KR200169523Y1 - 디바이스 테스트용 소켓 - Google Patents

Abstract

본 고안은 디바이스 테스트용 소켓에 관한 것으로, 종래에는 디바이스의 타입에 따라 또는 디바이스의 리드 길이에 따라 다른 소켓을 사용해야 하고, 동일한 디바이스 타입의 동일한 길이의 리드일 경우에도 디바이스의 크기가 조금씩 달라서 여러 가지 소켓을 사용하여야 하는 불편함이 있었던 바, 본 고안의 디바이스 테스트용 소켓은 소켓 몸체와, 상기 소켓 몸체의 상면에 형성되어 디바이스의 리드와 접촉하도록 하는 소켓핀과, 디바이스를 소켓에 안내하도록 상기 소켓 몸체에 착탈 가능하게 결합되는 가이드와, 상기 소켓 핀이 삽입가능하도록 상기 가이드에 형성된 소켓 핀 홀로 구성됨으로써, 리드의 길이에 관계없이 동일한 타입의 디바이스는 하나의 소켓으로 사용할 수 있고 소켓 핀이 손상되지 않았을 경우에는 가이드를 교환하여 사용함으로써 소켓의 효율성을 증대시킬 수 있게 한 것이다.

Description

디바이스 테스트용 소켓

본 고안은 디바이스 테스트용 소켓에 관한 것으로, 특히 패키지의 크기에 관계없이 사용할 수 있도록 한 디바이스 테스트용 소켓에 관한 것이다.

종래의 소켓은, 도1에 도시한 바와 같이, 소켓 몸체(10a)와, 소켓에 끼워지는 디바이스를 안내하도록 상기 소켓 몸체(10a)의 상면에 형성된 가이드(20a)와, 디바이스의 리드와 접촉하는 소켓 핀(11a)으로 구성된다.

상기 소켓 핀(11a)은 사각형 모양을 이루는 다수개의 소켓 핀으로 구성되고, 상기 가이드(20a)는 사각형 모양의 상기 소켓 핀(11a)의 4개의 모서리에 형성되는 4개의 가이드로 구성된다.

상기와 같은 구성의 종래의 소켓은 소켓 뚜껑(미도시됨)을 열거나 소켓 측면을 눌러 소켓 핀(11a)을 노출시키고 나서 디바이스 리드를 소켓 핀에 정확히 접촉시킨다.

이후, 소켓 뚜껑을 닫거나 소켓 측면을 누르던 것을 놓는다.

상기 가이드(20a)는 디바이스 리드가 소멧 핀에 정확히 접촉되도록 하는데 아주 중요한 역할을 한다.

그러나, 상기와 같은 종래의 소켓은 디바이스의 타입에 따라 각각 다른 형상의 소켓을 사용하여야 하고, 동일한 디바이스 타입이라 하더라도 리드의 길이에 의하여 구분이 되며, 동일한 디바이스 타입의 동일한 길이의 리드일 경우에도 디바이스의 크기가 조금씩 달라서 여러 가지 소켓을 사용하여야 하는 불편함이 있었다.

또한, 가이드(20a)의 가이드가 마모 등에 의해서 닿게 되면 디바이스의 리드가 소켓 핀에 정확히 접촉되지 않아서 소켓을 사용하지 못하는 경우가 생기는 문제점이 있었던바, 이에 대한 보완이 요구되어 왔다.

따라서, 본 고안은 상기와 같은 문제점을 감안하여 안출한 것으로써, 소켓의 몸체의 상면에 별도의 착탈가능한 가이드를 결합시킴으로써, 디바이스의 리드 길이에 따라 여러 가지 소켓을 구매할 필요가 없으며 가이드가 마모되면 교환하여 소켓을 사용할 수 있는 디바이스 테스트용 소켓을 제공하는데 그 목적이 있다.

도1은 종래의 소켓을 도시한 사시도.

도2는 본 고안의 디바이스 테스트용 소켓을 도시한 분해 사시도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 소켓 몸체 11 : 소켓 핀

12 : 가이드 핀 20 : 가이드

21 : 가이드 핀 홈 22 : 소켓 핀 홀

23 : 안내돌기 24 : 경사안내면

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 다수개의 소켓 핀이 구비되고 상면에 다수개의 가이드 핀이 돌출 형성되는 소켓 몸체와, 상기 각 소켓 핀이 삽입 안내되는 소켓 핀 홀이 형성됨과 아울러 상기 가이드 핀이 삽입 안내되는 가이드 핀 홈이 형성되며 상면 네 모서리에는 디바이스를 안내하는 경사안내면을 가지는 안내돌기가 형성된 단일 판상의 가이드로 구성된 것을 특징으로 하는 디바이스 테스트용 소켓이 제공된다.

이하, 본 고안의 디바이스 테스트용 소켓을 첨부한 도면을 참조로 하여 상세히 설명하면 다음과 같다.

본 고안의 디바이스 테스트용 소켓은, 도 2에 도시한 바와 같이, 소켓 몸체(10)의 상면에 디바이스의 리드와 접촉하도록 하는 소켓 핀(11)이 형성되고, 디바이스를 소켓에 안내하도록 하는 가이드(20)가 상기 소켓 몸체(10)에 착탈가능하게 결합된다.

상기 가이드(20)는 단일 판상으로 형성되며, 상기 소켓 핀(11)이 삽입 안내되는 소켓 핀 홀(22)이 형성된다.

또한, 상기 소켓 몸체(10)의 상면에는 원통형의 가이드 핀(12)이 형성되고, 상기 가이드(20)의 하면에는 상기 가이드 핀(12)이 삽입가능하도록 가이드 핀 홈(21)이 형성된다.

상기 소켓 핀(11)은 사각형 모양으로 형성된 다수개의 소켓 핀으로 구성된다.

상기 가이드 핀(12)은 상기 사각형 모양의 소켓 핀(11)의 4개의 모서리에 설치되는 4개의 가이드 핀으로 구성된다.

상기 가이드(20)는 소켓 몸체(10)와 별도로 제작된 것으로, 하면에 형성된 가이드 핀 홈(21)에 상기 소켓 몸체(10)의 상면에 형성된 가이드 핀(12)을 삽입시킴으로써 소켓 몸체(10)와 결합한다.

상기 가이드(20)의 상면 네 모서리에는 디바이스를 안내하는 경사안내면(24)을 가지는 안내돌기(23)가 일체로 형성된다.

상기와 같이 소켓 몸체(10)와 가이드(20)가 결합하게 되면 상기 소켓 핀(11)이 소켓 핀 홀(22)에 삽입하게 되는데, 이와 같이 삽입된 소켓 핀(11)은 여러 가지 길이의 디바이스 리드와 접촉할 수 있도록 그 길이를 충분히 길게 하는 것이 바람직하다.

또한, 상기 소켓 핀 홀(22)은 소켓 몸체(10)와 동일한 재질로 구성하여 가이드(20)의 인장 특성을 향상시켜 가이드(20)의 깨어짐 등을 방지한다.

상기와 같은 구성의 디바이스 테스트용 소켓은 한 개의 소켓 몸체(10)에 여러가지의 가이드(20)를 교체하여 사용할 수 있으므로, 동일한 타입의 디바이스는 디바이스의 리드 길이에 따라 여러 가지 사양의 소켓을 구매해야 할 필요가 없으며, 오랜 사용으로 가이드(20)가 마모되면 가이드(20)만을 교환하여 소켓 몸체(10)에 끼워 계속적으로 소켓을 사용할 수 있게 된다.

또한 상기 가이드 핀(12)은 소켓 몸체(10)에 고정된 상태로 돌출 형성되는 것으로 소켓 몸체(10)와 가이드(20)의 착탈시 일일이 삽입하는 것이 아니라 각 가이드 핀 홈(21)에 대한 가이드 핀(12)의 삽입 및 인출이 동시에 이루어지게 되는 것이다.

또한 상기 가이드 핀(12)ㅘ 가이드 핀 홈(21)은 소켓 몸체(10)와 가이드(20)의 제작 과정에서 정해지는 것이므로 소켓 몸체(10)와 가이드(20)의 결합 위치가 항상 정확하게 유지될 뿐만 아니라 단일 판상의 가이드(20)에 경사안내면(24)을 가지는 안내돌기(23)이 형성되어 있으므로 경사안내면(24)이 항상 정확한 위치에서 디바이스를 안내하게 되어 디바이스의 리드와 소켓 핀(11)의 접촉이 항상 정확한 위치에서 원활하게 이루어지게 되는 것이다.

본 고안의 디바이스 테스트용 소켓에 의하면 리드의 길이에 관계없이 동일한 타입의 디바이스는 하나의 소켓으로 사용할 수 있고, 소켓 핀이 손상되지 않았을 경우에는 가이드를 교환하여 사용함으로써 소켓의 효율성을 증대시킬 수 있는 효과가 있다. 또한 본 고안에서는 가이드가 단일 판상으로 형성됨과 아울러 소켓 몸체의 네 모서리에는 각각 가이드 핀이 돌출 형성되고 가이드에는 상기 가이드 핀이 삽입되는 가이드 핀 홈이 형성되어 있어 가이드 핀을 가이드 핀 홈에 삽입하거나 인출하는 단 한번의 작업으로 가이드의 소켓 몸체에 착탈할 수 있으므로 소켓 몸체에 대한 가이드의 착탈 작업의 원터치식으로 매우 간편하게 이루어지게 되는 효과가 있다.

Claims (1)

1. 다수개의 소켓 핀(11)이 구비되고 상면에 다수개의 가이드 핀(12)이 돌출 형성되는 소켓 몸체(10)와, 상기 각 소켓 핀(11)이 삽입 안내되는 소켓 핀 홀(22)이 형성됨과 아울러 상기 가이드 핀(12)이 삽입 안내되는 가이드 핀 홈(21)이 형성되며 상면비 모서리에는 디바이스를 안내하는 경사안내판(24)을 가지는 안내돌기(23)가 형성된 단일 판상의 가이드(20)로 구성된 것을 특징으로 하는 디바이스 테스트용 소켓.