KR20010029073A - 플라즈마 디스플레이 패널의 휘도 조정장치 - Google Patents

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KR20010029073A
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Abstract

본 발명은 패널의 비 균일성에 의한 이상휘도 현상이 두드러지는 몇 가지의 테스트 패턴에서 패널의 소정 영역별로 측정된 휘도값에 따라 행전극별로 방전셀의 방전 유지시간을 개별 조절하는 플라즈마 디스플레이 패널의 휘도 조정장치에 관한 것이다.
개시된 본 발명은, 패널의 휘도를 테스트하기 위해 소정의 패턴을 가지는 영상 데이터를 생성하는 패턴 생성부와, 영상 데이터에 대한 패널의 휘도를 소정 영역별로 측정하는 휘도센서와, 영역별로 측정된 휘도에 기인하여 휘도 보정값을 생성하는 보정값 생성부와, 생성된 휘도 보정값을 가지고 행전극별로 방전셀의 방전 유지시간을 개별 조절하는 이레이스 위치판단부를 포함하며,
이에 따라 방전셀의 휘도 특성, 즉 발광효율이 고려되어 서브 필드마다 행전극별로 방전 유지시간이 개별 조절되므로, 패널의 비 균일성에 의한 이상휘도 현상이 보정되어 패널 전체가 균일한 휘도 특성을 갖는 이점이 있다.

Description

플라즈마 디스플레이 패널의 휘도 조정장치{Apparatus for arbitrating brightness of plasma display panel}
본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널(plasma display panel)의 휘도 조정장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 패널의 비 균일성(uniformity)에 의한 이상휘도 현상이 두드러지는 몇 가지의 테스트 패턴에서 패널의 소정 영역별로 측정된 휘도값에 따라 행전극별로 방전셀의 방전 유지시간을 개별 조절하여 패널 전체가 균일한 휘도 특성을 갖도록 한 플라즈마 디스플레이 패널의 휘도 조정장치에 관한 것이다.
주지와 같이, 플라즈마 디스플레이 패널은 두 개의 기판이 일정한 이격 거리로 결합되고 그 내부에 방전가스가 충진되며 복수의 행전극과 열전극이 서로 직교하게 배열되어서 복수의 방전셀을 구성하고, 전극 사이에 인가되는 전압 조절을 통해 방전을 얻으며 방전 시간의 길이를 변화시켜 빛의 양을 조절한다.
이러한 플라즈마 디스플레이 패널의 각 방전셀에서는, 행전극과 열전극(이하, "어드레스전극"이라 대칭함)과의 사이에서 유발되어 화소를 번지 지정하는 어드레스 방전, 두 행전극의 사이, 즉 스캔전극과 서스테인전극과의 사이에서 유발되어 방전 발광을 유지시키는 서스테인 방전, 방전된 셀의 발광을 멈추게 하는 이레이스 방전이 선택적으로 유발된다.
상기한 플라즈마 디스플레이 패널을 구동하는 장치의 종래 기술에 의한 일예로서, 도 1에 블록 구성도로 나타낸 구동장치를 설명하면 다음과 같다.
패널(10)의 스캔전극 및 어드레스전극은 각각의 개별 전극마다 독립적으로 구동전압을 인가할 수 있도록 절연되어 스캔전극 구동회로(20) 및 제1, 제2 어드레스전극 구동회로(30)에 접속되며, 서스테인전극은 모두 병렬 연결되어 공통으로 서스테인전극 구동회로(40)에 접속된다.
마이크로 프로세서(50)는 외부 신호(CLOCK, BLANK, Hsync, Vsync) 및 주사 방식에 따라 전체 시스템을 제어하며, 이러한 마이크로 프로세서(50)의 제어에 의해 데이터 배열부(60)는 입력되는 R, G, B 영상신호 데이터를 패널(10)에 배치된 각 화소들의 순서대로 상위 비트부터 하위 비트까지 차례대로 재배열하고, 이렇게 정렬된 데이터는 각 비트별로 프레임 메모리(70)에 저장된다.
프레임 메모리(70)의 참조 주소는 주사 방식에 따라 순차적으로 증가되어 패널(10)로 영상신호가 출력되며, 타이밍신호 발생부(80)는 스캔전극과 서스테인전극 및 어드레스전극에 고 전압 펄스를 인가하기 위한 타이밍 데이터와 전송 클럭 및 래치 신호를 각 구동회로(20, 30, 40)에 출력하고, 이 것에 의해 각 전극에는 구동 펄스가 인가되어 복수의 방전셀에서 선택적으로 유발되는 어드레스 방전과 서스테인 방전 및 이레이스 방전에 의해 패널(10)에 화상이 표시된다.
한편, 이와 같은 구동장치에 의해 수행되는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방식은, 화소를 번지 지정할 때에 선택된 셀을 켜는지 끄는지에 따라 셀렉티브 라이트 방식과 셀렉티브 이레이스 방식으로 대분된다.
셀렉티브 라이트 방식은 선택된 셀을 어드레스 방전으로 켠 다음 일정한 회수 만큼 서스테인 방전을 유발시켜 방전 발광을 유지시킨 후 이레이스 방전을 유발시켜 방전 소거하는 방법으로, 특히 이전 프레임에서 방전된 셀과 방전되지 않는 셀이 공존할 수 있으므로 벽전하 상태를 일치시켜 안정된 어드레스 방전을 얻기 위하여 어드레스 방전 전에 리세트 방전으로 모든 셀의 벽전압 조건을 동일하게 하면서 공간 전하가 미리 형성되게 하는 과정이 필요하다.
그러나, 이러한 셀렉티브 라이트 방식은 어드레스 방전을 위해 어드레스전극에 인가되는 펄스가 3㎲ 정도의 폭을 가져야만 벽전하가 충분히 형성되기 때문에 스캔전극 한 라인 당 약 3㎲의 주사 시간이 소요된다.
더욱이, 해상도가 높아질수록 처리 요구되는 데이터의 량이 증가되므로 고해상도의 플라즈마 디스플레이 패널을 구동하기 위해서는 극히 한정된 시간내에 모든 데이터를 처리하여야만 한다.
따라서, 화면을 복수로 분할한 후 복수의 구동회로를 사용하여 패널(10)을 구동하여야 하며, 이로서 코스트의 증가가 초래되는 문제점이 있다.
셀렉티브 이레이스 방식은 먼저 모든 셀을 방전시켜 켠 다음 선택된 셀을 어드레스 방전으로 끈 후 이외의 셀들을 서스테인 방전으로 발광을 유지시키는 방법으로, 특히 화소를 번지 지정하는 어드레스 방전 이전에 모든 셀이 필수적으로 라이트 방전되어야만 한다.
이때, 모든 셀이 라이트 방전된 상태에서 선택된 셀을 끄기 위한 어드레스 방전의 펄스 폭은 약 1㎲ 정도이다.
따라서, 셀렉티브 이레이스 방식은 셀렉티브 라이트 방식보다 상대적으로 고속 구동이 가능하게 된다. 즉 초당, 프레임당, 데이터 전극당 처리 요구되는 데이터량이 많은 고해상도의 플라즈마 디스플레이 패널을 구동할 경우에는 셀렉티브 라이트 방식보다 셀렉티브 이레이스 방식이 상대적으로 적합한 것이다.
또한, 하나의 화면인 하나의 프레임을 구현하는 방법에 따라 서브 프레임 방식과 서브 필드 방식으로 구분되는데, 이 중에서 서브 프레임 방식은 2X계조의 구현을 위하여 하나의 프레임이 X개의 서브 프레임 화면으로 나뉘어 지며 각 서브 프레임에는 휘도 상대비 1: 2: 4: 8: 16: 32: 64: … 에 비례하는 개수의 스캔전극이 각각 포함된다.
상기 서브 필드 방식은, 도 2에 나타낸 프레임 구성도와 같이 2X계조의 구현을 위하여 하나의 프레임을 Y개의 서브 필드로 나누며(단, X≤Y), 외부에서 입력되는 화상 데이터를 X비트의 디지털 화상 데이터로 디지털화하여 각 서브 필드에 공급하고, 각 서브 필드마다 휘도 상대비 1: 2: 4: 8: 16: 32: 64: … 에 각각 비례하는 휘도값이 대응되어 있어 몇몇 서브 필드의 조합으로 0 ∼ 2X-1 계조에 해당되는 화상이 표시된다.
예를 들어, 도 2에 도시된 바와 같이 한 프레임을 8개의 서브 필드(SF1∼SF8)로 나눈 후 각 서브 필드마다 1: 2: 4: 8: 16: 32: 64: 128에 비례하는 휘도값을 각각 대응시키면 몇몇 서브 필드의 조합으로 계조 데이터 0∼255에 해당되는 화상이 표시되어 256 계조의 구현이 가능해진다.
즉 제1 서브 필드(SF1)에는 각 셀의 계조 데이터(D0∼D7) 중 최하위 비트인 D0비트 계조 데이터를 각 셀에 공급하고 제2 내지 제8 서브 필드(SF2∼SF8)에는 각각 D1, D2, D3, D4, D5, D6, D7비트 계조 데이터를 각 셀에 공급하면 각 서브 필드(SF1∼SF8)마다 설정된 서스테인 기간동안 해당 셀의 발광이 유지되어 화상이 표시된다.
여기서, 각 서브 필드의 휘도값은 서스테인 기간에 스캔전극(S1∼Sm)과 서스테인전극과의 사이에서 유발되는 서스테인 방전의 회수, 즉 방전 유지시간에 의해 결정되므로 각 서브 필드의 서스테인 기간에는 해당 휘도값에 비례하는 개수의 서스테인 펄스가 각각 인가되며, 특히 하나의 서브 필드에서 모든 스캔전극(S1∼Sm)에는 동일한 개수의 서스테인 펄스가 인가된다.
전술한 바와 같은 종래 기술에 따르면, 각 서브 필드의 서스테인 기간에서 스캔전극 구동회로(20)에 의해 스캔전극(S1∼Sm)에는 동일한 개수의 서스테인 펄스가 인가되어 동일한 회수의 서스테인 방전이 유발되며 이러한 몇몇 서브 필드의 조합으로 계조가 구현됨을 알 수 있다.
그런데, 종래에는 패널 전체에 동일한 계조로 화상을 표시할 때에 모든 스캔전극에 동일한 개수의 서스테인 펄스가 인가되어 동일한 회수의 서스테인 방전이 유발, 즉 모든 셀의 방전이 동일한 시간동안 유지되더라도 패널 전체의 휘도가 소정 영역별로 서로 다른 분포를 갖는 이상휘도의 문제점이 있었다.
이는 방전셀 내에 도포된 형광체의 두께나 격벽의 형성 높이 또는 전극의 특성 차이로 인하여 모든 방전셀의 발광효율이 동일하지 않는 비 균일성을 가지며, 이에 기인하여 패널 전체는 소정 영역별로 서로 다른 휘도 특성을 갖기 때문이다.
따라서, 본 발명은 전술한 바와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하고자 제안한 것으로서, 패널의 비 균일성에 의한 이상휘도 현상이 두드러지는 몇 가지의 테스트 패턴에서 패널의 소정 영역별로 측정된 휘도값에 따라 행전극별로 방전셀의 방전 유지시간을 개별 조절함으로써, 패널 전체가 균일한 휘도 특성을 갖도록 하는데 그 목적이 있다.
도 1은 종래 기술에 의한 플라즈마 디스플레이 패널 구동장치의 블록 구성도이며,
도 2는 종래 기술에 의한 서브 필드 구동방식의 프레임 구성도이고,
도 3은 본 발명에 의한 플라즈마 디스플레이 패널 구동장치의 블록 구성도이며,
도 4는 도 3에 나타낸 구동장치에 의한 서브 필드 구동방식의 프레임 구성도이다.
＜ 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ＞
20 : 스캔전극 구동회로, 50 : 마이크로 프로세서, 80 : 타이밍신호 발생부, 110 : 테스트 콘트롤러, 120 : 패턴 생성부, 121 : 테스트 패턴 메모리, 122 : 테스트 데이터 발생기, 131∼134 : 제1 내지 제4 휘도센서, 140 : 휘도값 메모리, 150 : 보정값 생성부, 160 : 이레이스 위치판단부
이러한 목적들을 달성하기 위한 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 휘도 조정장치는, 행전극과 열전극이 서로 직교하여 방전셀을 가지는 플라즈마 디스플레이 패널에 있어서:
(1) 상기 패널의 휘도를 테스트하기 위해 소정의 패턴을 가지는 영상 데이터를 생성하는 패턴 생성부;
(2) 상기 영상 데이터에 대한 상기 패널의 휘도를 소정 영역별로 측정하는 휘도 측정수단;
(3) 상기 영역별로 측정된 휘도에 기인하여 휘도 보정값을 생성하는 보정값 생성부;
(4) 상기 생성된 휘도 보정값을 가지고 상기 행전극별로 상기 방전셀의 방전 유지시간을 개별 조절하는 방전 조절수단을 포함한다.
이와 같은 본 발명의 휘도 조정장치에 의하면, 방전셀의 휘도 특성, 즉 발광효율이 고려되어 행전극(스캔전극)별로 방전 유지시간이 개별 조절되므로, 형광체의 두께 등이 서로 다른 방전셀에서는 서로 다른 회수의 서스테인 방전이 유발되어 패널 전체가 균일한 휘도 특성을 갖게 된다.
본 발명의 실시예로는 다수개가 존재할 수 있으며, 이하에서는 첨부한 도면을 참조하여 가장 바람직한 실시예에 대하여 상세히 설명하기로 한다.
이 바람직한 실시예를 통해 본 발명의 목적, 특징 및 이점들을 보다 잘 이해할 수 있게 된다.
그리고, 본 발명의 예시 도면에서 종래 기술과의 동일한 구성에 대해서는 동일한 참조부호로 명기하여 설명을 생략한 것도 있다.
도 3은 본 발명에 의한 플라즈마 디스플레이 패널 구동장치의 블록 구성도로서, 휘도 측정과정을 제어하는 테스트 콘트롤러(110)의 제어에 따라 패널(10)의 휘도를 테스트하기 위해 소정의 패턴을 가지는 영상 데이터를 생성하는 패턴 생성부(120)와, 패널(10)에서 소정 거리로 이격 설치되어 상기 영상 데이터에 대한 패널(10)의 휘도를 소정 영역별로 측정하는 제1 내지 제4 휘도센서(131∼134)와, 상기 측정한 영역별 휘도값을 저장하는 휘도값 메모리(140)와, 상기 저장된 영역별 휘도값의 휘도차에 기인하여 휘도 보정값을 산출·생성하는 보정값 생성부(150)와, 상기 생성된 휘도 보정값을 가지고 스캔전극별로 방전셀의 서스테인 방전을 멈추게 하는 이레이스 펄스의 시간적인 위치를 개별 판단하여 마이크로 프로세서(50)로 출력하여 마이크로 프로세서(50)의 제어에 따라 스캔전극별로 방전셀의 방전 유지시간이 개별 조절되게 하는 이레이스 위치판단부(160)를 포함한다.
패턴 생성부(120)는, 패널(10)의 비 균일성에 의한 이상휘도 현상이 나타나는 적어도 하나 이상의 영상 패턴을 저장하는 테스트 패턴 메모리(121)와, 테스트 콘트롤러(110)의 번지 지정에 따라 테스트 패턴 메모리(121)에서 선택적으로 출력되는 상기 영상 패턴에 따른 영상 데이터를 발생하여 데이터 배열부(60)로 출력하는 테스트 데이터 발생기(122)로 구성된다.
이하, 본 발명에 의한 휘도 조정장치에 의해 셀렉티브 이레이스 방식으로 화상을 표시하면서 휘도를 보정하는 과정을 설명하면 다음과 같다.
먼저, 패널(10)의 비 균일성에 의한 이상휘도 현상이 두드러지게 나타나는 몇 가지의 테스트용 영상 패턴을 설정하여 테스트 패턴 메모리(121)에 저장하며, 패널(10)의 휘도를 소정 영역별로 측정하도록 휘도 측정수단인 제1 내지 제4 휘도센서(131∼134)를 패널(10)에서 소정 거리로 이격시켜 설치한다.
이와 같은 상태에서, 테스트 콘트롤러(110)의 번지 지정에 따라 테스트 패턴 메모리(121)는 저장된 영상 패턴 중에서 어느 하나를 선택적으로 출력하며, 테스트 데이터 발생기(122)는 테스트 패턴 메모리(121)에서 출력되는 영상 패턴에 따라 테스트용 영상 데이터를 생성하여 데이터 배열부(60)로 출력하고, 이러한 영상 데이터는 프레임 메모리(70)에 각 비트별로 저장된다.
그리고, 마이크로 프로세서(50)에 의해 프레임 메모리(70)의 참조 주소가 순차적으로 증가되어 패널(10)로 영상신호가 출력되며, 타이밍신호 발생부(80)는 스캔전극과 서스테인전극 및 어드레스전극에 고 전압 펄스를 인가하기 위한 타이밍 데이터와 전송 클럭 및 래치 신호를 각 구동회로(20, 30, 40)에 출력한다.
이때, 하나의 화면인 하나의 프레임은 2X계조의 구현을 위하여 Y개의 서브 필드로 나뉘고(단, X≤Y), 각각의 서브 필드에는 프레임 메모리(70)에 저장된 X비트 화상 데이터 중에서 해당 비트가 각각 공급된다.
각 서브 필드에서는, 라이트 기간에 모든 스캔전극과 서스테인전극과의 사이에 라이트 펄스가 인가되어 모든 방전셀이 라이트 방전 발광되고, 어드레스 기간에 커져야 할 해당 셀의 어드레스전극과 스캔전극과의 사이에 순차적으로 이레이스 스캔 펄스가 인가되어 해당 셀내에서 이레이스 방전이 발생되므로 해당 셀의 발광 방전이 소멸되며, 서스테인 기간에 모든 스캔전극과 서스테인전극과의 사이에 서스테인 펄스가 인가되어 어드레스 기간에 이레이스 스캔 펄스가 인가되지 않은 셀이 발광 방전을 유지한다. 여기서, 각 서브 필드의 서스테인 기간은 화상 데이터의 비트 가중치에 따라 서로 다르게 할당된다.
이후, 할당된 서스테인 기간이 완료되면 이레이스 기간에 모든 스캔전극에는 순차적으로 이레이스 펄스가 인가되어 서스테인 기간에 방전 유지되던 해당 셀에서 이레이스 방전이 순차적으로 유발되므로 모든 셀의 발광 방전은 동일 시간동안 유지되다가 소멸되는 것이다. 즉 하나의 서브 필드에서 모든 스캔전극에는 동일한 개수의 서스테인 펄스가 인가되는 것이다.
이와 같은 과정에 의해 하나의 프레임이 완성되어 패널(10)에 화상이 표시되며, 패널(10)에 이격 설치된 제1 내지 제4 휘도센서(131∼134)는 해당 영역별로 휘도를 측정하고 이는 휘도값 메모리(140)에 각각의 영역별로 저장된다.
여기서, 휘도값 메모리(140)에 저장되는 영역별 휘도값은 전술한 바와 같이 패널(10)의 비 균일성, 즉 방전셀 내에 도포된 형광체의 두께나 격벽의 형성 높이 또는 전극의 특성 차이로 인하여 모든 방전셀의 발광효율이 동일하지 않으므로 모든 셀의 발광 방전이 동일한 시간동안 유지되더라도 서로 다른 분포를 갖게 된다.
그러면, 보정값 생성부(150)는 휘도값 메모리(140)에 저장된 영역별 휘도값으로부터 영역별 휘도의 차를 연산하며, 연산된 휘도차를 가지고 패널(10)의 휘도가 균일하게 나타날 수 있는 영역별 휘도 보정값을 산출·생성한다.
그리고, 방전셀의 서스테인 방전을 멈추게 하는 이레이스 펄스의 시간적인 위치를 변화시켜 방전셀의 방전 유지시간을 조절하는 방전 조절수단인 이레이스 위치판단부(160)는 행전극 중에서 개별적으로 모두 절연된 스캔전극에 인가할 이레이스 펄스의 시간적인 개별 위치를 보정값 생성부(150)에서 산출된 영역별 휘도 보정값을 가지고 판단하여 마이크로 프로세서(50)로 출력한다.
그러면, 이후의 프레임에서 마이크로 프로세서(50)는 이레이스 위치판단부(160)에서 결정된 이레이스 펄스의 스캔전극별 위치에 따라 타이밍신호 발생부(80)로 타이밍 제어신호를 출력하며, 이러한 타이밍신호 발생부(80)에서 발생되는 타이밍 데이터에 따라 이레이스 기간에 스캔전극 구동회로(20)에서 스캔전극으로 인가되는 이레이스 펄스의 시간적인 위치는 모두 개별 조절된다.
다시 말하면, 해당 방전셀의 발광효율이 평균값보다 높아 휘도가 높을 경우에는 이레이스 펄스의 시간적인 위치를 앞당겨 해당 스캔전극으로 인가되는 서스테인 펄스의 수를 감소시키며, 해당 방전셀의 발광효율이 평균값보다 낮아 휘도가 낮을 경우에는 이레이스 펄스의 시간적인 위치를 뒤로하여 해당 스캔전극으로 인가되는 서스테인 펄스의 수를 증가시킨다.
즉 도 4의 프레임 구성도에 나타낸 바와 같이, 서스테인 기간은 서브 필드마다 방전셀의 발광효율에 반비례하게 스캔전극(S1∼Sm)별로 개별 할당하여 방전 유지시간을 서로 다르게 조절한다.
그러면, 비 균일성을 갖는 패널(10), 즉 발광효율이 균일하지 않은 패널(10)에서도 그 전체적인 휘도값은 동일한 분포를 갖게 된다.
또한, 상술한 바와 같은 휘도 보정과정은 테스트 콘트롤러(110)와 마이크로 프로세서(50)의 제어에 의해 테스트 패턴 메모리(121)에 저장된 모든 영상 패턴을 테스트하면서 패널(10)의 휘도 특성이 최적화될 때까지 반복적으로 수행된다.
상기에서 본 발명의 특정한 실시예가 설명 및 도시되었지만 본 발명이 당업자에 의해 다양하게 변형되어 실시될 가능성이 있는 것은 자명한 일이다.
이와 같은 변형된 실시예들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어져서는 안되며, 이와 같은 변형된 실시예들은 본 발명의 첨부된 특허청구범위 안에 속한다 해야 할 것이다.
상술한 바와 같이 본 발명은, 방전셀의 휘도 특성, 즉 발광효율이 고려되어 서브 필드마다 스캔전극별로 방전 유지시간이 개별 조절되므로, 패널의 비 균일성에 의한 이상휘도 현상이 보정되어 패널 전체가 균일한 휘도 특성을 갖는 효과가 있다.

Claims (5)

  1. 행전극과 열전극이 서로 직교하여 방전셀을 가지는 플라즈마 디스플레이 패널에 있어서:
    (1) 상기 패널의 휘도를 테스트하기 위해 소정의 패턴을 가지는 영상 데이터를 생성하는 패턴 생성부;
    (2) 상기 영상 데이터에 대한 상기 패널의 휘도를 소정 영역별로 측정하는 휘도 측정수단;
    (3) 상기 영역별로 측정된 휘도에 기인하여 휘도 보정값을 생성하는 보정값 생성부;
    (4) 상기 생성된 휘도 보정값을 가지고 상기 행전극별로 상기 방전셀의 방전 유지시간을 개별 조절하는 방전 조절수단을 포함하여 된 플라즈마 디스플레이 패널의 휘도 조정장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 패턴 생성부는, 상기 패널의 비 균일성에 의한 이상휘도 현상이 나타나는 적어도 하나 이상의 영상 패턴을 저장하는 메모리와, 이 메모리에서 선택적으로 출력되는 상기 영상 패턴에 따른 영상 데이터를 발생하는 발생기를 포함하여 된 플라즈마 디스플레이 패널의 휘도 조정장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 휘도 측정수단은, 상기 패널에서 소정 거리로 이격 설치되어 상기 패널의 휘도를 측정하는 적어도 두 개 이상의 휘도센서인 것을 특징으로 한 플라즈마 디스플레이 패널의 휘도 조정장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 보정값 생성부는, 상기 영역별 휘도의 차를 가지고 상기 휘도 보정값을 산출하는 것을 특징으로 한 플라즈마 디스플레이 패널의 휘도 조정장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 방전 조절수단은, 상기 방전셀의 서스테인 방전을 멈추게 하는 이레이스 펄스의 시간적인 위치를 상기 행전극별로 개별 조절하는 것을 특징으로 한 플라즈마 디스플레이 패널의 휘도 조정장치.
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