KR20020015641A - 전자식 타임스위치의 릴레이 테스트 장치 및 방법 - Google Patents

전자식 타임스위치의 릴레이 테스트 장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 전자식 타임스위치의 릴레이 테스트 장치 및 방법에 관한 것으로, 특히 통전시각이외에도 타임스위치의 정상적인 동작 여부를 확인할 수 있도록 한 전자식 타임스위치의 릴레이 테스트 장치 및 방법에 관한 것이다. 이를 위하여 본 발명은 동작 스위치의 온/오프 상태를 제어신호로 입력받는 중앙 처리부와; 상기 중앙 처리부의 출력 신호를 구동신호로 입력받아 제어신호를 출력하는 제어부와; 상기 제어부의 출력 신호에 따라 온/오프되어 상기 외부 전력기기에 전류공급을 제어하는 릴레이부와; 상기 릴레이부의 온/오프 횟수를 카운팅하는 카운터부와; 상기 제어부의 제어신호를 입력받아 그에 따른 릴레이부의 테스트 결과를 표시하는 상태 표시부로 구성된 것을 특징으로 한다. 따라서 본 발명은 릴레이부의 테스트를 함에 있어, 별도의 외부 시험장비가 필요함에 따른 불편함과 단품으로만 테스트가 가능함에 따른 전자식 타임스위치 테스트 장치에서는 테스트를 할수 없던 것을 동작 스위치를 온/오프하여 중앙처리기에서 릴레이부를 테스트함으로써, 상기 외부 시험장비를 마련해야 하는 불편함을 해소하는 효과가있다.

Description

전자식 타임스위치의 릴레이 테스트 장치 및 방법{APPARATUS AND METHOD OF RELAY TEST OF ELECTRONIC TIME SWITCH}
본 발명은 전자식 타임스위치의 릴레이 테스트 장치 및 방법에 관한 것으로, 특히 전자식 타임스위치의 릴레이의 온/오프 동작시험을 외부에 별도의 시험장비를 갖추지 않고 테스트할 수 있도록 한 전자식 타임스위치의 릴레이 테스트 장치 및 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 심야 전력 부하에 연결되어 일정 시간동안 전기공급에 사용되는 전자식 타임스위치의 심야전력기기는 설정된 시간에따라 릴레이가 온/오프되어 설정된 시간에 자동적으로 부하를 제어한다.
도 1은 일반적인 전자식 타임 스위치의 전력기기 테스트 장치의 구성을 보인 블록도로서, 이에 도시한 바와 같이 상기 외부 전력기기를 테스트를 위해 동작 스위치를 온시키면 사용자가 동작 스위치의 온/오프 동작 상태를 제어신호로 입력받는 중앙 처리부(11)와; 상기 중앙 처리부(11)의 출력 신호를 구동신호로 입력받아 제어신호를 출력하는 제어부(12)와; 상기 제어부(12)의 출력 신호에 따라 온/오프되어 상기 외부 전력기기에 전류공급을 제어하는 릴레이부(14)와; 상기 제어부의 제어신호를 입력받아 그에 따른 상태를 표시하는 상태 표시부(13)로 구성된 것을 특징으로 한다.
상기 릴레이부(14)는 상기 중앙 처리부(11)의 중앙 처리기(11b)의 출력을 입력받는 제1 제어부(12a)에 의해 온/오프된다.
이때, 제2 제어부(12b)는 상기 중앙 처리부(11)의 시각 저장용 메모리부(11c)의 출력을 입력받아 상태표시부(13)의 화면 표시부 및 발광 표시부(13a, 13b)로 출력하여 상기 전자식 타임스위치에 의해 심야 전력기기를 테스트 한 결과 상태를 표시한다.
상기와 같이 동작하는 종래 전자식 타임스위치 테스트 장치의 상기 릴레이부(14)의 오동작을 방지하기 위해서는 그 릴레이부(14)의 테스트를 위해 외부 시험장비와 릴레이 단품으로 회로를 구성후 외부 시험 장비에서 원하는 시간주기와 원하는 상기 테스트 횟수를 설정후 전원을 인가하여 그 릴레이부(14)를 테스트한다.
그러나, 상기와 같이 동작하는 종래 기술에 있어서 릴레이 테스트는 별도의 외부 시험장비가 필요함에 따른 불편함과 단품으로만 테스트가 가능함에 따른 전자식 타임스위치 테스트 장치에서는 테스트를 할수 없는 문제점이 있었다.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 창안한 것으로, 외부에 별도의 시험장비를 마련해야 하는 불편함을 해소하는 것으로 상기 타임스위치 완제품 자체로서, 별도의 시험장비가 필요없이 그 타임스위치의 릴레이 자체 테스트를 실시할 수 있는 전자식 타임스위치의 릴레이 테스트 장치 및 방법을 제공함에 그 목적이 있다.
도 1은 일반적인 전자식 타임 스위치의 전력기기 테스트 장치의 구성을 보인 블록도.
도 2는 본 발명 전자식 타임스위치의 릴레이 테스트 장치의 구성을 보인 블록도.
도 3은 본 발명 전자식 타임스위치의 릴레이 테스트 방법을 보인 흐름도.
** 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 **
11: 중앙처리부 11a: 타이머부
11b: 중앙처리기 11c: 시각 저장용 메모리부
11d: 화면표시 데이터 메모리부 12: 제어부
12a: 제1 제어부 12b: 제2 제어부
13: 상태 표시부 13a: 화면 표시부
13b: 발광 표시부 14: 릴레이부
15: 카운터부 16: 출력부
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 동작 스위치의 온/오프 상태를 제어신호로 입력받는 중앙 처리부와; 상기 중앙 처리부의 출력 신호를 구동신호로 입력받아 제어신호를 출력하는 제어부와; 상기 제어부의 출력 신호에 따라 온/오프되어 상기 외부 전력기기에 전류공급을 제어하는 릴레이부와; 상기 릴레이부의 온/오프 횟수를 카운팅하는 카운터부와; 상기 제어부의 제어신호를 입력받아 그에 따른 릴레이부의 테스트 결과를 표시하는 상태 표시부로 구성된 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 동작 스위치의 온,오프를 판단하는 제1 과정과; 상기 동작스위치가 온 되었을시 현재 테스트 모드인가를 판단하는 제2 과정과; 상기 제2 과정의 판단결과 현재 테스트 모드이면 동작스위치 입력을 무효처리하여 릴레이부 테스트모드를 해제하고 상기 제1 과정을 반복 수행하는 제3 과정과; 상기 현재 테스트 모드가 아니면 릴레이부의 이상유무를 판단하는 상기 릴레이부 테스트모드를 셋팅하고 지정한 횟수만큼 상기 릴레이부 테스트를 실행했는지 판단하는 제4 과정과; 상기 지정한 횟수만큼 테스트를 실행했으면 테스트 완료 및 최종횟수를 표시하는 제5 과정과; 상기 지정한 횟수만큼 릴레이부 테스트를 실행하지 않았다면 카운터개수 1씩 증가시키고 상기 제4 과정을 반복 수행하는 제6 과정으로 이루어진 것을 특징으로 한다.
이하, 본 발명에 따른 일실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 발명 전자식 타임스위치의 릴레이 테스트 장치의 구성을 보인 블록도로서, 이에 도시된 바와 같이 동작 스위치의 온/오프 상태를 제어신호로 입력받는 중앙 처리부(11)와; 상기 중앙 처리부(11)의 출력 신호를 구동신호로 입력받아 제어신호를 출력하는 제어부(12)와; 상기 제어부(12)의 출력 신호에 따라 온/오프되어 상기 외부 전력기기에 전류공급을 제어하는 릴레이부(14)와; 상기 릴레이부(14)의 온/오프 횟수를 카운팅하는 카운터부(15)와; 상기 제어부(12)의 제어신호를 입력받아 그에 따른 상기 릴레이부(14)의 테스트 결과를 표시하는 상태 표시부(13)로 구성된 것을 특징으로 한다.
도 3은 본 발명 전자식 타임스위치의 릴레이 테스트 방법을 보인 흐름도로서, 이에 도시한 바와 같이 동작 스위치의 온,오프를 판단하는 제1 과정(S31)과; 상기 동작스위치가 온 되었을시 현재 테스트 모드인가를 판단하는 제2 과정(S32)과; 상기 제2 과정(S32)의 판단결과 현재 테스트 모드이면 동작스위치 입력을 무효처리하여 릴레이부 테스트모드를 해제하고(S38) 상기 제1 과정(S31)을 반복 수행하는 제3 과정(S39)과; 상기 현재 테스트 모드가 아니면 릴레이부의 이상유무를 판단하는 상기 릴레이부 테스트모드를 셋팅하고(S33) 지정한 횟수만큼 상기 릴레이부 테스트를 실행했는지 판단하는 제4 과정(S35)과; 상기 지정한 횟수만큼 테스트를 실행했으면 테스트 완료 및 최종횟수를 표시하는 제5 과정(S36)과; 상기 지정한 횟수만큼 릴레이부 테스트를 실행하지 않았다면 카운터개수 1씩 증가시키고 상기 제4 과정(S35)을 반복 수행하는 제6 과정(S40)으로 이루어진 것으로, 이와 같이 구성된 본 발명의 동작을 설명하면 다음과 같다.
먼저, 타임스위치의 릴레이부(14)를 테스트 하기위해 동작스위치의 온/오프 상태를 판단하여(S31) 동작스위치를 누르면 중앙처리기(11b)는 그 스위치 입력을받은 시점에서 제1 제어부(12a)를 통해 그 릴레이부(14)를 온시킴과 동시에 타이머부(11a)를 가동 시킨다.
이때, 카운터부(15)는 상기 릴레이부의 테스트한 횟수를 1씩 증가시키며 카운팅하고, 그 카운팅된 횟수는 시각 저장용 메모리부(11c)에 저장된다.
상기와 같은 동작을 하는중에 상기 타이머부(11a)에서 지정한 시간이 되면 상기 중앙 처리기(11b)는 다시 상기 릴레이부(14)를 온하게 된다.
이렇듯 상기 타이머부(11a)에서 지정한 시간마다 상기 중앙처리기(11b)가 제1 제어부(12a)를 통해 상기 릴레이부(14)를 온/오프함과 아울러, 상기 카운터부(15)는 1씩 증가하고, 그 횟수를 상기 시각 저장용 메모리부(11c)에 저장하면서 지정한 횟수 만큼을 반복 실행한다.(S40)
즉, 현재 테스트 모드 인가를 판단하여(S32) 테스트 모드가 아니면 상기 릴레이 테스트 모드를 셋팅하여(S33) 상기 타이머부(11a)를 가동하고, 시각 저장용 메모리부(11c)의 내용은 테스트 모드임을 표시하기 위한 화면표시 데이터 메모리부(11d)의 내용과 함께 제2 제어부(12b)를 통해 화면표시부(13a)에 표시하며 발광표시부(13b)의 테스트 발광다이오드를 온시킨다.(S34)
그러나, 상기 현재 테스트 모드상태면 상기 릴레이부(14)를 오프시키고(S37), 상기 타이머부(11a)를 정지시키며 상기 화면 표시부에 테스트 및 횟수표시를 하지 않고, 또한, 발광표시부(13b)도 테스트 발광다이오드를 오프시켜 상기 릴레이 테스트 모드를 해제시킨다.(S38, S39)
상기와 같은 과정에 따라 지정한 횟수만큼 상기 릴레이 테스트를 반복 실행했는지를 판단하여, 상기 릴레이 테스트가 완료되면 상기 중앙처리기(11b)는 상기 타이머부(11a) 동작을 중단하고, 상기 화면표시부(13a)는 테스트 완료표시와 함께 상기 테스트를 실행한 최종 횟수가 표시되며 이때, 상기 발광표시부(13b)의 상기 테스트 발광다이오드는 오프상태가 된다.(S36, S37)
반면, 상기 판단 결과 지정한 횟수만큼 상기 테스트를 실행하지 않았다면 상기 카운터부(15)는 상기 릴레이부(14)의 테스트 카운팅을 1씩 증가시키면서 그 지정한 횟수까지 상기 릴레이부 테스트모드를 반복 수행한다.(S40)
상기와 같은 동작의 테스트 완료시 최종 실행한 횟수인 상기 화면표시부(13a)에 표시된 횟수와 상기 카운터부(15)에 표시된 횟수가 같다면 상기 릴레이부(14)는 정상적으로 온/오프 동작을 지정한 횟수 만큼 실행한 것이 된다.
이상에서 상세히 설명한 바와 같이 본 발명은 릴레이부의 테스트를 함에 있어, 별도의 외부 시험장비가 필요함에 따른 불편함과 단품으로만 테스트가 가능함에 따른 전자식 타임스위치 테스트 장치에서는 테스트를 할수 없던 것을 동작 스위치를 온/오프하여 중앙처리기에서 릴레이부를 테스트함으로써, 상기 외부 시험장비를 마련해야 하는 불편함을 해소하였다.
따라서, 상기 타임스위치 완제품 자체로서, 별도의 시험장비가 필요없이 그 타임스위치의 릴레이 자체 테스트를 실시할 수 있는 효과가 있다.

Claims (6)

  1. 동작 스위치의 온/오프 상태를 제어신호로 입력받는 중앙 처리부와; 상기 중앙 처리부의 출력 신호를 구동신호로 입력받아 제어신호를 출력하는 제어부와; 상기 제어부의 출력 신호에 따라 온/오프되어 상기 외부 전력기기에 전류공급을 제어하는 릴레이부와; 상기 릴레이부의 온/오프 횟수를 카운팅하는 카운터부와; 상기 제어부의 제어신호를 입력받아 그에 따른 릴레이부의 테스트 결과를 표시하는 상태 표시부로 구성된 것을 특징으로 하는 전자식 타임스위치의 릴레이 테스트 장치.
  2. 제1 항에 있어서, 상기 중앙 처리부는 사용자의 동작 스위치 조작으로 일정 시간동안 릴레이가 온/오프되도록 시각을 설정하는 타이머부와; 상기 타이머부의 설정된 시각동안 상기 릴레이의 테스트의 횟수를 기 저장하는 시각 저장용 메모리부와; 상기 테스트 횟수와 테스트 결과를 메모리하여 제어부로 출력하는 화면 표시 데이터 메모리부와; 상기 중앙처리부의 전체를 제어 관리하며 제어부로 출력신호를 출력하는 중앙처리기로 구성된 것을 특징으로 하는 전자식 타임스위치의 릴레이 테스트 장치.
  3. 동작 스위치의 온,오프를 판단하는 제1 과정과; 상기 동작스위치가 온 되었을시 현재 테스트 모드인가를 판단하는 제2 과정과; 상기 제2 과정의 판단결과 현재 테스트 모드이면 동작스위치 입력을 무효처리하여 릴레이부 테스트모드를 해제하고 상기 제1 과정을 반복 수행하는 제3 과정과; 상기 현재 테스트 모드가 아니면 릴레이부의 이상유무를 판단하는 상기 릴레이부 테스트모드를 셋팅하고 지정한 횟수만큼 상기 릴레이부 테스트를 실행했는지 판단하는 제4 과정과; 상기 지정한 횟수만큼 테스트를 실행했으면 테스트 완료 및 최종횟수를 표시하는 제5 과정과; 상기 지정한 횟수만큼 릴레이부 테스트를 실행하지 않았다면 카운터개수 1씩 증가시키고 상기 제4 과정을 반복 수행하는 제6 과정으로 이루어진 것을 특징으로 하는 전자식 타임스위치의 릴레이 테스트 방법.
  4. 제3 항에 있어서, 상기 제3 과정의 릴레이 테스트모드 해제는 릴레이가 오프되고 타이머가 중지되며 화면 표시부에 그 릴레이의 테스트 횟수를 표시하지 않고 그 릴레이 테스트 발광다이오드가 오프되는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 전자식 타임스위치의 릴레이 테스트 방법.
  5. 제3 항에 있어서, 상기 제4 과정의 릴레이 테스트모드 셋팅은 타이머부가 가동되며 화면 표시부에 그 릴레이 테스트모드와 테스트 횟수를 표시하고 발광다이오드가 온되는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 전자식 타임스위치의 릴레이 테스트 방법.
  6. 제3 항에 있어서, 상기 테스트 최종 횟수와 카운터 개수가 같다면 릴레이는 정상적으로 온/오프 동작을 지정한 횟수 만큼 실행한 것으로 판단할 수 있는 것을특징으로 하는 전자식 타임스위치의 릴레이 테스트 방법.
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CN117079699A (zh) * 2023-07-20 2023-11-17 重庆蓝鲸智联科技有限公司 一种识别u盘设备的测试装置及测试方法

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103823128B (zh) * 2012-11-16 2016-12-21 苏州工业园区世纪福科技有限公司 一种定制化电子产品的fct/ict综合测试装置
CN105425077A (zh) * 2015-12-10 2016-03-23 国网四川省电力公司电力科学研究院 一种便携式数字继电保护测试仪

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101499997B1 (ko) * 2009-09-08 2015-03-09 현대자동차주식회사 릴레이 검사 장치 및 그의 구동 방법
CN117079699A (zh) * 2023-07-20 2023-11-17 重庆蓝鲸智联科技有限公司 一种识别u盘设备的测试装置及测试方法

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