KR20000065959A

KR20000065959A - 광디스크 재생 시스템에서의 결함 검출 장치

Info

Publication number: KR20000065959A
Application number: KR1019990012759A
Authority: KR
Inventors: 김제국
Original assignee: 윤종용; 삼성전자 주식회사
Priority date: 1999-04-12
Filing date: 1999-04-12
Publication date: 2000-11-15

Abstract

광디스크 재생 시스템에서의 결함 검출 장치가 공개된다. 광디스크로부터 독출된 RF신호에 포함될 수 있는 결함을 검출하여 결함이 검출된 구간동안 트랙킹 루프 및 포커스 루프를 뮤팅시키기 위한 본 발명에 의한 광디스크 재생 시스템에서의 결함 검출 장치는 RF 신호를 입력받아 소정의 레벨로 슬라이싱하여 EFM 신호를 발생하는 데이터 슬라이서 회로 및 데이터 슬라이서 회로에서 출력된 EFM 신호의 런길이에 따라 RF 신호에 결함이 존재하는 결함 구간을 검출하고, 검출된 결함 구간 동안에는 트랙킹 루프 및 포커스 루프를 뮤팅시키도록 제어하는 결함 검출 신호를 발생하는 결함 검출수단을 구비하는 것을 특징으로 하며, EFM 신호를 이용하여 RF 신호에 결함이 존재하는지의 여부를 검출함으로써, 정확한 결함 검출을 할 수 있다는 효과가 있다.

Description

광디스크 재생 시스템에서의 결함 검출 장치{Defect detection apparatus in optical disk reproduction system}

본 발명은 콤팩트 디스크 플레이어 또는 디지털 다기능 디스크 플레이어등의 광 디스크 재생 시스템에 관한 것으로서, 특히 광 디스크에서 독출된 RF신호에 존재하는 결함을 검출하고, 이러한 결함이 발생되는 구간에서는 트랙킹 및 포커스 시스템을 뮤팅(muttinf)시켜 광 디스크 재생 시스템이 안정된 동작을 하도록 제어하는 광 디스크 재생 시스템에서의 디펙트 검출 회로에 관한 것이다.

일반적으로 광디스크 재생 시스템에는 전치 증폭기, 데이터 스트로브(DATA STROBE)부, 디지털 신호 처리부, 아날로그-디지탈(D/A) 변환부, 아날로그 회로부 등으로 구성된다. 여기서 전치 증폭기는 포토다이오드에 의하여 픽업된 고주파 신호(RF:Radio Frequency)를 증폭하여, 신호의 잡음 및 흐트러짐을 파형등화 회로에 의하여 제거하고, 파형 정형을 한 후 디지털 신호 처리회로에 전송하는 역할을 하는 것이다. 전치 증폭기에는 가산기, 자동 이득 제어(Automatic Gain Control, 이하 AGC라 함) 회로, 파형등화 회로, 데이터 슬라이서 회로 등을 포함하여 구성된다.

이러한 광디스크 재생 시스템에서, 핀홀 또는 긁힘 등에 의해 광디스크에 존재하는 결함에 의해 RF 신호가 발생되지 않는 결함 구간이 발생하며, 이러한 결함 구간에서는 광디스크의 트랙을 추종하는 트랙킹 시스템이 불안해져 점핑 현상이 발생한다. 이와같이 결함에 의해 발생되는 점핑 현상을 방지하기 위해 결함구간을 검출하여 트랙킹 루프와 포커스 루프를 뮤팅시켜야 한다.

한편, 종래에는 미러 신호를 이용하여 결함을 검출하였다. 이는 정상적인 재생상태에서는 주빔(main beam)이 트랙을 추종하므로 트랙 이탈시 검출되는 미러 신호가 검출되지 않는 점을 이용한 것이다. 즉, 정상적인 재생 상태에서 미러신호가 검출되면 결함이 검출된 것으로 간주하여 트랙킹 루프 및 포커스 루프를 뮤팅하는 방법을 사용한다. 그러나, 이와같은 종래의 방법에서는 RC 시정수를 이용한 아날로그 방식에 의해 결함 및 미러신호를 검출하며, 따라서 결함이 존재하는 정확한 구간을 검출하지 못하고 근사한 구간동안 트랙킹 및 포커스 루프를 뮤팅을 시킨다는 문제점이 발생한다.

도 1(a) 및 (b)은 종래에 RC 시정수를 이용한 결함 검출을 설명하기 위한 도면이다. 도 1(a)는 결함을 갖는 RF 신호를 나타내고, 도 1(b)는 RC 시정수를 이용하여 결함을 검출하는 결함 검출 신호를 나타내는 파형도이다.

도 1(a) 및 (b)를 참조하면, 종래의 RC 시정수를 이용하여 RF 신호에 존재하는 결함을 검출할 경우, 결함이 존재하는 구간을 정확히 검출하지 못함을 알 수 있다.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 데이터 슬라이스 회로에서 발생되는 EFM 신호를 이용하여 RF 신호에 존재할 수 있는 결함을 정확히 검출하는 광디스크 재생 시스템에서의 결함 검출 장치를 제공하는 데 있다.

도 1(a) 및 (b)은 종래에 RC 시정수를 이용한 결함 검출을 설명하기 위한 도면이다.

도 2는 결함 검출 신호에 응답하여, 트랙킹 서보내에서 트랙킹 루프의 동작을 설명하기 위한 도면이다.

도 3은 결함 검출 신호에 응답하여, 포커스 서보내에서 포커스 루프의 동작을 설명하기 위한 도면이다.

도 4는 본 발명에 따른 광디스크 재생 시스템에서의 결함 검출 장치의 일실시예를 나타내는 도면이다.

도 5는 도 4에 도시된 본 발명에 의한 결함 검출부의 상세 구성도를 도시한 도면이다.

도 6은 도 5에 도시된 결함 검출부의 동작을 설명하기 위한 파형도를 도시한 도면이다.

상기 과제를 이루기 위해, 광디스크로부터 독출된 RF신호에 포함될 수 있는 결함을 검출하여 결함이 검출된 구간동안 트랙킹 루프 및 포커스 루프를 뮤팅시키기 위한 본 발명에 의한 광디스크 재생 시스템에서의 결함 검출 장치는 RF 신호를 입력받아 소정의 레벨로 슬라이싱하여 EFM 신호를 발생하는 데이터 슬라이서 회로 및 데이터 슬라이서 회로에서 출력된 EFM 신호의 런길이에 따라 RF 신호에 결함이 존재하는 결함 구간을 검출하고, 검출된 결함 구간 동안에는 트랙킹 루프 및 포커스 루프를 뮤팅시키도록 제어하는 결함 검출 신호를 발생하는 결함 검출수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.

먼저, 본 발명에 의한 광디스크 재생 시스템에서의 결함 검출 장치를 설명하기 전에, 결함 검출 장치에서 발생되는 결함 검출 신호에 따른 트랙킹 루프 및 포커스 루프의 뮤팅 동작을 첨부한 도면들을 참조하여 설명한다.

도 2는 결함 검출 신호(SDEP)에 응답하여, 트랙킹 서보내에서 트랙킹 루프의 동작을 설명하기 위한 도면이다. 도 2에 도시된 트랙킹 서보는 저항(RI1), 커패시터(CI1), 스위치(21) 및 트랙킹 루프(23)를 포함하여 구성된다.

도 2를 참조하면, 입력단자 IN으로 트랙킹 에러 신호(TE)가 입력된다. 스위치(21)는 결함 검출 신호(SDEP)에 따라 트랙킹 에러 신호(TE) 또는 트랙킹 에러 신호(TE)가 저항(RI1)과 커패시터(CI1)로 구성된 저역통과필터에 의해 저역 필터링된 신호를 선택하여 트랙킹 루프(23)로 출력한다. 트랙킹 루프(23)는 스위치(21)로부터 출력되는 신호를 입력하여 이득 및 위상을 보상하여 트랙킹 구동신호(TRD)로서 출력한다. 여기서, 결함 검출 신호(SDEP)는 픽업부로부터 발생되는 RF 신호에 결함의 존재 여부를 나타내는 신호로서, RF 신호에 결함이 존재하는 구간동안에는 트랙킹 에러 신호(TE)가 트랙킹 루프(23)로 입력되지 않도록 뮤팅하며, 대신 트랙킹 에러 신호(TE)가 저역 필터링된 신호가 트랙킹 루프(23)로 입력되도록 스위치(21)를 제어한다.

도 3은 결함 검출 신호(SDEP)에 응답하여, 포커스 서보내에서 포커스 루프의 동작을 설명하기 위한 도면이다. 도 3에 도시된 포커스 서보는 저항(RI2), 커패시터(CI2), 스위치(31) 및 트랙킹 루프(33)를 포함하여 구성된다.

도 3을 참조하면, 입력단자 IN으로 포커스 에러 신호(FE)가 입력된다. 스위치(31)는 결함 검출 신호(SDEP)에 따라 포커스 에러 신호(FE) 또는 포커스 에러 신호(FE)가 저항(RI2)과 커패시터(CI2)로 구성된 저역통과필터에 의해 저역 필터링된 신호를 선택하여 포커스 루프(23)로 출력한다. 포커스 루프(23)는 스위치(31)로부터 출력되는 신호를 입력하여 이득 및 위상을 보상하여 포커스를 구동하는 구동신호로서 출력한다. 여기서, 결함 검출 신호(SDEP)는 전술되었듯이 픽업부로부터 발생되는 RF 신호에 결함이 존재 유무를 나타내는 신호로서, RF 신호에 결함이 존재하는 구간동안에는 포커스 에러 신호(FE)가 포커스 루프(33)로 입력되지 않도록 뮤팅하고, 대신 포커스 에러 신호(FE)가 저역 필터링된 신호가 포커스 루프(33)로 입력되도록 스위치(31)를 제어한다.

이와같이, RF 신호에 결함이 존재하는 구간에서는 트랙킹 및 포커스 에러 신호(TE 및 FE)를 뮤팅시킴으로써, 결함에 의해 트랙 점프하는등의 시스템 오동작을 방지한다.

도 4는 본 발명에 따른 광디스크 재생 시스템에서의 결함 검출 장치의 일실시예를 나타내는 도면이다. 본 발명에 의한 결함 검출 장치는 데이터 슬라이서 회로(61)와 결함 검출부(63)를 포함하여 구성된다.

본 실시예에서는 데이터 슬라이서 회로(61)에서 출력되는 EFM 신호의 하이 또는 로우구간이 많아야 소정 T 이상은 발생되지 않는다는 성질을 이용하여, 신호의 런-길이가 소정 T 이상이면 결함에 기인하여 잘못된 RF 신호가 발생된 것으로 판단한다. 즉, EFM 신호의 런-길이를 감시하여 결함에 의한 시스템의 오동작을 방지할 수 있다.

데이터 슬라이서 회로(61)는 픽업부(미도시)로부터 발생되는 RF신호를 입력받아 소정의 슬라이스 레벨로 슬라이싱하여 EFM 신호를 발생한다. 결함 검출부(63)는 데이터 슬라이서 회로(61)에서 출력된 EFM 신호의 런길이에 따라 결함구간을 검출하여 그 검출된 구간 동안에 트랙킹 루프 및 포커스 루프로 트랙킹 에러 신호(TE) 및 포커스 에러 신호(FE)가 입력되지 않도록 뮤팅시키는 결함 검출 신호(SDEP)를 발생한다.

좀 더 상세하게, 데이터 슬라이서 회로(61)는 슬라이스 비교기(41), 인버터들(43a, 43b, 43c), 제1스위치(45), 로우패스필터(47), 버퍼(49), 증폭기(51), 제2스위치(53), 커패시터(C1) 및 저항들(R1 및 R2)을 포함하여 구성된다. 여기서 커패시터 C1과 저항 R1, R2는 고역통과필터를 구성한다.

RC 소자(R1, R2, C1) 및 제2스위치(68)로 구성된 고역통과필터는 RFO 신호를 입력받아 고주파신호만을 필터링하여 출력하며, 반전된 결함 검출신호(SDEPB)에 따라 미분시간을 가변하기 위하여 소정의 파라미터를 가변시킬 수 있다. 슬라이스 비교기(41)는 고역통과필터를 통과한 신호를 입력받아, 소정의 레벨로 슬라이싱하여 EFM 신호를 발생한다. 그리고 제2스위치(45), 로우패스필터(47), 버퍼(49) 및 증폭기(51)로 구성된 슬라이싱 레벨 생성부는 결함 검출 신호(SDEP)에 따라 슬라이스 비교기(41)에서 출력된 EFM 신호 또는 버퍼(49)에 홀딩된 이전 구간에서의 비대칭신호 중 하나를 선택하여 슬라이스 비교기(41)로 궤환되는 슬라이싱 레벨을 생성한다.

이하에서는 상술한 바와 같은 구성을 하는 본 발명에 의한 결함 검출 장치의 동작을 상세히 설명한다.

고역통과필터는 RFO 신호를 입력받아 고주파신호만을 필터링하여 출력하며, 소정의 제어신호에 따라 미분시간을 가변하기 위하여 소정의 파라미터를 가변시킬 수 있다. 여기서, RC소자로 구성된 고역통과필터에서 미분시간은 다음의 수학식 1과 같이 표현된다.

따라서, 도 4에 도시된 고역통과필터의 미분시간은 저항 R2의 연결상태를 제어하는 제2스위치(53)의 온/오프 상태에 따라 달라진다. 즉, 제2스위치(53)가 온일 때는 수학식 2와 같이, 그리고 제2스위치(53)가 오프일 때는 수학식 3와 같이 표현된다.

수학식 2,3을 참조하면, 제2스위치(53)가 오프일 때의 미분시간은 그것이 오프일 때의 미분시간보다 더 길다.

본 발명에서의 고역통과필터는 RC 소자뿐만 아니라 제1스위치(63)을 더 포함한다. 제2스위치(53)는 결함 검출부(63)에서 발생되는 반전된 결함 검출 신호(SDEP)에 의하여 온/오프되고, 고역통과필터를 구성하는 저항값이 변하여 미분시간이 조정될 수 있다. 즉, 제2스위치(53)는 RFI신호가 정상적일 때에는 온상태를 유지하도록, 그리고 RFI신호에 결함이 발생되면 오프되도록 제어된다. 즉, 결함 검출부(63)는 슬라이스 비교기(41)에서 출력되는 EFM 호의 펄스폭을 측정하여 그 출력펄스의 "하이" 또는 "로우" 구간이 소정 시간 이상으로 지속되면, 입력단에 있는 고역통과필터의 폴(pole)을 저주파영역으로 이동시켜 결함 구간동안 안정된 EFM 신호를 검출하도록 한다.

슬라이서 비교기(41)는 고역통과필터를 통과한 RFO신호, 즉 RFI신호를 비반전입력단자로 입력받고, 버퍼(49) 및 증폭기(51)를 통과한 비대칭신호 ASY를 반전입력단자로 입력받아, 그 두 신호를 비교하여 EFM 신호를 출력한다.

인버터(43a)는 슬라이서 비교기(61)의 출력신호인 EFM 신호를 반전하여 EFMB신호를 발생하여, 결함 검출부(63) 및 인버터(43b)로 출력한다. 인버터(43b)는 인버터(43a)의 출력신호인 EFMB신호를 반전하여, 제1스위치(45)의 입력단자 A로 출력한다.

제1스위치(45)는 입력단자 A로 인버터(43a)에서 출력된 EFM신호를 입력받고, 입력단자 B로 버퍼(49)에서 출력된 비대칭신호 ASY를 입력받아, 결함 검출 신호(SDEP)에 따라 A 및 B단자로 입력된 두 신호 중 하나를 선택하여 EFM2 신호로서 출력한다. 로우패스필터(64)는 제1스위치(45)에서 출력된 EFM2 신호의 직류레벨을 검출하여 비대칭신호 ASY를 발생하며, 버퍼(49)는 비대칭신호 ASY를 버퍼링하며, 증폭기(51)는 비대칭신호 ASY를 소정의 원하는 레벨로 증폭하여, 슬라이스 비교기(41)의 반전입력단자로 출력한다.

따라서, 슬라이스 비교기(41)의 반전입력단자로 입력되는 슬라이싱 레벨 신호는 슬라이스 비교기(41)에서 출력된 EFM신호에 의하여 생성된 비대칭신호 또는 버퍼(49)에 홀딩된 이전 구간에서의 비대칭신호 중 하나에 의하여 결정된다.

결함 검출부(63)는 인버터(43a)의 출력 EFMB신호를 입력받아, 소정의 클럭신호(WDCK)에 따라 EFM 신호의 런길이가 소정 길이보다 큰 구간을 검출하여 결함 구간을 검출하며, 그 검출된 구간 동안에 제어신호(PCON)를 발생한다. 이에 대한 자세한 설명은 도 5를 참조하여 설명될 것이다. 인버터(43c)는 반전된 결함 검출 신호(SDEPB)을 반전하여 결함 검출 신호(SDEP)를 발생하며, 그 신호는 제2스위치(63)을 제어한다.

도 5는 도 4에 도시된 본 발명에 의한 결함 검출부(63)의 상세 구성도를 도시한 도면이다. 결함 검출부(63)는, 클럭신호(WDCK)에 의하여 트리거되며 EFM 신호가 데이터단자 D 및 리셋단자 R에 각각 입력되는 제1의 복수의 플립플럽들 DFFA1-3 (72a,b,c), 클럭신호(WDCK)에 의하여 트리거되며 EFM신호가 반전된 EFMB신호가 데이터단자 D 및 리셋단자 R에 각각 입력되는 제2의 복수의 플립플럽들 DFFB1-3 (73a,b,c), 그리고 로직 OR게이트(74a, 74b), 인버터(75a), 로직 AND게이트(76) 및 데이터선택기(75)를 포함하여 구성되며, 제1 또는 제2의 복수의 플립플럽들의 출력 중 하나의 신호를 선택하여 제어신호(PCON)를 발생한다.

이하에서는 상술한 바와 같은 구성을 하는 결함 검출부의 동작을 상세히 설명한다.

인버터(71a)는 입력신호 EFMB를 반전하여, EFM신호가 제1플립플럽들 DFFA1-3 (72a,b,c)의 리셋단자 및 데이터단자로 입력된다. 인버터(71b)는 EFM 신호를 다시 반전하여, EFMB신호가 제2플립플럽들 DFFB1-3 (73a,b,c)의 리셋단자 및 데이터단자로 입력된다. 제1플립플럽들 DFFA1-3 (72a,b,c) 및 제2플립플럽들 DFFB1-3 (73a,b,c)은 EFM신호 및 EFMB신호를 각각 입력받아, 클럭신호(WDCK)에 따라 출력신호를 각각 발생한다. 로직 OR게이트(74a, b)는 플립플립들의 출력신호를 입력받아 논리 OR한 후 데이터선택기(75)로 출력한다.

데이터선택기(75)는 선택제어신호 SPEAK에 따라 로직 OR게이트들(74a, b) 출력 중 하나를 선택하여 출력한다. 로직 AND게이트(76)는 데이터선택기(75)의 출력신호 및 제어신호들(SHOCK, LOCK, ONOFF)을 입력받아 논리 AND하여 출력신호 PCON을 발생한다. 여기서, SHOCK신호는 플레이 도중 디스크의 진동에 의한 에러가 발생한 지의 여부를 나타내는 신호로서, 플레이 상태가 정상적인 경우 즉 SHOCK신호가 로직 하이인 경우에 PCON 출력을 인에이블시킨다. LOCK신호는 현재 상태가 디스크 플레이 상태인지의 여부를 판별하는 신호로서, 프레임 동기신호가 128 프레임 동안 검출되지 않으면 플레이 상태가 아니라고 판단하여 로직 로우상태가 된다. 따라서 LOCK신호가 로직 하이상태, 즉 플레이 상태일 때 PCON 출력을 인에이블시킨다. ONOFF신호는 피킹방지부 동작의 인에이블 여부를 결정하는 신호이다. 따라서, SHOCK, LOCK, 및 ONOFF신호가 모두 로직 하이인 경우에 로직AND게이트(76)가 인에이블되어, 데이터선택기(75)의 출력신호의 변화가 PCON으로 전달된다. 한편, SPEAK신호 및 그 반전신호는 데이터선택기의 선택단자(SA, SB)로 각각 입력된다.

도 6은 도 5에 도시된 결함 검출부의 동작을 설명하기 위한 파형도를 도시한 도면이다. 만일 클럭신호(WDCK)를 88.2KHz (49T)로 정하고, EFM신호 및 EFMB신호가 도면에 표시된 파형과 같다고 할 경우, 제1플립플럽들 DFFA1-3 (72a-c)의 출력신호 QA1-3, 그리고 제2플립플럽들 DFFB1-3 (73a-c)의 출력신호 QB1-3을 각각 나타낸다. 여기서, 플립플럽들은 클럭신호의 상승엣지에서 트리거된다고 가정한다.

EFM신호가 로직 하이인 구간 A에서, 출력 QA1은 클럭 WDCK의 상승엣지에 따라 로직 하이가 된다. 다음 클럭에서 EFM신호가 로우이므로 출력 QA1은 로직 로우가 된다. 따라서 이 경우에는, 출력 QA1은 클럭신호의 한 주기 동안만 로직 하이를 유지하고, 플립플럽 DFFA2-3 (72b-c)가 트리거되지 않아 출력신호 QA2-3은 로직 로우를 그대로 유지한다.

그리고, 구간 B에서, 출력 QA1이 로직 하이가 된 후 그 다음 클럭신호에서 출력 QA2가 로직 하이가 되고, 또한 그 다음 클럭신호에서 출력 QA3가 로직 하이가 된다. 따라서, EFM 신호의 로직 하이 구간이 49T 이상이 되면 QA2가 로직 하이, 그리고 49x2T 이상이 되면 QA3가 로직 하이가 된다. 그리고 QA1-3의 로직 하이출력은 EFM신호가 로직 로우상태로 변화될 때까지 지속된다.

다음으로, EFM신호가 로직 로우인 구간 C, E, F에서, 제1플립플럽들 DFFA1-3 (72a-c)의 출력들은 리셋되고, 제2플립플럽들 DFFB1-3 (73a-c)은 반전된 EFM신호(즉 EFMB신호)가 로직 하이 구간 동안에 클럭신호(WDCK)에 의하여 트리거된다.

구간 F에서, 출력 QB1은 클럭 WDCK의 상승엣지에 따라 로직 하이가 된다. 출력 QB1이 로직 하이가 된 후 그 다음 클럭신호에서 출력 QB2가 로직 하이가 되고, 또한 그 다음 클럭신호에서 출력 QB3가 로직 하이가 된다. 따라서, EFM 신호의 로직 로우 구간이 49T 이상이 되면 QB2가 로직 하이, 그리고 49x2T 이상이 되면 QB3가 로직 하이가 된다. 그리고 QB1-3의 로직 하이출력은 EFM신호가 로직 하이상태로 변화될 때까지 지속된다.

다시 도 5, 6을 참조하여, 결함 구간을 검출하는 과정에 대하여 자세히 설명한다. EFM신호는 제1플립플럽들 DFFA1-3 (72a-c)로 입력되고, EFMB신호는 제2플립플럽들 DFFB1-3 (73a-c)로 입력되며, 이들 플리플럽들은 클럭신호(WDCK)에 의하여 트리거된다. EFM신호의 로직 하이 또는 로우구간이 적어도 49T 이상이 되면 QA2 또는 QB2가 로직 하이가 되고, 이 두 신호가 논리 OR게이트(74a)로 입력된다. 또한 EFM신호의 로직 하이 또는 로우구간이 적어도 49x2T 이상이 되면 QA3 또는 QB3가 로직 하이가 되고, 이 두 신호가 논리 OR게이트(74b)로 입력된다. OR게이트(74a)의 출력신호는 데이터선택기(75)의 입력단자 A로, 그리고 OR게이트(74b)의 출력신호는 데이터선택기(75)의 입력단자 B로 보내진다.

데이터선택기(75)는 선택제어신호 SPEAK에 따라 입력 A 또는 B 중 하나를 선택하여 출력한다. 따라서, 제어신호들이 인에이블 상태이고, 데이터선택기(75)의 출력이 로직 하이이면, 출력 PCON은 로직 하이가 된다. 이러한 상태는 EFM신호의 런길이가 소정 구간 계속된다는 것을 의미하며, 이는 곧 그 구간에 결함이 존재함을 의미한다.

한편, 선택제어신호 SPEAK는 피킹 에러의 검출을 위한 런길이를 설정하기 위한 신호로서, 그 런길이가 너무 짧으면 너무 자주 결함을 보상하기 위한 인터럽트가 걸려 시스템의 동작이 불안정해질 우려가 있으며, 반대로 그 런길이가 너무 길면 결함에 의한 시스템의 오동작이 발생될 수 있다. 따라서, 이 두 가지의 상황을 고려하여 적절하게 피킹 검출을 위한 런길이를 설정할 필요가 있다.

한편, 본 발명에서 결함 검출을 위한 최소의 런길이는 12T로 설정될 수 있으며, 이러한 런길이의 설정은 클럭신호(WDCK)의 주파수 및 결함 검출부에 포함되는 플립플럽의 수를 적절히 선택하므로써 수행될 수 있다. 그리고 상술한 실시예에서 사용된 클럭신호(WDCK)는 2배속 재생시에는 그 주파수를 2배로 하여 배속 재생에 대응할 수 있으며, 또한 고역통과필터의 구성에 있어서 저항값을 스위치에 의하여 제어하는 대신에 커패시터값이 가변되도록 제어할 수도 있다.

이와같이, 본 발명에 의한 광디스크 재생 시스템의 결함 검출 장치는 결함 검출 신호를 이용하여 데이터 슬라이서 회로를 제어하여 안정된 EFM 신호가 발생되도록 하고, 이렇게 발생된 EFM 신호를 이용함으로써 RF 신호에 존재할 수 있는 결함을 정확히 검출할 수 있다. 또한, 종래와 같이 결함 검출을 위해 외부에 별도의 RC를 사용할 필요가 없으므로, 디지털 회로구성이 가능하며 외부의 RC를 위한 별도의 핀(pin)을 할당할 필요가 없다.

본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 다른 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 의한 결함 검출 장치에 의하면, EFM 신호를 이용하여 RF 신호에 결함이 존재하는지의 여부를 검출함으로써, 정확한 결함 검출을 할 수 있다는 효과가 있다.

Claims

광디스크로부터 독출된 RF신호에 포함될 수 있는 결함을 검출하여 결함이 검출된 구간동안 트랙킹 루프 및 포커스 루프를 뮤팅시키기 위한 광디스크 재생 시스템에서의 결함 검출 장치에 있어서,

상기 RF신호를 입력받아 소정의 레벨로 슬라이싱하여 EFM 신호를 발생하는 데이터 슬라이서 회로; 및

상기 데이터 슬라이서 회로에서 출력된 EFM 신호의 런길이에 따라 상기 RF 신호에 결함이 존재하는 결함 구간을 검출하고, 검출된 결함 구간 동안에는 상기 트랙킹 루프 및 포커스 루프를 뮤팅시키도록 제어하는 결함 검출 신호를 발생하는 결함 검출수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 광디스크 재생 시스템에서의 결함 검출 장치.
제1항에 있어서, 상기 결함 검출수단은

상기 데이터 슬라이서 회로에서 출력된 상기 EFM 신호의 런길이가 소정 길이보다 큰 구간을 검출하여 그 검출된 구간 동안에는 상기 RF 신호에 결함이 존재함을 나타내는 상기 결함 검출 신호를 발생하는 것을 특징으로 하는 광디스크 재생 시스템에서의 결함 검출 장치.
제1항에 있어서, 상기 결함 검출부는

소정의 클럭신호에 의하여 트리거되며, 상기 EFM신호가 데이터단자 및 리셋단자에 각각 입력되는 제1의 복수의 플립플럽들;

상기 클럭신호와 같은 신호에 의하여 트리거되며, 상기 EFM신호의 반전신호가 데이터단자 및 리셋단자에 각각 입력되는 제2의 복수의 플립플럽들; 및

상기 제1 또는 제2의 복수의 플립플럽들의 출력 중 하나의 신호를 선택하여 상기 결함 검출 신호로서 발생하는 선택회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 광디스크 재생 시스템에서의 결함 검출 장치.
제3항에 있어서, 상기 선택회로는

플레이 도중 디스크의 진동에 의한 에러가 발생한 지의 여부를 나타내는 신호, 현재 상태가 디스크 플레이 상태인지의 여부를 판별하는 신호 및 상기 결함 검출 수단의 동작의 인에이블 여부를 결정하는 신호 중 적어도 하나의 신호에 의하여 상기 결함 검출 신호의 출력을 인에이블하는 인에이블회로를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 광디스크 재생 시스템에서의 결함 검출 장치.
제1항에 있어서, 상기 데이터 슬라이서 회로는

상기 RF 신호를 입력받아 고주파신호를 필터링하여 상기 비교기로 출력하며, 상기 결함 검출 신호에 따라 미분시간을 가변하기 위하여 소정의 파라미터를 가변시킬 수 있는 고역통과필터;

상기 고역통과필터를 통과한 신호를 입력받아, 소정의 레벨로 슬라이싱하여 상기 EFM 신호를 발생하는 비교기; 및

상기 결함 검출 신호에 따라 상기 EFM 신호 또는 홀딩된 이전 구간에서의 비대칭신호 중 하나를 선택하여 상기 비교기로 궤환되는 슬라이싱 레벨을 생성하는 슬라이싱레벨 생성부를 구비하는 것을 특징으로 하는 광디스크 재생 시스템에서의 결함 검출 장치.