KR200171930Y1 - 전자총용전극의측정지그 - Google Patents

Abstract

음극선관의 전자총용 전극이 지니는 정밀도를 측정하기 위한 측정지그로서, 측정오차의 방지 및 지그 관리상의 문제점을 해소하기 위하여, 전극 통과공 지름에 따라 다단으로 형성된 측정봉과; 이 측정봉을 그 상단면 부착 마련하고 있는 몸체를 포함하여 이루어지는 전자총용 전극 측정지그를 제공하여, 측정작업의 편리함과 측정시간 단축으로 작업성을 향상시킬 수 있는 전자총용 전극 측정지그에 관한 것이다.

Description

전자총용 전극의 측정지그

제 1(a)도, 제 1(b)도는 본 고안에 측정지그를 개략적으로 도시한 사시도.

제 2(a)도, 제 2(b)도는 종래의 측정지그를 개략적으로 도시한 사시도이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : 측정봉 3 : 몸체

[산업상의 이용분야]

본 고안은 전자총용 전극의 측정지그에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 전극의 정밀도 측정을 측정오차없이 용이하게 행할 수 있는 음극선관용 전자총용 전극의 측정지그에 관한 것이다.

[종래의 기술 및 문제점]

일반적으로 음극선관의 전자총에 구비되는 다수의 전극은 그 사용전에 정밀도를 측정하게 되는 바, 이러한 정밀도 측정의 항목으로는 전자빔 통과공의 지름, 진원도와 아울러 전자빔 통과공들의 중심과 중심사이의 거리 즉, 소위 S치 측정등이 있다.

한편, 종래에 이러한 전극의 정밀도를 측정하기 위해 사용되는 측정방식으로는 빛의 투영에 의한 프로젝트 방식과, 일정 지그를 사용하여 상기한 항목을 측정하는 지그 측정방식등이 있다.

그런데 상기한 전극 정밀도 측정방식에 있어서, 상기 프로젝트 측정방식의 경우에는 각 전극마다 소요되는 측정시간이 길 뿐만 아니라 측정자에 의한 측정오차가 다수로 발생하고 있기 때문에 측정작업이 불편하다는 문제점이 내포된다.

또한, 지그 측정방식은 종래의 지그가 제 2(a)도, 제 2(b)도 (이때, 제 2(a)도는 지름, 진원도 측정용 지그, 제 2(b)도는 S치 측정용 지그를 도시한 것임)에서와 같이 1개 전극이 정밀도만을 측정할 수 있도록 단순히 해당 전극의 지름를 갖는 측정봉(1)이 몸체(3)에 부착되어 이루어지고 있는 바, 이를 사용시 생산적용에는 용이한 이점은 있겠으나, 그 지름이 틀린 각 전극의 정밀도를 측정하기 위해서는 해당지름을 갖는 각 지그를 마련하여 사용해야 하기 때문에 상기 지그 측정방식은 지그 관리가 번거로운 문제점을 안게 된다.

따라서, 본 고안은 상기한 종래의 전자총용 전극 측정지그가 안고 있는 문제점을 해결하고자 안출된 것으로서, 하나의 지그로도 다수의 전극 정밀도 측정을 용이하게 실현할 수 있는 전자총용 전극 측정지그를 제공하는 것에 그 목적을 둔다.

[문제점을 해결하기 위한 수단]

이에 따라 본 고안은 상기 목적을 실현하기 위하여, 음극선관용 전극의 정밀도를 측정하는 측정지그에 있어서,

전극 통과공 지름에 따라 다단으로 형성된 측정봉과; 이 측정봉을 그 상단면 부착마련하고 있는 몸체를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 전자총용 전극 측정지그를 제공한다.

[실시예]

이하, 본 고안의 이해을 돕기 위하여 바람직한 실시예를 첨부한 도면과 더불어 상세히 설명하면 다음과 같다.

첨부한 도면 제1도는 본 고안에 의한 측정지그를 도시한 사시도로서, 제 1(a)도는 전극 전자빔의 통과공 지름 측정 및 진원도를 측정하기 위한 측정지그를, 제 1(b)도는 S치를 측정하기 위한 측정지그를 도시한 것이다.

한편, 도면부호에 있어서 종래와 동일한 부분은 편의상 같은 부호를 사용하도록 한다.

도시된 바와 같이 본 고안에 의한 상기 측정지그(G)는 종래와 마찬가지로 몸체(3)의 상단부에 측정봉(1)이 마련되어 있는 바, 이때 상기 측정봉(1)은 1개의 측정전극에 형성된 전자빔 통과공의 지름과 동일한 지름을 가진 하나의 측정봉으로 마련되는 종래와는 달리, 측정하고자하는 해당전극에 형성된 각 통과공의 지름을 각기 보유하면서 형성되게 된다.

이는 즉, 제 1(a)도에 도시된 전극 통과공의 지름 및 진원도를 측정하는 지그(G)에 있어서는 상기한 측정봉(1)을 그 지름의 크기가 각기 다른 제1측정부(11), 제2측정부(12), 제3측정부(13)로 마련하여 이를 상방에서부터 순차적으로 배치형성함으로써 이루게 된다.

이처럼 다단식으로 형성되는 상기 측정봉(1)을 본 실시예에서는 상기 제1측정부(11)가 G1 또는 G2 전극을, 제2측정부(12)는 G3 전극을, 아울러 상기 제3측정부(13)는 G4전극에서 G6전극의 정밀도를 측정할 수 있도록 이에 해당하는 각각의 지름을 부가하여 형성하게 된다.

한편, 이러한 상기 각 측정부(11, 12, 13)는 그 둘레부가 초경금속등으로 이루어지게 된다.

이에 상기와 같이 형성되는 측정지그(G)는 그 사용시에, 먼저 G1 또는 G2 전극의 정밀도를 측정하기 위해서는 이에 해당한 통과공의 지름을 지닌 상기 제1측정부(11)를 사용하여 상기 해당 통과공에 이 제1측정부(11)를 맞춤으로써 그 작업을 이루게 된다.

또한, 이러한 식으로 G3 전극을 측정하기 위해서는 상기 제2측정부(12)를, 그리고 G4에서 G6 전극을 측정하고자 할때에는 상기 제3측정부(13)를 이용하여 측정작업을 이루게 된다.

이로써, 상기 측정지그(G)는 측정 해당전극의 통과공 지름과 진원도를 측정시, 측정전극의 종류가 달라진다 하더라도 상기와 같이 다단으로 형성된 상기 측정봉(1)으로 인하여 하나의 지그(G)로써 다종의 전극을 측정할 수 있는 결과를 지니게 된다.

한편, 해당 전극의 S치를 측정하는 작업은 제 1(b)도에서와 같이 S치 측정지그(G)에 마련된 상기 측정봉(1) 각각을, 전술한 지그(G)의 측정봉(1)과 같이 다단으로 형성하여 행하게 된다.

이때, 그 사용방법 및 효과는 상기한 통과공 지름, 진원도 측정용 지그(G)의 경우와 동일하게 이루어지므로 그 자세한 설명은 생략하도록 한다.

[고안의 효과]

이상에서 알아 본 바와 같이 본 고안에 의한 전자총용 전극 측정지그는, 나의 지그로서 다종류의 전극 정밀도 측정을 이룰 수 있기 때문에 지그의 종류를 감소시켜 부품 관리상의 이점을 지니게 된다.

또한, 전극 하나하나를 다른 지그를 사용하여 측정하는 종래에 비해 측정 작업시간을 단축시킬 수 있게 되므로 그 작업성이 향상되게 된다.

Claims (1)

1. 전자총용 전극의 정밀도를 측정하는 측정지그에 있어서,

   전극 통과공 지름에 따라 다단으로 형성된 측정봉(1)과; 이 측정봉(1)을 그 상단면 부착마련하고 있는 몸체(3)를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 전자총용 전극 측정지그.