatus according to claim 1, further comprising a database storing a location of the analog output board to be tested, a type of the board, and an output location of the analog signal. 2. The analog input / output board test apparatus according to claim 1, wherein data of the location, the type of the board, and the output location of the analog signal are input to confirm the match with the database.
【請求項6】 前記アナログ入力出力基板試験装置にお
いて、基板型式毎の入力アナログ信号の上下限範囲およ
び変換後の出力デジタル信号の上下限範囲を記憶したデ
ータベースを備えて試験対象基板の型式に応じたアナロ
グ試験信号値を自動設定することを特徴とする請求項1
記載のアナログ入力出力基板試験装置。
6. The analog input / output board test apparatus according to claim 1, further comprising a database storing upper and lower limits of an input analog signal and upper and lower limits of a converted output digital signal for each board type. 2. The method according to claim 1, wherein the analog test signal value is automatically set.
The described analog input / output board test apparatus.
【請求項7】 前記アナログ入力出力基板試験装置にお
いて、基板型式毎の出力デジタル信号の上下限範囲およ
び変換後の出力アナログ試験信号の上下限範囲を記憶し
たデータベースを備えて試験対象基板の型式に応じたデ
ジタル試験信号値を自動設定することを特徴とする請求
項1記載のアナログ入力出力基板試験装置。
7. An analog input / output board test apparatus, comprising: a database storing upper and lower limits of an output digital signal for each board type and upper and lower limits of an output analog test signal after conversion. 2. The analog input / output board test apparatus according to claim 1, wherein a digital test signal value according to the setting is automatically set.
【請求項8】 前記アナログ入力出力基板試験装置にお
いて、基板型式毎の接続確認用電気回路結線と接続確認
用アナログ信号値および変換後のデジタル信号値を記憶
したデータベースを備えて試験対象基板の型式に応じた
接続確認用電気回路の自動形成と接続確認用アナログ信
号値の自動設定および変換後のデジタル信号データを入
力して前記データベースとの合致を確認すると共に、ア
ナログ信号の入力箇所と試験装置との間の電気回路の接
続を自動的に確認することを特徴とする請求項1記載の
アナログ入力出力基板試験装置。
8. An analog input / output board test apparatus, comprising: a database storing a connection confirmation electric circuit connection, a connection confirmation analog signal value, and a converted digital signal value for each board type. Automatic formation of an electric circuit for connection confirmation according to the above, automatic setting of the analog signal value for connection confirmation and input of the converted digital signal data to confirm the match with the database, and the input position of the analog signal and the test equipment 2. The analog input / output board testing apparatus according to claim 1, wherein the connection of the electric circuit between the analog input and output boards is automatically confirmed.
【請求項9】 前記アナログ入力出力基板試験装置にお
いて、アナログ信号の入力箇所と試験装置との間の電気
回路の接続を確認する際にアナログ入力基板に印加され
る電圧と電流値が当該アナログ入力基板の入力許容値を
越えないように接続確認用電気回路および接続確認用入
力アナログ信号を設定することを特徴とする請求項1記
載のアナログ入力出力基板試験装置。
9. The analog input / output board test apparatus, wherein a voltage and a current value applied to the analog input board when confirming connection of an electric circuit between an input portion of an analog signal and the test apparatus are determined by the analog input / output board. 2. The analog input / output board test apparatus according to claim 1, wherein the connection confirmation electric circuit and the connection confirmation input analog signal are set so as not to exceed an input allowable value of the board.
【請求項10】 前記アナログ入力出力基板試験装置に
おいて、演算処理手段に備えた各基板に係る各種データ
ベースにより切替手段の制御および信号発生手段からの
試験信号出力を変更して各基板の試験を順次実施するこ
とを特徴とする請求項1記載のアナログ入力出力基板試
験装置。
10. In the analog input / output board test apparatus, the control of the switching means and the test signal output from the signal generation means are changed by various databases relating to each board provided in the arithmetic processing means to sequentially test each board. 2. The analog input / output board test apparatus according to claim 1, wherein the test is performed.
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