KR970002373A - Automatic Circuit Inspection Device - Google Patents

Automatic Circuit Inspection Device Download PDF

Info

Publication number
KR970002373A
KR970002373A KR1019950019016A KR19950019016A KR970002373A KR 970002373 A KR970002373 A KR 970002373A KR 1019950019016 A KR1019950019016 A KR 1019950019016A KR 19950019016 A KR19950019016 A KR 19950019016A KR 970002373 A KR970002373 A KR 970002373A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
unit
circuit
output
inspection apparatus
Prior art date
Application number
KR1019950019016A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
김봉석
Original Assignee
배순훈
대우전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 배순훈, 대우전자 주식회사 filed Critical 배순훈
Priority to KR1019950019016A priority Critical patent/KR970002373A/en
Publication of KR970002373A publication Critical patent/KR970002373A/en

Links

Abstract

본 발명은 자동 회로검사장치에 관한 것으로, 특히 각종의 전자부품으로 이루어진 인쇄 회로기판상의 공진 및 임피던스 또는 신호비교 및 증폭상태 등의 각종의 회로상태를 자동으로 측정하고 검사할 수 있는 회로검사 장치에 관한 것이다. 즉, 프로그래머블로직콘트롤부(900)에서 제어한 메카니즘부(800)의 작동에 의해 로딩된 검사대상회로부(700)를 주제어부(100)의 제어신호로 인터페이스부(200)를 통해 신호의 공급 및 절환을 한 후에, 공진 및 임피던스회로부(400)와 신호비교 및 증폭부(450)을 거쳐 측정된 검사결과를 스피커(460)로 출력하고, 아날로그/디지탈변환부(300)에서 디지탈신호로 변환되어 주제어부(100)로 입력되며, 주제어부(100)에서는 내장된 프로그램에 따라 검사치를 비교 및 판단하여 양·불량임을 자동으로 검사할 수 있는 회로검사장치를 구성한 것이 특징이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic circuit inspection apparatus, and more particularly, to a circuit inspection apparatus capable of automatically measuring and inspecting various circuit states such as resonance and impedance or signal comparison and amplification states on a printed circuit board made of various electronic components. It is about. That is, the supply of the signal through the interface unit 200 as the control signal of the main control unit 100, the test target circuit unit 700 loaded by the operation of the mechanism unit 800 controlled by the programmatic control unit 900 and After switching, the test result measured through the resonance and impedance circuit unit 400 and the signal comparison and amplification unit 450 is output to the speaker 460, and the analog / digital conversion unit 300 is converted into a digital signal. It is input to the main control unit 100, the main control unit 100 is characterized in that a circuit inspection apparatus that can automatically check the good or bad by comparing and determining the test value according to the built-in program.

Description

자동 회로검사장치Automatic Circuit Inspection Device

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음Since this is an open matter, no full text was included.

제2도는 본 발명에 따른 자동 회로검사장치의 블록도, 제3도는 본 발명에 따른 일실시예로 공진 및 임피던스를 검사하는 회로의 구성도, 제4도는 본 발명에 따른 일실시예로 신호비교 및 증폭상태를 검사하는 회로의 구성도.2 is a block diagram of an automatic circuit inspection apparatus according to the present invention, FIG. 3 is a configuration diagram of a circuit for checking resonance and impedance according to an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is an embodiment of the present invention. And a circuit diagram for checking an amplification state.

Claims (10)

인쇄회로기판상에 장착된 전자부품의 검사대상회로부에 신호를 발생하여 지그 및 픽스쳐를 통해 발생된 신호를 인가하는 신호발생기와, 상기 검사대상회로부에 접속되어 출력된 파형으로 장착상태의 판단하는 오실로스코프와, 상기 검사대상회로부에 접속되어 출력된 임피던스를 판단하는 임피던스측정기와 각종의 검사장치로 접속되어 구설된 회로검사장치에 있어서, 상기 인쇄 회로기판상의 상기 검사대상회로부를 검사하는 제어신호를 출력하고 입력된 검사치를 내장된 프로그램에 의해 검사하는 주제어부와, 상기 주제어부에서 출력되는 제어신호와 입력되는 신호를 다루고 통제하는 인터페이스부와, 상기 인터페이스부를 통해 출력된 상기 주제어부의 제어신호로 소정의 신호공급부에서 입력된 신호를 절환하여 절환된 신호를 검사대상회로부로 인가하는 신호절환부와, 상기 신호절환부를 통해 출력된 상기 검사대상회로부의 검사신호의 공진주파수나 임피던스를 측정하는 공진 및 임피던스회로부와, 상기 공진 및 임피던스회로부에서 출력된 측정신호를 비교하여 증폭하는 신호비교 및 증폭부와, 상기 신호비교 및 증폭부에서 출력된 신호를 증폭된 음으로 외부로 출력하는 스피커와, 상기 신호비교 및 증폭부에서 출력된 아날로그신호를 디지탈신호로 변환시켜 상기 인터페이스부로 출력하는 아날로그/디지탈변환부와, 상기 인터페이스부로부터 상기 주제어부의 제어신호로 작동에 관한 제어신호를 출력하는 프로그래머블로직콘트롤부와, 상기 프로그래머블로직콘트롤부의 제어신호로 상기 검사대상회로부를 로딩시키거나 디로딩하는 메카니즘부로 이루어 구성한 것을 특징으로 하는 자동 회로 검사장치.A signal generator for generating a signal to a circuit to be inspected of an electronic component mounted on a printed circuit board to apply a signal generated through a jig and a fixture, and an oscilloscope for determining the mounting state with a waveform output connected to the circuit to be inspected. And an impedance measuring device connected to the inspection target circuit portion and a circuit inspection device connected to various inspection devices, the control signal for inspecting the inspection circuit portion on the printed circuit board being output. A predetermined signal using a main control unit that checks the input test value by a built-in program, an interface unit that handles and controls a control signal output from the main control unit and an input signal, and a control signal of the main control unit output through the interface unit Circuit to be inspected by switching the signal input from the supply part Amplifying by comparing the signal switching unit applied to the signal, the resonance and impedance circuit unit for measuring the resonance frequency or impedance of the test signal of the test target circuit unit output through the signal switching unit, and the measured signal output from the resonance and impedance circuit unit. A signal comparing and amplifying unit, a speaker for outputting the signal output from the signal comparing and amplifying unit to the outside as amplified sound, and converting an analog signal output from the signal comparing and amplifying unit into a digital signal to the interface unit. An analog / digital conversion unit for outputting, a programmable logic control unit for outputting a control signal relating to operation as a control signal of the main control unit from the interface unit, and a load of the test target circuit unit with a control signal of the programmable logic control unit; Characterized in that consists of a mechanism for loading Automatic circuit tester. 제1항에 있어서, 상기 공진 및 임피던스회로부는 다수의 저항으로 이루어진 브릿지회로를 구성하여 공진 주파수 및 임피던스를 측정한 것을 특징으로 하는 자동 회로 검사장치.The automatic circuit inspection apparatus according to claim 1, wherein the resonance and impedance circuit units measure a resonance frequency and an impedance by forming a bridge circuit composed of a plurality of resistors. 제1항에 있어서, 상기 신호비교 및 증폭부는 다수의 저항 및 비교기를 사용하여 신호의 비교 및 증폭을 하는 것을 특징으로 하는 자동 회로 검사장치.The apparatus of claim 1, wherein the signal comparison and amplifying unit compares and amplifies signals using a plurality of resistors and comparators. 제3항에 있어서, 상기 비교기의 입력단으로 입력되는 입력신호의 종류에 따라 기준 전압을 가변하여 비교할 수 있는 것을 특징으로 하는 자동 회로 검사장치.4. The automatic circuit inspection apparatus according to claim 3, wherein the reference voltages can be compared according to the type of the input signal input to the input terminal of the comparator. 제1항에 있어서, 상기 주제어부에서 측정된 검사치를 외부로 출력하기 위하여 모니터 및 프린터를 포함하는 출력장치를 접속한 것을 특징으로 하는 자동 회로 검사장치.The automatic circuit inspection apparatus according to claim 1, wherein an output device including a monitor and a printer is connected to output the inspection value measured by the main controller to the outside. 제1항에 있어서, 상기 신호절환부는 상기 신호공급부로부터 입력된 신호를 절환하는 다수의 릴레이와, 상기 검사대상회로부를 측정하는 지그 및 픽스쳐를 포함함는 것을 특징으로 하는 자동 회로 검사장치.The automatic circuit inspection apparatus according to claim 1, wherein the signal switching unit includes a plurality of relays for switching a signal input from the signal supply unit, a jig and a fixture for measuring the inspection target circuit unit. 제1항에 있어서, 상기 주제어부는 상기 검사대상회로부의 공진주파수를 일치시키기 위하여 상기 신호공급부의 출력주파수를 작은 주파수에서 큰 주파수로 가변시키는 제어신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 자동 회로 검사장치.The automatic circuit inspection apparatus according to claim 1, wherein the main control unit outputs a control signal for changing the output frequency of the signal supply unit from a small frequency to a large frequency so as to match the resonance frequency of the circuit under test. 제1항에 있어서, 상기 주제어부내에는 상기 인터페이스부로부터 입력된 검사치를 저장하는 롬이 내장된 것을 특징으로 하는 자동 회로 검사장치.The automatic circuit inspection apparatus according to claim 1, wherein the main control unit has a ROM for storing a test value input from the interface unit. 제1항에 있어서, 상기 스프커의 출력신호가 최소일때에 공진주파수로 판단하는 것을 특징으로 하는 자동 회로 검사장치.2. The automatic circuit inspection apparatus according to claim 1, wherein the automatic signal inspection device determines the resonance frequency when the output signal of the spur is minimum. 제1항에 있어서, 상기 공진 및 임피던스회로부에 구성된 저항은 정확한 공진주파수를 구하는 회로보정용 가변저항인 것을 특징으로 하는 자동 회로 검사장치.The automatic circuit inspection apparatus according to claim 1, wherein the resistance configured in the resonance and impedance circuit part is a variable resistor for circuit correction for obtaining an accurate resonance frequency. ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.※ Note: The disclosure is based on the initial application.
KR1019950019016A 1995-06-30 1995-06-30 Automatic Circuit Inspection Device KR970002373A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950019016A KR970002373A (en) 1995-06-30 1995-06-30 Automatic Circuit Inspection Device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950019016A KR970002373A (en) 1995-06-30 1995-06-30 Automatic Circuit Inspection Device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR970002373A true KR970002373A (en) 1997-01-24

Family

ID=66526390

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950019016A KR970002373A (en) 1995-06-30 1995-06-30 Automatic Circuit Inspection Device

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR970002373A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20120064892A (en) * 2010-12-10 2012-06-20 삼성전자주식회사 Testing device and testing system including the same

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20120064892A (en) * 2010-12-10 2012-06-20 삼성전자주식회사 Testing device and testing system including the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH1054851A (en) Instrument for measuring output current of power source
JP4625453B2 (en) Measuring circuit with improved accuracy
US5059893A (en) Ac evaluation equipment for an ic tester
KR970002373A (en) Automatic Circuit Inspection Device
JP2928534B2 (en) In-circuit test apparatus and method
CN114295903A (en) System and method for performing electromagnetic compatibility measurements
KR200141489Y1 (en) Pin contact tester of electronic components
KR20000042722A (en) Apparatus for testing resistor characteristic of multi-function tester
KR100355716B1 (en) Test method of low resistor for in-circuit tester
KR100215510B1 (en) Method and device for pin contact test in pcb automatic measuring and testing apparatus
KR960031043A (en) Solder Status Checking Device
JPH0580093A (en) Inspecting apparatus of impedance of electronic circuit
KR890005938Y1 (en) Diode testing pcb
KR910002573Y1 (en) Testing circuit for a diode on a printed circuit board auto testing euqipment
KR100200607B1 (en) Testing method of pin contact in pcb
KR0168067B1 (en) Operation tester for zener diode
KR0129475B1 (en) Noise-removing circuit of anglog/digital converter
JPH02310481A (en) Ic testing device
KR0121177Y1 (en) Dc voltage function tester for chip mounting printed circuit board
JPH07113850A (en) Semiconductor integrated circuit
JP2001343435A (en) Method and apparatus for inspecting electronic circuit
JP2983109B2 (en) Resistance inspection device
JPH11202032A (en) Method and apparatus for inspecting board
JP2002062333A (en) Measuring apparatus
JPH04190175A (en) Ic tester

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application