JP3556443B2

JP3556443B2 - Board testing equipment for digital control equipment

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Publication number: JP3556443B2
Application number: JP25265497A
Authority: JP
Inventors: 澄穂藤好; 正彦久次
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1997-09-03
Filing date: 1997-09-03
Publication date: 2004-08-18
Anticipated expiration: 2017-09-03
Also published as: JPH1185251A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、プラントからのアナログ信号または接点信号をデジタル値に変換して取込み、所定の監視制御演算を行って得られたデジタル値をアナログ信号またはデジタル信号に変換して出力するようにしたデジタル制御装置、およびプラントからの接点信号をデジタル信号に変換しプラントの監視制御の演算結果をデジタル信号から接点信号に変換するデジタル入出力基板の試験を行うデジタル用入出力基板試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、プラント制御装置としては計算機が用いられており、その内部処理はデジタル信号で処理される。このようなデジタル信号で監視制御演算を行うデジタル制御装置では、プラント状態を把握するために流量や圧力等のアナログ信号を入力しデジタル信号に変換する必要がある。
【０００３】
この際、流量や圧力等のプロセス値は、検出器で検出され電圧や電流等のアナログ入力信号へ変換された後、デジタル制御装置のアナログ入力基板によってアナログ信号レベルに応じたデジタル信号に変換（Ａ／Ｄ変換）される。そして、デジタル制御装置でのロジック処理に用いられる。また、ポンプの起動停止、弁の開閉などの接点信号も同様にデジタル変換されて入力され、ロジック処理に用いられる。
【０００４】
一方、デジタル制御装置ではプラントを制御するために、デジタル値で演算を行い制御信号を作成する。その制御信号をプラントの調節計等へ出力するにあたっては、アナログ信号に変換する必要がある。そこで、デジタル制御装置のアナログ出力基板によって、そのデジタル値に応じた電圧電流等のアナログ出力信号に変換（Ｄ／Ａ変換）し、調節計等の制御に用いている。また、調節計等のアナログ的な制御以外では、例えば、ポンプの起動停止、弁の開閉などの指令は接点信号の形で出力する必要がある。
【０００５】
このようなことから、アナログ信号の入出力や接点信号の入出力は重要であるので、デジタル制御装置では、その試験項目としてアナログ入力基板の精度が規定値以内に有ることを確認するアナログ入力試験、アナログ出力基板の精度が規定値以内に有ることを確認するアナログ出力試験、接点信号の読み込み動作を確認するデジタル入力試験、及び接点信号の出力動作を確認するデジタル出力試験を行っている。
【０００６】
アナログ入力試験は、デジタル信号で制御を行うデジタル制御装置におけるアナログ入力処理の試験であり、アナログの電気信号をデジタル値へ変換するアナログ入力回路及びその入力精度を確認する試験である。また、アナログ出力試験は、デジタル信号をアナログの電気信号へ変換するアナログ出力回路及びその出力精度を確認する試験である。
【０００７】
同様に、デジタル入力試験は接点入力信号をデジタル値へ変換する接点入力回路及びその入力動作を確認する試験であり、デジタル出力試験はデジタル信号を接点の電気信号へ変換するデジタル出力回路及びその動作を確認する試験である。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、デジタル制御装置でアナログ入力試験やアナログ出力試験を行う場合には、試験用の模擬信号をデジタル制御装置に入力しなければならないので、この模擬信号によってプラントが影響を受けないようにする必要がある。すなわち、プラントに対する安全処置を施すか、プラント自体を停止させるかが必要となる。
【０００９】
同様に、デジタル制御装置でデジタル入力試験やデジタル出力試験を行う場合にも、試験用の模擬信号を入力しなければならないので、この模擬信号によってプラントが影響を受けないようにプラントに対する安全処置あるいはプラント自体の停止が必要となる。
【００１０】
本発明の目的は、試験用の模擬信号によってプラントが影響を受けることがないデジタル制御装置およびそのデジタル用入出力基板試験装置を得ることである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
請求項１に係わる発明は、プラントから入力するアナログ信号をアナログ入基板を介してデジタル信号に変換しインターフェース基板を経て監視制御用デジタル制御装置に出力するデジタル制御装置の前記アナログ入力基板を確認試験する装置において、前記アナログ入力基板にプラントからのアナログ信号に替えて模擬信号を入力する基板試験装置を設けると共に、前記インターフェース基板には、
前記アナログ入力基板からの信号を保存すると共に、前記基板試験装置に出力する第１アナログ信号用レジスタと、前記第１アナログ信号用レジスタに保存された信号を常時は通過させ前記確認試験の際に遮断するアナログデータ切替器と、前記アナログデータ切替器を通過した信号を保持し、監視制御用デジタル制御装置に出力する第２アナログ信号用レジスタとを設け、前記確認試験の際には、確認試験前に前記第２信号用レジスタに保持したデジタル信号を前記監視制御デジタル制御装置に出力する一方、前記第１アナログ信号用レジスタに保持された信号を前記基板試験装置に入力し、前記第１アナログ信号用レジスタに出力する模擬信号と比較して前記アナログ入力基板の精度評価を行うことをことを特徴とする。
【００１２】
請求項２に係わる発明は、プラントから入力する接点信号をデジタル入基板を介してデジタル信号に変換しインターフェース基板を経て監視制御用デジタル制御装置に出力するデジタル制御装置の前記デジタル入力基板を確認試験する装置において、前記デジタル入力基板にプラントからの接点信号に替えて接点入力模擬信号を入力する基板試験装置を設けると共に、前記インターフェース基板には、
前記デジタル入力基板からの信号を保存すると共に、前記基板試験装置に出力する第１接点信号用レジスタと、前記第１接点信号用レジスタに保存された信号を常時は通過させ前記確認試験の際に遮断するデジタルデータ切替器と、前記デジタルデータ切替器を通過した信号を保持し、監視制御用デジタル制御装置に出力する第２接点信号用レジスタとを設け、前記確認試験の際には、確認試験前に前記第２接点信号用レジスタに保持したデジタル信号を前記監視制御デジタル制御装置に出力する一方、前記第１接点信号用レジスタに保持された信号を前記基板試験装置に入力し、前記第１接点信号用レジスタに出力する模擬信号と比較して前記デジタル入力基板の精度評価を行うことをことを特徴とする。
【００１３】
請求項３に係わる発明は、請求項１において、前記第２アナログ信号用レジスタに保持された制御用の信号値をプラント状態の変化に合わせて変化させて模擬信号とするようにしたことを特徴とする。
【００１４】
請求項４に係わる発明は、請求項２において、前記第２接点信号用レジスタに保持された制御用の信号値をプラント状態の変化に合わせて変化させて模擬信号とするようにしたことを特徴とする。
【００１５】
請求項５に係わる発明は、プラントからの接点信号をデジタル信号に変換しプラントの監視制御の演算結果をデジタル信号から接点信号に変換するデジタル入出力基板の試験を行うデジタル制御装置の基板試験装置において、プラントからの接点信号をデジタル信号に変換するデジタル入力基板の入力動作の確認をするデジタル入力試験に際して、電圧接点型デジタル入力基板の配置及び入力チャンネルに応じて電圧接点信号を模擬し、試験対象であるデジタル制御装置の電圧接点型デジタル入力基板からのデジタル値を確認することで電圧接点型デジタル入力基板の健全性を確認するようにしたことを特徴とする。
【００１６】
請求項６に係わる発明は、プラントからの接点信号をデジタル信号に変換しプラントの監視制御の演算結果をデジタル信号から接点信号に変換するデジタル入出力基板の試験を行うデジタル制御装置の基板試験装置において、プラントからの接点信号をデジタル信号に変換するデジタル入力基板の入力動作の確認をするデジタル入力試験に際して、無電圧接点型デジタル入力基板の配置及び入力チャンネルに応じて無電圧接点のＯＮ／ＯＦＦを模擬し、試験対象であるデジタル制御装置の無電圧接点型デジタル入力基板からのデジタル値を確認することで無電圧接点型デジタル入力基板の健全性を確認するようにしたことを特徴とする。
【００３１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を説明する。図１乃至図４は、本発明の第１の実施の形態の説明図であり、アナログ入力基板のアナログ入力試験を行う場合を示している。図１はアナログ入力試験を行う場合のデジタル制御装置の動作説明図であり、図２はデジタル制御装置および入出力基板試験装置との関係を示す構成図である。
【００３２】
図２において、デジタル制御装置には、プラントの監視制御用のデジタル制御装置２ａと、プラントとの入出力信号を制御するリモート入出力用のデジタル制御装置１ｂとがあり、以下の説明では単にデジタル制御装置１という場合にはリモート入出力用のデジタル制御装置１ｂを指すものとする。
【００３３】
デジタル制御装置１ｂはアナログ入出力基板２およびデジタル入出力基板３を有しており、アナログ信号および接点信号の入出力を行うようになっている。デジタル制御装置１ｂとプラントとの間の入出力信号は外部ケーブル４によって伝送されデジタル制御装置１ｂの端子台５で中継される。端子台５には、アナログ基板用配線６およびデジタル基板用配線７が接続されている。入出力信号はこのアナログ基板用配線６およびデジタル基板用配線７を経てアナログ入出力基板２及びデジタル入出力基板３との伝送を行っている。
【００３４】
たとえば、アナログ信号を入力する場合には、アナログ入出力基板２へ伝えられたアナログ入力信号はそこでデジタル値に変換され、インターフェース基板８および光ケーブル９を経て監視制御用のデジタル制御装置１ａへ伝えられ、プラントの監視制御に用いられる。接点信号を入力する場合にも同様に、入力された接点信号はデジタル入出力基板３でデジタル値に変換され、インターフェース基板８および光ケーブル９を経て監視制御用のデジタル制御装置１ａへ伝えられ、プラントの監視制御に用いられる。
【００３５】
一方、アナログ入出力基板２のアナログ入力基板の試験時は、アナログ基板用配線６の代わりにアナログ基板用ケーブル１０がアナログ入出力基板２に接続され、アナログ用入出力基板試験装置１１から試験用の模擬信号が出力される。この模擬信号はアナログ入出力基板２のアナログ入力基板でデジタル値に変換され、インターフェース基板８およびデータ入出力ケーブル１２を経てアナログ用入出力基板試験装置１１へ戻って来る。そして、模擬したアナログ値と帰ってきたデジタル値とを比較することでアナログ入出力基板２のアナログ入力基板の精度評価を行う。
【００３６】
同様に、デジタル入出力基板３のデジタル入力基板の試験時は、デジタル基板用配線７の代わりにデジタル基板用ケーブル１３がデジタル入出力基板３に接続され、デジタル用入出力基板試験装置１４から試験用の模擬信号が出力される。この模擬信号はデジタル入出力基板２のデジタル入力基板でデジタル値に変換され、インターフェース基板８およびデータ入出力ケーブル１２を経てデジタル用入出力基板試験装置１１へ戻って来る。そして、模擬信号と帰ってきたデジタル値とを比較することでデジタル入出力基板３のデジタル入力基板の精度評価を行う。
【００３７】
ここで、図３にアナログ用入出力基板試験装置１１の構成図を示す。このアナログ用入出力基板試験装置１１は、試験に関してアナログ入出力基板２の入出力を模擬信号（電圧、電流等）を出力する電圧電流発生器１５と、この模擬信号の入力により各アナログ入出力基板２が出力する電気信号を測定する測定手段１６と、電気回路に挿入する標準抵抗１７とを設けている。
【００３８】
さらに、これらを試験対象基板の試験内容に応じて接点の切換により適切な電気回路を形成する切替手段１８と、アナログ基板用ケーブル１０との接続に用いる端子台１９、さらに各アナログ入出力基板２に係わる各種データベースを備えて、電圧電流発生器１５と測定手段１６および切替手段１８を制御して、順次試験対象基板の選定と接続確認および試験結果から変換機能の評価等を行う演算処理手段２０とから構成されている。
【００３９】
模擬信号はアナログ基板用ケーブル１０を介してアナログ入出力基板２に入力され、その模擬信号に対して応動した信号値はインターフェース基板８およびデータ入出力ケーブルを介して演算処理手段２０に入力され、演算処理手段２０で試験結果が評価される。
【００４０】
次に、図１は、デジタル制御装置１ｂの説明図であり、信号の流れはアナログ入力試験を行う場合を示している。デジタル制御装置１ｂのインタフェース基板８には、第１のアナログ信号用レジスタ２１および第２のアナログ信号用レジスタ２２がアナログデータ切替器２３を介して設けられている。同様に、第１の接点信号用レジスタ２４および第２の接点信号用レジスタ２５がデジタルデータ切替器２６を介して設けられている。そして、アナログ入力基板２９のアナログ入力試験の際には、アナログ用データ切替スイッチ２７により試験中に選択し、同様に、デジタル入力基板３０のデジタル入力試験の際にはデジタル用データ切替スイッチ２８を試験中に選択する。
【００４１】
いま、アナログ入力基板２９のアナログ入力試験のために、アナログ用データ切替スイッチ２７によりアナログ入力試験中を選択したとする。これにより、アナログデータ切替器２３がＯＦＦする。つまり、第１のアナログ信号用レジスタ２１および第２のアナログ信号用レジスタ２２の接続がＯＦＦするので、第１のアナログ信号用レジスタ２１の値は更新されなくなり、プラントの監視制御用のデジタル処理装置１ａに出力される信号値は第１のアナログ信号用レジスタ２１に保持される。
【００４２】
この状態で、アナログ入出力基板試験装置１１から模擬信号を出力すると、アナログ基板用ケーブル１０を介してアナログ入力基板２９に伝送され、アナログ入力基板２９はその模擬信号に基づいて動作する。第２のアナログ用レジスタ２２には、その模擬信号により動作した結果の模擬された信号値が格納される。この信号値は、データ入出力ケーブル１２を経てアナログ用入出力基板試験装置１１に伝えられる。従って、プラントの監視制御に影響を与えることなくアナログ入力試験を行うことができる。
【００４３】
次に、図４は、図１に示したアナログ入力試験の際に、第１のアナログ信号用レジスタ２１に保持された制御用の信号値をプラント状態の変化に合わせて変化させて模擬信号とするようにしたものである。
【００４４】
図４において、プラントの監視制御演算を行うデジタル制御装置１ａへ模擬信号を送出する場合を示している。アナログ入力基板２９の試験を行う場合には、アナログ用データ切替えスイッチ２７を試験中に選択することで行われる。そうすると、アナログデータ切替器２３がアナログ用入出力基板試験装置１１側に切り替わり、第１のアナログ信号用レジスタ２１の値は更新されなくなり、プラントの監視制御用のデジタル処理装置１ａに出力される信号値は第１のアナログ信号用レジスタ２１に保持される。
【００４５】
この状態で、アナログ入出力基板試験装置１１から模擬信号を出力すると、アナログ基板用ケーブル１０を介してアナログ入力基板２９に伝送され、アナログ入力基板２９はその模擬信号に基づいて動作し、第２のアナログ用レジスタ２２には、その模擬信号により動作した結果の模擬された信号値が格納される。この信号値は、データ入出力ケーブル１２を経てアナログ用入出力基板試験装置１１に伝えられる。従って、プラントの監視制御に影響を与えることなくアナログ入力試験を行うことができる。
【００４６】
また、第１のアナログ信号用レジスタ２１の保持値を、アナログ用入出力基板試験装置１１から変更する。すなわち、プラント状態の変化に合わせて変化させる。そして、その変化させた値を模擬信号としてデジタル制御装置１ａに出力する。従って、変動するアナログ入力信号に対する試験を行うことができる。
【００４７】
次に、本発明の第２の実施の形態を説明する。図５は、本発明の第２の実施の形態に係わるデジタル制御装置でアナログ出力試験を行う場合の説明図である。この第２の実施の形態は、アナログ出力試験に際し、第１のアナログ信号用レジスタ２１には制御用の信号値として試験前の値を保持し、第２のアナログ信号用レジスタ２２にはアナログ出力試験用の模擬信号をアナログ用入出力基板試験装置１１から入力して保存する。そして、アナログ出力基板３１を介して出力しその模擬された信号値をアナログ用入出力基板試験装置１１に戻すようにし、試験結果を評価するようにしている。
【００４８】
図５において、通常運転時においては、デジタル制御装置１ａから出力された信号は光ケーブル９およびインターフェース基板８を経てアナログ出力基板３１へ伝えられてアナログ信号に変換され、プラントを制御するために出力される。
【００４９】
一方、アナログ出力基板の試験時は、アナログ基板用配線６の代わりにアナログ基板用ケーブル１０を用いてアナログ入出力基板試験装置１１に接続する。この状態で、アナログ出力基板３１のアナログ出力試験のために、アナログ用データ切替スイッチ２７によりアナログ入力試験中を選択する。そうすると、アナログデータ切替器２３がＯＦＦする。
【００５０】
つまり、第１のアナログ信号用レジスタ２１および第２のアナログ信号用レジスタ２２の接続がＯＦＦするので、第２のアナログ信号用レジスタ２２の値は更新されなくなり、プラントの監視制御用のデジタル処理装置１ａから出力される信号値は第１のアナログ信号用レジスタ２１に更新保持される。
【００５１】
この状態で、アナログ入出力基板試験装置１１からデータ入出力ケーブル１２を介して、模擬信号（デジタル値）を第２のアナログ信号レジスタ２２に出力する。模擬信号はアナログ出力基板３１に伝送され、アナログ出力基板３１はその模擬信号に基づいてアナログ信号に変換し、その変換されたアナログ信号は、アナログ基板用ケーブル１０を介してアナログ用入出力基板試験装置１１に伝えられる。ここで模擬したデジタル値と、帰ってきたアナログ値とを比較することでアナログ出力基板３１の精度評価を行う。従って、プラントの監視制御に影響を与えることなくアナログ入力試験を行うことができる。
【００５２】
次に、本発明の第３の実施の形態を説明する。図６は本発明の第３の実施の形態に係わるデジタル制御装置でデジタル入力試験を行う場合の説明図である。この第３の実施の形態は、図１に示した第１の実施の形態のアナログ入力基板２９に代えてデジタル入力基板３０のデジタル入力試験を行う場合のものである。
【００５３】
いま、デジタル入力基板３０のデジタル入力試験のために、デジタル用データ切替スイッチ２８によりデジタル入力試験中を選択したとする。これにより、デジタルデータ切替器２６がＯＦＦする。つまり、第１のデジタル信号用レジスタ２４および第２のデジタル信号用レジスタ２６の接続がＯＦＦするので、第１のデジタル信号用レジスタ２４の値は更新されなくなり、プラントの監視制御用のデジタル処理装置１ａに出力される信号値は第１のデジタル信号用レジスタ２４に保持される。
【００５４】
この状態で、デジタル用入出力基板試験装置１４から模擬信号（接点信号）を出力すると、デジタル基板用ケーブル１３を介してデジタル入力基板３０に伝送され、デジタル入力基板３０はその模擬信号に基づいて動作する。第２のデジタル用レジスタ２５には、その模擬信号により動作した結果の模擬された信号値が格納される。この信号値は、データ入出力ケーブル１２を経てデジタル用入出力基板試験装置１４に伝えられる。ここで模擬した接点信号と帰ってきたデジタル値とを比較することでデジタル入力基板６の動作評価を行う。従って、プラントの監視制御に影響を与えることなくアナログ入力試験を行うことができる。
【００５５】
次に、図７は、図６に示したデジタル入力試験の際に、第１のデジタル信号用レジスタ２４に保持された制御用の信号値をプラント状態の変化に合わせて変化させて模擬信号とするようにしたものである。
【００５６】
図７において、プラントの監視制御演算を行うデジタル制御装置１ａへ模擬信号を送出する場合を示している。デジタル入力基板３０の試験を行う場合には、デジタル用データ切替えスイッチ２８を試験中に選択することで行われる。そうすると、デジタルデータ切替器２６がデジタル用入出力基板試験装置１４側に切り替わり、第１のデジタル信号用レジスタ２４の値は更新されなくなり、プラントの監視制御用のデジタル処理装置１ａに出力される信号値は第１のデジタル信号用レジスタ２４に保持される。
【００５７】
この状態で、デジタル用入出力基板試験装置１４から模擬信号を出力すると、デジタル基板用ケーブル１３を介してデジタル入力基板３０に伝送され、デジタル入力基板３０はその模擬信号に基づいて動作し、第２のデジタル用レジスタ２５には、その模擬信号により動作した結果の模擬された信号値が格納される。この信号値は、データ入出力ケーブル１２を経てデジタル用入出力基板試験装置１４に伝えられる。従って、プラントの監視制御に影響を与えることなくアナログ入力試験を行うことができる。
【００５８】
また、第１のデジタル信号用レジスタ２４の保持値を、デジタル用入出力基板試験装置１４から変更する。すなわち、プラント状態の変化に合わせて変化させる。そして、その変化させた値を模擬信号としてデジタル制御装置１ａに出力する。従って、変動するアナログ入力信号に対する試験を行うことができる。
【００５９】
次に、本発明の第４の実施の形態を説明する。図８は本発明の第４の実施の形態に係わるデジタル制御装置でデジタル出力試験を行う場合の説明図である。この第４の実施の形態は、デジタル出力試験に際し、第１のデジタル信号用レジスタ２４には制御用の信号値として試験前の値を保持し、第２のデジタル信号用レジスタ２５にはデジタル出力試験用の模擬信号をデジタル用入出力基板試験装置１４から入力して保存する。そして、デジタル出力基板３２を介して出力しその模擬された信号値をデジタル用入出力基板試験装置１４に戻すようにし、試験結果を評価するようにしたものである。
【００６０】
図８において、通常運転時においては、デジタル制御装置１ａから出力された信号は光ケーブル９およびインターフェース基板８を経てアナログ出力基板３１へ伝えられてアナログ信号に変換され、プラントを制御するために出力される。
【００６１】
一方、デジタル出力基板の試験時は、デジタル基板用配線７の代わりにデジタル基板用ケーブル１３を用いてデジタル入出力基板試験装置１４に接続する。この状態で、デジタル出力基板３２のデジタル出力試験のために、デジタル用データ切替スイッチ２８によりアナログ入力試験中を選択する。そうすると、デジタルデータ切替器２６がＯＦＦする。
【００６２】
つまり、第１のデジタル信号用レジスタ２４および第２のデジタル信号用レジスタ２５の接続がＯＦＦするので、第２のデジタル信号用レジスタ２５の値は更新されなくなり、プラントの監視制御用のデジタル処理装置１ａから出力される信号値は第１のデジタル信号用レジスタ２４に更新保持される。
【００６３】
この状態で、デジタル入出力基板試験装置１４からデータ入出力ケーブル１２を介して、模擬信号（デジタル値）を第２のデジタル信号レジスタ２５に出力する。模擬信号はデジタル出力基板３２に伝送され、デジタル出力基板３２はその模擬信号に基づいてデジタル信号に変換し、その変換されたデジタル信号は、デジタル基板用ケーブル１３を介してデジタル用入出力基板試験装置１４に伝えられる。ここで模擬した接点信号と、帰ってきたデジタル値とを比較することでデジタル出力基板３２の精度評価を行う。従って、プラントの監視制御に影響を与えることなくデジタル入力試験を行うことができる。
【００６４】
次に、図９はデジタル用入出力基板試験装置１４の構成図であり、図１０はデジタル入出力基板３の種類毎の試験時におけるスイッチの状態を示す説明図である。デジタル用入出力基板試験装置１４は、抵抗器３７、試験用の電圧を発生する発生器３８、デジボル（デジタルマルチメータ）３９、ジャンパー４０、切替接点３３〜３６および切替接点４１〜４７を有している。
【００６５】
デジタル入力基板３０が電圧接点の場合には、図１０に示すように切替接点３３および切替接点３４をＯＮし、確認対象となる基板入力チャンネルに対応する切替接点４１〜４７をＯＮ／ＯＦＦさせる。これにより、デジタル入力基板３０の基板入力チャンネル５１〜５７へ電圧を印可させる。
【００６６】
デジタル入力基板３０が無電圧接点の場合には、図１０に示すようにジャンパー４０につながる切替接点３５をＯＮし、確認対象となる基板入力チャンネルに対応する切替接点４１〜４７をＯＮ／ＯＦＦさせることで、デジタル入力基板３０の基板入力チャンネル５１〜５７へ接点のＯＮ／ＯＦＦを模擬する。
【００６７】
一方、デジタル出力基板３２が電圧接点の場合には、図１０に示すように切替接点３４をＯＮし、確認対象となる基板入力チャンネルに対応する切替接点４１〜４７をＯＮ／ＯＦＦさせることで、デジタル出力基板３２の基板入力チャンネル５１〜５７からの電圧を確認する。
【００６８】
デジタル出力基板３２が無電圧接点の場合には、図１０に示すように切替接点３３、３４、３６をＯＮし、確認対象となる基板入力チャンネルに対応する切替接点４１〜４７をＯＮ／ＯＦＦさせることで、デジタル基板３２の基板入力チャンネル５１〜５７の接点動作を確認する。
【００６９】
基板の接点がＯＦＦの状態では、発生器３８の出力電圧に等しい電圧がデジボル３９に印荷され、ＯＮの状態では抵抗器３８と基板の出力インピーダンスとで分圧された出力インピーダンス相当の電圧が印荷される。
【００７０】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、デジタル制御装置でアナログ入力試験を行う場合に、試験用の模擬信号によってプラントが影響を受けることがなく、プラントに対する安全処置が図られ、プラント自体の停止を避けることができる。また、アナログ入力試験及びアナログ入力試験を自動的に行える。
【００７１】
同様にデジタル制御装置でデジタル入力試験を行う場合も、試験用の模擬信号によってプラントが影響を受けることがなく、プラントに対する安全処置を図ることができ、プラント自体の停止を避けることができる。また、デジタル入力試験及びデジタル入力試験を自動的に行える。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係わるデジタル制御装置でアナログ入力試験を行う場合の説明図。
【図２】本発明の第１の実施の形態に係わるデジタル制御装置と入出力基板政権装置との関係を示す構成図。
【図３】本発明の第１の実施の形態におけるアナログ用入出力基板試験装置の構成図。
【図４】本発明の第１の実施の形態に係わるデジタル制御装置でアナログ入力試験を行う際に制御用の信号値をプラント状態の変化に合わせて変化させて模擬信号とする場合の説明図。
【図５】本発明の第２の実施の形態に係わるデジタル制御装置でアナログ出力試験を行う場合の説明図。
【図６】本発明の第３の実施の形態に係わるデジタル制御装置でアナログ入力試験を行う場合の説明図。
【図７】本発明の第３の実施の形態に係わるデジタル制御装置でアナログ入力試験を行う際に制御用の信号値をプラント状態の変化に合わせて変化させて模擬信号とする場合の説明図。
【図８】本発明の第４の実施の形態に係わるデジタル制御装置でデジタル出力試験を行う場合の説明図。
【図９】本発明のデジタル用入出力基板試験装置の構成図。
【図１０】本発明のデジタル用入出力基板試験装置におけるデジタル入出力基板の種類毎の試験時におけるスイッチのオンオフ状態を示す説明図。
【符号の説明】
１デジタル制御装置
２アナログ入出力基板
３デジタル入出力基板
４外部ケーブル
５端子台
６アナログ基板用配線
７デジタル基板用配線
８インターフェース基板
９光ケーブル
１０アナログ基板用ケーブル
１１アナログ用入出力基板試験装置
１２データ入出力ケーブル
１３デジタル基板用ケーブル
１４デジタル用入出力基板試験装置
１５電圧電流発生器
１６測定手段
１７標準抵抗
１８切替手段
１９端子台
２０演算処理手段
２１第１のアナログ信号用レジスタ
２２第２のアナログ信号用レジスタ
２３アナログデータ切替器
２４第１の接点信号用レジスタ
２５第２の接点信号用レジスタ
２６デジタルデータ切替器
２７アナログ用データ切替スイッチ
２８デジタル用データ切替スイッチ
２９アナログ入力基板
３０デジタル入力基板
３１アナログ出力基板
３２デジタル出力基板
３３〜３６切替接点
３７抵抗器
３８発生器
３９デシボル
４０ジャンパー
４１〜４７切替接点
５１〜５７基板入力チャンネル[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention converts an analog signal or a contact signal from a plant into a digital value, takes it in, converts a digital value obtained by performing a predetermined monitoring control operation into an analog signal or a digital signal, and outputs the converted signal. The present invention relates to a control device and a digital input / output board test apparatus for testing a digital input / output board that converts a contact signal from a plant into a digital signal and converts an operation result of monitoring and control of the plant from a digital signal to a contact signal.
[0002]
[Prior art]
Generally, a computer is used as a plant control device, and its internal processing is processed by digital signals. In such a digital control device that performs a monitoring control operation using a digital signal, it is necessary to input an analog signal such as a flow rate or a pressure and convert it into a digital signal in order to grasp a plant state.
[0003]
At this time, process values such as flow rate and pressure are detected by a detector and converted into analog input signals such as voltage and current, and then converted into digital signals according to the analog signal level by an analog input board of a digital controller ( A / D conversion). Then, it is used for logic processing in the digital control device. Similarly, contact signals for starting and stopping the pump, opening and closing the valve, and the like are also digitally converted and input, and used for logic processing.
[0004]
On the other hand, in order to control a plant, a digital control device performs an operation on a digital value to create a control signal. When outputting the control signal to a controller or the like of the plant, it is necessary to convert the control signal into an analog signal. Therefore, the analog output board of the digital control device converts (D / A conversion) into an analog output signal such as a voltage and a current corresponding to the digital value, and uses the analog output signal for controlling a controller or the like. In addition to the control other than the analog control of the controller or the like, it is necessary to output, for example, a command for starting and stopping the pump and opening and closing the valve in the form of a contact signal.
[0005]
For these reasons, the input and output of analog signals and the input and output of contact signals are important, so in digital control devices, an analog input test to confirm that the accuracy of the analog input board is within specified values is a test item. In addition, an analog output test for confirming that the accuracy of the analog output board is within a specified value, a digital input test for confirming a contact signal reading operation, and a digital output test for confirming a contact signal output operation are performed.
[0006]
The analog input test is a test for analog input processing in a digital control device that performs control using digital signals, and is a test for confirming an analog input circuit that converts an analog electric signal into a digital value and its input accuracy. The analog output test is a test for confirming an analog output circuit for converting a digital signal into an analog electric signal and its output accuracy.
[0007]
Similarly, the digital input test is a contact input circuit for converting a contact input signal into a digital value and a test for confirming the input operation, and the digital output test is a digital output circuit for converting a digital signal to a contact electric signal and the operation thereof. It is a test to confirm.
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
However, when performing an analog input test or analog output test with a digital controller, it is necessary to input a test simulation signal to the digital controller, so it is necessary to prevent the plant from being affected by the simulation signal. There is. That is, it is necessary to take safety measures for the plant or to stop the plant itself.
[0009]
Similarly, when performing a digital input test or a digital output test with a digital control device, a simulated signal for testing must be input. The plant itself needs to be shut down.
[0010]
An object of the present invention is to provide a digital control apparatus and a digital input / output board test apparatus in which a plant is not affected by a test simulation signal.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
The invention according to claim 1 isAn apparatus for confirming and testing the analog input board of a digital control apparatus which converts an analog signal input from a plant into a digital signal via an analog input board and outputs the digital signal to a digital controller for monitoring and control via an interface board. A board test apparatus for inputting a simulation signal instead of an analog signal from a plant is provided, and the interface board includes:
A signal from the analog input board is stored, and a first analog signal register to be output to the board test apparatus, and a signal stored in the first analog signal register are always passed during the confirmation test. An analog data switch to be shut off; and a second analog signal register for holding a signal passed through the analog data switch and outputting the signal to a digital controller for monitoring and control. The digital signal previously held in the second signal register is output to the monitoring control digital control device, while the signal held in the first analog signal register is input to the board test apparatus, and the first analog signal is output. It is characterized in that the accuracy of the analog input board is evaluated in comparison with a simulation signal output to a signal register.
[0012]
The invention according to claim 2 isAn apparatus for confirming and testing the digital input board of a digital control apparatus that converts a contact signal input from a plant into a digital signal through a digital input board and outputs the digital signal to a digital controller for monitoring and control via an interface board. A board test apparatus for inputting a contact input simulation signal instead of a contact signal from a plant is provided in the interface board,
In addition to storing the signal from the digital input board, the first contact signal register to be output to the board test apparatus, and the signal stored in the first contact signal register are always passed during the confirmation test. A digital data switch for shutting off, and a second contact signal register for holding a signal passed through the digital data switch and outputting the signal to a digital control device for monitoring and control, The digital signal previously held in the second contact signal register is output to the monitoring control digital control device, while the signal held in the first contact signal register is input to the board test device, and the first It is characterized in that the accuracy of the digital input board is evaluated in comparison with a simulation signal output to a contact signal register.
[0013]
Claim3The invention relating toIn claim 1,The control signal value held in the second analog signal register is changed in accordance with a change in a plant state to be a simulation signal.
[0014]
Claim4The invention relating toIn claim 2,The control signal value held in the second contact signal register is changed in accordance with a change in a plant state to be a simulation signal.
[0015]
Claim5The present invention relates to a digital input / output board test for converting a contact signal from a plant into a digital signal and converting a calculation result of monitoring and control of the plant from a digital signal to a contact signal.Control unitIn a board test device, during a digital input test that checks the input operation of a digital input board that converts a contact signal from a plant to a digital signal, a voltage contact signal is simulated according to the arrangement and input channels of the voltage contact type digital input board. Then, the soundness of the voltage contact type digital input board is confirmed by checking the digital value from the voltage contact type digital input board of the digital control device to be tested.
[0016]
Claim6The present invention relates to a digital input / output board test for converting a contact signal from a plant into a digital signal and converting a calculation result of monitoring and control of the plant from a digital signal to a contact signal.Control unitIn the board test equipment, during the digital input test to confirm the input operation of the digital input board that converts the contact signal from the plant to a digital signal, the non-voltage contact of the Simulates ON / OFF and confirms the soundness of the voltage-free contact type digital input board by checking the digital value from the voltage-free contact type digital input board of the digital controller to be tested. And
[0031]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described. FIGS. 1 to 4 are explanatory diagrams of the first embodiment of the present invention, and show a case where an analog input test of an analog input board is performed. FIG. 1 is an explanatory diagram of the operation of the digital control device when an analog input test is performed, and FIG. 2 is a configuration diagram showing a relationship between the digital control device and an input / output board test device.
[0032]
In FIG. 2, the digital control device includes a digital control device 2a for monitoring and controlling a plant, and a digital control device 1b for remote input / output for controlling input / output signals to / from the plant. The control device 1 refers to a digital control device 1b for remote input / output.
[0033]
The digital control device 1b has an analog input / output board 2 and a digital input / output board 3, and inputs and outputs analog signals and contact signals. Input / output signals between the digital controller 1b and the plant are transmitted by the external cable 4 and relayed by the terminal block 5 of the digital controller 1b. The terminal board 5 is connected to an analog board wiring 6 and a digital board wiring 7. The input / output signals are transmitted to the analog input / output board 2 and the digital input / output board 3 via the analog board wiring 6 and the digital board wiring 7.
[0034]
For example, when an analog signal is input, the analog input signal transmitted to the analog input / output substrate 2 is converted into a digital value there, and transmitted to the digital controller 1a for monitoring and control via the interface substrate 8 and the optical cable 9. Used for plant monitoring and control. Similarly, when a contact signal is input, the input contact signal is converted into a digital value by the digital input / output board 3 and transmitted to the digital controller 1a for monitoring and control via the interface board 8 and the optical cable 9, and the plant Used for monitoring and control of
[0035]
On the other hand, when testing the analog input board of the analog input / output board 2, an analog board cable 10 is connected to the analog input / output board 2 instead of the analog board wiring 6, and the analog input / output board test device 11 Is output. The simulation signal is converted into a digital value by the analog input board of the analog input / output board 2 and returns to the analog input / output board test apparatus 11 via the interface board 8 and the data input / output cable 12. Then, the accuracy of the analog input board of the analog input / output board 2 is evaluated by comparing the simulated analog value with the returned digital value.
[0036]
Similarly, when testing the digital input board of the digital input / output board 3, a digital board cable 13 is connected to the digital input / output board 3 instead of the digital board wiring 7, and a test is performed by the digital input / output board test apparatus 14. Simulation signal is output. This simulation signal is converted into a digital value by the digital input board of the digital input / output board 2 and returns to the digital input / output board test apparatus 11 via the interface board 8 and the data input / output cable 12. Then, the accuracy of the digital input board of the digital input / output board 3 is evaluated by comparing the simulation signal with the returned digital value.
[0037]
Here, FIG. 3 shows a configuration diagram of the analog input / output board test apparatus 11. The analog input / output board test apparatus 11 includes a voltage / current generator 15 for outputting a simulation signal (voltage, current, etc.) for the input / output of the analog input / output board 2 with respect to a test, and an analog input / output A measuring unit 16 for measuring an electric signal output from the substrate 2 and a standard resistor 17 inserted into an electric circuit are provided.
[0038]
Further, a switching means 18 for forming an appropriate electric circuit by switching contacts according to the test contents of the test target board, a terminal block 19 used for connection to the analog board cable 10, and Processing means 20 for controlling the voltage / current generator 15, the measuring means 16, and the switching means 18 to sequentially select a test target board, check the connection, and evaluate the conversion function from the test results, etc. It is composed of
[0039]
The simulation signal is input to the analog input / output board 2 via the analog board cable 10, and a signal value corresponding to the simulation signal is input to the arithmetic processing unit 20 via the interface board 8 and the data input / output cable. The test result is evaluated by the arithmetic processing means 20.
[0040]
Next, FIG. 1 is an explanatory diagram of the digital control device 1b, and shows a case where the signal flow performs an analog input test. On the interface board 8 of the digital controller 1b, a first analog signal register 21 and a second analog signal register 22 are provided via an analog data switch 23. Similarly, a first contact signal register 24 and a second contact signal register 25 are provided via a digital data switch 26. Then, during the analog input test of the analog input board 29, selection is made during the test by the analog data changeover switch 27. Similarly, when the digital input test of the digital input board 30 is performed, the digital data changeover switch 28 is set. Select during the test.
[0041]
It is assumed that an analog input test is selected by the analog data changeover switch 27 for the analog input test of the analog input board 29. Thereby, the analog data switch 23 is turned off. That is, since the connection between the first analog signal register 21 and the second analog signal register 22 is turned off, the value of the first analog signal register 21 is not updated, and the digital processing device for monitoring and controlling the plant is used. The signal value output to 1a is held in the first analog signal register 21.
[0042]
When a simulation signal is output from the analog input / output board test apparatus 11 in this state, the simulation signal is transmitted to the analog input board 29 via the analog board cable 10, and the analog input board 29 operates based on the simulation signal. The second analog register 22 stores a simulated signal value obtained as a result of operating with the simulated signal. This signal value is transmitted to the analog input / output board test apparatus 11 via the data input / output cable 12. Therefore, the analog input test can be performed without affecting the monitoring and control of the plant.
[0043]
Next, FIG. 4 shows that, at the time of the analog input test shown in FIG. 1, the control signal value held in the first analog signal register 21 is changed in accordance with a change in the plant state, and a simulation signal is generated. It is intended to be.
[0044]
FIG. 4 shows a case where a simulation signal is transmitted to a digital control device 1a that performs a monitoring control operation of a plant. When testing the analog input board 29, it is performed by selecting the analog data switch 27 during the test. Then, the analog data switch 23 is switched to the analog input / output board test device 11 side, the value of the first analog signal register 21 is not updated, and the signal output to the digital processing device 1a for plant monitoring and control is output. The value is held in the first analog signal register 21.
[0045]
In this state, when a simulation signal is output from the analog input / output board test apparatus 11, the simulation signal is transmitted to the analog input board 29 via the analog board cable 10, and the analog input board 29 operates based on the simulation signal. The analog register 22 stores a simulated signal value obtained as a result of operation by the simulated signal. This signal value is transmitted to the analog input / output board test apparatus 11 via the data input / output cable 12. Therefore, the analog input test can be performed without affecting the monitoring and control of the plant.
[0046]
Further, the value held in the first analog signal register 21 is changed from the analog input / output board test apparatus 11. That is, it is changed according to the change of the plant state. Then, the changed value is output to the digital control device 1a as a simulation signal. Therefore, a test can be performed on a fluctuating analog input signal.
[0047]
Next, a second embodiment of the present invention will be described. FIG. 5 is an explanatory diagram of a case where an analog output test is performed by the digital control device according to the second embodiment of the present invention. In the second embodiment, during an analog output test, a first analog signal register 21 holds a value before the test as a control signal value, and a second analog signal register 22 stores an analog output signal. A test simulation signal is input from the analog input / output board test apparatus 11 and stored. Then, the simulated signal value output through the analog output board 31 is returned to the analog input / output board test apparatus 11, and the test result is evaluated.
[0048]
In FIG. 5, during normal operation, a signal output from the digital control device 1a is transmitted to an analog output board 31 via an optical cable 9 and an interface board 8, converted into an analog signal, and output to control a plant. You.
[0049]
On the other hand, when testing the analog output board, the analog input / output board test apparatus 11 is connected to the analog input / output board test apparatus 11 using the analog board cable 10 instead of the analog board wiring 6. In this state, for the analog output test of the analog output board 31, the analog data changeover switch 27 is used to select the analog input test in progress. Then, the analog data switch 23 is turned off.
[0050]
That is, since the connection between the first analog signal register 21 and the second analog signal register 22 is turned off, the value of the second analog signal register 22 is not updated, and the digital processing device for monitoring and controlling the plant is used. The signal value output from 1a is updated and held in the first analog signal register 21.
[0051]
In this state, a simulation signal (digital value) is output from the analog input / output board test apparatus 11 to the second analog signal register 22 via the data input / output cable 12. The simulated signal is transmitted to the analog output board 31, which converts the simulated signal into an analog signal based on the simulated signal, and converts the converted analog signal via the analog board cable 10 into an analog input / output board test. The information is transmitted to the device 11. Here, the accuracy of the analog output board 31 is evaluated by comparing the simulated digital value with the returned analog value. Therefore, the analog input test can be performed without affecting the monitoring and control of the plant.
[0052]
Next, a third embodiment of the present invention will be described. FIG. 6 is an explanatory diagram when a digital input test is performed by the digital control device according to the third embodiment of the present invention. In the third embodiment, a digital input test of a digital input board 30 is performed in place of the analog input board 29 of the first embodiment shown in FIG.
[0053]
Now, it is assumed that a digital input test is being performed by the digital data changeover switch 28 for the digital input test of the digital input board 30. Thereby, the digital data switch 26 is turned off. That is, since the connection between the first digital signal register 24 and the second digital signal register 26 is turned off, the value of the first digital signal register 24 is not updated, and the digital processing device for monitoring and controlling the plant is used. The signal value output to 1a is held in the first digital signal register 24.
[0054]
In this state, when a simulation signal (contact signal) is output from the digital input / output board test apparatus 14, it is transmitted to the digital input board 30 via the digital board cable 13, and the digital input board 30 is based on the simulation signal. Operate. The second digital register 25 stores a simulated signal value obtained as a result of operating with the simulated signal. This signal value is transmitted to the digital input / output board test apparatus 14 via the data input / output cable 12. Here, the operation of the digital input board 6 is evaluated by comparing the simulated contact signal with the returned digital value. Therefore, the analog input test can be performed without affecting the monitoring and control of the plant.
[0055]
Next, FIG. 7 shows that, at the time of the digital input test shown in FIG. 6, the simulation signal value is changed by changing the control signal value held in the first digital signal register 24 in accordance with the change in the plant state. It is intended to be.
[0056]
FIG. 7 shows a case where a simulation signal is transmitted to a digital control device 1a that performs a monitoring control operation of a plant. When testing the digital input board 30, the test is performed by selecting the digital data switch 28 during the test. Then, the digital data switch 26 is switched to the digital input / output board test apparatus 14 side, the value of the first digital signal register 24 is not updated, and the signal output to the digital processing apparatus 1a for monitoring and controlling the plant is output. The value is held in the first digital signal register 24.
[0057]
In this state, when a simulation signal is output from the digital input / output board test apparatus 14, the simulation signal is transmitted to the digital input board 30 via the digital board cable 13, and the digital input board 30 operates based on the simulation signal, and The second digital register 25 stores a simulated signal value obtained as a result of operation based on the simulated signal. This signal value is transmitted to the digital input / output board test apparatus 14 via the data input / output cable 12. Therefore, the analog input test can be performed without affecting the monitoring and control of the plant.
[0058]
Further, the value held in the first digital signal register 24 is changed from the digital input / output board test apparatus 14. That is, it is changed according to the change of the plant state. Then, the changed value is output to the digital control device 1a as a simulation signal. Therefore, a test can be performed on a fluctuating analog input signal.
[0059]
Next, a fourth embodiment of the present invention will be described. FIG. 8 is an explanatory diagram of a case where a digital output test is performed by the digital control device according to the fourth embodiment of the present invention. According to the fourth embodiment, in a digital output test, a first digital signal register 24 holds a value before the test as a control signal value, and a second digital signal register 25 stores a digital output value. A test simulation signal is input from the digital input / output board test apparatus 14 and stored. Then, the simulated signal value output through the digital output board 32 is returned to the digital input / output board test apparatus 14, and the test result is evaluated.
[0060]
In FIG. 8, during normal operation, a signal output from the digital controller 1a is transmitted to an analog output board 31 via an optical cable 9 and an interface board 8, converted into an analog signal, and output to control a plant. You.
[0061]
On the other hand, when testing the digital output board, a digital input / output board test apparatus 14 is connected using a digital board cable 13 instead of the digital board wiring 7. In this state, for the digital output test of the digital output board 32, the digital data changeover switch 28 selects the analog input test in progress. Then, the digital data switch 26 is turned off.
[0062]
That is, since the connection between the first digital signal register 24 and the second digital signal register 25 is turned off, the value of the second digital signal register 25 is not updated, and the digital processing device for monitoring and controlling the plant is used. The signal value output from 1a is updated and held in the first digital signal register 24.
[0063]
In this state, a simulation signal (digital value) is output from the digital input / output board test apparatus 14 to the second digital signal register 25 via the data input / output cable 12. The simulated signal is transmitted to the digital output board 32, which converts the simulated signal into a digital signal based on the simulated signal, and outputs the converted digital signal via the digital board cable 13 to a digital input / output board test. It is communicated to the device 14. Here, the accuracy of the digital output substrate 32 is evaluated by comparing the simulated contact signal with the returned digital value. Therefore, the digital input test can be performed without affecting the monitoring and control of the plant.
[0064]
Next, FIG. 9 is a configuration diagram of the digital input / output board test apparatus 14, and FIG. 10 is an explanatory view showing the state of the switch at the time of testing for each type of the digital input / output board 3. The digital input / output board test apparatus 14 includes a resistor 37, a generator 38 for generating a test voltage, a digital vol (digital multimeter) 39, a jumper 40, switching contacts 33 to 36, and switching contacts 41 to 47. ing.
[0065]
When the digital input board 30 is a voltage contact, as shown in FIG. 10, the switching contacts 33 and 34 are turned on, and the switching contacts 41 to 47 corresponding to the board input channel to be checked are turned on / off. As a result, a voltage is applied to the board input channels 51 to 57 of the digital input board 30.
[0066]
When the digital input board 30 is a non-voltage contact, as shown in FIG. 10, the switching contact 35 connected to the jumper 40 is turned on, and the switching contacts 41 to 47 corresponding to the board input channel to be checked are turned on / off. This simulates ON / OFF of the contacts to the board input channels 51 to 57 of the digital input board 30.
[0067]
On the other hand, when the digital output board 32 is a voltage contact, the switching contact 34 is turned on as shown in FIG. 10 and the switching contacts 41 to 47 corresponding to the board input channel to be checked are turned on / off. Check the voltages from the board input channels 51-57 of the digital output board 32.
[0068]
When the digital output board 32 is a non-voltage contact, as shown in FIG. 10, the switching contacts 33, 34, and 36 are turned on, and the switching contacts 41 to 47 corresponding to the board input channel to be checked are turned on / off. Thus, the contact operation of the board input channels 51 to 57 of the digital board 32 is confirmed.
[0069]
When the contact of the substrate is OFF, a voltage equal to the output voltage of the generator 38 is applied to the digital vol 39, and when ON, a voltage corresponding to the output impedance divided by the resistor 38 and the output impedance of the substrate is applied. It is imprinted.
[0070]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, when an analog input test is performed by a digital controller, the plant is not affected by the test simulation signal, safety measures are taken for the plant, and Outages can be avoided. Further, an analog input test and an analog input test can be automatically performed.
[0071]
Similarly, when a digital input test is performed by the digital controller, the plant is not affected by the test simulation signal, safety measures can be taken for the plant, and stoppage of the plant itself can be avoided. Also, a digital input test and a digital input test can be automatically performed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an explanatory diagram in a case where an analog input test is performed by a digital control device according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a configuration diagram showing a relationship between the digital control device and the input / output board administration device according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a configuration diagram of an analog input / output board test apparatus according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 4 is an explanatory diagram of a case where a control signal value is changed in accordance with a change in a plant state to be a simulated signal when an analog input test is performed by the digital control device according to the first embodiment of the present invention; .
FIG. 5 is an explanatory diagram in a case where an analog output test is performed by a digital control device according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 6 is an explanatory diagram of a case where an analog input test is performed by a digital control device according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 7 is an explanatory diagram of a case where a control signal value is changed in accordance with a change in a plant state to be a simulated signal when an analog input test is performed by the digital control device according to the third embodiment of the present invention. .
FIG. 8 is an explanatory diagram of a case where a digital output test is performed by a digital control device according to a fourth embodiment of the present invention.
FIG. 9 is a configuration diagram of a digital input / output board test apparatus of the present invention.
FIG. 10 is an explanatory diagram showing an on / off state of a switch during a test for each type of digital input / output board in the digital input / output board test apparatus of the present invention.
[Explanation of symbols]
1 Digital control device
2 Analog input / output board
3 Digital input / output board
4 External cable
5 Terminal block
6 Wiring for analog board
7 Wiring for digital board
8 Interface board
9 Optical cable
10 Cable for analog board
11 Analog input / output board test equipment
12 Data input / output cable
13 Cable for digital board
14 Digital input / output board test equipment
15 Voltage / current generator
16 Measurement means
17 Standard resistance
18 Switching means
19 Terminal block
20 arithmetic processing means
21 First analog signal register
22 Second analog signal register
23 Analog data switch
24 First Contact Signal Register
25 Second contact signal register
26 Digital data switch
27 Analog data changeover switch
28 Digital data switch
29 Analog input board
30 Digital input board
31 Analog output board
32 digital output board
33-36 switching contact
37 resistor
38 generator
39 decibol
40 jumper
41-47 switching contact
51-57 Board input channel

Claims

In an apparatus for confirming and testing the analog input board of a digital control apparatus that converts an analog signal input from a plant into a digital signal through an analog input board and outputs the digital signal to a monitoring control digital controller via an interface board,
A board test apparatus that inputs a simulation signal instead of an analog signal from a plant is provided on the analog input board,
In the interface board,
A first analog signal register that stores the signal from the analog input board and outputs the signal to the board test apparatus;
An analog data switch that constantly passes the signal stored in the first analog signal register and shuts off at the time of the confirmation test;
A second analog signal register that holds the signal that has passed through the analog data switch and outputs the signal to the digital controller for monitoring and control;
At the time of the confirmation test, the digital signal held in the second signal register before the confirmation test is output to the monitoring control digital controller, while the signal held in the first analog signal register is output to the substrate A board test apparatus for a digital control apparatus, comprising: performing a precision evaluation of the analog input board by comparing with a simulation signal input to a test apparatus and output to the first analog signal register .

In a device for confirming and testing the digital input substrate of a digital control device that converts a contact signal input from a plant into a digital signal via a digital input substrate and outputs the digital signal to a monitoring control digital control device via an interface substrate,
A board test apparatus for inputting a contact input simulation signal instead of a contact signal from a plant to the digital input board is provided,
In the interface board,
A first contact signal register for storing a signal from the digital input board and outputting the signal to the board test apparatus;
A digital data switch that constantly passes the signal stored in the first contact signal register and cuts off at the time of the confirmation test;
A second contact signal register that holds the signal that has passed through the digital data switch and outputs the signal to the digital controller for monitoring and control;
At the time of the confirmation test, the digital signal held in the second contact signal register before the confirmation test is output to the monitoring control digital control device, while the signal held in the first contact signal register is output to the monitor. A board test apparatus for a digital control apparatus, wherein the board is subjected to a precision evaluation of the digital input board by comparison with a simulation signal input to the board test apparatus and output to the first contact signal register .

2. The digital control device board according to claim 1, wherein a control signal value held in the second analog signal register is changed in accordance with a change in a plant state to produce a simulation signal. Testing equipment .

3. The digital control device board according to claim 2, wherein the control signal value held in the second contact signal register is changed in accordance with a change in a plant state to be a simulation signal. Testing equipment .

The substrate testing device of the digital controller of the operation result of the monitoring and control of the contact signals into a digital signal plant testing a digital output board for converting a digital signal to the contact signal from the plant, a contact signal from the plant During a digital input test to check the input operation of a digital input board that converts to a digital signal, the voltage contact signal is simulated according to the arrangement and input channels of the voltage contact type digital input board, and the voltage of the digital control device to be tested is A board test apparatus for a digital control device, wherein the soundness of a voltage contact type digital input board is checked by checking a digital value from a contact type digital input board.

The substrate testing device of the digital controller of the operation result of the monitoring and control of the contact signals into a digital signal plant testing a digital output board for converting a digital signal to the contact signal from the plant, a contact signal from the plant In a digital input test for confirming an input operation of a digital input board for converting into a digital signal, ON / OFF of a no-voltage contact is simulated according to an arrangement and an input channel of a no-voltage contact type digital input board, and is a test object. A board testing device for a digital control device, wherein the soundness of the no-voltage contact type digital input board is checked by checking the digital value from the no-voltage contact type digital input board of the digital control device.