KR20010058628A - 액정표시패널의 테스트 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 액정표시패널의 테스트방법에 관한 것으로서단위 액정표시패널을 테스트장비에 로딩(loading)하는 제 1 단계와, 상기 로딩된 액정표시패널의 입출력 패드에서 이물질을 검출하는 제 2 단계와, 상기 제 2 단계에서 상기 입출력 패드에 이물질이 잔류하지 않으면 상기 액정표시패널을 상기 테스트장비에 정렬하는 제 3 단계와, 상기 정렬된 액정표시패널의 입출력 패드를 테스트장비의 탐침과 접촉시키고 상기 테스트 장비로부터 상기 액정표시패널에 전기적 신호를 인가하여 테스트하는 제 4 단계와, 상기 제 2 단계에서 상기 입출력 패드에 이물질이 잔류하면 상기 액정표시패널을 상기 테스트장비에서 언로딩하고 세정한 후 상기 테스트장비에 다시 로딩하는 제 5 단계를 구비한다.
따라서, 탐침의 손상에 의한 부품 및 테스트 장비 수리 시간의 손실을 방지하여 생산성을 향상시킬 수 있다.

Description

액정표시패널의 테스트방법{Method for Testing Liquid Crystal Display Panel}
본 발명은 액정표시패널의 테스트방법에 관한 것으로서, 특히, 입출력 패드에 부착된 투명기판의 파티클(particle) 등의 이물질을 제거하여 장비의 탐침이 손상 및 접촉 불량을 방지할 수 있는 액정표시패널의 테스트방법에 관한 것이다.
액정표시패널은 하판, 상판, 그리고, 하판과 상판이 합착되어 생성되는 공간에 주입된 액정으로 구성된다. 액정표시패널은 동시에 여러 장을 형성한 후 스크라이빙 등에 의해 단위 패널로 절단한다. 그리고, 테스트장비의 탐침을 통해 입출력 패드에 신호를 인가하여 액정표시패널의 화질을 검사한다.
도 1은 종래 기술에 따른 액정표시패널의 테스트방법을 도시하는 흐름도이다.
단계 1(S11)을 참조하면, 절단된 단위 액정표시패널을 테스트장비에 로딩(loading)한다.
단계 2(S12)를 참조하면, 로딩된 액정표시패널을 테스트장비에 정렬한다. 이 때, 액정표시패널의 입출력 패드가 테스트장비의 탐침과 대응되도록 정렬한다.
단계 3(S13)을 참조하면, 액정표시패널의 입출력 패드에 테스트장비의 탐침을 접촉시킨다.
단계 4(S14)를 참조하면, 단계 3(S13)에서 액정표시패널의 입출력 패드에 투명기판의 파티클(particle) 등의 이물질이 잔류하지 않으면 입출력 패드와 테스트장비의 탐침이 양호하게 접촉된다. 그러므로, 테스트 장비로부터 탐침과 입출력 패드를 통해 액정표시패널에 신호를 인가하여 단계 5(S15)의 테스트를 진행한다.
그러나, 단계 4(S14)에서 액정표시패널의 입출력 패드에 파티클(particle) 등의 이물질이 잔류하면 접촉시 테스트 장비의 탐침이 손상되며, 이에 의해, 액정표시패널의 입출력 패드와 테스트 장비의 탐침은 오접촉(miss contact)된다.
단계 6(S16)을 참조하면, 단계 4(S14)에서 액정표시패널의 입출력 패드와 테스트 장비의 탐침이 오접촉(miss contact)되면, 테스트 장비에서 액정표시패널을 언로딩(unloading)시킨다. 그리고, 언로딩된 액정표시패널을 세정하여 입출력 패드에 잔류하는 파티클(particle) 등의 이물질을 제거한다. 또한, 테스트 장비을 수리하여 손상된 탐침을 교체한다. 그리고, 세정된 액정표시패널을 테스트 장비에 로딩하는 단계 1(S11)을 다시 진행한다.
상술한 바와 같이 종래 기술에 따른 액정표시패널의 테스트방법은 절단된 단위 액정표시패널을 테스트장비에 로딩(loading) 및 정렬한 후 액정표시패널의 입출력 패드에 테스트장비의 탐침을 접촉시켜 오정렬이 발생되지 않으면 테스트를 진행한다. 그리고, 입출력 패드에 이물질에 잔류하여 접촉시 탐침이 손상되어 오정렬이 발생되면 액정표시패널을 언로딩하여 세정하고 테스트 장비를 수리한 후 처음 단계부터 다시 진행하여 액정표시패널을 테스트한다.
그러나, 입출력 패드에 잔류하는 이물질에 의해 탐침이 손상되면 탐침을 교체하여 테스트 장비를 수리하여야 하므로 부품 및 수리 시간 손실이 발생되는 문제점이 있었다.
따라서, 본 발명의 목적은 탐침의 손상에 의한 부품 및 장비 수리 시간의 손실을 방지할 수 있는 액정표시패널의 테스트방법을 제공하는데 있다.
도 1은 종래 기술에 따른 액정표시패널의 테스트방법을 도시하는 흐름도
도 2는 본 발명에 따른 액정표시패널의 테스트방법을 도시하는 흐름도
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정표시패널의 테스트방법은 단위 액정표시패널을 테스트장비에 로딩(loading)하는 제 1 단계와, 상기 로딩된 액정표시패널의 입출력 패드에서 이물질을 검출하는 제 2 단계와, 상기 제 2 단계에서 상기 입출력 패드에 이물질이 잔류하지 않으면 상기 액정표시패널을 상기 테스트장비에 정렬하는 제 3 단계와, 상기 정렬된 액정표시패널의 입출력 패드를 테스트장비의 탐침과 접촉시키고 상기 테스트 장비로부터 상기 액정표시패널에 전기적신호를 인가하여 테스트하는 제 4 단계와, 상기 제 2 단계에서 상기 입출력 패드에 이물질이 잔류하면 상기 액정표시패널을 상기 테스트장비에서 언로딩하고 세정한 후 상기 테스트장비에 다시 로딩하는 제 5 단계를 구비한다.
상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 특징들은 첨부한 도면들을 첨부한 도면들을 참조한 실시예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명한다.
도 2는 본 발명에 따른 액정표시패널의 테스트방법을 도시하는 흐름도이다.
단계 1(S21)을 참조하면, 절단된 단위 액정표시패널을 테스트장비에 로딩(loading)한다.
단계 2(S22)를 참조하면, 로딩된 액정표시패널의 입출력 패드를 스캐닝(scanning)하여 파티클(particle) 등의 이물질을 검출한다.
단계 3(S23)을 참조하면, 단계 2(S22)에서 액정표시패널의 입출력 패드에 파티클(particle) 등의 이물질이 잔류하지 않으면 액정표시패널을 테스트장비에 정렬한다. 이 때, 액정표시패널의 입출력 패드가 테스트장비의 탐침과 대응되도록 정렬한다.
단계 4(S24)를 참조하면, 정렬된 액정표시패널의 입출력 패드를 테스트장비의 탐침과 접촉시킨다. 이 때, 액정표시패널의 입출력 패드에 파티클(particle) 등의 이물질이 잔류하지 않으므로 테스트장비의 탐침이 손상되지 않고 입출력 패드와 양호하게 접촉된다.
단계 5(S25)를 참조하면, 탐침과 입출력 패드를 통해 테스트 장비로부터 액정표시패널에 전기적 신호를 인가하여 이 액정표시패널의 테스트를 진행 및 완료한다.
단계 6(S26)를 참조하면, 단계 2(S22)에서 액정표시패널의 입출력 패드에서 파티클(particle) 등의 이물질이 검출되면, 이 액정표시패널을 테스트 장비에서 언로딩(unloading)시킨다. 그리고, 언로딩된 액정표시패널을 세정하여 입출력 패드에 잔류하는 파티클(particle) 등의 이물질을 제거한 후 세정된 액정표시패널을 테스트 장비에 로딩하는 단계 1(S21)을 다시 진행하여 테스트를 수행한다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 액정표시패널의 테스트방법은 절단된 단위 액정표시패널을 테스트장비에 로딩(loading)하고 입출력 패드에 파티클(particle) 등의 이물질의 유무를 검사하여 이물질이 검출되지 않으면, 액정표시패널을 테스트장비에 정렬하고 입출력 패드에 탐침을 접촉시켜 테스트를 진행한다. 그러나, 입출력 패드에 파티클(particle) 등의 이물질이 검출되면 액정표시패널을 테스트장비에서 언로딩하고 세정한 후 처음 단계부터 다시 진행하여 액정표시패널을 테스트하므로 탐침의 손상이 방지된다.
따라서, 본 발명은 탐침의 손상에 의한 부품 및 테스트 장비 수리 시간의 손실을 방지하여 생산성을 향상시킬 수 있는 잇점이 있다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.

Claims (3)

  1. 단위 액정표시패널을 테스트장비에 로딩(loading)하는 제 1 단계와,
    상기 로딩된 액정표시패널의 입출력 패드에서 이물질을 검출하는 제 2 단계와,
    상기 제 2 단계에서 상기 입출력 패드에 이물질이 잔류하지 않으면 상기 액정표시패널을 상기 테스트장비에 정렬하는 제 3 단계와,
    상기 정렬된 액정표시패널의 입출력 패드를 테스트장비의 탐침과 접촉시키고 상기 테스트 장비로부터 상기 액정표시패널에 전기적 신호를 인가하여 테스트하는 제 4 단계와,
    상기 제 2 단계에서 상기 입출력 패드에 이물질이 잔류하면 상기 액정표시패널을 상기 테스트장비에서 언로딩하고 세정한 후 상기 테스트장비에 다시 로딩하는 제 5 단계를 구비하는 액정표시패널의 테스트방법.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 이물질을 상기 입출력 패드를 스캐닝(scanning)하여 검출하는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 테스트방법.
  3. 청구항 1에 있어서,
    상기 액정표시패널을 상기 입출력 패드가 상기 테스트장비의 탐침과 대응되도록 정렬하는 액정표시패널의 테스트방법.
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