KR200141489Y1 - Pin contact tester of electronic components - Google Patents
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Abstract
본 고안은 인쇄회로기판에 장착된 저항 및 캐패시터등과 같은 전자부품의 핀이 인쇄회로기판에 정확하게 접촉되어 있는지를 검사하는 전자부품의 핀 접촉검사장치에 관한 것으로써, 전자부품의 핀 접촉검사장치의 전체동작을 제어하는 마이크로컴퓨터와, 상기 마이크로컴퓨터의 제어신호를 받아 측정핀을 선택하는 제2멀티플렉서와, 상기 제2멀티플렉서에 의해 선택된 측정핀을 통해 주파수신호를 받은 전자부품의 출력신호를 측정하여 일정레벨 이상으로 증폭시키는 증폭수단과, 상기 증폭수단에서 증폭된 측정신호를 샘플홀드소자를 통해 입력받아 A/D변환하여 상기 마이크로컴퓨터에 출력하는 A/D변환기로 이루어진 전자부품의 핀 접촉검사장치에 있어서, 다수의 주파수신호를 출력하는 주파수발생수단과, 상기 마이크로컴퓨터의 제어신호를 받아 상기 주파수발생수단에서 발생된 다수의 주파수신호 중에서 하나의 주파수신호를 선택하여 상기 제2멀티플렉서에 출력시키는 제1멀티플렉서로 이루어진 것을 특징으로 한다.The present invention relates to a pin contact inspection apparatus of an electronic component that inspects whether pins of an electronic component such as resistors and capacitors mounted on a printed circuit board are correctly contacted with a printed circuit board. Measuring the output signal of the electronic component receiving the frequency signal through a microcomputer for controlling the overall operation of the second computer; a second multiplexer for selecting a measurement pin under the control signal of the microcomputer; and a measurement pin selected by the second multiplexer. A pin contact test of an electronic component comprising an amplifying means for amplifying a predetermined level or more and an A / D converter for receiving the measured signal amplified by the amplifying means through a sample holding device and outputting the A / D conversion to the microcomputer An apparatus comprising: frequency generating means for outputting a plurality of frequency signals and a control signal of the microcomputer; By selecting one of the frequency signal from among the plurality of frequency signals generated from the frequency generation means it is characterized in that comprising a first multiplexer for outputting to the second multiplexer.
Description
제1도는 종래의 전자부품의 핀 접촉검사장치의 개략적인 블록도.1 is a schematic block diagram of a pin contact inspection apparatus of a conventional electronic component.
제2도는 본 고안의 일실시예에 따른 전자부품의 핀 접촉검사장치의 개략적인 블록도.2 is a schematic block diagram of a pin contact inspection apparatus of an electronic component according to an embodiment of the present invention.
제3도는 종래 및 본 고안을 설명하기 위한 측정핀의 접촉상태를 개략적으로 도시한 도면.3 is a view schematically showing a contact state of a measuring pin for explaining the prior art and the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
1 : 마이크로컴퓨터 2 : 정현파발생수단1: microcomputer 2: sine wave generating means
3 : 주파수발생수단 4 : 제1멀티플렉서3: frequency generating means 4: first multiplexer
5 : 제2멀티플렉서 8 : 전자부품5: second multiplexer 8: electronic component
9 : 증폭수단 11 : 샘플홀드소자(Sample Hold I.C)9 amplification means 11 sample hold element (Sample Hold I.C)
13 : A/D변환기13: A / D Converter
본 고안은 P.C.B(Printed Circuit Board, 이하 인쇄회로기판이라 칭함)에 장착된 저항 및 캐패시터등과 같은 전자부품(이하 전자부품이라 칭함)의 핀이 인쇄회로기판에 정확하게 접촉되어 있는지를 검사하는 전자부품의 핀 접촉검사장치에 관한 것이다.The present invention is an electronic component that checks whether pins of electronic components (hereinafter referred to as electronic components) such as resistors and capacitors mounted on a printed circuit board (PCB) are correctly in contact with the printed circuit board. It relates to a pin contact inspection device of.
일반적으로, 종래의 전자부품의 핀 접촉검사장치는 제1도에 개략적으로 도시되어 있는 바와같이, 도시되지 않은 키보드등과 같은 입력수단을 통해 동작 명령을 입력받은 마이크로컴퓨터(1)로부터 동작개시 신호를 받아 상기 정현파발생수단(2)에서 핀 접촉여부를 측정하기 위한 하나의 주파수신호가 출력되면, 상기 멀티플렉서(5)에서는 상기 마이크로컴퓨터(1)의 제어신호를 받아 임의의 측정핀(15)(16)을 선택하고, 상기 정현파발생수단(2)으로부터 출력된 주파수신호를 저항(7)을 통해 측정 핀(15)을 거쳐 전자부품(8)에 출력시킨다.In general, the pin contact inspection apparatus of a conventional electronic component is an operation start signal from a microcomputer 1 that receives an operation command through an input means such as a keyboard or the like not shown, as schematically shown in FIG. When receiving one frequency signal for measuring the pin contact from the sinusoidal wave generating means (2), the multiplexer (5) receives a control signal of the microcomputer (1) arbitrary measurement pin 15 ( 16) and outputs the frequency signal output from the sinusoidal wave generating means 2 to the electronic component 8 via the measuring pin 15 through the resistor 7.
그리고, 상기 전자부품(8)의 특성에 따라 요구하는 출력신호가 출력되면 이를 상기 측정핀(15)(16)과 접속된 증폭수단(9)에서 일정레벨 이상의 신호로 증폭시켜 출력시키고, 상기 증폭된 측정 신호를 샘플홀드소자(11)에서 샘플링하고 홀딩시킨 후 마이크로컴퓨터(1)의 제어신호를 받아 상기 홀딩된 측정 신호를 A/D변환기(13)로 출력시킨다.When the output signal required according to the characteristics of the electronic component 8 is outputted, the amplification means 9 connected to the measuring pins 15 and 16 is amplified and output to a signal of a predetermined level or more, and the amplification is performed. The sampled measurement signal is sampled and held by the sample-holding element 11, and then receives the control signal of the microcomputer 1 and outputs the held measurement signal to the A / D converter 13.
상기 샘플홀드소자(11)에서 출력된 아날로그신호는 A/D변환기(13)에서 디지탈데이타로 변환되어 상기 마이크로컴퓨터(1)에 출력되고, 상기 마이크로컴퓨터(1)는 상기 A/D변환기(13)에서 출력된 디지탈데이타를 받아 상기 마이크로컴퓨터(1)에 미리 기억 설정된 값과 비교하여 전자부품의 핀 접촉여부를 판별하도록 구성되어 있었다.The analog signal output from the sample holding element 11 is converted into digital data by the A / D converter 13 and output to the microcomputer 1, and the microcomputer 1 is the A / D converter 13 The digital data outputted by the control unit is configured to determine whether the electronic component is in contact with the pin by comparing the digital data outputted with the preset value stored in the microcomputer 1.
그러나, 상기와 같이 구성된 종래의 전자부품의 핀 접촉검사장치에 있어서는 정현파발생수단에서 출력되는 하나의 주파수신호를 이용하여 전자부품의 핀 접촉여부를 판정하였기 때문에 전자부품의 특성에 따라 정확한 측정결과를 얻을 수 없어서 핀 접촉여부를 정확히 판정할 수 없다는 문제점이 있었다.However, in the pin contact inspection apparatus of the conventional electronic component configured as described above, since the pin contact of the electronic component is determined using one frequency signal output from the sinusoidal wave generating means, accurate measurement results are obtained according to the characteristics of the electronic component. There was a problem in that pin contact could not be accurately determined because it could not be obtained.
일예로, 1KHz의 신호를 1(pF)의 캐패시터에 인가하면 16(MΩ)으로 저항값이 측정되므로, 전자부품의 핀이 인쇄회로기판에 정상적으로 접촉되어 있음에도 불구하고 전자부품의 핀이 인쇄회로기판에 접촉되어 있지 않은 것으로 처리되었다.For example, when a 1 KHz signal is applied to a capacitor of 1 (pF), the resistance value is measured as 16 (MΩ), so that the pins of the electronic component are connected to the printed circuit board even though the pins of the electronic component are normally in contact with the printed circuit board. It was treated as not in contact with.
따라서, 본 고안은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 이루어진 것으로서, 본 고안의 목적은 인쇄회로기판상에 장착된 전자부품의 핀 접촉상태를 검사하기 위하여 측정위치에 접촉되는 측정핀에 순서적으로 다수의 주파수신호를 출력시키면서 인쇄회로기판상에 장착된 전자부품의 파형레벨을 측정하여 전자부품의 핀 접촉여부를 정확히 검사할 수 있는 전자부품의 핀 접촉검사장치를 제공하는 데 있다.Accordingly, the present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is a plurality of measuring pins in contact with the measuring position in order to check the pin contact state of the electronic component mounted on the printed circuit board. The present invention provides a pin contact inspection apparatus for an electronic component that can accurately check pin contact of an electronic component by measuring a waveform level of an electronic component mounted on a printed circuit board while outputting a frequency signal.
상기 목적을 달성하기 위하여 본 고안에 의한 전자부품의 핀 접촉검사장치는 전자부품의 핀 접촉검사장치의 전체동작을 제어하는 마이크로컴퓨터와, 상기 마이크로컴퓨터의 제어신호를 받아 측정핀을 선택하는 제2멀티플렉서와, 상기 제2멀티플레서에 의해 선택된 측정핀을 통해 주파신호를 받은 전자부품의 출력신호를 측정하여 일정레벨 이상으로 증폭시키는 증폭수단과, 상기 증폭수단에서 증폭된 측정신호를 샘플홀드소자를 통해 입력받아 A/D변환하여 상기 마이크로컴퓨터에 출력하는 A/D변환기로 이루어진 전자부품의 핀 접촉검사장치에 있어서, 다수의 주파수신호를 출력하는 주파수발생수단과, 상기 마이크로컴퓨터의 제어신호를 받아 상기 주파수발생수단에서 발생된 주파수신호 중에서 하나의 주파수신호를 선택하여 상기 제2멀티플렉서에 출력시키는 제1멀티플렉서로 이루어진 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the pin contact inspection apparatus for an electronic component according to the present invention includes a microcomputer for controlling the overall operation of the pin contact inspection apparatus for an electronic component, and a second pin for selecting a measurement pin in response to a control signal of the microcomputer. Amplifying means for measuring an output signal of an electronic component receiving a frequency signal through a multiplexer and a measuring pin selected by the second multiplexer and amplifying the output signal to a predetermined level or more, and measuring amplified measurement signal by the amplifying means. A pin contact inspection apparatus for an electronic component comprising an A / D converter for inputting through an A / D converter and outputting the same to the microcomputer, comprising: frequency generating means for outputting a plurality of frequency signals, and receiving control signals from the microcomputer The second multiplexer by selecting one frequency signal from the frequency signals generated by the frequency generating means; It characterized by consisting of a first multiplexer to the output.
이하, 본 고안의 일실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings an embodiment of the present invention will be described in detail.
제2도는 본 고안의 일실시예에 있어서 전자부품의 핀 접촉검사장치의 개략적인 블록도이고, 제3도는 종래 및 본 고안을 설명하기 위한 측정핀의 접촉상태를 개략적으로 도시한 도면이다.2 is a schematic block diagram of a pin contact inspection apparatus of an electronic component according to one embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a view schematically showing a contact state of a measuring pin for explaining the conventional and the present invention.
제2도 및 제3도에 있어서, (1)은 전자부품의 핀 접촉검사장치의 전체동작을 제어하며, 측정하여야 할 전자부품(8)의 핀 접촉여부를 판별하는 마이크로컴퓨터이고, (3)은 주파수발생수단으로서, 인쇄회로기판(18)에 장착된 전자부품의 핀 접촉여부를 검사할 수 있도록 주파수신호를 발생시키는 다수의 정현파발생수단(2)으로 구성되어 있다.2 and 3, reference numeral 1 denotes a microcomputer which controls the overall operation of the pin contact inspection apparatus of the electronic component and determines whether or not the pin contact of the electronic component 8 to be measured is performed. Is a frequency generating means, and is composed of a plurality of sinusoidal wave generating means (2) for generating a frequency signal so as to inspect the pin contact of the electronic components mounted on the printed circuit board (18).
(4)는 상기 마이크로컴퓨터(1)의 주파수선택제어신호를 받아 상기 주파수발생수단(3)에서 발생된 다수의 주파수신호 중에서 임의의 주파수신호를 선택하여 출력하는 제1멀티플렉서이다.(4) is a first multiplexer which receives a frequency selection control signal of the microcomputer 1 and selects and outputs an arbitrary frequency signal from a plurality of frequency signals generated by the frequency generating means 3.
(5)는 제2멀티플렉서로서, 상기 마이크로컴퓨터(1)의 제어신호에 따라 인쇄회로기판(18)상에 장착된 전자부품(8)의 핀접촉여부를 검사하도록 다수의 측정핀중 임의의 측정핀(15)(16)을 선택하고, 상기 제1멀티플렉서(4)에서 선택되어 출력되는 하나의 주파수신호를 저항(7) 및 측정핀(15)을 통해 전자부품(8)으로 출력하도록 되어 있다.(5) is a second multiplexer, which measures any of a plurality of measuring pins to check whether the electronic component 8 mounted on the printed circuit board 18 is in contact with the control signal of the microcomputer 1; The pins 15 and 16 are selected, and one frequency signal selected and output by the first multiplexer 4 is output to the electronic component 8 through the resistor 7 and the measuring pin 15. .
(9)는 증폭수단으로서, 상기 주파수발생수단(3)으로부터 전송된 주파수신호가 측정핀(15)을 통해 전자부품(8)에 인가됨에 따라 발생된 출력신호를 상기 제2멀티플렉서(5)에 의해 선택된 측정핀(15)(16)을 통해 입력받아 일정레벨이상의 신호로 증폭시킨다.Reference numeral 9 denotes an amplifying means, which outputs an output signal generated by the frequency signal transmitted from the frequency generating means 3 to the electronic component 8 through the measuring pin 15 to the second multiplexer 5. It is input through the selected measuring pins 15 and 16 and amplified into a signal of a predetermined level or more.
(11)은 샘플홀드소자로서, 상기 증폭수단(9)에서 출력된 아날로그신호를 받아 샘플링하고 홀딩시켜서 상기 마이크로컴퓨터(1)의 출력 제어신호를 받아 상기 홀딩된 측정신호를 출력한다.Reference numeral 11 denotes a sample holding element which receives, samples, and holds an analog signal output from the amplifying means 9, receives an output control signal of the microcomputer 1, and outputs the held measurement signal.
(13)은 상기 마이크로컴퓨터(1)의 제어신호를 받아 상기 샘플홀드소자(11)에서 출력된 아날로그 측정 신호를 받아 디지탈데이타로 변환시켜서 상기 마이크로컴퓨터(1)에 출력하는 A/D변환기이다.Reference numeral 13 denotes an A / D converter which receives the control signal of the microcomputer 1, receives the analog measurement signal output from the sample holding element 11, converts it into digital data, and outputs the digital data to the microcomputer 1.
이하, 상기와 같이 구성된 전자부품의 핀 접촉검사장치의 동작을 설명한다.Hereinafter, the operation of the pin contact inspection apparatus of the electronic component configured as described above will be described.
인쇄회로기판(18)에 장착된 전자부품(8)의 핀 접촉여부를 검사하기 위하여 마이크로컴퓨터(1)에서 출력되는 주파수 선택 제어신호를 받아 제1멀티플렉서(4)에서 주파수발생수단(3)의 임의의 정현파발생수단(2)을 선택하고, 이 선택된 정현파발생수단(2)에서 출력되는 하나의 주파수신호를 제2멀티플렉서(5)로 출력한다.The first multiplexer 4 receives the frequency selection control signal output from the microcomputer 1 to check whether the electronic component 8 mounted on the printed circuit board 18 is in contact with the pin. An arbitrary sinusoidal wave generating means 2 is selected, and one frequency signal output from the selected sinusoidal wave generating means 2 is output to the second multiplexer 5.
그리고, 상기 제2멀티플렉서(5)에서 상기 마이크로컴퓨터(1)의 제어신호에 따라 임의의 측정핀(15)(16)을 선택하여 저항(7)을 통해 상기 제1멀티플렉서(5)에서 출력된 주파수신호를 전자부품(8)에 입력시킨다.In addition, the second multiplexer 5 selects an arbitrary measurement pin 15 or 16 according to a control signal of the microcomputer 1, and outputs from the first multiplexer 5 through the resistor 7. The frequency signal is input to the electronic component 8.
상기와 같이 전자부품(8)에 주파수 신호가 입력되어 전자부품(8)의 특성에 따라 발생된 출력신호가 증폭수단(9)에 입력되면, 상기 증폭수단(9)에서 이를 일정레벨이상의 신호로 증폭시키고, 상기 증폭된 신호는 샘플홀드소자(11)에서 샘플되고 홀딩된 후 마이크로컴퓨터(1)의 제어신호를 받아 측정신호를 A/D변환기(13)로 출력한다.When the frequency signal is input to the electronic component 8 and the output signal generated according to the characteristics of the electronic component 8 is input to the amplifying means 9, the amplifying means 9 converts the signal into a signal of a predetermined level or more. After amplifying, the amplified signal is sampled and held by the sample-holding element 11 and receives a control signal from the microcomputer 1 and outputs the measurement signal to the A / D converter 13.
상기 A/D변환기(13)로 입력된 측정신호는 디지탈신호로 변환되어 상기 마이크로컴퓨터(1)에 입력되고, 상기 A/D변환기(13)에서 출력된 디지탈 신호데이타가 마이크로컴퓨터(1)에 입력되면 마이크로컴퓨터(1)는 전자부품(8)에 인가한 주파수신호와 상기 A/D변환기(13)에 입력된 신호데이타를 비교하여 그차가 마이크로컴퓨터에 미리 설정된 오차의 범위내에 있는지를 판별하여 인쇄회로기판(18)에 장착된 전자부품(8)의 핀 접촉여부를 판정할 수 있게 된다.The measured signal input to the A / D converter 13 is converted into a digital signal and input to the microcomputer 1, and the digital signal data output from the A / D converter 13 is transferred to the microcomputer 1. When input, the microcomputer 1 compares the frequency signal applied to the electronic component 8 with the signal data input to the A / D converter 13 to determine whether the difference is within a preset error range of the microcomputer. It is possible to determine whether pin contact is made to the electronic component 8 mounted on the printed circuit board 18.
또, 상기 판별된 값이 미리 설정된 오차밤위내에 있지 않을 경우에는 마이크로컴퓨터(1)의 제어에 의해서 미리 설정된 횟수만큼 상기 제1멀티플렉서(4)를 제어하여 상기 정현파발생수단(2)에서 출력된 다른 주파수신호를 선택하고, 상기 선택된 주파수신호를 다시 전자부품(8)에 인가하여 상기 설명한 동작을 반복행하므로써 전자부품(8)의 핀접촉여부를 정밀하게 측정한다.In addition, when the determined value is not within the preset error envelope, the first multiplexer 4 is controlled by the number of times preset by the control of the microcomputer 1 to output the other from the sine wave generating means 2. By selecting the frequency signal and applying the selected frequency signal to the electronic component 8 again, the above-described operation is repeated to accurately measure the pin contact of the electronic component 8.
상기 설명에서 제1멀티플렉서(4)에 의해 선택되는 임의의 정현파발생수단(2)에서 발생된 주파수신호의 주파수 및 전자부품(8)의 핀 접촉여부를 판별하는 측정횟수는 도시하지 않은 키보드등을 통해 사용자가 임의로 상기 마이크로컴퓨터(1)에 미리 설정할 수 있다.In the above description, the frequency of the frequency signal generated by the arbitrary sinusoidal wave generating means 2 selected by the first multiplexer 4 and the number of measurements for determining whether or not the pins are contacted by the electronic component 8 are not shown. The user can arbitrarily set the microcomputer 1 in advance.
상기 설명한 바와같이 본 고안에 의한 전자부품의 핀 접촉검사장치에 의하면 전자부품의 핀 접촉검사장치에 있어서, 전자부품의 핀 접촉여부를 검사할 수 있도록 다수의 주파수신호를 출력시키는 주파수발생수단과, 상기 주파수발생수단에서 발생된 다수의 주파수신호 중 하나의 주파수신호를 선택하여 상기 제2멀티플렉서에 출력시키는 제1멀티플렉서로 구성되어 다수의 주파수신호를 사용자가 설정한 측정횟수동안 순서적으로 전자부품에 인가하여 그 출력신호를 측정하므로써, 전자부품의 핀 접촉여부를 정확히 판정할 수 있다는 효과가 있다.According to the pin contact inspection apparatus of an electronic component according to the present invention as described above, in the pin contact inspection apparatus of an electronic component, frequency generating means for outputting a plurality of frequency signals to inspect whether or not the pin contact of the electronic component; The first multiplexer selects one frequency signal from among the plurality of frequency signals generated by the frequency generating means and outputs the frequency signal to the second multiplexer. By applying and measuring the output signal, there is an effect that pin contact of the electronic component can be accurately determined.
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