KR200189323Y1

KR200189323Y1 - Apparatus for testing data driver ic using pdp

Info

Publication number: KR200189323Y1
Application number: KR2019990029921U
Authority: KR
Inventors: 오태훈
Original assignee: 엘지전자주식회사
Priority date: 1999-12-28
Filing date: 1999-12-28
Publication date: 2000-07-15

Abstract

본 고안은 FPC 모듈의 성능, 내압 검사 등이 용이하고 휴대에 편리성을 제공토록 한 PDP용 데이터 드라이버 IC의 테스트 장치에 관한 것으로서, 이러한 본 고안은, 상용 교류 전원을 공급해주는 전원 입력부, 교류 전원을 정류하여 일정 레벨의 직류 전압으로 만들어 출력하는 정전압부, 전원 입력부에서 얻어지는 교류전압으로 직류 고전압을 생성하여 출력하는 직류 고전압 발생부, 정전압부에서 출력되는 정전압으로 발진을 하여 테스트에 필요한 클럭을 생성하는 클럭 발생부, 테스트를 위한 신호를 입력하는 신호 입력부, 정전압부 및 직류 고전압 발생부에서 각각 발생된 전압을 입력받아 신호입력부에서 입력된 신호에 대응하는 테스트를 수행하는 시험 모듈, 시험 모듈에 의해 테스트된 결과치를 표시해주는 복수개의 발광 다이오드로 이루어진 표시부로 데이터 드라이버 IC의 테스트 장치를 구현함으로써, FPC 모듈의 성능 검사에 정확성을 부여할 수 있으며, 테스트 장치의 휴대가 가능하다.The present invention relates to a test apparatus for a data driver IC for a PDP that is easy to check the performance, breakdown voltage, and the like of the FPC module, and the present invention provides a power input unit and an AC power supply for supplying commercial AC power. To generate a DC voltage of a certain level by rectifying the output voltage, a DC high voltage generator that generates and outputs a DC high voltage using the AC voltage obtained from the power input unit, and oscillates to a constant voltage output from the constant voltage unit to generate a clock required for the test. A test module for receiving a voltage generated by a clock generator, a signal input unit for inputting a signal for testing, a constant voltage unit and a DC high voltage generator, and performing a test corresponding to the signal input from the signal input unit, and a test module A display made up of multiple light emitting diodes that display the tested results By implementing the test device of the data driver IC, accuracy can be given to the performance test of the FPC module, and the test device can be carried.

Description

Apparatus for testing data driver IC using PDP}

본 고안은 PDP용 데이터 드라이버 IC(FPC 모듈)의 테스트 장치에 관한 것으로, 특히 FPC 모듈의 성능, 내압 검사 등이 용이하고 휴대에 편리성을 제공토록 한 PDP용 데이터 드라이버 IC의 테스트 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a test apparatus for a data driver IC (FPC module) for a PDP, and more particularly, to a test apparatus for a data driver IC for a PDP, which facilitates the performance, the breakdown voltage inspection, and the like of the FPC module and provides convenience. .

일반적으로, PDP용 데이터 드라이버 IC(FPC 모듈)의 경우, 패키지 형태(Package Type)의 칩(Chip)을 보드에 실장하는 형태로 주로 사용되었으나, 근래에는 코스트 저감(Cost Down), 실장 면적 감소, 성능 개선의 목적으로 Bare Chip을 직접 보드에 실장하는 형태로 개발되고 있다.In general, the data driver IC (FPC module) for PDP has been mainly used in the form of mounting a chip in a package type on a board, but in recent years, cost reduction, reduction in mounting area, For the purpose of improving performance, Bare Chip is being developed by directly mounting on the board.

첨부한 도면 도 1은 종래의 PDP용 데이터 드라이버 IC(FPC 모듈)의 테스트 장치를 보인 도면이다.1 is a view showing a test apparatus of a conventional data driver IC (FPC module) for a PDP.

도시된 바와 같이, 데이터 드라이버 IC(1)와, 상기 데이터 드라이버 IC(1)의 소켓(Socket) 역할을 하는 프로브 카드(Probe Card)(2)와, 상기 프로브 카드(2)와 상기 데이터 드라이버 IC(1)를 접속하기 위한 두 개의 점프 와이어(Jump Wire)(3a)(3b)와, 상기 데이터 드라이버 IC(1)각 입출력 포트를 컨트롤하고, 테스트 결과를 워크스테이션(5)에 전달하는 테스트 장비(ADVANTEST T3347A)(4)와, 상기 테스트 장비(4)와 연결되고, 데이터 드라이버 IC(1)의 테스트에 관한 전체 컨트롤을 수행하고, 테스트 결과치를 디스플레이 해주는 상기 워크스테이션(5)으로 구성된다.As shown, a data driver IC 1, a probe card 2 serving as a socket of the data driver IC 1, the probe card 2 and the data driver IC. Two jump wires (3) (3b) for connecting (1), and test equipment for controlling each input / output port of the data driver IC (1) and transmitting test results to the workstation (5). (ADVANTEST T3347A) 4, and the workstation 5, which is connected to the test equipment 4, performs overall control on the test of the data driver IC 1, and displays the test result value.

이와 같이 구성된 종래의 PDP용 데이터 드라이버 IC 테스트 장치는, 먼저 프로브 카드(2)와 데이터 드라이버 IC(1)를 두 개의 점프 와이어(3a)(3b)로 연결한다. 여기서 하나의 점프 와이어(3a)는 테스트할 데이터 및 제어신호를 상기 데이터 드라이버 IC(1)에 입력시키기 위한 데이터 입력용 점프 와이어이고, 나머지 다른 하나의 점프 와이어(3b)는 상기 데이터 드라이버 IC(1)에서 출력되는 데이터를 상기 프로브 카드(2)에 전달해주기 위한 데이터 출력용 점프 와이어이다.The conventional data driver IC test apparatus for the PDP configured as described above first connects the probe card 2 and the data driver IC 1 with two jump wires 3a and 3b. Here, one jump wire 3a is a data input jump wire for inputting data and control signals to be tested to the data driver IC 1, and the other jump wire 3b is the data driver IC 1. ) Is a jump wire for data output for transferring data output from the probe card 2 to the probe card 2.

전술한 바와 같이 두 개의 점프 와이어(3a)(3b)로 데이터 드라이버 IC(1)와 프로브 카드(2)를 접속시킨 후, 테스트 장비(4)에 전원을 공급하고, 워크스테이션(5)에 데이터 드라이버 IC(1)를 테스트하기 위한 제어신호 및 제어 데이터를 상기 테스트 장비(4)로 전달한다.As described above, after the data driver IC 1 and the probe card 2 are connected with two jump wires 3a and 3b, power is supplied to the test equipment 4, and the data to the workstation 5 is supplied. The control signal and control data for testing the driver IC 1 are transmitted to the test equipment 4.

여기서, 상기 워크스테이션(5)에는 상기 데이터 드라이버 IC(1)를 테스트하기 위한 테스트 벡터 패턴 데이터(Test Vector Pattern Data)가 내장되어 있다.Here, the workstation 5 includes test vector pattern data for testing the data driver IC 1.

상기 테스트 장비(4)는 상기 워크스테이션(5)에서 출력되는 제어신호 및 제어 데이터를 상기 프로브 카드(2)에 전달하고, 프로브 카드(2)는 입력용 점프 와이어(3a)를 통해 해당 제어신호 및 제어 데이터를 데이터 드라이버 IC(1)에 전달한다.The test equipment 4 transmits a control signal and control data output from the workstation 5 to the probe card 2, and the probe card 2 receives a corresponding control signal through an input jump wire 3a. And control data to the data driver IC 1.

그런 후 데이터 드라이버 IC(1)를 통해 출력되는 데이터는 데이터 출력용 점프 와이어(3b)를 통해 상기 프로브 카드(2)에 전달되고, 프로브 카드(2)는 이를 테스트 장비(4)에 전달한다.Then, the data output through the data driver IC 1 is transmitted to the probe card 2 through the data output jump wire 3b, and the probe card 2 transmits it to the test equipment 4.

이러한 과정으로 데이터 드라이버 IC(1)를 테스트하며, 그 테스트 결과는 상기 워크스테이션(5)에 전달되고, 워크스테이션(5)은 이를 모니터에 디스플레이 해준다.In this process, the data driver IC 1 is tested, and the test result is transmitted to the workstation 5, which displays the monitor on the monitor.

그러면 검사자는 상기 모니터에 디스플레이되는 데이터를 보고 데이터 드라이버 IC의 상태를 인식하게 된다.The inspector then sees the data displayed on the monitor to recognize the state of the data driver IC.

그러나 이러한 종래의 데이터 드라이버 IC 테스트 장치는, 프로브 카드와 데이터 드라이버 IC를 점프 와이어로 연결하게 되는 데, 이때 점프 와이어의 접속 불 량이 자주 발생하게 되며, 이 경우 데이터 드라이버 IC의 테스트가 불가능해지는 문제점을 유발한다.However, such a conventional data driver IC test apparatus connects a probe card and a data driver IC with a jump wire. This often occurs, which causes the problem that the data driver IC cannot be tested.

즉, FPC 모듈의 출력단은 동박(Pad)만 있고, 이 동박면은 다른 FPC와 연결이 되며, 연결되어지는 FPC는 출력으로 커넥터를 사용한다. 이 커넥터에서 프로빙 카드로의 연결은 점프 와이어를 사용하게 되며, 이때 커넥터의 각각의 핀과 점프 와이어를 연결하는 데 시간과 고도의 접속(납땜)기술이 요구되며, 커넥터 핀의 피치(Pitch)가 협소하고, 납땜이 잘 안되는 관계로 접속 불량이 발생하며, 그 외에 쇼트 등의 현상이 발생하게 된다.That is, the output terminal of the FPC module has only a copper foil, and the copper foil surface is connected to another FPC, and the connected FPC uses a connector as an output. The connection from this connector to the probing card uses a jump wire, which requires time and advanced soldering techniques to connect each pin and jump wire of the connector. Due to the narrowness and poor soldering, poor connection occurs, and in addition, a phenomenon such as a short occurs.

또한, 테스트 장비가 고가라는 단점도 있고, 테스트 장비가 무겁고 커서 휴대가 불가능한 단점도 있었다.In addition, there is a disadvantage that the test equipment is expensive, there is also a disadvantage that the test equipment is heavy and not portable.

또한, 데이터 드라이버 IC에 고급되는 고전압(High Voltage)을 테스트 장비가 인가해주지 못하는 단점이 있었다.In addition, the test equipment could not apply the high voltage (Advanced High Voltage) to the data driver IC.

따라서 본 고안은 상기와 같은 종래 데이터 드라이버 IC 테스트 장치에서 발생하는 제반 문제점을 해결하기 위해서 제안된 것으로서,Therefore, the present invention is proposed to solve various problems occurring in the conventional data driver IC test apparatus as described above.

본 고안의 목적은, FPC 모듈의 성능, 내압 검사 등이 용이하고 휴대에 편리성을 제공토록 한 PDP용 데이터 드라이버 IC의 테스트 장치를 제공하는 데 있다.It is an object of the present invention to provide a test apparatus for a data driver IC for a PDP, which facilitates the performance of the FPC module, the breakdown voltage inspection, and the like, and provides portability.

좀 더 상세하게는, 휴대가 가능하며, 데이터 드라이버 IC의 내부 기본 동작 및 기능 검사가 가능하고, 출력포트의 인접 패턴 단락(short) 검사가 가능하며, 고 전압에 대한 내압 검사가 가능하고, 저주파 클럭 인가시 각 입력에 대한 포트의 출력 순차(sequence) 검사가 가능토록 한 데이터 드라이버 IC의 테스트 장치를 제공하는 데 있다.More specifically, it is portable, allows the internal basic operation and function test of the data driver IC, the short pattern test of the adjacent pattern of the output port, the breakdown voltage test for high voltage, and the low frequency. The present invention provides a test device for a data driver IC that allows the output sequence check of a port for each input when a clock is applied.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 고안은,The present invention for achieving the above object,

데이터 드라이버 IC의 테스트 장치에 있어서,In the test apparatus of the data driver IC,

상용 교류 전원을 공급해주는 전원 입력 수단과;Power input means for supplying commercial AC power;

상기 전원 입력 수단을 통해 입력되는 상용 교류 전원을 정류하여 일정 레벨의 직류 전압으로 만들어 출력하는 정전압 수단과;A constant voltage means for rectifying the commercial AC power input through the power input means to make a DC voltage of a predetermined level and outputting the same;

상기 전원 입력 수단에서 얻어지는 전압으로 직류 고전압을 생성하여 출력하는 직류 고전압 발생수단과;DC high voltage generating means for generating and outputting a DC high voltage with the voltage obtained from the power input means;

상기 정전압 수단에서 출력되는 정전압으로 발진을 하여 테스트에 필요한 클럭을 생성하는 클럭 발생수단과;Clock generation means for generating a clock necessary for a test by oscillating with a constant voltage output from said constant voltage means;

상기 테스트를 위한 신호를 입력하는 신호 입력 수단과;Signal input means for inputting a signal for the test;

상기 정전압 수단 및 직류 고전압 발생수단에서 각각 발생된 전압을 입력받아 신호입력부에서 입력된 신호에 대응하는 테스트를 수행하는 시험 모듈과;A test module for receiving a voltage generated by the constant voltage means and the DC high voltage generating means, and performing a test corresponding to the signal input from the signal input unit;

상기 시험 모듈에 의해 테스트된 결과치를 표시해주는 복수개의 발광 다이오드로 이루어진 표시수단으로 이루어짐을 특징으로 한다.Characterized in that the display means consisting of a plurality of light emitting diodes for displaying the result value tested by the test module.

도 1은 종래 PDP용 데이터 드라이버 IC 테스트 장치를 설명하기 위한 도면이고,1 is a view for explaining a data driver IC test apparatus for a conventional PDP,

도 2는 본 고안에 의한 PDP용 데이터 드라이버 IC 테스트 장치의 일 실시예를 보인 도면이다.2 is a view showing an embodiment of a data driver IC test apparatus for a PDP according to the present invention.

＜도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

10 : 전원 입력부 20 : 정전압부10: power input unit 20: constant voltage unit

30 : 직류 고전압 발생부 40 : 클럭 발생부30: DC high voltage generator 40: clock generator

50 : 신호 입력부 60 : 시험 모듈50: signal input unit 60: test module

70 : 표시부70: display unit

이하 상기와 같은 기술적 사상에 따른 본 고안의 바람직한 실시예를 첨부한 도면에 의거 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, described in detail with reference to the accompanying drawings, preferred embodiments of the present invention according to the technical spirit as described above.

첨부한 도면 도 2는 본 고안에 의한 PDP용 데이터 드라이버 IC 테스트 장치의 일 실시예를 보인 도면이다.2 is a view showing an embodiment of a data driver IC test apparatus for a PDP according to the present invention.

여기서, 참조부호 10은 상용 교류 전원을 공급해주는 전원 입력부를 나타내며, 참조부호 20은 상기 전원 입력부(10)를 통해 입력되는 상용 교류 전원을 정류하여 일정 레벨의 직류 전압으로 만들어 출력하는 정전압부를 나타내며, 참조부호 30은 상기 전원 입력부(10)에서 얻어지는 전압으로 직류 고전압을 생성하여 출력하는 직류 고전압 발생부를 나타낸다.Here, reference numeral 10 denotes a power input unit for supplying commercial AC power, and reference numeral 20 denotes a constant voltage unit for rectifying the commercial AC power input through the power input unit 10 to make a DC voltage of a predetermined level and outputting the same. Reference numeral 30 denotes a DC high voltage generator that generates and outputs a DC high voltage using the voltage obtained by the power input unit 10.

또한, 참조부호 40은 상기 정전압부(20)에서 출력되는 정전압으로 발진을 하여 테스트에 필요한 클럭을 생성하는 클럭 발생부를 나타내며, 참조부호 50은 상기 테스트를 위한 신호를 입력하는 신호 입력부를 나타낸다.Also, reference numeral 40 denotes a clock generator for generating a clock required for the test by oscillating with the constant voltage output from the constant voltage unit 20, and reference numeral 50 denotes a signal input unit for inputting a signal for the test.

참조부호 60은, 상기 정전압부(20) 직류 고전압 발생부(30)에서 각각 발생된 전압을 입력받아 신호입력부에서 입력된 신호에 대응하는 테스트를 수행하는 시험 모듈을 나타내며, 참조부호 70은 상기 시험 모듈(60)에 의해 테스트된 결과치를 표시해주는 복수개의 발광 다이오드(LED1 ~ LEDn)로 이루어진 표시부를 나타낸다.Reference numeral 60 denotes a test module which receives the voltage generated by the constant voltage unit 20 and the DC high voltage generator 30 and performs a test corresponding to the signal input from the signal input unit, and reference numeral 70 denotes the test. A display is made up of a plurality of light emitting diodes (LED1 to LEDn) that display the results tested by the module 60.

이와 같이 구성된 본 고안에 따른 PDP용 데이터 드라이버 IC 테스트 장치는, 먼저 전원 입력부(10)에서 전원 스위치(SW1)를 온 시키면, 입력되는 교류 전원(AC)을 트랜스(T1)를 통해 2차측으로 유기시켜 정전압부(20) 및 직류 고전압 발생부(30)에 각각 인가한다.In the PDP data driver IC test apparatus configured as described above, when the power switch SW1 is turned on at the power input unit 10, the AC power input is induced to the secondary side through the transformer T1. To the constant voltage unit 20 and the DC high voltage generator 30, respectively.

상기 정전압부(20)는 일차적으로 반파 정류 다이오드(D1)로 인가되는 교류 전원을 반파 정류하고, 콘덴서(C1)로 평활 시킨 후, 그 평활된 직류 전압을 정전압기(21)로 일정 레벨을 갖는 정전압으로 만들어 클럭 발생부(40) 및 시험 모듈(60) 에 전달한다.The constant voltage unit 20 first rectifies the AC power applied to the half-wave rectifying diode D1 by half-wave rectifying and smoothing it with the capacitor C1, and then smoothes the smoothed DC voltage with the constant voltage 21 having a predetermined level. The clock generator 40 and the test module 60 are made constant. To pass on.

한편, 상기 직류 고전압 발생부(30)에 전달되는 전압은 각각의 저항(R1)(R2)을 통한 후 커플링 콘덴서(C4)를 통해 직류 성분이 제거되고, 다이오드(D2)로 반파 정류되어 직류 고전압(60V)으로 만들어 상기 시험 모듈(60)에 공급한다.On the other hand, the voltage transmitted to the DC high voltage generator 30 is through the respective resistors (R1) (R2) and then the DC component is removed through the coupling capacitor (C4), half-wave rectified by the diode (D2) DC The high voltage (60V) is made and supplied to the test module 60.

그리고, 클럭 발생부(40)는 전압 분배 저항(R6)(R7)으로 상기 정전압부(20)에서 출력되는 정전압을 분압하고, 연산 증폭기(OP1)에서 그 분압 전압과 반전단자(-)로 입력되는 전압과의 차전압을 증폭하여 클럭(CLK : 10Hz ~ 20MHz)으로 상기 시험 모듈(60)에 공급해준다.The clock generator 40 divides the constant voltage output from the constant voltage unit 20 by voltage division resistors R6 and R7, and inputs the divided voltage and the inverting terminal (−) from the operational amplifier OP1. The voltage difference between the voltage and the amplified voltage is supplied to the test module 60 at a clock (CLK: 10 Hz to 20 MHz).

여기서, 콘덴서(C3)는 저주파 대역에서 동작하기 위해서 용량이 큰 것을 사용하며, 가변 저항(R9)은 발진 클럭을 가변 시키기 위해서 사용된다.Here, the capacitor C3 uses a large capacitor to operate in the low frequency band, and the variable resistor R9 is used to vary the oscillation clock.

이와 같이 드라이버 IC를 테스트하기 위한 모든 조건(전원 및 클럭)을 갖춘 후, 신호 입력부(50)를 통해 테스트하고자 하는 신호를 시험 모듈(60)에 입력하고, 아울러 스위치(SW2)를 조작하여 기본 기능 테스트를 위한 하이신호 또는 로우신호를 상기 시험 모듈(60)에 인가하게 되며, 상기 시험 모듈(60)은 그에 대응하는 드라이버 테스트를 수행한다.After all the conditions (power supply and clock) for testing the driver IC are completed, the signal to be tested is input to the test module 60 through the signal input unit 50, and the switch SW2 is operated to perform basic functions. A high signal or a low signal for a test is applied to the test module 60, and the test module 60 performs a corresponding driver test.

여기서, 시험 모듈(60)은, 데이터 드라이버 IC의 내부 기본 동작 검사, 즉 하이신호를 입력하여 그 출력이 하이신호가 되는지, 또는 로우신호를 입력하여 그 출력이 로우신호가 되는지에 대한 기본 동작 및 기능을 검사하고, 출력 포트의 인접 패턴 단락(short) 여부를 검사하며, 직류 고전압(60V)에 대한 데이터 드라이버 IC의 내압 검사를 수행하고, 저주파 클럭 인가시 각 입력에 대한 출력 포트의 출력 순서를 검사한다.Here, the test module 60 checks the internal basic operation of the data driver IC, i.e., the basic operation of inputting a high signal and outputting the high signal, or inputting a low signal and outputting the low signal. Checks the function, checks whether the output port is adjacent pattern short, checks the breakdown voltage of the data driver IC for DC high voltage (60V), and checks the output order of the output port for each input when applying low frequency clock. Check it.

그리고 그 결과치, 즉 표시 제어신호를 표시부(70)로 전달한다.The resultant value, that is, the display control signal is transmitted to the display unit 70.

그러면 표시부(70)는 복수개의 발광다이오드(LED1 ~ LEDn)로 상기 표시 제어신호에 따라 선택적으로 발광 또는 오프되어 해당 테스트 결과치를 표시해주게 된다.Then, the display unit 70 selectively emits or turns off the plurality of light emitting diodes LED1 to LEDn according to the display control signal to display corresponding test result values.

이상에서 상술한 바와 같이 본 고안 'PDP용 데이터 드라이버 IC 테스트 장치'에 따르면, 점프 와이어를 사용하지 않고 테스트 회로 및 PCB를 제작(PCB 패턴으로 대체)하기 때문에 기존과 같이 점프 와이어의 접속 불량으로 인해 발생하는 제반 문제점을 해소시킬 수 있는 이점이 있다.As described above, according to the present invention 'data driver IC test apparatus for PDP', since the test circuit and the PCB are manufactured (replaced with PCB patterns) without using the jump wire, due to the poor connection of the jump wire as before. There is an advantage that can solve all the problems that occur.

또한, 간단한 회로 구성에 의해 데이터 드라이버 IC의 테스트 장비를 가볍게 구현할 수 있으므로 휴대가 가능한 이점도 있다.In addition, the test circuit of the data driver IC can be lightly implemented by a simple circuit configuration, which is portable.

또한, 데이터 드라이버 IC의 다른 테스트 샘플을 교환하는 시간이 단축되므로, 전체적인 데이터 드라이버 IC의 테스트 시간을 단축할 수 있는 이점이 있다.In addition, since the time for exchanging other test samples of the data driver IC is shortened, there is an advantage that the test time of the overall data driver IC can be shortened.

또한, 직류 고전압 발생부에 의해서 직류 고전압의 발생이 가능하므로, 직류 고전압에 대한 내압 검사도 용이하게 수행할 수 있는 이점이 있다.In addition, since the DC high voltage can be generated by the DC high voltage generator, there is an advantage that the withstand voltage test for the DC high voltage can be easily performed.

Claims

In the test apparatus of the data driver IC,

Power input means for supplying commercial AC power;

Constant voltage means for rectifying AC power supplied through the power input means to make a DC voltage of a predetermined level and outputting the same;

DC high voltage generating means for converting and outputting the AC voltage obtained by the power input means into DC high voltage;

Clock generation means for generating a clock necessary for a test by oscillating with a constant voltage output from said constant voltage means;

Signal input means for inputting a signal for the test;

A test module for receiving a voltage generated by the constant voltage means and the DC high voltage generating means, and performing a test corresponding to the signal input from the signal input unit;

And a display means comprising a plurality of light emitting diodes for displaying the result values tested by the test module.

2. The clock generating means according to claim 1, wherein the clock generating means comprises: a divider resistor (R6) and a divider (R7) for dividing the constant voltage inputted therein, a variable resistor (R9) for varying the frequency of the oscillation clock finally outputted; A capacitor C3 for providing a voltage varying by the resistor R9 as the oscillation voltage, and the voltage obtained by the capacitor C3 is input to the inverting terminal (-), and the distribution resistors R6 and R7 are received. After receiving the voltage divided by the non-inverting terminal (+), the data of the PD for amplifying the difference voltage of the two terminals (+,-) and the oscillation clock provided to the test module as an op amp Driver IC test device.

2. The signal input device of claim 1, wherein the signal input means comprises an on / off switch for inputting a high signal or a low signal to the test module for checking a basic function of a data driver IC. Data driver IC test device for CD.

2. The data driver IC test apparatus according to claim 1, wherein the DC high voltage generating means performs a test by rectifying an input DC voltage and supplying a high voltage.