KR20020061344A

KR20020061344A - 광섬유 잔여 응력 및 포토일래스틱 효과를 측정하기 위한장치 및 그 방법

Info

Publication number: KR20020061344A
Application number: KR1020010002366A
Authority: KR
Inventors: 김진한; 오성국; 박용우; 백운출; 김덕영
Original assignee: 삼성전자 주식회사
Priority date: 2001-01-16
Filing date: 2001-01-16
Publication date: 2002-07-24
Also published as: EP1223418A1; DE60117446D1; EP1223418B1; KR100350458B1; JP3579025B2; DE60117446T2; US6678433B2; JP2002286583A; US20020126944A1

Abstract

본 발명에 따라 개시된 장치는 광원(10); 상기 광원(10)으로 부터 방출된 빛의 공간적 코히어런스를 억제하여 완전 산란시킴으로서, 시간적으로 평균화된 균일한 이미지를 제공하기 위한 회전성 광 방산기(12); 상기 회전성 광 방산기(12)를 통과한 빛을 광섬유에 정렬하기 위한 콜렉팅 렌즈(14); 상기 콜렉팅 렌즈(14)로부터 정렬된 입력 빛의 편광상태를 선형적으로 조절하기 위한 복굴절 변환수단(16); 상기 복굴절 변환수단(16)을 지난 빛을 광섬유(F)가 놓인 위치에 집광하기 위한 광 집광기(18); 상기 복굴절 변환수단(16)으로부터 방출된 빛이 광섬유(F)를 투과함으로서, 상기 광섬유(F)를 통과한 빛의 편광상태를 세기분포로 전환시키는 고정 편광기(20); 상기 광섬유(F)를 투과한 빛의 세기분포를 갖는 확대된 광섬유 이미지를 얻기 위한 대물 렌즈(24); 및 상기 광섬유(F)에 가해진 투과 변화를 위치에 따라서 측정하는 장치(26)로 구성된다.

Description

광섬유 잔여 응력 및 포토일래스틱 효과를 측정하기 위한 장치 및 그 방법{APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING RESIDUAL STRESS AND PHOTOELASTIC EFFECT OF OPTICAL FIBER}

본 발명은 광섬유의 측정 장치에 관한 것으로서, 특히 광섬유의 잔여 응력및 포토일래스틱 효과를 측정하기 위한 장치 및 그 방법에 관한 것이다.

통상적으로 광섬유의 제작 공정은 광섬유 모재(preform) 제작 공정과, 제조된 광섬유 모재를 한 가닥의 광섬유로 뽑아내는 광섬유 인출 공정으로 이루어진다. 이렇게 광섬유를 제작하는 과정에서 발생되는 응력(stress)이 제작 후, 제거되지 못하고 일부가 광섬유 안에 남아 있게 되는데, 이것을 잔여 응력(residual stress)이라고 한다. 잔여 응력 측정은 고 품질 광섬유 광섬유 생산, 광섬유 격자 소자, 그리고 특수 광섬유의 개발과 그 특성 연구를 위해 매우 중요한 측정 요소이다.

광섬유의 생산 과정인 고온의 인출 공정에서 발생하는 잔여 응력은 광섬유의 광 산란에 의한 손실을 증가시키고, 포토일래스틱(photoelastic) 현상에 의해 굴절률 변화를 일으키게 된다. 따라서, 고 품질의 광섬유를 제작하기 위해서는 잔여 응력을 억제시키는 광섬유 생산(인출) 기술을 개발하여야 한다. 이러한 잔여 응력 억제기술 개발을 위해서는 광섬유의 잔여 응력을 정밀 측정할 수 있는 측정 장비개발이 필수적으로 요구된다.

또한, 최근 들어 CO₂레이져를 이용해서, 광섬유의 잔여 응력을 주기적으로 일부분 해소시키는 방법으로 장주기 광섬유 격자 소자(long period fiber grating)를 개발하고 있고, UV 조사를 이용하여 장주기 및 브래그(Bragg) 격자소자 제작에 있어서는 그 원리에 대한 해석을 분석하는 도구로서, 잔여 응력 분포 측정장치가 UV조사에 의한 유리의 수축 현상(compaction effect)을 밝혀내는 데 쓰이고 있다.

이 소자의 스펙트럼 투과 특성을 연구하고, 특성 향상을 위한 연구를 수행하기 위해서 잔여 응력 변화에 의한 굴절률 변화효과와, 광섬유의 길이방향으로의 주기적 잔여 응력의 해소되는 분포를 측정할 필요가 있다.

이에 더하여 잔여 응력에 의한 굴절률 변화 즉, 포토일래스틱 효과의 도핑 물질 변화에 따른 현상에 대한 심층적인 연구가 필요하다. 이러한 목적을 위해서는 광섬유의 잔여 응력 및 포토일래스틱 효과를 삼차원적으로 측정 및 관찰할 수 있는 측정 장비의 개발이 필요하다.

광섬유나 광섬유 모재의 잔여 응력 측정은 포토일래스틱 효과를 이용하여 측정되는데, 이는 매질에 남아있는 응력의 방향에 따라 매질의 굴절률이 변하는 현상이다. 이 포토일래스틱 효과 때문에 응력을 받고 있는 광섬유 또는 그 모재의 굴절률 값은 빛의 편광 방향에 따라서 변하는 성질을 갖게 된다. 광섬유 모재나 광섬유의 축 방향에 수직인 측면으로 두 개의 직교하는 편광 성분의 빛을 통과시키면, 광섬유나 광섬유 모재에 남아 있는 잔여 응력에 의한 포토일래스틱 효과때문에 빛의 편광 방향에 따라서 투과한 빛의 위상에 차이가 발생한다. 발생하는 위상차를 편광기(polariscope)를 이용하여 측정하면 잔여 응력의 정도를 알 수 있게 된다. 다음은 이러한 기존의 방법을 통하여 각각 광섬유 모재와 광섬유의 잔여 응력을 측정한 대표적인 세 가지 논문이다.

1.P. L. Chu and T. Whitebread,"Measurement of stresses in optical fibre and preform",Appl. Opt., 1982, 21, pp 4241∼4245.

상기 첫 번째 논문에서는 광섬유의 잔여 응력을 포토일래스틱 효과를 이용하여 광학적으로 측정하는 방법 및 이론을 처음으로 구체적으로 제안하였고, 광섬유및 그 모재에 대하여 잔여 응력 프로파일을 측정하였다.

2.Th. Rose, D. Spriegel and J. R. Kropp,"Fast photoelastic stress determination application to monomode fibres and splices",Meas. Sci. Technol.4, 431∼434, (1993).

상기 두 번째 논문에서는 단일 모드 광섬유의 잔여 응력 및 융착 접합(fusion splice) 시, 발생하는 응력을 조사하기 위해 포토일래스틱 효과를 이용한 광학적 측정 장치를 개발하였다.

3.K. W. Raine,"A microscope for measuring axial stress profiles in optical fibres with high spatial resolution and low noise",4th Optical Fibre Measurement Conference(NPL Teddington UK), 269, (1997).

상기 세번 째 논문에서는 기존의 포토일래스틱을 이용한 측정방법에 CCD 및 Half-shade 방법을 응용하여 빠르고 분해는이 뛰어난 광섬유의 잔여응력 측정방법 및 장치를 개발하였다.

잔여 응력 측정은 광섬유보다 상대적으로 단면적이 큰 광섬유 모재(지름=4cm 정도)의 잔여 응력을 측정함으로써, 광섬유의 잔여 응력을 유추하는 방법을 쓴다. 그러나, 광섬유 모재는 열적 잔여 응력만을 가지고 있으므로, 광섬유 제조 시 발생되는 역학적 잔여 응력은 측정되지 못하는 단점이 있다. 따라서, 이것을 알아내기 위해서는 광섬유를 가지고 직접 측정해야 되는 데, 그 크기(클래딩 지름=120㎛, 코어 지름=8㎛)를 고려해 볼 때, 고 분해능, 초정밀 측정을 요구하게 된다.

그러나, 기존의 측정 방법은 모재에 비해 상대적으로 작은 위상차, 이미지확대의 어려움, 이미지 배경의 상대적 빛 세기에 의한 이미징(imaging) 오차 등의 여러 가지 기술적 문제점들을 가지고 있다.

광섬유 모재의 잔여 응력 측정은 빛이 모재를 통과하는 투과거리(optical path length)가 길기 때문에 두 직교하는 편광(polarization)된 빛의 위상차(phase difference)가 180°나 그 이하로 예상된다. 그러나, 광섬유의 잔여 응력 측정은 그 투과 거리가 모재에 비해서 1/100 정도 밖에 되지 못하므로, 위상차가 2°정도나 그 이하로 예상된다. 따라서 이를 측정해 내기 위해서는 최소 0.1°정도의 편광 분해능을 가지는 측정 장치가 요구된다.

광섬유의 직경은 125㎛이므로, 이를 확대하여 이미지를 만들어야 하는 데, 기존의 모재 잔여 응력 측정에서는 광섬유를 투과한 빛이 입사하게 될 4분의 1 파판(waveplate) 및 편광 분석기의 회전장치 때문에 기존의 방법으로는 대물 렌즈(object lens)를 광섬유에 밀착시키기가 어렵고, 배율을 높이기가 기술적으로 어려우며, 결정적으로 광섬유의 확대 이미지를 삽입된 편광 장치들에 의해 왜곡시키는 결과를 갖는다. 따라서, 광섬유를 투과한 빛의 파면 왜곡 및 편광 오차를 최소화되도록 측정 장치를 개발할 필요가 있다.

따라서, 본 발명의 목적은 광섬유를 투과한 빛의 파면 왜곡 및 편광 오차를 최소화할 수 있는 측정 장치 및 그 방법을 제공함에 있다.

본 발명의 다른 목적은 장치 구성이 용이하고, 저렴하며, 간단하게 제작이가능한 측정 장치 및 그 방법을 제공함에 있다.

상기한 목적들을 달성하기 위하여 본 발명은 광섬유의 잔여 응력 및 포토일래스틱 효과를 측정하기 위한 장치에 있어서,

광원(10); 상기 광원(10)으로 부터 방출된 빛의 공간적 코히어런스를 억제하여 완전 산란시킴으로서, 시간적으로 평균화된 균일한 이미지를 제공하기 위한 회전성 광 방산기(12); 상기 회전성 광 방산기(12)를 통과한 빛을 광섬유에 정렬하기 위한 콜렉팅 렌즈(14); 상기 콜렉팅 렌즈(14)로부터 정렬된 입력 빛의 편광상태를 선형적으로 조절하기 위한 복굴절 변환수단(16); 상기 복굴절 변환수단(16)을 지난 빛을 광섬유(F)가 놓인 위치에 집광하기 위한 광 집광기(18); 상기 복굴절 변환수단(16)으로부터 방출된 빛이 광섬유(F)를 투과함으로서, 상기 광섬유(F)를 통과한 빛의 편광상태를 세기분포로 전환시키는 고정 편광기(20); 상기 광섬유(F)를 투과한 빛의 세기분포를 갖는 확대된 광섬유 이미지를 얻기 위한 대물 렌즈(24); 및 상기 광섬유(F)에 가해진 투과 변화를 위치에 따라서 측정하는 장치(26)로 구성된다.

도 1은 선형적으로 복굴절 변화를 일으킬 수 있는 이상적인 장치의 구성을 나타내는 도면.

도 2는 본 발명에 적용된 선형 복굴절 변화를 일으킬 수 있는 실제적인 장치의 구성을 나타내는 도면.

도 3은 복굴절 변화에 의해 상기 도 1과 도 2에 도시된 장치에 의해서 입력 광의 편광 상태가 변해가는 궤적의 차이점을 Poincare Sphere로 보여주는 도면.

도 4는 본 발명의 바람직한 일 실시 예에 따른 잔여 응력 및 포토일래스틱 효과 측정을 위한 장치를 나타내는 구성도.

이하에서는 첨부도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 일 실시 예를 상세히 설명하기로 한다. 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명은 본 발명의 요지를 모호하지 않게 하기 위하여 생략한다.

1. [잔여 응력 측정]

본 발명을 설명함에 있어서, 광섬유의 측면으로 투과하는 빛의 세기의 변화를 기존의 방법과 같이 편광기(analyzer)를 회전시키면서 측정하는 데신, 편광기를 고정시켜 놓고, 그 대신 입력 빔의 편광 상태(state of polarization)를 선형적으로 복굴절(birefringence)시킨다. 이를 위한 장치로서, 바비넷 보정판(Babinet compensator)과 같은 장치를 사용할 수 있겠으나, 보정판의 개구(aperture) 크기의 한계로 인해 빔의 입사각과 크기에 제약을 받으며, 가격이 비싸고, 자동화시킬 수 없다. 따라서, 본 발명에서는 그 장치와 동일한 역할을 할 수 있고, 자동화할 수 있는 간단한 장치를 안출하게 되었다. 그 장비는 모터로 회전가능한 편광 장치(rotating polarizer)와 1/4파판(quarter waveplate)으로 구성된다.

도 1은 선형적으로 복굴절 변화를 일으킬 수 있는 이상적인 장치의 구성을 나타내는 도면이다. 도 2는 본 발명에 적용된 선형 복굴절 변화를 일으킬 수 있는 실제적인 장치의 구성을 나타내는 도면이다. 도 3은 복굴절 변화에 의해 상기 도 1과 도 2에 도시된 장치에 의해서 입력 광의 편광상태가 변해가는 궤적의 차이점을 Poincare Sphere로 보여주는 도면이다.

도 1에 도시된 이상적인 장치는 우선 광원의 편광 상태를 고정 편광기를 이용하여 광섬유 축과 45°를 이루도록 한 후 복굴절을 시킨다. 도면에 도시된 장치는 선형적으로 조절할 수 있는 장치로서, 바비넷 보정판(Babinet compensator)이나 베렉 보정판(Berek compensator)을 예로 들수 있다.

이렇게 편광변환이 가능한 빔이 광섬유를 투과하게 되면, 복굴절 장치에 의한 위상변화와 광섬유에 의한 위상변화의 합으로 편광 상태가 만들어지며, 이를 첫번 째 고정 편광기와 수직을 이루는 두번 째 고정 편광자를 이용하여 빛의 세기를결정하게 된다. 이 장치로서 만들어진 편광상태의 변화 궤적은 도 3의 하단에 도시되어 있는 ①궤적을 통하여 구의 하단 부분쪽으로 이동하게 되며, 도 3에 도시된 바와 같이 타원형 편광 상태(elliptic polarization state)를 갖게 된다.

도 2에 도시된 본 발명에 적용된 실제적인 장치는 이와 동일한 편광 상태를 만들어 낼 수 있는 장치의 구성을 나타낸다. 먼저, Poincare Sphere를 보면, 타원형 편광 상태를 만들 수 있는 궤적①와 같은 또 다른 궤적을 찾을 수 있다. 이 궤적은 1/4 파판으로 구현될 수 있다. 먼저 1/4 파판을 통과하기 전에 편광 상태를 ②궤적의 첫 시작점 상태로 만든다. 즉 첫 회전 편광기의 각도를 그 시작점으로 맞춘다. 그 다음 1/4 파판을 광섬유 축과 45°되게 놓게 되면, 그 편광 상태는 궤적②와 같은 경로로 원의 1/4에 해당되는 회전을 만들게 된다. 그 결과적인 편광 상태는 궤적①에서의 편광 상태와 동일함을 알 수 있다. 따라서 1/4 파판 다음에 광섬유를 위치시켜 투과시킨 후 고정 편광자로 빛의 세기를 결정하면, 도 1에 도시된 이상적인 장치와 동일한 결과를 가질 수 있다.

검출되는 빛의 최소 세기를 만드는 회전 편광기의 편광 각도를 찾기 위해서 회전 편광기를 선형적으로 회전시키며, 빛의 세기를 차례로 PC에 저장한 후, 이로 부터 얻은 광섬유의 반경에 대한 각각의 변화곡선을 2차 곡선 근사하여 최소값을 찾아낸다. 이때의 위상을라 하고, 잔여 응력에 의해 유도되는 위상변화를, 광섬유의 외부적인 인장에 의한 위상변화를라 했을 때, 다음과 같은 하기 [수학식 1]로 쓸 수 있다.

이때,은 광섬유의 인장에 의한 인장률(strain)이며,는 도판트 분포와 광섬유 단면 모양의 함수로서, 빔의 투과하여 축적되는 포토일래스틱 효과에 의한 복굴절 값이다. 따라서, 광섬유의 외부인장이 없을 때(), 위 측정 방법을 이용하여을 값을 찾으면, 광섬유의 잔여 응력 분포는 아벨(Abel)의 변환에 의해 다음과 같이 얻을 수 있다.

2. [포토일래스틱 효과 분포 측정]

광섬유 내부에 도핑되어 있는 물질에 의한 유리 구조변화와 결합 에너지 때문에 특수한 도핑 물질에 따라서는 그 효과의 분포는 같을 수 있다. 일반적으로 도핑이 되어있는 유리 덩어리(bulk glass)의 포토일래스틱 계수를 측정함으로써, 그 효과의 정도를 정량적으로 예측해 왔다. 그 성질을 크게 변화시키는 도핑 물질로는 보론(B), 알루미늄(Al), 알칼리(alkali) 계열의 물질이 큰 폭의 변화를 일으키는 것으로 측정되었다. 본 발명에서는 이러한 특수 도핑 물질이 첨가되었을 때, 그 효과의 변화 분포를 측정할 수 있는 방법을 포함하고 있다. 이 효과의 분포로서 나타날 수 있는 현상으로는 다음과 같은 두 가지 예를 들 수 있다.

첫 째는 정적인 현상으로써, 광섬유를 인장시켰을 경우이다. 인장된 광섬유는 광섬유의 반경 방향(radial direction)로 굴절률의 감소를 일으키고, 이는 광섬유 안에 도파되는 빛에 영향을 준다. 만약, 포토일래스틱 효과가 광섬유안에서 분포를 갖는 경우, 인장된 광섬유 안에서 서로 다른 굴절률 분포를 발생시키며, 이는 본래의 광섬유 굴절률 분포에 상대적인 변화를 갖게 한다.

둘 째로는 음향파(acoustic wave)의 특성을 들 수 있다. 음향파는 유리의 밀도와 포토일래스틱 계수(photoelastic coefficient)에 관계되어 있으며, 그 특성을 잘 파악하는 것이 브릴루인(Brillouin) 산란이나, AOTF(Acousto-Optic Tunable Filter) 등의 연구에 중요하게 작용할 수 있다. 또한, 잔여 응력의 정확한 측정 및 응력에 의한 굴절률 변화를 정확하게 계산하기 위한 필수적인 측정요소이다.

본 발명에서는 그 측정 장치로서, 인장된 광섬유의 복굴절 분포를 측정함으로써, 인장되지 않은 그 광섬유의 분포와의 차이로써, 첫 번째에 언급된 효과를 찾아내는 방법을 사용한다. 즉, 인장된 광섬유의 복굴절 분포를 찾게 되면, 그 위상분포는 하기 [수학식3]과 유사하게 나타날 수 있다.

상기 [수학식 3]에서는 광섬유를 인장시켰을 때의 그 인장률(strain)이며,는 인장된 광섬유로부터 출력 광의 최소 세기를 갖는 편광각으로부터 구해진다. [수학식 1]과 [수학식 3]으로부터를 구할 수 있다. 이 분포는 아벨 변환(Abel's conversion)을 이용해 편광 좌표(polar coordinate)로 변환될 수 있으며, 그 결과는 다음 [수학식 4]와 같다.

는 유리의 포토일래스틱 계수(photoelastic coefficient)이고,는 영 계수(Young's modulus),는 광섬유의 외경,은 반광섬의 반경 좌표,는 광섬유를 통과하는 빛의 광섬유 중심으로부터의 거리이다.

3. [본 발명의 실시 예에 따른 측정장치 구성]

본 발명에 따른 측정 장치는 광원(10), 회전 방산기(12)(rotating diffuser), 콜렉팅 렌즈(14)(collecting lens), 제1미러(M1)(mirror), 선형 복굴절 변환장치(16)(linear birefringence device), 광 집광기(18)(condenser), 광섬유(F)에 인장력을 제공하는 광섬유 인장 장치(22)(fiber elongation device), 고정 편광기(20)(fixed polarizer), 대물 렌즈(24)(objective lens), 제2미러(M2), 씨씨디 카메라 어레이(26)(CCD camera array)와 같은 장치를 포함한다. 상기 광원(10)으로는 헬륨네온 레이져(HeNe LASER) 또는 아르곤 이온 레이져(Ar-ion LASER)를 사용한다.

Random polarization을 갖는 광원(10)으로부터 방출된 빛은 회전 방산기(12)를 통하여 완전 산란되어 방사된다. 이때, 상기 헬륨네온 레이져(10)를 사용하는 이유는 수명이 길고, 이 광원의 스펙트럼이 매우 좁아서 거의 단파장의 광원으로 생각할 수 있으며, 이러한 단파장 성질의 빛이 광섬유(F)를 통과하였을 때, 각각 유일한 위상변화 값들을 나타낼 수 있기 때문이다.

상기 광 방산기(12)의 사용은 광섬유(F)의 이미지에 나타나는 광원(10)의 공간 코히어런스(spatial coherence)에 의한 여러 종류의 회절 무늬들을 광 방산기(12)를 통하여 억제하거나 제거할 수 있기 때문이다. 이때, 상기 광 방산기(12)는 고속으로 회전할 수 있게 설치된다. 상기 광 방산기(12)를 고속(1000rpm 이상)으로 회전시킴으로써, 시간적으로 평균화된 균일한 이미지를 얻을 수 있게 한다. 산란된 빛은 콜렉팅 렌즈(14)를 통하여 정렬된 후, 선형 복굴절 변환장치(16)를 이용하여 광섬유(F)로 입사될 빔의 편광 상태를 조절하게 된다. 이 장치(18)는 위에 언급된 바와 같이, 회전 편광기(16a)와 1/4파판(16b)(quarter plate)으로 구성된다. 상기 광 집광기(18)를 통과한 빛은 광섬유(F)가 설치되어 있는 위치에 집광된다. 이때, 상기 광섬유(F)는 마이크로스코프 슬라이드 유리 덮개(S)(microscope slide glass cover)와 고정 편광기(20) 사이에 굴절률 매칭 젤(gel)이나 글리세린 등의 유리와 같은 굴절률이 비슷한 물질을 넣은 뒤에 그 사이에 끼워져서 설치된다. 이러한 광섬유(F)의 설치는 고정 편광기(20)를 광섬유(F)와 최대한 밀착시킬 수 있으므로, 편광 오차를 줄일 수 있으며, 그 만큼 광섬유(F)와 대물 렌즈(24)사이의 거리가 가까워져 크게 확대된 이미지를 만들어 낼 수 있다. 단면의 삼차원 분포 및 광섬유(F) 길이방향의 변화를 읽어내는 데 그술적 제한을 해소하는데 도움을 준다. 또한, 상기 광섬유(F)는 광섬유 인장 장치(22)와 결합되어 있어서 인장된 상태에서도 측정될 수 있다.

이어서, 상기 광섬유(F)를 통과한 빛은 다시 고정 편광기(20)를 통하여 y축에 대하여 빛의 세기분포를 갖게 되며, 대물 렌즈(24)에 의해서 광섬유(F)의 이미지가 씨씨디 카메라 어레이(26)에 잡히는 프레임 그래버(미 도시됨)에 의해 라인 스캔(line-scan)되며, 컴퓨터에 각 회전 편광기(16a)의 편광각에 대해 저장된다. 이때, 광섬유(F)와 대물 렌즈(24)의 거리는 확대 비율이 약 100 정도 되도록 조절한다. 이 투과된 빛은 광섬유(F)의 지름 좌표에 따라 각기 다른 값들이 될 수 있다. 따라서, 각 지름 좌표에 대해서 빛 투과 변조를 측정 및 계산함으로서, 광섬유의 잔여 응력과 포토일래스틱 효과를 알아낼 수 있다. 또한, 광섬유(F) 길이방향으로 여러 라인 스캔 데이터를 동시에 얻을 경우, 광섬유 격자 소자의 길이방향 분포를 알 아 낼수 있다. 그리고, 광섬유(F) 축을 중심으로 회전각에 따라서 위상 분포를 측정하면, 편광 유지 광섬유(PM fiber)의 단면 구조를 알아낼 수 있다.

결과적으로, 본 발명은 고 품질 광섬유 생산기술 향상, 특수 광섬유의 개발을 위해서 광섬유(F) 축에 수직하는 면에 대한 길이방향으로 광섬유(F)의 잔여 응력 분포 및 포토일래스틱 효과를 씨씨디 카메라 어레이(26)를 이용하여 삼차원적으로 정밀하게 측정할 수 있는 측정장치를 제공할 수 있게 되었다. 더욱이, 본 발명은 선폭이 좁은 헬륨네온 레이져나 아르곤 이온 레이져의 사용, 복굴절 분포를 측정하기 위한 입력 빔의 복굴절 장치(16), 포토일래스틱 효과 분포를 측정하기 위한광섬유 인장장치(22), 이미지 분석 및 빠르고 정확한 데이터를 수집하기 위한 씨씨디 카메라 어레이(26)(CCD array)와 프레임 그래버(frame grabber)의 사용 등을 제공하였다.

본 발명에 있어서, 기존의 편광기를 회전시켜 그 위상차를 측정하는 대신, 입력 광의 편광상태를 선형 복굴절 장치(16)를 이용해 변화시켜 가면서, 광섬유의 복굴절 분포를 피팅(fitting)을 통해서 알아낼 수 있게 되었다. 또한, 광섬유의 인장력에 따른 포토일래스틱 효과를 분포를 알아낼 수 있게 되었다. 따라서, 본 발명은 기존에 비해서 간단하고, 이해하기 쉬우면서 장치 구성이 용이하므로, 저렴하고, 간단하게 제작이 가능하다. 또한, 광섬유 이미지를 왜곡시킬 수 있는 편광 장치들이 씨씨디 카메라 어레이와 편광기 사이에 존재하지 않으므로, 고 분해능 및 3차원 고배율 이미지를 얻는데 일반 현미경과 동일한 조건을 갖게 되었다. 이는 다른 잔여 응력 측정장치에서 갖을 수 없는 유일한 장점이라고 할 수 있다.

한편, 본 발명에 따라서 선형 복굴절 변환장치와 같이 사용될 수 있는 광원으로서, random polarization을 갖는 레이져가 사용될 수 있다. plane polarization을 갖는 레이져와 1/4 파판이 사용될 수 있다. 이로써, 선형 복굴절 변환장치에 입력될 빛의 편광상태는 원형 편광이 된다.

더욱이, 본 발명의 측정 장치는 plane polarization을 갖는 레이져와 가변성 파판(variable waveplate)이 사용될 수 있다. 이로써 선형 복굴절 변환장치에 입력될 빛의 편광 상태를 원형편광이 된다.

더욱이, 선형 복굴절 장치를 구성할 수 있는 또 다른 예로써, 1/4 파판만을회전시켜 sin²θ(y) fitting을 사용하여 위상값을 계산할 수 있다. 그 밖에 다른 종류의 파판이나 페러데이 로테이터(Faraday rotator) 등을 이용하여 입력편광상태를 조절할 수 있다.

결과적으로 본 발명은 얻어낸와를 가지고 [수학식2]와 [수학식4]를 이용하여 수치적으로 잔여 응력과 포토일래스틱 효과를 얻을 수 있게 되었다.

부가적으로, 본 발명의 씨씨디 카메라 어레이의 사용 시, 씨씨디 커버 글래스를 제거하여 센서 어레이와 커버 글래스 사이의 간섭현상을 제거한다.

한편, 본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시 예에 관해서 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도내에서 여러 가지 변형이 가능함을 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어서 자명하다 할 것이다.

이상으로 살펴본 바와 같이, 기존의 측정 방법을 이용한 광섬유 잔여 응력 측정은 몇몇 논문에서 발표되었으나, 정밀도가 떨어지고 상업화에 접합지 못했다. 본 발명에 따른 측정 장치는 보다 정밀하고, 실용성 있게 측정할 수 있게 되었으며, 본 발명에 따른 측정 장치를 이용하여 저 손실, 고 품질의 광섬유를 제작할 수 있게 되었다.

Claims

광섬유의 잔여 응력 및 포토일래스틱 효과를 측정하기 위한 장치에 있어서,

광원(10);

상기 광원(10)으로 부터 방출된 빛의 공간적 코히어런스를 억제하여 완전 산란시킴으로서, 시간적으로 평균화된 균일한 이미지를 제공하기 위한 회전성 광 방산기(12);

상기 회전성 광 방산기(12)를 통과한 빛을 광섬유에 정렬하기 위한 콜렉팅 렌즈(14);

상기 콜렉팅 렌즈(14)로부터 정렬된 입력 빛의 편광상태를 선형적으로 조절하기 위한 복굴절 변환수단(16);

상기 복굴절 변환수단(16)을 지난 빛을 광섬유(F)가 놓인 위치에 집광하기 위한 광 집광기(18);

상기 복굴절 변환수단(16)으로부터 방출된 빛이 광섬유(F)를 투과함으로서, 상기 광섬유(F)를 통과한 빛의 편광상태를 세기분포로 전환시키는 고정 편광기(20);

상기 광섬유(F)를 투과한 빛의 세기분포를 갖는 확대된 광섬유 이미지를 얻기 위한 대물 렌즈(24); 및

상기 광섬유(F)에 가해진 투과 변화를 위치에 따라서 측정하는 장치(26)를 포함함을 특징으로 하는 측정장치.
제1항에 있어서, 상기 광원(10)은 헬륨네온 레이져나 아르곤 이온 레이져와 같은 단파장에 가까운 광원을 사용함을 특징으로 하는 측정장치.
제1항에 있어서, 상기 선형 복굴절 변환수단(16)은

회전 편광기(16a); 및

상기 회전 편광기(16a)와 이격되게 배치되는 파판(16b)으로 구성되어짐을 특징으로 하는 측정 장치.
제3항에 있어서, 상기 파판은 1/4파판으로 구성되어짐을 특징으로 하는 측정 장치.
제1항에 있어서, 상기 고정 편광기(20)에 광섬유(F)를 밀착시키기 위하여 마이크로스코프 슬라이드 글래스 커버(S)를 더 제공하는 구성임을 특징으로 하는 측정 장치.
제1항에 있어서, 상기 콜렉팅 렌즈(14)와 복굴절 변환수단(16) 사이에 미러(M1)가 더 구비되어짐을 특징으로 하는 측정 장치.
제1항에 있어서, 상기 대물 렌즈(24)와 광섬유에 가해진 투과변화를 위치에따라 측정하는 장치(26)사이에 미러(M2)가 더 구비되어짐을 특징으로 하는 측정 장치.
제1항에 있어서, 상기 광섬유(F)에 인장 장치(22)가 더 구비되어짐을 특징으로 하는 측정 장치.
제1항에 있어서, 상기 회전 광 방산기는 1000rpm 이상으로 회전함을 특징으로 하는 측정 장치.
광섬유의 잔여 응력 및 포토일래스틱 효과를 측정하기 위한 방법에 있어서,

회전 편광기와 1/4파판으로 구성된 선형 복굴절 변환장치를 이용하여 광섬유에 입사하는 빔의 편광상태를 선형적으로 복굴절시키고, 광섬유 인장장치를 이용하여 광섬유를 인장시켜가면서 CCD 카메라 어레이에 검출되는 빔의 투과율 변화 데이터를 수집하고, 수집된형태의 투과율 변화 데이터와 상기 측정된 인장력을 가지고 하기 [수학식5]에 따라 주어진값에 대한 정확한 인장에 의한 위상 변화와, 잔여 응력에 의해 유도되는 위상 변화를 얻는 측정 방법.

은 광섬유의 인장에 의한 인장률(strain),는 잔여 응력에 의해 유도되는 위상변화를 ,는 광섬유의 외부적인 인장에 의한 위상변화이다.
제10항에 있어서, 상기 얻어낸 인장에 의한 위상 변화와 잔여 응력에 의해 유도되는 위상 변화를 가지고, 하기 [수학식6]와 [수학식8]의 아벨 변환식을 이용하여 수치적으로 잔여 응력과 포토일래스틱 효과를 얻는 측정 방법.

은 잔여 응력,는 유리의 포토일래스틱 계수(photoelastic coefficient)이고,는 영 계수(Young's modulus),는 광섬유의 외경,은 광섬유의 반경 좌표,는 광섬유를 통과하는 빛의 광섬유 중심으로부터의 거리이다.