KR200172727Y1 - 포고 핀 - Google Patents
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Abstract
본 고안은 전기적 특성을 전달하고자 할 때 접촉수단으로 사용되는 포고 핀에 관한 것으로 직접 전기적인 접속을 하는 머리부분은 원뿔형태이며 이동하는 폭반큼 허리부분이 가늘게 형성된 핀과 상기 핀을 감싸고 있는 몸통과, 상기 몸통의 내부 중간에 형성되어 상기 핀이 몸통 외부로 이탈하는 것을 방지하는 빠짐방지 홈과, 상기 몸통의 하부에 위치하여 상기 핀을 지지하여 탄성력을 주는 탄성체로 구성되며 상기 탄성체는 도전성 고무를 사용하여 탄성력의 크기를 쉽게 조절할 수 있고 장기 사용에 의한 탄성력 약화를 방지할 수 있다.
Description
본 고안은 전기적 특성을 전달하고자 할때 접촉수단으로 사용되는 포고 핀에 관한 것으로서, 특히 그 작은 크기의 형체를 가지고도 탄성력의 제약을 받지 않는 포고핀에 관한 것이다.
반도체 생산 공정에서 사용되는 모든 장비는 전기적인 신호를 전달하기 위한 수많은 전선을 가지고 있다. 이러한 장비내부의 한 모듈에서 다른 모듈로 신호를 전달하기 이해서는 반드시 전기적인 접속을 필요로 한다. 그 방법중의 하나가 포고 핀을 이용한 접속방법이다. 포고 핀은 전기적인 접속을 필요로 하는 패드형태와 효과적으로 접속 분리할 수 있는 장치이다.
제1도는 종래의 포고 핀 단면도이다.
종래의 포고 핀은 다른 패드형태의 장비와 직접 전기적인 접속을 하는 머리부분은 원뿔형태이며 이동하는 폭반큼 허리부분이 가늘게 형성된 핀(1)과, 상기 핀(1)을 감싸고 있는 몸통(2)과, 상기 몸통(2)의 내부 중간에 형성되어 상기 핀(1)이 몸통(2) 외부로 이탈하는 것을 방지하는 빠짐방지 홈(3)과, 상기 몸통(2)의 하부에 위치하여 상기 핀(1)를 지지하여 탄성력을 주는 스프링(4)으로 구성된다.
상기 종래의 포고 핀은 핀(1)의 머리부분이 다른 장비의 패드부분과 전기적인 접촉을 유지하도록 하기 위하여 스프링(4)이 탄성력을 제공한다.
그러나 좁고 협소한 부분과의 접속을 위하여 포고 핀을 작게 만들거나 핀이 몸통 내부로 밀려들어가는 간격이 작은 경우에 전기적인 접속이 정확히 이루어지려면 스프링의 굵기나 나선의 수를 조절하여 탄성력을 강화시켜야 하며 오래사용시 스프링의 탄설력이 약해지는 문제점을 가진다.
따라서 본 고안은 상기 문제점을 해결하기 위하여 탄성력을 주는 스프링을 대신하여 도전성 고무를 사용한 포고 핀을 제공하는데 있다.
이하 도면을 참고하여 본 고안을 상세히 설명한다.
제1도는 종래의 포고 핀 단면도.
제2도는 본 고안의 포고 핀 단면도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1,101 : 핀 2,102 : 몸통
3,103 : 핀 빠짐방지 홈 4 : 스프링
104 : 탄성체
제2도는 본 고안에 따른 포고 핀 단면도이다.
본 고안은 포고 핀은 다른 패드형태의 장비와 직접 전기적인 접속을 하는 머리부분은 원뿔형태이며 이동하는 폭반큼 허리부분이 가늘게 형성된 핀(101)과, 상기 핀(101)을 감싸고 있는 몸통(102)과, 상기 몸통(102)의 내부 중간에 형성되어 상기 핀(101)이 몸통(102) 외부로 이탈하는 것을 방지하는 빠짐방지 홈(103)과, 상기 몸통(102)의 하부에 위치하여 상기 핀(101)를 지지하여 탄성력을 주는 탄성체(104)로 구성된다.
상기 본 고안의 포고 핀은 핀(101)의 머리부분이 다른 장비의 패드부분과 전기적인 접촉을 유지하도록 하기 위하여 탄성체(104)를 전도성 고무를 사용한다.
따라서 본 고안의 포고 핀은 탄성력의 크기를 고분자화합물인 고무 등을 특성에 따라 선택하여 탄성체로 사용함으로서 탄성력의 크기를 쉽게 조절할 수 있고 장기 사용에 의한 탄성력 약화를 방지할 수 있다.
Claims (1)
- 전기적 특성을 전달하고자 할 때 접촉수단으로 사용되는 장치중 직접 전기적인 접속을 하는 머리부분은 원뿔형태이며 이동하는 폭반큼 허리부분이 가늘게 형성된 핀과 상기 핀을 감싸고 있는 몸통과, 상기 몸통의 내부 중간에 형성되어 상기 핀이 몸통 외부로 이탈하는 것을 방지하는 빠짐방지 홈과, 상기 몸통의 하부에 위치하여 상기 핀을 지지하여 탄성력을 주는 탄성체로 구성된 포고 핀에 있어서,상기 탄성체가 전도성 고무로 형성된 것이 특징인 포고 핀.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR2019970025828U KR200172727Y1 (ko) | 1997-09-12 | 1997-09-12 | 포고 핀 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR2019970025828U KR200172727Y1 (ko) | 1997-09-12 | 1997-09-12 | 포고 핀 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR19990012704U KR19990012704U (ko) | 1999-04-15 |
| KR200172727Y1 true KR200172727Y1 (ko) | 2000-03-02 |
Family
ID=19510273
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR2019970025828U KR200172727Y1 (ko) | 1997-09-12 | 1997-09-12 | 포고 핀 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR200172727Y1 (ko) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10058379B2 (en) | 2011-06-14 | 2018-08-28 | Jongju Na | Electrically based medical treatment device and method |
| US10869812B2 (en) | 2008-08-06 | 2020-12-22 | Jongju Na | Method, system, and apparatus for dermatological treatment |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101683230B1 (ko) * | 2015-01-20 | 2016-12-07 | 디에스엠 주식회사 | 탄성력이 유지되는 바나나 잭 |
-
1997
- 1997-09-12 KR KR2019970025828U patent/KR200172727Y1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
| US10869812B2 (en) | 2008-08-06 | 2020-12-22 | Jongju Na | Method, system, and apparatus for dermatological treatment |
| US10058379B2 (en) | 2011-06-14 | 2018-08-28 | Jongju Na | Electrically based medical treatment device and method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR19990012704U (ko) | 1999-04-15 |
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