JP3483632B2 - Multi-function measuring instrument - Google Patents

Multi-function measuring instrument

Info

Publication number
JP3483632B2
JP3483632B2 JP27146994A JP27146994A JP3483632B2 JP 3483632 B2 JP3483632 B2 JP 3483632B2 JP 27146994 A JP27146994 A JP 27146994A JP 27146994 A JP27146994 A JP 27146994A JP 3483632 B2 JP3483632 B2 JP 3483632B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measurement
function measuring
instrument
mode
inspection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP27146994A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH08136634A (en
Inventor
亮 光山
幹雄 松井
Original Assignee
リーダー電子株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by リーダー電子株式会社 filed Critical リーダー電子株式会社
Priority to JP27146994A priority Critical patent/JP3483632B2/en
Priority to KR1019950039556A priority patent/KR100310054B1/en
Publication of JPH08136634A publication Critical patent/JPH08136634A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3483632B2 publication Critical patent/JP3483632B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
    • G01R35/005Calibrating; Standards or reference devices, e.g. voltage or resistance standards, "golden" references
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/12Circuits for multi-testers, i.e. multimeters, e.g. for measuring voltage, current, or impedance at will

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、多数の測定機能を備え
た多機能測定器に関するものであり、特に、ある製品に
関する各種の異なった測定項目あるいはパラメータにつ
いて測定するのに適した多機能測定器に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multifunction measuring instrument having a large number of measuring functions, and more particularly to a multifunction measuring instrument suitable for measuring various different measurement items or parameters of a product. It is related to vessels.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、多目的の測定用途を考慮して複数
の測定機能と信号源を一体化した測定器が用いられてお
り、このような測定器を本明細書においては“多機能測
定器”と呼ぶことにする。多機能測定器は、主に、最近
の多機能/高性能化された電気製品の生産ラインにおけ
る自動化/省力化の1手段として開発されたものであっ
て、多くの測定機能を一体化して備えることにより、そ
の製品に関する実質上全ての測定/検査を行えるによう
になっている。更に、多機能測定器を使えば、多種類の
個別の測定器を生産ラインに用意する必要がなくなるた
め、生産ラインの省スペースにも役立っている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a measuring instrument in which a plurality of measuring functions and a signal source are integrated has been used in consideration of multipurpose measuring applications, and such a measuring instrument is referred to as "multifunctional measuring instrument" in this specification. I will call it. The multi-function measuring instrument was developed mainly as one means of automation / labor saving in the recent production line of multifunctional / high-performance electric products, and has many measuring functions integratedly. This allows virtually all measurements / inspections on the product. Furthermore, by using a multi-function measuring device, it is not necessary to prepare various kinds of individual measuring devices on the production line, which is useful for saving space on the production line.

【0003】このような多機能測定器の例として、本願
出願人製造のModel 4850 2チャンネル・オーディオ・
アナライザがある。このアナライザは、VTRやカセッ
トデッキ等のオーディオ系の調整/検査のため、試験信
号源としての発振器や、電圧計、周波数カウンタ、良否
判定装置等の計器を一体化させて、レベル、チャンネル
バランス、S/N比、ひずみ率、周波数特性、テープス
ピード、ワウ・フラッタ、直流電圧等の種々の項目の測
定を行うことができる。多機能測定器のその他の例とし
ては、松下通信工業株式会社製造の型番VP−1612
Aの計測システムプロセッサ、等もある。
As an example of such a multifunctional measuring instrument, a Model 4850 2-channel audio system manufactured by the present applicant is used.
There is an analyzer. This analyzer integrates an oscillator as a test signal source and instruments such as a voltmeter, a frequency counter, and a pass / fail judgment device for adjustment / inspection of audio systems such as VTRs and cassette decks, and level, channel balance, Various items such as S / N ratio, distortion rate, frequency characteristic, tape speed, wow and flutter, and DC voltage can be measured. Another example of the multi-function measuring device is a model number VP-1612 manufactured by Matsushita Communication Industrial Co., Ltd.
There is also an A measurement system processor, etc.

【0004】生産ラインで使用する測定器は、そのライ
ンで生産する製品の信頼性を確保するためには、それら
測定器の性能確認を行うことは不可欠である。上記のよ
うな多機能測定器の性能確認をするには、通常、多機能
測定器が備える多数の測定機能の各々について、個別
に、しかもその各測定機能の全測定範囲について、外部
に別に用意した信号源、計器等の測定器を使って詳細に
検査して、各測定機能における測定誤差の検査あるいは
校正を行っている。
It is essential for the measuring instruments used in the production line to confirm the performance of the measuring instruments in order to ensure the reliability of the products produced in the line. In order to confirm the performance of a multi-function measuring instrument as described above, it is usually necessary to prepare separately for each of the many measurement functions that the multi-function measuring instrument has and for the entire measurement range of each measurement function. The inspection is performed in detail by using a measuring device such as a signal source and a measuring instrument, and the measurement error in each measurement function is inspected or calibrated.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上記の方法による測定
誤差検査あるいは校正では、各測定機能を個々にしかも
正確に検査できる反面、種々の問題もある。例えば、
1)外部に別の測定器が多数必要となること、2)校正
用の測定器の置き場所が必要となること、3)校正に時
間かかること、4)熟練者による操作が必要となるこ
と、である。
In the measurement error inspection or calibration by the above method, each measurement function can be individually and accurately inspected, but there are various problems. For example,
1) A large number of external measuring instruments are required, 2) A measuring instrument for calibration is required to be placed, 3) Calibration takes a long time, and 4) Skilled operation is required. ,.

【0006】従って、本発明の目的は、測定誤差検査を
含む校正を簡便に行える多機能測定器及びその校正方法
を提供することである。本発明の別の目的は、外部の測
定器を必要とせずに校正を行える多機能測定器及びその
校正方法を提供することである。本発明の更に別の目的
は、校正時間を短縮できる多機能測定器及びその校正方
法を提供することである。本発明の更に別の目的は、校
正に熟練者を要しない多機能測定器及びその校正方法を
提供することである。
Therefore, it is an object of the present invention to provide a multi-function measuring device and a calibration method therefor capable of easily performing calibration including measurement error inspection. Another object of the present invention is to provide a multi-function measuring device and a calibration method thereof that can perform calibration without the need for an external measuring device. Still another object of the present invention is to provide a multi-function measuring device and a calibration method thereof that can shorten the calibration time. Still another object of the present invention is to provide a multi-function measuring instrument and its calibration method that do not require an expert for calibration.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を実現するた
め、本発明では、多機能測定器に、測定モードに加えて
自己校正モードを設け、多機能測定器の内部接続により
多数の測定機能の各々の測定誤差検査を含む校正を可能
にする。
In order to achieve the above object, in the present invention, a multi-function measuring instrument is provided with a self-calibration mode in addition to the measurement mode, and the multi-function measuring instrument is internally connected to provide a large number of measurement functions. Allows calibration including inspection of each measurement error.

【0008】詳しくは、被測定物の複数のパラメータに
関する測定を行うための複数の測定機能を備えた多機能
測定器であって少なくとも1つの試験信号源手段と複数
の単機能の計器手段を含む多機能測定器において、本発
明による前記複数の計器手段を校正する校正方法は、
イ)前記複数の計器手段の内の任意の1つを選択するス
テップと、ロ)該選択した計器手段を校正するために使
用する前記少なくとも1つの試験信号源手段の内の1つ
を選択するステップと、ハ)該選択した試験信号源手段
の出力を前記選択した計器手段の入力に接続して、該計
器手段の出力から信号を得るステップと、ニ)該計器手
段出力からの信号の値を、良否判定のための、基準値を
含む所定の許容範囲と比較するステップと、ホ)該比較
の結果に従って、良否判定結果を表示するステップと、
を備える。本発明によれば、更に、前記計器手段出力信
号値が前記所定の許容範囲内にあってしかも前記基準値
との誤差がある時、該誤差を用いて前記選択した計器手
段の特性を補償するステップ、を含むようにできる。
More particularly, it is a multi-function measuring instrument having a plurality of measuring functions for making measurements on a plurality of parameters of an object to be measured, the instrument including at least one test signal source means and a plurality of single-function instrument means. In a multi-function measuring instrument, a calibration method for calibrating the plurality of instrument means according to the present invention,
A) selecting any one of the plurality of instrument means; and b) selecting one of the at least one test signal source means used to calibrate the selected instrument means. Step c) connecting the output of the selected test signal source means to the input of the selected instrument means and obtaining a signal from the output of the instrument means, d) the value of the signal from the output of the instrument means And (e) a step of displaying a pass / fail judgment result according to the result of the comparison;
Equipped with. According to the present invention, further, when the output value of the measuring device is within the predetermined permissible range and there is an error from the reference value, the error is used to compensate the characteristic of the selected measuring device. Steps can be included.

【0009】また、本発明による、被測定物の複数のパ
ラメータに関する測定を行うための複数の測定機能を備
えた、入力端子と出力端子とを有する多機能測定器は、
イ)前記複数の測定機能に夫々対応する機能を備えた複
数の単機能の測定手段であって、該複数の単機能測定手
段は、少なくとも1つの試験信号源手段を含み、前記複
数の単機能測定手段の各々は、入力と出力又は出力を有
している、前記の複数の単機能測定手段と、ロ)前記入
力端子と、前記出力端子と、前記複数の単機能測定手段
の各々と、の間の接続を行う接続手段と、ハ)前記多機
能測定器の測定モード又は自己校正モードを指定するモ
ード指定信号を発生するモード指定手段と、ニ)前記モ
ード指定信号に応答する制御手段であって、前記モード
指定信号が前記測定モードを指定している場合、前記接
続手段を制御することにより、前記複数のパラメータの
内の選択された少なくとも1つのパラメータの各々の測
定のための、前記複数の単機能測定手段と前記出力端子
と前記入力端子との間の接続を行わせ、前記モード指定
信号が前記自己校正モードを指定している場合、前記接
続手段を制御することにより、前記選択された少なくと
も1つのパラメータの各々の測定に関係する前記単機能
測定手段の各々を、該手段の自己校正に使用する前記単
機能測定手段と接続させる、前記の制御手段と、を備え
る。
According to the present invention, a multifunctional measuring instrument having an input terminal and an output terminal, which has a plurality of measuring functions for measuring a plurality of parameters of an object to be measured,
A) A plurality of single-function measuring means having functions corresponding to the plurality of measuring functions, the plurality of single-function measuring means including at least one test signal source means, and the plurality of single-function measuring means. Each of the measuring means has an input and an output or an output, the plurality of single function measuring means, (b) the input terminal, the output terminal, and each of the plurality of single function measuring means, And (c) a mode designating means for generating a mode designating signal designating a measurement mode or a self-calibration mode of the multi-function measuring instrument, and (d) a control means responsive to the mode designating signal. If the mode designating signal is designating the measurement mode, controlling the connection means for measuring each of the at least one parameter selected from the plurality of parameters, The number of single function measuring means, the output terminal and the input terminal are connected, and when the mode designating signal designates the self-calibration mode, the selecting means is controlled by controlling the connecting means. Said control means for connecting each of said single-function measuring means relating to the measurement of each of said at least one parameter to the single-function measuring means used for self-calibration of said means.

【0010】本発明によれば、前記複数の単機能測定手
段は、前記少なくとも1つの試験信号源手段と、入力と
出力とを各々有する複数の計器手段と、から成るように
できる。更に、本発明の多機能測定器は、イ)前記複数
の計器手段の前記出力に接続された手段であって、前記
複数の計器手段の各々からの出力信号に対し処理を行っ
て測定結果を表す第1の信号を発生する処理手段と、
ロ)前記第1信号を受け、該結果を所定の判定基準と比
較して良否判定結果を表す第2の信号を発生する判定手
段と、ハ)前記第1信号又は前記第2信号を受けて、前
記測定結果又は前記良否判定結果を表示する表示手段
と、を含むようにできる。
According to the invention, said plurality of single function measuring means may comprise said at least one test signal source means and a plurality of instrument means each having an input and an output. Furthermore, the multi-function measuring instrument of the present invention is a) means connected to the outputs of the plurality of measuring instrument means, and processing the output signals from each of the plurality of measuring instrument means to obtain a measurement result. Processing means for generating a first signal representative of;
(B) determining means for receiving the first signal and comparing the result with a predetermined determination criterion to generate a second signal indicating a quality determination result; and (c) receiving the first signal or the second signal. And a display unit for displaying the measurement result or the quality determination result.

【0011】また、本発明の多機能測定器は、前記制御
手段に接続されており、前記測定モードにおける測定条
件及び前記自己校正モードにおける検査条件を入力する
手段であって、前記測定及び検査の条件は、各前記パラ
メータについて、測定点及び検査点、及び前記所定の判
定基準である測定結果の第1許容範囲と検査結果の第2
許容範囲とを含む、前記の入力手段、を含むようにでき
る。本発明によれば、各前記パラメータについて、前記
自己校正モードにおける前記検査点は、前記測定モード
における前記測定点と同じとすることができる。また、
前記検査結果の第2許容範囲は、前記測定結果の第1許
容範囲よりも狭くすることができる。
The multi-function measuring instrument of the present invention is connected to the control means and is a means for inputting the measurement conditions in the measurement mode and the inspection conditions in the self-calibration mode. The conditions are, for each of the parameters, the measurement point and the inspection point, and the first allowable range of the measurement result and the second inspection result that are the predetermined determination criteria.
The above-mentioned input means including a permissible range can be included. According to the present invention, for each of the parameters, the inspection point in the self-calibration mode can be the same as the measurement point in the measurement mode. Also,
The second allowable range of the inspection result may be narrower than the first allowable range of the measurement result.

【0012】更に、本発明によれば、前記自己校正モー
ドにおいては、前記検査結果が、前記第2許容範囲内に
ある場合には、前記表示手段は、前記パラメータの測定
に関する前記単機能測定手段が良好であることを示し、
前記第2許容範囲内にない場合には、前記表示手段は、
前記パラメータの測定に関する前記単機能測定手段が良
好でないことを示すようにできる。
Further, according to the present invention, in the self-calibration mode, when the inspection result is within the second allowable range, the display means is the single-function measuring means for measuring the parameter. Is good,
When not within the second allowable range, the display means
It may be indicated that the single function measuring means for measuring the parameter is not good.

【0013】更に、本発明によれば、前記入力手段は、
前記検査結果により該当の単機能測定手段の特性を補償
することを指定するための補償指定手段を含み、前記制
御手段は、更に、前記複数の多機能測定手段の各々の特
性を補償する補償手段であって、前記検査結果が前記第
2許容範囲内にあってしかも測定誤差がある時、前記補
償指定手段が補償を指定している場合に、前記補償手段
により前記測定誤差を用いて該当の単機能測定手段の特
性を補償する、前記の補償手段、を含むようにできる。
Further, according to the present invention, the input means comprises:
Compensation means for compensating the characteristic of each of the plurality of multi-function measuring means is included, the compensating designating means for designating compensation of the characteristic of the corresponding single-function measuring means according to the inspection result. When the inspection result is within the second permissible range and there is a measurement error, if the compensation designating unit designates compensation, the compensating unit uses the measurement error to determine a corresponding value. The above-mentioned compensating means for compensating the characteristic of the single function measuring means may be included.

【0014】更に、本発明によれば、前記制御手段は、
前記試験信号源手段に接続されており、前記パラメータ
の測定値点と同じ値の信号を発生するように制御する試
験信号源制御手段、を含むことができる。また、前記制
御手段は、更に、前記選択された少なくとも1つのパラ
メータが2以上の場合、該2以上のパラメータの各々に
ついての自己校正を順番に行うためのシーケンス手段、
を含むことができる。
Further, according to the present invention, the control means includes:
Test signal source control means, which is connected to the test signal source means and controls so as to generate a signal having the same value as the measurement value point of the parameter, can be included. Further, the control means, when the selected at least one parameter is two or more, a sequence means for sequentially performing self-calibration for each of the two or more parameters,
Can be included.

【0015】更にまた、本発明によれば、前記シーケン
ス手段は、各前記パラメータの測定及び検査において、
所定の待機時間を設定する待機時間設定手段、を含むよ
うにできる。また、前記待機時間設定手段は、前記所定
の待機時間は、各前記パラメータの測定においては第1
の待機時間を、該パラメータの検査においては第2の待
機時間を設定するようにできる。
Furthermore, according to the present invention, the sequence means includes:
A waiting time setting means for setting a predetermined waiting time may be included. Further, the standby time setting means sets the predetermined standby time to be the first in the measurement of each of the parameters.
Can be set to a second waiting time in the inspection of the parameter.

【0016】本発明によれば、前記複数の計器手段は、
互いに共通の回路を備えるものとすることができる。
According to the invention, said plurality of instrument means are
The circuits may be common to each other.

【0017】[0017]

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings.

【0018】図1は、1組の入力端子と1組の出力端子
を備えた被測定物MDの測定、検査、調整等に使用する
多機能測定器Aを示している。この多機能測定器Aは、
被測定物MDの入力端子及び出力端子に接続するための
1組の入力端子1と1組の出力端子2、試験信号源SS
1〜SSi(正しi≧1)を含む信号源部3と、計器M
1〜Mj(但しj≧2)を含む計器部4と、接続部5
と、処理/判定/表示部6と、動作モード指定部7と、
測定/自己校正条件入力部8と、測定/自己校正制御部
9と、を備えている。
FIG. 1 shows a multi-function measuring instrument A having a set of input terminals and a set of output terminals, which is used for measuring, inspecting, adjusting, etc. an object to be measured MD. This multifunctional measuring instrument A is
A set of input terminals 1 and a set of output terminals 2 for connecting to the input terminal and the output terminal of the device under test MD, a test signal source SS
Signal source unit 3 including 1 to SSi (correctly i ≧ 1), and instrument M
1 to Mj (provided that j ≧ 2), and a connecting portion 5
A processing / determination / display unit 6, an operation mode designation unit 7,
A measurement / self-calibration condition input unit 8 and a measurement / self-calibration control unit 9 are provided.

【0019】試験信号源SS1〜SSiは各々、対応す
る測定機能を実現するのに必要な試験信号を発生する出
力と、そして必要な場合には、出力する試験信号の波
形、振幅、周波数、位相等の電気的パラメータに関する
制御信号を制御部9から受けるための制御入力(図では
簡略図示)と、を備えている。計器M1〜Mjの各々
は、対応する測定機能を実現するのに必要なものであっ
て、入力と、計測結果の信号を発生する出力と、そして
必要な場合には、動作周波数、動作レンジ等の測定動作
に関する制御信号を受けるための制御入力(図では簡略
図示)と、を有している。接続部5は、入力端子1に接
続した出力と、出力端子2に接続した入力と、信号源S
S1〜SSiの各出力に接続した入力と、計器M1〜M
jの各入力に接続した出力と、制御部9からの接続に関
する制御信号を受けるための制御入力とを有している。
この制御入力に受ける信号に応答して、接続部5は、こ
の接続部の入力/出力間を所要の形式に接続する。処理
/判定/表示部6は、計器M1〜Mjの各出力に接続し
た入力と、処理/判定/表示に関する制御信号を制御部
9から受けるための制御入力と、判定の結果を表す信号
を制御部9に送るための出力とを有している。この処理
/判定/表示部6は、各計器からの出力について数値化
その他の所要の処理を行い、その処理結果について良否
判定を行い、そして処理結果又は良否判定結果の表示を
行う。測定/自己校正制御部9は、上記の制御信号を発
生するための出力と、上記判定結果を受けるための入力
と、モード指定部7及び入力部8の各出力を受けるため
に入力を備えている。モード指定部7は、多機能測定器
Aの動作モード、即ち測定モードと自己校正モードのい
ずれかを指示する信号を出力に発生する。測定/自己校
正条件入力部8は、測定モードにおける測定条件と、自
己校正モードにおける校正条件を表す信号を出力に発生
する。測定あるいは自己校正の条件には、被測定物MD
の測定対象の各パラメータについて、測定あるいは検査
する値の点、並びに測定結果及び検査結果の各許容範囲
を含む。
Each of the test signal sources SS1 to SSi has an output for generating a test signal necessary for realizing a corresponding measurement function, and, if necessary, a waveform, an amplitude, a frequency, a phase of the output test signal. And a control input (simplified in the figure) for receiving a control signal relating to electrical parameters from the control unit 9. Each of the instruments M1 to Mj is necessary to realize a corresponding measurement function, and has an input, an output for generating a signal of a measurement result, and an operating frequency, an operating range, etc., if necessary. Control input for receiving a control signal relating to the measurement operation of (1) (simplified in the figure). The connection unit 5 includes an output connected to the input terminal 1, an input connected to the output terminal 2, and a signal source S.
Input connected to each output of S1 to SSi and measuring instruments M1 to M
It has an output connected to each input of j and a control input for receiving a control signal related to the connection from the control unit 9.
In response to the signal received on this control input, the connection 5 connects the input / output of this connection in the required format. The processing / judgment / display unit 6 controls an input connected to each output of the instruments M1 to Mj, a control input for receiving a control signal related to processing / judgment / display from the control unit 9, and a signal indicating the result of the judgment. And an output for sending to section 9. This processing / judgment / display unit 6 digitizes the output from each instrument and other required processing, judges the processing result, and displays the processing result or the judgment result. The measurement / self-calibration control unit 9 has an output for generating the control signal, an input for receiving the determination result, and an input for receiving each output of the mode designating unit 7 and the input unit 8. There is. The mode designating section 7 produces at its output a signal instructing the operation mode of the multifunctional measuring instrument A, that is, either the measurement mode or the self-calibration mode. The measurement / self-calibration condition input unit 8 generates at its output a signal representing the measurement condition in the measurement mode and the calibration condition in the self-calibration mode. MD or D
For each parameter of the measurement target, the point of the value to be measured or inspected, and each allowable range of the measurement result and the inspection result are included.

【0020】以上の構成をもつ多機能測定器Aの動作
は、以下の通りである。即ち、モード指定部7が測定モ
ードを指示している場合、入力部8からの測定条件に従
って信号源部3、計器部4、接続部5、処理/判定/表
示部6を制御して、所与のパラメータの測定のため、試
験信号を被測定物MDに印加することが必要な場合に
は、所要の試験信号源の出力を接続部5を介して出力端
子2に発生して被測定物MDに印加する。試験信号の印
加が必要な場合必要でない場合共に、被測定物MDの出
力は、入力端子1と接続部5を介して、上記パラメータ
の測定に該当する計器の入力に送る。この計器の出力を
受ける処理/判定/表示部6は、所要の処理を行って測
定結果を得ると共に、当該パラメータに関する測定結果
用の許容範囲を使って良否判定を行う。更に、その測定
結果と良否判定結果の一方又は双方を表示する。次に、
良否判定結果に応じてあるいはその結果に拘わらずに、
測定すべき他のパラメータがある場合には、以上のプロ
セスを繰り返す。
The operation of the multi-function measuring instrument A having the above configuration is as follows. That is, when the mode designation unit 7 indicates the measurement mode, the signal source unit 3, the instrument unit 4, the connection unit 5, and the processing / judgment / display unit 6 are controlled according to the measurement conditions from the input unit 8, When it is necessary to apply a test signal to the device under test MD for measuring a given parameter, the output of the required test signal source is generated at the output terminal 2 via the connecting portion 5 and the device under test is measured. Apply to MD. The output of the device under test MD is sent to the input of the meter corresponding to the measurement of the above parameters via the input terminal 1 and the connecting portion 5 both when the application of the test signal is necessary and not necessary. The processing / judgment / display unit 6 that receives the output of this instrument performs the required processing to obtain the measurement result, and also makes a pass / fail judgment using the allowable range for the measurement result related to the parameter. Further, one or both of the measurement result and the quality determination result are displayed. next,
Depending on the quality judgment result or regardless of the result,
If there are other parameters to measure, repeat the above process.

【0021】一方、自己校正モードにおいては、入力部
8からの自己校正条件に従い、信号源SS1〜SSi及
び計器M1〜Mjの指定された1つあるいはそれ以上の
ものについて校正を行う。信号源を校正する場合には、
その信号源の出力を接続部5を介してその校正に必要な
計器に印加する。この計器の出力は、処理/判定/表示
部6で、処理、判定、表示を行うが、この場合、校正用
の許容範囲を使う。一方、計器について校正する場合に
は、この計器の校正に必要な信号源の出力を接続部5を
介してその計器に印加すると共に、処理/判定/表示部
6でその計器校正用の許容範囲を使って上記測定モード
と同様の処理、判定、表示を行う。校正すべきものが2
以上ある場合には、残りの各々について順番に上記のプ
ロセスを繰り返す。尚、自己校正モードにおいては、測
定モードにおける各パラメータの測定点と同じ点につい
て検査を行うため、信号源あるいは計器を制御すること
ができる。
On the other hand, in the self-calibration mode, one or more designated ones of the signal sources SS1 to SSi and the instruments M1 to Mj are calibrated according to the self-calibration condition from the input unit 8. When calibrating the signal source,
The output of the signal source is applied via connection 5 to the instrument required for the calibration. The output of this instrument is processed / determined / displayed by the processing / determination / display unit 6, and in this case, the allowable range for calibration is used. On the other hand, when calibrating an instrument, the output of the signal source necessary for calibrating this instrument is applied to the instrument through the connection section 5, and the processing / judgment / display section 6 allows the instrument calibration range. Is used to perform the same processing, determination, and display as in the above measurement mode. 2 things to calibrate
If so, repeat the above process in turn for each of the remaining. In the self-calibration mode, since the same points as the measurement points of each parameter in the measurement mode are inspected, the signal source or instrument can be controlled.

【0022】次に、図2を参照して、図1の多機能測定
器Aをより具体化したオーディオ・メジャリング・シス
テムBについて述べる。このメジャリング・システムB
は、カーステレオ、ラジカセ、VTR、カセットデッキ
等の被測定物MD’のオーディオ系の調整/検査に必要
なAC電圧計、発振器、周波数カウンタ、直流電圧計、
ひずみ率計及び判定部を一体化して、測定、並びに治具
や外部機器の制御とを高速で行うことができる自動計測
システムである。図示のように、システムBは、チャン
ネル(CH)1と2の各々のAC入力端子10(図では
片方のみ図示)、1つのDC入力端子12、1つのカウ
ンタ入力端子14、CH1及びCH2の各々の出力端子
20(図では片方のみ図示)を有しており、そしてこれ
らに対し、例示として示す被測定物MD’の出力端子O
UT、2つのチェック端子TP(被測定物内部のチェッ
ク端子の2つの例であって、図示の場合、周波数のチェ
ック端子と、DC電圧のチェック端子である。)、入力
端子INを夫々接続することができる。更に、図示しな
いが、ワウ・フラッタDC入力端子、CH1,CH2用
の各種モニタ端子がある。尚、入力端子10と出力端子
20についてのCH1とCH2の切換は、図示しないス
イッチによって行う。
Next, with reference to FIG. 2, an audio measuring system B in which the multi-function measuring instrument A of FIG. This measuring system B
Is an AC voltmeter, an oscillator, a frequency counter, a DC voltmeter necessary for adjusting / inspecting the audio system of the object to be measured MD 'such as a car stereo, radio-cassette recorder, VTR, and cassette deck.
This is an automatic measurement system that can perform measurement and control of jigs and external devices at high speed by integrating a strain rate meter and a determination unit. As shown in the figure, the system B has AC input terminals 10 (only one is shown in the figure) of each of channels (CH) 1 and 2; one DC input terminal 12; one counter input terminal 14; and CH1 and CH2, respectively. Output terminals 20 (only one of which is shown in the figure) of the device under test MD, and an output terminal O of the device under test MD ′ shown as an example.
UT, two check terminals TP (two examples of check terminals inside the object to be measured, in the illustrated case, a frequency check terminal and a DC voltage check terminal) and an input terminal IN are connected to each other. be able to. Further, although not shown, there are wow and flutter DC input terminals and various monitor terminals for CH1 and CH2. The switching of CH1 and CH2 for the input terminal 10 and the output terminal 20 is performed by a switch (not shown).

【0023】システムBは、図1の試験信号源部3に対
応するものとして、315Hz,400Hz,1KHz
のいずれかの発振周波数の基準(REF)発振部30、
10Hz〜200KHzの発振周波数の高域(HI)発
振部31、10Hz〜10KHzの発振周波数の低域
(LOW)発振部32と、そしてDC電圧源として、後
述のA/D変換器60の基準電圧出力33と、を備えて
いる。発振部30,31,32の各出力は、対応の切換
制御式のスイッチ34,35,36の入力端(ON位
置)に接続し、そして他方の入力端(OFF位置)が接
地に接続したそれらスイッチの出力端は混合部37の各
入力に接続しており、そして発振部出力を混合する混合
部37の出力は減衰量可変式のアッテネータ(ATT)
38の入力に接続している。
System B corresponds to the test signal source unit 3 of FIG. 1 and is 315 Hz, 400 Hz, 1 KHz.
A reference (REF) oscillating unit 30 of any one of
A high frequency (HI) oscillator 31 having an oscillation frequency of 10 Hz to 200 KHz, a low frequency (LOW) oscillation unit 32 having an oscillation frequency of 10 Hz to 10 KHz, and a reference voltage of an A / D converter 60, which will be described later, as a DC voltage source. And an output 33. The outputs of the oscillators 30, 31, 32 are connected to the input ends (ON position) of the corresponding switching control type switches 34, 35, 36, and the other input ends (OFF position) are connected to the ground. The output end of the switch is connected to each input of the mixer 37, and the output of the mixer 37 that mixes the output of the oscillator is a variable attenuation type attenuator (ATT).
38 inputs.

【0024】システムBは、図1の接続部5に相当する
ものとして、リレー式切換制御のスイッチ50,51
と、切換制御式スイッチ52,53とを備えている。即
ち、スイッチ50の入力端は、ATT38の出力に接続
しており、そしてスイッチ50の測定(M)モード時の
出力端は出力端子20に接続しそして校正(C)モード
時出力端はスイッチ51の校正(C)モード時入力端に
接続している。スイッチ51の測定時入力端はAC入力
端子10に接続している。また、スイッチ52は、校正
時入力端がA/D変換器60の基準電圧出力33に接続
しており、その測定時入力端がDC入力端子12に接続
している。スイッチ53の校正時入力端はスイッチ36
の出力端に接続しており、そしてその測定時入力端はカ
ウンタ入力端子14に接続している。
The system B corresponds to the connection portion 5 in FIG. 1, and has switches 50 and 51 for relay type switching control.
And switch control type switches 52 and 53. That is, the input end of the switch 50 is connected to the output of the ATT 38, the output end of the switch 50 in the measurement (M) mode is connected to the output terminal 20, and the output end in the calibration (C) mode is the switch 51. It is connected to the input terminal in the calibration (C) mode. The measurement input end of the switch 51 is connected to the AC input terminal 10. The switch 52 has a calibration input end connected to the reference voltage output 33 of the A / D converter 60, and a measurement input end connected to the DC input terminal 12. When calibrating the switch 53, the input end is the switch 36
Is connected to the counter output terminal and its measurement input terminal is connected to the counter input terminal 14.

【0025】システムBは、図1の計器部4の一部に対
応する要素として、AC入力に関係した計測を行うた
め、スイッチ51の出力端に入力が接続した減衰量可変
式ATT40と、これの出力に接続した入力を各々もつ
4組のフィルタ/減衰量可変式ATT/検波回路部4
1,42,43,44とを備えており、そしてこれら回
路部の出力は、切換制御式スイッチ48の基準(RE
F),高域(HI),低域(LOW),ひずみ率(DI
ST)入力端に夫々接続している。回路部41のフィル
タは、基準発振周波数成分を抜き取るフィルタ特性をも
ち、回路部42のフィルタは、高域発振周波数成分を抜
き取るフィルタ特性と、測定ウェイトフィルタ特性(J
IS−A,CCIR−ARM,DIN−AUDIO,I
HF−T200等)を持ち、それぞれを切り換えられる
構成となっている。そして回路部43のフィルタは、低
発振周波数成分を抜き取るフィルタ特性をもっている。
また、回路部44は、ひずみ率測定用の回路であって、
そのフィルタは、ひずみ率測定のためのフィルタ特性を
もっている。更に、システムBは、DC入力に関係した
計測のため、スイッチ52の出力端に入力が接続したデ
ジタル・マルチメータ(DMM)ユニット45を備え、
このユニットの入力制御部はスイッチ52の制御入力に
接続している。また、周波数に関係した計測を行うた
め、スイッチ53の出力端に入力が接続したカウンタ用
プリスケーラ46を備えており、これの入力制御部は、
スイッチ53の制御入力に接続している。またプリスケ
ーラ46の出力はカウンタ47の入力に接続している。
計器部4のその他の要素は、後述のCPU90等で実現
している。
As the element corresponding to a part of the instrument unit 4 in FIG. 1, the system B performs the measurement related to the AC input, and therefore, the variable attenuation type ATT 40 having the input connected to the output end of the switch 51, and this. 4 sets of filter / attenuation variable ATT / detection circuit unit 4 each having an input connected to the output of the
1, 42, 43 and 44, and the outputs of these circuit parts are the reference (RE) of the changeover control type switch 48.
F), high range (HI), low range (LOW), distortion rate (DI
(ST) Each is connected to the input terminal. The filter of the circuit unit 41 has a filter characteristic for extracting a reference oscillation frequency component, and the filter of the circuit unit 42 has a filter characteristic for extracting a high frequency oscillation frequency component and a measurement weight filter characteristic (J
IS-A, CCIR-ARM, DIN-AUDIO, I
HF-T200, etc.) and can switch between them. The filter of the circuit unit 43 has a filter characteristic of extracting low oscillation frequency components.
The circuit unit 44 is a circuit for measuring the strain rate,
The filter has filter characteristics for distortion factor measurement. In addition, system B comprises a digital multimeter (DMM) unit 45 whose input is connected to the output of switch 52 for measurements related to the DC input,
The input control of this unit is connected to the control input of switch 52. Further, in order to perform the measurement related to the frequency, a counter prescaler 46 having an input connected to the output end of the switch 53 is provided, and the input control section thereof is
It is connected to the control input of switch 53. The output of the prescaler 46 is connected to the input of the counter 47.
Other elements of the instrument unit 4 are realized by the CPU 90 and the like described later.

【0026】システムBは更に、処理/判定/表示部6
の一部の要素として、スイッチ48の出力端に入力が接
続したA/D変換器60を含み、これは、受けた各入力
をデジタル化して出力する。また、表示装置として、シ
ステムBに外部モニタ(CRT)62を接続することが
できるようになっている。また、図1の指定部7及び入
力部8に対応する要素として、キーボード70を備えて
おり、このキーボードは、図示しないが、テンキー、モ
ードページ(MENU,MEASURE,EDIT,T
IMERのモード)を選択するためのPAGEキー、E
NTRYキー、FUNCTIONキー群、ジョグダイア
ル、その他のキーがある。処理/判定/表示部6のその
他の要素については、後述のCPU90等で実現してい
る。
The system B further includes a processing / determination / display unit 6
As part of the elements of the above, an A / D converter 60 having an input connected to the output terminal of the switch 48 is provided, which digitizes and outputs each input received. An external monitor (CRT) 62 can be connected to the system B as a display device. Further, a keyboard 70 is provided as an element corresponding to the designation unit 7 and the input unit 8 in FIG. 1, and this keyboard is provided with a ten key, a mode page (MENU, MEASURE, EDIT, T, though not shown).
PAGE key to select IMER mode), E
There are NTRY key, FUNCTION key group, jog dial, and other keys. Other elements of the processing / judgment / display unit 6 are realized by the CPU 90 and the like described later.

【0027】また、システムBは、図1に示す測定/自
己校正制御部9に対応する要素、並びに、計器部4の残
りの要素、処理/判定/表示部6の残りの要素に相当す
るものとして、CPU90、CPUバス91−1,内部
制御バス91−2、プログラム及びデータを記憶するた
めのROM/RAM92、各種インターフェース93−
1〜93−6、各種制御部94−1〜94−9、グラフ
ィック・ディスプレイ・コントローラ95を備えてい
る。詳しくは、CPU90は、CPUバス91−1を介
して、ROM/RAM92に、また更にコントローラ9
5を介して外部モニタ62に、更にキーボード・インタ
ーフェース(I/F)93−1を介してキーボード70
に、メモリカードI/F93−2を介して測定/自己校
正条件を記憶するためのメモリカードMCに接続してい
る。CPU90はまた、バス91−1並びにA/D I
/F93−3を介しA/D変換器60のデジタル出力を
受けるように接続している。
The system B corresponds to the elements corresponding to the measurement / self-calibration control section 9 shown in FIG. 1, the remaining elements of the instrument section 4, and the remaining elements of the processing / judgment / display section 6. As a CPU 90, CPU bus 91-1, internal control bus 91-2, ROM / RAM 92 for storing programs and data, various interfaces 93-
1 to 93-6, various control units 94-1 to 94-9, and a graphic display controller 95. More specifically, the CPU 90 is connected to the ROM / RAM 92 and further to the controller 9 via the CPU bus 91-1.
5 to an external monitor 62, and a keyboard 70 via a keyboard interface (I / F) 93-1.
Further, it is connected to the memory card MC for storing the measurement / self-calibration condition via the memory card I / F 93-2. The CPU 90 also uses the bus 91-1 and the A / D I
/ F93-3 is connected to receive the digital output of the A / D converter 60.

【0028】また、CPU90は、バス91−1、制御
I/F93−4、及び内部制御バス91−2を介して各
種制御部94−1〜94−8に接続している。これら制
御部には、発振部30,31,32の各制御入力に発振
周波数を制御するための信号を夫々出力する周波数制御
94−1と、スイッチ34,35,36を切換制御し混
合部37に入力する発振出力の組合せを制御する混合制
御94−2と、試験信号として出力する信号のレベルを
制御するためATT38の減衰量を制御する出力レベル
制御94−3とがある。また、出力切換制御94−4と
入力切換制御94−5とは、測定モード時にはスイッチ
50及び51をM位置に切り換え、一方自己校正モード
時にはC位置に切り換えるようにリレーを制御する信号
を発生する。入力レンジ制御94−6は、各回路部41
〜44に共通のATT40と、回路部41〜42に固有
のATTに対し、減衰量を制御する信号を夫々送る。フ
ィルタ制御94−7は、回路部42のフィルタの測定ウ
ェイトフィルタの切換を制御する信号を送る。また、ひ
ずみ率レンジ制御94−8は、回路部44のATTの減
衰量を制御する信号を発生する。A/D入力切換制御9
4−9は、スイッチ48の制御入力に対し切換制御信号
を発生する。また、CPUは、更に内部制御バス91−
2を介してDMMユニット45の入力制御部とプリスケ
ーラ46の入力制御部にも接続していて、これら制御部
は、測定モード時には各スイッチ52,53をM位置に
そして自己校正モード時にはC位置に切り換えるように
制御する。
The CPU 90 is also connected to various control units 94-1 to 94-8 via a bus 91-1, a control I / F 93-4, and an internal control bus 91-2. In these control units, a frequency control 94-1 for outputting a signal for controlling the oscillation frequency to each control input of the oscillating units 30, 31, 32 and a mixing unit 37 for switching control of the switches 34, 35, 36. There are a mixing control 94-2 for controlling the combination of oscillation outputs input to the input terminal and an output level control 94-3 for controlling the attenuation amount of the ATT 38 to control the level of the signal output as the test signal. Further, the output switching control 94-4 and the input switching control 94-5 generate signals for controlling the relays so that the switches 50 and 51 are switched to the M position in the measurement mode, while they are switched to the C position in the self-calibration mode. . The input range control 94-6 is performed by each circuit unit 41.
The signals for controlling the attenuation amount are sent to the ATT 40 common to the .about.44 and the ATT unique to the circuit units 41 to 42, respectively. The filter control 94-7 sends a signal for controlling switching of the measurement weight filter of the filter of the circuit unit 42. Further, the distortion rate range control 94-8 generates a signal for controlling the amount of attenuation of the ATT of the circuit section 44. A / D input switching control 9
4-9 generates a switching control signal for the control input of the switch 48. Further, the CPU further includes an internal control bus 91-
It is also connected via 2 to the input control section of the DMM unit 45 and the input control section of the prescaler 46, which control switches 52 and 53 to the M position in the measurement mode and to the C position in the self-calibration mode. Control to switch.

【0029】更に、システムBには、RS−232Cイ
ンターフェース93−5を介して外部のパーソナル・コ
ンピュータ100に、またGPIBインターフェース9
3−6を介して外部のGPIB機器(例えば、追加の試
験信号源、計器等)に接続できるようになっている。ま
た、システムBには、リモコンを接続するためのリモー
トユニット102と、被測定物MD’に装着することの
ある治具を制御するためのI/Oユニット103を備え
ている。
Further, in the system B, an external personal computer 100 is provided via an RS-232C interface 93-5, and a GPIB interface 9 is provided.
An external GPIB device (for example, an additional test signal source, an instrument, etc.) can be connected via 3-6. Further, the system B includes a remote unit 102 for connecting a remote controller and an I / O unit 103 for controlling a jig that may be mounted on the object to be measured MD ′.

【0030】従って、このシステムBには、以下の測定
手段からなる測定系を装備している。
Therefore, the system B is equipped with a measuring system consisting of the following measuring means.

【0031】1) 2チャンネルAC電圧計 2) 3周波混合周波数特性測定計 3) 2チャンネルひずみ率計 4) 測定ウェイトフィルタ 5) 直流電圧計 6) 周波数カウンタ 7) 基準周波数発振器 8) LOW周波数発振器 9) HIGH周波数発振器 10) DC電圧源(A/D変換器)。1) Two-channel AC voltmeter 2) 3 frequency mixed frequency characteristic measuring instrument 3) 2-channel strain rate meter 4) Measurement weight filter 5) DC voltmeter 6) Frequency counter 7) Reference frequency oscillator 8) LOW frequency oscillator 9) HIGH frequency oscillator 10) DC voltage source (A / D converter).

【0032】また、その測定項目あるいはパラメータ
と、各測定項目におけるITEM名称とその測定内容及
びその説明は、以下の通りである。
The measurement items or parameters, the ITEM name of each measurement item, the measurement content and its description are as follows.

【0033】1) ACレベル測定 MV:ミリバル(基準レベル),(入力レベルを測定。
信号源は、高域発振部31を使用。) MV F:広帯域ミリバル(入力レベルを測定。信号源
は、高域発振部31を使用。) 2) DC電圧測定 DC:DC電圧(直流電圧を測定) 3) 3波混合周波数特性測定 REF:基準レベル(混合波による周波数特性測定の基
準周波数レベルを測定。基準発振部30を使用) HI:高域レベル(REF×3〜20KHz) (混合波による周波数特性測定の高域周波数レベルを測
定。高域発振部31を使用。尚、基準周波数のレベルを0
dBとして相対値測定。) LOW:低域レベル(50Hz〜REF/3) (混合波による周波数特性測定の低域周波数レベルを測
定。低域発振部32を使用。尚、基準周波数のレベルを0
dBとして相対値測定。) SHI:中域レベル(2KHz〜15KHz) (混合波による周波数特性測定の中域周波数レベルを測
定。低域発振部32を使用。尚、基準周波数のレベルを0
dBとして相対値測定。) 4) S/N測定 MV S:S/N比(入力レベルを測定し、ミリバル
(MV)項目で測定したレベルを基準として相対レベル
を求める。) 5) ひずみ率測定 THD:ひずみ率(0.3%〜12%フルスケール,6
レンジ) (ひずみ率判定基準値設定に応じ、0.3〜12%のレ
ンジを自動的に選択し、ひずみ率を測定する。測定周波
数は400Hz又は1KHzを選択。) 6) 周波数測定 SPED:テープスピード,カウンタ(3KHz又は1
9KHzを中心周波数とした、入力周波数を高速カウン
タで測定。) 7) チャンネルバランス測定 BAL:チャンネルバランス、(CH1(L)とCH2
(R)のレベル差を測定。) 8) チャンネルセパレーション測定 MVCL:チャンネルセパレーションR→L,(CH2
(R)からCH1(L)への漏れを測定。) MVCR:チャンネルセパレーションL→R(CH1
(L)からCH2(R)への漏れを測定。) 9) ワウ・フラッタ測定 WOW:ワウ・フラッタ(ワウ・フラッタ・メータを接
続して併用し、モニタCRT上にワウ・フラッタを表
示。) 10) 設定終了 END。
1) AC level measurement MV: millibar (reference level), (input level is measured.
The high frequency oscillator 31 is used as the signal source. ) MV F: Wideband millibar (input level is measured. High-frequency oscillator 31 is used as a signal source.) 2) DC voltage measurement DC: DC voltage (DC voltage is measured) 3) Three-wave mixing frequency characteristic measurement REF: Reference level (Measure the reference frequency level of the frequency characteristic measurement by the mixed wave. Use the reference oscillation unit 30) HI: High frequency level (REF × 3 to 20 KHz) (Measure the high frequency level of the frequency characteristic measurement by the mixed wave. The high frequency oscillator 31 is used, and the level of the reference frequency is 0.
Relative value measurement as dB. ) LOW: Low-frequency level (50 Hz to REF / 3) (measures the low-frequency level of the frequency characteristic measurement by the mixed wave. The low-frequency oscillator 32 is used. The level of the reference frequency is 0.
Relative value measurement as dB. ) SHI: Mid-range level (2 KHz to 15 KHz) (Measure the mid-range frequency level of the frequency characteristic measurement by the mixed wave. Use the low-range oscillator 32. Note that the reference frequency level is 0.
Relative value measurement as dB. ) 4) S / N measurement MV S: S / N ratio (The input level is measured, and the relative level is calculated based on the level measured in the millival (MV) item.) 5) Strain rate measurement THD: Strain rate (0 .3% to 12% full scale, 6
Range) (The range of 0.3 to 12% is automatically selected according to the strain rate judgment reference value setting, and the strain rate is measured. The measurement frequency is 400 Hz or 1 KHz.) 6) Frequency measurement SPED: tape Speed, counter (3 KHz or 1
Measure the input frequency with a high-speed counter, centered at 9 KHz. ) 7) Channel balance measurement BAL: Channel balance, (CH1 (L) and CH2
Measure the level difference of (R). ) 8) Channel separation measurement MVCL: Channel separation R → L, (CH2
Measure leakage from (R) to CH1 (L). ) MVCR: Channel separation L → R (CH1
Measure the leakage from (L) to CH2 (R). ) 9) Wow and flutter measurement WOW: Wow and flutter (Wow and flutter meter is connected and used together, and wow and flutter is displayed on the monitor CRT.) 10) Setting completed END.

【0034】以上に述べたシステムBにおいて、測定モ
ード時においては、スイッチ50,51,52,53を
夫々のM位置に切り換え、そして自己校正モード時には
それらスイッチをC(AL)位置に切り換える。各モ
ードにおいて、即ち34,35,36,48を切換制御
することにより、上記測定項目の箇所で説明した測定を
行えるようにする。
[0034] In system B as described above, in the measurement mode, switching the switches 50, 51, 52, 53 to the M position of each, and the self-calibration mode switching them switch to C (C AL) position. In each mode, that is, by switching control of 34, 35, 36, 48, the measurement described in the section of the above measurement item can be performed.

【0035】次に、本システムBの動作について、図3
〜図33のフローチャート及び画面図を参照して説明す
る。尚、本システムBは、上記からも分かるように、測
定モードと自己校正モードを有しており、そして自己校
正モードにおいては、各測定機能の測定誤差の検査と、
この測定誤差に基づくその測定機能部分の特性の補正
と、が含まれる。
Next, the operation of this system B will be described with reference to FIG.
~ It demonstrates with reference to the flowchart and screen figure of FIG. As can be seen from the above, this system B has a measurement mode and a self-calibration mode, and in the self-calibration mode, the measurement error of each measurement function is checked and
The correction of the characteristic of the measurement function part based on this measurement error is included.

【0036】まず初めに、図3は、CPU90により実
行されるメインルーチンを示している。このフローの最
初のステップにおいて、ファンクションキー又はページ
キーによるキー入力を待ち、そしてそのキー入力が[M
ENU]キーの場合(ステップ901)、ステップ90
2で、図4に示すMENU画面を表示して最初に戻る。
図4に示す状態で、測定を示す[MEASURE]キー
のキー入力があると、ステップ903からステップ90
4に入って測定MENUルーチン(図7)に入る。この
サブルーチンに入ると、必要に応じて、図9の測定メイ
ンルーチン、図11の測定サブルーチン、図13の測定
ルーチン、図21の自己校正(CAL)メインルーチ
ン、図23の検査サブルーチン、図24の信号源制御ル
ーチン、図26の検査ルーチンに示すフローにも入る。
図7の測定MENUルーチンが終了すると、図4のメイ
ンルーチンの初めに戻る。また、キー入力が編集を示す
[EDIT]キーの場合、ステップ905からステップ
906に入ってEDIT MENUサブルーチンに入っ
て、図5,図6に示すような設定/編集を行い、そして
これが終了すると初めに戻る。更に、キー入力がタイマ
設定を示す[TIMER]キーの場合、ステップ907
からステップ908に入って、本体内蔵の時計をセット
するタイマ設定サブルーチンに入り、そしてこれが終了
すると初めに戻る。
First, FIG. 3 shows a main routine executed by the CPU 90. In the first step of this flow, wait for key input by function key or page key, and the key input is [M
[ENU] key (step 901), step 90
At 2, the MENU screen shown in FIG. 4 is displayed and the process returns to the beginning.
In the state shown in FIG. 4, if there is a key input of the [MEASURE] key indicating measurement, step 903 to step 90
4 to enter the measurement MENU routine (FIG. 7). Upon entering this subroutine, the measurement main routine of FIG. 9, the measurement subroutine of FIG. 11, the measurement routine of FIG. 13, the self-calibration (CAL) main routine of FIG. 21, the inspection subroutine of FIG. It also enters the flow shown in the signal source control routine and the inspection routine of FIG.
When the measurement MENU routine of FIG. 7 ends, the process returns to the beginning of the main routine of FIG. If the key input is the [EDIT] key indicating editing, step 905 to step 906 enter the EDIT MENU subroutine to perform setting / editing as shown in FIG. 5 and FIG. Return to. Further, when the key input is the [TIMER] key indicating the timer setting, step 907
From step 908 to step 908, a timer setting subroutine for setting a clock built in the main body is entered, and when this is completed, the process returns to the beginning.

【0037】初めに、図5,図6を参照してEDIT
MENUサブルーチンにおける設定/編集について説明
する。後述の図8の測定MENU画面にも示すように、
本システムBでは、自動測定として、8つの異なったモ
デル1〜8、即ち8つの異なったタイプの被測定物につ
いて設定することができ、そして各モデルに対し、最大
20の測定又は自己校正のモデルステップ(単にステッ
プとも呼ぶ)を設定することができる。尚、各測定/自
己校正のモデルステップは、6本のメータをCRTに同
時表示する1画面に対応している。1例として、図5及
び図6は、モデル1(型番等の名称が“111111111”)
の編集画面を示しており、このモデル1はモデルステッ
プ1〜15(モデルステップ6〜10は図示省略)から
成っている。図から分かるように、各モデルステップに
おいては、その測定ITEM(上記の測定項目参照)、
信号源の周波数/出力レベル、終端抵抗オン−オフ/出
力チャンネル(3桁の数字の最初の数字が1の時終端抵
抗ON;2番目の数字が1の時CH1のみ出力、2の時
CH2のみ出力、3の時CH1/CH2共に出力;3番
目の数字は、発振器出力端子選択)、入力チャンネル選
択(最初のFはCH1入力選択;2番目のFはCH2入
力選択)、メータ表示の中心値、内部フィルタの選択
(00:オフ;0A:JIS−Aフィルタ)、測定値の
判定基準となる許容範囲の上限値及び下限値、並びに、
その他の設定(測定開始前のWAIT時間、NGの時に
停止するNG STOPモード選択、自動モデルステッ
プ送り時間)を行うことができる。図6に示すモデルス
テップ15は、設定終了(END)ステップである。
First, referring to FIGS. 5 and 6, EDIT
The setting / editing in the MENU subroutine will be described. As shown in the measurement MENU screen of FIG. 8 described later,
In this system B, eight different models 1 to 8 can be set as automatic measurements, that is, eight different types of DUTs, and for each model, a maximum of 20 measurement or self-calibration models can be set. Steps (also simply called steps) can be set. Each measurement / self-calibration model step corresponds to one screen on which six meters are simultaneously displayed on the CRT. As an example, FIG. 5 and FIG. 6 show a model 1 (a name such as a model number is “111111111”)
The model 1 includes model steps 1 to 15 (model steps 6 to 10 are not shown). As can be seen from the figure, at each model step, the measurement ITEM (see the above measurement item),
Frequency / output level of signal source, termination resistor ON-OFF / output channel (termination resistor ON when the first number of 3 digits is 1; only CH1 is output when the second number is 1, only CH2 is 2) Output, both CH1 / CH2 output when 3; 3rd number is oscillator output terminal selection), input channel selection (first F is CH1 input selection; second F is CH2 input selection), center value of meter display , Selection of internal filter (00: OFF; 0A: JIS-A filter), upper limit value and lower limit value of permissible range which is a criterion for measurement value, and
Other settings (WAIT time before measurement start, NG STOP mode selection to stop when NG, automatic model step feed time) can be set. The model step 15 shown in FIG. 6 is a setting end (END) step.

【0038】次に、図7を参照して、図3のステップ9
04から入る測定MENUルーチンについて説明する。
最初のステップ910で、図8に示す測定MENU画面
を表示する。図示画面例では、8つのモデルが設定され
ている。次に、ステップ911で、モデル番号のキー入
力を待ち、そしてテンキー入力の場合にはステップ91
2でステップ916に入り、そしてジョグダイアルによ
るモデル番号入力(図8には矢印でモデル選択マークを
示す)の場合には、ステップ914と915を経てステ
ップ913で[ENTER]キー(ファンクションキー
7)を押された時にステップ916に進む。ステップ9
16では、入力されたモデル番号を設定し、そして続く
ステップ917で、その番号のモデル測定条件データを
メモリカードMC(図2参照)から読み出す。この後、
ステップ918で図9の測定メインルーチンに入り、そ
してこのルーチンの終了時に、測定MENUルーチンも
終了して図3のメインルーチンに戻る。
Next, referring to FIG. 7, step 9 in FIG.
The measurement MENU routine entered from 04 will be described.
In the first step 910, the measurement MENU screen shown in FIG. 8 is displayed. In the illustrated screen example, eight models are set. Next, in step 911, the key input of the model number is waited for, and in the case of ten key input, step 91
In step 2, step 916 is entered, and in the case of the model number input by the jog dial (indicated by a model selection mark with an arrow in FIG. 8), the steps are performed through steps 914 and 915, and the [ENTER] key (function key 7) is pressed in step 913. When pressed, the process proceeds to step 916. Step 9
In step 16, the input model number is set, and in the following step 917, the model measurement condition data of that number is read from the memory card MC (see FIG. 2). After this,
In step 918, the measurement main routine of FIG. 9 is entered, and at the end of this routine, the measurement MENU routine is also ended and the process returns to the main routine of FIG.

【0039】次に、図9を参照して、測定メインルーチ
ンについて説明する。最初のステップ920で、測定画
面を表示する。測定の初期においては、図10に示す画
面である。図10からも分かるように、1モデルステッ
プは、CH−LとCH−R各々3本づつの計6本のメー
タ表示部分620(メータ番号MN=1〜6)を含んで
いる。次にステップ921で、キー入力を待ち、[CA
L]キー入力の場合ステップ922からステップ923
に進み、ここで図21の自己校正(CAL)メインルー
チンを実行し、その後本ルーチンの最初に戻る。一方、
[START]キー入力の場合ステップ924からステ
ップ925に進んで、図11の測定サブルーチンに入
り、そしてこの後本ルーチンの最初に戻る。また、[M
ENU]キー入力の場合、ステップ926を介して終了
し、従って図7のルーチンを終了する。
Next, the measurement main routine will be described with reference to FIG. In the first step 920, the measurement screen is displayed. The screen shown in FIG. 10 is displayed at the initial stage of the measurement. As can be seen from FIG. 10, one model step includes six meter display portions 620 (three CH-L and three CH-R) (meter number MN = 1 to 6). Next, in step 921, a key input is awaited, and [CA
L] key input: Step 922 to Step 923
21, the self-calibration (CAL) main routine of FIG. 21 is executed, and then the process returns to the beginning of this routine. on the other hand,
In the case of [START] key input, the routine proceeds from step 924 to step 925 to enter the measurement subroutine of FIG. 11, and then return to the beginning of this routine. Also, [M
In the case of [ENU] key input, the processing ends through step 926, and thus the routine of FIG. 7 ends.

【0040】まず初めに、図11の測定サブルーチンに
ついて説明する。最初のステップ930で、モデルステ
ップ番号を1にセットする。次に、ステップ931〜9
35で、メモリカードMCから読み出したモデル測定条
件データに従った制御を行う。即ちステップ931で、
治具等のI/O制御出力及びGPIB機器制御のための
出力の発生を含む外部制御を行う。ステップ932で
は、各測定項目に応じて内部接続の切換、即ちスイッチ
50〜53の切換を行う。ステップ933では、測定系
のレンジ、フィルタ特性の選択等の制御、並びにスイッ
チ48の切換を行う。ステップ934では、発振部の周
波数、出力レベル、出力チャンネル、スイッチ34〜3
6の切換、等の制御を行う。モデルステップ1(設定例
ではMV(ACレベル測定))の場合、スイッチ35の
みをON、スイッチ50及び51をM位置、スイッチ4
8をHI位置にする。
First, the measurement subroutine of FIG. 11 will be described. In the first step 930, the model step number is set to 1. Then, steps 931-9
At 35, control is performed according to the model measurement condition data read from the memory card MC. That is, in step 931,
Performs external control including generation of I / O control output for jigs and outputs for GPIB device control. In step 932, the internal connection is switched, that is, the switches 50 to 53 are switched according to each measurement item. In step 933, control of the range of the measurement system, selection of filter characteristics, etc., and switching of the switch 48 are performed. In step 934, the frequency of the oscillator, the output level, the output channel, and the switches 34 to 3
6 switching, etc. are controlled. In model step 1 (MV (AC level measurement) in the setting example), only the switch 35 is turned ON, the switches 50 and 51 are in the M position, and the switch 4 is
8 in HI position.

【0041】次に、ステップ935では、測定項目に応
じた画面表示を行う。モデルステップ1では、ミリバル
の測定項目である図12の画面となる。図5の編集画面
からも分かるように、発振器は高域発振部31で発振器
周波数は1KHz、出力レベルは−5.0dB、出力及
び入力のチャンネルはLとR双方、メータの中心値は−
5.0dB、許容範囲は−2〜2dBである。図12で
は、許容範囲は黒いバー622、623で示し、そして
測定値を示す指線は、横線624、625で示してい
る。画面の右上には、このモデルステップ1での測定値
の判定(後述)の結果として、GO(良)とNG(不
良)を示す領域626がある。尚、このモデルステップ
1では、メータ1とメータ4のみ使用しているが、前述
のように、1モデルステップで6本のメータを表示させ
ることができる。次のステップ936においては、測定
開始の前にWAIT時間(0〜9.9秒の範囲で設定可
能)を置き、信号の安定化時間を設ける。続くステップ
937では、図13の測定ルーチンに入り、そしてこれ
が終了すると、ステップ938で、測定続行か否かを測
定終了フラッグ(後述)によって判定し、フラッグがセ
ットされていない場合には、ステップ939でモデルス
テップ番号を1増分し、そしてステップ940でその結
果のモデルステップ番号のステップが設定終了かどうか
判定する。終了でない場合、ステップ931に戻って、
次のモデルステップについて上記プロセスを繰り返す。
一方ステップ938でNOの場合、又はステップ940
でYESの場合(本例ではモデルステップ15の場
合)、本ルーチンを終了する。
Next, at step 935, screen display according to the measurement item is performed. In the model step 1, the screen shown in FIG. 12, which is a measurement item of millibar, is displayed. As can be seen from the edit screen of FIG. 5, the oscillator is the high-frequency oscillator 31, the oscillator frequency is 1 KHz, the output level is −5.0 dB, the output and input channels are both L and R, and the center value of the meter is −.
The level is 5.0 dB, and the allowable range is -2 to 2 dB. In FIG. 12, the allowable range is indicated by black bars 622 and 623, and the finger lines indicating the measured values are indicated by horizontal lines 624 and 625. At the upper right of the screen, there is a region 626 indicating GO (good) and NG (bad) as a result of the determination (to be described later) of the measured value in the model step 1. Although only meter 1 and meter 4 are used in this model step 1, six meters can be displayed in one model step as described above. In the next step 936, a WAIT time (which can be set in the range of 0 to 9.9 seconds) is set before the start of measurement, and a signal stabilization time is provided. In the following step 937, the measurement routine of FIG. 13 is entered, and when this is completed, it is determined in step 938 whether or not to continue the measurement by a measurement end flag (described later). If the flag is not set, step 939 is executed. In step 940, the model step number is incremented by 1, and it is determined in step 940 whether the step of the resulting model step number is the setting end. If not, return to step 931
Repeat the above process for the next model step.
On the other hand, if NO in step 938, or step 940
If YES is obtained (model step 15 in this example), this routine ends.

【0042】次に、図13を参照して、上記の測定ルー
チンについて説明する。最初のステップ950でキー入
力を待ち、そして手動STEPモードにおいてモデルス
テップ番号を手動で1増分する[INC]キーが押され
ていない場合にはステップ951からステップ952に
進み、そしてAUTO STEPモード(自動モデルス
テップ送り)が選択されている場合においてその自動モ
デルステップ送り時間(測定モード時には0〜9.9
秒)に達したかどうか判定する。ここでNOの場合に
は、ステップ953で測定を強制的に終了させたい場合
に使用する[START]キー(ここでは終了キーとし
て作用)が操作されたかどうか判定し、NOの場合に
は、一連の測定ステップ954〜963に進む。まずそ
の最初のステップ954で、メータ番号MNを1にセッ
トし、そしてステップ955で、測定データを獲得す
る。モデルステップ1の場合、測定データは、A/D変
換器60の出力から得る。続くステップ956で、補正
モードがONにされているかどうか判定し、YESの場
合にはステップ957で、その測定データを、誤差デー
タ(後述の自己校正モードにおいて得る)で補正して補
償した測定データを得る。この後あるいはステップ95
6でNOの場合(本例では補正モード=OFF)、ステ
ップ958で測定データを保存し、そしてステップ95
9で、この測定データの値をユーザが任意に設定できる
許容範囲(本モデルステップでは−2〜2dB)と比較
する。許容範囲にあればGO、なければNGとなる。こ
の比較結果は、ステップ960で保存し、そしてステッ
プ961で、図12に示したように測定データを数値
(本モデルステップでは0.0dB)と指線624で表
示し、更にメータ1のみに関する判定結果をメータの上
の枠内に表示する(但し、NGの時のみ下向きの三角を
表示)。次に判断ステップ962でメータ番号が6(最
後のメータ番号)に等しいかどうか調べ、NOの場合に
はステップ963でメータ番号を1増分し、そして更に
上記のステップ955〜962を繰り返す。メータ番号
2,3の使用が選択されていないため、これらに関して
はステップ955〜961を素通りする。メータ4は選
択されているため、ステップ955〜961で実質的な
処理が行われ、ステップ961で測定データと判定結果
が表示される。後のメータ5,6についてはメータ2,
3と同様に素通りし、そしてステップ962でYESと
なってステップ962’に進み、ここでメータ1からメ
ータ6までの全判定結果を総合したモデルステップ総合
判定結果を右上の領域626に表示する。この後、ステ
ップ950に戻る。これでモデルステップ1に関する測
定が終わったことになる。
Next, the above measurement routine will be described with reference to FIG. At the first step 950, a key input is waited for, and the model step number is manually incremented by 1 in the manual STEP mode. If the [INC] key is not pressed, the routine proceeds from step 951 to step 952, and the AUTO STEP mode (automatic When model step feed is selected, the automatic model step feed time (0 to 9.9 in measurement mode)
Second) is reached. In the case of NO here, it is determined in step 953 whether or not the [START] key (which acts as an end key here) used when it is desired to forcibly terminate the measurement is operated. Measurement steps 954 to 963. First, in the first step 954, the meter number MN is set to 1, and in step 955, the measurement data is acquired. For model step 1, the measurement data is obtained from the output of the A / D converter 60. In the following step 956, it is determined whether or not the correction mode is turned on. If YES, in step 957, the measured data is compensated by correcting the measured data with error data (obtained in the self-calibration mode described later). To get After this or step 95
If NO in 6 (correction mode = OFF in this example), the measured data is saved in step 958, and step 95
At 9, the value of this measurement data is compared with an allowable range (-2 to 2 dB in this model step) that the user can arbitrarily set. If it is within the allowable range, it is GO, and if not, it is NG. This comparison result is stored in step 960, and in step 961, the measured data is displayed as a numerical value (0.0 dB in this model step) and the finger line 624 as shown in FIG. The result is displayed in the upper frame of the meter (however, a downward triangle is displayed only when NG). Next, in a decision step 962, it is checked whether or not the meter number is equal to 6 (the last meter number). If NO, the meter number is incremented by 1 in step 963, and the above steps 955 to 962 are repeated. Since the use of the meter numbers 2 and 3 is not selected, the steps 955 to 961 are skipped for these. Since the meter 4 is selected, substantial processing is performed in steps 955 to 961 and measurement data and determination results are displayed in step 961. For the latter meters 5 and 6, the meter 2
Similar to step 3, the result is YES in step 962 and the flow proceeds to step 962 ′, in which the model step comprehensive determination result, which is the sum of all determination results from meter 1 to meter 6, is displayed in the upper right area 626. Then, the process returns to step 950. This completes the measurement for model step 1.

【0043】次に、手動STEPモードで次のモデルス
テップに進める[INC]キー入力がある場合にはステ
ップ951からそしてAUTO STEPモードでモデ
ルステップ1に関する自動ステップ送り時間が満了した
場合にはステップ952からステップ964,965に
進む。ここで、モデルステップ総合判定結果がNG(例
えば図17のモデルステップ8の場合)でかつNG S
TOPモードがセットされている場合のみ、ステップ9
50に戻り、そしてステップ953で終了を示す[ST
ART]キーの押し下げの判定が行われるのを待つ。こ
の判定でYESとなった場合には、ステップ967で測
定終了フラッグをセット(ON)してこのルーチンを出
る。この場合、図11のステップ938では、NOとな
り、これ以上の測定は中止する。尚、必要な場合には、
ユーザが指示した場合にNG判定の出たモデルステップ
より後のモデルステップの測定を続けるように、プログ
ラムを変更することもできる。一方、ステップ964で
NOの場合、又はステップ965でNOの場合(NG
STOPモードがOFFのとき)、ステップ966で現
在のモデルステップ総合判定結果をモデル総合判定結果
に加えた後このルーチンを出て、図11のステップ93
8に進む。この場合、ステップ938ではYESとな
り、そしてモデルステップ2〜14の各々の場合にはス
テップ939,940を経てステップ931に戻り、そ
して再び図11のステップ931〜937、図13の測
定ルーチンを実行する。モデルステップ15の場合、ス
テップ940からステップ941に進み、ここでモデル
総合判定結果を表示する。即ち、全てのモデルステップ
でGO判定があった場合には、図20に示す総合判定G
Oの画面表示を行い、そして1つのステップでもNG判
定があった場合には、総合判定としてNGを表示する。
この後、図11のルーチンを終了し、この結果、図9の
測定メインルーチンの最初に戻る。
Next, from the step 951 if there is an [INC] key input to advance to the next model step in the manual STEP mode, and from the step 952 if the automatic step feed time for the model step 1 in the AUTO STEP mode has expired. To Steps 964 and 965. Here, the model step comprehensive determination result is NG (for example, in the case of model step 8 in FIG. 17) and NG S
Step 9 only if TOP mode is set
Return to step 50 and indicate the end in step 953 [ST
Wait for the determination of pressing the [ART] key. If the result of this judgment is YES, the measurement end flag is set (ON) in step 967 and the routine exits. In this case, step 938 in FIG. 11 is NO, and further measurement is stopped. If necessary,
It is also possible to change the program so that the measurement of the model step after the model step in which the NG judgment is made is continued when the user gives an instruction. On the other hand, if NO in step 964 or NO in step 965 (NG
When the STOP mode is OFF), the present model step comprehensive judgment result is added to the model comprehensive judgment result in step 966, and then this routine is exited, and step 93 in FIG.
Go to 8. In this case, YES is obtained in step 938, and in the case of each of model steps 2 to 14, the process returns to step 931 through steps 939 and 940, and the steps 931 to 937 in FIG. 11 and the measurement routine in FIG. 13 are executed again. . In the case of model step 15, the process proceeds from step 940 to step 941 where the model comprehensive determination result is displayed. That is, when GO judgment is made in all model steps, the total judgment G shown in FIG.
If the screen is displayed as O and if the NG judgment is made even in one step, NG is displayed as the comprehensive judgment.
After that, the routine of FIG. 11 is terminated, and as a result, the process returns to the beginning of the measurement main routine of FIG.

【0044】図14〜図19は、図12と同様の、モデ
ルステップ3(MVCR),5(REF,HI,LO
W),7(MV,THD),8(REF,HI,SPE
D,WOW),10(MV S),11(DC)の画面
例である。図14は、チャンネルセパレーション測定の
ものであって、メータ4にCH−LからCH−Rへの漏
れの測定値が表示されている。図15は、6つのメータ
を全部使ったときの画面例であり、各チャンネル同じ3
つの項目の測定結果が示されている。図16は、各チャ
ンネルについてミリバルとひずみ率を表示している。図
17は、各チャンネルについてREFとHIの測定項
目、そしてSPED(これはカウンタ47を使用)とW
OWの2つの項目についてのメータ表示がある。また、
これでは上記のようにNGの表示がされている。図18
は、S/N比の表示例である。図19は、DMMユニッ
ト45を使った表示例である。
FIGS. 14 to 19 show model steps 3 (MVCR), 5 (REF, HI, LO) similar to FIG.
W), 7 (MV, THD), 8 (REF, HI, SPE
D, WOW), 10 (MV S), 11 (DC) screen examples. FIG. 14 shows a channel separation measurement, in which the measured value of the leakage from CH-L to CH-R is displayed on the meter 4. Fig. 15 shows an example of the screen when all 6 meters are used.
The measurement results of one item are shown. FIG. 16 shows the millibar and distortion rate for each channel. FIG. 17 shows REF and HI measurement items for each channel, and SPED (which uses the counter 47) and W.
There are meter displays for the two items of OW. Also,
In this case, NG is displayed as described above. FIG.
Is a display example of the S / N ratio. FIG. 19 is a display example using the DMM unit 45.

【0045】次に、図21を参照して、自己校正モー
ド、即ち図9の測定メインルーチンにおいて[CAL]
キーが押されステップ923に進んだ場合について説明
する。まず最初のステップで、図22の測定誤差検査画
面を表示する。この画面では右上に自己校正を示す“C
AL”を表示しており、また右側には、以下で使用する
ファンクション・キー表示が示されている。次に、補正
モードに関して[ON]、[OFF]、[CANCE
L]のキーが押されたかどうかをステップ971,97
3,976で調べる。[ON]キーが押された時にはス
テップ972で補正モードをONにし、[OFF]キー
が押された場合にはステップ974でそのモードをOF
Fにし、そして双方共にステップ975で補正モードの
ON/OFF表示を行い、そして[CANCEL]キー
が押された場合にはステップ977で誤差データをクリ
アし、そしてステップ971に戻る。ステップ971,
973,976のいずれでもNOの場合にはステップ9
78に進み、モデルステップ毎に停止してチェックを行
いたい場合[CHECK STEP]キーを押すとステ
ップ978からステップ979,980に進む。ここ
で、手動STEPモードをセットして、AUTO ST
EPモード時に使用する自動モデルステップ送り時間を
全モデルステップにおいてクリアする。一方、全モデル
ステップについて自動進行でチェックしたい場合に[C
HECK AUTO]キーを押すと、ステップ981か
らステップ982,983に進む。この時、AUTO
STEPモードをセットして、自動ステップ送り時間
(通常1秒)を全モデルステップに設定する。いずれの
場合も、ステップ986で、全モデルステップの各測定
項目の測定用判定基準値を測定誤差検査の判定基準値に
書換える。続くステップ987で、各モデルステップの
測定用のWAIT時間(例えば1秒)を、測定誤差検査
用に短縮する(例えば、100ミリ秒)。これは、被測
定物からの信号の安定化時間を設ける必要がないからで
ある。また、NG STOPモードを全モデルステップ
に設定する。これは、NGがたった1つの測定項目にお
いて出ただけでも、システムBの検査、調整、修理等が
必要になるからである。更に、このステップにおいて
は、測定誤差検査に必要のない処理、例えばI/O制御
の項目等を削除する。ステップ980,983,98
6,987における処理は、図7のステップ917でメ
モリカードから読み出したモデル測定条件データに対し
行うものであって、その結果としてモデル自己校正条件
データを生成する。この後、ステップ989で図23の
検査サブルーチンに入り、そしてこれが終了すると自己
校正メインルーチンのステップ971に戻る。この自己
校正モードを終了したい場合に[QUIT]キーを押す
と、ステップ984からステップ985に進み、ここ
で、現在のモデル番号のモデル測定条件データをメモリ
カードMCから読み出すことにより、自己校正条件デー
タの代わりに元の測定条件データを設定する。これによ
り、図21のルーチンを出、図9の測定メインルーチン
に戻る。
Next, referring to FIG. 21, in the self-calibration mode, that is, [CAL] in the measurement main routine of FIG.
The case where the key is pressed and the process proceeds to step 923 will be described. First, in the first step, the measurement error inspection screen of FIG. 22 is displayed. In this screen, the upper right corner shows "C"
"AL" is displayed and the function key display used in the following is shown on the right side. Next, regarding the correction mode, [ON], [OFF], [CANCEL
Steps 971 and 97 are performed to determine whether the L key has been pressed.
Check at 3,976. When the [ON] key is pressed, the correction mode is turned on in step 972, and when the [OFF] key is pressed, the mode is turned off in step 974.
If it is set to F and both display ON / OFF of the correction mode in step 975, and if the [CANCEL] key is pressed, the error data is cleared in step 977, and the process returns to step 971. Step 971,
If NO in any of 973 and 976, step 9
Proceeding to step 78, if it is desired to stop and check at each model step and press the [CHECK STEP] key, the process proceeds from step 978 to steps 979,980. Here, set the manual STEP mode to AUTO ST
Clear the automatic model step feed time used in EP mode in all model steps. On the other hand, if you want to check all model steps automatically, [C
When the HECK AUTO] key is pressed, the process proceeds from step 981 to steps 982 and 983. At this time, AUTO
Set the STEP mode and set the automatic step feed time (usually 1 second) for all model steps. In any case, in step 986, the measurement determination reference value of each measurement item in all model steps is rewritten to the measurement error inspection determination reference value. In the following step 987, the WAIT time (for example, 1 second) for measurement of each model step is shortened (for example, 100 milliseconds) for the measurement error check. This is because it is not necessary to provide the stabilization time of the signal from the DUT. In addition, the NG STOP mode is set for all model steps. This is because the system B needs to be inspected, adjusted, repaired, etc. even if the NG appears in only one measurement item. Further, in this step, processing unnecessary for the measurement error inspection, for example, I / O control item is deleted. Steps 980, 983, 98
The processing in 6,987 is performed on the model measurement condition data read from the memory card in step 917 of FIG. 7, and as a result, model self-calibration condition data is generated. After this, the inspection subroutine of FIG. 23 is entered in step 989, and when this is completed, the routine returns to step 971 of the self-calibration main routine. When the [QUIT] key is pressed to end this self-calibration mode, the process proceeds from step 984 to step 985, where the model measurement condition data of the current model number is read from the memory card MC to obtain the self-calibration condition data. Set the original measurement condition data instead of. This exits the routine of FIG. 21 and returns to the measurement main routine of FIG.

【0046】次に、図23を参照して検査サブルーチン
について説明する。最初のステップ1000で、モデル
ステップ番号を1にセットし、そして続くステップ10
01〜1003で、該当ステップに関する自己校正条件
データに従って処理を行う。即ち、ステップ1001
で、自己校正用に信号源の内部接続を行う、即ち、スイ
ッチ50,51,52,53をC位置に切り換え、また
当該ステップ内の各測定項目に応じて、スイッチ34,
35,36,48の切換制御を行い、ステップ1002
で、測定系のレンジ、フィルタ特性の選択等の制御を行
い、そしてステップ1003で、図24の信号源制御ル
ーチンを実行する。この信号源制御ルーチンでは、後述
のように、測定項目に応じて、測定するレベルや周波数
と等価のレベルや周波数の試験信号を発生するように信
号源を制御する。次にステップ1004で、該当モデル
ステップの測定項目による検査画面を表示する。
Next, the inspection subroutine will be described with reference to FIG. In the first step 1000, set the model step number to 1 and then in step 10
In 01 to 1003, processing is performed according to the self-calibration condition data regarding the corresponding step. That is, step 1001
Then, the signal source is internally connected for self-calibration, that is, the switches 50, 51, 52, 53 are switched to the C position, and the switches 34,
Switching control of 35, 36 and 48 is performed, and step 1002 is performed.
In step 1003, control of the range of the measurement system, selection of filter characteristics, etc. is performed, and in step 1003, the signal source control routine of FIG. 24 is executed. In this signal source control routine, as will be described later, the signal source is controlled so as to generate a test signal having a level or frequency equivalent to the level or frequency to be measured, depending on the measurement item. Next, in step 1004, an inspection screen based on the measurement items of the model step is displayed.

【0047】図25は、その検査画面例としてモデルス
テップ1の画面を示す。図示のように、測定器の検査規
格に対応する検査用許容範囲640,642は、図12
の被測定物の製品規格に対応する測定用許容範囲62
2,623と比べ狭くなっている。次に、ステップ10
05で、検査開始前のWAIT時間(例えば、100ミ
リ秒)を設け、そして次にステップ1006で図26の
検査ルーチン(後述)を実行する。その後、ステップ1
007で、検査終了フラッグ(後述)がONの場合にY
ESとなってこのルーチンを終了する。一方、ステップ
1007でNOの場合、ステップ1008でモデルステ
ップ番号を1増分して次のモデルステップの検査の準備
をし、そしてこの次モデルステップが設定終了ステップ
でない場合(本例ではステップ2〜14)、ステップ1
009でNOとなってステップ1001にループする。
一方、ステップ1009でYESとなった場合(本例で
はモデルステップ15)、ステップ1010でモデル総
合判定結果を表示して、このルーチンを終了する。
FIG. 25 shows a model step 1 screen as an example of the inspection screen. As shown in FIG. 12, the inspection allowable ranges 640 and 642 corresponding to the inspection standard of the measuring instrument are shown in FIG.
Allowable range 62 for measurement corresponding to the product standard of the DUT
It is narrower than 2,623. Next, step 10
At 05, a WAIT time (for example, 100 milliseconds) before the start of inspection is set, and then at step 1006, the inspection routine of FIG. 26 (described later) is executed. Then step 1
In 007, if the inspection end flag (described later) is ON, Y
This becomes ES and ends this routine. On the other hand, if NO in step 1007, the model step number is incremented by 1 in step 1008 to prepare for the inspection of the next model step, and if this next model step is not the setting end step (in this example, steps 2 to 14). ), Step 1
If NO in step 009, the process loops to step 1001.
On the other hand, if YES in step 1009 (model step 15 in this example), the model comprehensive determination result is displayed in step 1010, and this routine ends.

【0048】図27〜図32は、図14〜図19の測定
画面に夫々対応するモデルステップ3,5,7,8,1
0,11の検査画面例である。
27 to 32 are model steps 3, 5, 7, 8, 1 corresponding to the measurement screens of FIGS. 14 to 19, respectively.
It is an example of an inspection screen of 0 and 11.

【0049】次に、図24を参照して、上記の信号源制
御ルーチンについて説明する。まずステップ1020〜
1024で測定項目の種類を調べ、ACレベル測定に関
する検査の場合、ステップ1020からステップ102
5に進む。図5及び図6の設定例では、1例として図2
5に示したモデルステップ1である。この場合、レベル
測定のメータ表示中心値(ADJ)を発振部出力レベル
として設定する。これは、メータ表示中心値が発振部出
力レベルと異なっている場合には、設定変更が不要とな
り、便利である。尚、モデルステップ1の場合には、そ
れら中心値と出力レベルは−5.0dBと互いに等しく
なっている。次に、S/N比測定に関する検査の場合に
は、ステップ1021からステップ1026に進む。例
えば、図31に示したモデルステップ10の場合であ
る。この場合、ステップ1026では、直前のモデルス
テップ9(図示せず)でのACレベル測定のメータ表示
中心値(例:−10.0dB)に、モデルステップ10
でのS/N比のメータ中心値(例:−10dB)を加え
た値(例:−20dB)を発振部出力レベルとして設定
する。また、チャンネルセパレーション測定に関する検
査の場合、ステップ1022からステップ1027へ進
む。例えば、図27に示すモデルステップ3の場合であ
る。ステップ1027では、基準チャンネル側メータ表
示中心値(例:−10dB)に、セパレーションメータ
表示中心値(例:−40dB)を加えた値(例:−50
dB)を発振部出力として設定する。
Next, the above signal source control routine will be described with reference to FIG. First, step 1020
The type of the measurement item is checked in 1024, and in the case of the inspection regarding the AC level measurement, steps 1020 to 102
Go to 5. In the setting examples of FIGS. 5 and 6, as an example, FIG.
This is model step 1 shown in FIG. In this case, the meter display center value (ADJ) of the level measurement is set as the oscillator output level. This is convenient because it is not necessary to change the setting when the meter display center value is different from the oscillator output level. In the case of model step 1, the center value and the output level are equal to -5.0 dB. Next, in the case of the inspection regarding the S / N ratio measurement, the process proceeds from step 1021 to step 1026. For example, this is the case of the model step 10 shown in FIG. In this case, in step 1026, the meter display center value (eg, -10.0 dB) of the AC level measurement in the immediately preceding model step 9 (not shown) is set to the model step 10
A value (example: -20 dB) obtained by adding the central value of the S / N ratio of the meter (example: -10 dB) is set as the oscillator output level. Further, in the case of the inspection regarding the channel separation measurement, the process proceeds from step 1022 to step 1027. For example, this is the case of model step 3 shown in FIG. At step 1027, a value (example: -50) obtained by adding a separation meter display center value (example: -40 dB) to the reference channel side meter display center value (example: -10 dB).
dB) is set as the output of the oscillator.

【0050】また、周波数測定、テープスピードの測定
に関する検査の場合、例えば、図30に示すモデルステ
ップ8の場合、ステップ1023からステップ1028
に進み、ここで、測定用の周波数を発振部の周波数とし
て設定する。最後に周波数特性測定に関する検査の場
合、例えば、図28に示すモデルステップ5の場合、ス
テップ1024からステップ1029に進む。ここで、
基準レベル測定のメータ表示中心値(例:−10dB)
を発振部出力レベルとして設定する。更に、発振部出力
は、3波混合とし、そしてその各周波数は、測定用の周
波数とする。以上で、この信号源制御ルーチンを終わ
る。尚、上記説明から分かるように、本システムでは、
メータ表示中心値をデータとしてもっているため、信号
源の制御を好都合に行うことができる。
Further, in the case of inspection relating to frequency measurement and tape speed measurement, for example, in the case of model step 8 shown in FIG. 30, steps 1023 to 1028 are performed.
Then, the frequency for measurement is set as the frequency of the oscillator here. Finally, in the case of the inspection regarding the frequency characteristic measurement, for example, in the case of the model step 5 shown in FIG. 28, the process proceeds from step 1024 to step 1029. here,
Center value of meter display for reference level measurement (Example: -10dB)
Is set as the oscillator output level. Further, the output of the oscillator is a three-wave mixture, and each frequency thereof is a frequency for measurement. This is the end of the signal source control routine. As can be seen from the above description, in this system,
Since the central value of the meter display is used as the data, the signal source can be controlled conveniently.

【0051】次に、図26を参照して、図23のステッ
プ1006から入る検査ルーチンについて説明する。こ
の検査ルーチンは、図13の測定ルーチンをほぼ同じ処
理を行う。異なっている点は、検査ルーチンでは、モデ
ルステップを手動で進めるSTEPモードと自動で進め
るAUTO STEPモードを予め設定するため、手動
のSTEPモードで(ステップ1041でYES)、か
つモデルステップ番号を1増分させる[CHECK S
TEP]キーが押されない場合に(ステップ1041で
NO)、ステップ1043に進む。ステップ1043で
は、ステップ953での[START]キーではなく、
検査中止を示す[QUIT]キーについての判定を行
い、そしてステップ1057では検査終了フラッグをO
Nにする。更に、検査ルーチンでは、図13のステップ
956,957の如きステップはなく、ステップ104
6で測定データの保存を行うと共に、ステップ1047
で、測定値と入力値又は目標値との差である誤差データ
の保存を行うことにより、図13のステップ957での
誤差データを提供する。また、ステップ1049では、
測定誤差検査用の判定基準値を使用する。その他は、図
13の測定ルーチンと同じであるため、説明を省略す
る。モデルステップ1についてこの検査ルーチンによ
り、図25に示す画面が表示される。同じく、その他の
モデルステップ2〜15についても同様に検査が行わ
れ、その結果、上記図27〜32の画面が表示されるこ
とになる。尚、図29は、モデルステップ7であって、
判定結果がNGの例である。この場合には、ステップ9
87でNG STOPモードが全ステップに設定されて
いるため、モデルステップ8以降の検査にまでは進まな
い。尚、必要な場合には、ユーザが指示した場合にNG
判定の出たモデルステップより後のモデルステップの検
査を続けるように、プログラムを変更することもでき
る。一方、モデルステップ1〜14全てでGO判定があ
った場合には、図23のステップ1010で、図33に
示す総合判定結果GOの表示がされる。この後、検査サ
ブルーチンを出て、図21のCALメインルーチンに戻
り、そして[QUIT]キーが押されたときにはステッ
プ984からステップ985を経て図9の測定メインル
ーチンの最初に戻る。
Next, with reference to FIG. 26, the inspection routine entered from step 1006 of FIG. 23 will be described. This inspection routine performs almost the same processing as the measurement routine of FIG. The difference is that in the inspection routine, the STEP mode in which the model step is manually advanced and the AUTO STEP mode in which the model step is automatically advanced are set in advance, so that the manual STEP mode is set (YES in step 1041) and the model step number is incremented by 1. Let [CHECK S
If the [TEP] key is not pressed (NO in step 1041), the process proceeds to step 1043. In step 1043, instead of the [START] key used in step 953,
A determination is made as to the [QUIT] key indicating the inspection stop, and in step 1057, the inspection end flag is set to O.
Set to N. Furthermore, in the inspection routine, there are no steps like steps 956 and 957 in FIG.
The measurement data is saved in step 6, and step 1047 is performed.
Then, the error data, which is the difference between the measured value and the input value or the target value, is stored to provide the error data in step 957 of FIG. Also, in step 1049,
Use the criterion value for measurement error inspection. Others are the same as the measurement routine of FIG. 13, and thus the description will be omitted. Model Step 1 This inspection routine displays the screen shown in FIG. Similarly, the other model steps 2 to 15 are similarly inspected, and as a result, the screens of FIGS. 27 to 32 are displayed. Incidentally, FIG. 29 shows the model step 7,
The determination result is an example of NG. In this case, step 9
Since the NG STOP mode is set to all steps in 87, the inspection cannot proceed to the model step 8 and subsequent steps. In addition, if necessary, NG when the user gives an instruction.
The program can be modified so that the model step after the determined model step is continuously checked. On the other hand, when the GO determination is made in all of the model steps 1 to 14, the comprehensive determination result GO shown in FIG. 33 is displayed in step 1010 of FIG. After this, the process exits the inspection subroutine and returns to the CAL main routine of FIG. 21, and when the [QUIT] key is pressed, the process returns to the beginning of the measurement main routine of FIG. 9 via steps 984 to 985.

【0052】以上に、本発明の1実施例であるオーディ
オ・メジャリング・システムBについて詳細に記述した
が、本発明は、オーディオ系のその他の測定項目の測
定、あるいはオーディオ機器以外の機器の測定にも適用
することができる。
The audio measuring system B, which is one embodiment of the present invention, has been described above in detail. The present invention, however, measures other measurement items in the audio system or measures equipment other than audio equipment. Can also be applied to.

【0053】[0053]

【発明の効果】本発明の多機能測定器によれば、外部測
定器の接続を実質上要しないため、多機能測定器の自己
校正が簡単、容易に行える。また、外部測定器との接続
不要に加え、内部接続を自動で行うため、検査時間を短
くすることができる。また、測定モード時と同じレベル
/周波数等で自己校正を行う場合には、測定モードでの
設定の1部を流用可能であるため、検査時間を更に短縮
することができる。更にまた、自己校正が簡単な操作で
行えるようになるため、熟練者を要せず、操作性を向上
させることができる。
According to the multi-function measuring device of the present invention, since the external measuring device is not required to be connected, self-calibration of the multi-function measuring device can be easily and easily performed. Further, since the internal connection is automatically made in addition to the connection with the external measuring device, the inspection time can be shortened. Further, when self-calibration is performed at the same level / frequency as in the measurement mode, a part of the setting in the measurement mode can be used, so that the inspection time can be further shortened. Furthermore, since self-calibration can be performed by a simple operation, no expert is required and operability can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による基本構成の多機能測定器を示すブ
ロック図。
FIG. 1 is a block diagram showing a multifunctional measuring device having a basic configuration according to the present invention.

【図2】図1の多機能測定器をより具体化したオーディ
オ・メジャリング・システムを示す回路ブロック図。
FIG. 2 is a circuit block diagram showing an audio measuring system in which the multi-function measuring device of FIG. 1 is further embodied.

【図3】図2のCPU90が実行するメインルーチンを
示すフローチャート。
FIG. 3 is a flowchart showing a main routine executed by a CPU 90 of FIG.

【図4】図3のルーチンで表示されるMENU画面を示
す図。
FIG. 4 is a diagram showing a MENU screen displayed in the routine of FIG.

【図5】図3のEDIT MENUサブルーチンで設定
/編集されるモデル1のモデルステップ1〜15の一部
分を示す画面。
5 is a screen showing a part of model steps 1 to 15 of model 1 set / edited in the EDIT MENU subroutine of FIG. 3. FIG.

【図6】図3のEDIT MENUサブルーチンで設定
/編集されるモデル1のモデルステップ1〜15の別の
一部分を示す画面。
6 is a screen showing another part of model steps 1 to 15 of model 1 set / edited in the EDIT MENU subroutine of FIG. 3. FIG.

【図7】図3の測定MENUルーチンを詳細に示すフロ
ーチャート。
FIG. 7 is a flowchart detailing the measurement MENU routine of FIG.

【図8】図7のルーチンで表示される測定MENU画面
を示す図。
8 is a diagram showing a measurement MENU screen displayed in the routine of FIG.

【図9】図7のルーチンから入る測定メインルーチンを
示すフローチャート。
9 is a flowchart showing a measurement main routine that is entered from the routine of FIG.

【図10】図9のルーチンで表示される測定画面を示す
図。
10 is a diagram showing a measurement screen displayed in the routine of FIG.

【図11】図9の測定メインルーチンから入る測定サブ
ルーチンを示すフローチャート。
FIG. 11 is a flowchart showing a measurement subroutine that is entered from the measurement main routine of FIG.

【図12】図11,図13のルーチンで表示される、モ
デルステップ1(MV)の画面の例を示す図。
FIG. 12 is a diagram showing an example of a model step 1 (MV) screen displayed by the routines of FIGS. 11 and 13;

【図13】図11のルーチンから入る測定ルーチンを示
すフローチャート。
13 is a flowchart showing a measurement routine that is entered from the routine of FIG.

【図14】図12と同様の、モデルステップ3(MVC
R)の画面の例を示す図。
FIG. 14 is a model step 3 (MVC similar to FIG. 12;
The figure which shows the example of the screen of R).

【図15】図12と同様の、モデルステップ5(RE
F,HI,LOW)の画面の例を示す図。
FIG. 15 is a model step 5 (RE similar to FIG.
The figure which shows the example of the screen of (F, HI, LOW).

【図16】図12と同様の、モデルステップ7(MV,
THD)の画面の例を示す図。
FIG. 16 is a model step 7 (MV, similar to FIG.
The figure which shows the example of the screen of (THD).

【図17】図12と同様の、モデルステップ8(RE
F,HI,SPED,WOW)の画面の例を示す図。
FIG. 17 is a model step 8 (RE similar to FIG.
The figure which shows the example of the screen of (F, HI, SPED, WOW).

【図18】図12と同様の、モデルステップ10(MV
S)の画面の例を示す図。
FIG. 18 is a model step 10 (MV similar to FIG.
The figure which shows the example of the screen of S).

【図19】図12と同様の、モデルステップ11(D
C)の画面の例を示す図。
FIG. 19 is a model step 11 (D) similar to FIG.
The figure which shows the example of the screen of C).

【図20】図11のルーチンで表示される総合判定結果
表示画面の例を示す図。
20 is a diagram showing an example of a comprehensive determination result display screen displayed in the routine of FIG.

【図21】図9の測定メインルーチンから入る自己校正
(CAL)メインルーチンを示すフローチャート。
21 is a flowchart showing a self-calibration (CAL) main routine that is entered from the measurement main routine of FIG.

【図22】図21のルーチンで表示される測定誤差検査
画面を示す図。
22 is a diagram showing a measurement error inspection screen displayed in the routine of FIG.

【図23】図21のルーチンから入る検査サブルーチン
を示すフローチャート。
23 is a flowchart showing an inspection subroutine that is entered from the routine of FIG.

【図24】図23のルーチンから入る信号源制御ルーチ
ンを示すフローチャート。
24 is a flowchart showing a signal source control routine that is entered from the routine of FIG.

【図25】図23、図26で表示される、モデルステッ
プ1の検査画面の例を示す図。
FIG. 25 is a view showing an example of the inspection screen of model step 1 displayed in FIGS. 23 and 26.

【図26】図23のルーチンから入る検査ルーチンを示
すフローチャート。
FIG. 26 is a flowchart showing an inspection routine entered from the routine of FIG. 23.

【図27】図23、図26で表示される、モデルステッ
プ3の検査画面の例を示す図。
FIG. 27 is a diagram showing an example of an inspection screen of model step 3 displayed in FIGS. 23 and 26.

【図28】図23、図26で表示される、モデルステッ
プ5の検査画面の例を示す図。
FIG. 28 is a diagram showing an example of an inspection screen of model step 5 displayed in FIGS. 23 and 26.

【図29】図23、図26で表示される、モデルステッ
プ7の検査画面の例を示す図。
FIG. 29 is a view showing an example of an inspection screen of model step 7 displayed in FIGS. 23 and 26.

【図30】図23、図26で表示される、モデルステッ
プ8の検査画面の例を示す図。
FIG. 30 is a diagram showing an example of an inspection screen of model step 8 displayed in FIGS. 23 and 26.

【図31】図23、図26で表示される、モデルステッ
プ10の検査画面の例を示す図。
FIG. 31 is a diagram showing an example of an inspection screen of model step 10 displayed in FIGS. 23 and 26.

【図32】図23、図26で表示される、モデルステッ
プ11の検査画面の例を示す図。
FIG. 32 is a view showing an example of an inspection screen of model step 11 displayed in FIGS. 23 and 26.

【図33】図23のルーチンで表示される総合判定結果
の表示画面の例を示す図。
FIG. 33 is a diagram showing an example of a display screen of comprehensive determination results displayed in the routine of FIG. 23.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

MD,MD’:被測定物 1,10,12,14:入力端子 2,20:出力端子 3:信号源部 4:計器部 5:接続部 6:処理/判定/表示部 7:動作モード指定部 8:測定/自己校正条件入力部 9:測定/自己校正制御部 620:メータ表示部 MN1〜MN6:メータ番号 624,625:指線 622,623:測定用許容範囲 640,642:検査用許容範囲 MD, MD ': DUT 1, 10, 12, 14: input terminals 2, 20: Output terminal 3: Signal source section 4: Instrument part 5: Connection part 6: Processing / judgment / display 7: Operation mode designation section 8: Measurement / self-calibration condition input section 9: Measurement / self-calibration control unit 620: Meter display section MN1 to MN6: Meter number 624, 625: finger line 622, 623: allowable range for measurement 640, 642: allowable range for inspection

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−26952(JP,A) 特開 平3−277986(JP,A) 特開 平5−135082(JP,A) 特開 昭64−88262(JP,A) 特開 昭58−166498(JP,A) 実開 平3−61588(JP,U) 実開 平1−152216(JP,U) 実開 昭62−135974(JP,U) 実開 昭60−179875(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 35/00 - 35/04 G01D 18/00 ─────────────────────────────────────────────────── --- Continuation of the front page (56) References JP-A-5-26952 (JP, A) JP-A-3-277986 (JP, A) JP-A-5-135082 (JP, A) JP-A-64- 88262 (JP, A) JP 58-166498 (JP, A) Actual flat 3-61588 (JP, U) Actual flat 1-152216 (JP, U) Actual 62-135974 (JP, U) Actual Development Sho 60-179875 (JP, U) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) G01R 35/00-35/04 G01D 18/00

Claims (21)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】被測定物(MD;MD')の複数のパラメータに
関する測定を行うための複数の測定機能を備えた、入力
端子(1;10,12,14)と出力端子(2;20)とを有する多機
能測定器(A;B)であって、 イ) 前記複数の測定機能に夫々対応する機能を備えた
複数の単機能の測定手段(3,4;30〜38,40〜48)であっ
て、該複数の単機能測定手段は、少なくとも1つの試験
信号源手段(SS1〜SSi;30〜33)を含み、前記複数の単
機能測定手段の各々は、入力と出力又は出力を有してい
る、前記の複数の単機能測定手段と、 ロ) 前記入力端子と、前記出力端子と、前記複数の単
機能測定手段の各々と、の間の接続を行う接続手段(5;
50〜53)と、 ハ) 前記多機能測定器の測定モード又は自己校正モー
ドを指定するモード指定信号を発生するモード指定手段
(7;70,903,922,924)と、 ニ) 前記モード指定信号に応答する制御手段(9;90,9
32,988,1001)であって、前記モード指定信号が前記測
定モードを指定している場合、前記接続手段を制御する
ことにより、前記複数のパラメータの内の選択された少
なくとも1つのパラメータの各々の測定のための、前記
複数の単機能測定手段と前記出力端子と前記入力端子と
の間の接続を行わせ、前記モード指定信号が前記自己校
正モードを指定している場合、前記接続手段を制御する
ことにより、前記選択された少なくとも1つのパラメー
タの各々の測定に関係する前記単機能測定手段の各々
を、該手段の自己校正に使用する前記単機能測定手段と
接続させる、前記の制御手段と、を含む多機能測定器。
1. An input terminal (1; 10,12,14) and an output terminal (2; 20) having a plurality of measurement functions for performing a measurement on a plurality of parameters of a device under test (MD; MD '). ) And a multi-function measuring instrument (A; B) having a), and a) a plurality of single-function measuring means (3, 4; 30 to 38, 40 to 48), wherein the plurality of single function measuring means includes at least one test signal source means (SS1 to SSi; 30 to 33), each of the plurality of single function measuring means being an input and an output or an output. A plurality of single-function measuring means, and (b) connecting means (5; for connecting the input terminal, the output terminal, and each of the plurality of single-function measuring means).
50-53), and c) mode designating means (7; 70,903,922,924) for generating a mode designating signal for designating the measurement mode or the self-calibration mode of the multifunctional measuring instrument, and d) a control means responding to the mode designating signal (9; 90,9
32,988,1001), and wherein the mode designation signal designates the measurement mode, controlling the connection means to measure each of at least one parameter selected from the plurality of parameters. For connecting the plurality of single-function measuring means, the output terminal and the input terminal, and controlling the connecting means when the mode designating signal designates the self-calibration mode. Thereby connecting each of said single function measuring means relating to the measurement of each of said selected at least one parameter with said single function measuring means used for self-calibration of said means; Multi-function measuring instrument including.
【請求項2】請求項1記載の多機能測定器であって、前
記複数の単機能測定手段は、前記少なくとも1つの試験
信号源手段(SS1〜SSi;30〜33)と、入力と出力とを各
々有する複数の計器手段(M1〜Mj;41〜47)と、から成
ること、を特徴とする多機能測定器。
2. The multi-function measuring device according to claim 1, wherein the plurality of single-function measuring means include the at least one test signal source means (SS1 to SSi; 30 to 33), an input and an output. And a plurality of measuring means (M1 to Mj; 41 to 47) each having a plurality of measuring means.
【請求項3】請求項2記載の多機能測定器であって、更
に、 イ) 前記複数の計器手段の前記出力に接続された手段
であって、前記複数の計器手段の各々からの出力信号に
対し処理を行って測定結果を表す第1の信号を発生する
処理手段(6;60)と、 ロ) 前記第1信号を受け、該結果を所定の判定基準と
比較して良否判定結果を表す第2の信号を発生する判定
手段(6;90,959,1049)と、 ハ) 前記第1信号又は前記第2信号を受けて、前記測
定結果又は前記良否判定結果を表示する表示手段(6;9
0,941,961,1010,1051,62)と、を含むこと、を特徴とす
る多機能測定器。
3. The multifunctional measuring instrument according to claim 2, further comprising: (a) means connected to the outputs of the plurality of instrument means, the output signals from each of the plurality of instrument means. Processing means (6; 60) for performing a process on the above to generate a first signal representing a measurement result, and (b) receiving the first signal and comparing the result with a predetermined judgment criterion to obtain a pass / fail judgment result. A judging means (6; 90,959,1049) for generating a second signal, and c) a display means (6; 90) for receiving the first signal or the second signal and displaying the measurement result or the quality judgment result. 9
0,941,961,1010,1051,62) and a multi-function measuring instrument.
【請求項4】請求項3記載の多機能測定器であって、更
に、 前記制御手段に接続されており、前記測定モードにおけ
る測定条件及び前記自己校正モードにおける検査条件を
入力する手段(8;70,90,906)であって、前記測定及び
検査の条件は、各前記パラメータについて、測定点及び
検査点、及び前記所定の判定基準である測定結果の第1
許容範囲(622,623)と検査結果の第2許容範囲(640,6
42)とを含む、前記の入力手段、を含むこと、を特徴と
する多機能測定器。
4. The multi-function measuring device according to claim 3, further comprising means (8 ;; connected to the control means, for inputting measurement conditions in the measurement mode and inspection conditions in the self-calibration mode. 70, 90, 906), and the measurement and inspection conditions are, for each of the parameters, a measurement point and an inspection point, and a first measurement result that is the predetermined criterion.
Allowable range (622,623) and second allowable range of inspection results (640,6)
42) A multi-function measuring instrument comprising the above-mentioned input means including:
【請求項5】請求項4記載の多機能測定器であって、 各前記パラメータについて、前記自己校正モードにおけ
る前記検査点は、前記測定モードにおける前記測定点と
同じであること、を特徴とする多機能測定器。
5. The multi-function measuring device according to claim 4, wherein, for each of the parameters, the inspection point in the self-calibration mode is the same as the measurement point in the measurement mode. Multi-function measuring instrument.
【請求項6】請求項4記載の多機能測定器であって、 前記検査結果の第2許容範囲は、前記測定結果の第1許
容範囲よりも狭いこと、を特徴とする多機能測定器。
6. The multi-function measuring device according to claim 4, wherein the second allowable range of the inspection result is narrower than the first allowable range of the measurement result.
【請求項7】請求項4記載の多機能測定器であって、 前記自己校正モードにおいては、前記検査結果が、前記
第2許容範囲内にある場合には、前記表示手段は、前記
パラメータの測定に関する前記単機能測定手段が良好
(GO)であることを示し、前記第2許容範囲内にない場
合には、前記表示手段は、前記パラメータの測定に関す
る前記単機能測定手段が良好でないこと(NG)を示すこ
と、を特徴とする多機能測定器。
7. The multi-function measuring device according to claim 4, wherein, in the self-calibration mode, when the inspection result is within the second allowable range, the display means displays the parameter. If the single-function measuring means for measurement indicates good (GO), and if it is not within the second allowable range, the display means indicates that the single-function measuring means for measurement of the parameter is not good ( NG) indicating that the multifunctional measuring instrument.
【請求項8】請求項7記載の多機能測定器であって、 前記入力手段は、前記検査結果により該当の単機能測定
手段の特性を補償することを指定するための補償指定手
段(90,972,974)を含み、 前記制御手段は、更に、 前記複数の多機能測定手段の各々の特性を補償する補償
手段(957)であって、前記検査結果が前記第2許容範
囲内にあってしかも測定誤差がある時、前記補償指定手
段が補償を指定している場合に、前記補償手段により前
記測定誤差を用いて該当の単機能測定手段の特性を補償
する、前記の補償手段、を含むこと、を特徴とする多機
能測定器。
8. The multi-function measuring device according to claim 7, wherein said input means specifies compensation means for compensating the characteristic of the corresponding single-function measuring means according to said inspection result (90,972,974). Wherein the control means is a compensating means (957) for compensating for the characteristics of each of the plurality of multi-function measuring means, wherein the inspection result is within the second allowable range and the measurement error is At a certain time, when the compensation designating means designates compensation, the compensating means compensates the characteristic of the corresponding single-function measuring means by using the measurement error. And a multi-function measuring instrument.
【請求項9】請求項4記載の多機能測定器であって、 前記制御手段は、更に、 前記試験信号源手段に接続されており、前記パラメータ
の測定値点と同じ値の信号を発生するように制御する試
験信号源制御手段(1003)、を含むこと、を特徴とする
多機能測定器。
9. The multi-function measuring device according to claim 4, wherein the control means is further connected to the test signal source means, and generates a signal having the same value as the measured value point of the parameter. And a test signal source control means (1003) for controlling as described above.
【請求項10】請求項1から9のいずれかに記載の多機
能測定器であって、 前記制御手段は、更に、 前記選択された少なくとも1つのパラメータが2以上の
場合、該2以上のパラメータの各々についての自己校正
を順番に行うためのシーケンス手段(1000,1008,100
9)、を含むこと、を特徴とする多機能測定器。
10. The multi-function measuring device according to claim 1, wherein the control means further comprises, when the selected at least one parameter is two or more, the two or more parameters. Sequence means (1000, 1008, 100) for performing self-calibration for each of the
9), including, a multi-functional measuring instrument.
【請求項11】請求項10記載の多機能測定器であっ
て、 前記シーケンス手段は、更に各前記パラメータの測定及
び検査において、所定の待機時間を設定する待機時間設
定手段(936,1005)、を含むこと、を特徴とする多機能
測定器。
11. The multi-function measuring device according to claim 10, wherein said sequence means further comprises standby time setting means (936, 1005) for setting a predetermined standby time in measuring and inspecting each of said parameters. Including a multi-function measuring instrument.
【請求項12】請求項11記載の多機能測定器であっ
て、 前記待機時間設定手段は、前記所定の待機時間は、各前
記パラメータの測定においては第1の待機時間を、該パ
ラメータの検査においては第2の待機時間を設定するこ
と(987)、を特徴とする多機能測定器。
12. The multi-function measuring device according to claim 11, wherein the standby time setting means is configured to inspect the parameter for a predetermined standby time, a first standby time in measuring each of the parameters. In (1), the second waiting time is set (987).
【請求項13】請求項2から9のいずれかに記載の多機
能測定器であって、 前記複数の計器手段は、互いに共通の回路(40〜44)を
備えていること、を特徴とする多機能測定器。
13. The multi-function measuring instrument according to claim 2, wherein the plurality of instrument means have circuits (40 to 44) common to each other. Multi-function measuring instrument.
【請求項14】被測定物(MD;MD')の複数のパラメータ
に関する測定を行うための複数の測定機能を備えた、入
力端子(1;10,12,14)と出力端子(2;20)とを有する多
機能測定器(A;B)であって、 イ) 前記複数の測定機能に夫々対応する機能を備えた
複数の単機能の測定手段(3,4;30〜38,40〜48)であっ
て、該複数の単機能測定手段は、各々出力を有する少な
くとも1つの試験信号源手段(SS1〜SSi;30〜33)と、
入力と出力とを各々有する複数の計器手段(M1〜Mj;41
〜47)とを含む、前記の複数の単機能測定手段と、 ロ) 前記入力端子と、前記出力端子と、前記複数の単
機能測定手段の各々と、の間の接続を行う接続手段(5;
50〜53)と、 ハ) 前記多機能測定器の測定モード又は自己校正モー
ドを指定するモード指定信号を発生するモード指定手段
(7;70,903,922,924)と、 ニ) 前記測定モードにおける測定条件及び前記自己校
正モードにおける検査条件を入力する手段(8;70,90,90
6)であって、前記測定条件及び検査条件は、各前記パ
ラメータについて、測定点及び検査点、及び前記所定の
判定基準である測定結果の第1許容範囲(622,623)と
検査結果の第2許容範囲(640,642)とを含む、前記の
入力手段と、 ホ) 前記入力手段に接続しておりかつ前記モード指定
信号に応答する制御手段(9;90,932,988,1001)であっ
て、前記モード指定信号が前記測定モードを指定してい
る場合、前記接続手段を制御することにより、前記複数
のパラメータの内の選択された少なくとも1つのパラメ
ータの各々の測定のための、前記複数の単機能測定手段
と前記出力端子と前記入力端子との間の接続を行わせ、
前記モード指定信号が前記自己校正モードを指定してい
る場合、前記接続手段を制御することにより、前記選択
された少なくとも1つのパラメータの各々の測定に関係
する前記計測手段の各々を、該手段の自己校正に使用す
る前記少なくとも1つの試験信号源手段と接続させる、
前記の制御手段と、 ヘ) 前記複数の計器手段の前記出力に接続された手段
であって、前記複数の計器手段の各々からの出力信号に
対し処理を行って測定結果を表す第1の信号を発生する
処理手段(6;60)と、 ト) 前記第1信号を受け、該結果を所定の判定基準と
比較して良否判定結果を表す第2の信号を発生する判定
手段(6;90,959,1049)と、 チ) 前記第1信号又は前記第2信号を受ける前記測定
結果又は前記良否判定結果を表示する表示手段(6;90,9
41,961,1010,1051,62)であって、前記自己校正モード
においては、前記検査結果が、前記第2許容範囲内にあ
る場合には、前記パラメータの測定に関する前記計測手
段が良好であることを示し、前記第2許容範囲内にない
場合には、前記パラメータの測定に関する前記計測手段
が良好でないことを示す、前記の表示手段と、を含む多
機能測定器。
14. An input terminal (1; 10,12,14) and an output terminal (2; 20) having a plurality of measurement functions for performing a measurement regarding a plurality of parameters of a device under test (MD; MD '). ) And a multi-function measuring instrument (A; B) having a), and a) a plurality of single-function measuring means (3, 4; 30 to 38, 40 to 48), wherein said plurality of single function measuring means comprises at least one test signal source means (SS1-SSi; 30-33) each having an output,
A plurality of instrument means (M1 to Mj; 41) each having an input and an output.
To 47), a plurality of the single function measuring means, and b) a connecting means (5) for connecting the input terminal, the output terminal, and each of the plurality of single function measuring means. ;
50-53), and c) mode designating means (7; 70,903,922,924) for generating a mode designating signal for designating the measurement mode or the self-calibration mode of the multifunctional measuring instrument, and d) the measurement conditions in the measurement mode and the self Means for inputting inspection conditions in calibration mode (8; 70,90,90
6), wherein the measurement condition and the inspection condition are, for each of the parameters, the measurement point and the inspection point, and the first allowable range (622,623) of the measurement result which is the predetermined criterion and the second allowable condition of the inspection result. And a control means (9; 90,932,988,1001) connected to the input means and responsive to the mode designating signal, the mode designating signal including the range (640,642) When the measurement mode is specified, the connection means is controlled to measure the plurality of single function measurement means and the plurality of single function measurement means for measuring each of the at least one selected parameter of the plurality of parameters. Make the connection between the output terminal and the input terminal,
When the mode designating signal designates the self-calibration mode, controlling the connecting means causes each of the measuring means relating to the measurement of each of the selected at least one parameter to be Connecting with said at least one test signal source means used for self-calibration,
The control means, and f) means connected to the outputs of the plurality of instrument means, the first signal representing the measurement result by processing the output signals from each of the plurality of instrument means. And a processing means (6; 60) for generating the following: (1) a judging means (6; 90,959) for receiving the first signal and comparing the result with a predetermined judgment criterion to generate a second signal indicating a pass / fail judgment result. 1049), and h) display means (6; 90, 9) for displaying the measurement result or the quality judgment result that receives the first signal or the second signal.
41,961,1010,1051,62), and in the self-calibration mode, when the inspection result is within the second allowable range, the measuring means for measuring the parameter is good. And the display means for indicating that the measuring means for measuring the parameter is not good when the measured value is not within the second allowable range.
【請求項15】請求項14記載の多機能測定器であっ
て、 各前記パラメータについて、前記自己校正モードにおけ
る前記検査点は、前記測定モードにおける前記測定点と
同じであること、を特徴とする多機能測定器。
15. The multi-function measuring device according to claim 14, wherein, for each of the parameters, the inspection point in the self-calibration mode is the same as the measurement point in the measurement mode. Multi-function measuring instrument.
【請求項16】請求項14又は15に記載の多機能測定
器であって、 前記入力手段は、更に、前記検査結果により該当の単機
能測定手段の特性を補償することを指定するための補償
指定手段(90,972,974)を含み、 前記制御手段は、更に、 前記複数の多機能測定手段の各々の特性を補償する補償
手段(957)であって、前記検査結果が前記第2許容範
囲内にあってしかも測定誤差がある時、前記補償指定手
段が補償を指定している場合に、前記補償手段により前
記測定誤差を用いて該当の単機能測定手段の特性を補償
する、前記の補償手段、を含むこと、を特徴とする多機
能測定器。
16. The multi-function measuring device according to claim 14 or 15, wherein the input means further specifies compensation for the characteristic of the corresponding single-function measuring means according to the inspection result. The control means further includes a designating means (90, 972, 974), and the control means is a compensating means (957) for compensating the characteristics of each of the plurality of multi-function measuring means, and the inspection result is within the second allowable range. In addition, when there is a measurement error and the compensation designating unit designates compensation, the compensation unit compensates the characteristic of the corresponding single-function measuring unit using the measurement error. Including a multi-function measuring instrument.
【請求項17】請求項14から16のいずれかに記載の
多機能測定器であって、 前記制御手段は、更に、 前記試験信号源手段に接続されており、前記パラメータ
の測定値点と同じ値の信号を発生するように制御する試
験信号源制御手段(1003)、を含むこと、を特徴とする
多機能測定器。
17. The multifunctional measuring instrument according to claim 14, wherein the control means is further connected to the test signal source means, and is the same as the measurement value point of the parameter. A test signal source control means (1003) for controlling to generate a value signal.
【請求項18】請求項14から17のいずれかに記載の
多機能測定器であって、 前記制御手段は、更に、 前記選択された少なくとも1つのパラメータが2以上の
場合、該2以上のパラメータの各々についての自己校正
を順番に行うためのシーケンス手段(1000,1008,100
9)、を含むこと、を特徴とする多機能測定器。
18. The multi-function measuring device according to claim 14, wherein the control means further comprises two or more parameters when the selected at least one parameter is two or more. Sequence means (1000, 1008, 100) for performing self-calibration for each of the
9), including, a multi-functional measuring instrument.
【請求項19】請求項18記載の多機能測定器であっ
て、 前記シーケンス手段は、更に各前記パラメータの測定及
び検査において、所定の待機時間を設定する待機時間設
定手段(936,987,1005)であって、前記所定の待機時間
は、各前記パラメータの測定においては第1の待機時間
を、該パラメータの検査においては第2の待機時間を設
定する、前記の待機時間設定手段、を含むこと、を特徴
とする多機能測定器。
19. The multi-function measuring device according to claim 18, wherein the sequence means is standby time setting means (936, 987, 1005) for setting a predetermined standby time in the measurement and inspection of each of the parameters. And the predetermined waiting time includes the waiting time setting means for setting a first waiting time in the measurement of each of the parameters and a second waiting time in the inspection of the parameter. A multi-function measuring instrument characterized by.
【請求項20】被測定物(MD;MD')の複数のパラメータ
に関する測定を行うための複数の測定機能を備えた多機
能測定器(A;B)であって、少なくとも1つの試験信号
源手段(SS1〜SSi;30〜33)と複数の単機能の計器手段
(M1〜Mj;41〜47)を含む、多機能測定器において、前
記複数の計器手段を校正する校正方法が、 イ) 前記複数の計器手段の内の任意の1つを選択する
ステップ(1000)と、 ロ) 該選択した計器手段を校正するために使用する前
記少なくとも1つの試験信号源手段の内の1つを選択す
るステップ(1001)と、 ハ) 該選択した試験信号源手段の出力を前記選択した
計器手段の入力に接続して、該計器手段の出力から信号
を得るステップ(988,1045)と、 ニ) 該計器手段出力からの信号の値を、良否判定のた
めの、基準値を含む所定の許容範囲と比較するステップ
(1049)と、 ホ) 該比較の結果に従って、良否判定結果を表示する
ステップ(1051)と、を含む校正方法。
20. A multi-function measuring instrument (A; B) having a plurality of measuring functions for measuring a plurality of parameters of a device under test (MD; MD '), wherein at least one test signal source is provided. (SS1 to SSi; 30 to 33) and a plurality of single-function instrument means (M1 to Mj; 41 to 47), in a multifunctional measuring instrument, a calibration method for calibrating the plurality of instrument means is a) (1000) selecting any one of the plurality of instrument means, and (b) selecting one of the at least one test signal source means used to calibrate the selected instrument means. (1001) and (c) connecting the output of the selected test signal source means to the input of the selected instrument means, and obtaining a signal from the output of the instrument means (988,1045), d) The value of the signal from the output of the measuring device is set to a predetermined permission value including a reference value for the quality judgment. A step (1049) to be compared with the range, e) according to the result of the comparison, the calibration method comprising the step (1051) for displaying the acceptability judgment result.
【請求項21】請求項20記載の校正方法であって、更
に、 前記計器手段出力信号値が前記所定の許容範囲内にあっ
てしかも前記基準値との誤差がある時、該誤差を用いて
前記選択した計器手段の特性を補償するステップ(95
7)、を含むこと、を特徴とする校正方法。
21. The calibration method according to claim 20, further comprising: when the output signal value of the instrument means is within the predetermined allowable range and has an error from the reference value, the error is used. Compensating for characteristics of the selected instrument means (95
7) A calibration method characterized by including ,.
JP27146994A 1994-11-04 1994-11-04 Multi-function measuring instrument Expired - Fee Related JP3483632B2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27146994A JP3483632B2 (en) 1994-11-04 1994-11-04 Multi-function measuring instrument
KR1019950039556A KR100310054B1 (en) 1994-11-04 1995-11-03 Multifunction Meter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27146994A JP3483632B2 (en) 1994-11-04 1994-11-04 Multi-function measuring instrument

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08136634A JPH08136634A (en) 1996-05-31
JP3483632B2 true JP3483632B2 (en) 2004-01-06

Family

ID=17500476

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27146994A Expired - Fee Related JP3483632B2 (en) 1994-11-04 1994-11-04 Multi-function measuring instrument

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP3483632B2 (en)
KR (1) KR100310054B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018129925A1 (en) * 2017-01-10 2018-07-19 北京康斯特仪表科技股份有限公司 Instrument calibration device and calibration method using same

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100349882B1 (en) * 2000-07-24 2002-08-24 주식회사 웬스정밀 Multiple metering apparatus
US8437974B2 (en) * 2010-10-08 2013-05-07 Westinghouse Electric Company Llc Calibration detection system and method
KR101556033B1 (en) * 2013-02-26 2015-09-25 주식회사 엘지화학 Method of correcting measuring voltage error for charger and discharger
CN104237592B (en) * 2014-09-04 2016-11-09 国家电网公司 A kind of distributed Compare System of electrical measurement error and comparison, source analysis method
CN104569886B (en) * 2014-12-05 2019-01-25 胡乔林 Signal detection apparatus calibration method based on time and frequency parameter reference instrument mode
CN104614593B (en) * 2014-12-26 2017-12-15 同济大学 One kind is based on self-alignment high-precision intelligent instrument system and its application process
CN105974347B (en) * 2016-07-22 2019-01-25 北京润科通用技术有限公司 A kind of calibration method and system of test macro

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018129925A1 (en) * 2017-01-10 2018-07-19 北京康斯特仪表科技股份有限公司 Instrument calibration device and calibration method using same
US11262229B2 (en) 2017-01-10 2022-03-01 Beijing Const Instruments Technology Inc. Instrument calibration device and calibration method using same

Also Published As

Publication number Publication date
KR100310054B1 (en) 2001-12-17
KR960019094A (en) 1996-06-17
JPH08136634A (en) 1996-05-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7609081B2 (en) Testing system and method for testing an electronic device
US5706214A (en) Calibration of microcomputer-based metering apparatus
CA1278827C (en) Dual function dmm display
JP3483632B2 (en) Multi-function measuring instrument
JP2975376B2 (en) Signal measuring apparatus and method
US4977531A (en) Apparatus for automatic preparation of measurement programs
JPH02280066A (en) Method for discriminating actual response from spurious response by frequency sweep spectrum analyzer
US5974362A (en) Signal generator for testing radio frequency components
US6904381B2 (en) Testing of a frequency converter device
US5020010A (en) Method for preparing and evaluating measurement specificatons for an electronic circuit
US5020009A (en) Method and apparatus for preparing measurement specifications of electronic circuits
JP3241777B2 (en) Open test equipment for in-circuit tester
US4817011A (en) Automated modeling method for tuning transformers
US6922648B2 (en) Tuning chart for devices under test
JPH1183923A (en) Electronic apparatus inspecting equipment
JP2002286576A (en) Pressure-calibrating apparatus
KR100219392B1 (en) Universal measuring apparatus
KR0173105B1 (en) Weight measuring apparatus having adjusting function of zero value and span value
JPH09184871A (en) Automatic calibrating apparatus for semiconductor testing system
JP3255470B2 (en) Display of material testing machine
JP2001194407A (en) Method and apparatus of electrical inspection for pattern wiring board
JP3647586B2 (en) Parts inspection device
JPH0989954A (en) Electronic part and electronic circuit network measuring device
JP2959174B2 (en) Integrated circuit
JPS61265605A (en) Control panel testing instrument

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071017

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081017

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081017

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091017

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101017

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees