KR20010096336A - 불량품 관리장치 및 불량품 관리방법 - Google Patents

불량품 관리장치 및 불량품 관리방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20010096336A
KR20010096336A KR1020000020426A KR20000020426A KR20010096336A KR 20010096336 A KR20010096336 A KR 20010096336A KR 1020000020426 A KR1020000020426 A KR 1020000020426A KR 20000020426 A KR20000020426 A KR 20000020426A KR 20010096336 A KR20010096336 A KR 20010096336A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
defective
defective product
inspection
pcb
memory
Prior art date
Application number
KR1020000020426A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100369832B1 (ko
Inventor
허종욱
Original Assignee
윤종용
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 윤종용, 삼성전자 주식회사 filed Critical 윤종용
Priority to KR10-2000-0020426A priority Critical patent/KR100369832B1/ko
Publication of KR20010096336A publication Critical patent/KR20010096336A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100369832B1 publication Critical patent/KR100369832B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06Q—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G06Q50/00—Information and communication technology [ICT] specially adapted for implementation of business processes of specific business sectors, e.g. utilities or tourism
    • G06Q50/04—Manufacturing
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/14—Digital output to display device ; Cooperation and interconnection of the display device with other functional units
    • G06F3/147—Digital output to display device ; Cooperation and interconnection of the display device with other functional units using display panels
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N7/00—Television systems
    • H04N7/002—Special television systems not provided for by H04N7/007 - H04N7/18

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Business, Economics & Management (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Tourism & Hospitality (AREA)
  • General Business, Economics & Management (AREA)
  • Marketing (AREA)
  • Primary Health Care (AREA)
  • Strategic Management (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Economics (AREA)
  • Human Resources & Organizations (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

본 발명은, 비젼검사장치로부터의 검사결과에 의해 불량 판정을 받은 불량품을 관리하며, 불량품을 수용하는 적어도 하나의 수용부가 형성된 수용버퍼와, 상기 수용버퍼의 일측에 설치되어 상기 수용부내에 불량품이 수용되어 있는지 여부를 검출하는 검출센서를 포함하는 불량품 관리장치 및 불량품 관리방법에 관한 것이다. 본 관리장치는, 상기 비젼검사장치로부터 불량품 판정을 받은 불량품의 검사결과와, 상기 불량품이 수용된 상기 수용버퍼에 대한 정보가 저장된 메모리와; 상기 메모리에 저장된 불량품의 검사결과를 화상으로 표시하는 모니터와; 상기 불량품의 검사결과를 상기 모니터에 표시되도록 제어하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 의해, 불량PCB의 검사결과를 데이터화하여 생산관리함으로써, 불량률을 저하시킬 수 있다. 또한, 불량품 관리장치로 불량PCB 검사결과를 처리하는 동안에도 비젼검사장치를 통한 검사작업을 수행할 수 있으므로 비젼검사장치의 작업효율이 향상된다.

Description

불량품 관리장치 및 불량품 관리방법{MANAGING APPARATUS AND METHOD FOR HINDRANCE ARTICLE}
본 발명은 불량품 관리장치 및 불량품 관리방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 불량품의 검사결과를 데이터화하여 불량률을 저하시키도록 한 불량품 관리장치 및 불량품 관리방법에 관한 것이다.
일반적으로 불량품 관리장치는, 도 5에 도시된 바와 같이, PCB의 부품실장상태와 납땜상태 등을 검사하기 위한 비젼검사장치(130)로부터 불량판정을 받은 PCB가 적재되며, 비젼검사장치(130)와 불량품 관리장치(101) 사이에는 PCB를 이송하기 위한 컨베이어(120)가 설치되어 있다.
비젼검사장치(130)는, PCB의 검사를 위한 검사프로그램과 검사데이터가 저장된 메모리(135)와, PCB를 촬상하는 CCD카메라(139)와, 카메라(139)에 촬상된 PCB 영상을 메모리(135)에 저장된 검사프로그램과 검사데이터를 인출하여 검사하는 화상데이터처리부(131)와, 검사결과에 따라 컨베이어(120)의 작동을 제어하고 각종 데이터의 인출 및 저장을 제어하는 제어부(133)와, 검사결과를 외부로 표시하는 모니터(137)를 포함한다.
불량품 관리장치(101)는, 비젼검사장치(130)와 통신가능하게 연결되어 있으며, 비젼검사장치(130)에서 불량판정을 받은 PCB는 컨베이어(120)에 의해 불량품 관리장치(101)로 이송된다. 불량품 관리장치(101)에는 불량PCB(102)를 적재하는 수용버퍼(103)가 설치되어 있으며, 수용버퍼(103)에는 상하방향을 따라불량PCB(102) 적재용 수용부(105)가 다수개 형성되어 있다. 수용부(105)에는 불량PCB(102)의 적재 유무를 검출하기 위한 검출센서(111)가 설치되어 있으며, 검출센서(111)는 빛을 발광하는 발광부(113)와, 발광부(113)로부터의 빛을 수광하는 수광부(115)로 형성되어 수용부(105)의 상호 대향되는 양측 내벽에 설치되어 있다. 그리고, 비젼검사장치(130)를 이용한 검사후 불량PCB(102)를 수용버퍼(103)에 적재하면, 비젼검사장치(130)의 메모리(135)에는 불량PCB(102)의 검사결과와 수용부(105)의 위치가 함께 저장되게 된다.
이러한 구성에 의하여, 종래에 PCB를 검사하는 과정은, 먼저, 컨베이어(120)로 이송된 PCB를 CCD카메라(139)로 촬상하며, 화상데이터처리부(133)는 메모리(135)로부터의 검사프로그램 및 검사데이터를 기준으로 PCB의 영상을 처리하여 PCB의 양호 및 불량을 판단하게 된다. 이 때, 양호 판정을 받은 PCB는 컨베이어(120)에 의해 타 작업장으로 이송되며, 불량판정을 받은 불량PCB(102)는 불량품 관리장치(101)로 이송되어 수용버퍼(103)내의 수용부(105)에 수용되게 된다.
PCB 검사작업이 완료되거나 수용버퍼(103)내에 일정 수 이상의 불량PCB(102)가 적재되면, 검사자는 불량PCB(102)를 수용부(105)로부터 인출하여 불량PCB(102)를 수리가능한지 아니면 폐기처분할 것인지를 파악하는 관리작업을 수행하게 된다. 이 때, 불량PCB(102)를 수용부(105)로부터 인출하면, 제어부(133)는 검출센서(111)로부터의 검출결과에 의해 몇 번째 수용부(105)로부터 불량PCB(102)가 인출되었는지를 파악하고, 모니터(137)에 해당 불량PCB(102)의 검사결과를 표시하게 된다. 예를 들어, 3번 수용부(105a)로부터 불량PCB(102a)를 인출하면, 3번검출센서(111a)의 수광부(115a)에 발광부(113a)로부터의 빛이 수광되고, 이에 따라, 제어부(133)는 3번 수용부(105a)로부터 불량PCB(102a)가 인출되었음을 감지하고, 메모리(135)로부터 해당 불량PCB(102a)의 검사결과를 인출하여 모니터(137)에 디스플레이하게 된다. 그러면, 검사자는 모니터(137)에 나타난 검사결과와 3번 수용부(105a)로부터 인출한 실제 불량PCB(102)를 비교하여 판단하게 된다.
그런데, 이러한 종래의 불량품 관리장치(101)에서는, 불량PCB를 적재하고 불량PCB(102)의 인출시 이상부위를 디스플레이하게 된다. 따라서, 불량품 관리장치(101)는 불량PCB(102)를 잠시동안 적재하는 적재함의 역할을 할 뿐, 불량PCB(102)의 검사결과를 데이터화하여 생산공정에 반영하는 생산관리 작업은 전혀 이루어지지 못하였다.
한편, 검사자가 불량PCB(102)를 수용부(105)로부터 인출하여 검사결과를 점검하는 경우, 비젼검사장치(130)의 메모리(135)로부터 불량PCB(102)의 검사결과에 관한 데이터가 인출되어 비젼검사장치(130)의 모니터(137)로 디스플레이된다. 따라서, 검사자가 적재된 불량PCB(102)에 대한 정보를 비젼검사장치(130)의 모니터(137)를 통해 확인하는 작업을 하기 위해서는 비젼검사를 위한 모드에서 불량품 관리를 위한 모드로 전환하여야 하므로 작업이 번거롭다. 또한, 불량PCB(102)의 관리작업을 동안에는 비젼검사장치(130)를 이용하여 검사작업을 수행할 수 없으므로, 비젼검사장치(130)의 작업효율이 저하된다는 문제점이 있다.
따라서 본 발명의 목적은, 불량품의 검사결과를 데이터화하여 생산공정에 반영하고, 비젼검사장치의 작업효율을 향상시킬 수 있도록 하는 불량품 관리장치를 갖는 불량품 관리장치 및 불량품 관리방법을 제공하는 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 불량품 관리장치의 구성도,
도 2는 도 1의 불량품 관리장치의 제어블럭도,
도 3은 도 2의 제어블럭도의 제어에 따른 불량품 검사흐름도,
도 4는 도 2의 제어블럭도의 제어에 따른 불량정보 가공흐름도,
도 5는 종래의 불량품 관리장치의 구성도이다.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
1 : 불량품 관리장치 3 : 수용버퍼
5 : 수용부 11 : 검출센서
13 : 발광부 15 : 수광부
20 : 컨베이어 30 : 비젼검사장치
31 : 화상데이터처리부 33 : 제1제어부
35 : 제1메모리 37 : 제1모니터
39 : CCD카메라 41 : 불량정보처리부
43 : 제2제어부 45 : 제2메모리
47 : 제2모니터
상기 목적은, 본 발명에 따라, 비젼검사장치로부터의 검사결과에 의해 불량 판정을 받은 불량품을 관리하며, 불량품을 수용하는 적어도 하나의 수용부가 형성된 수용버퍼와, 상기 수용버퍼의 일측에 설치되어 상기 수용부내에 불량품이 수용되어 있는지 여부를 검출하는 검출센서를 포함하는 불량품 관리장치에 있어서, 상기 비젼검사장치로부터 불량품 판정을 받은 불량품의 검사결과와, 상기 불량품이 수용된 상기 수용버퍼에 대한 정보가 저장된 메모리와; 상기 메모리에 저장된 불량품의 검사결과를 화상으로 표시하는 모니터와; 상기 불량품의 검사결과를 상기 모니터에 표시되도록 제어하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 불량품 관리장치에 의해 달성된다.
여기서, 상기 메모리에 저장된 불량품의 검사결과를 데이터화하는 불량정보처리부를 더 포함하며, 상기 불량정보처리부에서는 불량품의 불량영역과 불량빈도를 포함하는 불량정보를 생성함으로써, 불량품의 검사결과를 생산공정에 반영할 수 있다.
상기 제어부는 상기 불량정보처리부에서 불량품 검사결과를 처리하여 생성된 불량정보를 상기 모니터에 표시하도록 하는 것이 바람직하다.
한편, 상기 목적은, 본 발명의 다른 실시예에 따르면, 비젼검사장치로부터의 검사결과에 의해 불량 판정을 받은 불량품이 적재되는 수용버퍼를 갖는 불량품 관리장치에 있어서, 상기 불량품의 검사결과를 데이터화하여 불량정보를 생성하는 불량정보처리부와; 상기 불량정보처리부에서 생성된 불량정보를 저장하는 메모리를 포함하는 것을 특징으로 하는 불량품 관리장치에 의해서도 달성된다.
여기서, 상기 수용버퍼내에 수용된 불량품의 불량영역을 표시하는 모니터와, 상기 메모리에 저장된 불량정보를 상기 모니터에 표시하는 제어부를 더 포함함으로써, 불량정보를 외부로 표시할 수 있다.
한편, 상기 목적은, 본 발명의 다른 분야에 따르면, 비젼검사장치로부터의 검사결과에 의해 불량 판정을 받은 불량품을 관리하기 위한 불량품 관리방법에 있어서, 검사대상을 비젼검사장치로 검사하는 단계와; 불량판정된 불량품의 검사결과를 데이터화하여 불량정보를 생성하는 단계와; 상기 불량정보를 메모리에 저장하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 불량품 관리방법에 의해서도 달성될 수 있다.
여기서, 상기 불량정보를 필요에 따라 외부로 표시하는 단계를 더 포함하는 것이 바람직하다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명한다.
일반적으로 PCB를 검사하여 관리하는 검사시스템은, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, PCB의 부품실장상태와 납땜상태 등을 검사하기 위한 비젼검사장치(30)와, 비젼검사장치(30)로부터 불량판정을 받은 PCB가 적재되는 불량품 관리장치(1)와, PCB를 이송하기 위한 컨베이어(20)를 포함한다.
비젼검사장치(30)는, PCB의 검사를 위한 검사프로그램과 검사데이터가 저장된 제1메모리(35)와, PCB를 촬상하는 CCD카메라(39)와, CCD카메라(39)에 의해 촬상된 PCB 영상을 제1메모리(35)에 저장된 검사프로그램과 검사데이터를 이용하여 처리하고 PCB의 양부를 판정하는 화상데이터처리부(31)와, 검사결과에 따라 컨베이어(20)의 작동을 제어하는 제1제어부(33)와, 검사결과를 외부로 표시하는 제1모니터(37)를 포함한다.
이러한 비젼검사장치(30)와 통신가능하게 설치된 불량품 관리장치(1)의 컨베이어(20)와 동일 평면상에 연결된 지지판(4)의 상부에는, 종래와 마찬가지로, 불량PCB(2)를 적재하는 수용버퍼(3)가 설치되어 있으며, 수용버퍼(3)에는 상하방향을 따라 불량PCB(2) 적재용 수용부(5)가 다수개 형성되어 있다. 각 수용부(5)에는 불량PCB(2)의 적재 유무를 검출하기 위한 검출센서(11)가 설치되어 있고, 검출센서(11)는 빛을 발광하는 발광부(13)와, 발광부(13)로부터의 빛을 수광하는 수광부(15)로 형성된다. 발광부(13)와 수광부(15)는 각각 수용부(5)의 상호 대향되는 양측 내벽에 설치되어 있다.
불량품 관리장치(1)의 지지판(4) 하부에는, 불량PCB의 검사결과를 가공하여 불량정보를 생성하는 불량정보처리부(41)와, 불량PCB(2)의 검사결과와 불량정보처리부(41)로부터 생성된 불량정보 및 불량정보 처리를 위한 불량정보 가공프로그램을 저장하는 제2메모리(45)와, 검사결과 및 불량정보를 외부로 표시하기 위한 제2모니터(47)와, 검사결과와 불량정보 및 불량정보 가공프로그램을 인출 및 저장하는 제2제어부(43)를 포함한다.
여기서, 제2메모리(45)에는 화상데이터처리부(31)로부터의 불량PCB(2)의 검사결과와 함께 불량PCB(2)가 적재된 수용부(5)의 정보도 함께 저장되어 있으며, 수용부(5)로부터 불량PCB(2)를 수용 및 인출할 경우 제2제어부(43)에서는 수광부(15)의 빛감지 여부에 따라 몇 번째 수용부(5)인지를 감지하게 된다. 예를 들어, 3번 수용부(5a)내의 불량PCB(2a)가 인출될 경우 3번 수용부(5a)에 설치된 검출센서(11a)의 수광부(15a)에서는 불량PCB(2a)의 인출로 인해 발광부(13a)로부터의 빛이 감지되며, 그러면, 제2제어부(43)에서는 제2메모리(45)에 저장된 3번 수용부(5a)내의 불량PCB(2a)의 검사결과를 제2모니터(47)로 디스플레이하게 된다.
한편, 불량정보처리부(41)에서는 불량PCB(2)의 정보를 가공하여 어느 부위의 불량발생율이 높은지, 불량부품은 무엇인지, 납땜불량인지 부품위치불량인지, 불량종류가 무엇인지 등 각종 불량정보를 데이터화하게 된다. 불량정보처리부(41)에서 처리된 결과는 제2메모리(45)에 저장되며, 외부로부터의 조작에 의해 제2모니터(47)에 디스플레이된다.
이러한 구성에 의한, PCB 검사과정은, 먼저, 비젼검사장치(30)에 컨베이어(20)로 PCB를 이송하면서 시작된다. 이송된 PCB는 CCD카메라(39)로 촬상되며, 제1제어부(33)는 제1메모리(35)로부터의 검사프로그램 및 검사데이터를 기준으로 CCD카메라(39)를 이동시켜 PCB를 촬상하게 된다. 촬상된 PCB의 영상은 화상데이터처리부(31)로 전달되어 PCB의 양호 및 불량을 판단되며, 이 때, 양호 판정을 받은 PCB는 컨베이어(20)에 의해 타 작업장으로 이송되고, 불량판정을 받은 불량PCB(2)는, 도 3에 도시된 바와 같이, 불량품 관리장치(1)로 이송되어 수용버퍼(3)내의 수용부(5)에 수용되게 된다(S1).
불량PCB(2)가 수용버퍼(3)내의 임의의 수용부(5)내에 수용되면,제2제어부(43)에서는 수용부(5)내에 설치된 검출센서(11)에 의해 몇 번째 수용부(5)내에 불량PCB(2)가 수용되는지를 감지하고, 불량PCB(2)가 수용된 수용부(5)에 대한 정보와 화상데이터처리부(31)로부터 전달받은 불량PCB(2)의 검사결과를 제2메모리(45)에 함께 저장시키게 된다(S2). 여기서, 불량PCB(2)의 검사결과는 텍스트 및/또는 화상으로 저장될 수 있다. 비젼검사장치(30)를 이용한 검사중이나 검사완료시 검사자는 언제라도 불량PCB(2)를 인출하여 관리작업을 수행하게 되며, 이 때, 불량PCB(2)가 수용버퍼(3)로부터 인출되면(S3), 제2제어부(43)는 인출된 불량PCB(2)의 수용부(5)를 식별한다(S4). 그리고, 제2제어부(43)는 해당 불량PCB(2)에 대한 검사결과를 제2메모리(45)로부터 인출하여 제2모니터(47)에 디스플레이하게 된다(S5). 그러면, 검사자는 불량PCB의 불량상태를 확인하여 수리 또는 폐기처분하게 된다.
한편, 불량PCB(2)가 수용부(5)에 수용되고, 불량PCB(2)에 대한 검사결과가 축적되면, 불량PCB(2)에 대한 검사결과를 가공할 수 있게 된다. 외부로부터 불량정보 처리를 명령하는 신호가 입력되거나 미리 설정된 불량PCB(2)의 검사결과가 일정 이상 축적되면(S7), 불량정보처리부(41)에서는 제2메모리(45)에 저장된 검사결과와 가공프로그램을 인출하여 불량PCB(2)의 검사결과를 가공하여 불량정보를 생성하게 된다(S8). 불량정보는, 불량률이 높은 영역 및 부품, 불량종류 등을 포함하게 되며, 생성된 불량정보는 다시 제2메모리(45)에 저장된다. 저장된 불량정보는, 검사자의 외부조작에 따라, 제2메모리(45)로부터 인출되어 인출하여 제2모니터(47)에 디스플레이된다(S9). 그러면, 검사자는 제2모니터(47)에 디스플레이된 불량정보에 나타난 불량원인을 분석하여 작업장상의 문제점이나 부품의 문제점을 개선하게 된다.
이와 같이, 본 발명에서는 불량품 관리장치(1)에 별도의 모니터와 메모리 및 제어부를 마련하여 불량PCB(2)의 검사결과를 별도로 관리하고, 불량정보처리부(41)를 마련하여 불량PCB(2)의 검사결과를 데이터화한 불량정보를 생성하여 생산관리에 반영하도록 하고 있다. 이에 따라, 불량PCB(2)의 검사결과를 데이터화하여 불량정보를 생성함으로써, 검사자가 불량원인을 용이하게 파악할 수 있게 된다. 따라서, 불량원인에 따라 적절히 대처할 수 있으므로 불량율을 현저하게 감소시킬 수 있게 된다.
또한, 본 발명에서는 불량품 관리장치(1)의 제2모니터(47)에 불량PCB(2) 검사결과를 디스플레이시킴으로써, 불량PCB(2)의 검사결과를 관리하는 중에도 비젼검사장치(30)를 이용하여 PCB를 검사할 수 있으므로 비젼검사장치(30)의 작업효율이 향상된다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 불량PCB의 검사결과를 데이터화하여 생산관리함으로써, 불량률을 저하시킬 수 있다. 또한, 불량품 관리장치로 불량PCB 검사결과를 처리하는 동안에도 비젼검사장치를 통한 검사작업을 수행할 수 있으므로 비젼검사장치의 작업효율이 향상된다.

Claims (8)

  1. 비젼검사장치로부터의 검사결과에 의해 불량 판정을 받은 불량품을 관리하며, 불량품을 수용하는 적어도 하나의 수용부가 형성된 수용버퍼와, 상기 수용버퍼의 일측에 설치되어 상기 수용부내에 불량품이 수용되어 있는지 여부를 검출하는 검출센서를 포함하는 불량품 관리장치에 있어서,
    상기 비젼검사장치로부터 불량품 판정을 받은 불량품의 검사결과와, 상기 불량품이 수용된 상기 수용버퍼에 대한 정보가 저장된 메모리와;
    상기 메모리에 저장된 불량품의 검사결과를 화상으로 표시하는 모니터와;
    상기 불량품의 검사결과를 상기 모니터에 표시되도록 제어하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 불량품 관리장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 메모리에 저장된 불량품의 검사결과를 데이터화하는 불량정보처리부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 불량품 관리장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 불량정보처리부에서는 불량품의 불량영역과 불량빈도를 포함하는 불량정보를 생성하는 것을 특징으로 하는 불량품 관리장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 제어부는 상기 불량정보처리부에서 불량품 검사결과를 처리하여 생성된 불량정보를 상기 모니터에 표시하는 것을 특징으로 하는 불량품 관리장치.
  5. 비젼검사장치로부터의 검사결과에 의해 불량 판정을 받은 불량품이 적재되는 수용버퍼를 갖는 불량품 관리장치에 있어서,
    상기 불량품의 검사결과를 데이터화하여 불량정보를 생성하는 불량정보처리부와;
    상기 불량정보처리부에서 생성된 불량정보를 저장하는 메모리를 포함하는 것을 특징으로 하는 불량품 관리장치.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 수용버퍼내에 수용된 불량품의 불량영역을 표시하는 모니터와,
    상기 메모리에 저장된 불량정보를 상기 모니터에 표시하는 제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 불량품 관리장치.
  7. 비젼검사장치로부터의 검사결과에 의해 불량 판정을 받은 불량품을 관리하기 위한 불량품 관리방법에 있어서,
    검사대상을 비젼검사장치로 검사하는 단계와;
    불량판정된 불량품의 검사결과를 데이터화하여 불량정보를 생성하는 단계와;
    상기 불량정보를 메모리에 저장하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 불량품 관리방법.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 불량정보를 필요에 따라 외부로 표시하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 불량품 관리방법.
KR10-2000-0020426A 2000-04-18 2000-04-18 불량품 관리장치 및 불량품 관리방법 KR100369832B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2000-0020426A KR100369832B1 (ko) 2000-04-18 2000-04-18 불량품 관리장치 및 불량품 관리방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2000-0020426A KR100369832B1 (ko) 2000-04-18 2000-04-18 불량품 관리장치 및 불량품 관리방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20010096336A true KR20010096336A (ko) 2001-11-07
KR100369832B1 KR100369832B1 (ko) 2003-01-30

Family

ID=19665247

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-2000-0020426A KR100369832B1 (ko) 2000-04-18 2000-04-18 불량품 관리장치 및 불량품 관리방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100369832B1 (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101251852B1 (ko) * 2011-12-27 2013-04-10 삼성전기주식회사 다층인쇄회로기판 불량 검사 방법
KR101887341B1 (ko) * 2017-12-04 2018-08-10 주식회사 솔버스 마스크 팩 이물질 검수 및 종적 관리시스템
KR102369079B1 (ko) * 2020-09-21 2022-03-02 경림테크 주식회사 불량품 관리가 가능한 자동차 램프용 와이어 하네스의 회로 및 실링 검사 시스템

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101251852B1 (ko) * 2011-12-27 2013-04-10 삼성전기주식회사 다층인쇄회로기판 불량 검사 방법
KR101887341B1 (ko) * 2017-12-04 2018-08-10 주식회사 솔버스 마스크 팩 이물질 검수 및 종적 관리시스템
KR102369079B1 (ko) * 2020-09-21 2022-03-02 경림테크 주식회사 불량품 관리가 가능한 자동차 램프용 와이어 하네스의 회로 및 실링 검사 시스템

Also Published As

Publication number Publication date
KR100369832B1 (ko) 2003-01-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5339093A (en) Liquid crystal panel inspection method
KR20100003693A (ko) 결함 검사방법 및 결함 검사장치
EP3499330A1 (en) Management system, management device, management method, and program
JP2010117285A (ja) 基板の欠陥検査装置
KR100369832B1 (ko) 불량품 관리장치 및 불량품 관리방법
KR100673392B1 (ko) 필름, 테이프 형태의 인쇄회로기판 외관 검사에서의 과검출방지를 위한 시스템 및 그 처리 방법
KR100586522B1 (ko) 인쇄회로기판의 가공시스템
KR102558405B1 (ko) 반도체 웨이퍼 결함 검사 장치 및 결함 검사 방법
CN115511791A (zh) 一种液晶光栅功能检测方法及系统
JPH09264856A (ja) 物品外観検査装置
WO2013124958A1 (ja) 視線位置特定手段を備えた目視検査装置
KR100760827B1 (ko) Ｌｃｄ 탑샤시용 탭 검사장치 및 검사방법
KR102049563B1 (ko) Pcb 제조 공정에서의 기판 겹침 검출 시스템 및 방법
JPH05147187A (ja) スクリーン版検査装置
KR20070087407A (ko) 평판표시패널의 자동광학검사장치 및 자동광학검사방법
JPH11223662A (ja) 電子ビーム欠陥検査装置および欠陥検査方法
KR102321444B1 (ko) 와이어링 제품 검사 지원 장치
KR200421155Y1 (ko) 자동차 퓨즈.릴레이박스의 비전검사시스템
KR100286046B1 (ko) 인쇄 회로 기판 검사 장치
JP2006084496A (ja) 点灯検査装置
JP2001153813A (ja) 壜外観検査システムおよびその方法
JPH05108798A (ja) 画像処理方法と画像処理装置
JP3669727B2 (ja) 装着後部品検査方法
JPH11186487A (ja) Ｉｃリードフレーム自動検査システム及びその運用方法
CN116539639A (zh) Aoi检测方法、装置、电子设备和存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20090112

Year of fee payment: 7

LAPS Lapse due to unpaid annual fee