KR100219392B1 - Universal measuring apparatus - Google Patents
Universal measuring apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- KR100219392B1 KR100219392B1 KR1019970016593A KR19970016593A KR100219392B1 KR 100219392 B1 KR100219392 B1 KR 100219392B1 KR 1019970016593 A KR1019970016593 A KR 1019970016593A KR 19970016593 A KR19970016593 A KR 19970016593A KR 100219392 B1 KR100219392 B1 KR 100219392B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- unit
- data
- display
- signal
- input
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
- G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/02—Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
- G01R31/31907—Modular tester, e.g. controlling and coordinating instruments in a bus based architecture
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Abstract
기능검사가 가능한 범용 계측기에 관한 것이며,Regarding the general-purpose measuring instrument capable of functional inspection,
다수의 채널로부터 신호를 입력받아 디지탈 데이타로 변환하는 D/A변환부와 상기 D/A변환부에서 출력되는 디지탈 데이타를 저장하는 고속 메모리부와 데이타를 저장하는 메모리부와 전면판에 설치된 조정노브로 부터 입력되는 측정기능 선택신호, 측정 범위등의 데이타를 순서대로 입력받아 검사과정 프로그램으로 상기 메모리부에 저장하는 전면판 제어부와, 상기 주제어부에서 출력되는 표시데이타와 표시 제어신호를 입력받아 디스플레이부를 제어하는 디스플레이 제어부와 피측정 인쇄회로기판으로 부터 측정신호를 검출하며 입력되는 제어신호에 따라 검출하는 위치를 달리하는 픽스처부와 픽스처부로 제어신호를 출력하는 디지탈 입출력부와 상기 메모리부에 저장된 검사과정 프로그램을 읽어들여 상기 A/D 변환부를 제어하고 상기 픽스처부로 부터 입력되는 신호의 디지탈 데이타를 고속 메모리부로 부터 읽어들여 상기 검사과정 프로그램에 따라 처리하여 상기 디스플레이부에 표시하는 제어부와 상기 각부에서 출력되는 데이타를 서로 연결하는 시스템 버스로 구성된다.D / A converter that receives signals from a plurality of channels and converts them into digital data, a high speed memory unit for storing digital data output from the D / A converter, a memory unit for storing data, and an adjustment knob installed on the front panel The front panel controller receives data such as a measurement function selection signal, a measurement range, etc., which are input from the data, and stores them in the memory unit as an inspection process program, and receives display data and a display control signal output from the main control unit. The control unit detects the measurement signal from the display control unit and the printed circuit board under control, and the fixture unit which changes the detection position according to the input control signal, and the digital input / output unit which outputs the control signal to the fixture unit, and the test stored in the memory unit. Read the process program to control the A / D converter and to the fixture unit. And a system bus that reads the digital data of the signal input from the high speed memory unit, processes it according to the inspection process program, and displays the display unit on the display unit, and connects the data output from each unit.
Description
본 발명은 기능 검사가 가능한 범용 계측기에 관한 것으로 특히 기능 검사기와 계측기를 겸하는 기능 검사가 가능한 범용 계측기에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a general-purpose measuring instrument capable of function checking, and more particularly, to a general-purpose measuring instrument capable of serving as a function tester and a measuring instrument.
종래에는 부품이 조립된 인쇄회로기판의 검사시에 계측기를 사용하지만, 이러한 계측기는 측정할 수 있는 항목이 한정되어 있어 측정 항목마다 그것에 맞는 계측기를 사용해야 한다.Conventionally, a measuring instrument is used when inspecting a printed circuit board in which parts are assembled. However, such a measuring instrument has a limited number of items that can be measured.
한편, 여러가지 항목을 하나의 기기로 측정할 수 있는 기능 검사 시스템이 제1도에 도시된다. 본체부(11)는 책상형태로 되어 있으며 그 내부에 중앙제어장치가 내장되어 각종 데이타 및 신호들을 처리한다. 지그부(12)가 본체부(11)의 윗면에 설치되며 다수의 탐침이 그 위에 놓이는 피측정 인쇄회로기판(13)의 테스트포인트로 부터 신호들을 검출하여 상기 본체부(11)로 입력한다. 모니터부(14)는 본체부(11)로 부터 측정결과 신호를 받아 표시한다.Meanwhile, a functional inspection system capable of measuring various items with one device is shown in FIG. The
그러나 이 기능검사 시스템은 고가이며 대형이고 몸체가 무거우므로 고정형이어서 이동 및 설치에 번거롭다. 또한 시스템의 운전, 조작이 조작이 복잡하고 기종교체에 따른 사전 셋업작업이 어려우므로 현장의 작업자들은 종래의 계측기(예를들면, 오실로스코프등)에 익숙하여 기능검사 시스템에 숙달되기에 시간을 요한However, this functional test system is expensive, large and heavy, so it is fixed and cumbersome to move and install. In addition, since the operation and operation of the system are complicated and the pre-set-up work is difficult due to the replacement of the model, the workers in the field need time to become familiar with the functional inspection system because they are familiar with conventional instruments (eg, oscilloscopes).
본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위한 것으로,The present invention is to solve the above problems,
본 발명의 목적은 현장의 작업자가 사용하기 쉬우며 소형이어서 이동에 편리하고 가격이 저렴함과 아울러 다수의 검사항목을 갖는 기능 검사가 가능한 범용 계측기를 제공하는 것이다.An object of the present invention is to provide a general-purpose measuring instrument that is easy to use by the operator in the field and is compact, convenient to move and low in cost, and capable of functional inspection having a plurality of inspection items.
상기의 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 의한 장치는The apparatus according to the present invention to achieve the above object is
다수의 채널로부터 신호를 입력받아 디지탈 데이타로 변환하는 D/A변환부와,A D / A converter for receiving signals from a plurality of channels and converting the signals into digital data;
상기 D/A변환부에서 출력되는 디지탈 데이타를 저장하는 고속 메모리부와,A high speed memory unit for storing digital data output from the D / A converter;
데이타를 저장하는 메모리부와,A memory section for storing data,
전면판에 설치된 조정노브로 부터 입력되는 측정기능 선택신호, 측정 범위등의 데이타를 순서대로 입력받아 검사과정 프로그램으로 상기 메모리부에 저장하는 전면판 제어부와,A front panel control unit which receives data such as a measurement function selection signal and a measurement range input from an adjustment knob installed on the front panel in order and stores the data in the memory unit as an inspection process program;
상기 주제어부에서 출력되는 표시데이타와 표시 제어신호를 입력받아 디스플레이부를 제어하는 디스플레이 제어부와,A display controller which receives the display data and the display control signal output from the main controller and controls the display;
피측정 인쇄회로기판으로 부터 측정신호를 검출하며 입력되는 제어신호에 따라 검출하는 위치를 달리하는 픽스처부와,A fixture unit which detects a measurement signal from the printed circuit board under test and changes the detection position according to an input control signal;
픽스처부로 제어신호를 출력하는 디지탈 입출력부와,A digital input / output unit for outputting a control signal to the fixture unit;
상기 메모리부에 저장된 검사과정 프로그램을 읽어들여 상기 A/D변환부를 제어하고 상기 픽스처부로 부터 입력되는 신호의 디지탈 데이타를 고속 메모리부로 부터 읽어들여 상기 검사과정 프로그램에 따라 처리하여 상기 디스플레이부에 표시하는 제어부와,Read the inspection process program stored in the memory unit to control the A / D conversion unit, and read digital data of the signal input from the fixture unit from the high speed memory unit to process according to the inspection process program to display on the display unit. With the control unit,
상기 각부에서 출력되는 데이타를 서로 연결하는 시스템 버스로 구성된다.It consists of a system bus that connects the data output from the respective parts to each other.
제1도는 종래의 기능 검사 시스템이다.1 is a conventional functional inspection system.
제2도는 본 발명에 의한 범용 계측기의 외부 연결상태를 보이는 상태도 이다.2 is a state diagram showing an external connection state of the general-purpose measuring instrument according to the present invention.
제 3 도는 본 발명에 의한 범용 계측기의 일실시예의 내부 구성을 보이는 블록도이다.3 is a block diagram showing the internal configuration of an embodiment of a general-purpose measuring instrument according to the present invention.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
31 : 주제어부 32 : 전면판 제어부31: main controller 32: front panel control
33 : 조정노브 34 : 메모리부33: Adjustment knob 34: Memory section
37 : 디스플레이 제어부 38 : 디스플레이부37: display control unit 38: display unit
39 : 디지탈 입출력 제어부 40 : 고속 메모리부39: digital input / output control unit 40: high speed memory unit
41 : A/D 변환부 50 : 시스템 버스41: A / D converter 50: system bus
이하 첨부한 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
제2도에 본 발명에 의한 범용 게측기의 외부 연결상태를 보이는 상태도가 도시된다.2 is a state diagram showing the external connection state of the general purpose gauge according to the present invention.
다기능 측정장치(20)는 오실로스코프, 주파수 카운터 및 오디오신호측정기의 기능을 겸하고 통신기능을 구비하여 외부 컴퓨터와 측정 데이타를 통신하여 그 측정기능을 확장할 수 있다. 지그부(26)는 다수의 지그핀(28,28,...)을 구비하여 그위에 놓이는 피측정 인쇄회로기판(27)의 테스트 포인트로 부터 측정신호를 검출하여 통해 상기 다기능 측정장치(20)의 입력채널(A,B,C,D)로 출력한다.The
다기능 측정장치(20)의 전면 좌측에는 도시된 바와같이 측정신호의 파형을 관찰할 수 있도록 표시하는 모니터 화면(21)이 설치되며, 그 아래에는 모니터의 화면을 조정할 수 있는 모니터 조정단자(22,22)가 있다.On the front left side of the
또한, 그 우측으로 측정신호를 입력할 수 있는 신호입력 단자(23)가 A,B,C,D 4개의 채널로 설치되어 4채널의 신호를 동시에 입력할 수 있도록 되어 있다. 그리고 전면 중앙에 다수의 기능을 선택하고 조정할 수 있는 조정노브(24,24,...)들이 설치된다. 그리고 뒷면에는 외부 컴퓨터와 데이타를 통신할 수 있는 통신용 케이블(25)을 연결할 수 있는 연결 잭이 설치된다.In addition, a
제3도에 본 발명에 의한 범용계측기의 일실시예의 내부 구성을 보이는 불록도가 도시된다.3 shows a block diagram showing the internal configuration of one embodiment of the general-purpose instrument according to the present invention.
본 발명에 의한 범용 계측기는 각 부를 제어하는 주제어부(31)와, 전면판에 설치된 조정노브(33)로 부터 측정기능 선택신호, 범위등이 설정된 검사과정 프로그램을 입력받아 메모리부(34)에 저장하는 전면판 제어부(32)와 외부 컴퓨터등과 데이타를 통신하는 통신부(35)와 클록을 발생시켜 제공하는 실시간 클록부(36)와, 주제어부(31)에서 출력되는 표시데이타와 표시 제어신호를 입력받아 디스플레이부(38)를 제어하는 디스플레이 제어부(37)와 지그부(26)로 제어신호를 출력하고 지그부(26)로 부터 검출된 신호를 입력받아 주제어부(31)로 출력하는 디지탈 입출력부(39)와 채널 A,B,C,D로 된 입력단자로 부터 측정신호를 입력받아 디지탈 신호로 변환하는 A/D변환부(41)와 상기 A/D변환부(41)에서 출력되는 디지탈 신호를 저장하는 고속 메모리부와, 상기 A/D변환부(41)에 트리거신호를 출력하는 트리거부(42)와 상기 트리거부(42)에 트리거 제어신호를 출력하는 트리거 인터페이스부(43)와 상기 채널 A,B,C,D입력단자로 부터 측정신호를 입력받아 버퍼부(45)를 통해 주파수 카운터부(46)로 출력하는 신호절환부(44)와 오디오 신호를 입력받아 디지탈 데이타로 변환하는 A/D변환부(47)와, 상기 A/D변환부(47)에서 출력되는 디지탈 데이타를 저장하는 고속 메모리부(48)와 상기 고속메모리부(48)에 저장된 데이타를 읽어들여 레벨을 측정하고 그 결과를 출력하는 오디오 신호 레벨측정부(49)와 상기 각부에서 출력되는 데이타를 서로 연결하는 시스템 버스(50)오 구성된다.The general-purpose measuring instrument according to the present invention receives the
이하 본 발명의 작용, 효과를 설명한다.Hereinafter, the operation and effects of the present invention will be described.
측정할 인쇄회로기판(27)을 지그부(26)의 지그핀(28,28...)위에 놓고 디지탈 입출력 케이블(29)을 다기능 측정장치(20)에 연결하고 측정신호를 A,B,C,D채널 입력단자(23,23,...)에 인가한 후 전면판에 설치된 다수의 조정노브(24,24,...)중에서 해당 노브를 선택하여 계측 타잎(예를들면 오실로스 코프, 주파수 카운터, 오디오 레벨측정기등)을 설정한다. 검사하고자 하는 파형이 정상적으로 디스플레이되면 조정노브(24,24,...)중에서 측정방식을 선택하는 버튼을 선택하여 눌러 피크치 전압(Vpp), 시간, 주파수, 오디오신호등을 선택한다. 이러한 설정값들을 저장버튼을 선택하여 누르면 각종 파라메터들이 자동적으로 저장된다. 검사항목 순서대로 상기 과정을 동일하게 수행한 후 최종적으로 모드저장 버튼을 누르면 일괄적인 검사 과정을 실행하는 프로그램이 메모리부(34)에 저장된다.The printed circuit board 27 to be measured is placed on the
실제 작업시에는 픽스처부(26)에서 해당 검사항목 버튼을 눌러 동작시키거나 또는 그와 관련된 동작을 픽스처부(26)에 연결된 디지탈 입출력제어부(39)를 통해 프로그램된 순서대로 피측정 인쇄회로기판(27)의 테스트 포인트로부터 신호를 검출하여 A,B,C,D채널 입력단자(24)로 입력된다. 채널 입력단자(24)에 입력된 신호는 A/D변환부(41)에서 디지탈 데이타로 변환되어 고속 메모리부(40)에 입력되어 저장된다. 주제어부(31)는 메모리부(34)에 저장된 검사항목순서대로 디스플레이부(38)에 표시될 화면의 스케일(SCALE, 예를들면, 시간 스케일, 전압 스케일)등을 설정하여 그 설정값대로 상기 디스플레이 제어부(37)를 제어하여 디스플레이부(38)에 표시한다.In actual work, press the corresponding inspection item button on the
이상 설명한 바와같이 본 발명에 의하면 일련의 검사과정을 프로그램하여 자동으로 검사과정을 수행함으로써, 작업자가 사용하기 쉬우며 소형이어서 이동에 편리하고 저렴하게 인쇄회로기판을 측정할 수 있다.As described above, according to the present invention, a series of inspection procedures are programmed to automatically perform inspection procedures, and thus, a printed circuit board can be measured at a low cost because it is easy for the operator to use and small.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970016593A KR100219392B1 (en) | 1997-04-30 | 1997-04-30 | Universal measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970016593A KR100219392B1 (en) | 1997-04-30 | 1997-04-30 | Universal measuring apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR19980078947A KR19980078947A (en) | 1998-11-25 |
KR100219392B1 true KR100219392B1 (en) | 1999-09-01 |
Family
ID=19504552
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019970016593A KR100219392B1 (en) | 1997-04-30 | 1997-04-30 | Universal measuring apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100219392B1 (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR200207896Y1 (en) * | 2000-07-24 | 2000-12-15 | 김재동 | Multiple metering apparatus |
KR100454213B1 (en) * | 2002-05-03 | 2004-10-26 | 한전기공주식회사 | circuit tester with input channels |
KR100667887B1 (en) * | 2005-03-28 | 2007-01-15 | 주식회사 웬스정밀 | Operating System based Multi-Scope |
KR102483371B1 (en) * | 2022-12-01 | 2022-12-30 | (주)이랑텍 | Expansion device for Electronic equipment test instrument and method thereof |
-
1997
- 1997-04-30 KR KR1019970016593A patent/KR100219392B1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR19980078947A (en) | 1998-11-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7609081B2 (en) | Testing system and method for testing an electronic device | |
US4544879A (en) | Stimulus/measuring unit for DC characteristics measuring | |
US4317199A (en) | Diagnostic extender test apparatus | |
KR100219392B1 (en) | Universal measuring apparatus | |
EP0431560B1 (en) | AC evaluation equipment for an IC tester | |
CN108508378B (en) | Method and system for testing starting characteristic of power supply | |
JPH06258356A (en) | Device for measuring maximum and minimum value of signal waveform | |
JPH07318614A (en) | Function test system | |
CN220490983U (en) | Dynamic parameter test system for high-speed integrated circuit | |
CN217156725U (en) | Multifunctional integrated circuit experiment test equipment | |
JPH06213970A (en) | Ic tester | |
JP3588221B2 (en) | Measurement unit self-diagnosis device of circuit board inspection device | |
KR100355716B1 (en) | Test method of low resistor for in-circuit tester | |
KR100483327B1 (en) | Test apparatus used in confidence test of electronic device and module | |
KR200141489Y1 (en) | Pin contact tester of electronic components | |
KR200234483Y1 (en) | In-circuit tester | |
KR20000042722A (en) | Apparatus for testing resistor characteristic of multi-function tester | |
CN114089169A (en) | Multifunctional integrated circuit experiment test equipment | |
JP4062006B2 (en) | Filter circuit inspection device | |
KR0149609B1 (en) | Test point measuring signal control apparatus of printed circuit board | |
JP2983109B2 (en) | Resistance inspection device | |
JP2011220799A (en) | Test system | |
GB2268277A (en) | Testing electronic circuits | |
KR100250322B1 (en) | An emulation display device for optical communication | |
KR200154470Y1 (en) | Arithematic measuring apparatus |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |