KR20000060414A - Apparatus for handling exhausted gas - Google Patents

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허성진
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윤종용
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Abstract

PURPOSE: An apparatus for treating gas is provided to prevent clogging of exhaust lines, thereby the life span of an apparatus for treating gas is not shortened. CONSTITUTION: An apparatus for treating gas has a system for selecting and exhausting gas containing water vapor wherein the apparatus is characterized by comprising: a) a chamber(200); b) a first exhaust line; c) a second exhaust line connecting the chamber to the first exhaust line; and d) a device for passing a gas from the chamber to the first exhaust line through a different path according to the kind of the gas which is positioned at the second exhaust line in which the device comprises a first subline for passing a gas containing water vapor to the first exhaust line and a second subline for passing a dry gas to the first exhaust line.

Description

가스 처리 장치{APPARATUS FOR HANDLING EXHAUSTED GAS}Gas treatment device {APPARATUS FOR HANDLING EXHAUSTED GAS}

본 발명은 가스 처리 장치에 관한 것으로, 좀 더 구체적으로는 수증기가 함유된 가스를 선별하여 배기시키기 위한 시스템을 갖는 가스 처리 장치에 관한 것이다.TECHNICAL FIELD The present invention relates to a gas treating apparatus, and more particularly, to a gas treating apparatus having a system for sorting and exhausting a gas containing water vapor.

반도체 제조 공정 시에는 많은 가스가 사용되며, 사용된 가스들 중에는 유독성, 발화성의 가스들도 다량으로 배출되게 된다. 환경오염 예방을 위해서 또는 인체의 안전을 위해서 반도체 제조 공정 상에서 사용된 상기 가스들은 여러 가지 장치들에 의해서 유해한 성분들이 제거되게 된다.Many gases are used in the semiconductor manufacturing process, and toxic and flammable gases are emitted in a large amount. The gases used in the semiconductor manufacturing process for the prevention of environmental pollution or for the safety of the human body are removed by harmful devices by various devices.

한 예로 드라이 가스 스크러버 시스템(Dry gas scrubber system)과 웨트 스크러버 시스템(wet scrubber system)이 있다. 이 중에서 상기 드라이 가스 스크러버는 가스 상태로 유출되는 유해한 가스들을 물, 불 등을 이용하지 않고 가스의 유체 흐름에 따라서 단순하게 화학적인 반응을 이용해서 유해 가스를 화학적으로 안정적이고 무해하게 변화시키는 것으로 환경오염 예방 또는 인체의 안전을 위해서 사용되어 지고 있다.One example is a dry gas scrubber system and a wet scrubber system. Among these, the dry gas scrubber is used to change harmful gases chemically stably and harmlessly by simply using chemical reactions according to the fluid flow of gases without using water or fire. It is used for pollution prevention or human safety.

도 1은 종래의 가스 처리 장치를 보여주기 위한 다이어 그램이다.1 is a diagram for showing a conventional gas treatment apparatus.

도 1을 참조하면, 반도체 공정 챔버(100)에서 사용된 가스들은 펌프(102)에 의해서 배기 라인(108)으로 배기된다. 상기 배기 라인(108)을 통해서 이송되는 상기 가스들은 레진을 함유한 스크러버(scrubber)(104)를 통과하면서 유해한 성분들이 필터링(filtering)된 후에 공통 배기(106)로 배기된다.Referring to FIG. 1, gases used in the semiconductor process chamber 100 are exhausted to the exhaust line 108 by a pump 102. The gases transported through the exhaust line 108 pass through a scrubber 104 containing resin and are exhausted to a common exhaust 106 after harmful components are filtered out.

하지만 레진(RESIN)을 사용하여 배기 가스의 유해한 성분을 필터링(filtering)하는 경우에는 상기 레진의 표면에 수증기(moisture)에 의한 파우더(powder)가 흡착되어 배관이 막히는 현상이 자주 발생한다. 특별히 반도체 공정이 이루어지는 공정 챔버를 물로 크리닝 하는 웨트 크리닝(wet cleaning) 후에는 많은 양의 수증기가 발생하므로 다량의 수증기를 함유한 가스가 상기 레진을 통과하는 경우에는 상기 수증기에 의한 분말(powder)이 상기 레진의 표면에 흡착되어 배관이 막히는 현상이 더 잘 발생한다. 이럴 경우에는 상기 레진의 수명이 단축되고 궁극적으로는 가스 여과 장치인 스크러버를 교체해야 하는 문제점이 발생하며 설비보수유지가 어렵게 된다.However, when the resin (RESIN) is used to filter harmful components of the exhaust gas (filter) by the moisture (moisture) on the surface of the resin (powder) by the adsorption of the pipe often occurs. In particular, a large amount of water vapor is generated after the wet cleaning of the process chamber in which the semiconductor process is performed with water. When a gas containing a large amount of water vapor passes through the resin, Adsorption on the surface of the resin is more likely to cause clogging of the pipe. In this case, the life of the resin is shortened and ultimately, a problem arises in that the scrubber, which is a gas filtration device, needs to be replaced, and facility maintenance becomes difficult.

본 발명은 이와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 그 목적은 배기 라인의 막힘을 방지할 수 있는 새로운 형태의 가스 처리 장치를 제공하는데 있다.The present invention has been made to solve such a conventional problem, and an object thereof is to provide a new type of gas treatment apparatus capable of preventing clogging of an exhaust line.

도 1은 종래의 가스 처리 장치를 보여주기 위한 다이어 그램;1 is a diagram for illustrating a conventional gas treatment apparatus;

도 2는 본 발명의 제 1 실시예에 의한 가스 처리 장치를 보여주기 위한 다이어 그램 및;2 is a diagram for showing a gas treating apparatus according to a first embodiment of the present invention;

도 3은 본 발명의 제 2 실시예에 의한 가스 처리 장치를 보여주기 위한 다이러 그램이다.3 is a diagram for showing a gas treatment apparatus according to a second embodiment of the present invention.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings

200 : 공정 챔버 202 : 펌프200: process chamber 202: pump

204 : 스크러버 206 : 공통 배기204: scrubber 206: common exhaust

208 : 배기 라인 210 : 제 1 밸브208: exhaust line 210: first valve

212 : 제 2 밸브 214 : 제어부212: second valve 214: control unit

216 : 레진 218 : 제 2 바이 패스 밸브216 resin 218: second bypass valve

220 : 제 1 바이 패스 밸브220: first bypass valve

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 의하면, 수증기가 함유된 가스를 선별하여 배기시키기 위한 시스템을 갖는 가스 처리 장치는 챔버, 제 1 배기 라인, 제 2 배기 라인 그리고 부재를 구비한다. 상기 제 2 배기 라인은 상기 챔버와 상기 제 1 배기 라인을 연결한다. 또한, 상기 부재는 상기 제 2 배기 라인상에 설치되고, 상기 챔버로부터 배기되는 가스의 종류에 따라 다른 경로를 통하여 상기 제 1 배기 라인으로 흐르도록 하기 위해서 수증기가 함유된 가스를 상기 제 1 배기라인으로 흐르도록 하기 위한 제 1 서브라인 및 건조한 가스를 상기 제 1 배기라인으로 흐르도록 하기 위한 제 2 서브라인을 구비한다. 또한, 상기 제 2 서브라인은 레진을 함유한 스크러버를 구비한다.According to a feature of the present invention for achieving the above object, a gas processing apparatus having a system for sorting and exhausting a gas containing water vapor includes a chamber, a first exhaust line, a second exhaust line, and a member. The second exhaust line connects the chamber and the first exhaust line. In addition, the member is installed on the second exhaust line, the first exhaust line to the gas containing water vapor to flow to the first exhaust line through a different path depending on the type of gas exhausted from the chamber And a second subline for flowing dry gas into the first exhaust line. The second subline also has a scrubber containing resin.

특별히 본 발명은 제 2 배기 라인이 두 개의 서브라인을 구비하는 것이 특징이다. 가스에 수증기가 많이 함유되는 경우에는 제 1 서브라인으로 흐르도록 하고 일반적인 건조 가스가 이송되는 경우에는 여과 장치를 구비한 제 2 서브라인으로 흐르도록 하여 가스를 여과한다.In particular, the invention is characterized in that the second exhaust line has two sublines. When the gas contains a lot of water vapor, the gas is filtered to flow to the first subline, and when general dry gas is transferred, to the second subline provided with a filtration device.

이와 같은 구성을 갖는 가스 처리 장치에 의하면, 수증기가 함유된 가스가 레진에 흡착되어 스크러버에 접속된 제 2 서브라인을 막는 것을 방지할 수 있기 때문에 설비보수유지가 용이하며 가스 처리 장치의 수명이 단축되는 것을 방지할 수 있다.According to the gas treatment device having such a structure, since gas containing water vapor can be prevented from adsorbing to the resin and blocking the second subline connected to the scrubber, maintenance of the equipment is easy and the life of the gas treatment device is shortened. Can be prevented.

이하, 본 발명의 실시예를 첨부도면 도 2 내지 도 3에 의거하여 상세히 설명한다. 또한, 도면들에서 동일한 기능을 수행하는 구성요소에 대해서는 동일한 참조번호를 병기한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 2 to 3. In addition, the same reference numerals are denoted for the components that perform the same function in the drawings.

도 2는 본 발명의 제 1 실시예에 의한 가스 처리 장치를 보여주기 위한 다이어 그램이고, 도 3은 본 발명의 제 2 실시예에 의한 가스 처리 장치를 보여주기 위한 다이어 그램이다.2 is a diagram for showing a gas treatment apparatus according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a diagram for showing a gas treatment apparatus according to a second embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 반도체 디바이스를 제조하기 위한 공정이 진행되는 공정 챔버(200)에서는 많은 종류의 가스들을 사용하게 된다. 특히 발생되는 가스중 유해한 성분을 가진 가스가 그대로 배기되는 경우에 환경 오염과 인체에 영향을 미칠 수 있으므로 반드시 배기 라인을 통해 가스 처리 장치를 통과하도록 한다. 상기 공정 챔버(200)에서 펌프(202)에 의해서 배기되는 가스들은 배기 라인(208)을 통해서 이송된다. 상기 배기 라인(208)은 제 1 밸브(210)를 가진 라인과 제 2 밸브(212)를 가진 라인으로 분기된다. 상기 제 1 밸브(210)와 상기 제 2 밸브(212)는 제어부(214)에 의해서 밸브가 오픈되거나 클로즈된다. 일반적인 경우에 상기 공정 챔버(200)로부터 유입되는 가스는 상기 배기 라인(208)을 통과하여 오픈된 상기 제 1 밸브(210)를 가진 라인으로 유입되며 이 경우에 상기 제 2 밸브(212)는 클로즈되어 있다. 상기 제 1 밸브(210)를 통과한 가스들은 스크러버(scrubber)(204)를 통과하면서 유해한 성분들이 필터링(filtering)된다. 상기 스크러버(204)는 내부에 레진(Resin)(도 3의 216참조)을 함유하여 유입된 가스들이 상기 레진을 통과하면서 화학적으로 가스들의 유해한 성분들을 흡착하는 방식으로 가스를 여과한다. 필터링된 가스들은 공통 배기(206)로 배출된다. 하지만 상기 공정 챔버(200)를 웨트 크리닝(wet cleaning)한 후에 배기되는 가스에는 다량의 수증기가 함유되어 있다. 이런 가스가 상기 스크러버(204) 내의 상기 레진을 통과하면 상기 레진의 표면에 다량의 수증기 성분에 의한 분말(powder)이 흡착되므로 상기 스크러버 내에서 더 이상 가스가 배기되지 않는 현상 즉 배관이 막혀버리는 현상이 발생한다. 그래서 이런 현상을 피하기 위해서 수증기를 다량으로 함유한 가스는 배기되는 라인을 다르게 하는 방식을 취한다. 상기 공정 챔버(200)에 설치되어 있는 압력계(도시되지 않음)가 상기 제어부(214)와 연결된다. 상기 공정 챔버(200)에 상기 웨트 크리닝을 하는 경우에는 압력이 대기압과 동일하므로 이 경우에는 압력계가 압력을 검출하여 압력이 대기압과 동일하다면 상기 제어부(214)가 상기 제 1 밸브(210)를 닫고 상기 제 2 밸브(212)를 열어서 상기 웨트 크리닝 후에 배기되는 가스들은 상기 제 2 밸브(212)를 가진 라인쪽으로 배기되어 상기 스크러버(204) 내의 상기 레진을 손상시키지 않도록 한다.Referring to FIG. 2, many kinds of gases are used in a process chamber 200 in which a process for manufacturing a semiconductor device is performed. In particular, if the gas containing harmful components of the generated gas is exhausted as it may affect the environmental pollution and the human body, be sure to pass through the gas treatment device through the exhaust line. Gases exhausted by the pump 202 in the process chamber 200 are transferred through the exhaust line 208. The exhaust line 208 branches into a line with a first valve 210 and a line with a second valve 212. The first valve 210 and the second valve 212 are opened or closed by the controller 214. In a general case, gas flowing from the process chamber 200 flows into the line with the first valve 210 opened through the exhaust line 208 and in this case the second valve 212 is closed. It is. Gases passing through the first valve 210 pass through a scrubber 204 and harmful components are filtered out. The scrubber 204 contains resin (refer to 216 of FIG. 3) therein to filter the gas in such a manner that the gas introduced therein chemically adsorbs harmful components of the gases while passing through the resin. The filtered gases are exhausted to the common exhaust 206. However, a large amount of water vapor is contained in the exhaust gas after the wet cleaning of the process chamber 200. When such gas passes through the resin in the scrubber 204, a powder due to a large amount of water vapor is adsorbed on the surface of the resin so that the gas is no longer exhausted in the scrubber, that is, the pipe is blocked. This happens. Thus, to avoid this, the gas containing a large amount of water vapor has a different way of exhausting the line. A pressure gauge (not shown) installed in the process chamber 200 is connected to the controller 214. When the wet cleaning is performed in the process chamber 200, the pressure is equal to atmospheric pressure. In this case, the pressure gauge detects the pressure and if the pressure is equal to atmospheric pressure, the controller 214 closes the first valve 210. By opening the second valve 212 the gases exhausted after the wet cleaning are exhausted towards the line with the second valve 212 so as not to damage the resin in the scrubber 204.

도 3을 참조하면, 도 2의 본 발명의 실시예는 배기 라인이 분기되어 배기되는 가스가 다른 배기 라인으로 우회하도록 하는 방식을 취하지만, 도 3의 실시예는 스크러버 내에 기존에 설치되어 있는 바이-패스 밸브(by-pass valve)를 이용하는 방식을 취한다. 일반적인 경우에는 상기 스크러버(204) 내의 제 1 바이 패스 밸브(220)를 오픈하고 제 2 바이 패스 밸브(218)는 클로즈해서 상기 스크러버(204) 내로 유입되는 가스가 상기 레진(216)을 통과하도록 하는 방식을 취한다. 하지만 상술한 바와 같이 상기 공정 챔버(200)에 웨트 크리닝을 한 후에는 상기 제 1 바이 패스 밸브(220)를 클로즈하고 제 2 바이 패스 밸브(218)를 오픈하여 배기되는 가스들이 상기 레진(216)을 통과하지 않고 배기되도록 하는 방법을 사용한다.Referring to FIG. 3, the embodiment of the present invention of FIG. 2 takes a way to divert the exhaust line and divert the exhaust gas to another exhaust line, but the embodiment of FIG. Use a by-pass valve. In a general case, the first bypass valve 220 in the scrubber 204 is opened and the second bypass valve 218 is closed to allow gas flowing into the scrubber 204 to pass through the resin 216. Take the way. However, as described above, after the wet cleaning is performed in the process chamber 200, the gases exhausted by closing the first bypass valve 220 and opening the second bypass valve 218 are discharged to the resin 216. Use a method to allow exhaust without passing through.

이와 같은 본 발명을 적용하면, 수증기가 함유된 가스가 배기 라인을 막는 것을 방지할 수 있기 때문에 설비보수유지가 용이하며 가스 처리 장치의 수명이 단축되는 것을 방지할 수 있다.By applying the present invention as described above, it is possible to prevent the gas containing water vapor from clogging the exhaust line, so it is easy to maintain and repair the equipment and prevent the life of the gas treatment apparatus from being shortened.

Claims (3)

수증기가 함유된 가스를 선별하여 배기시키기 위한 시스템을 갖는 가스 처리 장치에 있어서,A gas treating apparatus having a system for sorting and exhausting a gas containing water vapor, 챔버와;A chamber; 제 1 배기 라인과;A first exhaust line; 상기 챔버와 상기 제 1 배기 라인을 연결하는 제 2 배기 라인 및;A second exhaust line connecting the chamber and the first exhaust line; 상기 제 2 배기 라인상에 설치되고, 상기 챔버로부터 배기되는 가스의 종류에 따라 다른 경로를 통하여 상기 제 1 배기 라인으로 흐르도록 하기 위한 수단을 포함하되;Means for installing on said second exhaust line, said means for flowing to said first exhaust line through a different path depending on the type of gas exhausted from said chamber; 상기 수단은 수증기가 함유된 가스를 상기 제 1 배기라인으로 흐르도록 하기 위한 제 1 서브라인 및;The means includes a first subline for flowing a gas containing water vapor into the first exhaust line; 건조한 가스를 상기 제 1 배기라인으로 흐르도록 하기 위한 제 2 서브라인을 포함하는 것을 특징으로 하는 가스 처리 장치.And a second subline for flowing dry gas to the first exhaust line. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 수단은 상기 제 2 서브라인에 레진이 설치된 스크러버를 포함하는 것을 특징으로 하는 가스 처리 장치.And said means comprises a scrubber in which resin is installed in said second subline. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 수단은 상기 제 2 서브라인에 바이 패스 밸브가 설치된 스크러버인 것을 특징으로 하는 가스 처리 장치.And said means is a scrubber provided with a bypass valve in said second subline.
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